JPS6186624A - 電力ケ−ブルの異常温度検出方法 - Google Patents
電力ケ−ブルの異常温度検出方法Info
- Publication number
- JPS6186624A JPS6186624A JP59208750A JP20875084A JPS6186624A JP S6186624 A JPS6186624 A JP S6186624A JP 59208750 A JP59208750 A JP 59208750A JP 20875084 A JP20875084 A JP 20875084A JP S6186624 A JPS6186624 A JP S6186624A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- alloy material
- power cable
- electric power
- fiber
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K5/00—Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material
- G01K5/48—Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material the material being a solid
- G01K5/483—Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material the material being a solid using materials with a configuration memory, e.g. Ni-Ti alloys
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上利用分野
本発明は、形状記憶合金材によって光ファイバを屈曲さ
せることにより、電カケ−ブルの異常温度検出方法に関
するものである。
せることにより、電カケ−ブルの異常温度検出方法に関
するものである。
7従来O)技術とその聞題点]
電カケ−ブルは、発熱を伴うことが多いため、導体の鰻
高許容温度等が定められており、例えばCvケーブルに
お+)る導体門高許容温度は、90℃である。しかしな
がら、電カケ−ブルにおけろ導体の温度、接続部分の温
度等は、導体が課電状態であるとともに、導体が絶縁体
によーて覆われているために、一般的なp段によーて測
定することが困難である。
高許容温度等が定められており、例えばCvケーブルに
お+)る導体門高許容温度は、90℃である。しかしな
がら、電カケ−ブルにおけろ導体の温度、接続部分の温
度等は、導体が課電状態であるとともに、導体が絶縁体
によーて覆われているために、一般的なp段によーて測
定することが困難である。
そこで、電カケ−ブルの表面温度を接触状態、あるいは
非接触状態で測定して、導体温度を推定することが考え
られている。この場合でも、電カケ−ブルの導体温度を
間接的な方法で測定すると、その誤差が大きくなるとと
もに範圓が限られてしまうから、導体温度が部分的に高
温となっている異常部分が生じていても、その部分の検
出が困難となる。
非接触状態で測定して、導体温度を推定することが考え
られている。この場合でも、電カケ−ブルの導体温度を
間接的な方法で測定すると、その誤差が大きくなるとと
もに範圓が限られてしまうから、導体温度が部分的に高
温となっている異常部分が生じていても、その部分の検
出が困難となる。
[発明の目的とその達成手段]
本発明は、電カケ−ブルの導体の−4<に異常°温度が
発生しているかどうか、あるいは、導体が許容温度以1
−になっているかどうかを直接的に検出、1− ;”、
と56に、そー)検出フ;−り、)搬LLを自由に行:
^−に七を目的としておC】、二i;) 1−1的を達
hQ tろ;l :、−= ニ、ii jJ r−ブル
ー)内i& iL−1−,・(にl])、で、わ状記憶
11金[(を挿入しておき、電カケ−ブルの内部温度が
、1三状記憶合金材の転位温度を越えたとS、=*;状
記憶j?金材の変位により、光ファイバを〜11曲させ
、光ファイバに送った光パルスの反射光強度〃電、屈曲
部分の状態あるいは【kにょ〜で、時間的に変化1るR
1象をとらえ、〕しファイバレ)と、・f1i置に高温
部か発生しているがを検出4−ろもυ)で54ー 実施例1 以F、第1図ないし第5図に騒づいて本発明の実施例を
