JPH0618579A - ネットワーク・アナライザ - Google Patents
ネットワーク・アナライザInfo
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- JPH0618579A JPH0618579A JP4274985A JP27498592A JPH0618579A JP H0618579 A JPH0618579 A JP H0618579A JP 4274985 A JP4274985 A JP 4274985A JP 27498592 A JP27498592 A JP 27498592A JP H0618579 A JPH0618579 A JP H0618579A
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- detector
- signals
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】持続波信号検出機能を有するネットワーク・ア
ナライザにおいて、パルス信号及び持続波信号を高精度
に測定することのできる装置を提供する。 【構成】本発明による入力部の一実施例によれば、入力
信号が持続波信号のとき、モード選択器59は直流モー
ドに設定される。このモードでは、チョッパ44および
サンプラ52はスルー状態となる。従って、バッファ補
償器56からは持続波信号が出力される。この持続波信
号は後段のアナライザによって測定される。入力信号が
パルス信号のとき、モード選択器59は交流モードに設
定される。このモードでは、RF検波器40を介して入
力された信号はチョッパ44によってチョッピングされ
た後、サンプラ52によってサンプルされ、バッファ補
償器56を介して持続波信号が出力される。この持続波
信号は後段のアナライザによって測定される。
ナライザにおいて、パルス信号及び持続波信号を高精度
に測定することのできる装置を提供する。 【構成】本発明による入力部の一実施例によれば、入力
信号が持続波信号のとき、モード選択器59は直流モー
ドに設定される。このモードでは、チョッパ44および
サンプラ52はスルー状態となる。従って、バッファ補
償器56からは持続波信号が出力される。この持続波信
号は後段のアナライザによって測定される。入力信号が
パルス信号のとき、モード選択器59は交流モードに設
定される。このモードでは、RF検波器40を介して入
力された信号はチョッパ44によってチョッピングされ
た後、サンプラ52によってサンプルされ、バッファ補
償器56を介して持続波信号が出力される。この持続波
信号は後段のアナライザによって測定される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被試験装置の伝送特性
等を測定するネットワーク・アナライザに関する。
等を測定するネットワーク・アナライザに関する。
【0002】
【従来の技術】スカラ・ネットワーク解析は回路の透過
およびインピーダンス等の大きさを入力信号の周波数の
関数として測定する方法である。スカラ・ネットワーク
アナライザは、特定の周波数で、または予め定めた周波
数範囲にわたり、線形ネットワークのインピーダンスお
よび透過関数とを測定する装置である。スカラ・ネット
ワーク・アナライザには主な形式が二つある。すなわち
交流(AC)検出方式および直流(DC)検出方式であ
る。
およびインピーダンス等の大きさを入力信号の周波数の
関数として測定する方法である。スカラ・ネットワーク
アナライザは、特定の周波数で、または予め定めた周波
数範囲にわたり、線形ネットワークのインピーダンスお
よび透過関数とを測定する装置である。スカラ・ネット
ワーク・アナライザには主な形式が二つある。すなわち
交流(AC)検出方式および直流(DC)検出方式であ
る。
【0003】DC検出ネットワーク解析では、未変調の
信号あるいは持続波(CW波)が被試験装置に加えられ
る。被試験装置から出力される持続波信号はDCネット
ワーク・アナライザに加えられる。持続波信号はDCネ
ットワーク・アナライザで整流され、DCネットワーク
・アナライザに加えられる持続波信号に関連する大きさ
のDC信号を発生する。DCネットワーク・アナライザ
はDC信号の大きさを、対応する持続波信号の周波数の
関数として表示する。
信号あるいは持続波(CW波)が被試験装置に加えられ
る。被試験装置から出力される持続波信号はDCネット
ワーク・アナライザに加えられる。持続波信号はDCネ
ットワーク・アナライザで整流され、DCネットワーク
・アナライザに加えられる持続波信号に関連する大きさ
のDC信号を発生する。DCネットワーク・アナライザ
はDC信号の大きさを、対応する持続波信号の周波数の
関数として表示する。
【0004】AC検出ネットワーク解析では、変調信号
あるいはパルスRF信号が被試験装置に加えられる。パ
ルスRF信号は被試験装置から出力されてACネットワ
ーク・アナライザに加えられる。パルス信号はACネッ
トワーク・アナライザで整流され、予め定めた周波数で
変調されたAC信号を発生する。AC信号の振幅はAC
ネットワーク・アナライザに加えられるパルスRF信号
の振幅に関連している。ACネットワーク・アナライザ
はAC信号の振幅を、対応するパルスRF信号の周波数
の関数として表示する。
あるいはパルスRF信号が被試験装置に加えられる。パ
ルスRF信号は被試験装置から出力されてACネットワ
ーク・アナライザに加えられる。パルス信号はACネッ
トワーク・アナライザで整流され、予め定めた周波数で
変調されたAC信号を発生する。AC信号の振幅はAC
ネットワーク・アナライザに加えられるパルスRF信号
の振幅に関連している。ACネットワーク・アナライザ
はAC信号の振幅を、対応するパルスRF信号の周波数
