JPS6156909A - 光フアイバ式回転センサにおける信号評価方法 - Google Patents
光フアイバ式回転センサにおける信号評価方法Info
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- JPS6156909A JPS6156909A JP60167860A JP16786085A JPS6156909A JP S6156909 A JPS6156909 A JP S6156909A JP 60167860 A JP60167860 A JP 60167860A JP 16786085 A JP16786085 A JP 16786085A JP S6156909 A JPS6156909 A JP S6156909A
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- Japan
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- optical fiber
- rotation sensor
- signal
- signal evaluation
- evaluation method
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 、 ゛本発明
は、サニヤック効果を利用した元フアイバ弐回転センサ
における信号評価方法に関する。その場合この方法では
、光フアイバを複数回巻回して形成される回転路を逆方
向に回転する2つの光波を相互に重畳し、位相変調器に
よって回転光を変調し、回転センサにより形成された信
号から評価ユニツ)Kよって回転速度を検出する。
は、サニヤック効果を利用した元フアイバ弐回転センサ
における信号評価方法に関する。その場合この方法では
、光フアイバを複数回巻回して形成される回転路を逆方
向に回転する2つの光波を相互に重畳し、位相変調器に
よって回転光を変調し、回転センサにより形成された信
号から評価ユニツ)Kよって回転速度を検出する。
従来技術
公知の光学式回転センサは、例外なく干渉測定法を利用
している。この場合、閉鎖された伝j 送路を逆方向に回転する2つの電磁波(光#り忙対する
回転の影響を、特徴的な干渉縞をオ0用して検出する。
している。この場合、閉鎖された伝j 送路を逆方向に回転する2つの電磁波(光#り忙対する
回転の影響を、特徴的な干渉縞をオ0用して検出する。
一般に検出感度を高めるには、位相を感知する測定技術
を利用する。この方法では、付加的に位相変調を行なう
必要がある。
を利用する。この方法では、付加的に位相変調を行なう
必要がある。
発明の解決すべき問題点
上述の方法の欠点は、測定により得られる信□ 号に、
所望情@(回転速度に比例する角関数)以外の比例係数
が含まれていることである。このよ5な係哀が変化する
と、回転センサのスケ ゛−リング安定性に悪い影響を
与える。係数の変化は、例えば次のような原因で生じる
。
所望情@(回転速度に比例する角関数)以外の比例係数
が含まれていることである。このよ5な係哀が変化する
と、回転センサのスケ ゛−リング安定性に悪い影響を
与える。係数の変化は、例えば次のような原因で生じる
。
−電磁送信器から放射される出力の変化(例えばレーデ
ダイオードの老化が原因となる)、およびそれに伴つ℃
出力分割により生じる部分出力の変化 一伝送減衰度の変化(1Aに、伝送路に設けられた元学
累子間の整合状態の変化、光フアイバの老化等が原因と
なる) 1−伝搬媒体お
よび@光子を通過する時の統計的偏光回転に基づ(偏波
性7エーソング ー光波の可干渉性、従って干渉縞の可視性を阻害するす
べての要因、殊にコヒーレンス長の変化
・−主ビーム分割器における分割
比の変化。一定の分割比を得るには、所定のパラメータ
(例えば偏光方向)を維持しなければならない。
ダイオードの老化が原因となる)、およびそれに伴つ℃
出力分割により生じる部分出力の変化 一伝送減衰度の変化(1Aに、伝送路に設けられた元学
累子間の整合状態の変化、光フアイバの老化等が原因と
なる) 1−伝搬媒体お
よび@光子を通過する時の統計的偏光回転に基づ(偏波
性7エーソング ー光波の可干渉性、従って干渉縞の可視性を阻害するす
べての要因、殊にコヒーレンス長の変化
・−主ビーム分割器における分割
比の変化。一定の分割比を得るには、所定のパラメータ
(例えば偏光方向)を維持しなければならない。
、−検出器効率の変化。これは元受信器における典履、
的な老化%性が原因であり、外部条件(温度、給電電圧