説明する。
発生しているかどうか、あるいは、導体が許容温度以1
−になっているかどうかを直接的に検出、1− ;”、
と56に、そー)検出フ;−り、)搬LLを自由に行:
^−に七を目的としておC】、二i;) 1−1的を達
hQ tろ;l :、−= ニ、ii jJ r−ブル
ー)内i& iL−1−,・(にl])、で、わ状記憶
11金[(を挿入しておき、電カケ−ブルの内部温度が
、1三状記憶合金材の転位温度を越えたとS、=*;状
記憶j?金材の変位により、光ファイバを〜11曲させ
、光ファイバに送った光パルスの反射光強度〃電、屈曲
部分の状態あるいは【kにょ〜で、時間的に変化1るR
1象をとらえ、〕しファイバレ)と、・f1i置に高温
部か発生しているがを検出4−ろもυ)で54ー 実施例1 以F、第1図ないし第5図に騒づいて本発明の実施例を
説明する。
第1図は、本発明が適用される電カケ−ブルの断面図で
あり、該電カケ−ブルは、導体1の中心に、銅バイブ2
に収納された光ファイバ3と、こL:□ ju −yイ
バ3と近接させ/:後述する形状記憶合金付、1とが挿
入され、導体量の上を内部半導電層5、絶U体6、内部
半導電層7、遮蔽層8、シース9??て覆〜てt3−ろ
構「告でr・ろ そして、前記影状記憶合金材1!1、
走フフイバ3の一部に、飼えばIOm″S−シ)−Jr
S)間隔て披lるJ、うに短いパイプ状とされろととも
に、転移温度が導体1の許容温度(例えば90℃)以」
二で、第2図(A)に;j< 4−ように波状等のわ状
記憶かなされていて、第2図(R)に示すように、常温
加工によりnつ直ぐに伸ばされているものである。なお
、形状記憶合金材4は、低温相(例えば常! )と高l
証相(例えば最高許容温度)とて、61通約な形状記憶
をなし得るものか好ましい。 また、光ファイバ3は耐
熱温度を上げる為、ポリテトラフロロエチレンあるいは
金属等の被覆したものが望ましい。
あり、該電カケ−ブルは、導体1の中心に、銅バイブ2
に収納された光ファイバ3と、こL:□ ju −yイ
バ3と近接させ/:後述する形状記憶合金付、1とが挿
入され、導体量の上を内部半導電層5、絶U体6、内部
半導電層7、遮蔽層8、シース9??て覆〜てt3−ろ
構「告でr・ろ そして、前記影状記憶合金材1!1、
走フフイバ3の一部に、飼えばIOm″S−シ)−Jr
S)間隔て披lるJ、うに短いパイプ状とされろととも
に、転移温度が導体1の許容温度(例えば90℃)以」
二で、第2図(A)に;j< 4−ように波状等のわ状
記憶かなされていて、第2図(R)に示すように、常温
加工によりnつ直ぐに伸ばされているものである。なお
、形状記憶合金材4は、低温相(例えば常! )と高l
証相(例えば最高許容温度)とて、61通約な形状記憶
をなし得るものか好ましい。 また、光ファイバ3は耐
熱温度を上げる為、ポリテトラフロロエチレンあるいは
金属等の被覆したものが望ましい。
光ファイバ3に、光パルスを送り込んだときの反射光強
度Pと時間Tとの関係は、光ファイバ障害点検出器によ
り、第3図ないし第5図に示すようにとらえることがで
きる。
度Pと時間Tとの関係は、光ファイバ障害点検出器によ
り、第3図ないし第5図に示すようにとらえることがで
きる。
即ち、光ファイバ3に破断、曲がり(曲率半径が30−
一以下)がない正常な状態では、出射光パルスが光ファ
イバ3の全長で起こるレイリー散乱現IQ tガラス6
)密度の揺らぎに、Lる散乱現象)によ!)1ノ射され
ろのみで、第3図に示すように、はぼ直線的な変化とな
る。
一以下)がない正常な状態では、出射光パルスが光ファ
イバ3の全長で起こるレイリー散乱現IQ tガラス6
)密度の揺らぎに、Lる散乱現象)によ!)1ノ射され
ろのみで、第3図に示すように、はぼ直線的な変化とな
る。
J: アニ、電カケ−ブルの導体温度が全般的に上昇し
て、形状記憶合金材4の転位温度以上となると、形状記
憶合金材4が光ファイバ3の各部を、第2図((:]に
示すように変形させて、多数の屈曲部分1Gか士しろた
め、第4図に示すように、細かい階段状し)変化となる
。
て、形状記憶合金材4の転位温度以上となると、形状記
憶合金材4が光ファイバ3の各部を、第2図((:]に
示すように変形させて、多数の屈曲部分1Gか士しろた
め、第4図に示すように、細かい階段状し)変化となる
。
方、電カケ−ブルの導体温度が局部的に1−昇十/)異
常現象が発生した場合は、その付近に位置オろ形状記憶
合金14だけが転位温度以」二になり、it =7−/