の関数として表示する。
【0005】AC検出ネットワーク解析の主な欠点は、
装置の中にパルスRF信号に正しく応答しないものがあ
るということである。このような装置のいくつかを挙げ
ると、狭帯域フイルタ、電力感応性の能動装置、および
フイードバックループ系がある。これらの動作状況で
は、被試験装置に加えられる信号は持続信号でなければ
ならず、したがってDC検出が必要となる。被試験装置
に加えられる信号が持続波でなければならないときに使
用されるネットワーク・アナライザの構成がいくつか存
在するが、完全に満足なものは今まで一つもなかった。
或る構成では、被試験装置とACネットワーク・アナラ
イザとの間に設置した外部変調器を使用しているが、他
の構成ではDC検出ネットワーク・アナライザを使用し
ている。
装置の中にパルスRF信号に正しく応答しないものがあ
るということである。このような装置のいくつかを挙げ
ると、狭帯域フイルタ、電力感応性の能動装置、および
フイードバックループ系がある。これらの動作状況で
は、被試験装置に加えられる信号は持続信号でなければ
ならず、したがってDC検出が必要となる。被試験装置
に加えられる信号が持続波でなければならないときに使
用されるネットワーク・アナライザの構成がいくつか存
在するが、完全に満足なものは今まで一つもなかった。
或る構成では、被試験装置とACネットワーク・アナラ
イザとの間に設置した外部変調器を使用しているが、他
の構成ではDC検出ネットワーク・アナライザを使用し
ている。
【0006】被試験装置とAC検出ネットワーク・アナ
ライザとの間に設置した変調器を使用すると、大きな欠
点がいくつか存在する。変調器による減衰とSWR(s
tanding wave ratio)の変動によっ
て、かなりな誤差が入ってくる可能性がある。DCネッ
トワーク・アナライザを使用するという別の解法にはそ
れ自身でいくつかの欠点がある。DCネットワーク・ア
ナライザは、信号源からの広帯域雑音のため、ダイナミ
ックレンジが制限されている。典型的な広帯域掃引器の
場合、低感度測定はこの雑音のため、約−40dBmに
制限される。その上、DC結合増幅器に関連するドリフ
トから、−50dBm近辺より低い入力信号を測定する
とき、かなりな誤差が入ってくることになる。
ライザとの間に設置した変調器を使用すると、大きな欠
点がいくつか存在する。変調器による減衰とSWR(s
tanding wave ratio)の変動によっ
て、かなりな誤差が入ってくる可能性がある。DCネッ
トワーク・アナライザを使用するという別の解法にはそ
れ自身でいくつかの欠点がある。DCネットワーク・ア
ナライザは、信号源からの広帯域雑音のため、ダイナミ
ックレンジが制限されている。典型的な広帯域掃引器の
場合、低感度測定はこの雑音のため、約−40dBmに
制限される。その上、DC結合増幅器に関連するドリフ
トから、−50dBm近辺より低い入力信号を測定する
とき、かなりな誤差が入ってくることになる。
【0007】
【発明の目的】本発明は、AC検出ネットワーク・アナ
ライザにおいて高精度測定を可能にすることを目的とす
る。
ライザにおいて高精度測定を可能にすることを目的とす
る。
【0008】
【発明の概要】本発明の好ましい実施例によれば、AC
検出ネットワーク・アナライザが、減衰とSWR変動と
が不変且つ最小限で、持続波信号源に応答することがで
きるようになっている。このAC検出ネットワーク・ア
ナライザは試験信号と基準信号とを備えている。基準信
号はAC検出ネットワーク・アナライザに試験信号の周
波数を供給する。試験信号は予め定めた周波数で変調さ
れたAC信号でなければならない。掃引周波数信号発振
器が二つの信号、すなわち基準信号とソース信号とを発
生するのに使用される。ソース信号は被試験装置に加え
られ、被試験装置からの出力信号はAC/DC検波器に
加えられる。AC/DC検波器からの出力信号はAC検
出ネットワーク・アナライザに試験信号として加えられ
る。
検出ネットワーク・アナライザが、減衰とSWR変動と
が不変且つ最小限で、持続波信号源に応答することがで
きるようになっている。このAC検出ネットワーク・ア
ナライザは試験信号と基準信号とを備えている。基準信
号はAC検出ネットワーク・アナライザに試験信号の周
波数を供給する。試験信号は予め定めた周波数で変調さ
れたAC信号でなければならない。掃引周波数信号発振
器が二つの信号、すなわち基準信号とソース信号とを発
生するのに使用される。ソース信号は被試験装置に加え
られ、被試験装置からの出力信号はAC/DC検波器に
加えられる。AC/DC検波器からの出力信号はAC検
出ネットワーク・アナライザに試験信号として加えられ
る。
【0009】AC/DC検波器は二つのモードで動作す
ることができる。ソース信号が持続波信号である場合に
は、AC/DC検波器はDC検出モードに切替えられな
ければならない。ソーイ信号がパルスRF信号である場
合には、AC/DC検波器はAC検波モードに切換えら
れなければならない。AC/DC検波器がDC検波モー
ドに切換えられる場合には、AC/DC検波器は持続波
信号の振幅に関連する振幅を持つAC信号を発生する。
まず、AC/DC検波器は、ソース信号を変換して変換
された信号を発生する。次に、変換された信号は予め定
めた周波数でチョップされて変調された信号として出力
される。変調後、AC/DC検波器は変調された信号を
増幅した増幅信号を発生する。増幅信号は元の変調周波
数のサイクルごとに二度づつサンプルされてサンプル信
号として出力される。最後に、AC/DC検波器はサン
プル信号からサンプラで発生したフィードスル(fee
dthrough)を除去して出力信号を発生する。A
C検出ネットワーク・アナライザに試験信号として加え
られるのはこの出力信号である。