)に強く依存する。
的な老化%性が原因であり、外部条件(温度、給電電圧
)に強く依存する。
このよ5な欠点な取除(ために1 ドイツ連邦共和国特
許出願公開用3040514号公報忙より次のような方
法が提案されている。すなわちこの方法では、複数の周
波数において、商の形成により前述の比例係数が除去さ
れるように、出力信号を評価する。しかしこの方法は、
位相高 感知整流器を必要とするので極めて豚コストで、・ある
O − 8本発明の課題は、冒頭で述べた信号評価方法において
、好適な簡単な測定方法、を1使用して僅かなコストで
上述の障害源を補゛償することであ、る。パ
・ 問題点を解決するための手段 本発FyJKよれば、この課題は次のようにして解決さ
れる。すなわち、信号に含まれる比例定数Kを測定装置
忙よつ″C測定し、スフ−リングの不安定性を補償する
ために前記比例定数を使用するのである。この方法を実
施するためには、例えば、測定値Xによってサニヤック
信号を除算するか、あるいは光出力安定化のために測定
値Kを制御回路へ帰還すればよい。
許出願公開用3040514号公報忙より次のような方
法が提案されている。すなわちこの方法では、複数の周
波数において、商の形成により前述の比例係数が除去さ
れるように、出力信号を評価する。しかしこの方法は、
位相高 感知整流器を必要とするので極めて豚コストで、・ある
O − 8本発明の課題は、冒頭で述べた信号評価方法において
、好適な簡単な測定方法、を1使用して僅かなコストで
上述の障害源を補゛償することであ、る。パ
・ 問題点を解決するための手段 本発FyJKよれば、この課題は次のようにして解決さ
れる。すなわち、信号に含まれる比例定数Kを測定装置
忙よつ″C測定し、スフ−リングの不安定性を補償する
ために前記比例定数を使用するのである。この方法を実
施するためには、例えば、測定値Xによってサニヤック
信号を除算するか、あるいは光出力安定化のために測定
値Kを制御回路へ帰還すればよい。
従って本発明においては、次のよ5な測定装置が用いら
れる。すなわちこの測定装置は、適切な測定方法、有利
にはピーク値測定によって比例定数を別々に測定し、回
転センサにより形成された信号によって細定値を除算す
る。あるいは光出力の安定化のため忙測定値を制御回路
へ帰還する。従って、測定装置に加わる障害(前述のよ
うにこれらは比例定数の変化として現れる)は測定信号
に影響しない。
れる。すなわちこの測定装置は、適切な測定方法、有利
にはピーク値測定によって比例定数を別々に測定し、回
転センサにより形成された信号によって細定値を除算す
る。あるいは光出力の安定化のため忙測定値を制御回路
へ帰還する。従って、測定装置に加わる障害(前述のよ
うにこれらは比例定数の変化として現れる)は測定信号
に影響しない。
−飾物
次に図面を参藤しながら実施例について本発 ゛明を詳
しく説明する・ N1図は元フアイバを用いた進路信号発生器を示してい
る。ここで、レーデ供給装置2はレーデダイオード3に
制御信号を供給する。レーデダイオードのレーデ信号は
光伝送系に入力結合される。
しく説明する・ N1図は元フアイバを用いた進路信号発生器を示してい
る。ここで、レーデ供給装置2はレーデダイオード3に
制御信号を供給する。レーデダイオードのレーデ信号は
光伝送系に入力結合される。
同時にレーデダイオード3の信号は、第2の光出力側を
介して受信ダイオード5(モニタ)に導かれる。受信ダ
イオードから、帰還線路6を介してレーデ供給装置2へ
相応の信号電圧Jが供給される。レーデダイオード3の
光出力は設定値18に依存している。設定値九は基準値
発生器1によって形成され、信号電圧Jと比較される。
介して受信ダイオード5(モニタ)に導かれる。受信ダ
イオードから、帰還線路6を介してレーデ供給装置2へ
相応の信号電圧Jが供給される。レーデダイオード3の
光出力は設定値18に依存している。設定値九は基準値
発生器1によって形成され、信号電圧Jと比較される。
光伝送系は、光フアイバ、および光フアイバ式ジャイロ
に必要な他の素子(偏光子、脱偏元:! 子、
変調器等)から成つ工いる。光伝送系から出力結合され
た信号は受信ダイオード7に受信される。レーデ信号は
変調装置8によって位相変調−れる。基準信号は、線路
9を介して位相感知整流器10に違する。受信ダイオー
ド1には、電圧源11から安定した給電電圧が供給され
る。増幅された受信ダイオード1の出力信号は、位相感
知整流器10およびピーク値測定装置12に供給される
。ピーク値の測定によって比例定数Kが検出される。こ
