JPS6134301B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6134301B2
JPS6134301B2 JP53081323A JP8132378A JPS6134301B2 JP S6134301 B2 JPS6134301 B2 JP S6134301B2 JP 53081323 A JP53081323 A JP 53081323A JP 8132378 A JP8132378 A JP 8132378A JP S6134301 B2 JPS6134301 B2 JP S6134301B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
odd
decoder
circuit
output
logic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53081323A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS559262A (en
Inventor
Yasuhiro Nagayama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP8132378A priority Critical patent/JPS559262A/en
Publication of JPS559262A publication Critical patent/JPS559262A/en
Publication of JPS6134301B2 publication Critical patent/JPS6134301B2/ja
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  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデコーダ回路の誤り検出回路に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an error detection circuit for a decoder circuit.

従来、デコーダ出力の誤り検出は、第3図のよ
うに、デコーダ100のの出力端子に接続した奇
偶検査回路101および102を用いて行なつて
おり、デコーダ100の出力端子に偶数個の論理
“1”が生じた時に誤り表示をするようになつて
いる。しかし、デコーダ内部の構成要素等の故障
により目的とする1本の出力端子以外の1本の端
子に論理“1”出力が生じたときには誤り表示は
できず正常とみなされてしまう欠点がある。この
欠点を解決する構成として、デコーダを二重化し
てデコーダのそれぞれの出力を常に比較すること
によりデコーダの誤りを検出する方式がとられて
いるが、デコーダが二ついること、さらに、各出
力の数だけ比較器が必要となること等のため構成
が複雑化するという欠点がある。
Conventionally, error detection in decoder output has been performed using odd-even check circuits 101 and 102 connected to the output terminals of the decoder 100, as shown in FIG. 1” occurs, an error is displayed. However, if a logic "1" output occurs at one terminal other than the intended output terminal due to a failure of a component inside the decoder, there is a drawback that an error cannot be displayed and the decoder is regarded as normal. To solve this problem, a system has been adopted in which decoders are duplicated and decoder errors are detected by constantly comparing the outputs of each decoder. There is a drawback that the configuration becomes complicated because more comparators are required.

本発明の目的は1ビツト誤りによる目的外出力
を生じるデコーダ誤りを少ない素子数で検出でき
るようにしたデコーダ誤り検出回路を提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a decoder error detection circuit capable of detecting a decoder error that causes an unintended output due to a 1-bit error with a reduced number of elements.

本発明の回路は、Nビツト入力に応答して2N
本の出力線のうちの1つの出力線に論理“1”を
出力するデコーダと、このデコーダに与えられる
Nビツト入力と同じ内容のNビツト入力が与えら
れこの入力に対して奇偶検査を行なう第1の奇偶
検査回路と、それぞれ奇数個の論理“1”のビツ
トを有する2(N-1)通りのNビツト入力を正常な
前記デコーダに与えたとき論理“1”を出力する
(N-1)本の前記出力線が接続されこれら出力線
から得られる信号と前記第1の奇偶検査回路から
の偶数検出信号とに基づいて奇偶検査をする第2
の奇偶検査回路と、この第2の奇偶検査回路に接
続された前記出力線以外の2(N-1)本の前記出力
線が接続されこれら出力線から得られる信号と前
記第1の奇偶検査回路からの奇数検出信号とに基
づいて奇偶検査をする第3の奇偶検査回路と、前
記第2の奇偶検査回路の検査結果および前記第3
の奇偶検査回路の検査結果に基づいて前記デコー
ダの複数本の出力線が論理“1”となる状態と誤
つた位置にある1本の出力線が論理“1”となる
状態とを検出する異常検出回路とから構成され
る。
The circuit of the present invention responds to an N-bit input with 2 N
A decoder that outputs logic "1" to one of the output lines of the main output line, and a decoder that is given an N-bit input with the same content as the N-bit input given to this decoder and performs an odd-even check on this input. 1 odd-even check circuit and 2 (N-1) types of N-bit inputs each having an odd number of logic "1" bits are applied to the normal decoder, which outputs logic "1" . 1) A second circuit to which the two output lines are connected and performs an odd-even test based on the signals obtained from these output lines and the even detection signal from the first odd-even test circuit.
and the 2 (N-1) output lines other than the output line connected to the second odd-even check circuit are connected to the signals obtained from these output lines and the first odd-even check circuit. a third odd-even test circuit that performs an odd-even test based on an odd detection signal from the circuit; and a test result of the second odd-even test circuit and the third
An abnormality that detects a state in which a plurality of output lines of the decoder become logic "1" and a state in which one output line in the wrong position becomes logic "1" based on the test results of the odd-even test circuit. It consists of a detection circuit.

