JPS62109289A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents

Semiconductor integrated circuit device

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JPS62109289A
JPS62109289A JP60249543A JP24954385A JPS62109289A JP S62109289 A JPS62109289 A JP S62109289A JP 60249543 A JP60249543 A JP 60249543A JP 24954385 A JP24954385 A JP 24954385A JP S62109289 A JPS62109289 A JP S62109289A
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JP
Japan
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signal
transistor
semiconductor integrated
integrated circuit
bit line
Prior art date
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Pending
Application number
JP60249543A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Korogi
興梠 泰宏
Osamu Ueda
修 上田
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS62109289A publication Critical patent/JPS62109289A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce an access time for read when a bit of information is '1' and to speed up the titled device by fixing the voltage level of a bit line normally. CONSTITUTION:When a semiconductor integrated circuit is in a waiting state by applying a prescribed signal on a control circuit 1, all of the word lines 4 and all of the bit lines 6 are not selected regardless of an address input signal. In such a state, a transistor 11 is not conducted, and the drain side of the transistor 11 becomes 'H' level, and a transistor 12 conducts through a signal line 13, and the charge of the bit line 6 is discharged to GND, therefore, the potential of the bit line 6 is fixed. Since the potential of the bit line is fixed at GND until the signal of the wod line is inputted, a CE access time can be reduced, when the bit of memory information is '1' a high speed semiconductor integrated circuit device is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路装置に関し、特に読み出し
時間の短縮化を図った回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and particularly to a circuit designed to shorten read time.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図は従来の半導体集積回路装置を示すブロック図で
ある。図において1は制御回路であり、これは入力端子
百に入力信号を受けることにより、上記半導体集積回路
装置を読み出し可能な動作状態、または低消費電力の待
機状態に設定する。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional semiconductor integrated circuit device. In the figure, reference numeral 1 denotes a control circuit which, by receiving an input signal at an input terminal, sets the semiconductor integrated circuit device to a readable operating state or a low power consumption standby state.

2はアドレス入力回路で、アドレス入力端子(AO〜A
n)にアドレス信号を受ける。3はXデコーダで、アド
レス入力信号によりXデコーダ出力信号を出力する。4
はXデコーダ3の出力であり、これはメモリトランジス
タ7のゲート電極に接続されており、ワードラインを形
成する。上記メモリトランジスタ7は、ソース側をGN
Dに接地し、ドレイン側をビットライン6を通じてYデ
コーダ5に接続されている。Yデコーダ5はアドレス入
力回路2と接続されており、選択されたメモリトランジ
スタ7の出力をセンスアンプ8に伝える。
2 is an address input circuit, which connects address input terminals (AO to A
n) receives an address signal. 3 is an X decoder which outputs an X decoder output signal in response to an address input signal. 4
is the output of the X-decoder 3, which is connected to the gate electrode of the memory transistor 7 and forms a word line. The memory transistor 7 has its source side connected to GN.
D is grounded, and the drain side is connected to the Y decoder 5 through the bit line 6. Y decoder 5 is connected to address input circuit 2 and transmits the output of selected memory transistor 7 to sense amplifier 8.

センスアンプ8はメモリトランジスタ7の出力を1)″
または“0”に判別し、出力回路9に伝え、出力回路9
の出力端子(Do〜Dm)より出力する。
The sense amplifier 8 converts the output of the memory transistor 7 into 1)''
Or it is determined to be “0” and transmitted to the output circuit 9.
Output from the output terminals (Do to Dm).

次に従来装置の動作について説明する。Next, the operation of the conventional device will be explained.

始めに制御回路1の2つの状態について説明する。制御
回路1に所定の信号を加え待機状態に設定すると、アド
レス入力信号と無関係に全ワードライン4、及び全ビッ
トライン6は非選択となる。
First, two states of the control circuit 1 will be explained. When a predetermined signal is applied to the control circuit 1 to set it in a standby state, all word lines 4 and all bit lines 6 become unselected regardless of the address input signal.

