JPS6211002Y2 - - Google Patents

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JPS6211002Y2
JPS6211002Y2 JP14266682U JP14266682U JPS6211002Y2 JP S6211002 Y2 JPS6211002 Y2 JP S6211002Y2 JP 14266682 U JP14266682 U JP 14266682U JP 14266682 U JP14266682 U JP 14266682U JP S6211002 Y2 JPS6211002 Y2 JP S6211002Y2
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JP
Japan
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claw
wafer
guide groove
guide
mechanical chuck
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JP14266682U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の利用分野〕 本考案は、半導体製造装置に用いられるメカニ
カルチヤツクに係り、特にウエーハを均一化リン
グ内に搬入並びに均一化リング内から搬出するの
に好適なメカニカルチヤツクの改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention relates to a mechanical chuck used in semiconductor manufacturing equipment, and is particularly suitable for carrying wafers into and out of the equalizing ring. Concerning improvements to mechanical chucks.

〔従来技術〕[Prior art]

従来技術を第1図〜第3図により説明する。 The prior art will be explained with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図〜第3図で、メカニカルチヤツク10
は、駆動部11と、放射状に複数個設けられ駆動
部11で半径方向に開閉動作する軸12と軸12
が閉じた時点でウエーハ40を掴み、又、軸12
が開いた時点でウエーハ40を離すように軸12
に設けられると共に、下端にウエーハのせ部13
を有する爪14とで構成されている。
In Figures 1 to 3, mechanical chuck 10
is a drive unit 11, a plurality of shafts 12 which are provided radially, and which are opened and closed in the radial direction by the drive unit 11;
When the wafer 40 is closed, the wafer 40 is grasped, and the shaft 12 is
When the shaft 12 opens, the wafer 40 is released.
and a wafer placement part 13 at the lower end.
It is composed of a claw 14 having a diameter.

均一化リング20は、石英で形成されると共
に、第2図、第3図に示すように、爪14と対応
する間隔で爪ガイド溝21が配設されている。爪
ガイド溝21は、上部のガイド面22と下部のガ
イド溝23とで構成され、ガイド溝23の幅は、
広くすればエツチングの均一性が損われるため、
極力狭くされている。
The equalizing ring 20 is made of quartz, and has pawl guide grooves 21 arranged at intervals corresponding to the pawls 14, as shown in FIGS. 2 and 3. The claw guide groove 21 is composed of an upper guide surface 22 and a lower guide groove 23, and the width of the guide groove 23 is as follows:
If it is made wider, the uniformity of etching will be impaired.
It is extremely narrow.

ウエーハ40をエツチング処理する処理室(図
示省略)に内設された電極30には、第1図に示
すように、ウエーハ40の直径よりも小さな寸法
のウエーハのせ台31が凸設され、ウエーハのせ
台31には、爪14と爪ガイド溝21とを対応さ
せ均一化リング20が環装される。
As shown in FIG. 1, an electrode 30 installed in a processing chamber (not shown) in which a wafer 40 is etched is provided with a protruding wafer stand 31 having a size smaller than the diameter of the wafer 40. An equalizing ring 20 is mounted on the stand 31 so that the claws 14 and the claw guide grooves 21 correspond to each other.

まず、第1図に示すように、均一化リング20
内に搬入されてウエーハのせ台31に載置され、
その後、エツチング処理が終了したウエーハ40
の均一化リング20内からの搬出は次のように実
施される。
First, as shown in FIG.
The wafer is carried into the interior and placed on the wafer table 31,
After that, the wafer 40 after the etching process is completed.
The removal from the equalization ring 20 is carried out as follows.

メカニカルチヤツク10は公知の移動手段(図
示省略)により、例えば、処理室に具設された予
備室(図示省略)から処理室へと移動し、第1図
に示すように、爪14が爪ガイド溝21と対応す
る位置に到達した時点で停止する。この状態で爪
14は、駆動部11で軸12を半径方向に開くこ
とでウエーハ40の直径よりも大きな寸法で開か
れ、その後、メカニカルチヤツク10は、公知の
昇降手段(図示省略)により降下し、爪14のウ
エーハのせ部13がウエーハ40の裏面以下とな
つた時点で停止する。この場合、爪14は、爪ガ
イド溝21のガイド面22に当接した後に、ガイ
ド面22にガイドされてガイド溝23に入り、そ
の後、ガイド溝23によりガイドされて降下す
る。
The mechanical chuck 10 is moved by a known moving means (not shown), for example, from a preliminary chamber (not shown) provided in the processing chamber to the processing chamber, and as shown in FIG. It stops when it reaches the position corresponding to the guide groove 21. In this state, the claws 14 are opened to a size larger than the diameter of the wafer 40 by opening the shaft 12 in the radial direction by the drive unit 11, and then the mechanical chuck 10 is lowered by a known elevating means (not shown). However, when the wafer placement portion 13 of the claw 14 becomes below the back surface of the wafer 40, it stops. In this case, the claw 14 comes into contact with the guide surface 22 of the claw guide groove 21, is guided by the guide surface 22, enters the guide groove 23, and then is guided by the guide groove 23 and descends.

