JPS6198239A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JPS6198239A
JPS6198239A JP59217288A JP21728884A JPS6198239A JP S6198239 A JPS6198239 A JP S6198239A JP 59217288 A JP59217288 A JP 59217288A JP 21728884 A JP21728884 A JP 21728884A JP S6198239 A JPS6198239 A JP S6198239A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、XICT装置、特に高精度なCT両画像得る
ことを可能としたX線CT装置に関する。
〔発明の背景〕
CT装置でのCT両画像精度(空間周波数特性)は、使
用する検出器の素子間隔により決定される。
現在の検出器間隔は約1mm程度であり、空間周波数特
性は、6.l!p/amである。このCT両画像精度を
向上するためには、検出器の素子間隔を狭くすることが
、必要であるが、物理的にも製造上からも限界があると
共に、X線の利用効率が低下し、被爆の増加を招く可能
性がある。
更に、扇状X線ビームにより得られた隣合うデータの中
間に零(0)を挿入して見かけ上のチャンネル数を増加
させる方法(U S P 、 4280178号、U 
S P 、 4284896号)は、単にチャンネルを
増加させるのみで開口幅は変化せず、計算上、全く意味
のない数を計算しなければならず、処理されるデータ数
が従来の2倍以上となる問題点がある。
〔発明の目的〕
本発明は、X線検出器の素子(チャンネル)間隔を変化
させることなく、実質的なチャンネル数の増加によりデ
ータ数の増加をはかってCT両画像精度向上を可能とし
たCT装置を提供するものである。
〔発明の概要〕
本発明の対象とするX線源は、扇状X線である。
この扇状xHを平行ビームに並べかえる。この平行ビー
ムに変換して得た平行ビームに基づく各チャンネルデー
タをもとにして画像再構成を行う。
この平行ビームへの変換及び平行ビームに基づくデータ
をもとにした画像再構成は従来より公知である。
平行ビームとは、扇状X線ビームに対比できる用語であ
り、Xi!源が平行X線ビームである場合を云う。従っ
て、平行ビームへの変換とは、扇状X線源でX@照射を
行い、かくして得た扇状X線ビームに基づくデータをあ
たかも平行X線源で得たデータの如く変換することを云
う。
扇状X線源より得たデータは、回転角βとX線1   
    検l′t″i′″′f″′ネ″番9゛81°1
°17ゝ′8651       される。一方、平行
ビームで得るデータは、回転角θと平行ビーム検出器と
してのチャンネル番号tとによってアドレス化される。
平行ビームのデータに変換するとは、θとtとを与えて
このθとtとに該当するデータをβとλとのアドレスか
らみつけることである。従って、アドレス変換とみるこ
ともできる。
かくして得た平行ビームに基づくデータの中で互いに対
向する位置の平行ビームのデータが存在する。θ=0@
とθ=tgo@、θ=Δθとθ=180@+Δθ、θ=
2Δθとθ=180’+2Δθ、・・・の如き場合であ
る。ここで、Δθとは、平行ビームのサンプルピッチ角
度を云う。
そこで1本発明では、互いに対向する位置の平行ビーム
について、一方を素子間隔で半ピツチずらす、この半ピ
ツチずらし九一方を他方であたかも得たデータとして一
扱わせる。この結果、他方では、あたかも素子間隔を半
ピツチとして平行ビームを得た如くなる。かかる他方の
2倍のデータ量を用いて画像再構成を行う。
〔発明の実施例〕
第1図は、本発明の全体構成図である。X線源1は、扇
