JPS62101234A - 磁気共鳴反転回復像の位相修正方法とその装置 - Google Patents
磁気共鳴反転回復像の位相修正方法とその装置Info
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- JPS62101234A JPS62101234A JP61251565A JP25156586A JPS62101234A JP S62101234 A JPS62101234 A JP S62101234A JP 61251565 A JP61251565 A JP 61251565A JP 25156586 A JP25156586 A JP 25156586A JP S62101234 A JPS62101234 A JP S62101234A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、
（ａｌ スピン共鳴信号は、安定した均−磁場内に置
かれた物体の局所に高周波励起パルスによって２個の第
１および第２の系列で発生されて、前記均一磁場に重畳
される磁場勾配の存在のもとに測定されるとともに、 （ｂ） 前記第１の系列での励起パルスは、核磁化を
反転させる高周波反転パルスに先行され、（ｃ）変換を
用いて、複合像値の第１の画像が前記第１の系列から形
成されるに対して、この複合像値の第２の画像は前記第
２の系列から形成され、かつ （ｄ） 前記第１および第２の画像での各画素は１、
画像振幅と画像位相とによって表わされて、前記物体の
局所での核磁化分布を定める磁気共鳴反転回路像の位相
修正方法に関するものである。
かれた物体の局所に高周波励起パルスによって２個の第
１および第２の系列で発生されて、前記均一磁場に重畳
される磁場勾配の存在のもとに測定されるとともに、 （ｂ） 前記第１の系列での励起パルスは、核磁化を
反転させる高周波反転パルスに先行され、（ｃ）変換を
用いて、複合像値の第１の画像が前記第１の系列から形
成されるに対して、この複合像値の第２の画像は前記第
２の系列から形成され、かつ （ｄ） 前記第１および第２の画像での各画素は１、
画像振幅と画像位相とによって表わされて、前記物体の
局所での核磁化分布を定める磁気共鳴反転回路像の位相
修正方法に関するものである。
また、本発明は、
（ａｌ 安定した均一磁場を発生させるための手段、
（ｂ） 高周波励起パルスを発生させるための手段、
（Ｃ） 前記均一磁場に重畳される磁場勾配を発生さ
せるための手段、 （ｄ＋ スピン共鳴信号を測定するための手段、（ｅ
ｌ 測定された前記スピン共鳴信号を処理するための
処理手段および （ｆ） 前記磁場発生手段と、前記高周波励起パルス
発生手段と、前記磁場勾配発生手段と、前記スピン共鳴
信号測定手段と、前記処理手段とを制御するための制御
手段 を具えて、 前記制御手段は、異なる系列の測定に適しているととも
に、 前記処理手段は、２つの異なる系列からの測定結果を結
合し、かつ前記系列からの画像を定めるに適している 物体の局所での核磁化分布を定める磁気共鳴反転回復像
の位相修正装置に関するものである前述のような方法お
よび装置は、ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明
細書から理解される。
（ｂ） 高周波励起パルスを発生させるための手段、
（Ｃ） 前記均一磁場に重畳される磁場勾配を発生さ
せるための手段、 （ｄ＋ スピン共鳴信号を測定するための手段、（ｅ
ｌ 測定された前記スピン共鳴信号を処理するための
処理手段および （ｆ） 前記磁場発生手段と、前記高周波励起パルス
発生手段と、前記磁場勾配発生手段と、前記スピン共鳴
信号測定手段と、前記処理手段とを制御するための制御
手段 を具えて、 前記制御手段は、異なる系列の測定に適しているととも
に、 前記処理手段は、２つの異なる系列からの測定結果を結
合し、かつ前記系列からの画像を定めるに適している 物体の局所での核磁化分布を定める磁気共鳴反転回復像
の位相修正装置に関するものである前述のような方法お
よび装置は、ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明
細書から理解される。
物体（身体）の局所での核磁化分布を定める装置と、こ
の装置の動作原理とは、例えばフィリップス・テクニカ
ル・レビュー、第４１巻（１９８３／８４゜隘３．Ｐ７
３〜８３）における「陽子核磁気共鳴（ＮＭＲ）断層写
真装置」から理解される。前記構成および原理に関して
は、この論説に触れられている。
の装置の動作原理とは、例えばフィリップス・テクニカ
ル・レビュー、第４１巻（１９８３／８４゜隘３．Ｐ７
３〜８３）における「陽子核磁気共鳴（ＮＭＲ）断層写
真装置」から理解される。前記構成および原理に関して
は、この論説に触れられている。
ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明細書に開示さ
れる方法に関して、検査されるべき身体は、いわゆる飽
和回復測定の間中、すなわちエコー信号を得るように選
択励起９０°パルスに続いて非選択１８０°パルスを印
加する飽和回復測定の間中、安定した均一磁場（静磁場
） Ｂｅにさらされる。なお、安定した均一磁場Ｂ０は
、例えばカーテシアン座標系（Ｘ、 Ｙ、 Ｚ）のＺ
軸に一致するような方向を有する。また、この安定した
磁場Ｂ０は、身体内に存するスピンにわずかな偏極を生
じさせくとともに、この磁場Ｂ０の前記方向の回りにス
ピンに歳差運動を行なわせるようにできる。前記磁場Ｂ
０の設定後に、選択勾配として作用する磁場勾配が加え
られるとともに、同時にラジオ周波９０°パルスが発生
される。このラジオ周波９０°パルスは、選択されたス
ライス内に存する前記原子核の磁化を９０゜まで回転さ
せる。この９０°パルスの終了後に、前記スピンは、前
記磁場Ｂ０の前記磁場方向の回りに歳差運動を行ない、
こうして共鳴信号（自由誘導減衰（ＦＩＤ）信号）を発
生させる。前記９０°パルス後において、同時に磁場勾
配Ｇ、、Ｇ、、Ｇｙが加えられる。これら磁場勾配Ｇ、
、Ｇ、、Ｇｙの磁場方向は、前記磁場Ｂ。の磁場方向と
一致するとともに、これら磁場勾配Ｇ、、Ｇ、、Ｇ、の
傾斜方向は、前記Ｚ、ＸおよびＹ方向夫々に伸びる。
れる方法に関して、検査されるべき身体は、いわゆる飽