ることができる。ソース信号が持続波信号である場合に
は、AC/DC検波器はDC検出モードに切替えられな
ければならない。ソーイ信号がパルスRF信号である場
合には、AC/DC検波器はAC検波モードに切換えら
れなければならない。AC/DC検波器がDC検波モー
ドに切換えられる場合には、AC/DC検波器は持続波
信号の振幅に関連する振幅を持つAC信号を発生する。
まず、AC/DC検波器は、ソース信号を変換して変換
された信号を発生する。次に、変換された信号は予め定
めた周波数でチョップされて変調された信号として出力
される。変調後、AC/DC検波器は変調された信号を
増幅した増幅信号を発生する。増幅信号は元の変調周波
数のサイクルごとに二度づつサンプルされてサンプル信
号として出力される。最後に、AC/DC検波器はサン
プル信号からサンプラで発生したフィードスル(fee
dthrough)を除去して出力信号を発生する。A
C検出ネットワーク・アナライザに試験信号として加え
られるのはこの出力信号である。
【0010】AC/DC検波器がAC検波モードに切換
えられる場合には、AC/DC検波器はソース信号をチ
ョップしない。ここでは、AC/DC検波器はソース信
号を整流し且つ増幅するだけである。これによりAC信
号である出力信号が発生する。AC/DC検波器はAC
信号をACネットワーク・アナライザに試験信号として
加える。
えられる場合には、AC/DC検波器はソース信号をチ
ョップしない。ここでは、AC/DC検波器はソース信
号を整流し且つ増幅するだけである。これによりAC信
号である出力信号が発生する。AC/DC検波器はAC
信号をACネットワーク・アナライザに試験信号として
加える。
【0011】
【実施例】図1に被試験装置14とスカラ・ACネット
ワーク・アナライザ22とに接続されている掃引発振器
10を示す。掃引発振器10は被試験装置14に10M
Hzから26GHzまでの周波数範囲にわたるいろいろ
な周波数のRF信号26を線路12を介して印加する。
掃引発振器10はまた線路24を介して掃引信号をAC
ネットワーク・アナライザ22に印加する。この掃引信
号の大きさはRF信号26の周波数に正比例している。
本発明の実施例にはアナログ掃引信号の場合を説明して
いるが、RF信号26の周波数を表わすデジタル掃引信
号をも使用することができる。
ワーク・アナライザ22とに接続されている掃引発振器
10を示す。掃引発振器10は被試験装置14に10M
Hzから26GHzまでの周波数範囲にわたるいろいろ
な周波数のRF信号26を線路12を介して印加する。
掃引発振器10はまた線路24を介して掃引信号をAC
ネットワーク・アナライザ22に印加する。この掃引信
号の大きさはRF信号26の周波数に正比例している。
本発明の実施例にはアナログ掃引信号の場合を説明して
いるが、RF信号26の周波数を表わすデジタル掃引信
号をも使用することができる。
【0012】AC/DC検波器18は線路16のRF信
号28を被試験装置14から受取る。AC/DC検波器
18は二つのモード、すなわちAC検波モードとDC検
波モードとで動作することができる。DC検波モードで
は、AC/DC検波器18はRF信号28のチョップと
サンプルとを両方行う。一方AC検波モードでは、AC
/DC検波器18はRF信号28をチョップもサンプル
もしない。RF信号28が持続波信号のときは、AC/
DC検波器18はDC検波モードになっていなければな
らず、RF信号28がパルスRF信号であるときは、A
C/DC検波器はAC検波モードになっていなければな
らない。いずれの構成でも、AC/DC検波器18は、
図7に波形S5で示した変調された信号30を、線路2
0を介してACネットワーク・アナライザ22に加え
る。ネットワーク・アナライザ22は変調された信号を
表示装置32に表示する。
号28を被試験装置14から受取る。AC/DC検波器
18は二つのモード、すなわちAC検波モードとDC検
波モードとで動作することができる。DC検波モードで
は、AC/DC検波器18はRF信号28のチョップと
サンプルとを両方行う。一方AC検波モードでは、AC
/DC検波器18はRF信号28をチョップもサンプル
もしない。RF信号28が持続波信号のときは、AC/
DC検波器18はDC検波モードになっていなければな
らず、RF信号28がパルスRF信号であるときは、A
C/DC検波器はAC検波モードになっていなければな
らない。いずれの構成でも、AC/DC検波器18は、
図7に波形S5で示した変調された信号30を、線路2
0を介してACネットワーク・アナライザ22に加え
る。ネットワーク・アナライザ22は変調された信号を
表示装置32に表示する。
【0013】図2は本発明に使用するAC/DC検波器
18のブロック図を示す。AC/DC検波器18はチョ
ッパ44に持続されているRF検波器40を備えてい
る。RF検波器40は線路16で加えられるRF信号2
8を検波して、線路42を介して加えられる整流信号に
変換する。線路42上の整流信号の大きさはRF信号2
8の振幅に比例する。
18のブロック図を示す。AC/DC検波器18はチョ
ッパ44に持続されているRF検波器40を備えてい
る。RF検波器40は線路16で加えられるRF信号2
8を検波して、線路42を介して加えられる整流信号に
変換する。線路42上の整流信号の大きさはRF信号2
8の振幅に比例する。
【0014】DC検波モードでは、チョッパ44は線路
42上の整流信号を変調し、線路46を介して変調され
た信号を発生する。AC検波モードでは、チョッパ44
は線路42上の信号を変更せずに(この場合も変調され
た信号と称す)出力する。AC検波モードでは、チョッ
パ44は整流信号を変調しない。なぜなら、パルスRF
信号が整流されるとき、その整流信号はすでに変調され
た信号になっているからである。