の比例定数は、位相感知整流器100発生した信号を除
算するために用いられる。それによって、サニヤック位
相ψsの関数を表わし、比例定数Kを含む伝達関数とは
無関係な出力信号が形成される。その結果、定数にの変
化は測定結果に影暫しなくなる。定数には、例えば次の
ような原因で変化する。
に必要な他の素子(偏光子、脱偏元:! 子、
変調器等)から成つ工いる。光伝送系から出力結合され
た信号は受信ダイオード7に受信される。レーデ信号は
変調装置8によって位相変調−れる。基準信号は、線路
9を介して位相感知整流器10に違する。受信ダイオー
ド1には、電圧源11から安定した給電電圧が供給され
る。増幅された受信ダイオード1の出力信号は、位相感
知整流器10およびピーク値測定装置12に供給される
。ピーク値の測定によって比例定数Kが検出される。こ
の比例定数は、位相感知整流器100発生した信号を除
算するために用いられる。それによって、サニヤック位
相ψsの関数を表わし、比例定数Kを含む伝達関数とは
無関係な出力信号が形成される。その結果、定数にの変
化は測定結果に影暫しなくなる。定数には、例えば次の
ような原因で変化する。
一電磁送信器から放射される出力の変化(例えばレーデ
ダイオ−良の老化、基準値発生器1の不安定動作などが
原因となる)、およびそれに伴って出力分割により生じ
る部分出力の変化−i送減衰度の変化(例えば、伝送路
に設けられた光学素子間の整合状態の変化、光フアイバ
の老化、振動等の周囲条件の変化が原因となる)(7ン ー伝搬媒体および偏光子を通過する時の統計的な偏光回
転に基づく偏波性フェージング−第1の電子増幅段の増
幅度の変化 −主ビーム分割器の分割器の変化 一検出器効率の変化。これは先受信器における典型的な
老化特性が原因であり、外゛部条件(温度、給電電圧)
に強(依存する。
ダイオ−良の老化、基準値発生器1の不安定動作などが
原因となる)、およびそれに伴って出力分割により生じ
る部分出力の変化−i送減衰度の変化(例えば、伝送路
に設けられた光学素子間の整合状態の変化、光フアイバ
の老化、振動等の周囲条件の変化が原因となる)(7ン ー伝搬媒体および偏光子を通過する時の統計的な偏光回
転に基づく偏波性フェージング−第1の電子増幅段の増
幅度の変化 −主ビーム分割器の分割器の変化 一検出器効率の変化。これは先受信器における典型的な
老化特性が原因であり、外゛部条件(温度、給電電圧)
に強(依存する。
多少なりとも比例定数に作用し、従って測定結果を誤ら
せる原因になる上述の障害は、ピーク値の測定によって
、ないしくもつと一般的に言えば)比例定数を検出する
測定法を導入することによって、IN1′!Aに除去す
ることができる。
せる原因になる上述の障害は、ピーク値の測定によって
、ないしくもつと一般的に言えば)比例定数を検出する
測定法を導入することによって、IN1′!Aに除去す
ることができる。
第2図に示す実施例は、第1図の実施例と#ミとんど同
一である。違う点は、レーデダイオード3の光出力が可
変制御されることである。つまり、81図では受信ダイ
オード5が光出力を測定し、帰還信号Jを発生していた
。これに対して第2図では、ピーク値測定装置12によ
り形成される比例定数Kが帰還信号となり、設定値R8
と比較される。こりよプな可変制御回路によって、上述
のすべての障害を検出し、出力信号を一定にすることが
できる。
一である。違う点は、レーデダイオード3の光出力が可
変制御されることである。つまり、81図では受信ダイ
オード5が光出力を測定し、帰還信号Jを発生していた
。これに対して第2図では、ピーク値測定装置12によ
り形成される比例定数Kが帰還信号となり、設定値R8
と比較される。こりよプな可変制御回路によって、上述
のすべての障害を検出し、出力信号を一定にすることが
できる。
比例係数を決定するための前提は、検出器信号の時間特
性がサニヤック位相と無関係に最大値およ、び最小値を
一過丁、ることである。こり大値と最小値との差から所
望のピーク値信号が供給される。この前提は、所定の最
小位相変調幅を下回らない場合に1.常に成立する。
性がサニヤック位相と無関係に最大値およ、び最小値を
一過丁、ることである。こり大値と最小値との差から所
望のピーク値信号が供給される。この前提は、所定の最
小位相変調幅を下回らない場合に1.常に成立する。
検出器信号のうち所望情報を含む成分は、次の時間特性
を有している。
を有している。
タタシ、ψ6=サニヤック位相
ω ;変調周波数
マmに変調幅
比例定数Kを直接測定するためには、式(1)における