和回復測定の間中、すなわちエコー信号を得るように選
択励起９０°パルスに続いて非選択１８０°パルスを印
加する飽和回復測定の間中、安定した均一磁場（静磁場
） Ｂｅにさらされる。なお、安定した均一磁場Ｂ０は
、例えばカーテシアン座標系（Ｘ、 Ｙ、 Ｚ）のＺ
軸に一致するような方向を有する。また、この安定した
磁場Ｂ０は、身体内に存するスピンにわずかな偏極を生
じさせくとともに、この磁場Ｂ０の前記方向の回りにス
ピンに歳差運動を行なわせるようにできる。前記磁場Ｂ
０の設定後に、選択勾配として作用する磁場勾配が加え
られるとともに、同時にラジオ周波９０°パルスが発生
される。このラジオ周波９０°パルスは、選択されたス
ライス内に存する前記原子核の磁化を９０゜まで回転さ
せる。この９０°パルスの終了後に、前記スピンは、前
記磁場Ｂ０の前記磁場方向の回りに歳差運動を行ない、
こうして共鳴信号（自由誘導減衰（ＦＩＤ）信号）を発
生させる。前記９０°パルス後において、同時に磁場勾
配Ｇ、、Ｇ、、Ｇｙが加えられる。これら磁場勾配Ｇ、
、Ｇ、、Ｇｙの磁場方向は、前記磁場Ｂ。の磁場方向と
一致するとともに、これら磁場勾配Ｇ、、Ｇ、、Ｇ、の
傾斜方向は、前記Ｚ、ＸおよびＹ方向夫々に伸びる。
それから、前記磁場勾配Ｇ２は、前記９０°パルスの間
中において加えられるその磁場勾配Ｇ２に対向するとと
もに、前記Ｚ方向に対して垂直なスライス内の前記励起
スピンを再同調するに供する。
中において加えられるその磁場勾配Ｇ２に対向するとと
もに、前記Ｚ方向に対して垂直なスライス内の前記励起
スピンを再同調するに供する。
前記磁場勾配ＧＸ、Ｇ、は、前記Ｘ方向およびＹ方向夫
々でのエンコーディングに供する。前記３個の磁場勾配
Ｇ、、Ｇ、、Ｇ、の終了後で、かつ１８０°エコーパル
スの印加後に、磁場勾配Ｇ、が加えられるとともに、も
との前記ＦＩＤ信号のエコー共鳴信号がサンプリングさ
れ、その後に画像がフーリエ変換後に再構成される。引
用された前記ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明
細書において、注目されるべきことは、前述のいわゆる
飽和回復測定法によって発生された画素の前記位相が、
測定の間に磁場勾配が加えられまたは終わることに起因
してＭＲＩ装置の導電部分に生じる渦電流によって、と
りわけ乱されるようになることである。
々でのエンコーディングに供する。前記３個の磁場勾配
Ｇ、、Ｇ、、Ｇ、の終了後で、かつ１８０°エコーパル
スの印加後に、磁場勾配Ｇ、が加えられるとともに、も
との前記ＦＩＤ信号のエコー共鳴信号がサンプリングさ
れ、その後に画像がフーリエ変換後に再構成される。引
用された前記ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明
細書において、注目されるべきことは、前述のいわゆる
飽和回復測定法によって発生された画素の前記位相が、
測定の間に磁場勾配が加えられまたは終わることに起因
してＭＲＩ装置の導電部分に生じる渦電流によって、と
りわけ乱されるようになることである。
飽和回復測定法によって発生される画素での位相妨害を
取り除（または少なくとも軽減するために、引用された
前記ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明細書は、
エコー信号を得るように非選択１８０°パルスを有する
反転回復測定の手法で前記方法の拡張を提案している。
取り除（または少なくとも軽減するために、引用された
前記ヨーロッパ特許第０．１４５，２７６号明細書は、
エコー信号を得るように非選択１８０°パルスを有する
反転回復測定の手法で前記方法の拡張を提案している。
これに関してのパルス系列は、飽和回復測定法のパルス
系列と同一外観を有している。反転回復測定法に関して
、前記パルス系列は、高周波電磁９０°パルスの前に、
ある時間発生される高周波電磁１８０°パルスを有する
ように拡大される。前記飽和回復測定法および反転回復
測定法が行なわれる場合での時間系列が関連がないこと
は明らかである。反転回復測定法および飽和回復測定法
夫々から得られた画像の画素当りの商を定めることによ
って、２タイプの測定が互いに位相誤りが打消されるよ
うに両者を同一実験条件のもとで行なわれている場合に
は、理想的には位相誤りのない画像が得られる。
系列と同一外観を有している。反転回復測定法に関して
、前記パルス系列は、高周波電磁９０°パルスの前に、
ある時間発生される高周波電磁１８０°パルスを有する
ように拡大される。前記飽和回復測定法および反転回復
測定法が行なわれる場合での時間系列が関連がないこと
は明らかである。反転回復測定法および飽和回復測定法
夫々から得られた画像の画素当りの商を定めることによ
って、２タイプの測定が互いに位相誤りが打消されるよ
うに両者を同一実験条件のもとで行なわれている場合に
は、理想的には位相誤りのない画像が得られる。
前述の既知の拡張された方法の問題点は、引用されたヨ
ーロッパ特許第０．１４５，２７６号明細書中の前記部
が２つの前記系列での位相誤り間の相違を示し、かつ実
際上においてかならずしも無視できる程に小さくはない
虚数項を含むことである。したがって、修正された画素
は、修正された画像での強度においてやっかいな相違を
生じさせる位相誤りをなお含んでいる。また、別の問題
点は、前記反転回復測定法が純粋な反転回復画像を生成
しないで、前記飽和回復測定法に関連して比例画像を生
成することである。
ーロッパ特許第０．１４５，２７６号明細書中の前記部
が２つの前記系列での位相誤り間の相違を示し、かつ実
際上においてかならずしも無視できる程に小さくはない
虚数項を含むことである。したがって、修正された画素
は、修正された画像での強度においてやっかいな相違を
生じさせる位相誤りをなお含んでいる。また、別の問題
点は、前記反転回復測定法が純粋な反転回復画像を生成
しないで、前記飽和回復測定法に関連して比例画像を生
成することである。
本発明の目的は、やっかいな強度相違を含まない画像が
得られるように、位相誤りを含まない反転回復画像の画
素の決定を可能にする方法を提供せんとするものである
。
得られるように、位相誤りを含まない反転回復画像の画
素の決定を可能にする方法を提供せんとするものである
。
この目的を達成するために、本発明による方法は、符号