状X線ビーム3を発生する。X線検出器2は、複数のX
線検出素子より成り、透過X1aを検出すべく扇状に配
置されている。この素子はチャンネルと呼ばれる。
X線源1とX線検出器2とは回転中心Qを中心として互
いに対向しながら回転する。一般に、一定サンプルピッ
チΔβで回転する。被検体は扇状X線ビームの照射空間
中におかれ、X線検出器2は、この被検体からの透過X
線を検出、する。
メモリ4は、X線検出器2の検出値を格納する。
検出値を格納すべきアドレスは、X線源の位置とチャン
ネル番号λとで決める。X線源の位置は回転角βで定ま
る。従って、回転角βとチャンネル番号λとでアドレス
を作り、その時の検出値をそのアドレスに格納する。尚
、メモリ4はディジタルメモリであり、その前段(図示
省略)でAD変換された結果が利用される。
変換回路5は、メモリ4に格納している扇状X線ビーム
データを平行ビームデータに並べかえると共に、対向す
る位置の平行ビームデータ相互間で半ピツチ間隔のデー
タを得る処理を行う。これによって、実際の検出器チャ
ンネル数の2倍のチャンネルのデータを得る。この変換
回路5の詳細は後述する。
演算回路6は、変換回路5で得た平行ビームデータにフ
ィルタ処理を行う。画像のシャープ化のための処理であ
り、その内容は公知である。例えば、コンポルージョン
又はフーリエ変換処理を行うこととなる。
再構成装置7は、演算回路6による演算処理結果の平行
ビームデータを順次逆投影し、X線CT像を再構成する
CRT装置8は、再構成後のCT像を画面に表示する。
変換回路5の詳細動作を図を用いて説明する。
第2図は、扇状X線ビームと平行ビームとの関係を示す
図である。点OはX線源とXI!検出器とが対向して回
転する場合の回転中心を示す。この場合の扇状X線ビー
ムでの投影事例を第3図に示す。図は1回転角O°にお
ける扇状X線ビームの投影事例と回転角180°におけ
る扇状X線ビームの投影事例とを示す。このβ=0°と
β=180゜とは互いに対向する位置関係にある。X線
源は回転中心0を中心として点線で示す軌跡Go上をX
線検出器と対向しながら動く、この動きは、一定角度Δ
β単位であり、このΔβは走査サンプルピッチとなる。
第2図に戻る。軌跡CO上での任意の2つのサンプル位
置SL、52を考える。この位置にX線源がきたことと
する62つのサンプル位置s1゜S2でのそれぞれの扇
状XIIAビームBl、B2にあっては、互いに平行す
るビームチャンネルが存在するはずである。
ここで、ビームチャンネルとは、以下となる。
扇状X線ビームBl、B2を検出器からみた場合、その
検出器チャンネル対応に複数の扇状X線ビームが1発生
しているものとみなせる。従って、そ(の検出器チャン
ネル対応のビームをビームチャン11   え7.8ユ
、、、、。
平行ビームを考える場合、垂直方向を基準軸(回転角θ
=0°)として、該基準軸となす角度θをもって平行ビ
ームの位置を特定できる。角度θを平行ビームの回転角
と称する。
第2図では1回転角θ、での2つの平行するビームチャ
ンネルbl、b2を示した。尚、β2はβ2=01であ
る。
X線源位置SL、S2での扇状X線ビームの軌跡は1回
転中心点0を通す軌跡で考えた場合、Slに対してはC
1,S2に対してはC2となる。
C1は、Slを中心として5L−0の半径の円の軌跡、
C2はS2を中心として52−0の半径の円の軌跡であ
る。
一方、平行ビームチャンネルbl、b2を含む回転角θ
、での平行ビームの回転中心○を通る軌跡はdとなる。
以上の各軌跡C1,C2,dは、X線検出器の検出器チ
ャンネルと対応しており、考え方としては各e−Aデー
タ列2″て6よパ・尚・正確1°″・      1第
3図に示したように、検出器は回転中心点Oに沿ってい
るのではない、その回転中心点0の延長線上にあるので