このようなメカニカルチヤツク10の降下完了
後、爪14は、駆動部11で軸12を半径方向に
閉じることで閉じられ、これにより、ウエーハ4
0は爪14に掴まれる。その後、爪14に掴まれ
たウエーハ40は、メカニカルチヤツク10を公
知の昇降手段で上昇させることで、均一化リング
20内から搬出される。その後、この状態でメカ
ニカルチヤツク10は、公知の移動手段により処
理室から予備室へ移動する。
After the mechanical chuck 10 has been lowered in this manner, the pawl 14 is closed by closing the shaft 12 in the radial direction with the drive part 11, and the wafer 4 is thereby closed.
0 is grabbed by the claw 14. Thereafter, the wafer 40 gripped by the claws 14 is transported out of the equalizing ring 20 by raising the mechanical chuck 10 using a known elevating means. Thereafter, in this state, the mechanical chuck 10 is moved from the processing chamber to the preliminary chamber by a known moving means.

又、ウエーハ40の均一化リング20内への搬
入、ウエーハのせ台31への載置は、上記した操
作と逆操作により実施される。
Furthermore, the wafer 40 is carried into the equalization ring 20 and placed on the wafer platform 31 by performing the operations reverse to those described above.

このようなメカニカルチヤツクでは、ウエーハ
を均一化リング内に搬入する場合、爪と爪ガイド
溝との寸法の関係上爪の降下を爪ガイド溝で良好
にガイドすることができないため、爪の損傷ある
いはウエーハの破損が生じるといつた欠点があつ
た。
With such a mechanical chuck, when carrying a wafer into the equalizing ring, the lowering of the claw cannot be well guided by the claw guide groove due to the dimensions of the claw and the claw guide groove, resulting in damage to the claw. Another drawback was that the wafer could be damaged.

〔考案の目的〕[Purpose of invention]

本考案の目的は、上記した従来技術の欠点を解
消することで、爪の損傷あるいはウエーハの破損
を防止できるメカニカルチヤツクを提供すること
にある。
An object of the present invention is to provide a mechanical chuck that can prevent damage to the claws or wafers by eliminating the drawbacks of the prior art described above.

〔考案の概要〕[Summary of the idea]

本考案は、放射状方向に開閉動作してウエーハ
を把持、解放する爪に、ウエーハのせ台に対する
前記爪の往復動時に前記ウエーハのせ台に環装さ
せた均一化リングに前記爪と対応して形成された
ガイド溝への前記爪の挿脱をガイドする爪ガイド
具を設けたことを特徴とするもので、ウエーハの
せ台に対する爪の往復動時に爪ガイド溝への爪の
挿脱を爪ガイド具により良好にガイドするように
したものである。
In the present invention, a claw that opens and closes in a radial direction to grip and release a wafer is formed to correspond to the equalizing ring mounted on the wafer pedestal when the claw moves back and forth relative to the wafer pedestal. The device is characterized by being provided with a claw guide tool that guides the insertion and removal of the claw into the guide groove in which the claw is inserted and removed. This provides better guidance.

〔考案の実施例〕[Example of idea]

本考案の一実施例を第4図により説明する。
尚、第4図で第1図と同一部品等は同一符号で示
し説明を省略する。
An embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.
In FIG. 4, parts and the like that are the same as those in FIG. 1 are indicated by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

第4図で、爪14と対応して、この場合、均一
化リング20に形成された爪ガイド溝21のガイ
ド面22に対応して爪14には、爪ガイド具15
が設けられている。この場合、爪ガイド具15
は、爪14と一体に折曲して形成され、又、その
半径方向寸法は、爪14でウエーハ40を掴み均
一化リング20内に搬入する場合、爪ガイド溝2
1のガイド面22に必らず当接すると共にガイド
溝23でガイド可能な寸法となつている。
In FIG. 4, the claw 14 has a claw guide tool 15 corresponding to the claw 14, in this case corresponding to the guide surface 22 of the claw guide groove 21 formed in the equalizing ring 20.
is provided. In this case, the claw guide tool 15
is formed by being bent integrally with the claw 14, and its radial dimension is similar to that of the claw guide groove 2 when the claw 14 grips the wafer 40 and carries it into the equalizing ring 20.
The size is such that it always comes into contact with the guide surface 22 of No. 1 and can be guided by the guide groove 23.

