JPS6140527A - Temperature measuring oscillation circuit - Google Patents
Temperature measuring oscillation circuitInfo
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- JPS6140527A JPS6140527A JP16161084A JP16161084A JPS6140527A JP S6140527 A JPS6140527 A JP S6140527A JP 16161084 A JP16161084 A JP 16161084A JP 16161084 A JP16161084 A JP 16161084A JP S6140527 A JPS6140527 A JP S6140527A
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- G—PHYSICS
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- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
- G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、温度に応じた周期のパルス状信号を発生する
温度計測用の発振回路に関するものである0
〔従来技術〕
従来は、本出願人の別途出願による「温湿度検出装置」
(実公昭54−32954)に開示されているとおシ、
第1のインバータと第2のインバータとを縦続接続し、
第1のインバータの入力へ第2のインバータの出力から
コンデンサと抵抗器との直列回路を介して正帰還を施し
たうえ、第1のインバータの出力とコンデンサおよび抵
抗器の共通接続点との間へサーミスタ等の温度検出素子
を接続し、温度検出素子の温度に応する抵抗値変化によ
如発振周波数を制御するものとしておシ、これによって
温度に反比例した関係の周波数を有するパルス信号を得
ている。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an oscillation circuit for temperature measurement that generates a pulse-like signal with a period corresponding to temperature. "Temperature and humidity detection device" filed separately
(Utility Model Publication No. 54-32954),
A first inverter and a second inverter are connected in cascade,
Positive feedback is applied from the output of the second inverter to the input of the first inverter via a series circuit of a capacitor and a resistor, and between the output of the first inverter and the common connection point of the capacitor and resistor. A temperature detecting element such as a thermistor is connected to the oscillator, and the oscillation frequency is controlled by changing the resistance value of the temperature detecting element according to the temperature, thereby obtaining a pulse signal having a frequency inversely proportional to the temperature. ing.
しかし、この手段による場合には、温度計測上高精度を
要する際に発振周波数を高く設定しなければならず、プ
ロセッサ等のディジタル回路によシバルス信号を処理す
るには、分周器によって分周することを要し、装置とし
ての構成が複雑化するため高価になると共に、連続的麦
発振を行なりておシ、回路素子の温度上昇および温度検
出素子自身の通電による発熱等によシ、計測上の誤差が
発生し易い等の欠点を生じている。However, when using this method, the oscillation frequency must be set high when high accuracy is required for temperature measurement, and in order to process the oscillation signal by a digital circuit such as a processor, the frequency must be divided by a frequency divider. The device configuration becomes complicated and expensive, and continuous oscillation is required, resulting in heat generation due to temperature rise of the circuit elements and energization of the temperature detection element itself. This method has drawbacks such as easy measurement errors.
また、一般に、温度検出素子をブリッジ回路の一辺とし
、温度検出素子の抵抗値変化によるブリッジ回路の不平
衡状態を電圧として検出する手段も採用されているが、
この場合は、検出出力をディジタル回路によシ処理する
際、アナログ・ディジタル変換器(以下、ADC)を必
要とし、前述と同様に高価となる欠点を生ずる。Generally, a method is also adopted in which the temperature detection element is used as one side of the bridge circuit, and the unbalanced state of the bridge circuit due to a change in the resistance value of the temperature detection element is detected as a voltage.
In this case, when the detection output is processed by a digital circuit, an analog-to-digital converter (hereinafter referred to as ADC) is required, which has the same disadvantage of being expensive as described above.