本発明の特徴は、1ビツト誤りのうち誤り位置
の異なる誤りを検出するためある2進数とその2
進数の1ビツトのみを反転した2進数との関係
(以下ハミング距離“1”と称す)にある集団と
それ以外の集団に分け論理“1”の奇偶に応じて
前記2つの集団の状態を監視することにある。
A feature of the present invention is that a binary number and its binary number are used to detect errors with different error positions among 1-bit errors.
Divide into a group that has a relationship with a binary number in which only one bit of the base number is inverted (hereinafter referred to as Hamming distance "1") and other groups, and monitor the status of the two groups according to the oddness or evenness of the logic "1". It's about doing.

次に本発明を図面を参照して詳細に説明する。 Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図は一般的なデコーダ100を示す図であ
る。第1図に示す端子G1およびG2はデコーダ
回路のイネーブル端子であり、以下の説明では省
略する。端子A,B,CおよびDに与えられた2
進信号は解読されその解読結果は出力端子0から
15のうちのどれか1つの出力端子から送出され
る。デコーダ100の内部のどこか一ケ所に故障
が生じたときには、デコーダ100の出力は次の
2つの状態をとる。第1の状態では出力が2本生
じる。また、第2の状態では誤つた位転に出力が
生じる。
FIG. 1 is a diagram showing a general decoder 100. Terminals G1 and G2 shown in FIG. 1 are enable terminals of the decoder circuit, and will not be described below. 2 given to terminals A, B, C and D
The forward signal is decoded and the decoding result is output from output terminal 0.
It is sent from one of the 15 output terminals. When a failure occurs somewhere inside the decoder 100, the output of the decoder 100 takes on the following two states. In the first state, two outputs are produced. Further, in the second state, an output is generated at an erroneous position.

第2図に示す従来のデコーダ誤り検出回路の出
力パターンにおいては、第1の状態は検出できた
が第2の状態は検出不可能である。
In the output pattern of the conventional decoder error detection circuit shown in FIG. 2, the first state could be detected, but the second state could not be detected.

第4図は本発明の一実施例を示す図である。第
4図において端子A,B,CおよびDはデコード
されるべき2進信号を受けるとともにデコーダ1
00の入力端子に接続され、さらに、第1奇偶検
査回路103に接続されている。この奇偶検査回
路は入力信号の論理“1”の数が奇数の時に信号
線203が論理“1”、信号線204は論理
“0”となり、逆に入力信号の論理“1”の数が
偶数の時は信号線203が論理“0”、信号線2
04は論理“1”となる回路である。
FIG. 4 is a diagram showing an embodiment of the present invention. In FIG. 4, terminals A, B, C and D receive the binary signal to be decoded and the decoder 1
00 input terminal, and further connected to the first odd-even check circuit 103. In this odd-even check circuit, when the number of logic "1"s in the input signal is odd, the signal line 203 becomes logic "1" and the signal line 204 becomes logic "0", and conversely, when the number of logic "1"s in the input signal is even When , the signal line 203 is logic “0” and the signal line 2 is
04 is a circuit with logic "1".

本発明の回路は、デコーダ100、このデコー
ダ100に与えられる4ビツトデータに基づいて
上述の奇偶検査をする第1の奇偶検査回路10
3、それぞれ偶数個(0個も含む)の論理“1”
のビツトを有する8通りの4ビツトデータ(すな
わち、(0000),(0011),(0101),(0110),
(1001),(1010),(1100),(1111))を正常な前