−fバ3の一部のみを、第2図(C)に示す、L)に変
形させて、限られた範囲の箇所で屈曲部分10か′1ミ
しろため、第5図に示4−ように、特定の箇所X−Yか
階段状となる。
常現象が発生した場合は、その付近に位置オろ形状記憶
合金14だけが転位温度以」二になり、it =7−/
−fバ3の一部のみを、第2図(C)に示す、L)に変
形させて、限られた範囲の箇所で屈曲部分10か′1ミ
しろため、第5図に示4−ように、特定の箇所X−Yか
階段状となる。
したがーで、光ファイバ3に光パルス信号を送り込Aて
、障−リ点検出器等により反射光強度を適1′C監視4
−るようにすれば、電カケ−ブルの導体1jj ?=体
的lこ、設計温度以−1−に達しているかどうか、ゐる
い霊よ、局部的に異常温i丁1− .tI!が生じてい
るかどうか等を判定することができることになる。また
、異常温度−1−昇が1巳じている箇所の位置は、監視
点から異常点までの光ファイバ3の長さとして求められ
、光の伝達速度と時間との関係から、例えばril[a
程度の誤差て算出4−ることができる。
、障−リ点検出器等により反射光強度を適1′C監視4
−るようにすれば、電カケ−ブルの導体1jj ?=体
的lこ、設計温度以−1−に達しているかどうか、ゐる
い霊よ、局部的に異常温i丁1− .tI!が生じてい
るかどうか等を判定することができることになる。また
、異常温度−1−昇が1巳じている箇所の位置は、監視
点から異常点までの光ファイバ3の長さとして求められ
、光の伝達速度と時間との関係から、例えばril[a
程度の誤差て算出4−ることができる。
なお、第2図例では、形状記憶合金材4の記憶形状を波
影バイブ状としたが、記憶形状によって光ファイバ3を
変Cさlろ乙のであるから、先ファイバ3を屈曲さl−
得る他の形状、例えば河曲板状、コイル状等とすること
が可能である。
影バイブ状としたが、記憶形状によって光ファイバ3を
変Cさlろ乙のであるから、先ファイバ3を屈曲さl−
得る他の形状、例えば河曲板状、コイル状等とすること
が可能である。
[発明の効果J
以]二、説明した、I−うに、本発明によれば、電カケ
−ブルの内部温度ト昇によーて、形状記憶合金材を変位
させて、光ファイバに屈曲部分を生じさせろとともに、
光パルスの反射強度の時間的変化を検出するものである
から、次のような効果を奏4−るものである。
−ブルの内部温度ト昇によーて、形状記憶合金材を変位
させて、光ファイバに屈曲部分を生じさせろとともに、
光パルスの反射強度の時間的変化を検出するものである
から、次のような効果を奏4−るものである。
■電カケ−ブルの内部温度を課電のをT無に関係なく直
接検出4−ることができる。
接検出4−ることができる。
(2)プーア、)搬送を光−7−fべによ−て行r、y
−1ことによ〜で、W割温度、)発生を遠隔地で監視t
ろ二とかで34つ 、ズ異常温度1−%I′−)発生点を比較的高い精度で
検出才ろことができろ 等し)効果を奏J〜るもシ)で16ろ 1−図面−)箱型な説明 図面:i本発明の−実雀例をiド4−ら7)て、第1図
;↓本免明の方法を適用4−る電カケ−ブルし・)例を
示A−横断面図、第2図(A)(B )(C)は形状記
憶合金材による光ファイバの変形現象の説明図、第3図
ないし第5図は光ファイバの変形による反射光強度と時
1j1との関係曲線図である。
−1ことによ〜で、W割温度、)発生を遠隔地で監視t
ろ二とかで34つ 、ズ異常温度1−%I′−)発生点を比較的高い精度で
検出才ろことができろ 等し)効果を奏J〜るもシ)で16ろ 1−図面−)箱型な説明 図面:i本発明の−実雀例をiド4−ら7)て、第1図
;↓本免明の方法を適用4−る電カケ−ブルし・)例を
示A−横断面図、第2図(A)(B )(C)は形状記
憶合金材による光ファイバの変形現象の説明図、第3図
ないし第5図は光ファイバの変形による反射光強度と時
1j1との関係曲線図である。
1−・−・−導体、2−一−−・銅パイプ、3−・・・
−光ファイバ、4・・・−・杉状記憶合金材、l(1−
・−・%j(曲部分。
−光ファイバ、4・・・−・杉状記憶合金材、l(1−
・−・%j(曲部分。
第1図
第2図
Claims (1)
- 電力ケーブルの内蔵光ファイバ(3)に沿って、形状記
憶合金材(4)を挿入しておき、電力ケーブルの内部温
度が形状記憶合金材(4)の転位温度を越えたときの形
状記憶合金材(4)の変位により、光ファイバ(3)を
屈曲させるとともに、光パルスを光ファイバ(3)に送
り込んだときの反射光強度の時間的変化を比較すること
