JPS61500341A - Method and apparatus for positioning elements relative to a workpiece - Google Patents

Method and apparatus for positioning elements relative to a workpiece

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JPS61500341A
JPS61500341A JP50404784A JP50404784A JPS61500341A JP S61500341 A JPS61500341 A JP S61500341A JP 50404784 A JP50404784 A JP 50404784A JP 50404784 A JP50404784 A JP 50404784A JP S61500341 A JPS61500341 A JP S61500341A
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moving
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JP50404784A
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ロツトマン マクシミリアン アール
テウス ウヴエ
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ゼバテツチ ア−ゲ−
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。 (57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 作業片に・して素 を位置決めするための方法及び装置本発明は作業片に対して 素子を位置決めするための方法に関し、マガジンもしくは保蔵部から或いはマガ ジンもしくは保蔵部の群より選ばれた特定のマガジンもしくは保蔵部から素子を 取り去る段階、素子を作業片に移動させる段階及び素子を正確にあらかじめきめ られた位置もしくは作業片上に配置させる段階からなる。本発明は更に上述方法 を実施するのに適した装置に関し、この装置は少くとも一つの素子マガジンもし くは保蔵部或いはマガジンもしくは保蔵部の群、素子のピックアップ及び保持部 材を具備する少くとも一つの素子移動部、作業片を受けいれるようにした少くと も一つの作業片受容及び保持ステーションを有し、前記素子移動部はマガジン或 いは保蔵部と作業片受容ステーションとの間を移動可能であるようにする。[Detailed description of the invention] Method and device for positioning a blank on a workpiece The present invention provides a method and apparatus for positioning a blank on a workpiece. Regarding the method for positioning the elements, from the magazine or storage or from the magazine elements from a particular magazine or store selected from a group of magazines or stores. removing the elements, moving the elements to the work piece, and accurately predetermining the elements. the work piece. The present invention further relates to the above-mentioned method. Regarding equipment suitable for performing storage unit, magazine or group of storage units, element pickup and holding unit at least one element moving part comprising a material, at least one element moving part adapted to receive a work piece; a work piece receiving and holding station; or movable between the storage section and the workpiece receiving station.

本発明を適用する好ましい分野は電子回路の製造、特に支持素子上に電子素子を V、置する分野である。支持素子として例えばプリント回路基板、混成回路のた めのセラミック基体或いは同様の作業片を考えることができる。このような支持 素子はエポキシ樹脂、セラミック材料或いは類似のものからなる平板な導体キャ リアボードがらなり、その表面はあるパターンの電導トレースが設けられ、また 微細な電気的或いは電子的素子、例えばレジスタ、コンデンサ。A preferred field of application of the invention is the manufacture of electronic circuits, in particular the manufacture of electronic components on support elements. V, is the field in which it is placed. For example, printed circuit boards, hybrid circuits, etc. can be used as supporting elements. A ceramic substrate or similar work piece can be considered. support like this The element is a flat conductive carrier made of epoxy resin, ceramic material or similar. The rear board has a surface with a pattern of conductive traces and Minute electrical or electronic elements, such as resistors and capacitors.

トランジスタ等を受け入れる複数の接続点が設けられている。特に混成回路にみ られる極小の寸法と緊密な構成に鑑み、支持素子表面に載置される素子は、支持 素子表面上に設けられた接続点及び導体トレースに着合する前に所望位置に可能 な限り高度に正確に位置するようにすることが極めて重要である。A plurality of connection points are provided for receiving transistors and the like. Especially for hybrid circuits. Due to the extremely small dimensions and tight configuration of the Can be placed in the desired position before bonding to connection points and conductor traces provided on the element surface It is extremely important to ensure that the location is as accurate as possible.

このような電子回路を可能な限り高度に自動化した経済的な製造方法を実現する ために自動組立農機を使用することが知られており、これは適当なブOグラムに より制御され、選定された素子を自動的にマガジンから或いはマガジン群の中の あるマガジンからピックアップし、これら素子を回路基板に送り、最後に素子を 回路基板表面上に正確に所定位置に配置するようにしたものである。今日までに 得られる公知技術による知識ではこの移動部を制御することが可能であり、これ は所望の高度の精密さをもってマガジンから素子を作業片に移動するようにしう る。一方、しかし、マガジンにおける素子の位置は所望するほどに高精密さをも って保証されておらず、従って移動装置による素子のピックアップ位置は理論的 な、みか【プの位置軸線に対してずれる場合もあることを指摘しておかなければ ならない換言するとこのことは、移動部のピックアップ及び保持部材により保持 される素子は所望のみかけ位置からずれたり、或いは傾斜した状態にある場合も あることを意味するのである。Achieve a highly automated and economical manufacturing method for such electronic circuits as possible. It is known that automatically assembled agricultural machinery is used for automatically selects selected elements from a magazine or group of magazines. Pick up the elements from a certain magazine, send these elements to the circuit board, and finally the elements It is arranged precisely at a predetermined position on the surface of the circuit board. Until today With the knowledge obtained from the known technology, it is possible to control this moving part, and this to move the elements from the magazine to the work piece with the desired degree of precision. Ru. On the other hand, however, the position of the elements in the magazine cannot be as precise as desired. Therefore, the pick-up position of the element by the moving device is not guaranteed. I have to point out that there are cases where the position of Mika is shifted from the axis of the position. In other words, this means that the pickup of the moving part and the holding member The element to be displayed may be shifted from the desired apparent position or may be tilted. It means something.

この位置のずれを修正することを目的として、不正確な位置で持ち上げられた素 子を理論的な位置軸線にシフトさせるため、即ち対称軸線が移動部の理論的位置 軸線に一致するまで素子を快適にシフトさせるため、中心位置決め素子を有する 移動部のピックアップ手段を設けることが提案された。このような装置は例えば 米国特許第4.135゜630号に開示されており、これはマガジンから取りは ずされ回路基板上に配置される電子素子の、中心位置決めをするための構成を教 示している。これによれば回路基板上に配置される素子は偏位して把持され、従 って正確な位置に配置されないこと、即ち回路基板表面上の所望みかけ位置に配 置されないのである、と考えた構成である。このような不正確な配置となる状態 を避゛けるため上述特許は中心位置決め部を使用することを提案しており、これ を使用することによりマガジンから取りはずされる素子は移動部の理論的な、み かけの中心軸線に関し正確に中心位置が定まる、というものである。With the aim of correcting this positional deviation, the element is lifted in an incorrect position. In order to shift the child to the theoretical position axis, i.e. the axis of symmetry is the theoretical position of the moving part. Has a centering element to comfortably shift the element until it aligns with the axis It was proposed to provide pick-up means for the moving part. Such devices are for example Disclosed in U.S. Pat. No. 4,135°630, it is not possible to remove the This course teaches the configuration for center positioning of electronic elements placed on a shifted circuit board. It shows. According to this, the elements placed on the circuit board are held with an offset position, and that the circuit board surface is The structure was designed with the idea that there would be no Conditions that result in such inaccurate placement In order to avoid The element removed from the magazine by using This means that the center position can be accurately determined with respect to the center axis of the hook.

この方法及びこの装置はそれぞれ基本的には満足のゆく態様で作動する。しかし ながら通常極めて小さな寸法の電子素子を把持して理論的に要求されるみかけ位 置に機械的にシフトさせることは、機械的に複雑で高価な素子が必要である。こ のような中心位置決め部は極めて高精密な基準に合致するようにしなければなら ないのであるからその設計及び製造は極くデリケートなものであり、従って高価 につく。This method and this device each operate in an essentially satisfactory manner. but However, the theoretically required apparent position when gripping electronic devices that are usually extremely small in size is Mechanical shifting into position requires mechanically complex and expensive components. child Center locators such as Because there are no It gets wet.

また中心位置決め部の精密な作業を損う著しい摩耗が生ずること、更に素子の破 壊或いは損傷がある条件下では発生することに注意しなければならない。この公 知構造の別の難点は作業の加速成いは非加速できるようにするためには極めて高 価につくことである。回路基板上に複数の素子を短いリズムで配置させるように するためには、移動部の駆動手段(これもまた上述中心位置決め部を有するよう にしなければならない)は極めて強力なものでなければならない。In addition, significant wear will occur that impairs the precision work of the center positioning part, and further damage to the element will occur. It must be noted that breakage or damage may occur under certain conditions. This public Another difficulty with knowledge structures is that the acceleration or non-acceleration of work requires extremely high It's worth it. Arranging multiple elements on a circuit board in a short rhythm In order to ) must be extremely powerful.

最後に、寸法の異なる素子の中心位置決めをするためには移動部のピックアップ 部材ととりはずし自在に接続できる複数の異なる寸法の中心位置決め部を用意し ておかなければならず、このことは公知構造における大きなデ1点である。更に このような中心位置決め部をとりかえるための望ましくない時間浪費的な作業、 相異なる中心位置決め部をストックしておくのに要する比較的高くつく費用及び 投資についても考慮しなければならない。Finally, in order to center position the elements with different dimensions, pick up the moving part. We provide center positioning parts with multiple different dimensions that can be removably connected to parts. This is a major drawback in known structures. Furthermore the undesirable and time-consuming task of replacing such center locators; The relatively high cost and cost of keeping different centering parts in stock Investment must also be considered.