本発明は、従来のかかる欠点を根本的に解決する目的を
有し、論理積回路の一方の入力へ帰還信号を与えると共
に、他方の入力へ制御信号を与えるものとし、論理積回
路の出力を各々が反転増幅を行なうと共に低出力インピ
ーダンスを呈し、かつ、互いに逆相の出力を有する第1
および第2の相補形プッシュプル増幅器によシ増幅し、
各増幅器の出力から論理積回路の一方の入力へ各個に第
1および第2の帰還回路を介して帰還信号を与えるもの
としたうえ、各帰還回路中のいずれか一方へ温度に応じ
て抵抗値の変化する感温素子を直列に挿入し、かつ、い
ずれか他方の帰還回路中5直列にコンデンサを挿入し、
制御信号によって発振動作の開始と停止とを制御すると
共に、温度に比例した周期のパルス状信号を得るものと
した極めて効果的な、温度計測発振回路を提供するもの
である。The present invention has the purpose of fundamentally solving such drawbacks of the conventional art, and provides a feedback signal to one input of an AND circuit, and a control signal to the other input, thereby controlling the output of the AND circuit. Each of the first
and a second complementary push-pull amplifier,
A feedback signal is given from the output of each amplifier to one input of the AND circuit through the first and second feedback circuits, and the resistance value is set depending on the temperature of either one of the feedback circuits. Insert temperature-sensitive elements that change in series, and insert five capacitors in series in one of the other feedback circuits,
The present invention provides an extremely effective temperature measurement oscillation circuit that controls the start and stop of oscillation by a control signal and obtains a pulsed signal with a period proportional to temperature.
以下、実施例を示す図によって本発明の詳細な説明する
。Hereinafter, the present invention will be explained in detail with reference to figures showing examples.
第1図は、基本的な回路図でアシ、論理積回路としての
NANDゲートGの一方の入力には、抵抗器R1を介し
帰還信号が与えられるものとなっておシ、他方の入力に
は、入力INから″H’(高レベル)の制御信号Soが
与えられ、これが@H”の間のみNANDゲートGがオ
ンとカシ、発振動作を行表う一方、これが@L”(低レ
ベル)となれば、NANDゲートGがオフと外るため、
発振動作を停止するものとなっている。Figure 1 is a basic circuit diagram in which a feedback signal is given to one input of a NAND gate G as an AND circuit via a resistor R1, and the other input is given a feedback signal via a resistor R1. , a control signal So of "H" (high level) is given from the input IN, and the NAND gate G turns on and performs oscillation only while this is @H", while this is @L" (low level). If so, the NAND gate G will be turned off, so
It is designed to stop the oscillation operation.
NANDゲートGの出力は、抵抗器R2+ R3、コン
デンサC1+C2およびトランジスタQt 、Q2 K
よ多構成された第1の相補形プッシュプル増幅器(以下
、CPA)によシ反転増幅されると共に、インバータI
Nを介し、抵抗器R4+ R5、コンデンサC3+C4
およびトランジスタQ3.Qaからなる第2のCPAに
よシ反転増幅されるものとなっておシ、これらの互に逆
相な各出力からは、抵抗器R1を介するNANDゲー)
Gの入力に対し、各々、感温素子としてのサーミスタT
Hが直列に挿入された第1の帰還回路を介し、かつ、コ
ンデンサCTが直列に挿入された第2の帰還回路を介し
、各個に帰還信号が与えられている。The output of NAND gate G is connected to resistor R2+R3, capacitor C1+C2 and transistors Qt, Q2K
It is inverted and amplified by a first complementary push-pull amplifier (hereinafter referred to as CPA), which has a multiplicity of configurations, and an inverter I
Through N, resistor R4+ R5, capacitor C3+C4
and transistor Q3. The outputs are inverted and amplified by the second CPA consisting of Qa, and the outputs, which are in opposite phases to each other, are connected to a NAND gate via a resistor R1.
For each input of G, the thermistor T as a temperature sensing element
A feedback signal is given to each individual through a first feedback circuit in which a capacitor CT is inserted in series and a second feedback circuit in which a capacitor CT is inserted in series.
ただし、トランジスタQl、Q2によるCPAの出力は
、NANDゲートGの入力と同相、トランジスタQs
、Q4によるCPAの出力は、NANDゲートGの入力
と逆相でアシ、サーミスタTHを介してコンデンサcT
に対する充放電が行なわれ、コンデンサ0丁の端子電圧
が帰還信号として与えられるものとなっておシ、各CP
Aの出力インピーダンスは十分に低(、NANDゲート
Gの入力駆動およびコンデンサcTの充放電駆動に必要
とする十分な電圧および電流の供給ならびに共通電位へ
の地絡が可能となっている。However, the output of CPA by transistors Ql and Q2 is in phase with the input of NAND gate G, and transistor Qs
, the output of CPA by Q4 is in reverse phase with the input of NAND gate G, and is connected to capacitor cT via thermistor TH.
