JPS6171179A - ア−ク溶接の溶接性判定方法 - Google Patents
ア−ク溶接の溶接性判定方法Info
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- JPS6171179A JPS6171179A JP19353984A JP19353984A JPS6171179A JP S6171179 A JPS6171179 A JP S6171179A JP 19353984 A JP19353984 A JP 19353984A JP 19353984 A JP19353984 A JP 19353984A JP S6171179 A JPS6171179 A JP S6171179A
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- Japan
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- welding
- current
- voltage
- short circuit
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/06—Arrangements or circuits for starting the arc, e.g. by generating ignition voltage, or for stabilising the arc
- B23K9/073—Stabilising the arc
- B23K9/0738—Stabilising of the arc by automatic re-ignition means
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Arc Welding Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は００２およびＭＡＧ溶接寺における溶接作業性
を自動的、定食的に判定する方法に関する。
を自動的、定食的に判定する方法に関する。
ＣＯ２およびＭＡＧ溶接では、良好な溶接が行なえる電
圧値は使用するｔｆｉ［によって異なる。又、電圧を適
正値に設定しても、アーク状！ｇｌは″［流値によって
Ａなる。したがって、各を流値ごとに適正な電圧値の設
定を行５ためには、作業者の相当な経験・技量等が８璧
でｂる。しかし、作業者による設定は、作業者自身の経
験、技量、好み寺によって決まる定性的なもので６９、
優秀な作業者でおればあるほどその設定は正しいと言え
るが、−！８に個人差がおり、統一的な基準を求めるこ
とは不可能でおる。
圧値は使用するｔｆｉ［によって異なる。又、電圧を適
正値に設定しても、アーク状！ｇｌは″［流値によって
Ａなる。したがって、各を流値ごとに適正な電圧値の設
定を行５ためには、作業者の相当な経験・技量等が８璧
でｂる。しかし、作業者による設定は、作業者自身の経
験、技量、好み寺によって決まる定性的なもので６９、
優秀な作業者でおればあるほどその設定は正しいと言え
るが、−！８に個人差がおり、統一的な基準を求めるこ
とは不可能でおる。
一万、電流値ごとに適正な電圧設定ができる調整ンマｉ
位ｆｔ表示する方法、るるいは、前もってｔｔ電流値応
じた適正電圧値をプリセントしておき、作業者の設定す
る電圧値と一致した場合にランプ七点灯嘔ゼる方法寺に
より、未熟練作業者でも条件設定ができるようになって
いるのもある。
位ｆｔ表示する方法、るるいは、前もってｔｔ電流値応
じた適正電圧値をプリセントしておき、作業者の設定す
る電圧値と一致した場合にランプ七点灯嘔ゼる方法寺に
より、未熟練作業者でも条件設定ができるようになって
いるのもある。
しかし、これらの適正電圧値は、熟練作業者がるる一定
の作業環境のもとに規準作業全行って求めた値でおり、
糧々広範囲な実際の溶接作業条件・環境においても、す
べて満足する値とは限らない。
の作業環境のもとに規準作業全行って求めた値でおり、
糧々広範囲な実際の溶接作業条件・環境においても、す
べて満足する値とは限らない。
すなわち、適正値とされている電圧が、実際の作条では
高過き′た９低過き゛た９することがおる。