関数値が、対応する各画素にとって、前記第１の画像と
第２の画像との画素間での位相相違から定められること
を特徴とするものである。
関数値が、対応する各画素にとって、前記第１の画像と
第２の画像との画素間での位相相違から定められること
を特徴とするものである。
前記第１の画像の複合画像値が各複合画像値の係数を採
ることによって振幅画像を形成するように用いられる場
合には、前記第１の画像の符号情報は失われる。前記振
幅画像での各画像値が前記位相相違に依存する値を有す
る符号関数によって乗算され、また適切な符号関数が選
択される場合には、前記第１の画像の符号関数は失われ
ない。
ることによって振幅画像を形成するように用いられる場
合には、前記第１の画像の符号情報は失われる。前記振
幅画像での各画像値が前記位相相違に依存する値を有す
る符号関数によって乗算され、また適切な符号関数が選
択される場合には、前記第１の画像の符号関数は失われ
ない。
本発明による方法の一つの態様は、前記符号閣外にある
場合には一１値を有することを特徴とするものである。
場合には一１値を有することを特徴とするものである。
前記位相誤りが同じオーダのの大きさである場合には、
正または負の符号に関して同等に弁別する前記符号関数
は適切な選択である。
正または負の符号に関して同等に弁別する前記符号関数
は適切な選択である。
この符号関数の異なった変化は、前記位相誤りが本質的
に逸脱する場合に考慮に入れることができる。注目され
る゛べきことは、位相誤りが、例えば渦電流のような体
系的な原因だけではなく、例えば流れに影響を受けるス
ピンのような非体系的な原因に起因し得ることである。
に逸脱する場合に考慮に入れることができる。注目され
る゛べきことは、位相誤りが、例えば渦電流のような体
系的な原因だけではなく、例えば流れに影響を受けるス
ピンのような非体系的な原因に起因し得ることである。
本発明による方法の他の態様は、
ｆａ） 前記磁場勾配の変化は、前記２つの系列にお
いて前記スピン共鳴信号の各対について一致していると
ともに、 （ｂ） 擬似磁場勾配は、前記第２の系列において、
前記高周波反転パルスが前記第１の系列で生じる位置に
対応する位置に加えられることを特徴とするものである
。本質的に機能を有さない前記擬似磁場勾配は、前記系
列において単に同一の磁場勾配を作るように役立つ。こ
の擬似磁場勾配および他の系列での全ての他の磁場勾配
は、同一振幅および持続時間を有するべきであるととも
に、前記第１の系列での振幅および持続時間に対応する
時点で切り換えられるべきである。こうして、体系的な
原因の前記位相誤りは少なくともほぼ等しくあることが
達成される。
いて前記スピン共鳴信号の各対について一致していると
ともに、 （ｂ） 擬似磁場勾配は、前記第２の系列において、
前記高周波反転パルスが前記第１の系列で生じる位置に
対応する位置に加えられることを特徴とするものである
。本質的に機能を有さない前記擬似磁場勾配は、前記系
列において単に同一の磁場勾配を作るように役立つ。こ
の擬似磁場勾配および他の系列での全ての他の磁場勾配
は、同一振幅および持続時間を有するべきであるととも
に、前記第１の系列での振幅および持続時間に対応する
時点で切り換えられるべきである。こうして、体系的な
原因の前記位相誤りは少なくともほぼ等しくあることが
達成される。
本発明による方法の他の態様は、
（ａ） 前記第２の系列は、異なる分解能によって発
生されるとともに、 （ｂ） 補間および変換によって、前記第１の系列か
らの画像と同じ分解能を有する画像が前記第２の系列か
ら得られる ことを特徴とするものである。異なる、好ましくは低い
分解能で前記第２の系列を発生させることによって、前
記全実験時間が実質的に減ぜられることが達成される。
生されるとともに、 （ｂ） 補間および変換によって、前記第１の系列か
らの画像と同じ分解能を有する画像が前記第２の系列か
ら得られる ことを特徴とするものである。異なる、好ましくは低い
分解能で前記第２の系列を発生させることによって、前
記全実験時間が実質的に減ぜられることが達成される。
このことは、例えば検査される患者にとってのラジオ周
波の線量および高周波パルス伝送装置にとってのラジオ
周波負荷の両方にとって好ましいことである。比較的に
短い実験時間は、例えば検査されるような患者の動きに
よっての画像のぶれの恐れをも減する。
波の線量および高周波パルス伝送装置にとってのラジオ
周波負荷の両方にとって好ましいことである。比較的に
短い実験時間は、例えば検査されるような患者の動きに
よっての画像のぶれの恐れをも減する。
本発明による方法の他の態様は、
ｆａ） 第３の画像は、前記第１および第２の複合画
像から形成されるとともに、 （ｂ） 前記第３の画像の各画素は、前記第１の画像
の対応する画素の画像振幅と、前記符号関数の関連され
る値との積がら導出されることを特徴とするものである
。このようにして得られた画像は、実質的な位相誤りの
場合においてさえ、位相誤りができるだけ取り除かれて
いることろの前記第１の画像の複合画像値を表す。
像から形成されるとともに、 （ｂ） 前記第３の画像の各画素は、前記第１の画像
の対応する画素の画像振幅と、前記符号関数の関連され
る値との積がら導出されることを特徴とするものである
。このようにして得られた画像は、実質的な位相誤りの
場合においてさえ、位相誤りができるだけ取り除かれて
いることろの前記第１の画像の複合画像値を表す。
本発明による方法の他の態様は、
（ａｌ 各画素に対して、縦緩和時間Ｔ、に依存する
比率が定められるとともに、 （ｂｌ この比率は、前記第１および第２の画像に対
応する前記画素に関する前記符号関数の値によって乗算
された、これらの画素の画像振幅の商である ことを特徴とするものである。
比率が定められるとともに、 （ｂｌ この比率は、前記第１および第２の画像に対
応する前記画素に関する前記符号関数の値によって乗算
された、これらの画素の画像振幅の商である ことを特徴とするものである。
とりわけヨーロッパ特許第０．１４０，２７６号明細書
から、局所縦緩和時間Ｔ、が、反転回復測定法および飽
和回復測定法夫々から得られた画像の画素当りの商から
計算されることができることは知られている。既に説明
したように、この商は、実際上において無視されること