本発明の第一の目的は上述した難点を示すことなくマガジンからピックアップさ れた素子を作業片のPfi 7F−位置ニ迅速にかつ極めて高い精度で配置しう る方法を提供することである。この際には複雑で高価な中央位置決め部の使用が 必要でないようにしなければならない。The first object of the present invention is to allow pickup from a magazine without exhibiting the above-mentioned drawbacks. quickly and with extremely high precision the The objective is to provide a method for This necessitates the use of complex and expensive central positioning elements. It must be made unnecessary.

従って本発明による素子を作業片上に配置する方法は請求の範囲第1項の上位概 念部に記載されるような方法にかかわるものである。本発明の上記目的の解決を はかるためには請求の範囲の特徴部に記載される特徴を有するようにすることが 提案される。Therefore, the method of arranging the element according to the invention on a workpiece is described in the subclaim of claim 1. This relates to the method described in the memorandum. To solve the above objects of the present invention In order to measure it, it is necessary to have the features described in the characteristic part of the claims. Suggested.

本発明による方法においては、従って一旦ビツクアップされた素子を望ましい理 論的に最適である位置に再P装置すること、即ちその中心を移動部の保持手段に より理論的な位置軸線に一致させるようにする構成をとらないようにしである。Therefore, in the method according to the present invention, once the device has been backed up, it can be adjusted to a desired state. Re-position the P device at a logically optimal position, that is, place its center on the holding means of the moving part. This is to avoid adopting a configuration that matches a more theoretical positional axis.

これとは対照的に、前記位置軸線に対する素子のずれ値及び、必要な場合には傾 斜ずれ角度を決定し、この段階にひきつづく素子の移動路及び/もしくは作業片 の位置を変更し或いは修正して、素子が最終的に極めて高い精度で作業片上或い は作業片中の所定位置に配置されるように構成される。中心位置決め部を設ける 必要がないようにしたため、素子移動部の移動部ははるかに小さくなる。修正操 作は素子移動部の移動路の修正であれ、或いは作業片の位置の修正であれ、いず れにしろ必要な装置の制御部、例えば制御プログラムの目的に適う補完により行 われるから、補足的な制御手段は必要ではない。In contrast, the offset value and, if necessary, the tilt of the element with respect to said position axis Determine the skew angle and determine the movement path of the element and/or workpiece following this step. by changing or modifying the position of the element so that the element is finally positioned on the workpiece or is configured to be placed in a predetermined position within the workpiece. Provide a center positioning part Since this is not necessary, the moving part of the element moving part becomes much smaller. corrective maneuver Whether it is modifying the moving path of the element moving part or modifying the position of the workpiece, In any case, the control part of the necessary equipment, for example, by means of a purposeful supplement to the control program. Supplementary control measures are not required.

本発明方法によれば、素子の位置の走査は素子を載置することなく素子が素子移 動手段に保持されている間に行われる。素子はマガジンもしくはマガジン群より 選ばれたマガジンから取り去られ、作業片の移動中位置走査部に送られる。走査 部は理論的位置決めの軸線に対する素子のずれ量を走査し、υ制御部に修正信号 を送り、それにより移動部の移動路及び/もしくは作業片の位置に影響を与える ようにするかもしくは修正する。According to the method of the present invention, the element position can be scanned without placing the element. It is carried out while being held in a moving means. The element is from a magazine or a group of magazines. The selected magazine is removed and the work piece is sent to the moving position scanning section. scanning The part scans the amount of deviation of the element with respect to the theoretical positioning axis and sends a correction signal to the υ control part. to influence the travel path of the moving part and/or the position of the work piece. or modify it.

もっとも簡単な場合には水平面上の位置方向のみの、みかけ位置からのずれを決 定するだけでよい。これは、マガジンからピックアップされる素子が第一の水平 方向軸上に正確に位置しているが、前記軸に対して直角方向の第二軸に対して正 確でない位置に位置している場合である。通常、みかけ位置に対して二つの相互 に直角方向、即ちX方向とY方向に、マガジンからピックアップされた素子の位 置がずれているかどうかを決定することが必要である。このような走査は後に詳 細に説明すると走査部により行うこができる。In the simplest case, only the deviation from the apparent position in the horizontal plane is determined. All you have to do is set it. This means that the elements being picked up from the magazine are placed in the first horizontal position. exactly on a directional axis, but perpendicular to a second axis perpendicular to said axis. This is the case when the location is uncertain. Normally, two mutual The position of the elements picked up from the magazine in the direction perpendicular to It is necessary to determine whether the position is misaligned. Such scanning will be explained in detail later. To explain in detail, this can be done by a scanning section.

ある場合には素子のX及びY方向へのずれを決定するだけでなく、起こりうる傾 斜ずれについても決定することが好ましい。このこともまた゛位置走査部によっ て行われる。In some cases it is necessary not only to determine the displacement of the element in the X and Y directions, but also to determine the possible tilting. Preferably, the skew deviation is also determined. This also depends on the position scanning unit. will be carried out.

位置走査部は傾斜角度ずれに関係する誤差信号を発生し、これに由来する修正信 号によって駆動部が活性化して素子が角度的に正しい位置に修正される。The position scanning unit generates an error signal related to the tilt angle deviation and a correction signal derived from this. The signal activates the drive and corrects the element to the correct angular position.

いずれにしろ位置走査部は一つの修正信号或いは多数の修正信号を発生し、これ により素子は作業片上の正しい位置に配置されるよう位置修正される。この修正 信号或いはこれら多数の修正信号を用いて素子移動部の移動路、作業片の位置或 いは双方に同時に影響を与えるようにすることを選択でき、後者の場合には移動 部の移動のR適化の意味を有する。In any case, the position scanning unit generates a correction signal or a number of correction signals, which The elements are repositioned so that they are placed in the correct position on the workpiece. This fix The moving path of the element moving unit, the position of the work piece, or or you can choose to have it affect both at the same time, in which case the movement It has the meaning of R optimization of the movement of the part.

最後に素子のZ軸における位ばも同様に決定できることを述べておかなければな らない。走査部は素子の実際の位置をその高さについても読みとることができ、 そして別の修正信号を出し、それにより素子を作業片の面上に完全に円滑に配置 することができる。Finally, it should be mentioned that the position of the element in the Z axis can be similarly determined. No. The scanning section can read the actual position of the element, including its height. and gives another correction signal, thereby placing the element perfectly smoothly on the surface of the workpiece. can do.

本発明の別の目的は、作業片に対し素子を位置決めする方法を実施するのに適し た請求の範囲第8項の上位概念に示す装置を提供し、それによりマガジンから取 り去った素子を迅速にかつ極めて正確に作業片、例えば電子化回路基盤上′に先 述した難点を有することなく配置しうるようにすることである。このような装置 は複雑で、重く高価な中心位置決め部が必要でないようなものでなければならな い。Another object of the invention is to provide a method suitable for implementing the method for positioning an element relative to a workpiece. Provided is a device according to the preamble of claim 8, whereby a device for removing from a magazine; The removed components are quickly and extremely accurately placed on a work piece, e.g. an electronic circuit board. The object is to enable the arrangement without having the above-mentioned difficulties. such a device must be such that complex, heavy and expensive center locating parts are not required. stomach.

更にこのような装置はあらゆる寸法の素子に適合し、それにより異なる寸法の素 子が扱われる度毎に操作員により中心位置決め部の交換等が必要な状態をなくす るようにしなければならない。最後にこのような装置により扱われる素子はいず れの場合でも損傷することなく、またこの装置はその長い使用期間にわたっても との基本的な正確さを保持するものでなければならない。Furthermore, such a device is compatible with elements of any size, thereby allowing elements of different sizes to be accommodated. Eliminates the need for operators to replace the center positioning part every time a child is handled. We must ensure that Finally, no elements are handled by such equipment. In this case, the device will remain undamaged and will last for a long period of time. It must maintain basic accuracy.

本発明によればこのような目的は請求の範囲第8項の特徴部分に示した構造を有 する装置を提供することにより解決される。According to the present invention, such an object is achieved by having the structure shown in the characterizing part of claim 8. The problem is solved by providing a device that does this.

本発明による装置においては更に、一旦ビツクアップさ置軸線に一致させるよう にする構成をとらないようにしである。これとは対照的に、前記位置軸線に対す る素子のずれ値及び、必要な場合には傾斜ずれ角度を決定し、この段階にひきつ づく素子の移動路及び/もしくは作業片の位置を変更し或いは修正して、素子が 最終的に極めて高い精度で作業片上或いは作業片中の所定位置に配置されるよう に構成される。In the device according to the present invention, it is further provided that once the pickup is brought up, it is aligned with the mounting axis. Avoid using a configuration that In contrast, with respect to the position axis Determine the deviation value of the element and, if necessary, the tilt deviation angle, and continue at this stage. By changing or modifying the moving path of the element to be attached and/or the position of the work piece, so that it is finally placed in place on or in the workpiece with extremely high precision. It is composed of

既に述べたように中心位置決め部を設ける必要がないようにしたため、素子移動 部の移vJ量ははるかに小さくなる:このことは素子移動部が同じ駆動性能を発 揮する時間を少なくしうるが、或いは同じ作業時間を賀す場合には駆動部の寸法 を小さくしうるという利点を結果とする。修正操作は素子移動部の移動路の修正 であれ、或いは作業片の位置の修正であれ、いずれにしろ必要な装置の制御部に より行われるから、補足的な制御手段は必要ではない。As already mentioned, there is no need to provide a center positioning part, so element movement is easy. The amount of movement vJ of the element becomes much smaller: This means that the element moving part produces the same drive performance. The dimensions of the drive part can be reduced, or if the same working time is required. The result is the advantage of being able to reduce the The correction operation is to correct the moving path of the element moving part. In any case, the control of the necessary equipment must be No additional control means are necessary.