高過き′た９低過き゛た９することがおる。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくし、作
業者の熟練度に関係なく、作業条件・環境か変化しても
、それに応じた適正な溶接条件を設定できるようにする
ことにおる。
業者の熟練度に関係なく、作業条件・環境か変化しても
、それに応じた適正な溶接条件を設定できるようにする
ことにおる。
本発明は、母材とワイヤが短絡する期間と母材とワイヤ
の間にアークを発生する期間を交互に（９返えすＣＯ２
ろるいはＭＡ（ｒ溶接において、各周期の母材とワイヤ
が短絡する期間中に与えられる入熱の変化度を用いて溶
接性を判定することを特徴とするものである。
の間にアークを発生する期間を交互に（９返えすＣＯ２
ろるいはＭＡ（ｒ溶接において、各周期の母材とワイヤ
が短絡する期間中に与えられる入熱の変化度を用いて溶
接性を判定することを特徴とするものである。
一般に、ＣＯ２あるいはＭＡＧ浴接に、第１図のように
、溶接電圧が低く、溶接電流が、急激に増力する短絡期
間と、溶接電圧が高く溶接通流が減少するアーク期関金
交互にく９返して行なわれる。
、溶接電圧が低く、溶接電流が、急激に増力する短絡期
間と、溶接電圧が高く溶接通流が減少するアーク期関金
交互にく９返して行なわれる。
これら２つの期間のうち、短絡期間は、１１Ｅａピンチ
カによって溶滴をワイヤから離脱さゼるための期間で６
９、溶接環流の変化負も大きく、溶接性に大きな影＃を
与える。
カによって溶滴をワイヤから離脱さゼるための期間で６
９、溶接環流の変化負も大きく、溶接性に大きな影＃を
与える。
第１図において、破線で示した短絡期間中の溶接１を流
の平均値へ６０．について、溶接電流１５０Ａで００２
溶接を行った場合の分布を求めると、溶接電圧の変化に
ともない第２崗〜第８１のようでおる。図中、左上に示
しｆｃ値が溶接電圧、右上に示した丸印は熟練作業者が
４！ｔＩ足した溶接性を示す記号でおる。なお、溶接性
？示す記号は、黒い部分が多い程、済接性が悪いこと全
意味する。
の平均値へ６０．について、溶接電流１５０Ａで００２
溶接を行った場合の分布を求めると、溶接電圧の変化に
ともない第２崗〜第８１のようでおる。図中、左上に示
しｆｃ値が溶接電圧、右上に示した丸印は熟練作業者が
４！ｔＩ足した溶接性を示す記号でおる。なお、溶接性
？示す記号は、黒い部分が多い程、済接性が悪いこと全
意味する。
適正電圧でに、”Ｉ−＆Ｙ＠ のバラツキが少なく、
ピークｊ［ｋ中心としたほぼ対称の分布を示すが（第４
図、第５９、第６図ン、溶接性か悪くなるに従い、対称
性がな（なり、さらにはピーク値がそれほど＆Ａ瞭でな
い大きいバラツキのめる分布となる（第２図、第８図）
。この傾向は低電圧側、高置圧側ともにほぼ同様でろる
。このような傾向は、工１．１□以外に、短絡時の最大
電流ＸＩ！ｌ＆工、短絡時の実効′直流”ｍ−ｅｒｒお
よび短絡期間中の電流と電圧の積の和である電力Ｐａに
も認められる。
ピークｊ［ｋ中心としたほぼ対称の分布を示すが（第４
図、第５９、第６図ン、溶接性か悪くなるに従い、対称
性がな（なり、さらにはピーク値がそれほど＆Ａ瞭でな
い大きいバラツキのめる分布となる（第２図、第８図）
。この傾向は低電圧側、高置圧側ともにほぼ同様でろる
。このような傾向は、工１．１□以外に、短絡時の最大
電流ＸＩ！ｌ＆工、短絡時の実効′直流”ｍ−ｅｒｒお
よび短絡期間中の電流と電圧の積の和である電力Ｐａに
も認められる。
第９図は上記１６０ＡのＣＯ溶接時の一、エ の標之偏
差σ工、＆８と溶接電圧の関係を示したものである。σ
工□Ｘは、適正電圧で小い値となり、適正電圧から外れ
、溶接性が悪くなるにつれて大きい個となる。この傾向
は、工８．い、の標準偏差σＸＳ、＆Ｖ＊ 。
差σ工、＆８と溶接電圧の関係を示したものである。σ
工□Ｘは、適正電圧で小い値となり、適正電圧から外れ
、溶接性が悪くなるにつれて大きい個となる。この傾向
は、工８．い、の標準偏差σＸＳ、＆Ｖ＊ 。
Ｘｌ・６１．の標単偏差σ工Ｈｅａｒｔ についても
同様でろ９、それぞれ第１０図、第１１図に示す。又、
これらの傾向は溶接磯の種類が異なっても同様でるる。
同様でろ９、それぞれ第１０図、第１１図に示す。又、
これらの傾向は溶接磯の種類が異なっても同様でるる。
