JPS6159628A - 光情報検出装置 - Google Patents
光情報検出装置Info
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- JPS6159628A JPS6159628A JP59180792A JP18079284A JPS6159628A JP S6159628 A JPS6159628 A JP S6159628A JP 59180792 A JP59180792 A JP 59180792A JP 18079284 A JP18079284 A JP 18079284A JP S6159628 A JPS6159628 A JP S6159628A
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技皿立乱
本発明は、光ピツクアップ光学系に関し、より詳細には
、光ディスク装置に適用しうる光情報検出装置に関する
ものである。
、光ディスク装置に適用しうる光情報検出装置に関する
ものである。
慢米皮帆
従来のナイフェツジ法を採用した光ピツクアップ光学系
においては、ピックアップ対曲物からの反射光の５０％
をナイフェツジで遮光して対象物上のピックアップ位置
、即ちトラックの検出等に利用し、残りの５０％を受光
素子で受けてピックアップ対象物と焦点とのズレ、即ち
合焦誤差を検出する構成とすることが多い。然るに、遮
光率が５０％の場合は、合焦誤差検出感度が低い為、こ
れにより焦点をピックアップ対象物上に位置させる合焦
制御効果に支障を及ぼすという欠点がある。
においては、ピックアップ対曲物からの反射光の５０％
をナイフェツジで遮光して対象物上のピックアップ位置
、即ちトラックの検出等に利用し、残りの５０％を受光
素子で受けてピックアップ対象物と焦点とのズレ、即ち
合焦誤差を検出する構成とすることが多い。然るに、遮
光率が５０％の場合は、合焦誤差検出感度が低い為、こ
れにより焦点をピックアップ対象物上に位置させる合焦
制御効果に支障を及ぼすという欠点がある。
目 的
本発明は、以上の点に鑑みなされたものであって、合焦
誤差検出感度が高度化され正確な合焦効果を発揮可能な
光情報検出装置を提供することを目的とする。
誤差検出感度が高度化され正確な合焦効果を発揮可能な
光情報検出装置を提供することを目的とする。
植成
本発明は、上記の目的を達成させるため、光源と、前記
光源から出射された光を対物レンズを介して光情報記録
媒体上にスボソ１〜として収束させると共に該記録媒体
からの反射光を集光レンズを介し収束させつつ所定方向
に出射する光学系ユニットと、前記出射光の一部を遮断
する遮光部材と、受光素を出力信号に変換する受光素子
から成り前記出射光の残部の少なくとも一部を受光して
前記記ａ媒体上のスポットと焦点との誤差を検出する合
焦誤差検出手段とを有し、前記対物レンズと前記集光レ
ンズの各焦点距ｆｆ７Ｉを夫々ｆｏ、 ｆｌとした場合
に、 ｆ工／ｆ０≧１０ であることを特徴としたものである。
光源から出射された光を対物レンズを介して光情報記録
媒体上にスボソ１〜として収束させると共に該記録媒体
からの反射光を集光レンズを介し収束させつつ所定方向
に出射する光学系ユニットと、前記出射光の一部を遮断
する遮光部材と、受光素を出力信号に変換する受光素子
から成り前記出射光の残部の少なくとも一部を受光して
前記記ａ媒体上のスポットと焦点との誤差を検出する合
焦誤差検出手段とを有し、前記対物レンズと前記集光レ
ンズの各焦点距ｆｆ７Ｉを夫々ｆｏ、 ｆｌとした場合
に、 ｆ工／ｆ０≧１０ であることを特徴としたものである。
以下、本発明の一実施例に基づき具体的に説明する。第
１図は１本発明の１実施例としてのナイフェツジ式光情
報検出装置を示した模式図である。
１図は１本発明の１実施例としてのナイフェツジ式光情
報検出装置を示した模式図である。
第１図において、光源としての半導体レーザ１が光軸Ｐ
１上に配置されている。半導体レーザ１の次順には、こ
れから出射されたレーザビームを平行ビームとするカッ
プリングレンズ２及び偏光ビームスプリッタ３が光軸Ｐ
１に沿って順に配設されている。更に、偏光ビームスプ