次に制御回路1に所定の信号を加えて動作状態に設定す
ると、上記半導体集積回路装置は動作状態となり、読み
出し可能となる。
Next, when a predetermined signal is applied to the control circuit 1 to set it in an operating state, the semiconductor integrated circuit device becomes in an operating state and becomes readable.

次にアクセス時間について説明すると、制御回路1に所
定の信号を加え動作状態となった上記半導体集積回路装
置は、アドレス入力端子(AQ〜An)に入力信号を入
力すると、アドレス入力回路2により波形整形、増幅さ
れ、Xデコーダ3及びXデコーダ5に伝達される。Xデ
コーダ3及びXデコーダ5は入力信号に対応したワード
ライン4、ピッI・ライン6を選択し、ワードライン4
、ビットライン6は所定のメモリトランジスタ7を選択
する。上記メモリトランジスタ7には、あらかじめ“1
”または0”が書き込まれており“1”の場合はピント
ライン6とGND間が導通となり、“O“の場合は非導
通となり、これらのいづれか一方のメモリ情報をビット
ライン6を介してセンスアンプ8に伝える。該センスア
ンプ8ではメモリトランジスタ7の出力の′″1”また
は“0”を感知し、出力回路9へ伝え、該出力回路9に
より波形整形、増幅し、出力端子(DoxDm)に出力
する。このように上記半導体集積回路装置が動作状態に
あり、アドレス入力信号を受けてから所定のメモリ情報
が出力端子に出力するまでの読み出し時間をアドレスア
クセス時間とし、−力制御回路1に所定の信号が加えら
れて待機状態となっている上記半導体集積回路装置を、
上記動作状態とするために制御回路1に所定の信号を加
えメモリ情報を読み出す時間をCEアクセス時間とする
Next, to explain the access time, when the above-mentioned semiconductor integrated circuit device which has entered the operating state by applying a predetermined signal to the control circuit 1 receives an input signal to the address input terminals (AQ to An), the address input circuit 2 generates a waveform. The signal is shaped, amplified, and transmitted to X decoder 3 and X decoder 5. X decoder 3 and X decoder 5 select word line 4 and pip I line 6 corresponding to the input signal, and
, bit line 6 selects a predetermined memory transistor 7. The memory transistor 7 has “1” in advance.
"or 0" is written, and if it is "1", the focus line 6 and GND will be conductive, and if it is "O", it will be non-conductive, and the memory information of either of these can be sensed via the bit line 6. Inform amplifier 8. The sense amplifier 8 senses ``1'' or ``0'' of the output of the memory transistor 7 and transmits it to the output circuit 9, where the output circuit 9 shapes and amplifies the waveform and outputs it to the output terminal (DoxDm). In this manner, when the semiconductor integrated circuit device is in an operating state, the readout time from receiving an address input signal until predetermined memory information is output to an output terminal is defined as an address access time, and a predetermined signal is sent to the power control circuit 1. The above-mentioned semiconductor integrated circuit device which has been added and is in a standby state,
The time during which a predetermined signal is applied to the control circuit 1 and memory information is read in order to achieve the above operating state is defined as the CE access time.

