JPS6175273A - ネツトワーク・アナライザ - Google Patents
ネツトワーク・アナライザInfo
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- JPS6175273A JPS6175273A JP60208151A JP20815185A JPS6175273A JP S6175273 A JPS6175273 A JP S6175273A JP 60208151 A JP60208151 A JP 60208151A JP 20815185 A JP20815185 A JP 20815185A JP S6175273 A JPS6175273 A JP S6175273A
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- detector
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、被試験装置の伝送特性等を測定する滞ントワ
ークーアナライザに関する。
ークーアナライザに関する。
スカシ・ネットワーク解析は回路の透過およびインピー
ダンス等ノ）大きさを入力１ｇ号の周波数の関数として
測定する方法である。スカラーネントワークアナライザ
は、特足の周波数で、または予め定めた周波数範囲にわ
たり、線形ネットワークのインピーダンスおよび透過関
数とを測定する装置である。スカラーネントワークーア
ナライザには主な形式が二つある。すなわち交流（ＡＣ
）検出方式および直流（ＤＣ）検出方式である。
ダンス等ノ）大きさを入力１ｇ号の周波数の関数として
測定する方法である。スカラーネントワークアナライザ
は、特足の周波数で、または予め定めた周波数範囲にわ
たり、線形ネットワークのインピーダンスおよび透過関
数とを測定する装置である。スカラーネントワークーア
ナライザには主な形式が二つある。すなわち交流（ＡＣ
）検出方式および直流（ＤＣ）検出方式である。
Ｌ）Ｃ検出ネットワーク解析では、未変調の信号あるい
は持続波（ＣＷ波）が被試験装置に加えられるっ被試Ｍ
装置から出力される持続波信号はＤＣネットワーク・ア
ナライザに加えられる。持続波信号はＬ）Ｃネットワー
ク・アナライザで整流され、ＤＣネットワーク・アナラ
イザに加えられる持続波信号に関４″′ｒる大きさのＤ
Ｃ信号を発生する。
は持続波（ＣＷ波）が被試験装置に加えられるっ被試Ｍ
装置から出力される持続波信号はＤＣネットワーク・ア
ナライザに加えられる。持続波信号はＬ）Ｃネットワー
ク・アナライザで整流され、ＤＣネットワーク・アナラ
イザに加えられる持続波信号に関４″′ｒる大きさのＤ
Ｃ信号を発生する。
ＤＣＣネットワークアナライザはＤＣｌ、４号の大きさ
ン、対応する持続波信号の周波数り）関数として表示す
る。
ン、対応する持続波信号の周波数り）関数として表示す
る。
ＡＣＣ検出ネットワーク解析は、変調信号あるいはパル
スＲＦ信号が被試験装置に加えられる。
スＲＦ信号が被試験装置に加えられる。
パルスＲＦ信号は被試験装置から出力されてＡＣネント
ワーク参アナライザに加えられる。パルス信号はＡ Ｃ
ネットワーク・アナライザで整流され、予め定めた周波
数で変調されたＡＣ信号を発生する。ＮＣ信号の振幅は
ＡＣネットワーク・アナライザに加えられるパルスＲＦ
信号の振幅に関連し−〔いる。ＡＣＣネットワークアナ
ライザはＡＣ信号の振幅を、対応するパルスＲＦ信号の
周波数の関数として表示する。
ワーク参アナライザに加えられる。パルス信号はＡ Ｃ
ネットワーク・アナライザで整流され、予め定めた周波
数で変調されたＡＣ信号を発生する。ＮＣ信号の振幅は
ＡＣネットワーク・アナライザに加えられるパルスＲＦ
信号の振幅に関連し−〔いる。ＡＣＣネットワークアナ
ライザはＡＣ信号の振幅を、対応するパルスＲＦ信号の
周波数の関数として表示する。
ＡＣＣ検出ラントワーク解析主な欠点は、装置の中にパ
ルスＲＦ信号に正しく応答しないものがあるということ
である。このような装置のいくつかを挙けると、狭帯域
フィルタ、電力感応性の能動装置、およびフィードバッ
クループ系がある。
ルスＲＦ信号に正しく応答しないものがあるということ
である。このような装置のいくつかを挙けると、狭帯域
フィルタ、電力感応性の能動装置、およびフィードバッ
クループ系がある。
これらの動作状況では、被試験装置に加えられる信号は
持続信号でなければならず、したがってＤＣ検出が必装
となる。被試験装ｖＩｔに加えられる信号が持続波でな
ければならないときに使用されるネットワーク・アナラ
イザの構成がいくつか存在するが、完全に満足なものは
今まで一つもなう）つた。
持続信号でなければならず、したがってＤＣ検出が必装
となる。被試験装ｖＩｔに加えられる信号が持続波でな
ければならないときに使用されるネットワーク・アナラ
イザの構成がいくつか存在するが、完全に満足なものは
今まで一つもなう）つた。
成る構成では、被試験装置とＡＣＣネットワークアナラ
イザとの間に設置した外部変調器を使用しているが、他
の構成ではＤＣ検出ネットワーク・アナライザを１史用
している。
イザとの間に設置した外部変調器を使用しているが、他
の構成ではＤＣ検出ネットワーク・アナライザを１史用
している。
被試験装置とＡＣ噴出ネットワーク・アナラ・イザとの
間に設置した変調器を使用すると、犬ぎた欠点がいくつ
か存在する。変調器による減衰とＳ Ｗ Ｒ（ｓｔａｎ
ｄｉｎｇ ｗａｖｅ ｒａｔｉｏ）のｆ＋勤によって、