デーコーダ100に与えたときに論理“1”を出
力する8本のデコーダ100の出力線が接続され
これら出力線から得られる信号と第1の奇偶検査
回路103からの奇数検出信号203とに基づい
て上述の奇偶検査をする第2の奇偶検査回路10
1、第2の奇偶検査回路101に接続された前記
出力線以外の8本のデコーダ100の出力線が接
続されこれら出力線から得られる信号と第1の奇
偶検査回路103からの偶数検出信号204とに
基づいて上述の奇偶検査をする第3の奇偶回路1
02および前記第2の奇偶検査回路101からの
検査結果207と前記第3の奇偶検査回路102
からの検査結果208とのNAND論理をとり誤り
検出信号209を生じるNAND回路104から構
成されている。
The circuit of the present invention includes a decoder 100 and a first odd-even check circuit 10 that performs the above-mentioned odd-even check based on 4-bit data applied to the decoder 100.
3. Even number of logic “1” (including 0) for each
Eight types of 4-bit data (i.e., (0000), (0011), (0101), (0110),
(1001), (1010), (1100), (1111)) are connected to the output lines of the eight decoders 100 that output logic "1" when the normal decoder 100 is given the output lines. a second odd-even check circuit 10 that performs the above-mentioned odd-even check based on the signal and the odd-even detection signal 203 from the first odd-even check circuit 103;
1. Eight output lines of the decoder 100 other than the output line connected to the second odd-even check circuit 101 are connected, and signals obtained from these output lines and an even number detection signal 204 from the first odd-even check circuit 103 are connected. The third odd-even circuit 1 performs the above-mentioned odd-even test based on
02 and the test result 207 from the second odd-even test circuit 101 and the third odd-even test circuit 102
It is composed of a NAND circuit 104 which performs a NAND logic with the test result 208 from the above and generates an error detection signal 209.

次に本発明の動作について説明する。 Next, the operation of the present invention will be explained.

デコーダ100が正常のときには第2奇偶検査
回路101の入力線205と第3奇偶検査回路1
02の入力線との論理“1”の数はともに奇数で
あるため、第2および第3の奇偶検査回路の出力
線207および208はともに論理“1”となり
NAND回路104の出力線209は論理“0”と
なり、正常状態を表示する。誤つた出力位置に信
号が出る誤りのときには、1ビツト誤りであれば
ハミング距離“1”だけ離れた位置に出力される
ため、第2および第3奇偶検査回路の入力線20
5および206の論理“1”の数は偶数となり第
2および第3奇偶検査回路の出力線207および
208は論理“0”となりNAND回路104の出
力209は論理“1”となり誤りを表示する。
When the decoder 100 is normal, the input line 205 of the second odd-even check circuit 101 and the third odd-even check circuit 1
Since the number of logic "1"s with the input line 02 are both odd numbers, the output lines 207 and 208 of the second and third odd-even check circuits are both logic "1".
The output line 209 of the NAND circuit 104 becomes logic "0", indicating a normal state. In the case of an error in which a signal is output to the wrong output position, if it is a 1-bit error, the signal is output to a position separated by a Hamming distance of "1", so the input line 20 of the second and third odd-even check circuits
The number of logic "1"s in the circuits 5 and 206 becomes an even number, and the output lines 207 and 208 of the second and third odd-even check circuits become logic "0", and the output 209 of the NAND circuit 104 becomes logic "1", indicating an error.

偶数個のデコーダ出力が論理“1”となる誤り
も第2および第3奇偶検査回路101および10
2の入力線205または206の少なくともどち
らか一方の入力線の論理“1”の数が偶数となる
ため奇偶検査回路101または102の出力線2
07または208の出力線が論理“0”となり
NAND回路104の出力209は論理“1”とな
り誤りを表示する。
An error in which an even number of decoder outputs become logic “1” is also detected by the second and third odd-even check circuits 101 and 10.
Since the number of logical "1"s on at least one of the input lines 205 and 206 of 2 is an even number, the output line 2 of the odd-even check circuit 101 or 102
07 or 208 output line becomes logic “0”
The output 209 of the NAND circuit 104 becomes logic "1", indicating an error.

以上本発明の一実施例について説明したがデコ
ーダの構成は4ビツトに限らず他の構成のもので
も可能である。また、第2および第1の奇偶検査
回路において奇数入力で、デコーダを正常とみな
す例を示したが偶数入力で正常とするように構成
も容易に実現できる。
Although one embodiment of the present invention has been described above, the configuration of the decoder is not limited to 4 bits, but other configurations are also possible. Further, although an example has been shown in which the decoder is considered normal when an odd number input is made in the second and first odd-even check circuits, a configuration in which the decoder is considered normal when an even number input is made can be easily realized.