也の機椙についてのσ、□工、σ１ｓ＊ｕｖ＊ｌσ１゜
、。、。
、。、。
の１例をそれぞれ第１２図、第１３図および第１４図に
示す。
示す。
さらに、％ａＭ、シールドガス組成が変化しても、これ
らの傾向は変わらない。１例として、２００Ａ（７）Ｇ
ｏ２浴接時のσｌｍ１ｘｌσＩｏ＝ａｖｓ ｋそれツレ
第１５図、第１６図に、シールドガス組ｇがｃｏ２＋ｓ
ｏ％人ｒｆ用いた１５０Ａのｕ入ｃｇｆｆ１時のσＸ
□工、ｆｆｌｍ−’＊ｖ＊ をそれぞれ第１９図、第
２０図に示す。
らの傾向は変わらない。１例として、２００Ａ（７）Ｇ
ｏ２浴接時のσｌｍ１ｘｌσＩｏ＝ａｖｓ ｋそれツレ
第１５図、第１６図に、シールドガス組ｇがｃｏ２＋ｓ
ｏ％人ｒｆ用いた１５０Ａのｕ入ｃｇｆｆ１時のσＸ
□工、ｆｆｌｍ−’＊ｖ＊ をそれぞれ第１９図、第
２０図に示す。
溶接を流が２００Ａ程度になると通用できないが、それ
以下の典型的なショートアーク移行像域ではＰｇＯ標準
偏差σ、Ｓ についても上記した傾向、−がある。その
１例を示すと第１９図、第２０図のようでｂる。第１９
図は、第９図〜第１１図と。
以下の典型的なショートアーク移行像域ではＰｇＯ標準
偏差σ、Ｓ についても上記した傾向、−がある。その
１例を示すと第１９図、第２０図のようでｂる。第１９
図は、第９図〜第１１図と。
第２０図は第１２図〜第１４図と同−溶接時のσ１．と
溶接’ＱＣＥＥの関係でおる。
溶接’ＱＣＥＥの関係でおる。
以上のように、σ□１．．°σＩｓ−ｍｖｅｌσ１６．
。１．およびσ４．いずれを用いても、溶接性を評価す
ることができる。又、これらの標準偏差が最小となる電
圧値の設定を行なえば、適正条件の設定となる。
。１．およびσ４．いずれを用いても、溶接性を評価す
ることができる。又、これらの標準偏差が最小となる電
圧値の設定を行なえば、適正条件の設定となる。
第２１図は本発明の一５！施例のブロック図でおる。図
において、溶接電源１ｆｉ所定の送圧ｔワイヤ２と母材
４の間に印１セしめる。ワイヤ２は母材４を溶接するた
め、送給ローラ３によって所定速度で送給される。この
ワイヤ２の送り速度に溶接電流がはＸ比例する。図では
省略てれているが、ワイヤ２の先端部にはトーチがお９
、ワイヤの送りとともにＣ０２やＭＡＧガスが噴出する
ようになっている。５は溶接電流全測足するための分流
器、６および７はそれぞれ溶接紙圧、溶接電流を測定し
、所定のレベルに増幅するための電圧検出器お工び電流
検出器である。該電圧検出器６および電流検出器７の出
力はアナログ・ディジタル変換器（＾／ＤＫ換器ン８に
より所定の間隔でサンプリング場れてディジタル堰の電
圧データ、電流データに！換され、順次、中央処理装置
（ＩＰＵ）９に入力される。ＣＰＵＰでは、入力された
電圧データ、電流データにより最大短絡電流、短絡時の
電流平均頭、短絡時の実効ＴＬ流おるいは短絡時の電流
の標単偏差を求め、該標ｓｙａ差が最小値となるように
溶接条件の設定を行う。ｃｐυ９がら出力された酸三増
減データはディジタル・アナログ変換器ＣＤ／人ｆ換器
ン１５でアナログ信号に変換され、出力制御回路１４を
介して溶接電源１の出力電圧の増減が行われる。１ｏは
ｃｐｕ９の処理結果を表示するディスプレイ、１１は入
力された電圧・電流データ、演算の途中データ、各種の
定数、およびＣＰＵ９の処理プログラム等を格納するメ
モリ、１２はＣｊＰＵ９の処理に必要とする各種の定数
、初期データ等金入力するキーボードでおる。
において、溶接電源１ｆｉ所定の送圧ｔワイヤ２と母材
４の間に印１セしめる。ワイヤ２は母材４を溶接するた
め、送給ローラ３によって所定速度で送給される。この
ワイヤ２の送り速度に溶接電流がはＸ比例する。図では
省略てれているが、ワイヤ２の先端部にはトーチがお９
、ワイヤの送りとともにＣ０２やＭＡＧガスが噴出する
ようになっている。５は溶接電流全測足するための分流
器、６および７はそれぞれ溶接紙圧、溶接電流を測定し
、所定のレベルに増幅するための電圧検出器お工び電流
検出器である。該電圧検出器６および電流検出器７の出
力はアナログ・ディジタル変換器（＾／ＤＫ換器ン８に
より所定の間隔でサンプリング場れてディジタル堰の電
圧データ、電流データに！換され、順次、中央処理装置
（ＩＰＵ）９に入力される。ＣＰＵＰでは、入力された