リンタ３から光１ＩｌｌｌｌＰ□に冶フて、１７４波長
板４及び対物レンズ５が適長づつ離隔させて順に配設さ
れている。対物レンズ５の後順には、光情報記録媒体と
しての光ディスク６が配設されている。光ディスク６は
、第２図に示されるごとく、光軸ＰＬに対して直角に配
置され、対物レンズ５と対向する記Ｂ媒体部６８表面に
複数のトラックＴが等間隔で形成され、この上に透明基
板６ｂが積層されて植成されている。
１上に配置されている。半導体レーザ１の次順には、こ
れから出射されたレーザビームを平行ビームとするカッ
プリングレンズ２及び偏光ビームスプリッタ３が光軸Ｐ
１に沿って順に配設されている。更に、偏光ビームスプ
リンタ３から光１ＩｌｌｌｌＰ□に冶フて、１７４波長
板４及び対物レンズ５が適長づつ離隔させて順に配設さ
れている。対物レンズ５の後順には、光情報記録媒体と
しての光ディスク６が配設されている。光ディスク６は
、第２図に示されるごとく、光軸ＰＬに対して直角に配
置され、対物レンズ５と対向する記Ｂ媒体部６８表面に
複数のトラックＴが等間隔で形成され、この上に透明基
板６ｂが積層されて植成されている。
一方、偏光ビームスプリンタ３から光軸Ｐ工に直角な光
軸Ｐ２に沿って、集光レンズ７が次順に配設されており
、偏光ビームスプリッタ３で入射光束Ｂ□と分ｍ「され
た光ディスク６がらの反射光束Ｂ２を収束させる。集光
レンズ７の後順には、ナイフェツジを兼ねるトラック検
出用受光素子８が適長音１を隔させて配設されている。
軸Ｐ２に沿って、集光レンズ７が次順に配設されており
、偏光ビームスプリッタ３で入射光束Ｂ□と分ｍ「され
た光ディスク６がらの反射光束Ｂ２を収束させる。集光
レンズ７の後順には、ナイフェツジを兼ねるトラック検
出用受光素子８が適長音１を隔させて配設されている。
本例のトラック検出用受光素子８は、２個の分割素子８
ａ、８ｂから成り、これら分割素子８ａ、８ｂをトラッ
クに平行な境界線を挟さんで対称に配置しである。
ａ、８ｂから成り、これら分割素子８ａ、８ｂをトラッ
クに平行な境界線を挟さんで対称に配置しである。
トラック信号は分割素子８ａ、８ｂの各受光量に応じた
出力の差を求めることにより得られる。この場合、後述
する合焦誤差検出用受光素子の検出感度を上げる為に、
ナイフェツジとしてのトラック検出用受光索子８の配置
が次の様に最適に設定されている。
出力の差を求めることにより得られる。この場合、後述
する合焦誤差検出用受光素子の検出感度を上げる為に、
ナイフェツジとしてのトラック検出用受光索子８の配置
が次の様に最適に設定されている。
今、図中白抜矢印方向に１〜ラツク検出用受光素子８を
適宜移動させ、遮光する光景比（遮光率）を変えたとき
の合焦誤差検出感度の変化を示すと第３図の如くなる。
適宜移動させ、遮光する光景比（遮光率）を変えたとき
の合焦誤差検出感度の変化を示すと第３図の如くなる。
第３図によれば、遮光率が７０〜８０％のときに検出感
度がピーク状態となり、検出感度の許容範囲としてピー
クから１０％減までを見込むことができるが、これに対
応する遮光率は６５〜９０％であることが分かる。従っ
て、反射光束Ｂ２に対する遮光率が６５〜９０％の範囲
内に収まる様に、トラック検出用受光素子８が反射光軸
Ｐ２に垂直で且つ先端を光軸Ｐ２から突出させた態様に
配置されている。
度がピーク状態となり、検出感度の許容範囲としてピー
クから１０％減までを見込むことができるが、これに対
応する遮光率は６５〜９０％であることが分かる。従っ
て、反射光束Ｂ２に対する遮光率が６５〜９０％の範囲
内に収まる様に、トラック検出用受光素子８が反射光軸
Ｐ２に垂直で且つ先端を光軸Ｐ２から突出させた態様に
配置されている。
トラック検出用受光索子８の後順で集光レンズ７のビー
ムウェスト近傍には、合焦誤差検出用受光索子９が配設
されている。本例の合焦誤差検出用受光素子９は、２個
の分割索子９ａ、９ｂから成り、各分割素子の出力の差
を採ることにより、合焦誤差検出信号が得られる。
ムウェスト近傍には、合焦誤差検出用受光索子９が配設
されている。本例の合焦誤差検出用受光素子９は、２個
の分割索子９ａ、９ｂから成り、各分割素子の出力の差
を採ることにより、合焦誤差検出信号が得られる。