本発明によれば位は走査部は作業片受容及び保持手段上に一定の距離をおいて配 置され、これと実質的に共軸位置にある。そのため素子移動部を短時間作業片上 に停止させること、好ましくは素子8vJ手段により保持される素子が位置走査 部上にあることに停止させることが可能である。According to the invention, the scanning part is arranged at a distance above the work piece receiving and holding means. and is substantially coaxial therewith. Therefore, the element moving part can be placed on the work piece for a short time. Preferably, the element held by the element 8vJ means is stopped at a position scanning position. It is possible to stop what is on the part.

この短時間の停止の間に理論的な位置軸線、即ちその正規の位置に対する素子の 実際の位置を決定し、修正信号を発生する。この修正信号はX方向及びY方向に 対する素子のずれ及び必要な場合はその傾斜を表わす。走査部は装置の制御手段 と作動自在にli続しており、それによりこれら修正信号を受け、移動部に保持 される素子の移動路もしくは作業片の位置或いはこれら双方の修正が行われる。During this brief stop, the theoretical position axis, i.e. the element relative to its normal position, is Determine the actual position and generate a correction signal. This correction signal is applied in the X and Y directions. represents the deviation of the element relative to the element and, if necessary, its inclination. The scanning section is the control means of the device It is operably connected to the li, thereby receiving these correction signals and holding it in the moving part. Modifications may be made to the moving path of the element being moved, the position of the workpiece, or both.

別の可能性は位置走査手段が素子移動手段の素子ピックアップ及び保持部材の下 に配置され、これと実質的に共軸に位置される構成にすることである。このよう な構成は素子移動手段の動きを遮断する必要なく素子の起こりうるずれを決定す ることができる。ずれ及び修正信号の使用に関する限り、先に述べた事実が同様 にあてはまる。Another possibility is that the position scanning means is located under the element pickup and holding member of the element moving means. and substantially coaxially therewith. like this The configuration allows determining possible displacement of the element without the need to interrupt the movement of the element moving means. can be done. As far as the use of deviation and correction signals is concerned, the above mentioned facts are similar. This applies to

勿論、走査部を実際に構成するについては種々の可能性がある。好ましい実施態 様においては位置走査手段は枠部材を有し、作業片上又は作業片中に配置される 素子を保持する素子移動手段のピックアップ及び保持部材はこの枠部材内部を通 るように構成されている。既に述べたように素子が枠部材の内部にある時に短時 間移動手段の動きを停止させることが必要である。この瞬間に、即ち素子が枠部 材を通過する間にその実際の位置が走査され、所定の位置からのずれが決定され 修正信号がこの測定の結果に基づいて発せられる。Of course, there are various possibilities as to the actual configuration of the scanning section. Preferred embodiment In this case, the position scanning means has a frame member and is arranged on or in the work piece. The pickup and holding member of the element moving means that holds the element pass through the inside of this frame member. It is configured to As already mentioned, when the element is inside the frame member, It is necessary to stop the movement of the moving means. At this moment, the element is in the frame. While passing through the material, its actual position is scanned and deviations from the predetermined position are determined. A correction signal is issued based on the results of this measurement.

走査は素子に接触することにより或いは接触せずに行われる。接触させる場合4 つの枠側郡部材の少なくともいくつかは位置走査針を有し、これらの針は枠側郡 部材の中央に位置し枠側郡部材に対し垂直方向に移動可能に保持されている。位 置走査針のそれぞれは枠側部素子に設けられた駆動及び測定ユニットと作動自在 に接続しており、針を枠側部部材中央方向に移動して移動量を測定しうるように しである。針先端が側面と接触すると針の移動が決定され、修正信号が出され、 これは素子の実際の位置を反映しており制御手段に影響を与える。Scanning can be done with or without contacting the element. In case of contact 4 At least some of the frame side group members have position scanning needles, and these needles are connected to the frame side group members. It is located at the center of the member and is held movably in the vertical direction with respect to the frame side group member. rank Each of the positioning and scanning needles is freely operable with a drive and measuring unit provided in the frame side element. The needle can be moved toward the center of the frame side member to measure the amount of movement. It is. When the needle tip contacts the side surface, the movement of the needle is determined and a correction signal is issued, This reflects the actual position of the element and influences the control means.

第二の場合、素子に接触することなく、即ちレーザービームにより走査が行われ る。この場合にも種々の可能性があり請求の範囲に個別に限定され、また後のそ れぞれの実%、態様に個別的に記載されている。ここでは素子に接触しないこと により一般的、基本的な利点があり(例えば測定手段の摩耗がない)、また位置 決め軸線に対する素子の傾斜位置の走査が可能であり、更にX方向及びY方向へ のみかけ位置からのずれの測定ができることを指摘するに留める。なお素子の高 さに関し実際の位置を決定することも可能である。In the second case, the scanning is carried out without contacting the element, i.e. by the laser beam. Ru. In this case as well, there are various possibilities and the claims are limited individually, and the subsequent Each actual percentage is individually stated in each aspect. Do not touch the element here. It has more general and fundamental advantages (e.g. no wear of the measuring means) and also It is possible to scan the tilted position of the element with respect to the determining axis, and also in the X and Y directions. I will just point out that the deviation from the apparent position can be measured. Note that the height of the element It is also possible to determine the actual position with respect to the height.

以下に、本発明の装置及び方法についてそのいくつかの実FM態様と、添付図面 を参照しつつ更に詳細に説明する。Below, some actual FM aspects of the device and method of the present invention and the attached drawings are explained. This will be explained in more detail with reference to .

図面において: 第1図は素子を位置決めするための構造の全体的な側面図; 第2図は第1図の構造に対応する作業片保持ステーション及び素子マガジン群の 平面図: 第3〜5図は走査部内側の素子の位置をそれぞれ示す説明図: 第6図は走査部の第一実施態様の説明平面図であって素子の位置は機械的な接触 により走査されるようにした図;第7図は素子の位置を素子に接触することなく 走査するようにした走査部の第二実施態様の説明平面図:第8図は素子の位置を 素子に接触することなく走査するようにした走査部の第三実施態様の説明平面図 ;第9図は、素子が傾斜している状態を示す第8図の実施態様の説明平面図: 第10図は素子の位置を素子に接触することなく走査するようにした走査部の第 四実施態様の説明平面図:及び、第11図は素子が傾斜している状態を示す第1 0図の実1M態様の説明平面図である。In the drawing: FIG. 1 is an overall side view of a structure for positioning elements; Figure 2 shows a workpiece holding station and element magazine group corresponding to the structure shown in Figure 1. Plan view: Figures 3 to 5 are explanatory diagrams showing the positions of the elements inside the scanning section: FIG. 6 is an explanatory plan view of the first embodiment of the scanning section, and the positions of the elements are in mechanical contact. Figure 7 shows the position of the element being scanned without touching the element. An explanatory plan view of the second embodiment of the scanning unit configured to scan: FIG. 8 shows the position of the element. Explanatory plan view of a third embodiment of a scanning unit that scans without contacting an element ; FIG. 9 is an explanatory plan view of the embodiment of FIG. 8 showing a state in which the element is tilted; Figure 10 shows the scanning section that scans the position of the element without touching the element. Explanatory plan view of the four embodiments: and FIG. FIG. 2 is an explanatory plan view of the actual 1M aspect of FIG.

第1図かられかるように、本発明による装置はコンソール1を有し、その上面に は作業片を受けとり保持する手段である作業台2が設けられている。作業台2は 駆動手段(図示せず)を有し、駆動手段は作動自在に作業台と接続しており、作 業台2を矢印Xの方向及び矢印Yの方向(第2図参照)に移動させることができ る。両移動方向X及びYは相互に矩形方向をなし、実質的に水平面上を移動する 。As can be seen from FIG. 1, the device according to the invention has a console 1, on the top of which A workbench 2 is provided as a means for receiving and holding a workpiece. Workbench 2 is It has a drive means (not shown), the drive means is operably connected to the workbench, and the drive means is operable. The workbench 2 can be moved in the direction of arrow X and the direction of arrow Y (see Figure 2). Ru. Both movement directions X and Y are rectangular to each other and move substantially on a horizontal plane. .

作業片3は作業台2上に配置され、この上で移動しないように保持される。この 例においては作業片3はプリント回路板或いは基体、即ち電子回路の製造のため のセラミック材である。作業台2は位置決め及び保持手段4を有し、これは作業 台2上に配置された作業片3と係合シており・作業片3を移動しないように作業 台2上に固定させる19υjをする。The workpiece 3 is placed on the workbench 2 and held thereon so as not to move. this In the example, the work piece 3 is a printed circuit board or substrate, i.e. for the production of electronic circuits. It is a ceramic material. The work platform 2 has positioning and holding means 4, which It engages with the work piece 3 placed on the table 2. Work so as not to move the work piece 3. Make 19υj to fix it on table 2.