電圧データ、電流データにより最大短絡電流、短絡時の
電流平均頭、短絡時の実効ＴＬ流おるいは短絡時の電流
の標単偏差を求め、該標ｓｙａ差が最小値となるように
溶接条件の設定を行う。ｃｐυ９がら出力された酸三増
減データはディジタル・アナログ変換器ＣＤ／人ｆ換器
ン１５でアナログ信号に変換され、出力制御回路１４を
介して溶接電源１の出力電圧の増減が行われる。１ｏは
ｃｐｕ９の処理結果を表示するディスプレイ、１１は入
力された電圧・電流データ、演算の途中データ、各種の
定数、およびＣＰＵ９の処理プログラム等を格納するメ
モリ、１２はＣｊＰＵ９の処理に必要とする各種の定数
、初期データ等金入力するキーボードでおる。
第２１図におけるｃｐυ９全中心とする処理フローを第
２２図に示す。
２２図に示す。
初め、所定の溶接電流工。および概略の溶接電圧ｖｏ、
サンプリングを行うデータ数Ｎ、溶接電圧・溶接ｘｉの
サンプリング間隔Ｓ、短絡／アークの判定電圧Ｖｊ、お
よび溶接性を判定するのに用いる波形データの稽類の設
定、最小値算出のだめの初期データｎ、Ｚｏ等をキーボ
ード１２より入力する（ステップ１０１，１０２）。サ
ンプリングデータ数Ｎは、大きければ大きい程正確なデ
ータ金得ることができる力１、その分、サンプリングに
時間がかかり、かつメモリ容量も大きくしなければなら
ないため、５００〜１０００程度にすればよい。
サンプリングを行うデータ数Ｎ、溶接電圧・溶接ｘｉの
サンプリング間隔Ｓ、短絡／アークの判定電圧Ｖｊ、お
よび溶接性を判定するのに用いる波形データの稽類の設
定、最小値算出のだめの初期データｎ、Ｚｏ等をキーボ
ード１２より入力する（ステップ１０１，１０２）。サ
ンプリングデータ数Ｎは、大きければ大きい程正確なデ
ータ金得ることができる力１、その分、サンプリングに
時間がかかり、かつメモリ容量も大きくしなければなら
ないため、５００〜１０００程度にすればよい。
サンプリング間隔Ｓは、短かければ短かい程正確なデー
タが得られるが、ｆはクメモリ容量にも関係するため、
小ｌＩＬ流域では０．１ ｒｎｍ程度、大電流域でＩｄ
ｏ、Ｚｍｓ程民にすれば、実用上問題とはならない。短
絡／アークの判定電圧’／ｊは、を流値に関係なく約１
０１／程度の値としてもよいが、を流値に応じて、短絡
適圧、溶滴の移行形態等が変化する之め、例えば、 １≦２００人の場合 Ｖｊ−１０Ｖ ２００Ａ＜Ｉ≦２５ＯＡの場合 Ｖｊ−１５Ｖ２５０
Ａ＜ＩＣＩ場合 Ｖｊ −２０Ｖの工うに、砥元値に
応じて多少変化さセるほうが良い結果を得ることができ
る。
タが得られるが、ｆはクメモリ容量にも関係するため、
小ｌＩＬ流域では０．１ ｒｎｍ程度、大電流域でＩｄ
ｏ、Ｚｍｓ程民にすれば、実用上問題とはならない。短
絡／アークの判定電圧’／ｊは、を流値に関係なく約１
０１／程度の値としてもよいが、を流値に応じて、短絡
適圧、溶滴の移行形態等が変化する之め、例えば、 １≦２００人の場合 Ｖｊ−１０Ｖ ２００Ａ＜Ｉ≦２５ＯＡの場合 Ｖｊ−１５Ｖ２５０
Ａ＜ＩＣＩ場合 Ｖｊ −２０Ｖの工うに、砥元値に
応じて多少変化さセるほうが良い結果を得ることができ
る。
次に溶接？開始しくステップ１０３ン、ｎ−ｎ十１とし
た後（ステップ１０４）、電圧検出器６、を流検出器７
で検出された浴接電圧、溶接電流をＡ ／ Ｄ変換器８
により所定の間隔Ｓでサンプリングしディジタル変換し
て浴接（圧データｖ（１）、電流データＩ （ｉＪ （
ｉはサンプリング番号を示す）を得、ＣＰυ９七通して
メモリ１１へ記憶する（ステップ１０５〜１０７）。溶
接紙圧／電流データのサンプリングは、前もって設定し
たサンプル数ＮＫ達するまで行う（ステップ１０８，１
０９）。
た後（ステップ１０４）、電圧検出器６、を流検出器７
で検出された浴接電圧、溶接電流をＡ ／ Ｄ変換器８
により所定の間隔Ｓでサンプリングしディジタル変換し
て浴接（圧データｖ（１）、電流データＩ （ｉＪ （
ｉはサンプリング番号を示す）を得、ＣＰυ９七通して
メモリ１１へ記憶する（ステップ１０５〜１０７）。溶
接紙圧／電流データのサンプリングは、前もって設定し
たサンプル数ＮＫ達するまで行う（ステップ１０８，１
０９）。
溶接電圧データＶ （ｉｌ、溶接電流データエ（１）の
サンプリングか完了すると、メモリ１１よりＶ （１）
