JPS6170434A - 非球面レンズの検査装置 - Google Patents
非球面レンズの検査装置Info
- Publication number
- JPS6170434A JPS6170434A JP59191767A JP19176784A JPS6170434A JP S6170434 A JPS6170434 A JP S6170434A JP 59191767 A JP59191767 A JP 59191767A JP 19176784 A JP19176784 A JP 19176784A JP S6170434 A JPS6170434 A JP S6170434A
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- JP
- Japan
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- lens
- stylus
- aspherical
- rotary table
- aspherical lens
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
- G01B7/282—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures for measuring roundness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は非球面レンズの非球面形状を検査する検査装
置に関するものである。
置に関するものである。
［従来の技術］
近汗、各種の光学ｎ器において、球面固有の収差を解決
するため非球面レンズを用いる試みがなされているが、
その場合には、製造された非球面レンズが設計どおりの
非球面形状をなしているかどうか検査する必要があり、
そのための装置の１つとして触針子を利用したものがあ
る。
するため非球面レンズを用いる試みがなされているが、
その場合には、製造された非球面レンズが設計どおりの
非球面形状をなしているかどうか検査する必要があり、
そのための装置の１つとして触針子を利用したものがあ
る。
この種の検査装置は従来から種々提案されているが、そ
れらはいずれも、非球面レンズの表面に接触させる触針
子を固定しておき、非球面レンズをその基準曲率半径の
中心を通る軸線のまわりに回動させ、それに応じて非球
面レンズの半径方向に変位する触（１子の変位ｍによっ
て非球面形状を検査するようになっていた。
れらはいずれも、非球面レンズの表面に接触させる触針
子を固定しておき、非球面レンズをその基準曲率半径の
中心を通る軸線のまわりに回動させ、それに応じて非球
面レンズの半径方向に変位する触（１子の変位ｍによっ
て非球面形状を検査するようになっていた。
［発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、このような従来のものは、非球面レンズ
を取付ける回動輪と触針子を取付ける取付部材とが相関
関係をもたない別個の部材で構成されているため、回動
軸に対する位置決め誤差等の非球面レンズ側の誤差と、
取付部材に対する位置決め誤差等の触針子側の誤差とが
相互に無関係に生じ得ることとなってそのため全体とし
て大きな誤差を生じるおそれがあり、このことはとくに
再現性の点で重大な障害となり、また回動軸の直径はあ
まり大きくないため、非球面レンズを回動させる際の角
度誤差や非球面レンズの回０邑を測定する際の角度誤差
も無視できない大きさとなることが避けられず、したが
って、非球面形状の検査結果が不正確になることを免れ
ることができないという問題点があった。
を取付ける回動輪と触針子を取付ける取付部材とが相関
関係をもたない別個の部材で構成されているため、回動
軸に対する位置決め誤差等の非球面レンズ側の誤差と、
取付部材に対する位置決め誤差等の触針子側の誤差とが
相互に無関係に生じ得ることとなってそのため全体とし
て大きな誤差を生じるおそれがあり、このことはとくに
再現性の点で重大な障害となり、また回動軸の直径はあ
まり大きくないため、非球面レンズを回動させる際の角
度誤差や非球面レンズの回０邑を測定する際の角度誤差
も無視できない大きさとなることが避けられず、したが
って、非球面形状の検査結果が不正確になることを免れ
ることができないという問題点があった。
この発明は上記従来のもののもつ問題点を解決して、各
種の誤差を最少限に抑えて非球面形状を正確に検査する
ことのできる非球面レンズの検査装置を提供することを
目的とするものである。
種の誤差を最少限に抑えて非球面形状を正確に検査する
ことのできる非球面レンズの検査装置を提供することを
目的とするものである。
し問題点を解決するための手段］
この発明は上記目的を達成するため、基軸の周囲にその
中心軸線のまわりに回動可能のロータリテーブルを設け
、前記基軸に非球面レンズをその基準曲率半径の中心と
前記中心軸線とを一致させて取付け、前記ロータリテー
ブルに触針子を前記非球面レンズの表面と接触させて取
付け、前記ロータリテーブルを回動させて前記触針子に
より前記非球面レンズの非球面形状を検査するようにし
たものである。
中心軸線のまわりに回動可能のロータリテーブルを設け
、前記基軸に非球面レンズをその基準曲率半径の中心と
