JPS6194780U - - Google Patents

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JPS6194780U
JPS6194780U JP17983984U JP17983984U JPS6194780U JP S6194780 U JPS6194780 U JP S6194780U JP 17983984 U JP17983984 U JP 17983984U JP 17983984 U JP17983984 U JP 17983984U JP S6194780 U JPS6194780 U JP S6194780U
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Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す要部縦断面図
、第2図はプローブユニツトの構成を示す部分縦
断面図、第3図は検査装置の全体構成を示す概略
斜視図、第4図は第2図の底面図、第5図は接続
装置の詳細を示す断面部分図、第6図は第5図の
要部平面図、第7図は接続装置にコードを固定し
た状態を示す断面図である。 1…プローブユニツト、3…上支持板、4…下
支持板、5…上部支持ボード、6…下部支持ボー
ド、7…ユニツト支柱、11…コンタクトプロー
ブ、12…接続装置、13…コード、14…保持
板、14a…テーパ孔、15…端子、16a…凹
溝部、16b…貫通孔、17…凹部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 多数のピン状コンタクトプローブを支持する
    支持装置と、この支持装置を検査すべき回路基板
    に対向して移動させる装置と、各コンタクトプロ
    ーブ基端を、測定検査器に連なるコードに接続す
    る接続手段とからなり、前記支持装置の回路基板
    に対する相対移動により各コンタクトプローブの
    先端を回路基板の検査点に接触させて導通状態の
    測定検査を行なう検査装置であつて、前記接続手
    段が、支持装置の背後に位置し各コンタクトプロ
    ーブに対応する位置に貫通孔が設けられた保持板
    と、この保持板の貫通孔に背後から圧入固定され
    先端が各コンタクトプローブの後端に接触する端
    子と、この端子の外周部にその後端から先端に向
    けて軸方向途中まで設けられた凹溝部と、この凹
    溝部の先端に連続し端子の軸線に交わる方向に形
    成した孔とを備え、前記コードの先端を、孔に挿
    入するとともに凹溝部に嵌入して端子の軸方向後
    方に引出し、これを前記保持板の貫通孔に圧入す
    ることにより端子とコードとを連結し電気的に接
    続したことを特徴とする回路基板等の検査装置。 2 保持板をコンタクトプローブ支持装置の背後
    の孔内に着脱自在にはめこんだ実用新案登録請求
    の範囲第1項記載の回路基板等の検査装置。
JP17983984U 1984-11-27 1984-11-27 Expired JPH0413662Y2 (ja)

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JP17983984U JPH0413662Y2 (ja) 1984-11-27 1984-11-27

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Publication Number Publication Date
JPS6194780U true JPS6194780U (ja) 1986-06-18
JPH0413662Y2 JPH0413662Y2 (ja) 1992-03-30

Family

ID=30737404

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JP17983984U Expired JPH0413662Y2 (ja) 1984-11-27 1984-11-27

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