第1図及び第2図に示す装置の一部である別のコンソール5は、既に述べたコン ソール1とはある距離をおいて配置されており、多数の素子のマガジン6を有す る。コンソールはストック部材7を有し、これからテープ8が延びており、また 前記コンソール5は多数の素子9a 、9b・・・を有し、素子はテープ8の上 面に接着されている。もとより他の形態の素子マガジン6、例えば保蔵ビンのよ うなものであってもよい(図示せず)。なおこのほかにマガジン走査のためのい くつかの補足的な補助走査手段が設けられているのであるが、本発明の範囲に入 るものではないから図示しない。これら補助手段の構成は当業者には自ら選び出 すことができよう。Another console 5, which is part of the apparatus shown in FIGS. It is arranged at a certain distance from the sole 1 and has a magazine 6 of a large number of elements. Ru. The console has a stock member 7 from which extends a tape 8, and The console 5 has a large number of elements 9a, 9b..., and the elements are placed on the tape 8. glued to the surface. Of course, other types of element magazines 6, such as storage bins, etc. (not shown). In addition to this, there is also a guide for magazine scanning. Several supplementary auxiliary scanning means are provided, but do not fall within the scope of the present invention. It is not shown because it is not intended to be The configuration of these auxiliary means can be chosen by a person skilled in the art. I think I can do it.

第1図かられかるように誘導支持部材10が二つのコンソール1.5の上に配置 され、素子移動部11を誘導する。As can be seen from FIG. 1, the guide support member 10 is arranged on the two consoles 1.5 and guides the element moving section 11.

素子移動部11は摺動キャリッジ部材12を有し、これは矢印Aの方向に、誘導 支持部材10に沿って移動することができる。好まくしは誘導支持部材10と摺 動キャリッジ部材12とからなる構成体が、矢印へとは垂直方向の矢印Bの方向 に移動するようにする。The element moving part 11 has a sliding carriage member 12, which is guided in the direction of arrow A. It can move along the support member 10. Preferably, the guiding support member 10 and sliding The structure consisting of the movable carriage member 12 is moved in the direction of arrow B, which is perpendicular to the arrow. to move to.

素子移動部11はピックアップし保持する部材13を有し、この部材は中空の吸 引針14を有し、これは素子マガジン6からはなれた素子9a・・・9dをピッ クアップし保持する。吸引針14の中空内部は頁空源(図示せず)と接続してい る。針14の先端がマガジンから離される素子9の上面に接触すると、真空状態 が活性化して素子9が針14にくっつく。この操作が可能であるようにするため に素子ピックアップ及び保持部材13の全体がその高さ方向に関し、矢印Cの方 向に移動可能であるようにする。このことは、針14が第1図の位置から下降し て所定の素子9の位置に達し、上述真空吸引効果により素子をピックアップして 保持しうるようにすることを意味する。選定された素子が針先端に保持されると 素子ピックアップ及び保持部材13が上動する。The element moving part 11 has a member 13 for picking up and holding, and this member is a hollow suction member. It has a pulling needle 14, which picks up the elements 9a...9d separated from the element magazine 6. up and hold. The hollow interior of the suction needle 14 is connected to a page air source (not shown). Ru. When the tip of the needle 14 comes into contact with the top surface of the element 9 to be separated from the magazine, a vacuum is created. is activated and the element 9 sticks to the needle 14. To enable this operation The entire element pickup and holding member 13 is aligned in the direction of arrow C in its height direction. Make it possible to move in the direction. This means that the needle 14 is lowered from the position shown in FIG. reaches the predetermined position of the element 9, and picks up the element by the above-mentioned vacuum suction effect. It means to be able to hold it. When the selected element is held at the needle tip, The element pickup and holding member 13 moves upward.

既に述べたように素子移動部11は矢印Aの方向、即ち位置走査部15上の第− 位置(第1図に点線で示す)から誘導支持部材10に沿い移動可能である。位置 走査部15は作業台の直上にあり実質的に枠型である。このことは針14に保持 される素子9が位置走査部15の内部に導入され、この中を針14と共に通過し うろことを意味する。As already mentioned, the element moving section 11 moves in the direction of the arrow A, that is, the -th position on the position scanning section 15. It is movable along the guiding support member 10 from a position (shown in dotted lines in FIG. 1). position The scanning section 15 is located directly above the workbench and is substantially frame-shaped. This is held in needle 14. The element 9 is introduced into the position scanning section 15 and passes through it together with the needle 14. It means scales.

位置走査部15の詳細については第6図乃至11図に示すいくつかの実施例と関 連しつつ、後に説明する。いずれにしろこの位置走査部15は、垂直の、みかけ 位置軸に対して素子の実際上の位置をLAWし、これから逸脱しているかどうか を決定し、測定値に基ずく修正信号を発生させる位置にある。For details of the position scanning section 15, see some embodiments shown in FIGS. 6 to 11. I will explain it later in sequence. In any case, this position scanning unit 15 is LAW the actual position of the element with respect to the position axis and check whether it deviates from this. and is in a position to generate a correction signal based on the measured value.

第3図乃至5図は垂直に延びる位置軸Pに対する、枠型位置走査部15の中の素 子9の相異なる位置を図式的に示す。第3図に示す素子は走査部15の枠に対し てX軸のみならずY軸についても理論的に正しいみかけ位置にあり傾斜をしてお らず、これに対し第4図及び5図に示す素子はそれぞれ傾斜しており、直線的に 偏位している。3 to 5 show the elements in the frame position scanning unit 15 with respect to the vertically extending position axis P. Fig. 2 schematically shows different positions of the child 9; The elements shown in FIG. Therefore, not only the X-axis but also the Y-axis are theoretically in the correct apparent position and are tilted. On the other hand, the elements shown in Figures 4 and 5 are tilted and cannot be linearly aligned. It's deviated.

位置走査部15は第4図に示ず状態の場合、みかけ角度について素子9の傾斜角 度を認識し、修正信号を出し、素子9が第3図に示す位置を占めるまで針14或 いは素子ピックアップ及び保持部材13を回転運動させる。更にこの位置走査部 15は素子9の水平面上における矢印X及びYの方向の軸位置偏位(第5図)を も認識することができる。In the state not shown in FIG. 4, the position scanning unit 15 detects the inclination angle of the element 9 with respect to the apparent angle. It recognizes the degree, issues a correction signal, and moves the needle 14 until the element 9 occupies the position shown in FIG. Alternatively, the element pickup and holding member 13 are rotated. Furthermore, this position scanning section 15 indicates the axial position deviation (Fig. 5) of the element 9 in the directions of arrows X and Y on the horizontal plane. can also be recognized.

第5図に示す状態の場合、素子9は矢印Xの方向へ距離値X、また矢印Yの方向 へ距離値yだけそのみかけ位置からずれている。このずれ値が決定された後、位 置走査部15は二つの修正信号を出し、この信号は装置の制御ユニットへ送られ 、それにより矢印A及び/もしくはBの方向へ素子移動部11の移動路の修正を 行うか、或いは作業台2をX方向及び/もしくはY方向へ位置修正をするが、も しくはこれらの組合せ修正を行う。In the state shown in FIG. 5, the element 9 moves in the direction of the arrow is shifted from its apparent position by a distance value y. After this deviation value is determined, the position The position scanning section 15 outputs two correction signals, which are sent to the control unit of the device. , thereby correcting the moving path of the element moving unit 11 in the direction of arrows A and/or B. Or, correct the position of the workbench 2 in the X direction and/or Y direction. Or modify these combinations.

この方法は実際上以下のように行われる:素子移動部11は第1図に示t装置、 叩ら選定されたマガジン6の上にある。吸引針14は矢印Cの方向に降下してそ の先端が素子90表面と接触しマガジン6から離れて作業片3に移動されること になる。この場合には真空源が活性化し素子9Cは針14の先端にくっつく。こ の後針14は第1図に示す位置に後退する。通常このようにしてピックアップさ れる素子9Cは、針の中央を通る中実軸線に関し針14の先端に正確に中央@線 位置に吸引されるわけではなくいくらかX及びY方向にずれることもある。また 針14によりピックアップされる素子9cは見かけ角度位置に対し傾斜すること もありうる。This method is actually carried out as follows: the element moving unit 11 is a device shown in FIG. It is on top of the selected magazine 6. The suction needle 14 descends in the direction of arrow C. The tip of the element 90 contacts the surface of the element 90 and is moved away from the magazine 6 to the work piece 3. become. In this case, the vacuum source is activated and the element 9C sticks to the tip of the needle 14. child The rear needle 14 is retracted to the position shown in FIG. Usually picked up like this The element 9C is located exactly at the center of the tip of the needle 14 with respect to the solid axis passing through the center of the needle. It is not attracted to the position and may be shifted somewhat in the X and Y directions. Also The element 9c picked up by the needle 14 is tilted with respect to the apparent angular position. It's also possible.

次の段階において、素子移動部11は作業台2上の、第1図に点線で示す位置に 移動し、ここで針14は、素子9Cが走査部15の内側に入るまで降下する。走 査部15の構成により針14の動きは停止し或いは進行するが、いずれにせよ素 子9Cの実際の位置は、素子9Cが枠型走査部15の内部に入った時に決定され る。走査部15からの信号により素子移動部15の位置は矢印A及び/もしくは Bの方向に修正されるか或いは作業台2の位置がX方向及び/もしくはY方向に 修正されるか、或いは両方を組み合わせた修正動作が行われる。かくして針14 の先端に吸引される素子9cは作業片3の真上に正確に位置することになり、針 14は降下し作業片30面上に極めて高い精度で素子9Cを配置する。In the next step, the element moving unit 11 is moved to the position shown by the dotted line in FIG. 1 on the workbench 2. The needle 14 is now moved down until the element 9C is inside the scanning section 15. Run Depending on the configuration of the scanning section 15, the movement of the needle 14 may be stopped or may continue; The actual position of the element 9C is determined when the element 9C enters the frame-shaped scanning section 15. Ru. The position of the element moving unit 15 is determined by the signal from the scanning unit 15 according to arrow A and/or The position of the workbench 2 is corrected in the direction B or the position of the workbench 2 is changed in the X direction and/or Y direction. or a combination of both. Thus needle 14 The element 9c that is attracted to the tip of the needle is located exactly above the work piece 3, and the needle 14 descends and places the element 9C on the surface of the workpiece 30 with extremely high precision.