42上の整流信号を変調し、線路46を介して変調され
た信号を発生する。AC検波モードでは、チョッパ44
は線路42上の信号を変更せずに(この場合も変調され
た信号と称す)出力する。AC検波モードでは、チョッ
パ44は整流信号を変調しない。なぜなら、パルスRF
信号が整流されるとき、その整流信号はすでに変調され
た信号になっているからである。
【0015】前置増幅器48は、線路46に供給される
変調された信号を増幅し、増幅信号を線路50に供給す
る。DC検波モードでは、この増幅信号はサンプラ52
でサンプルされて、図7に波形S4で示すサンプル信号
を発生し、線路54に供給される。サンプリングはチョ
ッパ44で発生するフイードスルーを除去するように行
われる。AC検波モードでは、チョッピングが起らない
ので、サンプリングの必要はない。ここでは、サンプラ
52は単に増幅信号をサンプル信号として線路54に供
給するだけである。
変調された信号を増幅し、増幅信号を線路50に供給す
る。DC検波モードでは、この増幅信号はサンプラ52
でサンプルされて、図7に波形S4で示すサンプル信号
を発生し、線路54に供給される。サンプリングはチョ
ッパ44で発生するフイードスルーを除去するように行
われる。AC検波モードでは、チョッピングが起らない
ので、サンプリングの必要はない。ここでは、サンプラ
52は単に増幅信号をサンプル信号として線路54に供
給するだけである。
【0016】バッファ補償器56は線路54に供給され
るサンプル信号をバッファし、線路54に供給されるサ
ンプル信号から、サンプラ52の寄生容量により生ずる
不必要な信号を除去する。これにより線路20に供給さ
れる変調された信号が発生する。タイミング論理回路を
含む発振器58はチョッパ44とサンプラ52とを制御
する。チョッパ44は線路60で供給される第一の制御
信号および線路62で供給される第二の制御信号で制御
される。サンプラ52は線路64に供給される第三の制
御信号で制御される。後に一層詳しく述べるように、第
一の制御信号と第二の制御信号とはチョッパ44を開閉
する。第三の制御信号はサンプラ52を開閉する。
るサンプル信号をバッファし、線路54に供給されるサ
ンプル信号から、サンプラ52の寄生容量により生ずる
不必要な信号を除去する。これにより線路20に供給さ
れる変調された信号が発生する。タイミング論理回路を
含む発振器58はチョッパ44とサンプラ52とを制御
する。チョッパ44は線路60で供給される第一の制御
信号および線路62で供給される第二の制御信号で制御
される。サンプラ52は線路64に供給される第三の制
御信号で制御される。後に一層詳しく述べるように、第
一の制御信号と第二の制御信号とはチョッパ44を開閉
する。第三の制御信号はサンプラ52を開閉する。
【0017】発振器58はモード選択器59で制御され
る。モード選択器59はAC/DC検波器18をどのモ
ードに設定するかを決定する。AC検波モードに設定さ
れているときは、発振器58は、チョッピングを行なわ
ないように制御する。第一および第二の制御信号をチョ
ッパ44に供給し、サンプリングを行なわないように制
御する第三の信号をサンプラ52に供給する。DC検波
モードに設定されているときは、発振器58は、チョッ
パ44に、チョッパ44を周波数27.77kHzで開
閉制御するための第一および第二の制御信号を供給し、
サンプラ52に、サンプラ52を周波数55.55kH
zで開閉制御するための第三の制御信号を供給する。両
モードとも変調された信号30を線路20に供給する。
る。モード選択器59はAC/DC検波器18をどのモ
ードに設定するかを決定する。AC検波モードに設定さ
れているときは、発振器58は、チョッピングを行なわ
ないように制御する。第一および第二の制御信号をチョ
ッパ44に供給し、サンプリングを行なわないように制
御する第三の信号をサンプラ52に供給する。DC検波
モードに設定されているときは、発振器58は、チョッ
パ44に、チョッパ44を周波数27.77kHzで開
閉制御するための第一および第二の制御信号を供給し、
サンプラ52に、サンプラ52を周波数55.55kH
zで開閉制御するための第三の制御信号を供給する。両
モードとも変調された信号30を線路20に供給する。
【0018】図3はRF検波器40の回路図を示す。結
合コンデンサ70はDC信号入力を阻止するのに使用さ
れる。抵抗器72はRF検波器40に対して50オーム
の広帯域入力インピーダンスを作り出している。RF信
号はゼロバイアス・ショットキバリア・ダイオード74
で整流される。整流信号は端子81に供給される。端子
82はRF検波器40の接地接続点である。
合コンデンサ70はDC信号入力を阻止するのに使用さ
れる。抵抗器72はRF検波器40に対して50オーム
の広帯域入力インピーダンスを作り出している。RF信
号はゼロバイアス・ショットキバリア・ダイオード74
で整流される。整流信号は端子81に供給される。端子
82はRF検波器40の接地接続点である。
【0019】図4はチョッパ44と前置増幅器48との
回路図を示す。チョッパ44ははしご形(series
−shunt)チョッパ回路およびはしご形減衰器91
から構成されている。はしご形チョッパは二つのスイッ
チから構成されており、第一のスイッチは回路の入力部
および出力部と直列に接続されており、第二のスイッチ
は回路の出口を横切って分岐接続されている。電界効果
トランジスタFET98が導通になると、分岐FET1
04は非導通になる。このとき、端子81に印加された
整流信号が前置増幅器48の結合コンデンサ114まで
直接通過できるようになる。FET98が非導通のと
き、FET104は導通になる。ここで、FET98を
通して漏れる電流は分岐FET104を介して接地さ
れ、前置増幅器48から消去される。