ある。平行ビームに関し、でも同じである。考えやすい
ための便宜のためである。
次に、扇状xmビームから平行ビームに変換する変換式
について説明する。
今、X線源位置S1のもとての扇状X線ビームに基づく
ビームチャンネルb1がλ□チャンネルであるとし、こ
れを平行ビームとして扱った場合、t□チャンネルであ
るとする。同様に、X線源位置S2のもとてのビームチ
ャンネルb2が扇状ビームのもとではλ2チャンネル、
平行ビームのもとではt2チャンネルであるとする。ま
た、X線源位置SLと回転中心0とは平行ビームの基準
線Vと同じく水平方向に対して垂直な直線を形成してい
るものとする。この直@ V Oとビームb1との角度
をα□とする。更に、Xa源位置S1と回転中心との距
離をDとする。
そこで、λ1.α19 t工との関係を求めると下記と
なる。
λ□=Dα□       ・・・・・・(1)t 1
=Dsin a、     ・・・・・・(2)従って
、λ、とt□の間では、 λ、=Dsin−1 (tx/D)  ・−=(3)と
なる。
この(1) 、 (2) 、 (3)式は、垂線v0と
回転中心を通るビームb、とが重なり合った場合である
が、重ならない場合もある。そこで、垂線v0と回転中
心を通るビームb6との角度をβ1とすると、β□=0
1−α1     ・・・・・・(4)となる、(2)
式を変形して(4)式に代入すると、β1=01−si
n−1(t、/D) −(5)となる。
第2図では、X線源が位置S2に存在する時が。
βキロでない事例である。位置S2での垂線と、位置S
2から回転中心を結ぶ直線とのなす角をβ2とする。位
置S2から回転中心を結ぶ直線と。
ビームb□に平行なビームb2とのなす角をC2とする
。ビームb2と垂線とのなす角を02とする。
この時。
β2=02−C2・・・・・・(6) β2=θ、  5in−1(t 2/ D ) ・= 
(7)となる。尚、β2=θ、であることは前述した。
以上の(1)〜(7)の関係式から、以下のことがわか
る。
扇状X線ビームは、X線源の位置で特定できる。
このX線源の位置とは、(4) 、 (5) 、 (6
) 、 (7)式でのβ1.β2であり、これを一般的
にβ弧とする。
扇状X線ビームのチャンネル番号はλ1.λ2であり、
これを一般的にλ、とする。
従って、ある扇状X線源の位置での任意のチャンネルで
のデータをD+jとすると、このデータDIiは(βi
、λ、)で特定された位置での検出データとみなすこと
ができる。メモリ4では、(β量。
λj)なるアドレスにD+jを格納することとなる。
次に、平行ビームの位置は、垂線とのなす角度によって
特定できる。この垂線とのなす角度はθ□、θ2であり
、これを一般的にθにとする。
平行ビームのチャンネル番号はtit t、であり、こ
れを一般的にtLとする。
従って、ある平行ビームの位置での任意のチャンネルで
のデータをPDkfLとすると、このデータPDkiは
(θky tL)で特定された位置での検出データとみ
なすことができる。
扇状X線ビームによる扇状ビームデータから平行ビーム
データを得るには、(θに、tL)を与え、このCOk
m ttb)となるメモリ4のアドレスを見つけ出し、
そのアドレスのデータを(θに+ta)でのデータとし
て新たに格納すればよい、この時の(θhe ti)と
メモリ4のアドレス、即ち(βI。
λJ)との関係は、(3)式、(5)式で与えられる。
即ち、(θに、tL)を与えることによって、扇状ビー
ムのもとでの対応するアドレスが、(3)式。
(5)式で計算され、その計算結果に従って、メモリ4
をサーチ(アクセス)することによって、その内容を読
出す。読出した結果は、(θky tu)のアドレスに
従って、平行ビーム用アドレスに格納する。
さて、θky jlLは整数で与えることとなる。然る