ができない虚数の項を含む。位相誤りによって、これは
前記局所緩和時間Ｔ、の間違った決定に導く。前記比率
は、画素当りの前記緩和時間Ｔ１の決定にとって、すな
わち緩和時間１９画像の形成にとって良き基礎を提供す
る。
から、局所縦緩和時間Ｔ、が、反転回復測定法および飽
和回復測定法夫々から得られた画像の画素当りの商から
計算されることができることは知られている。既に説明
したように、この商は、実際上において無視されること
ができない虚数の項を含む。位相誤りによって、これは
前記局所緩和時間Ｔ、の間違った決定に導く。前記比率
は、画素当りの前記緩和時間Ｔ１の決定にとって、すな
わち緩和時間１９画像の形成にとって良き基礎を提供す
る。
本発明による装置は、
前記処理手段が、対応する画素に関して、第１および第
２の画像の画素間での位相相違から符号関数の値を定め
ることを特徴とするものである。
２の画像の画素間での位相相違から符号関数の値を定め
ることを特徴とするものである。
次に、本発明による磁気共鳴反転回復像の位相修正方法
およびその装置の具体的一実施例につき、図面を参照し
つつ説明する。なお、第１図および第２図は、夫々スピ
ンエコー読み取りを有する反転回復測定法のパルス系列
と、スピンエコー測定法のパルス系列とを示している。
およびその装置の具体的一実施例につき、図面を参照し
つつ説明する。なお、第１図および第２図は、夫々スピ
ンエコー読み取りを有する反転回復測定法のパルス系列
と、スピンエコー測定法のパルス系列とを示している。
核磁気共鳴（ＮＭＲ）技術によって得られる画像の画素
当りの画像強度は、励起層中に局所的に存する陽子密度
ρに関し、縦緩和時間Ｔ１および横緩和時間Ｔ２に概し
て依存する。これらは、前記励起層中の核磁化分布に影
響を及ぼす重要なパラメータである。反転回復測定法は
、画像強度が励起層中に局所的に存する前記陽子密度ρ
と、前記緩和時間Ｔ１とに主に依存する画像を得るには
適している。スピンエコー測定法（よ、前記陽子密度ρ
と、前記緩和時間Ｔ２とに主に依存する画像強度を得る
のに一般に行なわれている。実際上は、反転回復測定法
およびスピンエコー測定法が、１つの実験中において、
励起層からの画像によって核磁化分布を測定するために
行なわれている。この画像は、主にρ−Ｔ、またはρ−
Ｔ２に依存している。
当りの画像強度は、励起層中に局所的に存する陽子密度
ρに関し、縦緩和時間Ｔ１および横緩和時間Ｔ２に概し
て依存する。これらは、前記励起層中の核磁化分布に影
響を及ぼす重要なパラメータである。反転回復測定法は
、画像強度が励起層中に局所的に存する前記陽子密度ρ
と、前記緩和時間Ｔ１とに主に依存する画像を得るには
適している。スピンエコー測定法（よ、前記陽子密度ρ
と、前記緩和時間Ｔ２とに主に依存する画像強度を得る
のに一般に行なわれている。実際上は、反転回復測定法
およびスピンエコー測定法が、１つの実験中において、
励起層からの画像によって核磁化分布を測定するために
行なわれている。この画像は、主にρ−Ｔ、またはρ−
Ｔ２に依存している。
一般に、核磁気共鳴（ＭＮＲ）測定での問題点は、渦電
流の発生である。この渦電流自体が磁場勾配を生じさせ
る。この磁場勾配は、測定から得られるような画像に位
相誤りをもたらす。この理由は、同一歳差位相と同一歳
差周波とを有する一定数の原子核が最終信号に一定の顕
著な寄与を生じるからである。渦電流によってもたらさ
れる前記磁場勾配は、前記所定数の原子核の歳差位相お
よび歳差周波にも影響を与えるために、所定の顕著な寄
与をもたらす原子核の数が変化する。これによって、前
述の寄与の強度も変化する。
流の発生である。この渦電流自体が磁場勾配を生じさせ
る。この磁場勾配は、測定から得られるような画像に位
相誤りをもたらす。この理由は、同一歳差位相と同一歳
差周波とを有する一定数の原子核が最終信号に一定の顕
著な寄与を生じるからである。渦電流によってもたらさ
れる前記磁場勾配は、前記所定数の原子核の歳差位相お
よび歳差周波にも影響を与えるために、所定の顕著な寄
与をもたらす原子核の数が変化する。これによって、前
述の寄与の強度も変化する。
第１図は、スピンエコー読み取りを有する正規反転回復
パルス系列を示している。時計方向に回転する正規直交
系は、勾配方向が互いに垂直に延びながら、静的な均一
磁場がＺ軸に沿って向けられ、この均一磁場の方向に対
して高周波電磁場が垂直に向けられ、かつ前記磁場勾配
の磁場方向が前記均一磁場の磁場方向と一致する場合に
考慮に入れられる。１＝１．時点と１＝１．時点とによ
って区切られる区間１の間において、磁場勾配Ｇｚ加え
られ、同時に高周波電磁１８０°パルスが発生される。
パルス系列を示している。時計方向に回転する正規直交
系は、勾配方向が互いに垂直に延びながら、静的な均一
磁場がＺ軸に沿って向けられ、この均一磁場の方向に対
して高周波電磁場が垂直に向けられ、かつ前記磁場勾配
の磁場方向が前記均一磁場の磁場方向と一致する場合に
考慮に入れられる。１＝１．時点と１＝１．時点とによ
って区切られる区間１の間において、磁場勾配Ｇｚ加え
られ、同時に高周波電磁１８０°パルスが発生される。
これにより、前記スピンが２＝２゜面内で励起される。
これは、Ｚ ＝Ｚ ｏ面内で前記スピンによって発生さ
れる磁化が正のＺ軸に対して１８０°の角度を巡らし、
言い換えれば負のＺ軸に向けられることを意味する。こ
の高周波電磁１８０°パルスは一定のバンド幅を有する
ために、スピンは前記２＝２．面内のみならず、このＺ
＝Ｚｏ面の付近でも励起される。また、高周波電磁１８
０°パルスの周波数内容の変動によって、前記２＝２．
面に平行な他の面内のスピンも励起されることができる
。１＝１．時点後に、前記スピンは、前記静的な均一磁
場の方向内で再配向する。
れる磁化が正のＺ軸に対して１８０°の角度を巡らし、
言い換えれば負のＺ軸に向けられることを意味する。こ
の高周波電磁１８０°パルスは一定のバンド幅を有する
ために、スピンは前記２＝２．面内のみならず、このＺ
＝Ｚｏ面の付近でも励起される。また、高周波電磁１８
０°パルスの周波数内容の変動によって、前記２＝２．
面に平行な他の面内のスピンも励起されることができる
。１＝１．時点後に、前記スピンは、前記静的な均一磁
場の方向内で再配向する。
なぜならば、この時点から前記スピンは、高周波電磁パ
