JPS6166144A - Soldering-strength examining method - Google Patents

Soldering-strength examining method

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JPS6166144A
JPS6166144A JP18768384A JP18768384A JPS6166144A JP S6166144 A JPS6166144 A JP S6166144A JP 18768384 A JP18768384 A JP 18768384A JP 18768384 A JP18768384 A JP 18768384A JP S6166144 A JPS6166144 A JP S6166144A
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main surface
force
lead
terminal
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    • GPHYSICS
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Abstract

PURPOSE:To detect the separation of a lead wire and an element accurately, by applying a force to one lead wire in the direction perpendicular to the main surface of the element of an electronic part, and then inserting a wedge shaped tapered pushing terminal between a pair of the lead wires. CONSTITUTION:Lead wires 32a and 32b are held by grooves 13a and 13b of a receiving jig 12 and a lead-wire pushing piece 16. A force is applied to the lead wire 32b by a pushing terminal 17 in the direction C perpendicular to the main surface of an element 30 from the side of the element 30. The lead wire 32b is soldered to a main surface 30b of the element 30, which is the opposite side with respect to the pushing terminal 17. Therefore, the force is applied in the direction shown by an arrow D on the soldered part of the element 30 of an electronic part and the lead wire 32b by the pushing terminal 17.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明ははんだ付強度検査方法に関し、特にたとえば
電子部品のエレメントにはんだ付されたリード線の接続
強度を検査するはんだ付強度検査方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a soldering strength testing method, and more particularly to a soldering strength testing method for testing the connection strength of a lead wire soldered to an element of an electronic component, for example.

(従来技術) 第6図は従来のはんだ付検査装置の一例を示す斜視図で
ある。この検査装置10は、絶縁樹脂からなる受は治具
12を含む。この受は治具12の上部および下部には、
それぞれ、突出部12aおよび12bが形成され、この
上部突出部12aの側端面にはその厚み方向に2つの溝
14aおよび14bが形成される。溝14aおよび14
bには、それぞれ、電子部品のエレメント30の一方主
面30aにはんだ付された一方のリード線32aおよび
他方主面30bにはんだ付された他方のリード線32b
が嵌め込まれる。この状態でリード線押え16が上部突
出部12aの側端面に当接され、それによって、受は治
具12の溝14. aおよび14bにリード線32aお
よび32bが挟持される。
(Prior Art) FIG. 6 is a perspective view showing an example of a conventional soldering inspection device. This inspection device 10 includes a support jig 12 made of insulating resin. This receiver is located at the top and bottom of the jig 12.
Projections 12a and 12b are formed respectively, and two grooves 14a and 14b are formed in the side end surface of the upper projection 12a in the thickness direction thereof. Grooves 14a and 14
b, one lead wire 32a soldered to one main surface 30a of the element 30 of the electronic component, and the other lead wire 32b soldered to the other main surface 30b, respectively.
is inserted. In this state, the lead wire presser 16 is brought into contact with the side end surface of the upper protrusion 12a, whereby the receiver is held in the groove 14 of the jig 12. Lead wires 32a and 32b are held between a and 14b.

このとき、受は治具12の下部突出部12bが、受は治
具12とリード線押え16とで挟まれたす−ド線32a
および32bに当接して、受は治具12側への移動を阻
止する。
At this time, the lower protrusion 12b of the jig 12 serves as the receiver, and the lead wire 32a sandwiched between the jig 12 and the lead wire holder 16 serves as the receiver.
and 32b, the receiver prevents movement toward the jig 12.