上記アドレスアクセス時間及び面アクセス時間は、それ
ぞれメモリ情報が“1”と“0”の場合では異なる。メ
モリ情報が“1″であり出力端子にメモリ情報に対応し
た出力が得られるのは、ワードライン4及びビットライ
ン6が選択されメモリトランジスタ7が導通しビットラ
イン6の電荷をGNDへ放電し、メモリトランジスタ7
の出力をセンスアンプ8が“1”と感知した場合だけで
あるが、メモリ情報が“0”に対応する出力を得る場合
には、ワードライン4かビットライン6いないときは、
ビットライン6の電荷はGNDに放出されることはなく
センスアンプ8は0″を感知することとなり、“0”を
読み出した出力と同様の出力を得ることとなる。
The address access time and surface access time are different when the memory information is "1" and "0", respectively. The reason why the memory information is "1" and an output corresponding to the memory information is obtained at the output terminal is because the word line 4 and the bit line 6 are selected and the memory transistor 7 is turned on and the charge on the bit line 6 is discharged to GND. memory transistor 7
This is only when the sense amplifier 8 senses the output as "1", but when the memory information obtains an output corresponding to "0", when there is no word line 4 or bit line 6,
The charge on the bit line 6 is not released to GND, and the sense amplifier 8 senses 0'', resulting in an output similar to that obtained when reading 0.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の半導体集積回路装置は以上のように構成されてい
るので、メモリ情報が“1”の場合、ワードライン4及
びピントライン6が選択されてもメモリトランジスタ7
が導通してビットライン6の電荷をG N D −、放
電してしまってからでなければ“1”を読み出すことが
できずアクセス時間の短縮化が困難であった。
Since the conventional semiconductor integrated circuit device is configured as described above, when the memory information is "1", even if the word line 4 and the focus line 6 are selected, the memory transistor 7 is
It has been difficult to read out "1" until after the bit line 6 has been electrically conductive and the charge on the bit line 6 has been discharged, making it difficult to shorten the access time.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、メモリ情報が異なる各場合のアクセス時間の
差を縮め、ひいてはアクセス時間を短縮できる半導体集
積回路装置を得ることを目的とする。
This invention was made to solve the above-mentioned problems, and aims to reduce the difference in access time between cases where memory information is different, and to obtain a semiconductor integrated circuit device that can shorten the access time. .

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係る半導体集積回路装置は、ワードライン信
号を検知する信号検知手段と、通常はビットラインの電
圧レベルを固定し、上記信号検知手段の出力により上記
電圧レベルを開放する電圧レベル制御手段とを設けたも
のである。
The semiconductor integrated circuit device according to the present invention includes a signal detection means for detecting a word line signal, and a voltage level control means for normally fixing the voltage level of the bit line and releasing the voltage level by the output of the signal detection means. It has been established.

〔作用〕[Effect]

この発明においては、ビットラインの電位をワードライ
ンの信号がメモリトランジスタのゲート電極に到達する
直前まで電圧レベル制御手段によってGNDに固定でき
、メモリ情報が1)″の場合のCEアクセス時間を短縮
し、結果として上記半導体集積回路装置を高速化するこ
ととなる。
In this invention, the potential of the bit line can be fixed to GND by the voltage level control means until just before the word line signal reaches the gate electrode of the memory transistor, thereby shortening the CE access time when the memory information is 1)''. As a result, the speed of the semiconductor integrated circuit device is increased.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を説明する。 An embodiment of this invention will be described below.

第1図は本発明の一実施例による半導体集積回路装置の
ブロック図を示し、図において、1は制御回路であり、
入力端子CEに入力信号を受けることにより上記半導体
集積回路装置を読み出し可能な動作状態、または、低消
費電力の待機状態に設定する。2はアドレス入力回路で
あり、アドレス入力端子(Ao〜Am)にアドレス信号
を受ける。3はXデコーダでありアドレス人力信号によ
りXデコーダ出力信号を出力する。4はXデコーダ3の
出力であり、これはトランジスタ1)及びメモリトラン
ジスタ7のゲート電極に接続されており、ワードライン
を形成する。上記メモリトランジスタ7は、ソース側を
GNDに接地し、ドレイン側をピントライン6を通じて
Yデコーダ5に接続されている。Yデコーダ5は、アド
レス入力回路2と接続されており、選択されたメモリト
ランジスタ7の出力をセンスアンプ8に伝える。センス
アンプ8はメモリトランジスタ7の出力を“1”または
O”に判別し、出力回路9に伝え、該出力回路9は出力
端子(Do〜Dm)より信号を出力する。10はPチャ
ネル電界効果形トランジスタであり、ソース側を第1電
極に、ドレイン側をトランジスタ1)のドレイン側に接
続されている。トランジスタ1)のゲート電+iはワー
ドライン4と接続されており、ソース側はGNDに接地
されている。トランジスタ12はドレイン側をビットラ
イン6に接続され、ソース側をGNDに接地され、その
ゲート電極は信号線13によりトランジスタ10.1)
のドレイン側に接続されている。
FIG. 1 shows a block diagram of a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention, in which 1 is a control circuit;
By receiving an input signal at the input terminal CE, the semiconductor integrated circuit device is set to a readable operating state or a low power consumption standby state. 2 is an address input circuit which receives address signals at address input terminals (Ao to Am). 3 is an X decoder which outputs an X decoder output signal in response to an address input signal. 4 is the output of the X decoder 3, which is connected to the gate electrode of the transistor 1) and the memory transistor 7, forming a word line. The memory transistor 7 has its source side grounded to GND, and its drain side connected to the Y decoder 5 through the pinto line 6. Y decoder 5 is connected to address input circuit 2 and transmits the output of selected memory transistor 7 to sense amplifier 8. The sense amplifier 8 determines the output of the memory transistor 7 as "1" or O, and transmits it to the output circuit 9, which outputs a signal from the output terminals (Do to Dm). 10 is a P-channel field effect The source side is connected to the first electrode, and the drain side is connected to the drain side of transistor 1).The gate voltage +i of transistor 1) is connected to word line 4, and the source side is connected to GND. The transistor 12 has its drain side connected to the bit line 6, its source side grounded to GND, and its gate electrode connected to the transistor 10.1 by the signal line 13.
connected to the drain side of the