ルスの影響を受けないためである。この緩和過程は、前
記磁化が再びもとの正の方向に向くまで続く。この場合
に、この磁化は連続的に前記負のＺ軸に沿って滅じ、零
になり、次に前記正のＺ軸に沿って前述されたもとの値
に再び到達するまで増加する。１＝１．時点と１＝１．
時点とによって区切られる区間３の間において、高周波
電磁９０°パルスは、前記磁場勾配Ｇｔが存する場合に
、前記Ｚ軸の回りに９０”の角度で前記励起層内に磁化
の歳差運動を生じさせるように発生される１＝１．時点
と１＝１．時点とによって区切られる区間４の間におい
て、３個の磁場勾配Ｇｔ＋Ｇｔ＊Ｇ＋：が加えられる。
ルスの影響を受けないためである。この緩和過程は、前
記磁化が再びもとの正の方向に向くまで続く。この場合
に、この磁化は連続的に前記負のＺ軸に沿って滅じ、零
になり、次に前記正のＺ軸に沿って前述されたもとの値
に再び到達するまで増加する。１＝１．時点と１＝１．
時点とによって区切られる区間３の間において、高周波
電磁９０°パルスは、前記磁場勾配Ｇｔが存する場合に
、前記Ｚ軸の回りに９０”の角度で前記励起層内に磁化
の歳差運動を生じさせるように発生される１＝１．時点
と１＝１．時点とによって区切られる区間４の間におい
て、３個の磁場勾配Ｇｔ＋Ｇｔ＊Ｇ＋：が加えられる。
時間を短縮するために、これらの３個の磁場勾配Ｇ；、
Ｇ、、Ｇ、は、同一時間区間の間に加えられる。しかし
ながら、この区間に高周波電磁パルスは発生されないた
めに、前記磁場勾配の影響は、別々に考慮されることが
できる。前記負の磁場勾配Ｇ：は、前記Ｚ軸方向に前記
スピンを再同調させる。この結果、前記Ｚ ” Ｚ 。
Ｇ、、Ｇ、は、同一時間区間の間に加えられる。しかし
ながら、この区間に高周波電磁パルスは発生されないた
めに、前記磁場勾配の影響は、別々に考慮されることが
できる。前記負の磁場勾配Ｇ：は、前記Ｚ軸方向に前記
スピンを再同調させる。この結果、前記Ｚ ” Ｚ 。
面内と、この２＝２．面の付近内で選択的に励起されて
いる前記スピンは、もはや前記Ｚ軸方向での位相弁別の
影響を受けない。前記磁場勾配ＧＸＩＣ；は、前記Ｘ軸
方向およびＹ軸方向夫々において前記スピンの意図的な
離同調に供する。このようにして、エンコーディングが
両方向において実現される。１＝１．時点と１＝１．時
点との間において、１＝１ｃ時点の直前に前記Ｚ軸方向
に局所的に存する前記磁化に依存する共鳴信号が発生さ
れる。この磁化の大きさは、縦緩和時間Ｔ、に依存する
。例えば患者の励起層が異なる緩和時間Ｔ。
いる前記スピンは、もはや前記Ｚ軸方向での位相弁別の
影響を受けない。前記磁場勾配ＧＸＩＣ；は、前記Ｘ軸
方向およびＹ軸方向夫々において前記スピンの意図的な
離同調に供する。このようにして、エンコーディングが
両方向において実現される。１＝１．時点と１＝１．時
点との間において、１＝１ｃ時点の直前に前記Ｚ軸方向
に局所的に存する前記磁化に依存する共鳴信号が発生さ
れる。この磁化の大きさは、縦緩和時間Ｔ、に依存する
。例えば患者の励起層が異なる緩和時間Ｔ。
を有する異なるタイプのａｍを有する場合には、前記局
所磁化は同調あるいは１８０°位相はずれのいずれかに
ある。これは、前記局所磁化が高周波電磁９０”パルス
によって前記磁化の影響を受けるに先立って前述の負の
Ｚ軸方向になお向けられるように、持続時間’ｒ＝ ＜
ｔｂ−ｔｃ）がＴ、・１ｎ。
所磁化は同調あるいは１８０°位相はずれのいずれかに
ある。これは、前記局所磁化が高周波電磁９０”パルス
によって前記磁化の影響を受けるに先立って前述の負の
Ｚ軸方向になお向けられるように、持続時間’ｒ＝ ＜
ｔｂ−ｔｃ）がＴ、・１ｎ。
より小さい場合に、前記最終磁化が、例えば持続時間Ｔ
がＴ、・ｌｎｚを超えるところの組織での原子核によっ
て発生される前記局所磁化に対して１８０゜の位相はず
れにあるためである。次に、この局所磁化は、１＝１ｃ
時点で前述の正のＺ軸方向に向けられる。前述した渦電
流によって生じる磁場勾配は、反転回復測定法の間にお
いて共鳴信号の位相または周波数成分を乱すことができ
る。
がＴ、・ｌｎｚを超えるところの組織での原子核によっ
て発生される前記局所磁化に対して１８０゜の位相はず
れにあるためである。次に、この局所磁化は、１＝１ｃ
時点で前述の正のＺ軸方向に向けられる。前述した渦電
流によって生じる磁場勾配は、反転回復測定法の間にお
いて共鳴信号の位相または周波数成分を乱すことができ
る。
第２図は、スピンエコーパルス系列を示している。区間
１の間において、反転回復系列の間と同一の磁場勾配Ｇ
２の変化をえるように擬似磁場勾配Ｇ書が加えられる。
１の間において、反転回復系列の間と同一の磁場勾配Ｇ
２の変化をえるように擬似磁場勾配Ｇ書が加えられる。
この結果、少なくとも実質的に等しい渦電流が生じる。
これによって、渦電流によって生じる前記位相誤りは、
少なくとも両系列においてほぼ等しくある。１−１．時
点とｔ＝１．時点とによって区切られる区間３に発生さ
れる前記高周波電磁９０°パルスは、前記層内に局所的
に存する前記スピンによって形成される前記磁化を前記
Ｚ軸に関してて９０’の角度まで回転させる。１＝１．
時点と１＝１．時点とによって区切られる区間５の間に
おいて発生される前記高周波電磁１８０°パルスは、区
間（ｔｒ＋ｔＪＯ間にエコー共鳴信号を生ずる。前記磁
場勾配Ｇ、、Ｇ、。
少なくとも両系列においてほぼ等しくある。１−１．時
点とｔ＝１．時点とによって区切られる区間３に発生さ
れる前記高周波電磁９０°パルスは、前記層内に局所的
に存する前記スピンによって形成される前記磁化を前記
Ｚ軸に関してて９０’の角度まで回転させる。１＝１．
時点と１＝１．時点とによって区切られる区間５の間に
おいて発生される前記高周波電磁１８０°パルスは、区
間（ｔｒ＋ｔＪＯ間にエコー共鳴信号を生ずる。前記磁
場勾配Ｇ、、Ｇ、。
Ｇ Ｘ ＋ Ｇ ンの機能は、第１図の反転回復パルス
系列の説明で述べたのと同様である。たとえ、例えば異
なる緩和時間Ｔ、を有する異なるタイプの組織が再び励
起層に存していても、最終的に得られる前記局所磁化は
、理想的には同調である。これは、前述の負のＺ軸に沿
って向けられる磁化が測定中に生じないためである。前
述した渦電流のために、妨害はスピンエコー測定中に得
られた画像にも生ずる。これから説明するように、正し
くない強度を有する画素にもたらす反転回復像での前記