ここで、合焦誤差の検出原理について説明する。
第１図は対物レンズ５の焦点Ｆに光ディスク６が位置す
る状態を示しているが、このとき、２分割された合焦誤
差検出用受光素子９の分割索子９ａ。
る状態を示しているが、このとき、２分割された合焦誤
差検出用受光素子９の分割索子９ａ。
９ｂの夫々に等量の反射ビームＢ４が投射される。
従って、夫々の分′１ＭＭ子９ａ及び９ｂから出力され
る信号レベルの差はゼロとなる。ところが、第４ａ図に
示す如く、対物レンズ５に対して光ディスク６がその焦
点Ｆから遠ざかった場合、分割索子９ａより分割索子９
ｂの方に多量の光が投射される。従って、双方の受光量
の差による差信号レベルは例えば負の値となり、光ディ
スク６が対物レンズ５の焦点Ｆから遠ざかっていること
か検知される。一方、第４ｂ図に示す如く、対物レンズ
５に対して光ディスク６が焦点Ｆより近ずいた場合、分
割素子９ｂより分割素子９ａの方に多量の光が投射され
、従って、差信号は正の値となり、光ディスク６が対物
レンズ５の焦点Ｆより近ずいた位置に在ることが検知さ
れる。この一連の差信号による合焦誤差検出信号（フォ
ーカス信号）の正負の値に応じて図示されていないサー
ボ機構１１により例えば対物レンズ５を光軸Ｐ１に沿っ
て移動させ、焦点ズレが円滑に矯正される。尚、前述し
た合焦誤差検出感度は、フォーカス信号（ａ−ｂ）を各
信号の和（ａ＋ｂ）で除して得られる。即ち、合焦誤差
検出感度をαとすると、 α＝ （ａ−ｂ）／ （ａ＋ｂ）・・・第１式％式％ ところで、一般に合焦誤差検出特性は上述した遮光率の
他に、対物レンズ５及び集光レンズ７の焦点距離に依存
することが推測される。そこで、対物レンズ５と４１光
レンズ７の各焦点距施をｆ。。
る信号レベルの差はゼロとなる。ところが、第４ａ図に
示す如く、対物レンズ５に対して光ディスク６がその焦
点Ｆから遠ざかった場合、分割索子９ａより分割索子９
ｂの方に多量の光が投射される。従って、双方の受光量
の差による差信号レベルは例えば負の値となり、光ディ
スク６が対物レンズ５の焦点Ｆから遠ざかっていること
か検知される。一方、第４ｂ図に示す如く、対物レンズ
５に対して光ディスク６が焦点Ｆより近ずいた場合、分
割素子９ｂより分割素子９ａの方に多量の光が投射され
、従って、差信号は正の値となり、光ディスク６が対物
レンズ５の焦点Ｆより近ずいた位置に在ることが検知さ
れる。この一連の差信号による合焦誤差検出信号（フォ
ーカス信号）の正負の値に応じて図示されていないサー
ボ機構１１により例えば対物レンズ５を光軸Ｐ１に沿っ
て移動させ、焦点ズレが円滑に矯正される。尚、前述し
た合焦誤差検出感度は、フォーカス信号（ａ−ｂ）を各
信号の和（ａ＋ｂ）で除して得られる。即ち、合焦誤差
検出感度をαとすると、 α＝ （ａ−ｂ）／ （ａ＋ｂ）・・・第１式％式％ ところで、一般に合焦誤差検出特性は上述した遮光率の
他に、対物レンズ５及び集光レンズ７の焦点距離に依存
することが推測される。そこで、対物レンズ５と４１光
レンズ７の各焦点距施をｆ。。
ｆｌとしく ｆ、／ ｆよ）をパラメータとしてこれに
対する合焦誤差検出感度αの変化を求めると、第５図の
如くなる。これによると、ｆｏ／ｆ□が１０程度以上で
感度αの増加が飽和となっていることが分かる。従って
、本例においては、対物レンズ５と集光レンズ７の各焦
点距離ｆ０．ｆ□が（ｆ□／ｆ０）≧１０・・・第２式 を満足する様に設定されている。以上の如く、遮光率を
許容範囲内に収めると共に、対物レンズ５と集光レンズ
７の各焦点距Ｍｆｏ＋ｆ工を第２式をｉ＋：’Ｊたすべ
く設定することにより、ナイフェツジ法の光ピツクアッ
プ光学系における合焦誤差検出感度を最大限に高めるこ
とができる。
対する合焦誤差検出感度αの変化を求めると、第５図の
如くなる。これによると、ｆｏ／ｆ□が１０程度以上で
感度αの増加が飽和となっていることが分かる。従って
、本例においては、対物レンズ５と集光レンズ７の各焦
点距離ｆ０．ｆ□が（ｆ□／ｆ０）≧１０・・・第２式 を満足する様に設定されている。以上の如く、遮光率を
許容範囲内に収めると共に、対物レンズ５と集光レンズ
７の各焦点距Ｍｆｏ＋ｆ工を第２式をｉ＋：’Ｊたすべ
く設定することにより、ナイフェツジ法の光ピツクアッ
プ光学系における合焦誤差検出感度を最大限に高めるこ
とができる。
叙上の如く植成された光情報検出装置による情報検出動
作について、以下に説明する。
作について、以下に説明する。
第１図において、情報信号に応じて半導体レーザ１から
出射された出射ビームＢ□は、カップリングレンズ２で
平行ビームに収束され、偏光ビームスプリッタ３及び１
／４波長板４を通過し、対物レンズ５を介して光ディス
ク６の１−ラックＴの中央部に向は約１．０μｍのスポ
ット径として投射される。そして、このスポットからの
反射ビームＢ２は対物レンズ５を通過し、１７４波長板
４により偏光面を変えられ、偏光ビームスプリッタ３に
より入射ビームＢ４と分難され、集光レンズ７により収
束せしめられる。この反射ビームＢ２は、ナイフェツジ
を兼ねるトラック検出用受光素子８ａ、８ｂによりその
６５〜９０％が遮光されると共に受光され、トラッキン
グ制御が実施される。
出射された出射ビームＢ□は、カップリングレンズ２で
平行ビームに収束され、偏光ビームスプリッタ３及び１
／４波長板４を通過し、対物レンズ５を介して光ディス
ク６の１−ラックＴの中央部に向は約１．０μｍのスポ
ット径として投射される。そして、このスポットからの
反射ビームＢ２は対物レンズ５を通過し、１７４波長板
４により偏光面を変えられ、偏光ビームスプリッタ３に
より入射ビームＢ４と分難され、集光レンズ７により収
束せしめられる。この反射ビームＢ２は、ナイフェツジ
を兼ねるトラック検出用受光素子８ａ、８ｂによりその
６５〜９０％が遮光されると共に受光され、トラッキン
グ制御が実施される。
ここで、トラッキング制御機構について説明する。まず
、第６ａ図に示される如く２対物レンズ５からの収束ビ
ームの光１１ＱＩＩ Ｐ ２が光ディスク６のトラック
Ｔの中央に入射する場合、即ち正常なトラッキング状態
の場合は、光ディスク６からの反射ビームＢ２はトラッ
ク検出用受光素子８の分割線Ｉの両側に等量に入射する
。従って、夫々の側の分割索子８ａ及び８ｂの受光量に
対応した各信号の差であるトラック信号がゼロレベルと
なる。
、第６ａ図に示される如く２対物レンズ５からの収束ビ
ームの光１１ＱＩＩ Ｐ ２が光ディスク６のトラック
Ｔの中央に入射する場合、即ち正常なトラッキング状態
の場合は、光ディスク６からの反射ビームＢ２はトラッ
ク検出用受光素子８の分割線Ｉの両側に等量に入射する
。従って、夫々の側の分割索子８ａ及び８ｂの受光量に
対応した各信号の差であるトラック信号がゼロレベルと
なる。
この信号により、トラッキングが正常に行われているこ
とが確認される６次に、第６ｂ図に示される如く、対物
レンズ５からの収束ビームの光軸Ｐ２がトラックＴの中
央から図中左側にずれた場合、分割素子８ａで受光する
光量の方が分割素子８ｂで受光する光量より大きくなり
、それらの差信号が例えば正の値をとる。又、逆に、第
６Ｃ図に示す如く、入射光軸Ｐ２が図中右側にずれた場
合、左側の信号ａより右側の信号すの方が大きくなり、
差信号は逆の負の値をとる。これら差信号の正負の値に
応じて図示されていないサーボ機構カにより対物レンズ
５又は光ピツクアップ全体をトラックＴと直交する方向
に移動させ、入射光軸Ｐ２のずれを±０．１μｍ以内に
制御する。
とが確認される６次に、第６ｂ図に示される如く、対物
レンズ５からの収束ビームの光軸Ｐ２がトラックＴの中
央から図中左側にずれた場合、分割素子８ａで受光する
光量の方が分割素子８ｂで受光する光量より大きくなり
、それらの差信号が例えば正の値をとる。又、逆に、第
６Ｃ図に示す如く、入射光軸Ｐ２が図中右側にずれた場
合、左側の信号ａより右側の信号すの方が大きくなり、
差信号は逆の負の値をとる。これら差信号の正負の値に
応じて図示されていないサーボ機構カにより対物レンズ
５又は光ピツクアップ全体をトラックＴと直交する方向
に移動させ、入射光軸Ｐ２のずれを±０．１μｍ以内に
制御する。
トラック検出用受光素子８で遮光されなかった１０乃至
３５％の光束が集光レンズ７により収束せしめられて合
焦誤差検出用受光索子９ａ、９ｂ上に投射され、前述し
た合焦機構により光デイスク６上のトラックＴに投射さ