The terminal voltage of the capacitor 0 is given as a feedback signal, and each CP
The output impedance of A is sufficiently low (it is possible to supply sufficient voltage and current for driving the input of the NAND gate G and driving the charging and discharging of the capacitor cT, as well as grounding to the common potential.
このため、制御信号SoがIH′となれば、コンデンサ
cTの容量値およびサーミスタTHの抵抗値に応じた周
期の発振を開始し、第1図における各部の波形を第2図
に示すとおj)、NANDゲートGの入力へ与えられる
帰還信号(a)は、コンデンサ0丁の充放電に応じて変
化し、これがNANDゲートGにおいて波形整形および
反転を受けて出力(b)となシ、これが更にインバータ
INKよシ反転されて出力(c)となったりえ、出力O
UTから送出されるものとなる。Therefore, when the control signal So becomes IH', it starts oscillating at a period corresponding to the capacitance value of the capacitor cT and the resistance value of the thermistor TH, and the waveforms of each part in Fig. 1 are shown in Fig. 2). , the feedback signal (a) given to the input of the NAND gate G changes according to the charging and discharging of the capacitor 0, which undergoes waveform shaping and inversion in the NAND gate G and becomes the output (b). The inverter INK can be inverted and become the output (c), and the output O
It will be sent from the UT.
また、出力(b)および(e)に対し、トランジスタQ
1+Q2によるCPAの出力(d)およびトランジスタ
Qs+Q4によるCPAの出力(@)は各々反転状態と
なっておシ、出力(d)が@H″、出力(e)が@L”
のときには、出力(d)からコンデンサcTおよびサー
ミスタTHを介して出力(e)へ充電電流が通じ、これ
によるサーミスタTHの端子電圧が帰還信号(a)とし
てNANDゲー)Gの入力へ与えられる。Also, for outputs (b) and (e), transistor Q
The output (d) of the CPA by Q1+Q2 and the output (@) of the CPA by the transistor Qs+Q4 are each inverted, so that the output (d) is @H'' and the output (e) is @L''.
At this time, a charging current passes from the output (d) to the output (e) via the capacitor cT and thermistor TH, and the resulting terminal voltage of the thermistor TH is applied to the input of the NAND game (G) as a feedback signal (a).
この帰還信号(a)は、コンデンサcTの充電初期にお
いて高く、充電の終了に応じて低下し、当初は出力(b
)を″L”としているが、NANDゲートGの入力応答
スレシホールド電圧VTRまで低下すると、出力(b)
が@H”へ転じ、これに応じて出力(a)が”L’、出
力(・)が@H#へ反転し、このとき、コンデンサCT
へ充電電荷として残留した電圧は、′H#を電源電圧v
nnに等しいとすればVDD −VTRとなシ、これが
出力(d)の@L#によシ正極側を基準電位とするため
、−(Vnn−VTa)まで帰還信号(l>が負方向へ
変化し、とれを基準として今度は出力(@)によシ逆方
向の充電がなされ、コンデンサ0丁の端子電圧が帰還信
号(&)となシ、当初は出力価)を@H#とじているが
、帰還信号(1)が次第に上昇してVTRへ達すると出
力(b)が1L”、出力(e)は−H’となるため、出
力(d)が@H”、出力(・)は’L”へ転じ、このと
きにコンデンサcTへ充電電荷として残留した電圧VT
RとVDDとの和によj) VDD + VTHまで帰
還信号(a)が上昇し、これの後に放電および出力(d
)による充電が行なわれ、以上の動作を反復する。This feedback signal (a) is high at the beginning of charging of the capacitor cT, decreases as charging ends, and initially the output (b
) is set to "L", but when it drops to the input response threshold voltage VTR of the NAND gate G, the output (b)
changes to @H”, and accordingly, the output (a) changes to “L”, the output (・) changes to @H#, and at this time, the capacitor CT
The voltage remaining as charge charge to 'H# is the power supply voltage v
If it is equal to nn, it becomes VDD -VTR, which causes the output (d) @L# to use the positive side as the reference potential, so the feedback signal (l> goes in the negative direction until -(Vnn-VTa). Then, the output (@) is charged in the opposite direction, and the terminal voltage of the capacitor 0 becomes the feedback signal (&), with the initial output value being @H#. However, when the feedback signal (1) gradually rises and reaches the VTR, the output (b) becomes 1L" and the output (e) becomes -H', so the output (d) becomes @H" and the output (・) changes to 'L', and at this time, the voltage VT remaining as charge in the capacitor cT
The feedback signal (a) rises to VDD + VTH due to the sum of R and VDD, after which the discharge and output (d
), and the above operation is repeated.