に、(3) 、 (5)式によれば、対応するβ五、λ
1は整数になるとは限らない。ところが、メモリ4での
β1.λjは整数である。そこで、θkp tLを与え
て求めたβ1.λjが整数でない場合には、β1゜λ1
に最も近い整数値βa+、λajを選定する。そこで、
誤差が生ずることになる。この誤差は計算によって補正
する。
第4図は、変換装置5を中心とする実施例である。変換
装置5は、補正計算回路51.メモリ52゜平行ビーム
計算回路53より成る。
平行ビーム計算回路53は、平行ビーム位置(θk。
tfL)を次々に与えて、対応する扇状ビームアドレス
(β1.λj)を計算する。更に、この(βi、λJ)
が整数でない場合には、最も近い整数値(βal、λa
j)を選定する。かくして得たβai、λaj(又は整
数値としてのβ1.λj)をメモリ4に送り、そのアド
レスをアクセスしてデータD1(これは、βatとλa
j、又はβ1とλ1との両者を含むように考える)を読
出す。ここで、メモリ4のアドレスはβ、λで特定され
ていることは前述した。
一方、平行ビーム計算回路53は差分(β1−βa+)
(λj−λaj)を計算し、この差分を補正計算回路5
1に送る。補正計算回路51は、(β35.λaJ)に
基づき読出したデータD+jを上記差分で補正し、整数
値で近似した分だけの補正を行う。補正の仕方は、内挿
法、外挿法、単純平均化法等であり、σ)ずれを採用す
るかは、規模や精度によって決まる。
この結果(θky ti)でのデータが計算回路51の
出力となる。
更に、平行ビーム計算回路53は、平行ビーム位置(θ
i+*tx)をメモリ52に送る。メモリ52は平行ビ
ーム用データを格納するメモリであり、(θkyta)
がアドレスとなる。そこで、計算回路53から送られて
きた。アドレス(θに*t!L)での補正計算回路51
での対応する補正後のデータPDkg、を格納する。
かくして、メモリ52には、平行ビーム座標系をアドレ
スとする平行ビームデータが格納できる。
第5図は、扇状ビームと平行ビームとの位置関係を示す
、横軸方向に扇状X線ビームのチャンネ 。
ル番号λ、縦軸に扇状X線ビームの角度βを示す。
このβとλとは格子状の関係をなす、かかるβとλとの
関係に対して、平行ビームの角度θ及びチャンネルtの
軌跡をθ=o’ 、 θ= 180’の両者で第6図に
示した。
さて、対向する位置でのデータの、挿入による処理チャ
ンネルの増加方法について述べる。
平行ビームのレベルでθ=0#とθ=180°の対向位
置を考える。第6図には、θ=0°とθ=1801 と
におけるチャンネルとデータとの関係を示す。横軸はθ
=06及びθ= 180@における平行ビームチャンネ
ルtを示す、縦軸はデータPDを示す。このデータPD
は一例であり、撮像部位によって種々の大きさをとる。
θ=00.θ=180°の両者ともに、チャンネル間隔
(検出器間隔)はa(■l)となる。
そこで、平行ビームを得るためのアドレス変換時に、θ
=01のデータに対してθ= 180@のデータをθ=
0@でのチャンネル間隔°の中間を補充するよう処理を
行う、この処理は、θ=0″でのチャンネル間隔の中間
を補充するようtを8=4    180’について選
び、(3)式、(5)式により平行ビ11     −
ムに並べかえることによって行う。
従って、第4図の実施例でみれば、この役割を果たすも
のは計算回路53である。この計算回路53は、0°≦
θ〈180°にあってはtを一定間隔a(Iam)It
位に更新する。然るに、 180’≦θ<360″にあ
ってはtを間隔としてはa (mm)をとると共に、0
@≦θ<180”に比して半ピツチずらした数値とする
。従って、0@≦θ<180”にあっては、チャンネル
は+ Oy a y 2ag 3ay・・・の如く設定
するが、180”≦θ<360” にあってはa/2.