受は冶具12の2つの突出部12aおよび12bの中間
部分(リード線32aおよび32b間の中間部分)に対
向して、検出端子18が、その軸方向に移動可能に設け
られる。この検出端子18は導電材料たとえば金属から
なり、リード線32aおよび32bの間隔より幅広で先
細状のくさび形を有する。そして、検出端子18は、そ
の先端部がリード線32aおよび32b間にエレメント
30の主面と直交する方向に、たとえばばね(図示せず
)による一定の弾発力を利用して、挿入される。この場
合、もし、リード線32aまたは32bとエレメント3
0とのはんだ付部分が成る接合強度(ばねの弾発力)以
下である場合には、そのはんだ付部分は検出端子18の
押圧力によって剥がされてしまい、検出端子18は、リ
ード線間を通過して、受は治具12の中間部分に形成さ
れた電極20に接触する。この検出端子18の電極18
aと受は治具12の電極20との短絡ないし電気的な導
通によって、はんだ行不良が検出され得る。
The receiver is provided with a detection terminal 18 movable in the axial direction of the jig 12 so as to face the intermediate portion between the two protrusions 12a and 12b (the intermediate portion between the lead wires 32a and 32b). The detection terminal 18 is made of a conductive material, such as metal, and has a tapered wedge shape that is wider than the distance between the lead wires 32a and 32b. The detection terminal 18 is inserted with its tip between the lead wires 32a and 32b in a direction perpendicular to the main surface of the element 30, for example, using a certain elastic force from a spring (not shown). . In this case, if lead wire 32a or 32b and element 3
0, the soldered part will be peeled off by the pressing force of the detection terminal 18, and the detection terminal 18 will not connect between the lead wires. As it passes, the receiver contacts an electrode 20 formed in the middle portion of the jig 12. Electrode 18 of this detection terminal 18
A defective solder row can be detected by a short circuit or electrical continuity between a and the electrode 20 of the jig 12.

(発明が解決しようとする問題点) 従来の検査装置では、リード線32aおよび32b間に
検出端子18を挿入して、リード線にエレメント30の
主面と平行な方向に、すなわち第7図矢印Aで示す方向
に力を加えてリード線32aおよび32bとエレメント
30とのはんだ付強度の弱い部分を強制的に剥がし、検
出端子18を電極20に接触させることによって不良信
号を得ている。しかしながら、従来の装置では検査ミス
が生じた。すなわち、リード線材の硬度が低い場合には
、検出端子18が、第7図矢印Aで示すように、リード
線32aおよび32bを曲げてしまうので、リード線3
2aおよび32bがエレメント30に強固にはんだ付さ
れていても、検出端子18はその変形したリード線間を
通過し、ついには、電極20に接触してしまうのである
(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional inspection device, the detection terminal 18 is inserted between the lead wires 32a and 32b, and the detection terminal 18 is inserted into the lead wire in a direction parallel to the main surface of the element 30, that is, in the direction indicated by the arrow in FIG. A defect signal is obtained by applying force in the direction indicated by A to forcibly peel off the weakly soldered parts of the lead wires 32a and 32b and the element 30, and bringing the detection terminal 18 into contact with the electrode 20. However, inspection errors have occurred with conventional equipment. That is, when the hardness of the lead wire material is low, the detection terminal 18 bends the lead wires 32a and 32b as shown by arrow A in FIG.
Even if 2a and 32b are firmly soldered to the element 30, the detection terminal 18 passes between the deformed lead wires and eventually comes into contact with the electrode 20.

それゆえに、この発明の主たる目的は、検査ミスのない
信頼性の高い、はんだ付強度検査方法を提供することで
ある。
Therefore, the main object of the present invention is to provide a highly reliable soldering strength testing method that is free from testing errors.

(発明を解決するための手段) この発明は、まず、電子部品のエレメントの主面と直交
する方向にリード線の一方に力を加え、その後リード線
の一定間隔より幅の広いかつ先細状のくさび形の端子を
一対のリード線の間にエレメントの主面と直交する方向
に挿入してリード線とエレメントとのはんだ付部分が剥
がれたか否かを検出するようにした、はんだ付強度検査
方法である。
(Means for Solving the Invention) This invention first applies a force to one of the lead wires in a direction perpendicular to the main surface of an element of an electronic component, and then applies a force to one side of the lead wire in a direction perpendicular to the main surface of an element of an electronic component, and then applies a force to one side of the lead wire in a direction perpendicular to the main surface of an element of an electronic component. A soldering strength testing method in which a wedge-shaped terminal is inserted between a pair of lead wires in a direction perpendicular to the main surface of the element to detect whether the soldered part between the lead wire and the element has peeled off. It is.