ｋ順次読み出し、前もって設定したＶｊと比較するこ
とにより、短絡開始点５ （Ｆｉｌとアーク開始点Ｔｆ
Ｒ１を求め、メモリ１１へ記憶する（ステップ１１０）
。
サンプリングか完了すると、メモリ１１よりＶ （１）
ｋ順次読み出し、前もって設定したＶｊと比較するこ
とにより、短絡開始点５ （Ｆｉｌとアーク開始点Ｔｆ
Ｒ１を求め、メモリ１１へ記憶する（ステップ１１０）
。
第２４図は溶擬′亀王の変化と短絡開始点Ｓ（■、アー
ク開始点ＴＩＲＪＣｒ）関係を示したものでおる。第２
４図に示すように、Ｖ（勾は短絡期間ではｌ／ｊより低
く、アーク期間ではｖｊより高くなる。そこで、各サン
プリング点のＶ （ｉＪとＶｊの大小を順次比較するこ
とにより、短絡開始点Ｓ （Ｒ１はｖ（１）がＶ（工１
＞Ｖｊかも１／（ｉｌ＜ＶｊＫ変化する点として、アー
ク開始点丁ｔＦＱｔ′ｉ逆にｖ（１）が”／ （１）
＜ ｖｊからＹ（１）＞Ｖｊに変化する点として求まる
。
ク開始点ＴＩＲＪＣｒ）関係を示したものでおる。第２
４図に示すように、Ｖ（勾は短絡期間ではｌ／ｊより低
く、アーク期間ではｖｊより高くなる。そこで、各サン
プリング点のＶ （ｉＪとＶｊの大小を順次比較するこ
とにより、短絡開始点Ｓ （Ｒ１はｖ（１）がＶ（工１
＞Ｖｊかも１／（ｉｌ＜ＶｊＫ変化する点として、アー
ク開始点丁ｔＦＱｔ′ｉ逆にｖ（１）が”／ （１）
＜ ｖｊからＹ（１）＞Ｖｊに変化する点として求まる
。
短絡開始点５（Ｆｉｌ、アーク開始点Ｔ （Ｒ）の記憶
が完了すると、ＲｉＯ〜Ｒ−１まで順次変化さセ、各周
期毎の波形データを求める（ステップ１１１）。
が完了すると、ＲｉＯ〜Ｒ−１まで順次変化さセ、各周
期毎の波形データを求める（ステップ１１１）。
こ〜で、波形データの種類は、
工 の場合は
エｍａｘ（Ｒ１−［Ｉ（Ｓ（Ｒ））〜Ｉ（Ｔ（Ｒ））の
中の工（１〕の最大値〕”ｌｌ”ａＹ＠の壱合は Ｐｌの場合は で６る。
中の工（１〕の最大値〕”ｌｌ”ａＹ＠の壱合は Ｐｌの場合は で６る。
このようにして求め九波形データにょｐ標準偏差Ｚｎ′
ｆｃＪｌ出しくステップ１１２）、メモリ１１に記憶す
る（ステップ１１３）。こ−で、波形データｔ ｘ ＋
ＲＪとすると、Ｘ［Ｒ１お工びＩ Ｘ（Ｒ） １２ｋｆ
ｆ算することにより、標ｆ４偏差Ｚｎは、 のようにして求めることができる。このＺｎを８妥に応
じてディスプレイ１０に表示する。
ｆｃＪｌ出しくステップ１１２）、メモリ１１に記憶す
る（ステップ１１３）。こ−で、波形データｔ ｘ ＋
ＲＪとすると、Ｘ［Ｒ１お工びＩ Ｘ（Ｒ） １２ｋｆ
ｆ算することにより、標ｆ４偏差Ｚｎは、 のようにして求めることができる。このＺｎを８妥に応
じてディスプレイ１０に表示する。
標′ｆｓｇｉ差Ｚｎが求まると、これ？前回求めたＺ。
−１と比較しくステップ１１４〕、Ｚｎ ＜ Ｚｎ−５
であれば、溶接電圧ｖを所定量（実施例では１ｖ）増加
させた後（ステップ１１５）、ステップ１０４以降の処
理を実行し、再度、Ｚｎ’ｉｒ求める。又、Ｚｎ＜Ｚｎ
−１で′彦ければ、溶接電圧ｖｔ−所定ｉ（実施例では
、同じく１ｖ）減少さセた彼（ステップ１１６）、ｚｎ
を前々回求めたｚｎ−２と比較しくステップ１１７）、
ｚｎ −ｗ ｚｎ−２でなければ、同様にステップ１０
４以降の処３！ｌｔ−実行し、再度、Ｚｎ’（ｉ−求め
る。この動作を繰り返すことにより、Ｚｎが最小となる
溶接電圧が求まる。第２１図の構成で、溶接電圧Ｖの増
減はＤ ／ 人変換５１５、出力制御回路１４の径路で
制御される。
であれば、溶接電圧ｖを所定量（実施例では１ｖ）増加
させた後（ステップ１１５）、ステップ１０４以降の処
理を実行し、再度、Ｚｎ’ｉｒ求める。又、Ｚｎ＜Ｚｎ
−１で′彦ければ、溶接電圧ｖｔ−所定ｉ（実施例では
、同じく１ｖ）減少さセた彼（ステップ１１６）、ｚｎ
を前々回求めたｚｎ−２と比較しくステップ１１７）、
ｚｎ −ｗ ｚｎ−２でなければ、同様にステップ１０
４以降の処３！ｌｔ−実行し、再度、Ｚｎ’（ｉ−求め
る。この動作を繰り返すことにより、Ｚｎが最小となる
溶接電圧が求まる。第２１図の構成で、溶接電圧Ｖの増
減はＤ ／ 人変換５１５、出力制御回路１４の径路で
制御される。
標準偏差Ｚｎの最小堰が求まると、Ｚｎの算出を中止し
、溶接停止まで溶接電圧をその値に固定してもよいしく