れるスポットの焦点ズレが矯正される。このＪ及合、本
例では遮光率と対物レンズ５及び集光レンズ７の各焦点
距離が合焦誤差検出感度を最大限に高めるべく最適に設
定されており、従って、光デイスク６上のスポットの正
確な合焦制御が実施される。
３５％の光束が集光レンズ７により収束せしめられて合
焦誤差検出用受光索子９ａ、９ｂ上に投射され、前述し
た合焦機構により光デイスク６上のトラックＴに投射さ
れるスポットの焦点ズレが矯正される。このＪ及合、本
例では遮光率と対物レンズ５及び集光レンズ７の各焦点
距離が合焦誤差検出感度を最大限に高めるべく最適に設
定されており、従って、光デイスク６上のスポットの正
確な合焦制御が実施される。
次に、本発明の他の実施例について第７図に基づき説明
する。尚、上記実施例と同一の構成要素については同一
符号を付し、その説明を省略する。
する。尚、上記実施例と同一の構成要素については同一
符号を付し、その説明を省略する。
第７図に示された実施例においては、反射ビームＢ２を
合焦誤差検出用受光素子９上に収束させる為に、集光レ
ンズ７と凹レンズ７′とを組み合わせて成る合成レンズ
Ｃが配設されている。この場合１合成レンズＣの焦点距
離が上述の集光レンズ７の焦点距離ｆ１に対応する。又
、遮光部材としてミラー１０を用いトラック検出用受光
素子８に向けて遮断光束を反射させトラッキング制御を
行う構成となっている。以上の如く光情報検出装置を構
成することにより、集光レンズ７単独の場合よりも黒点
距雛ｆ工を容易に大きく設定でき、第２式を充分に満た
すことができる。従って、より高度な合焦誤差検出感度
を得て正確な合焦制御を行うことができる。
合焦誤差検出用受光素子９上に収束させる為に、集光レ
ンズ７と凹レンズ７′とを組み合わせて成る合成レンズ
Ｃが配設されている。この場合１合成レンズＣの焦点距
離が上述の集光レンズ７の焦点距離ｆ１に対応する。又
、遮光部材としてミラー１０を用いトラック検出用受光
素子８に向けて遮断光束を反射させトラッキング制御を
行う構成となっている。以上の如く光情報検出装置を構
成することにより、集光レンズ７単独の場合よりも黒点
距雛ｆ工を容易に大きく設定でき、第２式を充分に満た
すことができる。従って、より高度な合焦誤差検出感度
を得て正確な合焦制御を行うことができる。
効果
以上、ａ′６述した如く、本発明によれば、光ピンクア
ップ光学系における合焦誤差検出用の集光レンズの焦点
距離を記録媒体にスポットを収束させる対物レンズの魚
点距；４１ｉの１０倍以上に設定することにより、合焦
誤差の検出感度を上げて正確な合焦制御を実施すること
ができる。この場合、反射光束の６５乃至９０％を遮光
し残りの光束を合焦誤差検出用とすることにより、合焦
誤差検出感度を最大限に高めより正確な合焦効果を得る
ことができる。尚１本発明は上記の特定の実施例に限定
されるものではなく、本発明の技術的範囲内において種
々の変形が可能であることは勿論である。
ップ光学系における合焦誤差検出用の集光レンズの焦点
距離を記録媒体にスポットを収束させる対物レンズの魚
点距；４１ｉの１０倍以上に設定することにより、合焦
誤差の検出感度を上げて正確な合焦制御を実施すること
ができる。この場合、反射光束の６５乃至９０％を遮光
し残りの光束を合焦誤差検出用とすることにより、合焦
誤差検出感度を最大限に高めより正確な合焦効果を得る
ことができる。尚１本発明は上記の特定の実施例に限定
されるものではなく、本発明の技術的範囲内において種
々の変形が可能であることは勿論である。
第１図は本発明の１実施例を示した模式図、第２図は本
発明の１実施例における光ディスク６の断面を示した部
分断面図、第３図は合焦誤差検出感度と遮光率の関係を
示したグラフ図、第４ａ図及び第４ｂ図は夫々合焦誤差
検出原理を示した各説明図、第５図は合焦誤差検出感度
と焦点距雛比の関係を示したグラフ図、第６ａ図乃至第
６ｃ図は夫々トラック検出原理を示した各説明図、第７
図は本発明の他の実施例を示した模式図である。 （符号の説明） １： 半導体レーザ ５： 対物レンズ ６： 光ディスク ７： 集光レンズ ８： トラック検出用受光素子 ９： 合焦誤差検出用受光素子 特許出願人 株式会社 リ コ −第１図 第２図 第４０図 第４ｂ図 第５図 第６０図 第６ｂ図 第６Ｃ図第７図 臥