ここにおいて、コンデンサcTの充電および逆方向充電
による帰還信号(a)の上昇および下降各期間をt、
l t2とすれば、周期Tは次式にょシ与えられる。Here, each rising and falling period of the feedback signal (a) due to charging and reverse charging of the capacitor cT is t,
If l t2, the period T is given by the following equation.
T = t 1 + t z
・・・・・・・・・・・・ (1)
ただし、Rτ:サーミスタT、の抵抗値V7H: NA
NI)ゲートGの入力応答スレシホールド電圧
VDD:電源電圧
このため、vTn = ”/2 ” VDn トttL
tf、(1)式ハ、次式のものとなる。T = t 1 + t z ・・・・・・・・・・・・ (1) However, Rτ: resistance value of thermistor T, V7H: NA
NI) Input response threshold voltage of gate G VDD: Power supply voltage Therefore, vTn = "/2" VDn ttL
tf, Equation (1) C, becomes the following equation.
T中1・IRr110丁+1・IR丁・cT;2・2R
T@CT ・・・・・・………・旧・・…・・・−(
2)、え7.9.、c、81,1□。アーオ。よよ2
パシ変化すれば、周期Tをクロックパルスのカウン
ト等によシ検出することにょシ、温度を計測することが
できる。T Medium 1・IRr110+1・IR・cT;2・2R
T@CT ・・・・・・・・・・・・・Old・・・・・・・−(
2), e7.9. ,c,81,1□. Ahhh. Yoyo 2
If the temperature changes, the temperature can be measured by detecting the period T by counting clock pulses or the like.
なお、第1図において、NANDゲートGの入力に対す
る帰還のためにCPAを設けたのは、NANDゲートG
およびインバータINの出力インピーダyy、がC−M
OS (Complementary−Metal O
xldeSemiconductor 、 )の場合、
5000〜数にΩと高く、十分な出力電圧、電流および
地絡効果が得られず、コンデンサcTの充放電期間に誤
差を生じ、(1)および(2)式の条件が得られ力いた
めであシ、抵抗器R2〜Rsと並列のコンデンサ01〜
C4は、トランジスタQ1〜Q4の応答時間を短縮し、
波形の変化を急峻とする目的のものである。In FIG. 1, the CPA is provided for feedback to the input of the NAND gate G.
and the output impedance yy of the inverter IN is C-M
OS (Complementary-Metal O
xldeSemiconductor, ),
This is because it is as high as 5,000 to several Ω, making it impossible to obtain sufficient output voltage, current, and ground fault effect, causing errors in the charging and discharging period of the capacitor cT, and making it difficult to obtain the conditions of equations (1) and (2). Ashi, resistor R2 ~ Capacitor 01 ~ in parallel with Rs
C4 shortens the response time of transistors Q1-Q4,
The purpose is to make the waveform change steeper.
また、第1図において、計測誤差を生ずる原因としては
、
la、 感温素子の非直線特性
lb、 ゲート回路の温度によるVTHの変動1eS
us の応答遅延時間
1dS gp の温度による出力電圧の変動le、
コンデンサcTの温度による容量値変動等であるが
、これらは、つぎの対策または理由によυ排除できる。In addition, in Fig. 1, the causes of measurement errors are: la, the nonlinear characteristic of the temperature sensing element lb, and the variation in VTH due to the temperature of the gate circuit 1eS
response delay time of us 1 dS gp fluctuation of output voltage due to temperature le,
Variations in capacitance value due to temperature of the capacitor cT, etc. can be eliminated by the following measures or reasons.
2m、 プロセッサ処理または補正回路によシ補正す
る。2m, corrected by processor processing or correction circuit.
2b、 C−MO8回路回路jVyu/jθ=−3m
V/℃であシ、θ=θ〜50℃では0.06%F8以下
のため無視できる。2b, C-MO8 circuit jVyu/jθ=-3m
When V/°C is used and θ=θ to 50°C, it is 0.06% F8 or less and can be ignored.