a+ a /2.2a+ a /2.3a+ a /2
.・・・(又は、−a/2. a−a/2.2a−a/
2.3a−a/2・・・)の如く設定することになる。
かくして得たtは。
前述した(θky tu)でのtLに相当する。従って
、計算回路53内では、06≦θ(180’ 、180
’≦θ<360@のちとでそれぞれ対応するtを求め、
この求めたtとθとの組合せよりβとλとの組合せのア
ドレスを計算し、この計算後のアドレスはメモリ4のア
ドレスとなり、且つ計算回路51の補正用アドレスを得
、次いで、メモリ4から読出したデータについて計算回
路51の補正演算を行わせ      する。更に、計
算回路53は、メモリ52のアドレス(θに+ ti)
を提供し、補正後のデータをその該当アドレスに格納す
る。
以上要するに1本実施例では、tLを半ピツチずらした
形でそれぞれ計算回路53で計算させ、この求めたt患
に従って、メモリ4からのデータ読出し、補正演算、メ
モリ52へのアドレス提供との作業をさせたことになる
この結果、メモリ52には、θ=01 とθ=180”
 。
θ=Δθとθ=180’+Δθ、θ=2Δθとθ=18
0°+2Δθ、・・・の如き互いに対向する位置のデー
タがそれぞれのθの値に従って格納される。
得るべき値は、θ=06.θ=Δθ、θ=2Δθ・・・
の場合の半ピツチ間隔でのデータであり、そのために、
θ=180’についてはθ= Q It、θ=iao’
十Δθについてはθ=Δθ、θ=180’+2Δθにつ
いてはθ=2Δθでのデータに並べかえる必要がある。
このアドレスの並べかえは、計算回路53の指示によっ
てなす。
この半ピツチ単位の並べかえはメモリ52に格納した後
でも格納前のどちらでも可能である。格納後であれば、
メモリ52に格納後、180°≦θ<360゜について
のみOa≦θ<180”にθを対応づけて並べかえれば
よい。別の方法としては、メモリ52への書込み時に半
ピツチ単位の出力を得るようにしてもよい。この半ピツ
チ単位の出力を得る時のアドレス指定は計算回路53に
よって行う。以下、これを説明する。
計算回路53では、0°≦θ<180°と180°≦θ
<360″とではtを互いに半ピツチずらして設定する
ことは上述と変りない。次に、180m≦θ〈360@
について0″≦θ<180’用にすればよい。
180” ≦e <360’ トO” :ia O<1
80’ ト(7)対向する関係を予め求めておき、18
0°≦θ<360°のデータについてのみ対向する0°
≦θ< 180@用にθを変更し、この時の半ピツチず
らした180°≦θ<360’でのチャンネルtをメモ
リ4でのβとλとのアドレス計算用及びメモリ52での
θとtでのアドレス計算用として与える。
かくして、メモリ4からtとθに対応するβとλとに応
じてデータが読出され、メモリ52には、0@≦θ<1
80”については正常なa (Iam)のピッ千単位の
チャンネルtに従ってアドレスが設定され、そのアドレ
スにその位置での検出データが格納される。一方、 1
80@≦θ<360’では、θは01≦θ<180”に
変更され、且つtがO@≦θ<180°とは半ピツチず
れた形で設定され、この変更後のθとtとによってアド
レスが設定される。
このアドレスは、半ピツチずれた場所を指定することに
なる。この結果、メモリ52には、直接にOa≦θ<1
80°について半ピツチずれたデータが格納される。
半ピツチチャンネル毎のデータ例をθ=0°とθ=18
0°とについて求めた様子を第7図に示す。
第7図でLlはθ=0@とθ= 180”それぞれでの
チャンネルとデータの大きさとを示す図、L2は、θ=
180°のデータを半ピツチずらしてθ=0°に補充(
合成)させた場合でのチャンネル数データの大きさとを
示す図である。L3は、回転中心0を中心としてOmと
180@についての補充の事例を示す図である。
以上の実施例によれば、180@異なる対向データを、
もとのデータ間隔の中間を補充するように。
θとtとを選び平行ビームに並べ換え同−角度上のデー
タとみなすこととした。この結果、検出器間隔aに対向
してa/2間隔のデータ列となる。
これにより、検出器間隔aで得たnチャンネルデータが
、検出器間隔a/2で得た2nチヤンネルデータに変換
できた。処理するためのデータ数は、扇状X線ビームの
パルス数をP、チャンネル数をNとする場合、収集され
るデータ数Cは、c=p・Nとなり、従来の再構成装置
では、処理データ数は収集データ数と同じP−Nである
。また、扇状X線ビームを無変換で用いる高精度再構成
装置においては、データ間に零(0)を挿入するため、
処理データ数はP・(2N−1)と約2倍になる。
一方1本実施例によれば、対向する投影データ(2パル
ス分)をまとめ1パルス分の投影データに変換するため
、処理データ数は(P/2)・2N=P−Nとなり、従
来の再構成装置と同じ処理データ数で高精度再構成を実
現することが、可能となる。