回路図を示す。チョッパ44ははしご形(series
−shunt)チョッパ回路およびはしご形減衰器91
から構成されている。はしご形チョッパは二つのスイッ
チから構成されており、第一のスイッチは回路の入力部
および出力部と直列に接続されており、第二のスイッチ
は回路の出口を横切って分岐接続されている。電界効果
トランジスタFET98が導通になると、分岐FET1
04は非導通になる。このとき、端子81に印加された
整流信号が前置増幅器48の結合コンデンサ114まで
直接通過できるようになる。FET98が非導通のと
き、FET104は導通になる。ここで、FET98を
通して漏れる電流は分岐FET104を介して接地さ
れ、前置増幅器48から消去される。
【0020】第一の制御信号は端子100に入力され
る。端子100に高電圧(+9V)が加えられると、F
ET98は導通する。FET104も同じような方法で
制御される。第二の制御信号は端子102に入力され
る。端子102に高圧(+9V)が加えられると、FE
T104が導通する。ただし、FET104はFET9
8を非導通にしたときだけ導通させ、FET98はFE
T104を非導通にしたときだけ導通させる。このよう
にするためには、第一および第二の制御信号は相補的で
なければならない。第一および第二の制御信号は、FE
T98とFET104とを導通にしたり非導通にしたり
するが、それぞれ、図7に波形S1およびS2として示
してある。更に、FET98のサブストレート端子およ
びFET104のサブストレート端子は端子106で−
12Vの電源に接続されている。
る。端子100に高電圧(+9V)が加えられると、F
ET98は導通する。FET104も同じような方法で
制御される。第二の制御信号は端子102に入力され
る。端子102に高圧(+9V)が加えられると、FE
T104が導通する。ただし、FET104はFET9
8を非導通にしたときだけ導通させ、FET98はFE
T104を非導通にしたときだけ導通させる。このよう
にするためには、第一および第二の制御信号は相補的で
なければならない。第一および第二の制御信号は、FE
T98とFET104とを導通にしたり非導通にしたり
するが、それぞれ、図7に波形S1およびS2として示
してある。更に、FET98のサブストレート端子およ
びFET104のサブストレート端子は端子106で−
12Vの電源に接続されている。
【0021】線路46に加えられる変調された信号は結
合コンデンサ114を介して前置増幅器48に入る。前
置増幅器48は複合形の増幅器である。第一のFET1
16と第二のFET118とは前置増幅器48の二重F
ET入力段を構成している。演算増幅器132は前置増
幅器48の出力段として使用される。二重FET入力段
は前置増幅器48の雑音レベルを減少させること、およ
び前置増幅器48を低入力電圧レベルで動作させること
に使用される。可変抵抗器124は前置増幅器48の利
得を調節するのに使用される。前置増幅器48は端子1
40、106で電源に接続されている。増幅信号は端子
128に印加される。
合コンデンサ114を介して前置増幅器48に入る。前
置増幅器48は複合形の増幅器である。第一のFET1
16と第二のFET118とは前置増幅器48の二重F
ET入力段を構成している。演算増幅器132は前置増
幅器48の出力段として使用される。二重FET入力段
は前置増幅器48の雑音レベルを減少させること、およ
び前置増幅器48を低入力電圧レベルで動作させること
に使用される。可変抵抗器124は前置増幅器48の利
得を調節するのに使用される。前置増幅器48は端子1
40、106で電源に接続されている。増幅信号は端子
128に印加される。
【0022】図5はサンプラ52およびバッファ補償器
56の回路図を示す。増幅信号は端子128でサンプラ
52に加えられる。FET200は増幅信号を増幅信号
の変調サイクルごとに2回サンプルしてサンプル信号を
発生するのに使用される。FET200は端子212で
発振器58に接続されている。増幅信号をサンプルする
には、発振器58が端子212に高電圧(+9V)を供
給する。端子212に高電圧がかかると、FET200
が導通し、増幅信号がコンデンサ206に貯えられるよ
うになる。発振器58により端子212に加えられる第
三の制御信号は、FET200を導通にしたり非導通に
したりするものであるが、図7に波形S3で示してあ
る。
56の回路図を示す。増幅信号は端子128でサンプラ
52に加えられる。FET200は増幅信号を増幅信号
の変調サイクルごとに2回サンプルしてサンプル信号を
発生するのに使用される。FET200は端子212で
発振器58に接続されている。増幅信号をサンプルする
には、発振器58が端子212に高電圧(+9V)を供
給する。端子212に高電圧がかかると、FET200
が導通し、増幅信号がコンデンサ206に貯えられるよ
うになる。発振器58により端子212に加えられる第
三の制御信号は、FET200を導通にしたり非導通に
したりするものであるが、図7に波形S3で示してあ
る。
【0023】バッファ補償器56は、コンデンサ26に
保持されている電圧をバッファすること、および変調さ
れた信号を端子230に印加することに使用される利得
1のフォロワである。バッファ補償器56は演算増幅器
220と抵抗性フィードバック・ネットワーク224と
から構成されている。サンプル信号は演算増幅器220
の正の入力端子に加えられ、第三の制御信号は演算増幅
器220の負の入力に加えられる。演算増幅器220は
サンプル信号からサンプラ信号を差引き、サンプラ52
の寄生容量によりサンプル信号に入り込む余分な信号を
除去する。サンプラ56の寄生容量はFET200のゲ
ート・ドレイン間容量によるものである。演算増幅器2
20は端子226で+15Vの電源に接続され、端子2