爪14が閉動作することで爪14に把持された
ウエーハ40は、メカニカルチヤツク(図示省
略)を公知の昇降手段(図示省略)で降下させる
ことで、均一化リング20内に搬入される。この
場合、爪14は、爪ガイド具15が爪ガイド溝2
1のガイド面22に当接した後に、ガイド面22
にガイドされてガイド溝23に入り、その後、ガ
イド溝23により降下をガイドされることで良好
に降下する。又、均一化リング20内からのウエ
ーハ40の搬出はこのような操作とは逆操作によ
り良好に実施される。
The wafer 40 gripped by the claws 14 as the claws 14 close is carried into the equalizing ring 20 by lowering a mechanical chuck (not shown) using a known elevating means (not shown). In this case, the claw 14 is connected to the claw guide groove 2 by the claw guide tool 15.
After contacting the guide surface 22 of No. 1, the guide surface 22
It enters the guide groove 23 while being guided by the guide groove 23, and is then guided down by the guide groove 23, so that it descends smoothly. Furthermore, the wafer 40 can be conveniently removed from the equalizing ring 20 by performing the reverse operation.

このようなメカニカルチヤツクでは、次のよう
な効果が得られる。
Such a mechanical chuck provides the following effects.

(1) 爪は、爪ガイド具を介してその降下並びに上
昇を爪ガイド溝で良好にガイドされるので、爪
の損傷あるいはウエーハの破損を防止すること
ができる。
(1) Since the claws are well guided in their descent and ascent by the claw guide grooves via the claw guide tool, damage to the claws or damage to the wafer can be prevented.

(2) 爪ガイド具を爪と一体に折曲して形成してい
るので、ウエーハの寸法公差による変位を爪ガ
イド具で吸収できると共に、掴み力を緩和する
ことができる。
(2) Since the claw guide tool is formed by being bent integrally with the claw, the claw guide tool can absorb displacement due to the dimensional tolerance of the wafer, and the gripping force can be alleviated.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

本考案は、以上説明したように、爪ガイド溝へ
の爪の挿脱を爪ガイド具により良好にガイドでき
るので、爪の損傷あるいはウエーハの破損を防止
できる効果がある。
As explained above, the present invention has the effect of preventing damage to the nails or damage to the wafer because the nail guide tool can guide the insertion and removal of the nails into and out of the nail guide grooves well.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、従来のメカニカルチヤツクを適用し
た半導体製造装置の一部切欠した縦断面図、第2
図は、第1図のA−A視平面図、第3図は、第1
図のB−B視断面図、第4図は、本考案によるメ
カニカルチヤツクの爪近傍の正面図である。 10……メカニカルチヤツク、11……駆動
部、12……軸、14……爪、15……爪ガイド
具、20……均一化リング、21……爪ガイド
溝、22……ガイド面、23……ガイド溝、30
……電極、31……ウエーハのせ台。
Figure 1 is a partially cutaway vertical cross-sectional view of a semiconductor manufacturing equipment to which a conventional mechanical chuck is applied;
The figure is a plan view taken along line A-A in Figure 1, and Figure 3 is a plan view of Figure 1.
FIG. 4 is a front view of the vicinity of the claw of the mechanical chuck according to the present invention. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Mechanical chuck, 11... Drive unit, 12... Shaft, 14... Claw, 15... Claw guide tool, 20... Equalization ring, 21... Claw guide groove, 22... Guide surface, 23... Guide groove, 30
...Electrode, 31...Wafer stand.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 放射状方向に開閉動作してウエーハを把持、解
放する爪に、ウエーハのせ台に対する前記爪の往
復動時に前記ウエーハのせ台に環装された均一化
リングに前記爪と対応して形成されたガイド溝へ
の前記爪の挿脱をガイドする爪ガイド具を設けた
ことを特徴とするメカニカルチヤツク。
A guide groove is formed in a pawl that opens and closes in a radial direction to grip and release a wafer, and is formed in an equalizing ring surrounding the wafer table when the pawl moves back and forth with respect to the wafer table, corresponding to the pawl. A mechanical chuck characterized in that it is provided with a claw guide tool that guides the insertion and removal of the claw into and out of the mechanical chuck.
JP14266682U 1982-09-22 1982-09-22 mechanical chuck Granted JPS5948053U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14266682U JPS5948053U (en) 1982-09-22 1982-09-22 mechanical chuck

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JP14266682U JPS5948053U (en) 1982-09-22 1982-09-22 mechanical chuck

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Publication Number Publication Date
JPS5948053U JPS5948053U (en) 1984-03-30
JPS6211002Y2 true JPS6211002Y2 (en) 1987-03-16

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JP14266682U Granted JPS5948053U (en) 1982-09-22 1982-09-22 mechanical chuck

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JPS5948053U (en) 1984-03-30

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