本発明の他の実施例を第8図、第9図で説明する。第8
図は、X線管と検出器列中心を結ぶ線がXS管・検出器
が配置されたフレームの回転中心0とa /4(ms+
)だけずらした構成のCT装置を示す、この構成によれ
ば、互いに180°間隔を持つ2つの対向位置P工、P
2で求めたX線ビームデータは、結果としてa /4+
 a /4= a /2の間隔のデータとみなしうる。
そこで、P工とP2との位置でのX線ビームを平行ビー
ムに変換した後方いに補充(合成)させることによって
、a/2間隔のデータを得る。第9図は、その際の平行
ビームの補充後の関係を示す1図は0°と180°との
関係を示したが、他の角度のもとての対向関係でも同様
である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、計算処理上のチャンネル数を2倍、間
隔を1/2の平行ビームデータを得ることができた。
#30%向上し、空間周波数特性を9.1Ωρ/国以上
とすることが可能となった。また、扇状ビームを直接用
いず、一度平行ビームに変換して180°異なる対向デ
ータを同時に処理するため、処理データ数は全く増加し
ない、さらに、装置自体は基本的に従来と変ることない
故に、経済的負担は少ない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例図、第2図は扇状X線、ビーム
と平行ビームとの関係を示す図、第3図は扇状X線ビー
ムのもとての06と180°との対向位置のビームを示
す図、第4図は変換回転5を中心とする本発明の実施例
図、第5図はチャンネルと回転角度との関係を示す図、
第6図はOoと180゜とにおけるチャンネルデータの
大きさと関係の一例を示す図、第7図はデータ補充のた
めの説明図、第8図は本発明の他の実施例図、第9図は
その際のデータ補充の説明図である。 1・・・xi源、2・・・扇状X線ビーム、3・・・X
線検出器、4・・・メモリ、5・・・変換回路、6・・
・演算回路、7・・・画像再構成装置、8・・・CRT
。 第2図 第4図 第5図 第6図 第7図 し←− 第8図 口ト」

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、扇状X線ビームを発生するX線源と、該X線源に被
    検体を介して対向する位置におかれると共に上記X線源
    と対向した形で回転するX線検出器と、該X線検出器よ
    り得られる多チャンネル扇状X線ビームデータを平行X
    線ビームで得られたデータとして並べかえると共に、該
    並べかえた平行X線ビームデータの中で互いに対向する
    位置にあるデータの少なくとも一方をX線検出器の検出
    器間隔の半分だけずらして両者を該半分間隔で補充する
    手段と、該補充によって得た2倍のチャンネル数に基づ
    くデータにより画像再構成を行う手段と、より成るX線
    CT装置。
JP59217288A 1984-10-18 1984-10-18 X線ct装置 Granted JPS6198239A (ja)

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JP59217288A JPS6198239A (ja) 1984-10-18 1984-10-18 X線ct装置

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JP59217288A JPS6198239A (ja) 1984-10-18 1984-10-18 X線ct装置

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Publication Number Publication Date
JPS6198239A true JPS6198239A (ja) 1986-05-16
JPH0479262B2 JPH0479262B2 (ja) 1992-12-15

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ID=16701785

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59217288A Granted JPS6198239A (ja) 1984-10-18 1984-10-18 X線ct装置

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JP (1) JPS6198239A (ja)

Cited By (2)

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JPH0479262B2 (ja) 1992-12-15

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