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

制御回路1に所定の信号を加えることにより上記半導体
S積回路が待機状態にある場合、アドレス入力信号と無
関係に全ワードライン4及び全ビットライン6は選択さ
れない。この状態ではトランジスタ1)は非導通となり
、トランジスタ1)のドレイン側は”H”レベルとなり
、信号線13を介してトランジスタ12を導通させ、ビ
ットライン6の電荷をGNDに放電させ、ビットライン
6の電位をGNDに固定する。次に制御回路1に所定の
信号を加えて本回路を動作状態とし、アドレス入力端子
(AO〜Am)にアドレス入力信号を入力すると、アド
レス入力回路2により波形整形、増幅され、Xデコーダ
3及びYデコーダ5によってワードライン4及びビット
ライン6が選択される。このときワードライン4の信号
はトランジスタ1)を導通させ、これによりトランジス
タ1)のドレイン側は“L”レベルとなり、信号線13
を介してトランジスタ12を非導通とし、ビットライン
6を開放する。上記のように、ワードライン4の信号が
トランジスタ1)のゲート電極を経てメモリトランジス
タ7のゲート電極に達するようにすることにより、メモ
リトランジスタ7のメモリ情報が“1”の場合にはワー
ドライン4の信号がメモリトランジスタ7のゲート電極
に達した時点のビットライン6の電位はメモリトランジ
スタ7が導通した場合とほぼ等しい電位となり、ワード
ライン4が選択されるのとほぼ同時にメモリトランジス
タ7の出力はセンスアンプ8により感知され、出力回路
9へ伝達され、出力回路9はセンスアンプ8で“1”と
判断された信号を波形整形、増幅し、出力端子(Do−
Dm)に出力する。
When the semiconductor S product circuit is in a standby state by applying a predetermined signal to the control circuit 1, all word lines 4 and all bit lines 6 are not selected regardless of the address input signal. In this state, the transistor 1) becomes non-conductive, and the drain side of the transistor 1) becomes "H" level, making the transistor 12 conductive via the signal line 13, discharging the charge on the bit line 6 to GND, and causing the bit line 6 to become conductive. The potential of is fixed to GND. Next, a predetermined signal is applied to the control circuit 1 to put the circuit into an operating state, and when an address input signal is input to the address input terminals (AO to Am), the address input circuit 2 shapes and amplifies the waveform, and the X decoder 3 and Word line 4 and bit line 6 are selected by Y decoder 5. At this time, the signal on the word line 4 makes the transistor 1) conductive, so that the drain side of the transistor 1) becomes "L" level, and the signal line 13
The transistor 12 is made non-conductive via the bit line 6, and the bit line 6 is opened. As described above, by making the signal on the word line 4 reach the gate electrode of the memory transistor 7 via the gate electrode of the transistor 1), when the memory information of the memory transistor 7 is "1", the word line 4 When the signal reaches the gate electrode of the memory transistor 7, the potential of the bit line 6 becomes almost the same potential as when the memory transistor 7 is turned on, and the output of the memory transistor 7 becomes almost at the same time as the word line 4 is selected. The signal is sensed by the sense amplifier 8 and transmitted to the output circuit 9. The output circuit 9 shapes and amplifies the signal determined to be "1" by the sense amplifier 8, and outputs the signal to the output terminal (Do-
Dm).