を特徴とする電力ケーブルの異常温度検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59208750A JPS6186624A (ja) | 1984-10-04 | 1984-10-04 | 電力ケ−ブルの異常温度検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59208750A JPS6186624A (ja) | 1984-10-04 | 1984-10-04 | 電力ケ−ブルの異常温度検出方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6186624A true JPS6186624A (ja) | 1986-05-02 |
Family
ID=16561457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59208750A Pending JPS6186624A (ja) | 1984-10-04 | 1984-10-04 | 電力ケ−ブルの異常温度検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6186624A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61221628A (ja) * | 1985-03-28 | 1986-10-02 | Japan Steel & Tube Constr Co Ltd | 防災システム用温度検出装置 |
JPS63210604A (ja) * | 1987-02-24 | 1988-09-01 | ジー2 システムズ コーポレーション | 光フアイバを用いる構造物監視システム |
JPH01285828A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-16 | Yazaki Corp | 温度検知用ケーブル |
JPH0368825A (ja) * | 1989-08-08 | 1991-03-25 | Fujikura Ltd | 分布型歪センサー |
JPH0552672A (ja) * | 1991-08-29 | 1993-03-02 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 熱変化検出装置 |
KR20020061976A (ko) * | 2001-01-19 | 2002-07-25 | 대한뉴팜(주) | 형상기억합금을 이용한 온도센서 및 그의 제조방법 |
US20130100982A1 (en) * | 2010-03-30 | 2013-04-25 | Stephan Gase | Monitoring the temperature change in the charging cable |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55104728A (en) * | 1979-02-07 | 1980-08-11 | Hitachi Cable Ltd | Method of temperature measurement |
JPS572431B2 (ja) * | 1978-04-07 | 1982-01-16 | ||
JPS57113328A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Osaka Gas Co Ltd | Low-temperature detecting system by optical fiber |
-
1984
- 1984-10-04 JP JP59208750A patent/JPS6186624A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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US20130100982A1 (en) * | 2010-03-30 | 2013-04-25 | Stephan Gase | Monitoring the temperature change in the charging cable |
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