位相誤りは、反転回復測定法とスピンエコー測定法との
組み合せによって減ぜられることができる。この反転回
復測定法の共鳴信号の二倍位相敏感検波の後に、この検
波から導出される２グループの信号が濾過（フィルター
）後にサンプリングされる。
系列の説明で述べたのと同様である。たとえ、例えば異
なる緩和時間Ｔ、を有する異なるタイプの組織が再び励
起層に存していても、最終的に得られる前記局所磁化は
、理想的には同調である。これは、前述の負のＺ軸に沿
って向けられる磁化が測定中に生じないためである。前
述した渦電流のために、妨害はスピンエコー測定中に得
られた画像にも生ずる。これから説明するように、正し
くない強度を有する画素にもたらす反転回復像での前記
位相誤りは、反転回復測定法とスピンエコー測定法との
組み合せによって減ぜられることができる。この反転回
復測定法の共鳴信号の二倍位相敏感検波の後に、この検
波から導出される２グループの信号が濾過（フィルター
）後にサンプリングされる。
この濾過後に、複合画像は、２Ｄフリーエ変換によって
２クループのサンプリング値から再構成される。この操
作は、前記スピンエコー測定法の共鳴信号に関して行な
われる。
２クループのサンプリング値から再構成される。この操
作は、前記スピンエコー測定法の共鳴信号に関して行な
われる。
反転回復（ＩＲ）画素の値およびスピンエコー（ＳＥ）
画素の値は、複素数表示で次のように表わされることが
できる。
画素の値は、複素数表示で次のように表わされることが
できる。
３１ｇ＝ｍｏｄ（Ｓ ＩＲ） ｅ’φＳ工Ｒ（１）Ｓ
ＳＥ＝ＴＩＩＯ３（ＳＳＥ） ｅ’φＳ ｓＫ
（２＋なお、ＳＩＭは複素数のＩＲ画素の値で
あり、ｍｏｄ（Ｓ＋＊）は係数であり、φｓＩＲは複素
数のＩＲ画素の位相である。相応する表示が、前記スピ
ンエコー共鳴画素にも用いられる。言い換えれば、理想
的に、渦電流によって生じる前記位相誤りがなく、また
例えば静的な均一磁場の不均一および不完全な高周波電
磁の９０°または１８０°パルスによって生じるような
他の位相誤りがなければ、次式が成立する。
ＳＥ＝ＴＩＩＯ３（ＳＳＥ） ｅ’φＳ ｓＫ
（２＋なお、ＳＩＭは複素数のＩＲ画素の値で
あり、ｍｏｄ（Ｓ＋＊）は係数であり、φｓＩＲは複素
数のＩＲ画素の位相である。相応する表示が、前記スピ
ンエコー共鳴画素にも用いられる。言い換えれば、理想
的に、渦電流によって生じる前記位相誤りがなく、また
例えば静的な均一磁場の不均一および不完全な高周波電
磁の９０°または１８０°パルスによって生じるような
他の位相誤りがなければ、次式が成立する。
φＳ ＝０ または φＳ工□＝１
Ｒ
したがって、
である。また、
φ８＝Ｏ
Ｆ
であることから、
Ｓｓｔ＝ｍｏｄ（Ｓｓ＋：） （φ５ｓＥ＝０）であ
る。
る。
前述渦電流によって生じる位相誤りおよび他の位相誤り
が、Δφの項において考慮される場合に：式（１１，（
２）は次のようになる。
が、Δφの項において考慮される場合に：式（１１，（
２）は次のようになる。
Ｓｓｔ＝ｍｏｄ（ＳｓＥ） ｅｉ（φＳＳＥ＋Δφｓｓ
Ｆ、）（６）ΔφＳ 項は、 Ｋ により各画素について、今や簡単に定められることがで
きる。なお、Ｒｅ５ｓｔおよびＩＩＩＩＳＳＥは、夫々
前記複素数の画素（２）の実数部と虚数部とである。前
記複素数の画素Ｓ！Ｅ＋ Ｓ＋えの位相誤りが、同一
にふるまい。
Ｆ、）（６）ΔφＳ 項は、 Ｋ により各画素について、今や簡単に定められることがで
きる。なお、Ｒｅ５ｓｔおよびＩＩＩＩＳＳＥは、夫々
前記複素数の画素（２）の実数部と虚数部とである。前
記複素数の画素Ｓ！Ｅ＋ Ｓ＋えの位相誤りが、同一
にふるまい。
Δφｓ ｚΔφ８工Ｒ（８）
Ｂ
を示すと仮定するならば、反転回復画素での前記位相誤
りは減ぜられることができる。この条件は、実際、反転
回復測定または、例えばスピンエコー測定の間に前記ス
ピンが前記磁場勾配によって前記位相誤りに関して同じ
効果を受けるように実験状況を選ぶと、実質的に満足さ
れることができる。
りは減ぜられることができる。この条件は、実際、反転
回復測定または、例えばスピンエコー測定の間に前記ス
ピンが前記磁場勾配によって前記位相誤りに関して同じ
効果を受けるように実験状況を選ぶと、実質的に満足さ
れることができる。
第１図および第２図に示されるような測定法は、適切な
例である。式（１）による前記ＩＲ画素の係数像は、式
（５）による前記ＩＲ画素の係数像と同一である。修正
のために、式（３）による前記係数の＋または一符号を
定めることがただ必要である。前記係数は、 である場合には、十符号を得ることが適切に判断するこ
とができ、また １ π である場合には、−符号を得ることがわかる。こ測定法
の画素当りの測定された位相であり、またΔφｓ８Ｅは
前記ＳＥ測定法の画素当りの測定された位相である。他
の評価区間もまた選択されることができる。前記係数に
＋または一符号を与えることに加えて、例えば、この係
数が評価区間の境の付近で小さくされることができる。
例である。式（１）による前記ＩＲ画素の係数像は、式
（５）による前記ＩＲ画素の係数像と同一である。修正
のために、式（３）による前記係数の＋または一符号を
定めることがただ必要である。前記係数は、 である場合には、十符号を得ることが適切に判断するこ
とができ、また １ π である場合には、−符号を得ることがわかる。こ測定法
の画素当りの測定された位相であり、またΔφｓ８Ｅは
前記ＳＥ測定法の画素当りの測定された位相である。他
の評価区間もまた選択されることができる。前記係数に
＋または一符号を与えることに加えて、例えば、この係
数が評価区間の境の付近で小さくされることができる。
この評価区間は、前記符号関数がその評価区間の境の付
近での絶対値よりも小さい絶対値を有することを意味す
る。他の可能性は、前記境の付近で＋または一符号を決
めるだめのより上級の統計上の手段を用いることにある
。
近での絶対値よりも小さい絶対値を有することを意味す
る。他の可能性は、前記境の付近で＋または一符号を決
めるだめのより上級の統計上の手段を用いることにある
。
本発明は、画素当りの前記縦緩和時間Ｔ＋を定めるため
にも用いられることができる。雑誌ｒＭａｇｎ。
にも用いられることができる。雑誌ｒＭａｇｎ。
Ｒｅｓ、 ｉｎ Ｍｅｄ、２ Ｊ （Ｐ Ｌ３６〜１５