角関数の偏角が、変調周期ととに少く(2に+1)・−
)を通過しなければならない(ただし、 kは整数)。
角関数の偏角が、変調周期ととに少く(2に+1)・−
)を通過しなければならない(ただし、 kは整数)。
・−〉■の場合、この条件はψsと無関係に常に満たさ
れる; 変調幅が小さい場合<Vm<−Z)忙比例定数を決定す
るため、ピーク値測定の際に比例定数が。
れる; 変調幅が小さい場合<Vm<−Z)忙比例定数を決定す
るため、ピーク値測定の際に比例定数が。
関数f(マエ、ψi3)と結合される;max’
m1n iD71= 、=K −f (Vm、ψs)
(3)ジャイロの出力信号をピーク値で除算する際に、
新しい関数f(−2ψs)が発生する。
m1n iD71= 、=K −f (Vm、ψs)
(3)ジャイロの出力信号をピーク値で除算する際に、
新しい関数f(−2ψs)が発生する。
:(ただしJ工(2υm) =第1種ベッセル関数
8この関数はスケーリングの変動を伴う比例定数Kt
?Vしておらず、・一義的にすニヤツク位相と結合され
る。、正確な/lv+性は用いられている変(1υ 調度忙応じて理論的に算出され、(例えばマイクロプロ
セッサで制御された)信号評価のために利用される。こ
の種の信号評価においては、理論的に要求される最適の
変調幅が用いられる。
8この関数はスケーリングの変動を伴う比例定数Kt
?Vしておらず、・一義的にすニヤツク位相と結合され
る。、正確な/lv+性は用いられている変(1υ 調度忙応じて理論的に算出され、(例えばマイクロプロ
セッサで制御された)信号評価のために利用される。こ
の種の信号評価においては、理論的に要求される最適の
変調幅が用いられる。
発明の効果
本発明によれば、測定結果を誤らせる障害を僅かなコス
トで除去することができる。
トで除去することができる。
第1図は本発明の方法を実施する装置の実施例のブロッ
ク図、第2図は第1図の装置の変形例のテロツク図であ
る。・ 1・・・基準値発生器、2・・・レーデ供給装置、3・
・・レーデダイオード、4・・・光伝送系、5,1・・
・受信ダイオード、6・・・帰還線路、8・・・変調装
置、9・・・線路、10・・・整流器、11・・・電圧
源、12・・・ピーク値測定装置。
ク図、第2図は第1図の装置の変形例のテロツク図であ
る。・ 1・・・基準値発生器、2・・・レーデ供給装置、3・
・・レーデダイオード、4・・・光伝送系、5,1・・
・受信ダイオード、6・・・帰還線路、8・・・変調装
置、9・・・線路、10・・・整流器、11・・・電圧
源、12・・・ピーク値測定装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光フアイバを複数回巻回して形成される回転路を逆
方向に回転する2つの光波を相互に重畳し、位相変調器
によつて回転光を変調し、回転センサにより形成された
信号から評価ユニツトによつて回転速度を検出する、サ
ニヤツク効果を利用した光フアイバ式回転センサにおけ
る信号評価方法において、前記信号に含まれる比例定数
Kを測定装置(12)によつて測定し、それにひきつづ
いてスケーリングの不安定性を補償するために前記比例
定数を使用する、ことを特徴とする光フアイバ式回転セ
ンサにおける信号評価方法 2、測定された比例定数によつて信号を除算する特許請
求の範囲第1項記載の光フアイバ式回転センサにおける
信号評価方法。 3、光出力を安定化するために比例定数Kを制御回路に
帰還結合する特許請求の範囲第1項記載の光フアイバ式
回転センサにおける信号評価方法 4、測定装置がピーク値測定を行なう特許請求の範囲第
1項から第3項のいずれか1項記載の光フアイバ式回転
センサにおける信号評価方法。 5、サニヤツク位相ψ_sのすべての値に対して次の関
係式 ψ_s/s+Ψ_m・sinω_mt=2n・π/2
(5)¥ψ_s¥+Ψ_m・sinω_mt=(2n+
1)・π/2 (6)が成り立つように変調幅を選定し
、その際ω_mは変調周波数、Ψ_mは変調幅、nは整
数である特許請求の範囲第4項記載の光フアイバ式回転
センサにおける信号評価方法。 6、任意の変調幅においてピーク値を評価することによ
り値K・f(Ψ_m、ψ_s)を形成し、その場合f(
Ψ_m、ψ_s)は回転速度の依存関数である特許請求
の範囲第2項記載の光フアイバ式回転センサにおける信
号評価方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3428147.9 | 1984-07-31 | ||
DE19843428147 DE3428147A1 (de) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Verfahren zur signalauswertung bei einem faseroptischen rotationssensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6156909A true JPS6156909A (ja) | 1986-03-22 |
JPH0578771B2 JPH0578771B2 (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=6241974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60167860A Granted JPS6156909A (ja) | 1984-07-31 | 1985-07-31 | 光フアイバ式回転センサにおける信号評価方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4756620A (ja) |
EP (1) | EP0172356B1 (ja) |
JP (1) | JPS6156909A (ja) |
DE (2) | DE3428147A1 (ja) |
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JPH04106413A (ja) * | 1990-08-27 | 1992-04-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバジヤイロの信号処理方式 |
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DE2936248A1 (de) * | 1979-09-07 | 1981-03-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum betrieb eines ringinterferometers als rotationssensor |
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1984
- 1984-07-31 DE DE19843428147 patent/DE3428147A1/de not_active Ceased
-
1985
- 1985-06-22 EP EP85107767A patent/EP0172356B1/de not_active Expired
- 1985-06-22 DE DE8585107767T patent/DE3573662D1/de not_active Expired
- 1985-07-26 US US06/759,166 patent/US4756620A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-07-31 JP JP60167860A patent/JPS6156909A/ja active Granted
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6337212A (ja) * | 1986-07-29 | 1988-02-17 | リテフ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフトウング | 受動光学共振器による回転速度読出しのための方法 |
JPH05187877A (ja) * | 1992-01-16 | 1993-07-27 | Japan Aviation Electron Ind Ltd | 光ファイバジャイロ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0578771B2 (ja) | 1993-10-29 |
EP0172356A3 (en) | 1986-06-25 |
DE3573662D1 (en) | 1989-11-16 |
EP0172356A2 (de) | 1986-02-26 |
DE3428147A1 (de) | 1986-02-13 |
US4756620A (en) | 1988-07-12 |
EP0172356B1 (de) | 1989-10-11 |
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