前記中心軸線とを一致させて取付け、前記ロータリテー
ブルに触針子を前記非球面レンズの表面と接触させて取
付け、前記ロータリテーブルを回動させて前記触針子に
より前記非球面レンズの非球面形状を検査するようにし
たものである。
［作 用］
この発明は上記手段を採用したことにより、触針子を取
付けるロータリテーブルが非球面レンズを取付ける基軸
の中心軸線のまわりに回動するから、非球面レンズ側の
誤差と触針子側の誤差とは相互に関係し合って全体とし
て誤差が最少限に抑えられ、そのためとくに再現性が向
上することとなり、またロータリテーブルの直径は基軸
の直径よりも明らかに大きいから、触針子を回動させる
際の角度誤差や触針子の回動量を測定する際の角度誤差
も最少限に抑えられ、したがって非球面形状を正確に検
査できることとなる。
付けるロータリテーブルが非球面レンズを取付ける基軸
の中心軸線のまわりに回動するから、非球面レンズ側の
誤差と触針子側の誤差とは相互に関係し合って全体とし
て誤差が最少限に抑えられ、そのためとくに再現性が向
上することとなり、またロータリテーブルの直径は基軸
の直径よりも明らかに大きいから、触針子を回動させる
際の角度誤差や触針子の回動量を測定する際の角度誤差
も最少限に抑えられ、したがって非球面形状を正確に検
査できることとなる。
［実施例］
以下、図面に示すこの発明の実施例について説明する。
図はこの発明の一実施例を示し、１は断面円形の基軸、
２は基軸１の周囲にその全周を囲み、基軸１の垂直をな
り中心軸線１ａのまわりに回１ＦＩＩ可能に設けられた
ロータリテーブルであって、基軸１とロータリテーブル
２との微小間隙には圧縮空気が吹込まれてロータリテー
ブル２はその回動中心が中心軸線１ａから実質的にぶれ
ずに回動づるようになっている。基軸１上にはレンズ取
付台３を介して、非球面レンズ４がその基準曲率半径の
中心と中心軸線１ａとを一致させて取付けられ、またロ
ータリテーブル２上には触針子取付台５およびＸＹステ
ージ６を介して、゛触針子７が非球面レンズ４の表面と
接触させて取付けられている。
２は基軸１の周囲にその全周を囲み、基軸１の垂直をな
り中心軸線１ａのまわりに回１ＦＩＩ可能に設けられた
ロータリテーブルであって、基軸１とロータリテーブル
２との微小間隙には圧縮空気が吹込まれてロータリテー
ブル２はその回動中心が中心軸線１ａから実質的にぶれ
ずに回動づるようになっている。基軸１上にはレンズ取
付台３を介して、非球面レンズ４がその基準曲率半径の
中心と中心軸線１ａとを一致させて取付けられ、またロ
ータリテーブル２上には触針子取付台５およびＸＹステ
ージ６を介して、゛触針子７が非球面レンズ４の表面と
接触させて取付けられている。
ロータリテーブル２の下方にはロータリエンコーダ８が
設けられ、ロータリテーブル２が図示しない適宜の駆動
部材により回動されるとき、ロータリテーブル２の底部
に付設された目盛９をロータリエンコーダ８が読取って
回動量を測定するようになっている。１０はロークリチ
ー１ル２と一体に回動する支持台１１に取付けられて触
針子７の後部に配置されたレーザ干渉測長別であって、
レーザ光源１２、ハーフミラ−１３、プリズム１４．１
５、受光器１６およびカウンタ１７から構成されている
。
設けられ、ロータリテーブル２が図示しない適宜の駆動
部材により回動されるとき、ロータリテーブル２の底部
に付設された目盛９をロータリエンコーダ８が読取って
回動量を測定するようになっている。１０はロークリチ
ー１ル２と一体に回動する支持台１１に取付けられて触
針子７の後部に配置されたレーザ干渉測長別であって、
レーザ光源１２、ハーフミラ−１３、プリズム１４．１
５、受光器１６およびカウンタ１７から構成されている
。
上記の検査装置は、適宜の駆動部材によりロークリテー
ブル２を回動させると、触針子７１メ非球面レンズ４の
表面を水平面に沿って走査しながらその非球面形状に応
じて非球面レンズ４の半径方向に変位し、触針子７の走
査量すなわちロータリテーブル２の回動けはロータリエ
ンコーダ８によって測定され、一方触（１子７の変位量
は、レーザ光源１２から発射されハーフミラ−１３を通
りプリズム１４で反射されハーフミラ−１３を介して受
光器１６に入射する光が、レーザ光源１２からハーフミ
ラ−１３を介してプリズム１５で反射されハーフミラ−
１３を通って受光器１６に入射する光を参照光として干
渉されることによってカウンタ１７で測定され、回動量
の測定値と変位量の測定値とから非球面レンズ４の非球
面形状が検査されることとなる。そして、触針子７は水
平面内を回動されてつねに非球面レンズ４に対し水平方
向に接触するから、触針子７自身のｆ［がその変位量の
測定に影響を及ぼすこともないし、非球面レンズ４の表
面にきすをつけることもない なお、上記実施例では非球面レンズ４として凸 ４レン
ズを例示したが、凹レンズにも適用することができ、そ
の場合には図に鎖線で示すように、非球面レンズ４′の
基準曲率半径の中心と中心軸線１ａとが一致する位置に
レンズ取付台３′を位置決めし、触針子７′を非球面レ
ンズ４′の表面と接触するまで延長すればよい。
ブル２を回動させると、触針子７１メ非球面レンズ４の
表面を水平面に沿って走査しながらその非球面形状に応
じて非球面レンズ４の半径方向に変位し、触針子７の走
査量すなわちロータリテーブル２の回動けはロータリエ
ンコーダ８によって測定され、一方触（１子７の変位量
は、レーザ光源１２から発射されハーフミラ−１３を通
りプリズム１４で反射されハーフミラ−１３を介して受
光器１６に入射する光が、レーザ光源１２からハーフミ
ラ−１３を介してプリズム１５で反射されハーフミラ−
１３を通って受光器１６に入射する光を参照光として干
渉されることによってカウンタ１７で測定され、回動量
の測定値と変位量の測定値とから非球面レンズ４の非球
面形状が検査されることとなる。そして、触針子７は水
平面内を回動されてつねに非球面レンズ４に対し水平方
向に接触するから、触針子７自身のｆ［がその変位量の
測定に影響を及ぼすこともないし、非球面レンズ４の表
面にきすをつけることもない なお、上記実施例では非球面レンズ４として凸 ４レン
ズを例示したが、凹レンズにも適用することができ、そ
の場合には図に鎖線で示すように、非球面レンズ４′の
基準曲率半径の中心と中心軸線１ａとが一致する位置に
レンズ取付台３′を位置決めし、触針子７′を非球面レ
ンズ４′の表面と接触するまで延長すればよい。
［発明の効果］
この発明は上記のように構成したので、非球面１
レンズ側の誤差と触針子側の誤差とが相互に無関係に生
じることがなくて全体として誤差を最少限に抑えること
ができ、そのためとくに再現性を向上させることができ
、また非球面レンズを取付ける従来の回動軸に対応した
基軸よりも直径が明らかに大きいロータリテーブルを回
動さ辻るから、触針子を回動させる際の角度誤差や触針
子の回動量を測定する際の角度誤差も最少限に抑えるこ
とができ、したがって、各種の誤差を最少限に抑えて非
球面レンズの非球面形状を正確に検査することができる
等のすぐれた効果を有するものである。
レンズ側の誤差と触針子側の誤差とが相互に無関係に生
じることがなくて全体として誤差を最少限に抑えること
ができ、そのためとくに再現性を向上させることができ
、また非球面レンズを取付ける従来の回動軸に対応した
基軸よりも直径が明らかに大きいロータリテーブルを回
動さ辻るから、触針子を回動させる際の角度誤差や触針
子の回動量を測定する際の角度誤差も最少限に抑えるこ
とができ、したがって、各種の誤差を最少限に抑えて非
球面レンズの非球面形状を正確に検査することができる
等のすぐれた効果を有するものである。
図はこの発明の一実施例を示す説明図である。
１・・・基軸、２・・・ロータリテーブル、３，３′・
・・レンズ取付台、４．４′・・・非球面レンズ、５・
・・触針子取付台、６・・・ＸＹステージ、７，７′・
・・触針子、８・・・ロータリエンコーダ、９・・・目
盛、１０・・・レーザ干渉測長憬、１１・・・支持台、
１２・・・レーザ光源、１３・・・ハーフミラ−１１４
，１５・・・プリズム、１６・・・受光器、１７・・・
カウンタ 出 願 人 株式会社保谷硝子
・・レンズ取付台、４．４′・・・非球面レンズ、５・
・・触針子取付台、６・・・ＸＹステージ、７，７′・
・・触針子、８・・・ロータリエンコーダ、９・・・目
盛、１０・・・レーザ干渉測長憬、１１・・・支持台、
１２・・・レーザ光源、１３・・・ハーフミラ−１１４
，１５・・・プリズム、１６・・・受光器、１７・・・
カウンタ 出 願 人 株式会社保谷硝子
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 基軸の周囲にその中心軸線のまわりに回動可能のロ
ータリテーブルを設け、前記基軸に非球面レンズをその
基準曲率半径の中心と前記中心軸線とを一致させて取付
け、前記ロータリテーブルに触針子を前記非球面レンズ
の表面と接触させて取付け、前記ロータリテーブルを回
動させて前記触針子により前記非球面レンズの非球面形
状を検査するようにしたことを特徴とする非球面レンズ
の検査装置。 ２ 前記基軸は断面円形に形成されている特許請求の範
囲第１項記載の非球面レンズの検査装置。 ３ 前記ロータリテーブルは前記基軸の全周を囲んでい
る特許請求の範囲第２項記載の非球面レンズの検査装置
。 ４ 前記触針子は前記ロータリテーブルの回動により水
平面内を回動される特許請求の範囲第１項記載の非球面
レンズの検査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59191767A JPS6170434A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 非球面レンズの検査装置 |
| US07/120,756 US4776101A (en) | 1984-09-14 | 1987-11-10 | Method and apparatus for testing aspherical lenses |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59191767A JPS6170434A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 非球面レンズの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6170434A true JPS6170434A (ja) | 1986-04-11 |
Family
ID=16280173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59191767A Pending JPS6170434A (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 非球面レンズの検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4776101A (ja) |
| JP (1) | JPS6170434A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0829486B2 (ja) * | 1993-06-28 | 1996-03-27 | 株式会社タクボ精機製作所 | レンズ形状測定機 |
| JP3710260B2 (ja) * | 1997-06-23 | 2005-10-26 | キヤノン株式会社 | 光学素子、それを保持する保持治具及びその光学素子を用いた撮像装置 |
| US6519861B1 (en) * | 2000-05-04 | 2003-02-18 | Raytheon Company | Mechanical centering apparatus and method |
| US6771375B2 (en) * | 2001-06-20 | 2004-08-03 | Zygo Corporation | Apparatus and method for measuring aspherical optical surfaces and wavefronts |
| US8269980B1 (en) | 2009-05-11 | 2012-09-18 | Engineering Synthesis Design, Inc. | White light scanning interferometer with simultaneous phase-shifting module |
| US8482740B1 (en) | 2009-07-01 | 2013-07-09 | Engineering Synthesis Design, Inc. | Computer generated reference for measurements of aspheric surfaces |
| US9534883B1 (en) | 2011-11-22 | 2017-01-03 | Engineering Synthesis Design, Inc. | Methods for determining error in an interferometry system |
| DE102014113553B3 (de) * | 2014-09-19 | 2015-09-17 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Kurbellagerflanken-Messvorrichtung |
| CN117091868B (zh) * | 2023-10-17 | 2024-01-09 | 山东泰格尔数控机床附件有限公司 | 一种用于多轴联动数控转台的试验平台 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034434A (ja) * | 1973-07-30 | 1975-04-02 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1230164A (fr) * | 1958-07-11 | 1960-09-14 | Procédé et dispositif pour le contrôle des surfaces et des défauts de forme d'une pièce usinée | |
| GB1210181A (en) * | 1968-04-10 | 1970-10-28 | Rank Organisation Ltd | Improvements in or relating to electrical filter devices |
| GB1477508A (en) * | 1974-08-21 | 1977-06-22 | Rank Organisation Ltd | Measuring apparatus |
| JPS5857700B2 (ja) * | 1977-01-27 | 1983-12-21 | 株式会社ニコン | 非球面レンズの測定装置 |
-
1984
- 1984-09-14 JP JP59191767A patent/JPS6170434A/ja active Pending
-
1987
- 1987-11-10 US US07/120,756 patent/US4776101A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034434A (ja) * | 1973-07-30 | 1975-04-02 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4776101A (en) | 1988-10-11 |
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