かなりな誤差が入ってくる可能性がある。
間に設置した変調器を使用すると、犬ぎた欠点がいくつ
か存在する。変調器による減衰とＳ Ｗ Ｒ（ｓｔａｎ
ｄｉｎｇ ｗａｖｅ ｒａｔｉｏ）のｆ＋勤によって、
かなりな誤差が入ってくる可能性がある。
ＤＣネットワーク・アナライザを使用するという別の解
法にはそれ自身でいくつかの欠点があろうＤＣネットワ
ーク・アナライザは、信号源からの広帯域雑音のため、
ダイナミックレンジが制限されている。典型的な広帯域
掃引器０場合、低感度量［定はこの雑音のため、約−４
０ｄＢｍに制限される。七〇上、ＤＣ結合増幅器に関連
するドリフトから、 −５０ｄＢｍ 近辺より低い入
カイｇ号を測定するとき、かなりな誤差が入ってくるこ
とになる。
法にはそれ自身でいくつかの欠点があろうＤＣネットワ
ーク・アナライザは、信号源からの広帯域雑音のため、
ダイナミックレンジが制限されている。典型的な広帯域
掃引器０場合、低感度量［定はこの雑音のため、約−４
０ｄＢｍに制限される。七〇上、ＤＣ結合増幅器に関連
するドリフトから、 −５０ｄＢｍ 近辺より低い入
カイｇ号を測定するとき、かなりな誤差が入ってくるこ
とになる。
本発明は、ＡＣｆｉＣ検出ネットワークライザにおいて
高精度測定をｃｉＴ能にすることを目的とする。
高精度測定をｃｉＴ能にすることを目的とする。
本発明の好ましい実施例によれば、ＡＣ検出ネットワー
ク・アナライザが、減衰とＳＷＲ変動とが不変且つ最小
限で、持続波信号源に応答することができるＪ：うにな
っている。このＡＣ検出ネットワーク・アナライザは試
験信号と基準信号とを備えている。基準信号はＡ−Ｃ検
出ネットワーク・アナライザに試験信号の周波数を供給
する。試験信号は予め定めた周波数で変ＡされたＡＣ信
号でなければならない。掃引周波数信号発掘器が二つの
１ｇ号、丁なりち基準信号とソース信号とを発生するの
に１吏用される。ソース信号は被試験装置に加えられ、
被試験装置からの出力信号はＡＣ／ＤＣ検波器に加えら
れる。ＡＣ／ＤＣ検波器からの出力信号はＡＣ検出ネッ
トワークーアナライサに試験１ぎ号として加えられる。
ク・アナライザが、減衰とＳＷＲ変動とが不変且つ最小
限で、持続波信号源に応答することができるＪ：うにな
っている。このＡＣ検出ネットワーク・アナライザは試
験信号と基準信号とを備えている。基準信号はＡ−Ｃ検
出ネットワーク・アナライザに試験信号の周波数を供給
する。試験信号は予め定めた周波数で変ＡされたＡＣ信
号でなければならない。掃引周波数信号発掘器が二つの
１ｇ号、丁なりち基準信号とソース信号とを発生するの
に１吏用される。ソース信号は被試験装置に加えられ、
被試験装置からの出力信号はＡＣ／ＤＣ検波器に加えら
れる。ＡＣ／ＤＣ検波器からの出力信号はＡＣ検出ネッ
トワークーアナライサに試験１ぎ号として加えられる。
ＡＣ／ＤＣ検波器は二つノ〕モードで動作スることがで
きる。ソース信号が持続波信号である場合には、ＡＣ／
ＤＣ検波器はＤＣ検波モードに切替えられなければなら
ない。ソース信号がパルスＲＦ信号である場合には、Ａ
Ｃ／ＤＣ検波器はＡＣ検波モードに切換えられなければ
ならない。ＡＣ／ＤＣ検波器がＤＣ＋！Ｉｔ波モードに
切換えられる場合には、ＡＣ／ＤＣ検波器は持続波信号
の振幅に関連する振幅を持つＡＣ信号を発生する。まず
、ＡＣ／ＤＣ検波器は、ソース信号を変換し、て変換さ
れた信号を発生する。次に、変換された信号は予め定め
た周波数でチョップされて変調された信号として出力さ
れる。変調後、ＡＣ／ＤＣ検波器は変調された信号を増
幅した増幅信号を発生する。増幅１ｇ号は元の変−・１
周波数のサイクルごとに二度づつサンプルされてサンプ
ル信号として出力されも最後に、入Ｃ／ＤＣ検波器はテ
ンプル信号からプンプラで発生したフィードスル（ｆｅ
ｅｄｔｈｒｏｕｇｈ ）を除去して出力信号を発生する
。ＡＣ検出ネットワーク・アナライザに試験信号として
加えられるのはこの出力信号である。
きる。ソース信号が持続波信号である場合には、ＡＣ／
ＤＣ検波器はＤＣ検波モードに切替えられなければなら
ない。ソース信号がパルスＲＦ信号である場合には、Ａ
Ｃ／ＤＣ検波器はＡＣ検波モードに切換えられなければ
ならない。ＡＣ／ＤＣ検波器がＤＣ＋！Ｉｔ波モードに
切換えられる場合には、ＡＣ／ＤＣ検波器は持続波信号
の振幅に関連する振幅を持つＡＣ信号を発生する。まず
、ＡＣ／ＤＣ検波器は、ソース信号を変換し、て変換さ
れた信号を発生する。次に、変換された信号は予め定め
た周波数でチョップされて変調された信号として出力さ
れる。変調後、ＡＣ／ＤＣ検波器は変調された信号を増
幅した増幅信号を発生する。増幅１ｇ号は元の変−・１
周波数のサイクルごとに二度づつサンプルされてサンプ
ル信号として出力されも最後に、入Ｃ／ＤＣ検波器はテ
ンプル信号からプンプラで発生したフィードスル（ｆｅ
ｅｄｔｈｒｏｕｇｈ ）を除去して出力信号を発生する
。ＡＣ検出ネットワーク・アナライザに試験信号として
加えられるのはこの出力信号である。
ＡＣ／ＤＣ検波器がＡＣ倹彼モードに切換えられる場合
には、ＡＣ／ＤＣ検波器はソース信号をチョップしない
。ここでは、ＡＣ／ＤＣ検波器はソース信号を整流し且
つ増幅するだけである。これにより入Ｃ信号である出力
信号が発生する。ＡＣ／ＤＣ検波器はＡＣ信号をＡＣネ
ットワーク◆アナライザに試験信号として加える。
には、ＡＣ／ＤＣ検波器はソース信号をチョップしない
。ここでは、ＡＣ／ＤＣ検波器はソース信号を整流し且