８．１９８５）から、前記画素Ｓ ＩＩＩ＋ Ｓ ３
Ｅ夫々の実部Ｒｅ（Ｓ ＩＲ）ｌ Ｒｅ（Ｓ ｓｔ）
の比率、 から前記緩和時間Ｔ１を導出することが知られている。
８．１９８５）から、前記画素Ｓ ＩＩＩ＋ Ｓ ３
Ｅ夫々の実部Ｒｅ（Ｓ ＩＲ）ｌ Ｒｅ（Ｓ ｓｔ）
の比率、 から前記緩和時間Ｔ１を導出することが知られている。
式αψかられかるように、この緩和時間Ｔ、の決定は、
位相誤りにも依存される。本発明によって、前記緩和時
間Ｔ、が、 によって導出される場合に、この緩和時間Ｔ、は位相誤
りなしに定められることができる。なお、符号関数は、
式（９）の規準または他の規準によって＋符号または一
符号夫々を発生する。前記画素当りの縦緩和時間Ｔ、は
、計算機の索引テーブルにおいて関連される緩和時間Ｔ
、を調べるために前記式卸によって得られる値Ｒを用い
ることによってほぼ定められることができる。前記計算
機の索引テーブルには、前記理論的比率Ｒが前記関連さ
れる緩和時間Ｔ、とともに規定されている。弐〇〇から
得られた前記比率Ｒを用いる場合に、緩和時間Ｔ、は前
記理論的比率Ｒから数字の零点を定める方法によって解
かれることもできる。
位相誤りにも依存される。本発明によって、前記緩和時
間Ｔ、が、 によって導出される場合に、この緩和時間Ｔ、は位相誤
りなしに定められることができる。なお、符号関数は、
式（９）の規準または他の規準によって＋符号または一
符号夫々を発生する。前記画素当りの縦緩和時間Ｔ、は
、計算機の索引テーブルにおいて関連される緩和時間Ｔ
、を調べるために前記式卸によって得られる値Ｒを用い
ることによってほぼ定められることができる。前記計算
機の索引テーブルには、前記理論的比率Ｒが前記関連さ
れる緩和時間Ｔ、とともに規定されている。弐〇〇から
得られた前記比率Ｒを用いる場合に、緩和時間Ｔ、は前
記理論的比率Ｒから数字の零点を定める方法によって解
かれることもできる。
前記比率Ｒに関する前記緩和時間Ｔ、の理論的依存状態
は、ブロッホ方程式の解によって見出されることができ
る。注目されるべきことは、画像再構成が、例えば投影
再構成手段を用いることも可能であるほどに磁場勾配の
巧みな処置を含む場合には、両系列での前記区間２の後
に、いずれか他の手段が前記共鳴信号を導出するために
、またはエコー信号を発生するために用いられることが
できることである。
は、ブロッホ方程式の解によって見出されることができ
る。注目されるべきことは、画像再構成が、例えば投影
再構成手段を用いることも可能であるほどに磁場勾配の
巧みな処置を含む場合には、両系列での前記区間２の後
に、いずれか他の手段が前記共鳴信号を導出するために
、またはエコー信号を発生するために用いられることが
できることである。
第１図及び第２図は、本発明による磁気共鳴反転回復像
の位相修正方法とその装置を説明するための図面であっ
て、 第１図はスピンエコー読み取りを有する反転回復測定法
のパルス系列、 第２図はスピンエコー測定法のパルス系列である。 Ｇ：”、Ｇ÷、０口・・・磁場勾配 Ｒ１・・・ 縦緩和時間 Ｒ２・・・ 横緩和時間 特許比ＩＪｉ 人 エヌ・ベー・フィリップス・フ
ルーイランペンファブリケン 代理人弁理士 杉 村 暁 秀（ξ・芝
の位相修正方法とその装置を説明するための図面であっ
て、 第１図はスピンエコー読み取りを有する反転回復測定法
のパルス系列、 第２図はスピンエコー測定法のパルス系列である。 Ｇ：”、Ｇ÷、０口・・・磁場勾配 Ｒ１・・・ 縦緩和時間 Ｒ２・・・ 横緩和時間 特許比ＩＪｉ 人 エヌ・ベー・フィリップス・フ
ルーイランペンファブリケン 代理人弁理士 杉 村 暁 秀（ξ・芝
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、（ａ）スピン共鳴信号は、安定した均一磁場内に置
かれた物体の局所に高周波励起パルスによって２個の第
１および第２の系列で発生されて、前記均一磁場に重畳
される磁場勾配の存在のもとに測定されるとともに、 （ｂ）前記第１の系列での励起パルスは、核磁化を反転
させる高周波反転パルスに先行され、 （ｃ）変換を用いて、複合像値の第１の画像が前記第１
の系列から形成されるに対して、この複合像値の第２の
画像は前記第２の系列から形成され、かつ （ｄ）前記第１および第２の画像での各画素は、画像振
幅と画像位相とによって表わされて、 前記物体の局所での核磁化分布を定める磁 気共鳴反転回復像の位相修正方法において、符号関数値
は、対応する各画素にとって、前記第１の画像と第２の
画像との画素間での位相相違から定められることを特徴
とする 磁気共鳴反転回復像の位相修正方法。 ２、前記符号関数は、前記位相相違φが−（π／２）＜
φ＜（π／２）にある場合には＋１値を有し、また−（
π／２）＜φ＜（π／２）以外にある場合には−１値を
有することを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の
磁気共鳴反転回復像の位相修正方法。 ３、（ａ）前記磁場勾配の変化は、前記２つの系列にお
いて前記スピン共鳴信号の各対について一致していると
ともに、 （ｂ）擬似磁場勾配は、前記第２の系列において、前記
高周波反転パルスが前記第１の系列で生じる位置に対応
する位置に加えられることを特徴とする特許請求の範囲
第１項または第２項に記載の磁気共鳴反転回復像の位相
修正方法。 ４、（ａ）前記第２の系列は、異なる分解能によって発
生されるとともに、 （ｂ）補間および変換によって、前記第１の系列からの
画像と同じ分解能を有する画像が前記第２の系列から得
られる ことを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項または
第３項に記載の磁気共鳴反転回復像の位相修正方法。 ５、（ａ）第３の画像は、前記第１および第２の複合画
像から形成されるとともに、 （ｂ）前記第３の画像の各画素は、前記第１の画像の対
応する画素の画像振幅と、前記符号関数の関連される値
との積から導出されることを特徴とする特許請求の範囲
第１項乃至第４項のいずれかに記載の磁気共鳴反転回復
像の位相修正方法。 ６、（ａ）各画素に対して、縦緩和時間Ｔ＿１に依存す
る比率が定められるとともに、 （ｂ）この比率は、前記第１および第２の画像に対応す
る前記画素に関する前記符号関数の値によって乗算され