(発明の効果) この発明によれば、検査ミスが生しない。すなわち、こ
の発明は、リード線にエレメントの主面と直交する方向
に力を加えた場合には、同し強度のはんだ付部分を剥が
すために必要な力は、従来のようにリード線にエレメン
トの主面と平行な方向に加える場合より弱くてよいこと
が明らかとなったことに基づくものである。したがって
、もし、はんだ付強度が弱い場合には、リード線を電子
部品エレメントから確実に剥がすことができ、また成る
程度以上のはんだ付強度の場合は、リード線に変形を生
じるような大きな力を加えないので、そのままの状態で
保持される。すなわち、この発明では、はんだ付部分を
強制的に剥離するにしても、リード線を変形させてしま
うような大きな力を加える必要がないので、リード線の
変形による誤検出がなくなり、信頼性が向上するのであ
る。
(Effects of the Invention) According to this invention, inspection errors do not occur. In other words, in this invention, when a force is applied to the lead wire in a direction perpendicular to the main surface of the element, the force required to peel off the soldered part of the same strength is the same as that of the conventional lead wire. This is based on the fact that it has become clear that it is weaker than when it is applied in a direction parallel to the main surface of the . Therefore, if the soldering strength is weak, the lead wire can be reliably peeled off from the electronic component element, and if the soldering strength is higher than that, a large force that may cause deformation of the lead wire can be applied. Since it is not added, it remains as it is. In other words, in this invention, even if the soldered part is forcibly peeled off, there is no need to apply a large force that would deform the lead wire, so false detection due to deformation of the lead wire is eliminated and reliability is improved. It will improve.

この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点
は、図面を参照して行なう以下の実施例の詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
The above objects, other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of embodiments with reference to the drawings.

(実施例) 第1図はこの発明の実施例を示す斜視図である。(Example) FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the invention.

この実施例の検査装置100は、従来例と同じように、
上部突出部12aと下部突出部12bとを有する受は治
具12を含む。そして、この実施例では、受は治具12
の上部突出部12aの側端面に、その長さ方向に成る間
隔を隔てて2組の溝13aおよび13bと14aおよび
14bとを形成し、一方の組の溝13aおよび13bの
部分で、まず、はんだ付部分を強制的に剥がすような力
を加え、ついで、他方の組の溝14aおよび14bの部
分で剥&)1しているかどうかを検査する。そのために
、各組の一方の溝132および14aには、電子部品の
エレメント30の一方主面30aにはんだ付された一方
のリード線32aが、そして各組の他方の溝13bおよ
び14bには他方主面30bにはんだ付された他方のり
−ド線32bが嵌め込まれる。それぞれの組の溝13a
および13bと14aおよびI 4. bとにそれぞれ
嵌め込まれた状態で、リード線32aおよび32bは、
リード線押え16 (第1図では図示省略)によって保
持され、そして、下部突出部12bがそのリード線32
aおよび32bの下部を支持する。なお、溝138の部
分のリード綿32aは、そのほぼ全長にわたって受は治
具12に形成された支持部12Cに接触ないし当接して
支持される。
The inspection device 100 of this embodiment, like the conventional example,
The receiver includes a jig 12 having an upper protrusion 12a and a lower protrusion 12b. In this embodiment, the receiver is the jig 12.
Two sets of grooves 13a and 13b and one set of grooves 14a and 14b are formed at intervals in the length direction on the side end surface of the upper protrusion 12a, and in the portion of one set of grooves 13a and 13b, first, A force is applied to forcibly peel off the soldered part, and then the other set of grooves 14a and 14b is inspected to see if it has peeled off. For this purpose, one lead wire 32a soldered to one main surface 30a of the element 30 of the electronic component is placed in one groove 132 and 14a of each set, and the other lead wire 32a is soldered to one main surface 30a of the element 30 of the electronic component. The other glued wire 32b soldered to the main surface 30b is fitted. Each set of grooves 13a
and 13b and 14a and I 4. The lead wires 32a and 32b are respectively fitted into the lead wires 32a and 32b.
The lead wire 32 is held by a lead wire holder 16 (not shown in FIG. 1), and the lower protrusion 12b is held by the lead wire 32.
supports the lower portions of a and 32b. The lead cotton 32a in the groove 138 is supported by contacting or abutting the support portion 12C formed on the jig 12 over almost its entire length.

一方の組の溝13aおよび13bの位置で、成る強度以
下のはんだ付部分を強制的に剥離させるために、押え端
子17が、溝13bとリード線押え16とで挟まれたリ
ード線32bに対向しかつその軸方向に移動可能に設け
られる。この押え端子17は、溝13bによって保持さ
れたリード線32bにエレメント30の主面とを直交す
る方向に力を加えるために、後述の検出端子18と同し
ように、たとえばカム(図示せず)によって、エレメン
ト30側からその軸方向に移動するように一定の力で付
勢される。
In order to forcibly peel off the soldered portion with a strength lower than that at the position of one set of grooves 13a and 13b, the presser terminal 17 is placed opposite to the lead wire 32b sandwiched between the groove 13b and the lead wire presser 16. Moreover, it is provided so as to be movable in its axial direction. In order to apply force to the lead wire 32b held by the groove 13b in a direction perpendicular to the main surface of the element 30, the holding terminal 17 is provided with a cam (not shown), for example, in the same way as the detection terminal 18 described later. , the element 30 is urged with a constant force to move in its axial direction.

さらに、検出端子18が、はんだ付部分が剥離されてい
るかを検出するために、溝14aおよび14bによって
保持されたリード線32aおよび32bの間に位置して
かつその軸方向に移動可能に設けられる。この端子18
は従来装置のそれと同じように、導電材料たとえば金属
からなり、リード線32aおよび32bの間隔より幅広
でかつ先細状のくさび形を有する。
Further, a detection terminal 18 is provided to be located between the lead wires 32a and 32b held by the grooves 14a and 14b and to be movable in the axial direction thereof, in order to detect whether the soldered portion is peeled off. . This terminal 18
is made of a conductive material, such as metal, like that of the conventional device, and has a tapered wedge shape that is wider than the spacing between the leads 32a and 32b.

ここで、第2図を参照して、検出端子18についてやや
詳細に説明する。なお、第2図では検出端子18のみが
図示されているが、押え端子17についても同様に構成
されている、という点に留意されたい。
Here, the detection terminal 18 will be explained in some detail with reference to FIG. Note that although only the detection terminal 18 is shown in FIG. 2, the presser terminal 17 is also configured in the same manner.

検出端子1日は、その一方端面に透孔を有する有底中空
状の筒状ケース19に収納され、その先端がその透孔を
通して前方に突出される。検出端子18の後端とケース
19の他方端との間にはコイルばね19aが設けられ、
それによって検出端子18がその先端方向に付勢される
。コイルばね19aは、ケース19の他方端のねし孔に
螺合されたばね圧調整ねじ19bの先端に当接する。し
たがって、このばね圧調整ねじ19bを変位させること
によって、その先端と端子18の後端との間の距離すな
わちコイルばね19aの弾発力を調整できる。
The detection terminal 1 is housed in a bottomed hollow cylindrical case 19 having a through hole on one end surface, and its tip protrudes forward through the through hole. A coil spring 19a is provided between the rear end of the detection terminal 18 and the other end of the case 19,
Thereby, the detection terminal 18 is urged toward its tip. The coil spring 19a comes into contact with the tip of a spring pressure adjusting screw 19b screwed into a screw hole at the other end of the case 19. Therefore, by displacing this spring pressure adjusting screw 19b, the distance between its tip and the rear end of the terminal 18, that is, the elastic force of the coil spring 19a can be adjusted.

そして、図示しないたとえばカムによってケース19全
体が矢印C方向に動かされると、それに応じて検出端子
18の先端も移動してリード線間に挿入されるのである
が、その挿入強さく端子17の場合は押え強さ)は、ば
ね19aすなわちばね圧調整ねじ19bによって調整さ
れる。ばね圧調整ねし19bによってばね19aが縮め
られていればその強さは強いし、ばね19aがあまり縮
められていなければその強さは弱いであろう。
When the entire case 19 is moved in the direction of arrow C by a cam (not shown), the tip of the detection terminal 18 moves accordingly and is inserted between the lead wires. The presser force is adjusted by the spring 19a, that is, the spring pressure adjusting screw 19b. If the spring 19a is compressed by the spring pressure adjustment spring 19b, its strength will be strong, and if the spring 19a is not compressed much, its strength will be weak.

上述の検出端子1Bには電極18aが電気的に接続され
ていて、検出端子18と対向する受は治具12の部分に
も電極20が形成される。これら2つの電極18aおよ
び20間には、第1図に示すように、ランプ22.ブザ
ー24および電源26が直列に接続される。そして、は
んだ付不良があると、2つの電極18aと20とが導通
し、上述の直列接続を含む閉回路が形成され、ランプ2
2が点灯し、ブザー24が鳴動してオペレータに、不良
の発生を報知する。
An electrode 18a is electrically connected to the detection terminal 1B, and an electrode 20 is also formed on the jig 12 of the receiver facing the detection terminal 18. Between these two electrodes 18a and 20 is a lamp 22. Buzzer 24 and power supply 26 are connected in series. If there is a soldering defect, the two electrodes 18a and 20 are electrically connected, forming a closed circuit including the above-mentioned series connection, and the lamp 2
2 lights up and the buzzer 24 sounds to notify the operator of the occurrence of a defect.

なお、はんだ付不良の報知手段については、ランプの点
灯のみやブザーの鳴動のみによってもよく、さらには電
極18aと20との接触に応じて出力する信号を利用し
て、不良品にマーキングを施し、あるいはそのリード線
を切断し、さらには、検査工程を停止させる等、不良検
出のための回路構成は、必要に応じて、任意に変更でき
よう。
Note that the means for notifying the soldering defect may be only by lighting a lamp or sounding a buzzer, and furthermore, a signal outputted in response to contact between the electrodes 18a and 20 may be used to mark defective products. The circuit configuration for defect detection may be arbitrarily changed as necessary, such as cutting the lead wire or stopping the inspection process.

つぎに、この実施例の検査装置を用いて検査する方法に
ついて説明する。
Next, an inspection method using the inspection apparatus of this embodiment will be explained.

まず、受げ治具12の溝13aおよび13bとリード線
押え16とでリード線32aおよび32bを挟む。そし
て、第3図に示すように、押え端子17によって、エレ
メント30の押え端子17とは反対側の主面30bには
んだ付されたリード線32bにエレメント30側からそ
の主面と直交する方向すなわち第3図矢印Cで示す方向
に力を加える。したがって、押え端子17によって、電
子部品エレメント30とリード線32bとのはんだ付部
分には、第4図矢印りで示す方向に力が加えられること
になる。
First, the lead wires 32a and 32b are sandwiched between the grooves 13a and 13b of the receiving jig 12 and the lead wire presser 16. As shown in FIG. 3, the presser terminal 17 connects the lead wire 32b soldered to the main surface 30b of the element 30 opposite to the presser terminal 17 from the element 30 side in a direction perpendicular to the main surface, that is, Apply force in the direction shown by arrow C in Figure 3. Therefore, force is applied by the presser terminal 17 to the soldered portion between the electronic component element 30 and the lead wire 32b in the direction indicated by the arrow in FIG.

この第4図の矢印り方向すなわち第3図の矢印C方向に
力を加えれば、その力は、同じ強度のはんだ付部分を剥
がすものとすれば、従来のようにエレメントの主面と平
行な方向(第7図矢印へ方向)に加える場合に比べて、
より弱くてもよい。
If a force is applied in the direction of the arrow in Fig. 4, that is, in the direction of arrow C in Fig. 3, the force will be applied parallel to the main surface of the element, as in the conventional case, assuming that the soldered part of the same strength is to be peeled off. Compared to adding in the direction (direction to the arrow in Figure 7),
It may be weaker.

なぜなら、エレメント30とリード線32aおよび32
bとのはんだ付部分の剥離強度は、エレメント30の主
面に平行な方向に比べて、その主面に直交する方向が弱
いからである。発明者の実験によれば、同じはんだ付強
度で接続されたリード線を剥がすためには、力をエレメ
ントの主面と直交する方向に加えた方がその主面に平行
な方向に加える場合の3分の1以下の力でよいことが確
認された。したがって、エレメントとリード線とを強制
的に剥離させるのに必要以上の力がリード線に加えられ
ることがないので、成る一定の強度以下のものについて
は、リード線32bを曲げることなく、リード線32b
をエレメント30から確実に剥がすことができ、もしそ
の力でも剥離が生じなければ、そのはんだ付部分は良品
であるとして処理すればよい。
This is because the element 30 and the lead wires 32a and 32
This is because the peel strength of the soldered portion with b is weaker in a direction perpendicular to the main surface of the element 30 than in a direction parallel to the main surface. According to the inventor's experiments, in order to separate lead wires connected with the same soldering strength, applying force in a direction perpendicular to the main surface of the element is better than applying force in a direction parallel to the main surface. It was confirmed that less than one third of the force was required. Therefore, since no more force than necessary to forcibly separate the element and the lead wire is applied to the lead wire, the lead wire 32b can be used without bending the lead wire 32b if the strength is below a certain level. 32b
can be reliably peeled off from the element 30, and if no peeling occurs even with that force, the soldered portion can be treated as a good product.

なお、前述のようにして押え端子17の付勢力を調整す
ることによって、その端子17によって剥離すべき接合
強度すなわち良品または不良品として処理すべき境界の
強度を適宜設定できる。
By adjusting the urging force of the holding terminal 17 as described above, the bonding strength at which the terminal 17 should be peeled off, that is, the strength at the boundary where the terminal should be treated as a good product or a defective product, can be set as appropriate.

つぎに、エレメント30を第1図矢印Bで示す方向に移
し、リード線32aおよび32bを、次の組の溝14a
および14bとリード線押え16(第1図では図示省略
)とで挟持する。
Next, the element 30 is moved in the direction shown by arrow B in FIG.
and 14b and a lead wire presser 16 (not shown in FIG. 1).

そして、第5図に示すように、検出端子18を、ニレメ
ン1〜30側からその主面と直交する方向すなわち第5
図矢印Eで示す方向に移動させ、リード線32aおよび
32b間にその先端部を挿入する。この場合、もし、リ
ード線32aあるいは32bが先のステップでエレメン
ト30から剥がされていれば、検出端子18の挿入とと
もにリード線32aと32bとの間の間隔が広くなり、
検出端子18は電極20に接触し、ランプ22およびブ
ザー24が作動し、その電子部品は不良品として処理さ
れる。逆に、押え端子17による強制判別ステップを経
てもリード線がエレメントから剥離されていなければ、
ランプ22やブザー24は作動せず、その場合には良品
として処理される。
Then, as shown in FIG.
It is moved in the direction shown by arrow E in the figure, and its tip is inserted between lead wires 32a and 32b. In this case, if the lead wires 32a or 32b were peeled off from the element 30 in the previous step, the gap between the lead wires 32a and 32b would become wider as the detection terminal 18 is inserted.
The detection terminal 18 contacts the electrode 20, the lamp 22 and the buzzer 24 are activated, and the electronic component is treated as a defective product. Conversely, if the lead wire is not separated from the element even after the forced determination step using the presser terminal 17,
The lamp 22 and buzzer 24 do not operate, and in that case, the product is treated as a non-defective product.

なお、−1一連の実施例では、2つの端子によってそれ
ぞれのステップを分担させるようにした。しかしながら
、もし可能ならば1つの端子を共通的に用いてもよい。
In the -1 series of embodiments, two terminals are used to perform each step. However, one terminal may be used in common if possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例を示す斜視図である。 第2図は第1図実施例の検出端子の内部構造を示す断面
図である。 第3図は押え端子でリード線に力を加える状態を説明す
るための図解図である。 第4図は押え端子でリード線に加える力の方向を示すた
めの斜視図である。 第5図はリード線間に検出端子が挿入された状態を説明
するための図解図である。 第6図は従来の番すんだ付強度検査装置の一例を示す斜
視図である。 第7図は従来の装置でリード線に加えられる力の方向を
示すための斜視図である。 図において、100ははんだ付強度検査装置、12は受
は治具、13a、13b、14aおよび14bは溝、1
6はリード線押え、17は押え端子、18は検出端子、
19aはばね、19bはばね圧調整ねし、18a、20
は電極、22はランプ、24はブザー、30は電子部品
エレメント、32a、32bはリード線を示す。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a sectional view showing the internal structure of the detection terminal of the embodiment shown in FIG. FIG. 3 is an illustrative view for explaining the state in which force is applied to the lead wire by the presser terminal. FIG. 4 is a perspective view showing the direction of force applied to the lead wire by the presser terminal. FIG. 5 is an illustrative view for explaining a state in which the detection terminal is inserted between the lead wires. FIG. 6 is a perspective view showing an example of a conventional bonding strength testing device. FIG. 7 is a perspective view showing the direction of force applied to the lead wire in a conventional device. In the figure, 100 is a soldering strength testing device, 12 is a jig, 13a, 13b, 14a and 14b are grooves, 1
6 is a lead wire holder, 17 is a holder terminal, 18 is a detection terminal,
19a is a spring, 19b is a spring pressure adjustment spring, 18a, 20
22 is an electrode, 22 is a lamp, 24 is a buzzer, 30 is an electronic component element, and 32a and 32b are lead wires.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  電子部品のエレメントの一方主面にはんだ付された一
方のリード線と前記エレメントの他方主面にはんだ付さ
れた他方のリード線とを有する電子部品のリード線のは
んだ付の強度を検査するはんだ付強度検査方法であって
、 前記エレメント側からそのエレメントの主面と直交する
方向に前記リード線に力を加えるステップ、および 前記リード線の間隔より幅が広くかつ先細状のくさび形
の端子を前記リード線の間に、前記エレメントの主面と
直交する方向に挿入して前記リード線の剥がれを検出す
るステップを含む、はんだ付強度検査方法。
[Scope of Claims] Soldering of lead wires of an electronic component having one lead wire soldered to one main surface of an element of the electronic component and the other lead wire soldered to the other main surface of the element. A soldering strength testing method for testing the strength of a soldering wire, the method comprising: applying force to the lead wire from the element side in a direction perpendicular to the main surface of the element; A soldering strength testing method comprising the step of inserting a wedge-shaped terminal between the lead wires in a direction perpendicular to the main surface of the element to detect peeling of the lead wires.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103149097A (en) * 2013-03-07 2013-06-12 中国空间技术研究院 Tension testing device of pin lead wire of electronic component

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