つ増幅するだけである。これにより入Ｃ信号である出力
信号が発生する。ＡＣ／ＤＣ検波器はＡＣ信号をＡＣネ
ットワーク◆アナライザに試験信号として加える。
第１図に板試験装置１４とスカシ・ＡＣネットワーク・
アナライザ２２とに接続されている掃引発振器１０を示
す。掃引発振器ｌＯは被試験装置【４に１０ＭＨｚから
２６０．Ｈｚ までの周波数範四にわたるいろいろな周
波数のｆ（Ｆ信号２６を線路１２を介して印加する。掃
引発振器ＬＯはまた線路２４を介して掃引信号をＡＣネ
ットワーク・アナライザ２２に印加する。この掃引信号
の大きさはＩＮＦ信号２６の周波数に正比例している。
アナライザ２２とに接続されている掃引発振器１０を示
す。掃引発振器ｌＯは被試験装置【４に１０ＭＨｚから
２６０．Ｈｚ までの周波数範四にわたるいろいろな周
波数のｆ（Ｆ信号２６を線路１２を介して印加する。掃
引発振器ＬＯはまた線路２４を介して掃引信号をＡＣネ
ットワーク・アナライザ２２に印加する。この掃引信号
の大きさはＩＮＦ信号２６の周波数に正比例している。
本発明の実施例にはアナログ掃引信号の場合を説明して
いるが、ＲＦ信号２６０周波数を表わすデジタル掃引信
号をも使用することができる。
いるが、ＲＦ信号２６０周波数を表わすデジタル掃引信
号をも使用することができる。
ＡＣ／ＤＣ検波器１８は線路！６のＲＦ信号２８ン波試
験装置１４から受取る。ＡｉＣ／ＤＣ検波器１８は二つ
のモード、すなわちＡＣ検波モードとＤＣ検波モー１゛
とで動作することができろ。ＤＣ検波モードでは、ＡＣ
／ＤＣ検波器１８はＲＦ１言号２８リチョンプとサンプ
ルと２両方行う。−万、ＬＣ検波モードでは、ＡＣ／Ｄ
Ｃ倹波器１８はＲＦ信号２８をチョップもサンプルもし
ない。ＲＦ （信号２８が持続波１Ｂ号のとぎは、ＡＣ
／ＤＣ検波器１８はＤＣｖＬ波モードになっていなけれ
ばならす、ＲＦＩｇ号２８がパルスＲＦ信号であるとぎ
は、ＡＣ／ＤＣ倹彼器はＡＣ検波モードになってぃなけ
れはならないついずれの構成でも、ＡＣ／ＤＣ検波器Ｉ
検波器第８図に波形Ｓ５で示した変調された信号３０を
、線路２０を介してＡＣネットワーク・アナライザ２２
に加える。ネントワークΦアナライザ２２は変調された
信号を表示装ｅ３２に表示する。
験装置１４から受取る。ＡｉＣ／ＤＣ検波器１８は二つ
のモード、すなわちＡＣ検波モードとＤＣ検波モー１゛
とで動作することができろ。ＤＣ検波モードでは、ＡＣ
／ＤＣ検波器１８はＲＦ１言号２８リチョンプとサンプ
ルと２両方行う。−万、ＬＣ検波モードでは、ＡＣ／Ｄ
Ｃ倹波器１８はＲＦ信号２８をチョップもサンプルもし
ない。ＲＦ （信号２８が持続波１Ｂ号のとぎは、ＡＣ
／ＤＣ検波器１８はＤＣｖＬ波モードになっていなけれ
ばならす、ＲＦＩｇ号２８がパルスＲＦ信号であるとぎ
は、ＡＣ／ＤＣ倹彼器はＡＣ検波モードになってぃなけ
れはならないついずれの構成でも、ＡＣ／ＤＣ検波器Ｉ
検波器第８図に波形Ｓ５で示した変調された信号３０を
、線路２０を介してＡＣネットワーク・アナライザ２２
に加える。ネントワークΦアナライザ２２は変調された
信号を表示装ｅ３２に表示する。
第２図は本発明に使用するＡＣ／ＤＣ検波器１８のブロ
ック図を示す。Ａ Ｃ／Ｄ Ｃ検波５１８＆！チヨンパ
４４に接続されているＲＦ検波器４０を備えている。Ｒ
Ｆ検波器４０は線路【６で加えられるＲＦ信号２８を検
波して、線路４２を介して加えられる整流信号に変換す
る。線路４２上の整流信号の大きさはＲＦ信号２８の振
幅に比例する。
ック図を示す。Ａ Ｃ／Ｄ Ｃ検波５１８＆！チヨンパ
４４に接続されているＲＦ検波器４０を備えている。Ｒ
Ｆ検波器４０は線路【６で加えられるＲＦ信号２８を検
波して、線路４２を介して加えられる整流信号に変換す
る。線路４２上の整流信号の大きさはＲＦ信号２８の振
幅に比例する。
ＤＣ検波モードでは、チョッパ４４は線路４２上のＵ光
信号を変調し、線路４６を介して変調された信号を発生
する。ＡＣ検波モードでは、チョッパ４４は線路４２上
の信号を変更せずに（この場合も変１４すれた信号と称
す）出力する。ＡＣ検波モードでは、チョッパ４４はＭ
ｍ、信号を変調しない。なぜなら、パルスＲＦ信号が整
流されるとき、そり整流信号はすでに変調された信号に
なっているからである。
信号を変調し、線路４６を介して変調された信号を発生
する。ＡＣ検波モードでは、チョッパ４４は線路４２上
の信号を変更せずに（この場合も変１４すれた信号と称
す）出力する。ＡＣ検波モードでは、チョッパ４４はＭ
ｍ、信号を変調しない。なぜなら、パルスＲＦ信号が整
流されるとき、そり整流信号はすでに変調された信号に
なっているからである。
前置増幅１５４８は、線路４６に供給される変調された
信号を増幅し、増幅信号を線路５０に供給する。ＤＣｉ
波モードでは、この増幅信号はサンプラ５２でテンプル
されて、第７図に波形Ｓ４で示すテンプル信号を発生し
、線路５４に供給される。す／プリノブはチョッパ４４
で発生するフィードスルーを除去するように行われる。
信号を増幅し、増幅信号を線路５０に供給する。ＤＣｉ
波モードでは、この増幅信号はサンプラ５２でテンプル
されて、第７図に波形Ｓ４で示すテンプル信号を発生し
、線路５４に供給される。す／プリノブはチョッパ４４
で発生するフィードスルーを除去するように行われる。
ＡＣ検波モードでは、チョッピングが起らないので、サ
ンプリングの心安はない。ここでは、テンプラ５２は単
に増＠信号を＋ｊノプル信号として線路５４に供給する
だけである。
ンプリングの心安はない。ここでは、テンプラ５２は単
に増＠信号を＋ｊノプル信号として線路５４に供給する
だけである。
バンファ補償器５６は線路５４に供給されるす／プル信
号？バッファし、線路５４１Ｃ供給されるテンプル信号
から、サンプラ５２の寄生容量により生ずる不心安な信
号を除去する。これにより線路２０に供給される変調さ
れた信号が発生する。
号？バッファし、線路５４１Ｃ供給されるテンプル信号
から、サンプラ５２の寄生容量により生ずる不心安な信
号を除去する。これにより線路２０に供給される変調さ
れた信号が発生する。
タイミング論理回路を含む発振器５８はチョッパ４４と
サンプラ５２とを制御する。チョッパ４４は線路６０で
供給される第一の制御信号および線路６２で供給される
第二の制−信号で制御される。
サンプラ５２とを制御する。チョッパ４４は線路６０で
供給される第一の制御信号および線路６２で供給される
第二の制−信号で制御される。
サンプラ５２は線路６４に供給される第三の制御信号で
制＃される。後に一層詳しく述べるように、第一の制御
信号と第二の制御信号とはチョッパ４４を開閉する。第
三の制御信号はサンプラ５２を開閉する。
制＃される。後に一層詳しく述べるように、第一の制御
信号と第二の制御信号とはチョッパ４４を開閉する。第
三の制御信号はサンプラ５２を開閉する。
発ｕｉ器５８はモード選択器５９で制御される。
モード選択器５９は入Ｃ／ＤＣ検波器１８をどのモード
に設定するかを決定する。ＡＣ検波モードに設定されて
いるとぎは、発振器５８は、チヨソピングを行なわない
ように制御する。第一および第二の制御信号をチョッパ
４４に供給し、サンプリングを行なわないように制御す
る第三の信号をサンプラ５２に供給する。ＤＣ検波モー
ドに設定されているときは、発掘器５８は、チョッパ４
４に、チョッパ４４を周波数２７．７７ｋＨｚで開閉制
御するための第一および第二の制御信号を供給し、サン
プラ５２に、サンプラ５２を周波数５５．５５ ｋ Ｈ
ｚで開閉制御するだめの第三の制御信号を供給する。
に設定するかを決定する。ＡＣ検波モードに設定されて
いるとぎは、発振器５８は、チヨソピングを行なわない
ように制御する。第一および第二の制御信号をチョッパ
４４に供給し、サンプリングを行なわないように制御す
る第三の信号をサンプラ５２に供給する。ＤＣ検波モー
ドに設定されているときは、発掘器５８は、チョッパ４
４に、チョッパ４４を周波数２７．７７ｋＨｚで開閉制
御するための第一および第二の制御信号を供給し、サン
プラ５２に、サンプラ５２を周波数５５．５５ ｋ Ｈ
ｚで開閉制御するだめの第三の制御信号を供給する。
両モードとも変調された信号３０を線路２０に供給する
。
。
第３図はＩ’ｔＦ検波器４００回路図を示す。結合コン
デンサ７０はＤＣＣ旧人入力阻止するのに使用される。
デンサ７０はＤＣＣ旧人入力阻止するのに使用される。
抵抗器７２はＲＦ検波器４０に対して５０オームの広帯
域入力イノビーダンスを作シ出している。ａ Ｆ ＝号
はゼロバイアス・ショットキバリアーダイオード７４で
整流される。整流信号は端子８１に供給される。端子８
２はＲＦ検波器４０の接地接続点である。
域入力イノビーダンスを作シ出している。ａ Ｆ ＝号
はゼロバイアス・ショットキバリアーダイオード７４で
整流される。整流信号は端子８１に供給される。端子８
２はＲＦ検波器４０の接地接続点である。
第４図はチョッパ４４と前置増幅器４８との回路図を示
す。チョッパ４４ははしご形（５ｅｒｉｅｓ −５ｈｕ
ｎｔ ）チョッパ回路およびはしご形減衰器９１かもｔ
ｎ成されている。はしご形チョッパは二つのスイッチか
ら構成されておシ、第一のスイッチは回路の入力部およ
び出力部と１育列に接続されており、第二〇スイッチは
回路の出口を横切って分岐接続されている。電界効果ト
ランジスタＦ ＥＴ ９８が導通になると、分岐ＦＥＴ
ｌ０４は非導通になる。
す。チョッパ４４ははしご形（５ｅｒｉｅｓ −５ｈｕ
ｎｔ ）チョッパ回路およびはしご形減衰器９１かもｔ
ｎ成されている。はしご形チョッパは二つのスイッチか
ら構成されておシ、第一のスイッチは回路の入力部およ
び出力部と１育列に接続されており、第二〇スイッチは
回路の出口を横切って分岐接続されている。電界効果ト
ランジスタＦ ＥＴ ９８が導通になると、分岐ＦＥＴ
ｌ０４は非導通になる。
このとぎ、端子８１に印加された整流信号が前置増：ｄ
器４８の結合コンデンサ１１４まで直接通過できるよう
になる。ＦＥＴ９８が非導通のとき、ＦＥＴ１０４は導
通になる。ここで、ＦＥＩ：Ｔ９８？：通して漏れる電
流は分岐ＦＥＴ１０４ Ｙ介して接地され、前置増幅器
４８から消去される。
器４８の結合コンデンサ１１４まで直接通過できるよう
になる。ＦＥＴ９８が非導通のとき、ＦＥＴ１０４は導
通になる。ここで、ＦＥＩ：Ｔ９８？：通して漏れる電
流は分岐ＦＥＴ１０４ Ｙ介して接地され、前置増幅器
４８から消去される。
第一の制御信号は端子１００に入力される。端子厘００
に高電圧（＋９Ｖ）が加えられると、ＦＥＴ９８は導通
する。ＦＥＴ１０４ も同じような方法で制御される。
に高電圧（＋９Ｖ）が加えられると、ＦＥＴ９８は導通
する。ＦＥＴ１０４ も同じような方法で制御される。
第二の制御信号は端子１０２に入力される。端子１０２
に高圧（＋９Ｖ ）が加えられると、Ｆ ＥＴ １０４
が導通する。ただし、ＦＥＴ１０４はＦＩＥＴ９８を
非導通にしたときだけ導通させ、ＦＥＴ９８はＦＥＴ１
０４を非導通にしたときだけ導通させる。
に高圧（＋９Ｖ ）が加えられると、Ｆ ＥＴ １０４
が導通する。ただし、ＦＥＴ１０４はＦＩＥＴ９８を
非導通にしたときだけ導通させ、ＦＥＴ９８はＦＥＴ１
０４を非導通にしたときだけ導通させる。
このようにするためには、第一および第二の制御信号は
相補的でなければならない。第一および第二の制御信号
は、ＦＥＴ９８とＦＥＴ１０４とを導通にしたり非導通
にしたシするが、それぞれ、第７図に波形ＳｌおよびＳ
２として示しである。更に。
相補的でなければならない。第一および第二の制御信号
は、ＦＥＴ９８とＦＥＴ１０４とを導通にしたり非導通
にしたシするが、それぞれ、第７図に波形ＳｌおよびＳ
２として示しである。更に。
ＦＥＴ９８のサブストレート端子およびＦＥＴ１０４の
サブストレート端子は端子１０６で一１２Ｖ の電源
に接続されている。
サブストレート端子は端子１０６で一１２Ｖ の電源
に接続されている。
線路４６に加えられる変調された信号は結合コンデンサ
＋１４を介して前置増幅器４８に入る。前置増幅器４８
は複合形の増幅器である。第一のＦＥＴ１１６と第二〇
ＦＥＴ１１８ とは前置増幅器４８の二ｍＦＥＴ入力
段を構成している。演算増幅器１３２は前置増幅器４８
の出力段として使用される。二重ＦＥＴ入力段は前置増
幅器４８の雑Ｊレベルを減少させること、および前置増
幅器４８を低入力電圧レベルで動作させることに使用さ
れる。可変抵抗ｄｉ１２４は前Ｉ＋？増幅″５４８の利
得を調節するりＶＣ（ｌｊ−用される。前置増幅４４８
は端子１４０，１０６ −で電源に接続されている。
＋１４を介して前置増幅器４８に入る。前置増幅器４８
は複合形の増幅器である。第一のＦＥＴ１１６と第二〇
ＦＥＴ１１８ とは前置増幅器４８の二ｍＦＥＴ入力
段を構成している。演算増幅器１３２は前置増幅器４８
の出力段として使用される。二重ＦＥＴ入力段は前置増
幅器４８の雑Ｊレベルを減少させること、および前置増
幅器４８を低入力電圧レベルで動作させることに使用さ
れる。可変抵抗ｄｉ１２４は前Ｉ＋？増幅″５４８の利
得を調節するりＶＣ（ｌｊ−用される。前置増幅４４８
は端子１４０，１０６ −で電源に接続されている。
増幅信号１は端子１２８に印加される。
第５図はサンプラ５２およびパンファ補償器５６０回路
図を示す。増幅信号は端子１２８でサンプラ５２に加え
られる。ＦＥＴ２００は増幅信号を増幅信号の変調サイ
クルごとに２回サンプルしてナノグル信号を発生するの
に使用される。ｒｇ’ｒｚｏ。
図を示す。増幅信号は端子１２８でサンプラ５２に加え
られる。ＦＥＴ２００は増幅信号を増幅信号の変調サイ
クルごとに２回サンプルしてナノグル信号を発生するの
に使用される。ｒｇ’ｒｚｏ。
は端子２１２で発振器５８に接ＶＦ、されている。増幅
信号をサンプルするには、発掘器５８が端子２１２に高
電圧（＋９Ｖ）を供給する。端子２１２に話電圧がかか
ると、ＦＥＴ２００が導通し、増幅信号がコンデンサ２
０６に貯えられるようになる。発振器５８により端子２
１２に加えられる第三の制御１４号は、ＦＥＴ ２００
を導通にしたり非導通にしたりするものであるが、第７
図に波形Ｓ３で示しである。
信号をサンプルするには、発掘器５８が端子２１２に高
電圧（＋９Ｖ）を供給する。端子２１２に話電圧がかか
ると、ＦＥＴ２００が導通し、増幅信号がコンデンサ２
０６に貯えられるようになる。発振器５８により端子２
１２に加えられる第三の制御１４号は、ＦＥＴ ２００
を導通にしたり非導通にしたりするものであるが、第７
図に波形Ｓ３で示しである。
バッファ補償器５６は、コンデンサ２６に保持されてい
る電圧をバッファすること、および変調された１ｇ号を
端子２３０に印加することに１吏用される利得ｌのフォ
ロワである。バッファ補償器５６は演算増幅器２２０と
抵抗性フィードバンク・ネットワーク２２４とから構成
されているうサンプル信号は？７ＩＴ典瑠１陥器２２０
の正の入力端子に加えら１ｔ、第三の制御ａｌは号は演
算増１４器２２０の負の入力に加えられろ。演痒増幅器
２２０はサンプル信号からサンプラ君号？差引き、す／
グラ５２０谷生谷量によりｆンプル１ｇ号に入り込む余
分な１ｇ号ケ除去する。サンプラ５６の舒生容崖はＦｔ
、：Ｔ ２００のゲート・ドレイン間ｄ量によるもので
ある。演算増幅器２２０は端子２２６で＋ｌ ５ ■の
電源に接続され、端子２０２で一１２Ｖの電源に接続さ
れている。
る電圧をバッファすること、および変調された１ｇ号を
端子２３０に印加することに１吏用される利得ｌのフォ
ロワである。バッファ補償器５６は演算増幅器２２０と
抵抗性フィードバンク・ネットワーク２２４とから構成
されているうサンプル信号は？７ＩＴ典瑠１陥器２２０
の正の入力端子に加えら１ｔ、第三の制御ａｌは号は演
算増１４器２２０の負の入力に加えられろ。演痒増幅器
２２０はサンプル信号からサンプラ君号？差引き、す／
グラ５２０谷生谷量によりｆンプル１ｇ号に入り込む余
分な１ｇ号ケ除去する。サンプラ５６の舒生容崖はＦｔ
、：Ｔ ２００のゲート・ドレイン間ｄ量によるもので
ある。演算増幅器２２０は端子２２６で＋ｌ ５ ■の
電源に接続され、端子２０２で一１２Ｖの電源に接続さ
れている。
第６図は発漫器５８とモード選択器５９との回路図を示
ず。水晶２５６． ＮＯＲゲート２５０．ｓよびＮＯＲ
ゲート２５２が、２２２．２２ ｋＨｚで発振する信号
を点２６５ ｔｉｃ供給する水晶ゲート発撮器を構成し
ている。Ｎ ＯＲゲート２５４は点２６５に加えられる
信号ノにバッファし、−掃するのに使用される。