このように本実施例では、ワードラインの信号が入力さ
れるまでビットラインの電位をGNDに固定しておくよ
うにしたので、メモリ情報が“1”の場合のCEアクセ
ス時間を短縮でき、半導体集積回路装置・を高速化する
ことができる。
In this embodiment, the potential of the bit line is fixed at GND until the word line signal is input, so the CE access time when memory information is "1" can be shortened, and the semiconductor Integrated circuit devices can be made faster.

なお、上記実施例では第1電倦とトランジスタ1)のド
レインとの間にPチャネル電界効果形トランジスタを設
けたが、デプレッション形トランジスタあるいは抵抗を
第1電極とトランジスタ1)のドレインとの間に設けて
もよい。
In the above embodiment, a P-channel field effect transistor is provided between the first electrode and the drain of transistor 1), but a depression type transistor or a resistor is provided between the first electrode and the drain of transistor 1). It may be provided.

また、上記実施例ではトランジスタ12のソースはGN
Dに接地したが、このソースはセンスアンプ8が“1”
と感知できるレベルとすればよい。
Further, in the above embodiment, the source of the transistor 12 is GN
Although this source is grounded to D, sense amplifier 8 is “1”.
It is sufficient if the level is such that it can be detected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、ワードラインの信号
を利用することによりメモリ情報が“1”の場合の読み
出しのアクセス時間を短縮でき、これによりメモリ情報
が“0”の場合のアクセス時間との差を短縮でき、もっ
て上記半導体集積回路装置を高速化することができる効
果がある。
As described above, according to the present invention, by using the word line signal, the access time for reading when memory information is "1" can be shortened, and thereby the access time when memory information is "0" can be shortened. This has the effect of reducing the difference between the two and thereby increasing the speed of the semiconductor integrated circuit device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例による半導体集積回路装置
を示すブロック図、第2図は従来の半導体集積回路装置
を示すブロック図である。 ■・・・制御回路、2・・・アドレス入力回路、3・・
・Xデコーダ、4・・・ワードライン、5・・・Yデコ
ーダ、6・・・ビットライン、7・・・メモリトランジ
スタ、8・・・センスアンプ、9・・・出力回路、lO
・・・Pチャネル電界効果形トランジスタ、1).12
・・・エンハンスメント形トランジスタ、13・・・信
号線。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing a semiconductor integrated circuit device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional semiconductor integrated circuit device. ■...Control circuit, 2...Address input circuit, 3...
・X decoder, 4... word line, 5... Y decoder, 6... bit line, 7... memory transistor, 8... sense amplifier, 9... output circuit, lO
...P-channel field effect transistor, 1). 12
...Enhancement type transistor, 13...Signal line. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ワードラインとビットラインの交点に記憶素子を
配置して成る半導体集積回路装置において、ある記憶素
子に入力されるワードライン信号を検知する信号検知手
段と、 通常は上記記憶素子に接続されたビットラインの電圧レ
ベルを固定し、上記信号検知手段の出力により上記電圧
レベルを開放する電圧レベル制御手段とを備えたことを
特徴とする半導体集積回路装置。
(1) In a semiconductor integrated circuit device in which a memory element is arranged at the intersection of a word line and a bit line, a signal detection means for detecting a word line signal input to a certain memory element is usually connected to the memory element. 1. A semiconductor integrated circuit device comprising: voltage level control means for fixing a voltage level of a bit line and releasing said voltage level by an output of said signal detection means.
JP60249543A 1985-11-06 1985-11-06 Semiconductor integrated circuit device Pending JPS62109289A (en)

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