既に述べたように位置走査部15もみかけ角度位置に対する素子9Cの傾斜ずれ をHpする。ここから発せられる修正信号は、素子9Cが所望平行方向位置に達 するまで針14を回転作動するために使用される。今日得られる制御手段を用い ることにより、このような操作、修正信号の発生及び最終的な修正は極めて短時 間で行われ、枠型位置走査部15の内側に保持される素子9Cを吸引している針 14の動きを実際に停止する必要がないか、或いはごく短時間停止させるだけで よい。As already mentioned, the position scanning unit 15 also detects the tilt deviation of the element 9C with respect to the apparent angular position. HP. The correction signal emitted from this is such that element 9C reaches the desired parallel position. It is used to rotate the needle 14 until the needle 14 is rotated. using the control means available today. Due to the The needle is suctioning the element 9C held inside the frame position scanning unit 15. It is not necessary to actually stop the movement of 14, or only to stop it for a very short time. good.

素子9Cが作業片3の面上に載置されると針14の内部の真空状態が解除され、 針14は後退する。素子移動部11は第1図に示すもとの位置に戻るか或いは矢 印Aで示すようにマガジン6の一つの上の位置に移動する。針14が所望位置に 達すると針は降下して別の素子9a・・・9dをピックアップする。When the element 9C is placed on the surface of the work piece 3, the vacuum state inside the needle 14 is released, The needle 14 is retracted. The element moving section 11 returns to the original position shown in FIG. Move to a position above one of the magazines 6 as indicated by mark A. The needle 14 is in the desired position. Once reached, the needle descends and picks up another element 9a...9d.

かくして作業片3上に載置されるすべての素子がマガジン6からはなれ作業片上 に移動するまで、上述工程が繰り返される。All the elements placed on the workpiece 3 are thus separated from the magazine 6 and placed on the workpiece. The above steps are repeated until moving to .

以下の説明において本発明のいくつかの実施態様、特に位置走査部15について のいくつかの実施態様を、第6乃至11図を参照しつつ説明する。In the following description, some embodiments of the invention, in particular the position scanning section 15, will be described. Several embodiments of this will be described with reference to FIGS. 6-11.

第9図及び11図の素子20及び20dは傾斜した位置状態にあり、−力筒6. 7.8.10図の素子20は角度的に正しく位置しているがX方向及びY方向に ずれている。Elements 20 and 20d in FIGS. 9 and 11 are in a tilted position; - force cylinder 6. 7.8.10 Element 20 is angularly positioned correctly, but in the X and Y directions. It's off.

第9図及び11図の位置の場合、位置走査部15は素子9の回転角を決定し、修 正信号を出し、素子9が第6.7゜8及び10図に示すように作業片3の側部端 と平行な位置に達するまで針14或いは素子ピックアップ及び保持部材13を回 動させる。またこの位置走査部15は素子9の水平方向におけるずれ、例えば第 6図ではX方向における値x、Y方向における値yのずれをQKする。測定値を もとにする修正信号により、素子移動部11の矢印A及び/もしくはBの方向へ の移動路の修正もしくは作業台2のX及び/もしくはY方向への移動、或いはこ れらの組み合わせ修正操作が行われる。In the case of the positions shown in FIGS. 9 and 11, the position scanning unit 15 determines the rotation angle of the element 9 and 6.7° 8 and 10, the element 9 Rotate the needle 14 or the element pickup and holding member 13 until it reaches a position parallel to the make it move. Further, this position scanning section 15 detects the horizontal deviation of the element 9, for example, In FIG. 6, the deviation between the value x in the X direction and the value y in the Y direction is QKed. measurement value Depending on the original correction signal, the element moving section 11 is moved in the direction of arrows A and/or B. , or move the workbench 2 in the X and/or Y directions, or These combination correction operations are performed.

位置走査部15の別の実施態様は第6乃至11図に図示されており、以下に説明 する。Another embodiment of the position scanning unit 15 is illustrated in FIGS. 6 to 11 and described below. do.

第6図において位置走査部15の機械的な解決法が示されており、走査される素 子20はその位置を決定するため機械的な接触を受ける。第6図に示す走査部1 5は、4つの枠型側部部材21a乃至21dからなる正方形の枠部材を有する。In FIG. 6 a mechanical solution of the position scanning unit 15 is shown, in which the element to be scanned is Child 20 is subjected to mechanical contact to determine its position. Scanning section 1 shown in FIG. 5 has a square frame member consisting of four frame-shaped side members 21a to 21d.

これら側部部材のそれぞれは針22a乃至22(lを有し、これらの針は長手方 向に移動可能であり、駆動及び測定ユニット23a乃至23dの作動自在に接続 している。ユニットは針22を矢印U−l乃至LJ−4の方向、即ち4つの側部 部材21の延長方向と垂直方向に駆動することができる。当業者にはこのような 駆動及び測定ユニットを設計する技術は公知であり、それゆえその構成記ついて これ以上詳細にわたることは必要ないであろう。重要なことは、針22の長手方 向移Th値を記録し、装置の中央制御ユニットに送られる制御信号を出力しうる 位置にこの駆動及び測定ユニット23が配置されていることである。Each of these side members has needles 22a to 22(l) which extend longitudinally. The drive and measurement units 23a to 23d are movably connected to each other. are doing. The unit moves the needle 22 in the direction of arrows U-l to LJ-4, i.e. on four sides. It can be driven in a direction perpendicular to the direction in which the member 21 extends. For those skilled in the art, such The technology for designing drive and measuring units is known and therefore a description of their construction will be provided. There is no need to go into further detail. The important thing is that the longitudinal direction of the needle 22 can record the direction Th value and output a control signal sent to the central control unit of the device The drive and measurement unit 23 is located at this location.

その機能は以下の通りである: 出発位置では針22a乃至22dはもっとも後退した位置にあり、そのため吸引 針14に保持される素子20は、4つの枠型側部部材21により構成される枠型 位置走査部15の中部へ入ることができる。針14の中央、即ち理論的な位置軸 線はMで示されている。素子20が位置走査部15内部の所定位置に達すると針 218乃至21dが駆動及び測定ユニット23a乃至23dの影響下に素子20 の方向に駆動され、その先端が素子2oの側面に接触する。Its functions are as follows: In the starting position, the needles 22a to 22d are in the most retracted position, so that the suction The element 20 held by the needle 14 is a frame-shaped element made up of four frame-shaped side members 21. It is possible to enter the middle part of the position scanning section 15. The center of the needle 14, i.e. the theoretical position axis The line is marked M. When the element 20 reaches a predetermined position inside the position scanning unit 15, the needle 218 to 21d are elements 20 under the influence of drive and measurement units 23a to 23d. is driven in the direction of , and its tip contacts the side surface of the element 2o.

針22の移動量は駆動及び測定ユニット23により測定さレル・測定された値は 記録され一つの修正信号或いは複数の修正信号が発生する。この修正信号の値は みかけ位置、即ち軸線Mからの素子20の中心Nのずれ値と直接的に関係する。The amount of movement of the needle 22 is measured by the drive and measurement unit 23.The measured value is A modified signal or modified signals are recorded. The value of this correction signal is It is directly related to the apparent position, that is, the deviation value of the center N of the element 20 from the axis M.

修正信号は素子移動部11及び/或いは作業台の駆動を生じさせる。素子20の 実際の位置が決定すると、針22a乃至22dが後退し素子20が作業台3の上 に載置され、ここでは極めて正確に理論的な最適位置に素子は位置を占めること になる。The correction signal causes the element moving section 11 and/or the workbench to be driven. of element 20 When the actual position is determined, the needles 22a to 22d move back and the element 20 is placed on the workbench 3. , where the element occupies the theoretical optimum position with great precision. become.

位置走査部15の第3図に示しこれまでに説明した実施態様は、素子20の側面 形状が不規則であるか知られていない場合に特に有利である。この実施態様の難 点は、軸線M周囲の素子20の傾斜移動が認識できないかもしれない点にある。The embodiment of the position scanning unit 15 shown in FIG. This is particularly advantageous if the shape is irregular or unknown. Difficulties with this implementation The point is at a point where the tilting movement of the element 20 about the axis M may not be perceivable.

それゆえ、素子20がマガジンから正しい角位置にはなれたこと及び軸線Mによ り示されるみかけ位置に対しX及びY方向の側方にのみずれているのである、と いう仮定が必要である。Therefore, it is clear that element 20 is now in the correct angular position from the magazine and that axis M It is only shifted laterally in the X and Y directions with respect to the apparent position shown in the figure. This assumption is necessary.