ず。水晶２５６． ＮＯＲゲート２５０．ｓよびＮＯＲ
ゲート２５２が、２２２．２２ ｋＨｚで発振する信号
を点２６５ ｔｉｃ供給する水晶ゲート発撮器を構成し
ている。Ｎ ＯＲゲート２５４は点２６５に加えられる
信号ノにバッファし、−掃するのに使用される。
ＮＯＲゲート２５４を出てクリップフロップ２７２のり
ａツク入力端子ＣＫに入る１ｔ号は２２２．２２ｋＨｚ
で＋Ｏｖと一５ｖとの間を振動している。
ａツク入力端子ＣＫに入る１ｔ号は２２２．２２ｋＨｚ
で＋Ｏｖと一５ｖとの間を振動している。
モード選択器５９はＡＣ／ＤＣ検波器１８などのモード
に設定すべきかを決定する。これは線路５７から１１３
１１ ｍｔｌ電圧な点２６８に加えて行われる。スイッ
チ２４０が端子２４２に接続されると、＋０■の制御ｒ
３圧が線路５７から点２６８に加えられる。スイッチ２
・１０が端子２４４に接続されると、−５Ｖ７）制ｆＩ
電圧が線路５７から点２６８に加えられる。本実Ｍ！Ｊ
例ではモード選択！ａ５９を単にスイッチとして開示し
ているが、比較器またはＮＯＲゲートのような、任意の
電子切換装置も使用することができる。
に設定すべきかを決定する。これは線路５７から１１３
１１ ｍｔｌ電圧な点２６８に加えて行われる。スイッ
チ２４０が端子２４２に接続されると、＋０■の制御ｒ
３圧が線路５７から点２６８に加えられる。スイッチ２
・１０が端子２４４に接続されると、−５Ｖ７）制ｆＩ
電圧が線路５７から点２６８に加えられる。本実Ｍ！Ｊ
例ではモード選択！ａ５９を単にスイッチとして開示し
ているが、比較器またはＮＯＲゲートのような、任意の
電子切換装置も使用することができる。
制御信号が低い（−５Ｖ）のとぎは、ＡＣ／ＤＣ検波器
はＤＣ倹ｒ反モードに切換えられる。ここで。
はＤＣ倹ｒ反モードに切換えられる。ここで。
７リツプフロノフ２７２、フリップ７０ンプ２８２、お
よび７リンプ７０ング２８８で共同して、クリップ７０
ツブ２７２のクロツタ端子ＣＫに加えられる信号の周波
数を８分割するように動作する。得られる信号は、２７
．７７ｋＨｚ その結果、＋Ｏｖと一５Ｖとの間を振
動する２７．７７ｋＨｚ の信号が、レベルシフタ２
９２の端子人およびＢに加えられる。同様に、フリップ
フロップ２７２とクリップフロップ２８０とはフリップ
７０ンプ２７２ＬＪ）クロック端子ＣＫにｎえら几る信
号の周波数な４分割する。得られる信°号は、５５．５
４ ｋＨｚで＋０■と一５ｖとの間を振動する１８号で
あり、これ、ニレベルシフタ２９２の端子Ｃに加えＣ）
れる。
よび７リンプ７０ング２８８で共同して、クリップ７０
ツブ２７２のクロツタ端子ＣＫに加えられる信号の周波
数を８分割するように動作する。得られる信号は、２７
．７７ｋＨｚ その結果、＋Ｏｖと一５Ｖとの間を振
動する２７．７７ｋＨｚ の信号が、レベルシフタ２
９２の端子人およびＢに加えられる。同様に、フリップ
フロップ２７２とクリップフロップ２８０とはフリップ
７０ンプ２７２ＬＪ）クロック端子ＣＫにｎえら几る信
号の周波数な４分割する。得られる信°号は、５５．５
４ ｋＨｚで＋０■と一５ｖとの間を振動する１８号で
あり、これ、ニレベルシフタ２９２の端子Ｃに加えＣ）
れる。
レベルシフタ２９２は、端子Ａ、ＢおよびＣの入力電圧
に関連する信号を各々、端子Ｅ、ＦおよびＧに変ｊ侍出
力１−る。こＪ）？ｉ、圧′Ｌ換はサンプラ１６よびチ
ョッパのＦＥＴが旧しく動作するようにするため心安で
ある。レベルシフタ２９２の端子Ａ、Ｂ。
に関連する信号を各々、端子Ｅ、ＦおよびＧに変ｊ侍出
力１−る。こＪ）？ｉ、圧′Ｌ換はサンプラ１６よびチ
ョッパのＦＥＴが旧しく動作するようにするため心安で
ある。レベルシフタ２９２の端子Ａ、Ｂ。
ｆたはＣのいずれかに←ＯＶの１ｔ号があれは、端子す
、ＦあるいはＧに＋９ｖの信号が′＆換出力される。同
僚に、端子ＩＢ！たはＣに一５ｖの信号があれば端子Ｅ
、ＦまたはＧに一５ｖの↑８゛号が出力さ７する。ＤＣ
モードにおいて、端子Ｅ、ＦおよびＧから端子夏０２．
１００ｊ６よび２１２に加えられる信号は、それでれ第
７図のグラフＳ１％Ｓ２およびＳ３で示しである。
、ＦあるいはＧに＋９ｖの信号が′＆換出力される。同
僚に、端子ＩＢ！たはＣに一５ｖの信号があれば端子Ｅ
、ＦまたはＧに一５ｖの↑８゛号が出力さ７する。ＤＣ
モードにおいて、端子Ｅ、ＦおよびＧから端子夏０２．
１００ｊ６よび２１２に加えられる信号は、それでれ第
７図のグラフＳ１％Ｓ２およびＳ３で示しである。
制御１ＩＩＹｔｉ、圧ｉＪ’高イ（＋、 ＯＶ ） ト
＃ ハ、ＡＣ／ＤＣ検波器はＡＣ検波モードに切換えら
れる。ここでは、クリップ７０ツブ２７２．２８２．２
８８および２７６は、レベルシフタ２９２の端子Ａ、Ｂ
およびＣに加えられる信号がＤＣ信号になるように固定
され本Ｖベル／７タ２９２の端子ＢおよびＣにあるＤＣ
信号の電圧は高＜（＋ＯＶ）なっているが、レベルシフ
タ２９２の端子入にあるＤＣ信号の電圧は低い（−５Ｖ
）。ここで、レベル７フタ２９２はそれぞれ端子Ｅ、
ＦおよびＧから端子１０２．１００および２１２に１発
振しない信号を供給する。端子１００お工び２１２に加
えられる信号はともに＋９ｖのＤＣ信号であるが、端子
１０２に加えられる信号は一５ＶのＤＣ信号である。
＃ ハ、ＡＣ／ＤＣ検波器はＡＣ検波モードに切換えら
れる。ここでは、クリップ７０ツブ２７２．２８２．２
８８および２７６は、レベルシフタ２９２の端子Ａ、Ｂ
およびＣに加えられる信号がＤＣ信号になるように固定
され本Ｖベル／７タ２９２の端子ＢおよびＣにあるＤＣ
信号の電圧は高＜（＋ＯＶ）なっているが、レベルシフ
タ２９２の端子入にあるＤＣ信号の電圧は低い（−５Ｖ
）。ここで、レベル７フタ２９２はそれぞれ端子Ｅ、
ＦおよびＧから端子１０２．１００および２１２に１発
振しない信号を供給する。端子１００お工び２１２に加
えられる信号はともに＋９ｖのＤＣ信号であるが、端子
１０２に加えられる信号は一５ＶのＤＣ信号である。
本発明によれば、極めて高精度なネットワーク・アナラ
イザを提供できる。
イザを提供できる。
第１図は、本発明のネットワーク・アナライザの使用状
態を示す概略ブロツク図。 第２図は、４：発明に使用するＡＣ／Ｌ）Ｃ検波器のブ
ロック図っ ゛ 第３図は１本発明に使用するＲＦ検波器の回路図
。 第４図は、本発明に使用するチョッパおよび前置増幅器
の回路図。 第５図は、本発明に使用するナンプラおよびバッファ補
償器の回路図。 第６図は１本発明に（資）用する発掘器およびモード選
択器のブロック図。 第７図は１本発明のネットワーク・アナライザのタイミ
ング図。 ｌＯ：挿引発振器、 １４：被試験装置。 １８ ： ＡＣ／ＤＣ検波器、 ２２：ネットワーク・アナライザ、 ４０：ＲＦ倹波器、 ４４：チョッパ。 ４８：前置増幅器、 ５２：？ンプラ。 ５６：バッファ補償器、 ５８：発振器。 ５９：モード選択器。
態を示す概略ブロツク図。 第２図は、４：発明に使用するＡＣ／Ｌ）Ｃ検波器のブ
ロック図っ ゛ 第３図は１本発明に使用するＲＦ検波器の回路図
。 第４図は、本発明に使用するチョッパおよび前置増幅器
の回路図。 第５図は、本発明に使用するナンプラおよびバッファ補
償器の回路図。 第６図は１本発明に（資）用する発掘器およびモード選
択器のブロック図。 第７図は１本発明のネットワーク・アナライザのタイミ
ング図。 ｌＯ：挿引発振器、 １４：被試験装置。 １８ ： ＡＣ／ＤＣ検波器、 ２２：ネットワーク・アナライザ、 ４０：ＲＦ倹波器、 ４４：チョッパ。 ４８：前置増幅器、 ５２：？ンプラ。 ５６：バッファ補償器、 ５８：発振器。 ５９：モード選択器。
Claims (1)
- 被試験装置を介して得られる入力信号を受信する入力手
段と、前記入力手段からの信号を導入し、前記入力信号
の振幅に関連する第１信号を出力する変換手段と、前記
第１信号を所定周期の信号で変調し、前記第１信号の振
幅に関連する第２信号を出力する変調手段と、前記第２
信号に基づいて前記被試験装置の特性を表示する表示手
段とから成るネットワーク・アナライザ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US652545 | 1984-09-20 | ||
| US06/652,545 US4647845A (en) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | Apparatus and method for utilizing an AC detection scalar network analyzer with a CW signal source |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4274985A Division JPH0618579A (ja) | 1984-09-20 | 1992-09-18 | ネットワーク・アナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6175273A true JPS6175273A (ja) | 1986-04-17 |
| JPH0726990B2 JPH0726990B2 (ja) | 1995-03-29 |
Family
ID=24617219
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60208151A Expired - Lifetime JPH0726990B2 (ja) | 1984-09-20 | 1985-09-20 | ネツトワーク・アナライザ |
| JP4274985A Pending JPH0618579A (ja) | 1984-09-20 | 1992-09-18 | ネットワーク・アナライザ |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4274985A Pending JPH0618579A (ja) | 1984-09-20 | 1992-09-18 | ネットワーク・アナライザ |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4647845A (ja) |
| EP (1) | EP0176019B1 (ja) |
| JP (2) | JPH0726990B2 (ja) |
| DE (1) | DE3569040D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618579A (ja) * | 1984-09-20 | 1994-01-25 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ネットワーク・アナライザ |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4731586A (en) * | 1985-11-14 | 1988-03-15 | Westinghouse Electric Corp. | Electrical noise detector for detecting power line gap defects |
| US5083080A (en) * | 1989-06-30 | 1992-01-21 | Anritsu Corporation | High frequency signal measuring equipment with cabled detecting and signal companding |
| DE4336715C2 (de) | 1992-10-27 | 1999-07-08 | Olympus Optical Co | Stereomikroskop |
| US6788136B2 (en) * | 2001-10-25 | 2004-09-07 | General Electric Company | Methods and apparatus for amplification in high temperature environments |
| TWI428611B (zh) | 2010-09-10 | 2014-03-01 | Ind Tech Res Inst | 零偏壓式功率偵測器 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA528941A (en) * | 1956-08-07 | Enslein Kurt | Automatic alignment system for radio tuned circuits | |
| US3643126A (en) * | 1970-03-04 | 1972-02-15 | Hewlett Packard Co | Frequency-measuring system utilizing means for momentarily stopping the variable frequency generator |
| US3968427A (en) * | 1975-08-11 | 1976-07-06 | Hewlett-Packard Company | Group delay measurement apparatus and method |
| US4103223A (en) * | 1977-06-21 | 1978-07-25 | Weinschel Engineering Company | Closed loop for automatic substitution of a signal of equal amplitude |
| US4647845A (en) * | 1984-09-20 | 1987-03-03 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for utilizing an AC detection scalar network analyzer with a CW signal source |
-
1984
- 1984-09-20 US US06/652,545 patent/US4647845A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-09-17 EP EP85111710A patent/EP0176019B1/en not_active Expired
- 1985-09-17 DE DE8585111710T patent/DE3569040D1/de not_active Expired
- 1985-09-20 JP JP60208151A patent/JPH0726990B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-09-18 JP JP4274985A patent/JPH0618579A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0618579A (ja) * | 1984-09-20 | 1994-01-25 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ネットワーク・アナライザ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4647845A (en) | 1987-03-03 |
| JPH0618579A (ja) | 1994-01-25 |
| EP0176019A1 (en) | 1986-04-02 |
| EP0176019B1 (en) | 1989-03-22 |
| DE3569040D1 (en) | 1989-04-27 |
| JPH0726990B2 (ja) | 1995-03-29 |
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| Frater | A precision phase meter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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| EXPY | Cancellation because of completion of term |