2e、 周期Tを大とすることによυ無視できる。2e, υ can be ignored by increasing the period T.
、 2a、 C−MO8回路の場合、特に大きな変動
がなく、無視できる。, 2a, In the case of the C-MO8 circuit, there is no particularly large variation and can be ignored.
2Q1 許容される範囲内において支障のない温度特
性のものを選定する。2Q1 Select one with temperature characteristics that do not cause any problems within the allowable range.
したがって、NANDゲー)G%インバータINK C
−MO8回路tfcは相当品を使用し、かつ、2−およ
び2・の各条件を適用すれば、十分に大きな周期Tとす
ることが可能となJ)、2cの条件も満足され、安定か
つ高精度の温度計測が実現する。Therefore, NAND game) G% inverter INK C
- By using an equivalent MO8 circuit tfc and applying each of the conditions 2- and 2., it is possible to obtain a sufficiently large period T.J), the conditions 2c are also satisfied, and it is stable and Realizes highly accurate temperature measurement.
また、Mにが不要であシ、かつ、周期Tを大とすること
によル分周器等が不要とな)、全装置が安価になると共
に、計測時にのみポーリング信号等を制御信号Soとし
て与え、このときにのみ発振動作を行なわせるととが自
在でアシ、電源消費量、および、各回路素子の温度上昇
、ならびに、感温素子の自己発熱等が低減され、計測確
度が向上する。In addition, M is not required, and by making the period T large, a frequency divider, etc. is not required), the whole device becomes cheaper, and the polling signal etc. are used only during measurement as the control signal It is possible to freely perform the oscillation operation only at this time, reducing power consumption, temperature rise of each circuit element, and self-heating of the temperature sensing element, and improving measurement accuracy. .
第3図は、他の実施例を示す回路図であ)、この場合は
、抵抗器Rtt t R12、コンデンサC11zC1
2およびトランジスタQtt TQ12による第1のC
PAと、抵抗器RIM +R14、コンデンサC13r
C14およびトランジスタQ13 * Qr<による
第2のCPAとを縦続接続すると共に、各々と並列にイ
ンバータIN1゜IN2を各個に並列接続し、トランジ
スタQn JQ12によるCPAの同相出力と、抵抗器
R1を介するNANDゲートGの入力との間の第1の帰
還回路中へコンデンサcTを直列に挿入する一方、トラ
ンジスタQ13 + Q14によるCPAの逆相出力と
、同様のNANDゲートGの入力との間の第2の帰還回
路中ヘサーミスタTHを直列に挿入しておシ、第1図に
対し、出力OUTからのパルス状信号は位相が反転する
ものとなっているが、動作状況は第1図と同様である。FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment), in this case, the resistor Rtt t R12 and the capacitor C11zC1
2 and the first C by transistor Qtt TQ12
PA, resistor RIM +R14, capacitor C13r
C14 and a second CPA formed by transistor Q13*Qr< are connected in cascade, and inverters IN1 and IN2 are connected in parallel with each of them, and the in-phase output of CPA by transistor Qn JQ12 is connected to NAND through resistor R1. A capacitor cT is inserted in series in the first feedback circuit between the input of the gate G, while a second By inserting a he thermistor TH in series in the feedback circuit, the phase of the pulsed signal from the output OUT is inverted compared to that shown in Fig. 1, but the operating situation is the same as that shown in Fig. 1. .
ただし、各CPAの入カスレジホールド電圧はトランジ
スタQ1t〜Q14のベース・エミッタ間電圧VBXに
より定マシ、これが約1.4vであるのに対し、C−M
O8回路の入カスレジホールド電圧は約2.5vでLり
、@L”から@H”への立上シに対する応答は各CPA
の方が速くても、@H”から@L”への立下シに対する
応答はインバータIN1. IN、の方が速いため、互
いに速い方の応答動作によ多波形変化を急峻とする目的
上、各CPAとインバータIN、 、IN2とを各々並
列としている。However, the input resistor voltage of each CPA is fixed by the base-emitter voltage VBX of the transistors Q1t to Q14, which is approximately 1.4V, whereas the C-M
The input resistor voltage of the O8 circuit goes low at approximately 2.5V, and the response to the rise from @L" to @H" is for each CPA.