た、これら画素の画像振幅の商である ことを特徴とする特許請求の範囲第１項乃至第４項のい
ずれかに記載の磁気共鳴反転回復像の位相修正方法。 ７、（ａ）安定した均一磁場を発生させるための手段、 （ｂ）高周波励起パルスを発生させるための手段、 （ｃ）前記均一磁場に重畳される磁場勾配を発生させる
ための手段、 （ｄ）スピン共鳴信号を測定するための手段、（ｅ）測
定された前記スピン共鳴信号を処理するための処理手段
および （ｆ）前記磁場発生手段と、前記高周波励起パルス発生
手段と、前記磁場勾配発生手段と、前記スピン共鳴信号
測定手段と、前記処理手段を制御するための制御手段 を具えて、 前記制御手段は、異なる系列の測定に適し ているとともに、 前記処理手段は、２つの異なる系列からの 測定結果を結合し、かつ前記系列からの画像を定めるに
適している 物体の局所での核磁化分布を定める磁気共鳴反転回復像
の位相修正装置において、 前記処理手段は、対応する画素に関して、 第１および第２の画像の画素間での位相相違から符号関
数の値を定めることを特徴とする磁気共鳴反転回復像の
位相修正装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8502871A NL8502871A (nl) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | Werkwijze en inrichting voor het fasecorrigeren van mri-beelden. |
| NL8502871 | 1985-10-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62101234A true JPS62101234A (ja) | 1987-05-11 |
| JPH0687845B2 JPH0687845B2 (ja) | 1994-11-09 |
Family
ID=19846742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61251565A Expired - Lifetime JPH0687845B2 (ja) | 1985-10-22 | 1986-10-22 | 磁気共鳴反転回復像の位相修正方法とその装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4754223A (ja) |
| EP (1) | EP0223279B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0687845B2 (ja) |
| CA (1) | CA1269703A (ja) |
| DE (1) | DE3671525D1 (ja) |
| IL (1) | IL80458A (ja) |
| NL (1) | NL8502871A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018008114A (ja) * | 2010-10-13 | 2018-01-18 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 画像処理装置、磁気共鳴イメージング装置及び画像処理方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IL82029A (en) * | 1987-03-27 | 1990-07-26 | Elscint Ltd | Method for performing magnetic resonance studies of restricted volumes |
| US4812760A (en) * | 1987-07-27 | 1989-03-14 | General Electric Company | Multi-dimensional selective NMR excitation with a single RF pulse |
| NL8702701A (nl) * | 1987-11-12 | 1989-06-01 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor automatische fasecorrectie van complexe nmr spectra. |
| DE3851758T2 (de) * | 1988-11-25 | 1995-04-27 | Philips Nv | Kernspinresonanzverfahren und -vorrichtung zur Unterdrückung eines Signals einer chemischen Verschiebungskomponente aus einem längsrelaxationszeitgewichteten Kernspintomogramm. |
| DE4005675C2 (de) * | 1990-02-22 | 1995-06-29 | Siemens Ag | Verfahren zur Unterdrückung von Artefakten bei der Bilderzeugung mittels kernmagnetischer Resonanz |
| AU2003273324A1 (en) * | 2002-09-12 | 2004-04-30 | Nline Corporation | System and method for acquiring and processing complex images |
| EP2148212B1 (en) * | 2008-07-24 | 2019-08-21 | Toshiba Medical Systems Corporation | Magnetic resonance imaging apparatus for contrast enhancement of images |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH0687845B2 (ja) | 1994-11-09 |
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