02で−12Vの電源に接続されている。
保持されている電圧をバッファすること、および変調さ
れた信号を端子230に印加することに使用される利得
1のフォロワである。バッファ補償器56は演算増幅器
220と抵抗性フィードバック・ネットワーク224と
から構成されている。サンプル信号は演算増幅器220
の正の入力端子に加えられ、第三の制御信号は演算増幅
器220の負の入力に加えられる。演算増幅器220は
サンプル信号からサンプラ信号を差引き、サンプラ52
の寄生容量によりサンプル信号に入り込む余分な信号を
除去する。サンプラ56の寄生容量はFET200のゲ
ート・ドレイン間容量によるものである。演算増幅器2
20は端子226で+15Vの電源に接続され、端子2
02で−12Vの電源に接続されている。
【0024】図6は発振器58とモード選択器59との
回路図を示す。水晶256、NORゲート250、およ
びNORゲート252が、222.22kHzで発振す
る信号を点265に供給する水晶ゲート発振器を構成し
ている。NORゲート254は点265に加えられる信
号をバッファし、一掃するのに使用される。NORゲー
ト254を出てフリップフロップ272のクロック入力
端子CKに入る信号は222.22kHzで+0Vと−
5Vとの間を振動している。
回路図を示す。水晶256、NORゲート250、およ
びNORゲート252が、222.22kHzで発振す
る信号を点265に供給する水晶ゲート発振器を構成し
ている。NORゲート254は点265に加えられる信
号をバッファし、一掃するのに使用される。NORゲー
ト254を出てフリップフロップ272のクロック入力
端子CKに入る信号は222.22kHzで+0Vと−
5Vとの間を振動している。
【0025】モード選択器59はAC/DC検波器18
をどのモードに設定すべきかを決定する。これは線路5
7から制御電圧を点268に加えて行われる。スイッチ
240が端子242に接続されると、+0Vの制御電圧
が線路57から点268に加えられる。スイッチ240
が端子244に接続されると、−5Vの制御電圧が線路
57から点268に加えられる。本実施例ではモード選
択器59を単にスイッチとして開示しているが、比較器
またはNORゲートのような、任意の電子切換装置も使
用することができる。
をどのモードに設定すべきかを決定する。これは線路5
7から制御電圧を点268に加えて行われる。スイッチ
240が端子242に接続されると、+0Vの制御電圧
が線路57から点268に加えられる。スイッチ240
が端子244に接続されると、−5Vの制御電圧が線路
57から点268に加えられる。本実施例ではモード選
択器59を単にスイッチとして開示しているが、比較器
またはNORゲートのような、任意の電子切換装置も使
用することができる。
【0026】制御信号が低い(−5V)のときは、AC
/DC検波器はDC検波モードに切換えられる。ここ
で、フリップフロップ272、フリップフロップ28
2、およびフリップフロップ288で共同して、フリッ
プフロップ272のクロック端子CKに加えられる信号
の周波数を8分割するように動作する。その結果、+0
Vと−5Vとの間を振動する27.77kHzの信号
が、レベルシフタ292の端子AおよびBに加えられ
る。同様に、フリップフロップ272とフリップフロッ
プ280とはフリップフロップ272のクロック端子C
Kに加えられる信号の周波数を4分割する。得られる信
号は、55.54kHzで+0Vと−5Vとの間を振動
する信号であり、これはレベルシフタ292の端子Cに
加えられる。
/DC検波器はDC検波モードに切換えられる。ここ
で、フリップフロップ272、フリップフロップ28
2、およびフリップフロップ288で共同して、フリッ
プフロップ272のクロック端子CKに加えられる信号
の周波数を8分割するように動作する。その結果、+0
Vと−5Vとの間を振動する27.77kHzの信号
が、レベルシフタ292の端子AおよびBに加えられ
る。同様に、フリップフロップ272とフリップフロッ
プ280とはフリップフロップ272のクロック端子C
Kに加えられる信号の周波数を4分割する。得られる信
号は、55.54kHzで+0Vと−5Vとの間を振動
する信号であり、これはレベルシフタ292の端子Cに
加えられる。
【0027】レベルシフタ292は、端子A、Bおよび
Cの入力電圧に関連する信号を各々、端子E、Fおよび
Gに変換出力する。この電圧変換はサンプラおよびチョ
ッパのFETが正しく動作するようにするため必要であ
る。レベルシフタ292の端子A、B、またはCのいず
れかに+0Vの信号があれば、端子E、FあるいはGに
+9Vの信号が変換出力される。同時に、端子A、Bま
たはCに−5Vの信号があれば端子E、FまたはGに−
5Vの信号が出力される。DCモードにおいて、端子
E、FおよびGから端子102、100および212に
加えられる信号は、それぞれ図7のグラフS1、S2お
よびS3で示してある。
Cの入力電圧に関連する信号を各々、端子E、Fおよび
Gに変換出力する。この電圧変換はサンプラおよびチョ
ッパのFETが正しく動作するようにするため必要であ
る。レベルシフタ292の端子A、B、またはCのいず
れかに+0Vの信号があれば、端子E、FあるいはGに
+9Vの信号が変換出力される。同時に、端子A、Bま
たはCに−5Vの信号があれば端子E、FまたはGに−
5Vの信号が出力される。DCモードにおいて、端子
E、FおよびGから端子102、100および212に
加えられる信号は、それぞれ図7のグラフS1、S2お
よびS3で示してある。
【0028】制御電圧が高い(+0V)ときは、AC/
DC検波器はAC検波モードに切換えられる。ここで
は、フリップフロップ272、282、288および2
76は、レベルシフタ292の端子A、BおよびCに加
えられる信号がDC信号になるように固定される。レベ
ルシフタ292の端子BおよびCにあるDC信号の電圧
は高く(+0V)になっているが、レベルシフタ292
の端子AにあるDC信号の電圧は低い(−5V)。ここ
で、レベルシフタ292はそれぞれ端子E、FおよびG
から端子102、100および212に、発振しない信
号を供給する。端子100および212に加えられる信
号はともに+9VのDC信号であるが、端子102に加
えられる信号は−5VのDC信号である。
DC検波器はAC検波モードに切換えられる。ここで
は、フリップフロップ272、282、288および2
76は、レベルシフタ292の端子A、BおよびCに加
えられる信号がDC信号になるように固定される。レベ
ルシフタ292の端子BおよびCにあるDC信号の電圧
は高く(+0V)になっているが、レベルシフタ292
の端子AにあるDC信号の電圧は低い(−5V)。ここ
で、レベルシフタ292はそれぞれ端子E、FおよびG
から端子102、100および212に、発振しない信
号を供給する。端子100および212に加えられる信
号はともに+9VのDC信号であるが、端子102に加
えられる信号は−5VのDC信号である。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明を用いるこ
とにより、極めて高精度なネットワーク・アナライザを
提供できる。
とにより、極めて高精度なネットワーク・アナライザを
提供できる。
【図1】本発明のネットワーク・アナライザの使用状態
を示す概略ブロック図である。
を示す概略ブロック図である。
【図2】本発明に使用するAC/DC検波器のブロック
図である。
図である。
【図3】本発明に使用するRF検波器の回路図である。
【図4】本発明に使用するチョッパおよび前置増幅器の
回路図である。
回路図である。
【図5】本発明に使用するサンプラおよびバッファ補償
器の回路図である。
器の回路図である。
【図6】本発明に使用する発振器およびモード選択器の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図7】本発明のネットワーク・アナライザのタイミン
グ図である。
グ図である。
10:挿引発振器 14:被試験装置 18:AC/DC検波器 22:ネットワーク・アナライザ 40:RF検波器 44:チョッパ 48:前置増幅器 52:サンプラ 56:バッファ補償器 58:発振器 59:モード選択器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョン・シー・ファイック アメリカ合衆国カリフォルニア州サンタロ ーザ ウインター クリーク ロード 5493
Claims (2)
- 【請求項1】電磁波信号を被試験装置に供給する第1出
力手段と前記電磁波信号の周波数を示す掃引信号を供給
する第2出力手段とを有する掃引器手段と、 前記被試験装置からの入力信号を受信する入力手段と、
前記入力手段に接続され前記入力信号を該入力信号の振
幅に関連する大きさを有する変換信号に変換する変換回
路手段とを有し、前記入力信号を検出してこれを変調信
号に変換する検出器手段と、 前記検出手段に接続され、該検出手段をAC検出モード
またはDC検出モード用に構築する制御手段と、 前記変調信号を受信する第1入力手段と、前記掃引信号
を受信する第2入力手段と、前記変調信号および前記掃
引信号を処理して処理信号を発生する処理回路手段と、
前記処理回路手段に接続され前記処理信号を表示する表
示手段とを有し、電磁波信号を解析するアナライザ手段
と、 を備えて成る電磁波信号処理装置。 - 【請求項2】前記検出器手段が、前記AC検出モードに
おいて前記変調信号の振幅が前記変換信号の大きさに関
係するよう前記変換信号を所定の周波数で変調する変調
回路手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の
電磁波信号処理装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US652545 | 1984-09-20 | ||
US06/652,545 US4647845A (en) | 1984-09-20 | 1984-09-20 | Apparatus and method for utilizing an AC detection scalar network analyzer with a CW signal source |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60208151A Division JPH0726990B2 (ja) | 1984-09-20 | 1985-09-20 | ネツトワーク・アナライザ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0618579A true JPH0618579A (ja) | 1994-01-25 |
Family
ID=24617219
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60208151A Expired - Lifetime JPH0726990B2 (ja) | 1984-09-20 | 1985-09-20 | ネツトワーク・アナライザ |
JP4274985A Pending JPH0618579A (ja) | 1984-09-20 | 1992-09-18 | ネットワーク・アナライザ |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60208151A Expired - Lifetime JPH0726990B2 (ja) | 1984-09-20 | 1985-09-20 | ネツトワーク・アナライザ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4647845A (ja) |
EP (1) | EP0176019B1 (ja) |
JP (2) | JPH0726990B2 (ja) |
DE (1) | DE3569040D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4647845A (en) * | 1984-09-20 | 1987-03-03 | Hewlett-Packard Company | Apparatus and method for utilizing an AC detection scalar network analyzer with a CW signal source |
US4731586A (en) * | 1985-11-14 | 1988-03-15 | Westinghouse Electric Corp. | Electrical noise detector for detecting power line gap defects |
US5083080A (en) * | 1989-06-30 | 1992-01-21 | Anritsu Corporation | High frequency signal measuring equipment with cabled detecting and signal companding |
DE4336715C2 (de) | 1992-10-27 | 1999-07-08 | Olympus Optical Co | Stereomikroskop |
US6788136B2 (en) * | 2001-10-25 | 2004-09-07 | General Electric Company | Methods and apparatus for amplification in high temperature environments |
TWI428611B (zh) | 2010-09-10 | 2014-03-01 | Ind Tech Res Inst | 零偏壓式功率偵測器 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6175273A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ネツトワーク・アナライザ |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA528941A (en) * | 1956-08-07 | Enslein Kurt | Automatic alignment system for radio tuned circuits | |
US3643126A (en) * | 1970-03-04 | 1972-02-15 | Hewlett Packard Co | Frequency-measuring system utilizing means for momentarily stopping the variable frequency generator |
US3968427A (en) * | 1975-08-11 | 1976-07-06 | Hewlett-Packard Company | Group delay measurement apparatus and method |
US4103223A (en) * | 1977-06-21 | 1978-07-25 | Weinschel Engineering Company | Closed loop for automatic substitution of a signal of equal amplitude |
-
1984
- 1984-09-20 US US06/652,545 patent/US4647845A/en not_active Expired - Lifetime
-
1985
- 1985-09-17 EP EP85111710A patent/EP0176019B1/en not_active Expired
- 1985-09-17 DE DE8585111710T patent/DE3569040D1/de not_active Expired
- 1985-09-20 JP JP60208151A patent/JPH0726990B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-09-18 JP JP4274985A patent/JPH0618579A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6175273A (ja) * | 1984-09-20 | 1986-04-17 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ネツトワーク・アナライザ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6175273A (ja) | 1986-04-17 |
DE3569040D1 (en) | 1989-04-27 |
JPH0726990B2 (ja) | 1995-03-29 |
EP0176019A1 (en) | 1986-04-02 |
US4647845A (en) | 1987-03-03 |
EP0176019B1 (en) | 1989-03-22 |
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