Even if IN1. Since IN is faster, each CPA and inverters IN, IN, and IN2 are connected in parallel with each other in order to make the multi-waveform change steeper due to faster response operations.
また、第3図においては、十分表駆動出力を有するCP
Aが縦続接続されてお)、第1図に比し、動作が安定と
々る。In addition, in FIG. 3, a CP with sufficient front drive output
A is connected in cascade), the operation is more stable than in FIG.
なお、感温素子としては、サーミスタTHのほか、条件
に応じて同等の他の素子を用いてもよく、NANDゲー
トGの代シに廂ゲート、インヒビットゲート等を用いて
も同様であシ、各CPAは、互いに逆相の出力を生ずる
ものとすればよく、状況 1にしたがってイン
バータ等を適宜入力側へ挿入すればよい等、種々の変形
が自在である。In addition to the thermistor TH, other equivalent elements may be used as the temperature sensing element depending on the conditions, and the same effect may be obtained by using a gate, inhibit gate, etc. in place of the NAND gate G. It is sufficient that each CPA generates outputs in phase opposite to each other, and various modifications are possible, such as by appropriately inserting an inverter or the like on the input side according to situation 1.
以上の説明によシ明らかなとおシ本発明によれば、温度
に応じた周期のパルス状信号が直ちに得られ、特にAD
C1分周器等を要さず、全般的に安価な構成となシ、か
つ、必要外ときにのみ動作させるととが自在でアシ、各
回路素子の温度上昇および感温素子の自己発熱が低減さ
れるため、計測状況が安定かつ正確となシ、各種の温度
計測において顕著な効果が得られる。As is clear from the above explanation, according to the present invention, a pulse-like signal having a period corresponding to the temperature can be immediately obtained, and in particular, an AD
It does not require a C1 frequency divider, has an overall inexpensive configuration, and can be operated only when it is not needed, reducing the temperature rise of each circuit element and the self-heating of the temperature sensing element. Since the temperature is reduced, the measurement situation is stable and accurate, and a remarkable effect can be obtained in various temperature measurements.
図は本発明の実施例を示し、第1図は基本的な回路図、
第2図は第1図における各部の波形を示IN11 IN
2@・・・インバータ、Q1〜Q4 、Qt+〜Q14
・・・・トランジスタ、TH・・拳・?−ミスタ(感温
素子)、CT ・・・・コンデンサ、Sc ・・・−
制御信号。The figure shows an embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a basic circuit diagram;
Figure 2 shows the waveforms of each part in Figure 1. IN11 IN
2@...Inverter, Q1~Q4, Qt+~Q14
...transistor, TH...fist? -Mister (temperature sensing element), CT...capacitor, Sc...-
Control signal.
Claims (1)
制御信号の与えられる論理積回路と、該論理積回路の出
力を各々が反転増幅すると共に互に逆相の出力を有しか
つ各々が低出力インピーダンスを呈する第1および第2
の相補形プッシュプル増幅器と、該各増幅器の各出力か
ら前記一方の入力へ各個に帰還信号を与える第1および
第2の帰還回路と、該各帰還回路中のいずれか一方へ直
列に挿入された温度に応じて抵抗値の変化する感温素子
と、前記各帰還回路中のいずれか他方へ直列に挿入され
たコンデンサとを備えたことを特徴とする温度計測発振
回路。an AND circuit to which a feedback signal is given to one input and a control signal to the other input; a first and a second exhibiting an output impedance;
a complementary push-pull amplifier, first and second feedback circuits each providing a feedback signal from each output of each of the amplifiers to the one input; 1. A temperature measurement oscillation circuit comprising: a temperature sensing element whose resistance value changes depending on the temperature; and a capacitor inserted in series with one of the feedback circuits.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16161084A JPS6140527A (en) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | Temperature measuring oscillation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16161084A JPS6140527A (en) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | Temperature measuring oscillation circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6140527A true JPS6140527A (en) | 1986-02-26 |
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Family Applications (1)
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JP16161084A Pending JPS6140527A (en) | 1984-08-02 | 1984-08-02 | Temperature measuring oscillation circuit |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6140527A (en) |
-
1984
- 1984-08-02 JP JP16161084A patent/JPS6140527A/en active Pending
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