発明の１実施例における光ディスク６の断面を示した部
分断面図、第３図は合焦誤差検出感度と遮光率の関係を
示したグラフ図、第４ａ図及び第４ｂ図は夫々合焦誤差
検出原理を示した各説明図、第５図は合焦誤差検出感度
と焦点距雛比の関係を示したグラフ図、第６ａ図乃至第
６ｃ図は夫々トラック検出原理を示した各説明図、第７
図は本発明の他の実施例を示した模式図である。 （符号の説明） １： 半導体レーザ ５： 対物レンズ ６： 光ディスク ７： 集光レンズ ８： トラック検出用受光素子 ９： 合焦誤差検出用受光素子 特許出願人 株式会社 リ コ −第１図 第２図 第４０図 第４ｂ図 第５図 第６０図 第６ｂ図 第６Ｃ図第７図 臥
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源と、前記光源から出射された光を対物レンズを
介して光情報記録媒体上にスポットとして収束させると
共に該記録媒体からの反射光を集光レンズを介し収束さ
せつつ所定方向に出射する光学系ユニットと、前記出射
光の一部を遮断する遮光部材と、受光量を出力信号に変
換する受光素子から成り前記出射光の残部の少なくとも
一部を受光して前記記録媒体上のスポットと焦点との誤
差を検出する合焦誤差検出手段とを有し、前記対物レン
ズと前記集光レンズの各焦点距離を夫々ｆ＿０、ｆ＿１
とした場合に、 ｆ＿１／ｆ＿０≧１０ であることを特徴とする光情報検出装置。 ２、上記第１項において、前記遮光部材は前記出射光の
６５乃至９０％を遮断することを特徴とする光情報検出
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59180792A JPH0680534B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光情報検出装置 |
| US06/754,816 US4687916A (en) | 1984-07-13 | 1985-07-12 | Optical pick-up device for both focus and error tracking detection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59180792A JPH0680534B2 (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光情報検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159628A true JPS6159628A (ja) | 1986-03-27 |
| JPH0680534B2 JPH0680534B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=16089409
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59180792A Expired - Lifetime JPH0680534B2 (ja) | 1984-07-13 | 1984-08-31 | 光情報検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680534B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5848239A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59180792A patent/JPH0680534B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5848239A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0680534B2 (ja) | 1994-10-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |