JPS6159238A - 液体金属のサンプリング装置 - Google Patents
液体金属のサンプリング装置Info
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- JPS6159238A JPS6159238A JP59181545A JP18154584A JPS6159238A JP S6159238 A JPS6159238 A JP S6159238A JP 59181545 A JP59181545 A JP 59181545A JP 18154584 A JP18154584 A JP 18154584A JP S6159238 A JPS6159238 A JP S6159238A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampling
- liquid metal
- nozzle
- sodium
- container
- Prior art date
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/10—Devices for withdrawing samples in the liquid or fluent state
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21C—NUCLEAR REACTORS
- G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
- G21C17/02—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator
- G21C17/022—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator for monitoring liquid coolants or moderators
- G21C17/025—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator for monitoring liquid coolants or moderators for monitoring liquid metal coolants
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N2033/0093—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00 radioactive materials
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は液体金属冷却原子炉プラントの冷却材中の不純
物等を分析する装置で酸素ｙｊｉ度を測定するために使
用する液体金属のサンプリング装置に関する。
物等を分析する装置で酸素ｙｊｉ度を測定するために使
用する液体金属のサンプリング装置に関する。
［発明の技術的背景］
液体金属冷却原子炉においては冷ｕ１材として液体金属
たとえばナトリウムを用いている。以下液体金属の例と
してナトリウムについて説明するが、ナトリウムに限定
されるものではない。そのナトリウム中に酸素が溶解し
ていると、構造材及び燃料被覆管等の腐食に大きく影響
する。このため、コールドトラップ及び酸素計により濃
度管理が行なわれているが、より正確な酸素８度を測定
するためにナトリウムをサンプリングして、分析°丈る
ナトリウムサンプリング法が行なわれている。
たとえばナトリウムを用いている。以下液体金属の例と
してナトリウムについて説明するが、ナトリウムに限定
されるものではない。そのナトリウム中に酸素が溶解し
ていると、構造材及び燃料被覆管等の腐食に大きく影響
する。このため、コールドトラップ及び酸素計により濃
度管理が行なわれているが、より正確な酸素８度を測定
するためにナトリウムをサンプリングして、分析°丈る
ナトリウムサンプリング法が行なわれている。
そのナトリウムサンプリング法として管内を真空にした
ガラス管または金戊管の一端をナトリウム中に挿入し、
先端を破壊しナトリウムを管内へ吸い上げる吸い上げ法
、ナトリウムの自由液面下へサンプリングカップを降下
させて、ナトリウムを汲み上げる汲み上げ法、ナトリウ
ムのバイパスラインに金属製のサンプリングチューブを
取り付け、このチューブをナトリウムで洗浄後、ナトリ
ウムをサンプリングするバイパス−フロースル法、ナト
リウム流路にサンプリング部を設け、あらかじめサンプ
リングカップが取り１寸けられているカップにナトリウ
ムを流し込んでナトリウムでブラッシングした後サンプ
リングするバイパス−オーバーフロ法が知られている。
ガラス管または金戊管の一端をナトリウム中に挿入し、
先端を破壊しナトリウムを管内へ吸い上げる吸い上げ法
、ナトリウムの自由液面下へサンプリングカップを降下
させて、ナトリウムを汲み上げる汲み上げ法、ナトリウ
ムのバイパスラインに金属製のサンプリングチューブを
取り付け、このチューブをナトリウムで洗浄後、ナトリ
ウムをサンプリングするバイパス−フロースル法、ナト
リウム流路にサンプリング部を設け、あらかじめサンプ
リングカップが取り１寸けられているカップにナトリウ
ムを流し込んでナトリウムでブラッシングした後サンプ
リングするバイパス−オーバーフロ法が知られている。
これらのなかでも分析値の正確さおよびサンプリングの
容易さならびにサンプリング後オンラインでナトリウム
と酸化物を分離できる点等を考慮した場合にはバイパス
−オーバーフローカップ法が最適な方法と考えられる。
容易さならびにサンプリング後オンラインでナトリウム
と酸化物を分離できる点等を考慮した場合にはバイパス
−オーバーフローカップ法が最適な方法と考えられる。
また特に酸素分析を目的とする場合には試料を取り出す
際の空気による汚染を防止するために容器から試料を取
り出す前にナトリウムと酸化物を分離する必要がある。
際の空気による汚染を防止するために容器から試料を取
り出す前にナトリウムと酸化物を分離する必要がある。
この分離方法として従来、真空蒸留法が知られているの
で第２図を用いて真空蒸留法について説明する。
で第２図を用いて真空蒸留法について説明する。
第６図は真空蒸留装置を示す概略図である。真空蒸留装
置は、たで型円筒状容器１内に固定台２が配置され、そ
の固定台２の上にサンプリングボット４が載置されてい
る。容器１の上部７ランジ３には液面計５が取付けられ
ており、サンプリングボット４がセットされた位置に注
入ノズル６が容器１を貫通して配置されている。又、容
器１の上部はパイプ７を介してペーパートラップ８が接
続されている。ペーパートラップ８はさらに真空ポンプ
９と図示しないＡｒガス系とに各々パイプ１０．１８を
介して接続されている。容器１及びベーパートラップ８
の下部は各々パイプ１１゜１２を介して図示しないダン
プタンクに接続されている。各々のパイプ１０，１１．
１２および１８には各々バルブ１３．１４，１５．１９
が接続され、またノズル６にもバルブ１７が接続されて
いる。さらに容器１には加熱器２０が巻回されている。
置は、たで型円筒状容器１内に固定台２が配置され、そ
の固定台２の上にサンプリングボット４が載置されてい
る。容器１の上部７ランジ３には液面計５が取付けられ
ており、サンプリングボット４がセットされた位置に注
入ノズル６が容器１を貫通して配置されている。又、容
器１の上部はパイプ７を介してペーパートラップ８が接
続されている。ペーパートラップ８はさらに真空ポンプ
９と図示しないＡｒガス系とに各々パイプ１０．１８を
介して接続されている。容器１及びベーパートラップ８
の下部は各々パイプ１１゜１２を介して図示しないダン
プタンクに接続されている。各々のパイプ１０，１１．
１２および１８には各々バルブ１３．１４，１５．１９
が接続され、またノズル６にもバルブ１７が接続されて
いる。さらに容器１には加熱器２０が巻回されている。
上記のように構成された真空蒸８４装置は次のように真
空蒸留を行なう。
空蒸留を行なう。
サンプリングボット４を固定台２に載置して、バルブ１
３，１４．１７．１９を閉とし真空ポンプ１９を始動さ
せて、容器１内の真空引きを行なう。圧力計１６により
真空度をＭ１認し、バルブ１５を開とし、真空ポンプ９
を停止する。
３，１４．１７．１９を閉とし真空ポンプ１９を始動さ
せて、容器１内の真空引きを行なう。圧力計１６により
真空度をＭ１認し、バルブ１５を開とし、真空ポンプ９
を停止する。
バルブ１３を間とし、図示しないダンプタンクからナト
リウムをチャージする。液面計５によりナトリウムのチ
ャージ量を確認した後、バルブ１３を閉とする。上記の
ようにナトリウムをチャージして容器１内をブラッシン
グしてから、バルブ１９を開としアルゴンガスを供給し
、バルブ１３を開としダンプタンクへナトリウムをドレ
ンする。
リウムをチャージする。液面計５によりナトリウムのチ
ャージ量を確認した後、バルブ１３を閉とする。上記の
ようにナトリウムをチャージして容器１内をブラッシン
グしてから、バルブ１９を開としアルゴンガスを供給し
、バルブ１３を開としダンプタンクへナトリウムをドレ
ンする。
次にバルブ１３を閉とし、図示しないナトリウムサンプ
リングループからバルブ１７を調整して、注入ノズル６
により、ナトリウムをサンプリングボット４に注入する
。このときサンプリングボット４に注入するナトリウム
はオーバーフローさせ、ボット４内をブラッシングする
。次にバルブ１７を閉とし、真空ポンプ９を始動させ、
バルブ１５を間として容器内を高真空度（１０Ｔｏｒｒ
以上）に真空引きする。圧力計１６により真空度を確認
し、バルブ１５を閑とする。ペーパートラップ８に付属
しているファン２１を作動させる。加熱器２０をＯＮに
し、円筒容器を４００〜５００℃に加熱する。容器１の
加熱により、す”ンプリングポット４内のナトリウムが
蒸発を始める。蒸発したナトリウムは容器１内とペーパ
ートラップ８内の圧力差により、パイプ７を通ってペー
パートラップ内のファン２１により冷却されたメツシュ
部２２で凝縮してトラップされる。サンプリングボット
４内のナトリウムの蒸発が終ると、ボット４内の底部に
酸化ナトリウムのみが残る。 ゛そこで、加熱器２０
をＯＦＦとしてサンプリングボットを冷却し、上部７ラ
ンジ３から取り出して原子吸光分析等により酸素Ｍを測
定する。
リングループからバルブ１７を調整して、注入ノズル６
により、ナトリウムをサンプリングボット４に注入する
。このときサンプリングボット４に注入するナトリウム
はオーバーフローさせ、ボット４内をブラッシングする
。次にバルブ１７を閉とし、真空ポンプ９を始動させ、
バルブ１５を間として容器内を高真空度（１０Ｔｏｒｒ
以上）に真空引きする。圧力計１６により真空度を確認
し、バルブ１５を閑とする。ペーパートラップ８に付属
しているファン２１を作動させる。加熱器２０をＯＮに
し、円筒容器を４００〜５００℃に加熱する。容器１の
加熱により、す”ンプリングポット４内のナトリウムが
蒸発を始める。蒸発したナトリウムは容器１内とペーパ
ートラップ８内の圧力差により、パイプ７を通ってペー
パートラップ内のファン２１により冷却されたメツシュ
部２２で凝縮してトラップされる。サンプリングボット
４内のナトリウムの蒸発が終ると、ボット４内の底部に
酸化ナトリウムのみが残る。 ゛そこで、加熱器２０
をＯＦＦとしてサンプリングボットを冷却し、上部７ラ
ンジ３から取り出して原子吸光分析等により酸素Ｍを測
定する。
［背、ＷＡ技術の問題点］
以上のようにして真空蒸留法が行なわれるが上記の場合
、ナトリウムをサンプリングボットに採取した後、容器
１内を高真空度（１０Ｔｏｒｒ以上）にするため、容器
１外から酸素（空気）のリークインの問題があり、リー
クインによりサンプリングしたナトリウムが汚染される
恐れがある。
、ナトリウムをサンプリングボットに採取した後、容器
１内を高真空度（１０Ｔｏｒｒ以上）にするため、容器
１外から酸素（空気）のリークインの問題があり、リー
クインによりサンプリングしたナトリウムが汚染される
恐れがある。
また、高真空に耐え得るようなバルブを用いる等の考慮
が心皿となる。
が心皿となる。
［発明の目的］
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであ
り、ｒｌｉ素のリークインの恐れがなく、高真空におけ
る対策を考慮しなくても良い信頼性の高い液体金属のサ
ンプリング装置を提供することを目的とする。
り、ｒｌｉ素のリークインの恐れがなく、高真空におけ
る対策を考慮しなくても良い信頼性の高い液体金属のサ
ンプリング装置を提供することを目的とする。
［発明の概要］
すなわち本発明は横型筒状容器内にサンプリングボット
を載置し、該サンプリングボットを選択的に加熱する加
熱装置を設け、サンプリングポット内に液体金属を注入
するノズルおよび不活性ガスを供給するノズルを設け、
また容器の他端側に選択的に冷却する冷却装置を設け、
この冷却装置により冷却される冷却壁内にナトリウムト
ラップ材を設け、さらに容器内に液体金属を供給しかつ
ドレンするノズルを設けてなり、容器内を排気すること
なく不活性ガス中で液体金属の蒸留を行うことができる
常圧蒸留法を使用した液体金属のサンプリング装置であ
る。
を載置し、該サンプリングボットを選択的に加熱する加
熱装置を設け、サンプリングポット内に液体金属を注入
するノズルおよび不活性ガスを供給するノズルを設け、
また容器の他端側に選択的に冷却する冷却装置を設け、
この冷却装置により冷却される冷却壁内にナトリウムト
ラップ材を設け、さらに容器内に液体金属を供給しかつ
ドレンするノズルを設けてなり、容器内を排気すること
なく不活性ガス中で液体金属の蒸留を行うことができる
常圧蒸留法を使用した液体金属のサンプリング装置であ
る。
［発明の実施例］
以下第１図から第３図を参照しながら本発明に係る液体
金属のサンプリング装置の一実施例を説明する。
金属のサンプリング装置の一実施例を説明する。
第１図において、符号２４は横型円筒状容器を示してお
り、上面には第２図に示したサンプリングポット４を取
出すための取出口２３が接続されている。容器２４内に
はドレン口２５が設けられた固定台２６が配置され、こ
の固定台２６の上部にサンプリングボット４が載置され
る。サンプリングボット４の外周には加熱円筒２７が固
定され、この加熱円筒２７の内壁部に熱雷対２８がセッ
トされる。また加熱円筒２７の外壁部にはシースヒータ
２９が巻回されている。そして容器２４の左端面を貫通
してサンプリングボット４の位置に延在する液体金属の
注入ノズル３０が設置されている。さらに容器２４の右
端面側の外周面には、第４図に示したように冷却フィン
３１が取付けられており、この冷却フィン３１の周囲を
冷却ダクト３２で覆っている。冷却ダクト３２の入口側
は送風礪３３に接続されている。前記送風義３３により
冷却される冷却壁３９の内側にナトリウムトラップ材と
してナトリウムトラップフィン４０が設けられている。
り、上面には第２図に示したサンプリングポット４を取
出すための取出口２３が接続されている。容器２４内に
はドレン口２５が設けられた固定台２６が配置され、こ
の固定台２６の上部にサンプリングボット４が載置され
る。サンプリングボット４の外周には加熱円筒２７が固
定され、この加熱円筒２７の内壁部に熱雷対２８がセッ
トされる。また加熱円筒２７の外壁部にはシースヒータ
２９が巻回されている。そして容器２４の左端面を貫通
してサンプリングボット４の位置に延在する液体金属の
注入ノズル３０が設置されている。さらに容器２４の右
端面側の外周面には、第４図に示したように冷却フィン
３１が取付けられており、この冷却フィン３１の周囲を
冷却ダクト３２で覆っている。冷却ダクト３２の入口側
は送風礪３３に接続されている。前記送風義３３により
冷却される冷却壁３９の内側にナトリウムトラップ材と
してナトリウムトラップフィン４０が設けられている。
また容器２４の取出口２３は上部７ランジ３４で閉寒さ
れるが、上部７ランジ３４には液面計３５が取付けられ
ている。容器２４下部にはす］・リウムのドレンノズル
３６が取付けられるとともに、容器２４の取出口２３に
はガス系ノズル３７が取付けられている。
れるが、上部７ランジ３４には液面計３５が取付けられ
ている。容器２４下部にはす］・リウムのドレンノズル
３６が取付けられるとともに、容器２４の取出口２３に
はガス系ノズル３７が取付けられている。
ヒータ２９及び熱電対２８の配線取出部３６は容器２４
のポット取出口２３に取付けられている。
のポット取出口２３に取付けられている。
上記のように構成されたり゛ンブリング装置は次のよう
にして液体金属のサンプリング及び常圧蒸留が行われる
。
にして液体金属のサンプリング及び常圧蒸留が行われる
。
容器２４内をブラッシングするために図示していない不
活性ガスたとえばＡｒガス系を用いてガス系ノズル３７
から、真空排気を行い図示していないダンプタンクから
ドレンノズル３６を通して液体金属をチャージする。液
体金属のチャージは液面削３５により確認し、ブラッシ
ング後はドレンノズル３６からダンブタンクヘドレンす
る。次に図示しない液体金属サンプリングラインから注
入ノズル３０により液体金属をサンプリングボット４に
注入し、オーバーフローさせてブラッシングするととも
にサンプリングを行う。サンプリング後、送風ｖｓ３３
を作動させて冷却フィン３１部を冷却する。加熱ヒータ
７を作動さぜ、加熱器筒２７を加熱（４００〜６００℃
）することにより、サンプリングポット４内の液体金属
が蒸発を開始する。加熱器ｆｉ１２７の温度は熱電対２
８により確認する。
活性ガスたとえばＡｒガス系を用いてガス系ノズル３７
から、真空排気を行い図示していないダンプタンクから
ドレンノズル３６を通して液体金属をチャージする。液
体金属のチャージは液面削３５により確認し、ブラッシ
ング後はドレンノズル３６からダンブタンクヘドレンす
る。次に図示しない液体金属サンプリングラインから注
入ノズル３０により液体金属をサンプリングボット４に
注入し、オーバーフローさせてブラッシングするととも
にサンプリングを行う。サンプリング後、送風ｖｓ３３
を作動させて冷却フィン３１部を冷却する。加熱ヒータ
７を作動さぜ、加熱器筒２７を加熱（４００〜６００℃
）することにより、サンプリングポット４内の液体金属
が蒸発を開始する。加熱器ｆｉ１２７の温度は熱電対２
８により確認する。
蒸発した液体金属は、拡散した円筒容器２４が冷却フィ
ン３１の取付けられている部分の低温となっているナト
リウムトラップ材のフィン４０及び内壁３９部に凝縮し
て付着する。サンプリングボット４内の液体金属の蒸発
が終わると底部に金Ｆｍ ＩＩＱ化物たとえば酸化ナト
リウムのみが残る。ここで、加熱器２９を停止して、サ
ンプリングボット４を冷却したのち、ポット取出口２３
の上面フランジ３４をはずし、サンブリングボット４内
の酸化ナトリウムの原子吸光分析を行い、酸素量の測定
を行う。
ン３１の取付けられている部分の低温となっているナト
リウムトラップ材のフィン４０及び内壁３９部に凝縮し
て付着する。サンプリングボット４内の液体金属の蒸発
が終わると底部に金Ｆｍ ＩＩＱ化物たとえば酸化ナト
リウムのみが残る。ここで、加熱器２９を停止して、サ
ンプリングボット４を冷却したのち、ポット取出口２３
の上面フランジ３４をはずし、サンブリングボット４内
の酸化ナトリウムの原子吸光分析を行い、酸素量の測定
を行う。
次に第４図および第５図を参照しながら本発明の他の実
施例について説明する。なお、第５図において第１図と
同一部分は同一符号で示し重複した部分の説明は省略し
である。すなわち、この実施例では冷却壁３９の内側に
設けた第１図のフィン４９の代りにナトリウムトラップ
材として金網４１を使用した例である。この実施例にお
いても第１図の実施例と同等の効果を奏する。
施例について説明する。なお、第５図において第１図と
同一部分は同一符号で示し重複した部分の説明は省略し
である。すなわち、この実施例では冷却壁３９の内側に
設けた第１図のフィン４９の代りにナトリウムトラップ
材として金網４１を使用した例である。この実施例にお
いても第１図の実施例と同等の効果を奏する。
［発明の効果］
上記説明したように本発明によれば不活性ガスたとえば
アルゴンガス中で液体金属たとえばナトリウムをサンプ
リング及び蒸留するために、酸素（空気）のリークイン
等による汚染がなく信頼性が大きい。また、真空蒸留の
ための高真空バルブ、ベーパートラップ、高真空ポンプ
等の特別な真空排気系を必要としない。さらにナトリウ
ムトラップ材を冷却壁の内側に設けることにより、蒸留
時間を短縮することが可能になる。
アルゴンガス中で液体金属たとえばナトリウムをサンプ
リング及び蒸留するために、酸素（空気）のリークイン
等による汚染がなく信頼性が大きい。また、真空蒸留の
ための高真空バルブ、ベーパートラップ、高真空ポンプ
等の特別な真空排気系を必要としない。さらにナトリウ
ムトラップ材を冷却壁の内側に設けることにより、蒸留
時間を短縮することが可能になる。
第１図は本発明に係る液体金属のサンプリング装置の一
実施例を一部側面で示す縦断面図、第２図は第１図のサ
ンプリングポットを拡大して一部断面で示す斜視図、第
３図は第１図のＡ−Ａ線に沿う矢視断面図、第４図は本
発明の他の実施例を一部側面で示ず縦断面図、第５図は
第４図のＡ−Ａ線に沿う矢視断面図、第６図は従来の真
空蒸留法をもちいたサンプリング装置の概略構成図であ
る。 １・・・円筒容器 ２・・・固定台３・・・上部
フランジ ４・・・サンプリングポット ５・・・液面計 ６・・・注入ノズル８・・・
ペーパーイラップ ９・・・真空ポンプ ｉｏ、ｉｓ・・・バイブ１１．
１２・・・ドレンパイプ １３．１４．１５．１９・・・バルブ １６・・・圧力計 １７・・・流ｆｆ１ｍ整バル
ブ２０・・・加熱器（ヒータ） ２１・・・フィン ２２・・・メツシュ部２３・
・・サンプリングポット取出口 ２４・・・円筒容器 ２５・・・ドレン口２６・・
−固定台 ２７・・・加熱容器２８・・・熱電対 ２９・・・加熱器（シースヒータ） ３０・・・注入ノズル ３１・・・冷却ファン２３・
・・冷却ダクト ３３・・・送風器３４・・・上面フ
ランジ ３５・・・液面計３６・・・ドレンノズル ３
７・・・ガス系ノズル３８・・・配線取出部 ３９・
・・冷却壁４０・・・ナトリウムトラップ材のフィン４
１・・・金網 代 理 人 弁理士 則 近 憲
佑（ほか１名） 第１図 第２図 ｔｌＥＪ図 第４図 ３ｊ 第ど図 １に
実施例を一部側面で示す縦断面図、第２図は第１図のサ
ンプリングポットを拡大して一部断面で示す斜視図、第
３図は第１図のＡ−Ａ線に沿う矢視断面図、第４図は本
発明の他の実施例を一部側面で示ず縦断面図、第５図は
第４図のＡ−Ａ線に沿う矢視断面図、第６図は従来の真
空蒸留法をもちいたサンプリング装置の概略構成図であ
る。 １・・・円筒容器 ２・・・固定台３・・・上部
フランジ ４・・・サンプリングポット ５・・・液面計 ６・・・注入ノズル８・・・
ペーパーイラップ ９・・・真空ポンプ ｉｏ、ｉｓ・・・バイブ１１．
１２・・・ドレンパイプ １３．１４．１５．１９・・・バルブ １６・・・圧力計 １７・・・流ｆｆ１ｍ整バル
ブ２０・・・加熱器（ヒータ） ２１・・・フィン ２２・・・メツシュ部２３・
・・サンプリングポット取出口 ２４・・・円筒容器 ２５・・・ドレン口２６・・
−固定台 ２７・・・加熱容器２８・・・熱電対 ２９・・・加熱器（シースヒータ） ３０・・・注入ノズル ３１・・・冷却ファン２３・
・・冷却ダクト ３３・・・送風器３４・・・上面フ
ランジ ３５・・・液面計３６・・・ドレンノズル ３
７・・・ガス系ノズル３８・・・配線取出部 ３９・
・・冷却壁４０・・・ナトリウムトラップ材のフィン４
１・・・金網 代 理 人 弁理士 則 近 憲
佑（ほか１名） 第１図 第２図 ｔｌＥＪ図 第４図 ３ｊ 第ど図 １に
Claims (1)
- 液体金属を採取するサンプリングポットを挿着自在に収
納した横型筒状容器と、前記サンプリングポットを選択
的に加熱する加熱装置と、前記サンプリングポット内に
液体金属を注入する注入ノズルと、前記容器の一部を選
択的に冷却する冷却装置と、この冷却装置により冷却さ
れる冷却壁内に設けたナトリウムトラップ材と、前記容
器内に不活性ガスを供給するガス系ノズルと、前記容器
内を液体金属をドレンするドレンノズルと、前記容器内
を液体金属でブラッシングするために用いる液面計とを
具備したことを特徴とする液体金属のサンプリング装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181545A JPS6159238A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 液体金属のサンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181545A JPS6159238A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 液体金属のサンプリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159238A true JPS6159238A (ja) | 1986-03-26 |
Family
ID=16102653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59181545A Pending JPS6159238A (ja) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | 液体金属のサンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6159238A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8850715B2 (en) * | 2006-09-07 | 2014-10-07 | Eisenmann Ag | Process and installation for drying articles |
| CN104392755A (zh) * | 2014-09-24 | 2015-03-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种流动工况下液态重金属氧浓度控制固液交换反应装置 |
| CN105556614A (zh) * | 2013-11-12 | 2016-05-04 | 阿科姆工程合资(控股)公司 | 一种液态金属冷却核反应堆，该反应堆中的氧气热力学活度的监测系统及氧气热力学活度的监测方法 |
-
1984
- 1984-08-30 JP JP59181545A patent/JPS6159238A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8850715B2 (en) * | 2006-09-07 | 2014-10-07 | Eisenmann Ag | Process and installation for drying articles |
| CN105556614A (zh) * | 2013-11-12 | 2016-05-04 | 阿科姆工程合资(控股)公司 | 一种液态金属冷却核反应堆，该反应堆中的氧气热力学活度的监测系统及氧气热力学活度的监测方法 |
| CN104392755A (zh) * | 2014-09-24 | 2015-03-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种流动工况下液态重金属氧浓度控制固液交换反应装置 |
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