以上、本発明には、正常時に出力されるデコー
ダ出力線とは異なるデコーダ出力線に論理“1”
が出力される誤りと2個の論理“1”が出力され
る誤りとを少ない回路素子数で検出できるという
効果がある。
As described above, in the present invention, logic "1" is applied to a decoder output line different from the decoder output line outputted during normal operation.
This has the effect that an error in which a ``1'' is output and an error in which two logic "1"s are output can be detected with a small number of circuit elements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は一般的なデコーダを示す図、第2図は
第1図のデータ入力と出力との真理値状態を示す
図、第3図は従来のデコーダ誤り検出回路を示す
図および第4図は本発明の一実施例を示す図であ
る。 第1図から第4図において、A,B,C,D…
…デコーダ入力端子、100……デコーダ、10
1……第2奇偶検査回路、102……第3奇偶検
査回路、103……第1奇偶検査回路、104…
…NAND回路、201……入力信号、203……
奇数出力信号、204……偶数出力信号、205
……第2奇偶検査回路入力信号、206……第2
奇偶検査回路入力信号、207……第2奇偶検査
回路奇数出力信号、208……第3奇偶検査回路
奇数出力信号、209……デコーダ誤り検出信
号、210〜215……デコーダ出力信号。
FIG. 1 is a diagram showing a general decoder, FIG. 2 is a diagram showing the truth value state of the data input and output in FIG. 1, FIG. 3 is a diagram showing a conventional decoder error detection circuit, and FIG. 4 is a diagram showing a conventional decoder error detection circuit. FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. In Figures 1 to 4, A, B, C, D...
...Decoder input terminal, 100 ...Decoder, 10
1... Second odd-even test circuit, 102... Third odd-even test circuit, 103... First odd-even test circuit, 104...
...NAND circuit, 201... Input signal, 203...
Odd number output signal, 204... Even number output signal, 205
...Second odd-even check circuit input signal, 206...Second
Odd-even check circuit input signal, 207... Second odd-even check circuit odd output signal, 208... Third odd-even check circuit odd output signal, 209... Decoder error detection signal, 210-215... Decoder output signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 Nビツト入力に応答して2N本の出力線のう
ちの1つの出力線に論理“1”を出力するデコー
ダと、 このデコーダに与えられるNビツト入力と同じ
内容のNビツト入力が与えられこの入力に対して
奇偶検査を行なう第1の奇偶検査回路と、 それぞれ奇数個の論理“1”のビツトを有する
(N-1)通りのNビツト入力を正常な前記デコー
ダに与えたとき論理“1”を出力する2(N-1)
の前記出力線が接続されこれら出力線から得られ
る信号と前記第1の奇偶検査回路からの偶数検出
信号とに基づいて奇偶検査をする第2の奇偶検査
回路と、 この第2の奇偶検査回路に接続された前記出力
線以外の2(N-1)本の前記出力線が接続されこれ
ら出力線から得られる信号と前記第1の奇偶検査
回路からの奇数検出信号とに基づいて奇偶検査を
する第3の奇偶検査回路と、 前記第2の奇偶検査回路の検査結果および前記
第3の奇偶検査回路の検査結果に基づいて前記デ
コーダの複数本の出力線が論理“1”となる状態
と誤つた位置にある1本の出力線が論理“1”と
なる状態とを検出する異常検出回路とから構成さ
れたことを特徴とするデコーダ誤り検出回路。
[Claims] A decoder that outputs logic "1" to one of 2N output lines in response to a 1N-bit input; A first odd-even check circuit is provided with an N- bit input and performs an odd-even check on the input; The 2 (N-1) output lines that output logic "1" when applied to the decoder are connected, and based on the signals obtained from these output lines and the even detection signal from the first odd-even check circuit, A second odd-even test circuit that performs an odd-even test, and two (N-1) output lines other than the output lines connected to the second odd-even test circuit are connected to each other, and signals obtained from these output lines and a third odd-even test circuit that performs an odd-even test based on the odd-even detection signal from the first odd-even test circuit; and an abnormality detection circuit that detects a state in which a plurality of output lines of the decoder become logic "1" based on the logic "1" and a state in which one output line located in an incorrect position becomes logic "1". A decoder error detection circuit featuring:
JP8132378A 1978-07-03 1978-07-03 Detection circuit for decoder error Granted JPS559262A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8132378A JPS559262A (en) 1978-07-03 1978-07-03 Detection circuit for decoder error

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JP8132378A JPS559262A (en) 1978-07-03 1978-07-03 Detection circuit for decoder error

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Publication Number Publication Date
JPS559262A JPS559262A (en) 1980-01-23
JPS6134301B2 true JPS6134301B2 (en) 1986-08-07

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