位置走査部15の第二の実施態様は第7図に示されている。この場合も4つの枠 型側部部材21a乃至21dからなる四角の枠が設けられており、この中に素子 20を保持する針14が導き入れられる。第7図の構造は二つのレーザーダイオ ード24a乃至24(lを有し、これらは位置走査部150枠の二つの対向角の 域に配置され、適当な駆動ユニット(図示せず)により回tllする。このレー ザーダイオード24は鋭い焦点を有するビームを発生し、これは4つの側部部材 21により構成される枠の内部に位置する素子の側面で反射する。枠の二つの他 の二つの対向角にはそれぞれ受容ダイオード25a 、25bが配置されており 、二つのダイオード24により投射され素子20により反a]されるビームを受 容するようになっている。A second embodiment of the position scanning section 15 is shown in FIG. In this case also four frames A square frame consisting of mold side members 21a to 21d is provided, and the elements are placed in this frame. A needle 14 holding 20 is introduced. The structure in Figure 7 consists of two laser diodes. The cards 24a to 24(l) are located at two opposite corners of the position scanning section 150 frame. and rotated by a suitable drive unit (not shown). This lane The laser diode 24 generates a sharply focused beam, which is connected to the four side members. It is reflected by the side surface of the element located inside the frame constituted by 21. Besides the two frames Receiving diodes 25a and 25b are arranged at two opposite corners of the , receives the beam projected by the two diodes 24 and reflected by the element 20. It is designed to be tolerated.

第7図からレーザーダイオード24bがその回転中ビームを投射し、これは先ず ビームが素子20の側面20aにより反射されて反射ビームが受容ダイオード2 5aに達するようになし、それによりビームが受容さ机だことが記録される。レ ーザーダイオード24tlが更に回転すると、レーザービームが素子20の側面 20dに反射され、受容ダイオード25bに受容される事態が生ずる。受容ダイ オード25の一つが側面20aから反射したレーザービームの到Hgを伝達した 時には、レーザーダイオード24bはある角度位置にあり、伯の受容ダイオード 25が側面20dから反射したレーザービームの到達を伝達した時は別のある角 度位置にある。From FIG. 7, the laser diode 24b projects a beam during its rotation, which first The beam is reflected by the side surface 20a of the element 20, and the reflected beam is transmitted to the receiving diode 2. 5a, thereby recording that the beam was received. Re When the laser diode 24tl further rotates, the laser beam hits the side of the element 20. 20d and received by the receiving diode 25b. receiving die One of the ords 25 transmitted the Hg of the laser beam reflected from the side surface 20a. Sometimes the laser diode 24b is in an angular position and the receiver diode When 25 transmits the arrival of the laser beam reflected from the side surface 20d, it reaches another corner. degree position.

これら二つの角度位置は装置の制御ユニットにより認識され記録される。レーザ ーダイオード24aに関連する位置は対応している:その回転中はある角度位置 をとり、この位置では投射ビームは受容ダイオード25bにより受容されるよう な角度で側面20cから反射され、その後、反射ビーム部分が受容ダイオード2 5aにより受容されるような角度に、側面20bから反射される角度位置をとる 。These two angular positions are recognized and recorded by the control unit of the device. laser - the positions associated with the diode 24a correspond: during its rotation an angular position; In this position, the projected beam is received by the receiving diode 25b. The reflected beam portion is then reflected from the side surface 20c at an angle of take the angular position reflected from side surface 20b at an angle such that it is received by 5a. .

これら二つの角度位置は同様に制御ユニットにより記録される。These two angular positions are likewise recorded by the control unit.

これら角度の値に基ずき、数学上の法則に従い理論的なみかけ位置からの素子2 0の位置のずれ値に直接関係する一つもしくはそれ以上の修正信号を発生させる ことができる。これにより枠側郡部材21a乃至21dに関し素子20は角度的 に正しいみかけ位置にあると仮定される:この状態は第7図に実線で示されてい る。しかしながら素子20が軸mMに対しある角度で傾斜していることはありう ることである。このような状態及びこのような状態におけるレーザービームの投 射路は第7図に点線で示されている。Based on the values of these angles, the element 2 is moved from the theoretical apparent position according to mathematical laws. generating one or more correction signals that are directly related to the zero position offset value; be able to. As a result, the element 20 is angularly is assumed to be in the correct apparent position: this situation is shown by the solid line in Figure 7. Ru. However, it is possible that the element 20 is tilted at an angle with respect to the axis mm. Is Rukoto. Laser beam projection in such conditions and in such conditions The firing path is shown in dotted lines in Figure 7.

レーザーダイオード24a及び24bの回転角は、反射ビームが受容ダイオード 25a及び25bに受容される時における先述状態とは異なることは理解されよ う。それゆえ反射レーザービーム受容の瞬間における回転角を分析することによ りまた素子20を連続的に回転させることにより(必要なら両方向へ)、位置走 査部15の枠側郡部材に対して正確に平行である素子20の角度位置を決定する ことができる。The rotation angle of the laser diodes 24a and 24b is such that the reflected beam is It will be understood that this is different from the aforementioned situation when received by 25a and 25b. cormorant. Therefore, by analyzing the rotation angle at the moment of reception of the reflected laser beam, Also, by continuously rotating the element 20 (in both directions if necessary), the position movement can be achieved. Determining the angular position of the element 20 that is exactly parallel to the frame side group members of the scanning section 15 be able to.

位置走査部15の別の実施態様は第8図及び第9図に示されている。これらの場 合にも素子20の位置は機械的手段による接触なしに決定される。一つの枠側郡 部材、図面の実施態様においては側部部材21cは一列のビーム投射素子26、 例えばレーザーダイオードを有する。このようなダイオードから発生するビーム は鋭角的な焦点を有し、枠側郡部材21b及び21dに平行に投射される。枠側 郡部材2ICに対向する枠側郡部材21aは、これに対応する列の受容素子27 、即ち感光半導体ダイオード等を、夫々のレーザーダイオードが発生する光ビー ムを対応する受容ダイオード27が受容するように設けている。Another embodiment of the position scanning unit 15 is shown in FIGS. 8 and 9. these places In this case, the position of element 20 is determined without contact by mechanical means. one frame side county The member, in the embodiment of the drawing, the side member 21c includes a row of beam projection elements 26, For example, it has a laser diode. The beam generated by such a diode has an acute focal point and is projected parallel to the frame side group members 21b and 21d. frame side The frame-side grouping member 21a facing the grouping member 2IC has the receiving elements 27 in the corresponding row. , that is, a photosensitive semiconductor diode, etc., is connected to the light beam generated by each laser diode. A corresponding receiving diode 27 receives the beam.

第8図の状態では素子20は位置決め軸線に関し右のX方向へそして下のY方向 へずれているが、角度位置は正確である。即ちその側面は枠側郡部材21に対し て平行である。従って、左側に位置するある数の受容ダイオード27及び右側に 位置するある数の受容ダイオード27はレーザーダイオード26から投射される レーザービームを受容することができる一方、枠側郡部材21aの中央部に位置 するある数の受容ダイオード27は、対応するレーザーダイオード26から投射 されるレーザービームを受容する位置にはない。なぜならこれらは素子2oの影 にあたる位置にアルカラである。従ってレーザービームを受容する左側の受容ダ イオード27の数とレーザービームを受容する右側の受容ダイオードの数の比率 は、みかけ位置に対する素子20のX方向へのずれに直接的に比例する係数とし て使用することができよう。Y方向への偏位を決定づるために素子20を正確に 90度回動さぜ、それにより先述したようにこのずれを測定する。二つの測定値 は装置の制御ユニットへ供給され、一つあるいは複数の修正信号が発生し、これ により素子移動部11の移動路及び/もしくは作業片受入れ及び保持手段2の位 置が修正される。In the state shown in FIG. Although it has shifted, the angular position is accurate. That is, its side surface is facing the frame side grouping member 21. are parallel. Therefore, a certain number of receiving diodes 27 located on the left and on the right A number of receiving diodes 27 located are projected from the laser diode 26. While being able to receive the laser beam, it is located at the center of the frame side grouping member 21a. A number of receiving diodes 27 receive the projection from the corresponding laser diode 26. It is not in a position to receive the laser beam. Because these are the shadows of element 2o Alcala is located in the same position. Therefore, the left receiver that receives the laser beam Ratio between the number of diodes 27 and the number of right receiving diodes that receive the laser beam is a coefficient directly proportional to the deviation of the element 20 in the X direction with respect to its apparent position. You could use it. The element 20 is precisely adjusted to determine the deflection in the Y direction. Rotate 90 degrees and measure this deviation as described above. two measurements is supplied to the control unit of the device and generates one or more correction signals, which The movement path of the element moving part 11 and/or the position of the work piece receiving and holding means 2 is The location will be corrected.

第9図に示す状態が生じた場合、即ち素子20が軸線Mに対して傾斜している場 合、左側及び右側の受容ダイオード27の少数はレーザーダイオード26から投 射されるビームを受容することができる。従って素子2oは、レーザービームを 受容するダイオード27の数が最大になるまで軸線Mに対して回動される。かく して素子20が所望位置、即ちその側面が枠側郡部材21に平行である位置にあ ることが確認される。When the situation shown in FIG. 9 occurs, that is, when the element 20 is tilted with respect to the axis M, In this case, a small number of the left and right receiving diodes 27 are emitted from the laser diode 26. It can receive the emitted beam. Therefore, element 2o emits the laser beam It is rotated about the axis M until the number of diodes 27 received is maximum. write so that the element 20 is in the desired position, that is, in a position where its side surface is parallel to the frame side grouping member 21. It is confirmed that

同様に素子に接触することなく作動しうる位置走査部15の別の実施態様は第1 0図及び11図に示されている。Another embodiment of the position scanning unit 15 which can also operate without contacting the element is the first one. 0 and 11.

この実施態様は実質的に第7図の実施態様に第8図及び9図の実施態様を組み合 わせたものである。この場合にも、4つ枠側部部材21a乃至21dからなる枠 型走査部が設ケラれている。第8及び9図の実施態様と同様に一つの枠側郡部材 、即ち21aは一列の受容ダイオード31を有する。枠側郡部材218に対向す る枠側郡部材21Gは二側凹型のレーザーダイオードである固定光性30を有し 、その両半体30a及び30bは鋭角的な焦点を有するビームを二つの直径方向 の両射向側に投射する。これらのビームは枠側郡部材210に対して実質的に平 行である。枠側郡部材21cの二つの端部域には回転軸29a及び29bに回転 可能に支持される鏡の形の二つの反射素子28a及び29bが設けられている。This embodiment substantially combines the embodiment of FIG. 7 with the embodiment of FIGS. 8 and 9. It was made by Also in this case, a frame consisting of four frame side members 21a to 21d A mold scanning section is installed. One frame side member similar to the embodiment of FIGS. 8 and 9. , ie 21a has a row of receiving diodes 31. Opposing the frame side group member 218 The frame side grouping member 21G has a fixed optical property 30 which is a concave laser diode on two sides. , whose two halves 30a and 30b direct a beam with an acute focus into two diametrical directions. Project to both sides of the target. These beams are substantially flat with respect to the frame side group members 210. It is a row. The two end regions of the frame side group member 21c are rotatable on rotating shafts 29a and 29b. Two reflective elements 28a and 29b in the form of mirrors, which can be supported, are provided.

レーザーダイオード3oの二つの半体30a及び30bから投a4されるビーム はEfi 28 a及び28bで反射して、素子20が位置している位置走査部 15の内方に向かう。Beam a4 projected from two halves 30a and 30b of laser diode 3o is reflected by Efi 28a and 28b and scans the position scanning section where the element 20 is located. Head inward of 15.

第11図に示すような軸線Mに対する傾斜或いは第10図に示すようなX方向及 び/或いはY方向への側方ずれとは無関係に、素子20の位置により、受容ダイ オード31は多かれ少なかれレーザーダイオード半体30a及び30bから投射 され回転鏡28a及び28bにより反射されるビームを受ける。素子20の位置 を測定し決定するための可能な手順は以下の通りである:第11図に示す位置に あると仮定される素子20は、その正しい角度位置に達したとQ Wされるまで 軸線Mを中心として回動する。この後、レーザーダイオード半体30a及び30 bから投射されGM 28 a及び28bにより反射される二つのレーザービー ムを受ける左側及び右側の受容ダイオード31の数を基準にして、X方向へのず れが決定される。X方向へのずれを表わす修正信号がこの測定値に基いて発せら れる。次に素子20は対応する態様で正確に90戊回転し、Y方向へのずれの修 正信号が得られる。これら二つの修正信号は既に述べたように装置の制御ユニッ トへ送られ、素子移動部11の移動路及び/もしくは作業台2の位置が修正され る。An inclination with respect to the axis M as shown in FIG. 11 or an X direction as shown in FIG. The position of the element 20 allows the receiving die to be The ode 31 is more or less projected from the laser diode halves 30a and 30b. and receives beams reflected by rotating mirrors 28a and 28b. Position of element 20 A possible procedure for measuring and determining is as follows: until the element 20, which is assumed to be QW, has reached its correct angular position. Rotates around axis M. After this, the laser diode halves 30a and 30 Two laser beams projected from b and reflected by GM 28a and 28b The displacement in the X direction is based on the number of receiving diodes 31 on the left and right sides that receive the is determined. A correction signal representing the deviation in the X direction is generated based on this measurement value. It will be done. The element 20 is then rotated exactly 90 degrees in a corresponding manner to correct the deviation in the Y direction. A positive signal is obtained. These two correction signals are used by the control unit of the device as already mentioned. The moving path of the element moving section 11 and/or the position of the workbench 2 are corrected. Ru.

以上に述べた装置は本発明の範囲を逸脱することなく種々の態様に適用できるこ とが理解されるべきである。もちろん同じことは本発明による方法についてもあ てはまる。The device described above can be applied in various embodiments without departing from the scope of the invention. It should be understood that Of course, the same applies to the method according to the present invention. It's true.

特に本発明による方法及び装置は電子素子を回路基板に配置させるだtプでなく 、例えば時計製造等の分野において作業片等の上にあらゆる種類の素子を自動的 に、正確に配置させることが必要な組立工程においても採用することが望ましい 。In particular, the method and apparatus according to the invention do not involve placing electronic components on a circuit board. , for example in the field of watchmaking, etc., to automatically attach all kinds of elements onto workpieces, etc. It is also desirable to use it in assembly processes that require accurate placement. .

戻 第6図 第7図 第8図 第9図 第10図 第11図 国際調査報告Return Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Figure 10 Figure 11 international search report

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.作業片に対して素子を位置決めする方法であって、マガジン或いはマガジン 群より選ばれた特定のマガジンから素子を取り去り、前記素子の位置を走査し、 素子を素子移動手段により作業片の域に移動させ、そして素子を作業片のあらか じめ決められた位置に配置する方法において:素子を前記マガジンから取り去っ た後素子移動手段により作業片に対して相対的にあらかじめ決められた位置へ移 動させ、この場合、素子移動手段の選択可能な位置決め軸線は作業片上の素子の 前記あらかじめ決められた位置と一致しており;次いで素子を作業片の方に移動 中、前記位置決め軸線に対する素子の実際の位置を測定し、前記あらかじめ決め られた見かけ位置に対して生ずるであろうずれを記録し;そして最後に、素子が 作業片上に配置される前に前記あらかじめ決められた見かけ位置と前記実際の位 置との間の走査され記録されたずれに応じて、作業片もしくは素子移動手段又は 作業片と素子移動手段の移動路を修正させることを特徴とする作業片に対して素 子を位置決めする方法。1. A method of positioning an element relative to a work piece, the method comprising: a magazine or a magazine; removing an element from a particular magazine selected from the group and scanning the position of said element; The element is moved to the area of the work piece by the element moving means, and the element is moved to the surface of the work piece. In a method of placing an element in a predetermined position: removing an element from said magazine; After that, the element is moved to a predetermined position relative to the work piece by the element moving means. in which the selectable positioning axis of the element moving means is aligned with the element on the workpiece. coincident with the predetermined position; then move the element towards the workpiece During the measurement, the actual position of the element with respect to the positioning axis is measured and the predetermined record the deviations that would occur with respect to the given apparent position; and finally, if the element The predetermined apparent position and the actual position before being placed on the work piece. Depending on the scanned and recorded deviation between the An elementary method for a workpiece characterized in that the movement path of the workpiece and the element moving means is corrected. How to position the child. 2.素子の位置の走査を、素子が載置される前でなく素子移動手段と保持されて いる間に行うことを特徴とする請求の範囲第1項記載の方法。2. Scanning the position of the element is performed not before the element is placed, but when the element is held with the element moving means. 2. The method according to claim 1, wherein the method is carried out while the patient is in a hospital. 3.前記位置決め軸線が垂直方向に延びており、位置決め軸線に対する素子の位 置のずれを少なくとも一方の水平方向に測定し記録することを特徴とする請求の 範囲第1項もしくは2項記載の方法。3. The positioning axis extends vertically, and the position of the element with respect to the positioning axis is Claims characterized in that the displacement is measured and recorded in at least one horizontal direction. The method described in Item 1 or 2 of the scope. 4.位置決め軸線に対する素子の位置のずれを少なくとも二つの相互に垂直であ る水平方向に測定し記録することを特徴とする請求の範囲第3項記載の方法。4. The displacement of the element relative to the positioning axis is determined by at least two mutually perpendicular deviations. 4. A method according to claim 3, characterized in that the measurements and records are made in the horizontal direction. 5.位置決め軸線に対する素子の位置のずれを素子の回転に関し測定し記録する ことを特徴とする請求の範囲第2項もしくは3項記載の方法。5. Measure and record the deviation of the position of the element relative to the positioning axis with respect to the rotation of the element 4. The method according to claim 2 or 3, characterized in that: 6.素子の位置のずれの測定の結果に基づき修正信号を発生させ、これにより素 子移動手段の移動路を制御し修正することを特徴とする先述請求の範囲いずれか 1項記載の方法。6. A correction signal is generated based on the result of measuring the displacement of the element, thereby Any of the preceding claims characterized in that it controls and modifies the travel path of the child moving means. The method described in Section 1. 7.素子の位置のずれの測定の結果に基づき修正信号を発生させ、これにより作 業片の位置を修御し修正することを特徴とする請求の範囲第1乃至5項のいずれ か1項もしくは6項記載の方法。7. A correction signal is generated based on the measurement result of the positional deviation of the element, and this is used to Any one of claims 1 to 5, characterized in that the position of the work piece is controlled and corrected. or the method described in Section 1 or Section 6. 8.先述請求の範囲のいずれす1項記載の方法を実施するための装置であって、 少なくとも一つの素子マガジンもしくは素子マガジン群と、素子を受けとるため のピックアップ手段を有する少なくとも一つの素子移動部と、少なくとも一つの 作業片を受けいれるための少なくとも一つの作業片保持手段とを有し;前記素子 移動部は素子マガジンもしくは素子マガジン群との間を移動することができ;ま た移動する素子の瞬間的な位置を走査するための位置走査部を有する装置におい て: 位置走査部15は前記素子移動部10,11のビックアップ手段13,14によ り保持される素子9,20の移動路の域内に配置され、前記ピックァップ手段の 位置決め軸に関しあらかじめ決められた位置に対する素子9,20の相対的な位 置のずれを測定し;また前記位置走査部15と接続しておりかつ少なくとも前記 素子移動部の駆動ユニットと接続する制御手段を有し、前記制御手段は前記位置 走査部により測定された相対的な位置のずれの値に基いて前記駆動ユニットを制 御するようにしてなることを特徴とする装置。8. An apparatus for carrying out the method according to any one of the preceding claims, comprising: at least one element magazine or group of element magazines and for receiving elements; at least one element moving section having a pick-up means; at least one workpiece holding means for receiving a workpiece; said element The moving part can move between an element magazine or a group of element magazines; In an apparatus having a position scanning unit for scanning the instantaneous position of a moving element, hand: The position scanning section 15 is operated by the start-up means 13 and 14 of the element moving sections 10 and 11. The pick-up means is disposed within the movement path of the elements 9, 20 held by the pick-up means. Relative position of elements 9, 20 with respect to a predetermined position with respect to the positioning axis and is connected to the position scanning section 15 and at least It has a control means connected to a drive unit of the element moving section, and the control means is connected to the drive unit of the element moving section, and the control means controlling the drive unit based on the relative positional deviation value measured by the scanning section; A device characterized in that it becomes controlled in a manner that it controls. 9.前記位置走査部15が作業片保持部(1,2,4)の上部にこれと共軸に、 一定の距離をおいて配置されていることを特徴とする請求の範囲第8項記載の装 置。9. The position scanning unit 15 is disposed on the upper part of the work piece holding unit (1, 2, 4) coaxially therewith, The device according to claim 8, characterized in that the device is arranged at a certain distance. Place. 10.前記位置走査部15が前記素子移動部11に配置され、前記素子ピックア ップ手段13,14の下部に位置していることを特徴とする請求の範囲第8項記 載の装置。10. The position scanning unit 15 is arranged in the element moving unit 11, and the position scanning unit 15 is arranged in the element moving unit 11, and Claim 8, characterized in that the device is located at the lower part of the top means 13, 14. equipment. 11.前記位置走査部15が枠部材21a−21dを有し、素子移動部の素子2 0を保持するピックアップ手段13,14は前記枠部材の内部を通過するように したことを特徴とする請求の範囲第8乃至10項のいずれか1項記載の装置。11. The position scanning unit 15 has frame members 21a to 21d, and the element 2 of the element moving unit Pick-up means 13 and 14 for holding 0 pass through the inside of the frame member. The device according to any one of claims 8 to 10, characterized in that: 12.前記枠部材21a−21dが四辺形もしくは正方形であり、枠部材の少く とも一つの側面21aもしくは21bもしくは21cもしくは21d)に沿い位 置走査部部材22a−22d;23a−23dもしくは24a,b、25a,b もしくは26;27もしくは30;31)が設けられていることを特徴とする請 求の範囲第8−11項のいずれか1項記載の装置。12. The frame members 21a to 21d are quadrilateral or square, and most of the frame members are along one side 21a or 21b or 21c or 21d) Scanning unit members 22a-22d; 23a-23d or 24a, b, 25a, b or 26; 27 or 30; 31). The device according to any one of items 8 to 11. 13.前記枠部材21a−21dの少くともいくつかは位置走査針22a−22 dを有し、これは枠側部材の中央に配置されこれと直角に延び長手方向に移動し うるようにしてあり、夫々の位置走査針は枠側部材に設けられた駆動及び測定ユ ニット23a−23dにより枠部材の中央に移動し移動量を測定するようにした ことを特徴とする請求の範囲第8−11項のいずれか1項記載の装置。13. At least some of the frame members 21a-21d are position scanning needles 22a-22. d, which is arranged at the center of the frame side member, extends at right angles thereto, and moves in the longitudinal direction. Each position scanning needle is connected to a drive and measuring unit provided on the frame side member. Moved to the center of the frame member by knits 23a-23d and measured the amount of movement. Apparatus according to any one of claims 8 to 11, characterized in that: 14.駆動及び測定ユニット23a−23dは、素子移動部の駆動手段と操作自 在に接続していることを特徴とする請求の範囲第13項記載の装置。14. The drive and measurement units 23a to 23d include a driving means and an operating unit for the element moving section. 14. A device according to claim 13, characterized in that the device is connected to the 15.投射素子24a,24bが前記枠部材の二つの対向角のそれぞれの域に配 置され、前記投射素子は枠部材内部に位置する素子20により反射可能なビーム を発するようになし、かつ少くとも90度回転運動をし、更に受容素子25a, 25bが枠部材の残る二つの対向角のそれぞれの域に配置され、前記投射素子か ら投射され枠部材内部の前記素子により反射されるビームを受容するようにして なることを特徴とする請求の範囲第8−12項のいずれか1項記載の装置。15. Projection elements 24a and 24b are arranged at respective areas of two opposing angles of the frame member. 20, the projection element emits a beam that can be reflected by an element 20 located inside the frame member. and rotate at least 90 degrees, and the receiving elements 25a, 25b is arranged at each of the remaining two opposing angles of the frame member, and the projection element to receive the beam projected from the frame member and reflected by the element inside the frame member. Apparatus according to any one of claims 8 to 12, characterized in that: 16.前記ビーム投射素子24a,24bが360度回転運動をすることを特徴 とする請求の範囲第15項記載の装置。16. The beam projection elements 24a and 24b are characterized in that they rotate 360 degrees. 16. The apparatus according to claim 15. 17.ビーム投射素子24a,24b及びビーム受容素子25a,25bが、前 記素子移動部の駆動ユニットと接続していることを特徴とする請求の範囲第15 もしくは16項記載の装置。17. Beam projecting elements 24a, 24b and beam receiving elements 25a, 25b are located at the front. Claim 15, characterized in that the device is connected to a drive unit of the element moving section. Or the device described in item 16. 18.ビーム投射素子24a,24bがレーザーダイオードであり、ビーム受容 素子25a,25bが感光半導体素子であることを特徴とする請求の範囲第15 乃至17項のいずれか1項記載の装置。18. The beam projection elements 24a, 24b are laser diodes, and the beam receiving elements 24a, 24b are laser diodes. Claim 15, wherein the elements 25a and 25b are photosensitive semiconductor elements. 18. The device according to any one of items 17 to 17. 19.少くとも枠側部21cに沿って一列のビーム投射素子26が近接して配置 され、この枠側部と対向する側の枠側部21aに沿って一列のビーム受容素子2 7が近接して配置されていることを特徴とする請求の範囲第8−12項のいずれ か1項記載の装置。19. At least one row of beam projection elements 26 is arranged closely along the frame side portion 21c. A row of beam receiving elements 2 is arranged along the frame side 21a on the side opposite to this frame side. 7 are arranged in close proximity to each other. The device according to item 1. 20.ビーム投射素子26がレーザーダイオードでありビーム受容素子27が光 感知半導体素子であり、夫々のレーザーダイオードが関係する光感知受容素子と 対応していることを特徴とする請求の範囲第19項記載の装置。20. The beam projecting element 26 is a laser diode, and the beam receiving element 27 is a laser diode. A sensing semiconductor device, which includes a light sensing and receiving device with which each laser diode is associated. 20. Device according to claim 19, characterized in that it corresponds. 21.少くとも枠側部21aに沿って一列の光感知素子31が近接して配置され 、直径対向方向に二つのビームを投射する二面投射素子30が光感知受容素子を 具備する前記枠側部に対向する枠側部21cの中央に設けられており、二面投射 素子を有する前記枠側部21cの両端部に回転駆動する反射素子28a,28b が設けられていることを特徴とする請求の範囲第8−12項のいずれか1項記載 の装置。21. At least one row of photo-sensing elements 31 is arranged closely along the frame side part 21a. , a two-plane projection element 30 that projects two beams in diametrically opposite directions connects the light sensing and receiving element. It is provided at the center of the frame side portion 21c opposite to the frame side portion comprising the Reflective elements 28a and 28b are rotatably driven at both ends of the frame side portion 21c having elements. Claims 8 to 12, characterized in that: equipment. 22.二面投射素子30が二面を有する半導体レーザーダイオードからなり、鏡 からなる反射素子28a,28bに対し、枠側部21cに対して実質的に平行な 二つのレーザービームを投射するようにしたことを特徴とする請求の範囲第21 項記載の装置。22. The two-plane projection element 30 is composed of a semiconductor laser diode having two surfaces, and is a mirror. The reflective elements 28a and 28b are substantially parallel to the frame side portion 21c. Claim 21, characterized in that two laser beams are projected. Apparatus described in section. 23.光感知受容素子31が半導体素子からなることを特徴とする請求の範囲第 21もしくは22項記載の装置。23. Claim No. 3, characterized in that the light sensing/receiving element 31 is made of a semiconductor element. The device according to item 21 or 22. 24.ビーム投射素子(24a,bもしくは26もしくは30及びビーム受容素 子(25a,bもしくは27もしくは31)が前記素子移動手段の制御ユニット と作動自在に接続していることを特徴とする請求の範囲第15−23項のいずれ か1項記載の装置。24. Beam projection element (24a, b or 26 or 30 and beam receiving element) The child (25a, b or 27 or 31) is a control unit of the element moving means. Any one of claims 15-23, characterized in that the device is operably connected to The device according to item 1.
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