ステップ１１８，１１９，１２０の径路〕、常時、 Ｚ
ｒｔの算出を行い、Ｚ、が常に最小値となるように電圧
を制御してもよい（ステップ１２１への分岐）。
、溶接停止まで溶接電圧をその値に固定してもよいしく
ステップ１１８，１１９，１２０の径路〕、常時、 Ｚ
ｒｔの算出を行い、Ｚ、が常に最小値となるように電圧
を制御してもよい（ステップ１２１への分岐）。
本実施ｆｌＪでは、溶接電圧を増減さセて、Ｚｎｆ）Ｒ
１小個を求める方法につい℃説明したが、電圧の代わ９
に、電流すなわちワイヤ送給ｔを増減さゼて、２、のｉ
＆ｌＪＳ櫃を求める方法としても同様の効果が得ら′れ
るのは言うまでもない。
１小個を求める方法につい℃説明したが、電圧の代わ９
に、電流すなわちワイヤ送給ｔを増減さゼて、２、のｉ
＆ｌＪＳ櫃を求める方法としても同様の効果が得ら′れ
るのは言うまでもない。
第２３図ｒｉ第２２図におけるステップ１１０の短絡／
γ−り判定処理の詳細フローを示したものでおる。第２
３図では短絡開始点５ （Ｒ１を求めることから処理が
始するとしている。
γ−り判定処理の詳細フローを示したものでおる。第２
３図では短絡開始点５ （Ｒ１を求めることから処理が
始するとしている。
まず、ｉ−Ｑ、Ｒ−０とした後（ステップ２０１゜２０
２〕、メモリ８より最初のサンプリング点（１−０）の
溶接電圧データ’／（０１を読み出し、Ｖ３と比較する
（ステップ２０３ ）。そして、Ｖ（０）＞Ｖ５でろれ
ばステップ２０６に行く力１、ｖ（０）≦ｖ３でｂれば
１−１にして（ステップ２０４）、次のサンプリング点
（１−１）のＶ （１１’に読み出し、ｖコと比較する
（ステップ２０５）。■（１）≦Ｖｊの間、ステップ２
０４，２０５の処理ｆｔ繰り返す。第２４図よｎ Ｖ
Ｉｊｌ ＜ Ｖ４１ｒ’ｒ ＡＨＲｊｌｌｊｉ藺を音
瞭す：Ｌ−Ｖｌｉｌ ＞ Ｖ（になると、ｉ−１＋ｌと
してｉ＜Ｎｉ判定しくステップ２０６，２０７）、ｉ）
Ｎでろると該判定処理を終了する力１、ｉ＜Ｈの場合は
、Ｖ ［ｉｌ全読み出してｖ（ｉｌ＞ＶＦｔ判定する（
ステップ２０８）。そして、Ｖ （１） ＞ ｖコの間
、ステップ２０６へ２０８の処理を繰り返す。第３５図
より、ｌｉｔ＞Ｖｊｔｔアーク期間を意味する。ステッ
プ２０６〜２０８の処理？繰り返し、Ｖ（ｉＪ≦ｖ５に
なると、その点が短絡開始点Ｓ （Ｒ１ｋ ：を味する
。こ（Ｄ Ｒ３ｉＲＪに対応するサンプリング点（ｉＪ
ｔ−メモリ・１５の所定番地に格納する（ステップ２
０９）。次に、ｉ−１＋１として１＜Ｎｉ判定しくステ
ップ２１０，２１１）、１〉Ｎ′ｃ４ると判定処理を終
了するが、ｉ＜Ｈの場合は、Ｖ（ｉｌ−読み出してｖ（
１）≦Ｖｊ’を判定する（ステップ２１２）。そして、
■（１）≦ｌ／ｊの間、ステップ２１０〜２１２の処理
を繰り返す。このようにしてＶ（ｉｌ＞ＶｊＫなると、
その点がアーク開始点Ｔ （Ｒ１を意味する。このＴ（
Ｒ１に対応するサンプリング点（１）をメモリ１５に格
納する（ステップ２１５）。
２〕、メモリ８より最初のサンプリング点（１−０）の
溶接電圧データ’／（０１を読み出し、Ｖ３と比較する
（ステップ２０３ ）。そして、Ｖ（０）＞Ｖ５でろれ
ばステップ２０６に行く力１、ｖ（０）≦ｖ３でｂれば
１−１にして（ステップ２０４）、次のサンプリング点
（１−１）のＶ （１１’に読み出し、ｖコと比較する
（ステップ２０５）。■（１）≦Ｖｊの間、ステップ２
０４，２０５の処理ｆｔ繰り返す。第２４図よｎ Ｖ
Ｉｊｌ ＜ Ｖ４１ｒ’ｒ ＡＨＲｊｌｌｊｉ藺を音
瞭す：Ｌ−Ｖｌｉｌ ＞ Ｖ（になると、ｉ−１＋ｌと
してｉ＜Ｎｉ判定しくステップ２０６，２０７）、ｉ）
Ｎでろると該判定処理を終了する力１、ｉ＜Ｈの場合は
、Ｖ ［ｉｌ全読み出してｖ（ｉｌ＞ＶＦｔ判定する（
ステップ２０８）。そして、Ｖ （１） ＞ ｖコの間
、ステップ２０６へ２０８の処理を繰り返す。第３５図
より、ｌｉｔ＞Ｖｊｔｔアーク期間を意味する。ステッ
プ２０６〜２０８の処理？繰り返し、Ｖ（ｉＪ≦ｖ５に
なると、その点が短絡開始点Ｓ （Ｒ１ｋ ：を味する
。こ（Ｄ Ｒ３ｉＲＪに対応するサンプリング点（ｉＪ
ｔ−メモリ・１５の所定番地に格納する（ステップ２
０９）。次に、ｉ−１＋１として１＜Ｎｉ判定しくステ
ップ２１０，２１１）、１〉Ｎ′ｃ４ると判定処理を終
了するが、ｉ＜Ｈの場合は、Ｖ（ｉｌ−読み出してｖ（
１）≦Ｖｊ’を判定する（ステップ２１２）。そして、
■（１）≦ｌ／ｊの間、ステップ２１０〜２１２の処理
を繰り返す。このようにしてＶ（ｉｌ＞ＶｊＫなると、
その点がアーク開始点Ｔ （Ｒ１を意味する。このＴ（
Ｒ１に対応するサンプリング点（１）をメモリ１５に格
納する（ステップ２１５）。
その後、Ｒ−Ｒ＋１として（ステップ２１４）、ステッ
プ２０６以降の処理を繰り返すことにより、Ｓ （Ｒ）
、 Ｔ ｔＲＩが次々に求まる。そして、ｉ）Ｈに
なった時点で該判定処理全終了とする。
プ２０６以降の処理を繰り返すことにより、Ｓ （Ｒ）
、 Ｔ ｔＲＩが次々に求まる。そして、ｉ）Ｈに
なった時点で該判定処理全終了とする。
以上の説明から明らかな如く、本発明によれば次の工５
な効果が祷られる。
な効果が祷られる。
ｔｌｌ 熟練作業者でなければ把握できなかった溶接
性を初心者でも定量的に把握することができる。
性を初心者でも定量的に把握することができる。
（２１適正条件の設定を行うために必要とされていた作
粟者の経験・技量は不要となり、条件設定を自動的に行
うことができる。
粟者の経験・技量は不要となり、条件設定を自動的に行
うことができる。
ｉ３１ 作業条件・環境等が変化しても、その状況に
応じた適正な条件の設定を行うことができる。
応じた適正な条件の設定を行うことができる。
第１図はアーク溶接の″電流・電圧波形の説明図、第２
図乃至第８図は短絡時の平均を流の各電圧毎の分布を示
す図、第９図〜第１４図は１５０ＡのＣＯ２浴接におけ
る＠標準偏差と電圧の関係を示す図、第１５図と第１６
図は２００ＡＯ（１０２溶接に３ける標準偏差と紙圧の
関係を示す図、第１７図と第１８図は１３０ＡのＭＡＧ
溶接における標準偏差と電圧の関係金示す図、第１９図
と第２０図は１５０ＡのＣＯ２浴接における他の標準偏
差と電圧の関係を示す図、第２１図は本発明の一実施例
のブロック図、第２２図は第２１囚の動作音説明する全
体７０−図、第２５図は第２２図における短絡／アーク
判定処理ステップの詳細フロー図、第２４図は短絡／ア
ーク開始点の説明図でるる。 １・・・溶接電源、２・・・ワイヤ、３・・・給送ロー
ラ、４・・・母材、５・・・分流器、６・・・電圧検出
器、７・・・電流検出器、８・・・Ａ ／ Ｄ変換器、
９・・・ＣＰＵ、１０°°°デイスプレイ、１１・・・
メモリ、１２・・・キーボード、１５・・・Ｄ ／ Ａ
変換器、１４・・・出力制御回路。 第 ２ 図 ＣＶ）（Ｖ） 第 １５ 図 第 １６ 同第２
１ 図 第 ２２ 図 第 ２３ 図 第 ２４ 図
図乃至第８図は短絡時の平均を流の各電圧毎の分布を示
す図、第９図〜第１４図は１５０ＡのＣＯ２浴接におけ
る＠標準偏差と電圧の関係を示す図、第１５図と第１６
図は２００ＡＯ（１０２溶接に３ける標準偏差と紙圧の
関係を示す図、第１７図と第１８図は１３０ＡのＭＡＧ
溶接における標準偏差と電圧の関係金示す図、第１９図
と第２０図は１５０ＡのＣＯ２浴接における他の標準偏
差と電圧の関係を示す図、第２１図は本発明の一実施例
のブロック図、第２２図は第２１囚の動作音説明する全
体７０−図、第２５図は第２２図における短絡／アーク
判定処理ステップの詳細フロー図、第２４図は短絡／ア
ーク開始点の説明図でるる。 １・・・溶接電源、２・・・ワイヤ、３・・・給送ロー
ラ、４・・・母材、５・・・分流器、６・・・電圧検出
器、７・・・電流検出器、８・・・Ａ ／ Ｄ変換器、
９・・・ＣＰＵ、１０°°°デイスプレイ、１１・・・
メモリ、１２・・・キーボード、１５・・・Ｄ ／ Ａ
変換器、１４・・・出力制御回路。 第 ２ 図 ＣＶ）（Ｖ） 第 １５ 図 第 １６ 同第２
１ 図 第 ２２ 図 第 ２３ 図 第 ２４ 図
Claims (3)
- （１）母材とワイヤが短絡する期間と母材とワイヤの間
にアークを発生する期間を交互に繰り返して溶接を実施
するアーク溶接において、各繰り返し周期の、母材とワ
イヤが短絡する期間中に与えられる入熱の変化度を用い
て溶接性を判定することを特徴とするアーク溶接の溶接
性判定方法。 - （２）前記入熱の変化度を、最大短絡電流、短絡時の電
流の平均値、短絡時の実効電流および短絡時の電力のう
ちのいずれか１つの標準偏差を用いて表わすことを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のアーク溶接の溶接性
判定方法。 - （３）前記標準偏差が最小値となるように溶接条件の設
定を行うことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の
アーク溶接の溶接性判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59193539A JPH0653310B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59193539A JPH0653310B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6171179A true JPS6171179A (ja) | 1986-04-12 |
| JPH0653310B2 JPH0653310B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=16309753
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59193539A Expired - Fee Related JPH0653310B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0653310B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004122180A (ja) * | 2002-10-02 | 2004-04-22 | Nippon Sanso Corp | 溶接条件選定装置及び溶接検査装置 |
| JP2005144543A (ja) * | 2003-11-20 | 2005-06-09 | Yaskawa Electric Corp | 溶接システム |
| US20190337080A1 (en) * | 2017-01-24 | 2019-11-07 | Daihen Corporation | Arc welding control method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS558396A (en) * | 1978-05-30 | 1980-01-21 | Thermal Dynamics Corp | Shorttcircuit arc welder |
-
1984
- 1984-09-14 JP JP59193539A patent/JPH0653310B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS558396A (en) * | 1978-05-30 | 1980-01-21 | Thermal Dynamics Corp | Shorttcircuit arc welder |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004122180A (ja) * | 2002-10-02 | 2004-04-22 | Nippon Sanso Corp | 溶接条件選定装置及び溶接検査装置 |
| JP2005144543A (ja) * | 2003-11-20 | 2005-06-09 | Yaskawa Electric Corp | 溶接システム |
| US20190337080A1 (en) * | 2017-01-24 | 2019-11-07 | Daihen Corporation | Arc welding control method |
| US11724329B2 (en) * | 2017-01-24 | 2023-08-15 | Daihen Corporation | Arc welding control method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0653310B2 (ja) | 1994-07-20 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |