JPS6174339A - プラズマ処理装置 - Google Patents

プラズマ処理装置

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JPS6174339A
JPS6174339A JP59194695A JP19469584A JPS6174339A JP S6174339 A JPS6174339 A JP S6174339A JP 59194695 A JP59194695 A JP 59194695A JP 19469584 A JP19469584 A JP 19469584A JP S6174339 A JPS6174339 A JP S6174339A
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JP
Japan
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magnet
fixing plate
plasma
electric field
wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP59194695A
Other languages
English (en)
Inventor
Norio Nakazato
仲里 則男
Yutaka Kakehi
掛樋 豊
Takeshi Harada
武 原田
Ryoji Fukuyama
良次 福山
Makoto Nawata
誠 縄田
Hironobu Ueda
博信 上田
Katsuaki Nagatomo
長友 克明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Priority to KR1019850006846A priority patent/KR900005347B1/ko
Priority to US06/777,725 priority patent/US4631106A/en
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Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32623Mechanical discharge control means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、プラズマ処理装置に係り、特に真空下のガス
を電界と磁界の作用のもとでプラズマ化させ、該プラズ
マ中のイオン或は活性種によって被処理物質、特に半導
体ウェハを処理するのに好適なプラズマ処理装置に関す
るものである。
〔発明の背景〕
真空下のガスをグロー放電によってプラズマ化して、プ
ラズマ中のイオン或は活性種によって被処理物質を処理
するプラズマ処理装置は材料表面の改質及び加工、さら
に材料表面への物質の堆積と種々の分野で使用されてい
る。
電界によるグロー放電に、磁界を作用させると電気的な
り−ロン力と電磁気によるローレンツ力が作用し、特に
電界と磁界が直交するように構成すると荷電粒子がサイ
クロイド運動をなすことjこよって粒子ないし分子間の
衝突頻度が増し、イオン或は活性種の密度が増加するこ
とが知られており、処理速度の向上を目的にこの技術を
応用したプラズマ処理装置も実用に供されている。
電界、磁界の併用のプラズマの処理装置はシリコン半導
体及び化合物半導体のウェハを処理するスパッタリング
装置、ドライエツチング装置、気相成長装置へ利用が特
に効果的であり、例えばスパッタリング装置では特公昭
54−32638号公報、ドライエツチング装置では特
開昭58−16078号公報等がある。例えば、特開昭
58−16078号公報に記載されたプラズマ処理装置
は第9図、第10図Iこ示すごとく、ウェハ111を載
置せる下部電極112の下に、N極113とS極114
で構成される磁石要素115を配置した。この電磁界に
よるプラズマはN極−S極間で増強され、このプラズマ
にさらされたウェハの該当領域のエツチング速度が特に
速くなる。この場合、ウェハ111に均一エツチングを
施こすため+15 磁石要素を駆動系116によって直進的に走査し、^ 強いプラズマ領域をウェハ1111ζ対して相対的に移
動させている。このようにエツチングの均一化を図るた
めには磁石要X:115を第1図のウェハ111の一端
の位111tAから他端の位IBまで移動させる必要が
あり、電極下部の空間は磁石要素115の移動距離に応
じた大きさとなすことが不可欠で、このためプラズマ処
理装置が必然的に大型化し装置の設置占有床面積が増大
するといった不都合を生じる。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、磁石要素の移動1こ要する空間の増大
を抑制することで、装置を小型化でき装置の設置占有床
面積の増大を抑制できると共iζ、被処理物質の処理の
均一化を図ることができるプラズマ処理装置を提供する
ことにある。
〔発明の概要〕
本発明は、電界と直交する磁界を作る磁石要素を磁石固
定板と磁石とで構成し、磁石固定板の中心を回りつつ周
縁部―こ向って広がるように磁石固定板に磁石を配設し
、該磁石要素を電界と直角な面内で回転可能1ζ設けた
ことを特徴とするもので、磁石要素を回転させることで
磁石要素の移動に要する空間の増大を抑制すると共に、
被処理物質の被処理面の中心を回り周縁部に広がるプラ
ズマ領域を形成し該プラズマ領域を被処理物質の被処理
面に対して回転させることで被処理物質の被処理’We
=4−1瞭量面が全面1こ亘り均一なプラズマにさらさ
れるようにしたものである。
〔発明の実施例〕
プラズマ処理装置として、平行平板型ドライエツチング
装置を例6ことり、本発明の一実施例を第1図〜第3図
により説明する。
第1図で、処理室10の側壁化は、被処理物買上 であるウェハ20の搬へ馬〆11と排気孔12とが形成
されている。搬入出孔111こは、例えば、副真空室(
図示省略)が、例えば、ゲートバルブ■示省略)を介し
て兵役されている。ゲートバルブを介して副真空室と処
理室10との間でウェハ20・ を搬送する公知の搬送
手段(図示省略)が設けられている。排気孔12は、排
気管(図示省略)を介し真空排気手段(図示省略)に連
結されている。
処理室lOの頂壁には、ガス供給孔13が形成されてい
る。ガス供給孔13は、ガス流量制御手段(図示省略)
が設けられた供給管(図示省略)を介しガス源(図示省
略)に連結されている。処理室10の底部には、ウェハ
設置面を上面として電極30が絶縁材14を介し処理室
10の一部を構成して略水平に設けられている。電極3
0は、処理室10外に設けられた電源、例えば高周波電
源(図示省略)に接続されている。処理室10内で電極
30のウェハ設置面の上方位置には放電空間40を有し
対向電極50が処理室10と絶縁材15で絶縁されて略
水平に設けられている。対向電極50は接地されている
。ウェハ20に対応した位置、この場合は、電極30の
ウェハ設置面と反対面に対応した位置には、磁石要素6
0が電界と直角な面内で回転可能番と設けられている。
磁石要素60は、電極30のウェハ投置面の中心を例え
ば、中心として回転軸70の上端1こ設けられている。
回転軸70は、磁石要素60の中心を細心とするもので
、その下端には歯車71が設けられている。歯車71に
は、歯車72が噛合されており、歯車72は、モータ7
3に連結されている。
第2図、第3図で、磁石要素60aは、磁石固定板であ
るヨーク61と磁石であるN極62a。
S極63aとで構成されている。ヨーク61の中心付近
から中心を回りつつ周縁部へ向って広がるよう1ζ、こ
の場合は、連続螺旋形状にヨーク61上に対をなしてN
極62a、S極63aは配役されている。このような磁
石要素60aは、N極62a。
S極63aを上面として第1図に示すようにウェハ20
に対応した位置に電界と直角な面内で回転可能lζ設け
られている。
第1図〜第3図で、例えば、真空下の状態で副真空室か
らはウェハ20がゲートバルブ、搬入出孔11を介し搬
送手段により処理室1oに、例えば、1枚搬入され電極
30のウェハ設置面番ζ彼処理面上向き姿勢で設置され
る。その後、搬送手段は処理室10外へ退出させられ、
ゲートバルブが閉止される。その後、ウェハ20のエツ
チングに必要なガスがガス源からガス流量制御手段で流
量を所定流it 1m制御され供給管、ガス供給孔13
を経て処理室10に供給され、かつ排気孔12から真空
排気手段の作動により排気される。それと共に、高周波
電源から電極30に電力が印加されると放電空間40で
グロー放電が生じプラズマが得られる。このとき、磁石
要素60aのN極62aとS極63aとは、その磁界方
向が電極3oと対向電極50とが作る電界と直交するよ
うlζ配設されティるため、N極62a−3極63ar
JJ+c該当するウェハ20の被処理面の上方の位置で
強いプラズマが得られる。この強いプラズマは、N極6
2aとS極63aとの配置に従うので、ウェハ20の被
処理面の中心付近からその中心を回り周縁部に広がるよ
うに形成される。更に、磁石要素60aは、回転される
ので、強いプラズマ領域はウェハ20の被処理面に対し
て回転させられる。これにより、ウェハ20の被処理面
は全面に亘って均一で強いプラズマIζざらされ、その
結果、ウェハ20の被処理面は、高速で、かつ、均一に
エツチングされる。尚、エツチングが完了したウェハ2
0は、電極30から搬送手段に渡された後1こ、搬送手
段により処理室10から搬入出孔11.ゲートバルブを
介して副真空室に搬送される。その後、上記した操作が
再び実施されて別のウェハの被処理面が高速で、かつ、
均一化エツチングされる。
本実施例では、次のような効果を得ることができる。
(11磁石要素をウェハの被処理面に対応する位置で回
転させているので、磁石要素の移動1ζ要する空間の増
大を抑制できドライエツチング装置を小形化できる。従
って、装置の占有床面積の増大を抑制できる。これと共
に、強いプラズマをウェハの被処理面の中心付近からそ
の中心を回り周縁部に広がるよう゛に形成し、該強いプ
ラズマ領域をウェハの被処理面に対して回転させている
ので、ウェハの被処理面が全面に亘り均一なプラズマI
ζさらされウェハの被処理面のエツチングの均一・化を
図ることができる。
(2)磁石要素の大きさは、強いプラズマ領域が最大限
ウェハの被処理面の全面を覆う大きさで良いので、磁石
要素の設置に要する空間を小さくでき、この分、ドライ
エツチング装置を更に小形化できる。
第4図、第5図は、本発明の第2の実施例を示すもので
、本発明の一実施例を示す第2図、第3て広がるように
、多角形状、この場合は、四角形1ζヨーク61上に対
をなしてN極62b並び番ζS極63bが配設されミい
る点である。
本実施例では、上記した本発明の一実施例で得られた効
果の他に次のような効果を更1こ得ることができる。
+l)  棒若しくは板状の磁石を使用できるので、磁
石要素の構成が更に簡単になる。
第6図は、本発明の第3の実施例を示すもので、本発明
の一実施例を示す第3図と異なる点は、磁石要素60G
において、ヨーク61上に強磁性材料64を設け、着磁
法によって強磁性材料64をN極62C,S極63C及
び着磁しない領域65となし、平板状の磁石要素60G
が得られるよう1こした点である。
本実施例では、上記した本発明の一実施例で得られた効
果の他−ζ次のような効果を更に得ることができる。
(1)  磁石要素が平板状であるので、必要により施
こされる磁石要素の外表面保護材、保護膜の施行が容易
1こなる。
第7図は、本発明の第4の実施例を示すもので、本発明
の一実施例を示す第1図と異なる点は、磁石要素60d
において、S極63dの一端が穀層縁部でN極62dの
穀層縁端を所定の距離を有して囲むようにS極63dの
途中に結合されている点である。
本実施例では、上記した本発明の一実施例で得られた効
果の他に次のような効果を更に得ることができる。
(1)磁石要素は全体として閉磁場となり、ローレンツ
力による荷電粒子の磁場内での捕捉効果が太き(なり、
プラズマ中のイオン密度あるいは活性種の密度がより増
加するので、エツチングレートを更に増大させることが
できる。
第8図は、本発明の第5の実施例を示すもので、本発明
の一実施例を示す第3図と異なる点は、磁石要素6(l
を非磁性材料で形成された磁石固定板66とNS極を有
する磁石67とで構成し、磁石固定板66の一面側に、
磁石固定板66の中心付近から中心を回り周縁部に向っ
て広がるように、例えば、連続螺旋形状に凹を、例えば
、2条対をなして形成し、該凹に磁石67を隣り合う磁
石67のNS極をそれぞれ対応させて埋設した点である
本実施例では、上記した本発明の一実施例で得られた効
果と同様の効果を得ることができる。
尚、本発明の第5の実施例を示す第8図では、NS極を
有する磁石を非磁性材料で形成された磁石固定板に2条
理設しているが、この条数は1条でも、その他の複数条
であっても良い。又、磁石固定板の中心付近から中心を
回り周縁部に向って広がるように多角形状ζこ、NS極
を育する磁石を磁石固定板に埋設しても良い。
以上、本発明の実施例をドライエツチング装置の場合を
対象に説明したが、ここで次の変化があっても本発明の
効果に本質的な相異は無く、したがって当然、本発明の
範囲内に包含されるものである。
電 (1)放電/極に印加する電力が低周波の場合、直流の
場合。
(2)上記電力が対向電極Iζ印加される場合。
(3)被処理物が設置される電極が処理室の内部に独立
した電極として構成された場合。
(4)  処理室に供給されるガスが不活性ガスの場合
、活性ガスの場合、両者の混合ガスの場合。
(3)プラズマによる処理目的がスパッタリングの場合
、気相成長の場合。
(6)ガスが対向電極の下面から供給される場合、被処
理物質が設置される電極の上面かつ被処理物質の下方の
周縁部から供給される場合。
(7)被処理物質が設置される電極、対向電極が温度制
御される場合、制御されない場合。
(?)被処理物質が処理中に温度制御される場合、され
ない場合。
又、磁石要素の電界と直角な面内での回転には、交互回
動も勿論含まれる。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したよう1こ、電界と直交する磁界
を作る磁石要素を磁石固定板と磁石とで構成し、磁石固
定板の中心を回りつつ周縁部1こ向って広がるように磁
石固定板に磁石を配設し、該磁石要素と電界と直角な面
内で回動可能に設けたことで、磁石要素の移動に要する
空間を抑制すると共に、被処理物質の被処理面が全面に
亘り均一なプラズマ番こさらされるので、装置を小形化
でき装置の設置占有床面積の増大を抑制できると共に、
被処理物質の処理の均一化を図ることができるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明によるプラズマ処理装置の一実施例を
示す平行平板型ドライエツチング装置の処理室部の縦断
面図、第2図は、第1図の磁石要素の平面図、第3図は
、第2図のA−AtJ!断面図、第4図は、本発明によ
るプラズマ処理装置の第2の実施例を示す磁石要素の平
面図、第5図は、第4図のB−B挽断面図、第6図は、
本発明によるプラズマ処理装置の第3の実施例を示す磁
石要素の第3図と同一部分での断面図、第7図は、本発
明1ζよるプラズマ処理装置の第4の実施例を示す磁石
要素の第2図と同様の平面図、第8図は、本発明による
プラズマ処理装置の第5の実施例を示す磁石要素の第3
図と同一部分での断面図、第9は、従来のプラズマ処理
装置例を示す処理室部の縦断面図、第10図は、第9図
の磁石要素の平面図である。 60.60aないし60e・・・・・・磁石要素、61
・・・・・・ヨーク、62aないし62d・・・・・・
N極、63aないし63d・・・・・・S極、66・・
・・・・磁石固定板、67・・・・・・磁石 す1回

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、真空下のガスを電界と該電界に直交する磁界との作
    用のもとでプラズマ化し、該プラズマ中のイオン或は活
    性種によって被処理物質を処理する装置において、前記
    磁界を作る磁石要素を磁石固定板と磁石とで構成し、磁
    石固定板の中心を回りつつ周縁部へ向って広がるように
    磁石を磁石固定板に配設し、該磁石要素を前記電界と直
    角な面内で回転可能に設けたことを特徴とするプラズマ
    処理装置。
JP59194695A 1984-09-19 1984-09-19 プラズマ処理装置 Pending JPS6174339A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59194695A JPS6174339A (ja) 1984-09-19 1984-09-19 プラズマ処理装置
KR1019850006846A KR900005347B1 (ko) 1984-09-19 1985-09-19 플라즈마 처리장치
US06/777,725 US4631106A (en) 1984-09-19 1985-09-19 Plasma processor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59194695A JPS6174339A (ja) 1984-09-19 1984-09-19 プラズマ処理装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005232593A (ja) * 2004-01-07 2005-09-02 Applied Materials Inc フラットパネルスパッタリングの二次元マグネトロン走査
JP2008038252A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Applied Materials Inc 複数マグネトロン、特に二段型褶曲マグネトロンの連動走査
JP2009503255A (ja) * 2005-07-25 2009-01-29 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド ラージフラットパネルにスパッタリングする方法及び装置

Cited By (3)

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