JPS613330A - 光学的記録再生ヘツド - Google Patents
光学的記録再生ヘツドInfo
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- JPS613330A JPS613330A JP12299684A JP12299684A JPS613330A JP S613330 A JPS613330 A JP S613330A JP 12299684 A JP12299684 A JP 12299684A JP 12299684 A JP12299684 A JP 12299684A JP S613330 A JPS613330 A JP S613330A
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- light
- photodetector
- optical
- reflected light
- reflected
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオディスク等のようにディスク上に記録
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置に係り、特にディスクよりの反射光を利
用し、各種サーボをかけるだめのサーボ信号および再生
信号を得るだめの光学系に関するものである。
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置に係り、特にディスクよりの反射光を利
用し、各種サーボをかけるだめのサーボ信号および再生
信号を得るだめの光学系に関するものである。
従来例の構成とその問題点
一般に、ビデオディスクや光学的記録再生装置において
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
かかる装置においては、少くとも２つのサーボ技術が必
要である０１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂直
な方向にディスクが面プレをおこすが、前記面ブレに対
し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常にデ
ィスク上に照射できるように光学系を追従させるサーボ
で、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。他
方はディスクの回転に伴い前記トラックが偏心等により
ディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前記
微小スポット光が前記トラック上を照射するように光学
系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキングサ
ーボと呼ばれている。
要である０１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂直
な方向にディスクが面プレをおこすが、前記面ブレに対
し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常にデ
ィスク上に照射できるように光学系を追従させるサーボ
で、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。他
方はディスクの回転に伴い前記トラックが偏心等により
ディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前記
微小スポット光が前記トラック上を照射するように光学
系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキングサ
ーボと呼ばれている。
前記フォーカスおよびトラッキングサーボを行うだめの
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光より得てお
り、具体的な光学系としては例えば第１図に示すような
光学系が提案されている。
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光より得てお
り、具体的な光学系としては例えば第１図に示すような
光学系が提案されている。
第１図の光学系において、１は例えば半導体レーザから
なる光源、２は半導体レーザから出た光を集める集光レ
ンズ、３は偏光ビームスプリッタで、レーザの偏光方向
に応じて透過あるいは反射する。４は光路変更のだめの
プリズム、５はλ／４板、６は微小スポット光に絞り込
むだめの絞りレンズ、７はディスクで２デイスク上に前
記微小スポット光が照射され、信号の記録再生あるいは
再生のみが行なわれる。ディスク７よりの反射光ばλ／
４板５を再び通り、その偏光方向が変えられ、偏光ビー
ムスプリッタ３で反射−される。８は凸レンズ、９は分
割ミラーで、この分割ミラーにより元ビームは２分割さ
れ、かつ方向を変えられ、１０゜１１の光検出器にそれ
ぞれ導かれる。光検出器１゜はその光入射方向からみる
と１０ａ、１０ｂに示すように２分割されておシ、２分
割された各光検出器１ｏａ、１ｏｂの出力の差より前記
フォーカスサーボのためのフォーカス誤差信号を得てい
る。
なる光源、２は半導体レーザから出た光を集める集光レ
ンズ、３は偏光ビームスプリッタで、レーザの偏光方向
に応じて透過あるいは反射する。４は光路変更のだめの
プリズム、５はλ／４板、６は微小スポット光に絞り込
むだめの絞りレンズ、７はディスクで２デイスク上に前
記微小スポット光が照射され、信号の記録再生あるいは
再生のみが行なわれる。ディスク７よりの反射光ばλ／
４板５を再び通り、その偏光方向が変えられ、偏光ビー
ムスプリッタ３で反射−される。８は凸レンズ、９は分
割ミラーで、この分割ミラーにより元ビームは２分割さ
れ、かつ方向を変えられ、１０゜１１の光検出器にそれ
ぞれ導かれる。光検出器１゜はその光入射方向からみる
と１０ａ、１０ｂに示すように２分割されておシ、２分
割された各光検出器１ｏａ、１ｏｂの出力の差より前記
フォーカスサーボのためのフォーカス誤差信号を得てい
る。
また光検出器１１はその光入射面からみると１１８゜１
１ｂに示すように２分割されており、２分割された各光
検出器１１ａ、１１ｂの出力の差より前記トラッキング
サーボのためのトラッキング誤差信号を得ている。そし
て前記４ケの各光検出器の出力の総和よりディスク上に
記録された情報を読み出す再生信号を得ている。
１ｂに示すように２分割されており、２分割された各光
検出器１１ａ、１１ｂの出力の差より前記トラッキング
サーボのためのトラッキング誤差信号を得ている。そし
て前記４ケの各光検出器の出力の総和よりディスク上に
記録された情報を読み出す再生信号を得ている。
前記第１図の光学系には以下の欠点を有している０
（１）光学部品点数が多く光学系が犬きく重い。
（２） フォーカス位置が温度等の環境条件の影響を
顕著に受ける。即ち第１回の従来のフォーカス検出方法
では、ディスク７と絞りレンズ６との距離は凸レンズ８
による反射光の結像位置Ｐ。
顕著に受ける。即ち第１回の従来のフォーカス検出方法
では、ディスク７と絞りレンズ６との距離は凸レンズ８
による反射光の結像位置Ｐ。
と光検出器１ｏの分割線との矢印Ｘ方向の位置関係によ
って決まる。従って絞りレンズ６により最も良く絞られ
た微小スポット光をディスク上に得るフォーカス位置調
整を光検出器１ｏで行った後、例えば温度変動等の環境
条件の変化によりａ、光検出器１０が矢印Ｘ方向に移動
する、ｂ、光源１が矢印Ｙ方向に移動する、等の光学部
品の変位、光軸変動が生じれば、前記フォーカス位置が
変化し、ディスク上で前記微小スポット光が得られなく
なり、記録／再生特性が悪くなってしまう。同様なこと
がトラッキング誤差信号を検出する光検出器１１に対し
ても云える。
って決まる。従って絞りレンズ６により最も良く絞られ
た微小スポット光をディスク上に得るフォーカス位置調
整を光検出器１ｏで行った後、例えば温度変動等の環境
条件の変化によりａ、光検出器１０が矢印Ｘ方向に移動
する、ｂ、光源１が矢印Ｙ方向に移動する、等の光学部
品の変位、光軸変動が生じれば、前記フォーカス位置が
変化し、ディスク上で前記微小スポット光が得られなく
なり、記録／再生特性が悪くなってしまう。同様なこと
がトラッキング誤差信号を検出する光検出器１１に対し
ても云える。
（３）フォーカス誤差信号のＳ／Ｎが悪くなる。
即ち凸レンズ８による結像位置ＰＯを見つけることが難
しいため、実際には前記結像位置ＰＯと光検出器１ｏの
矢印Ｙ方向の位置関係は組立て上かなりばらついてしま
う。従って例えば光検出器１０が前記結像位置Ｐｏより
凸レンズ側にある時は光検出器１ｏｂには光軸中心に近
い光が、１０ａには光軸中心から離れた光が受光される
。一般にディスクで変調を受けた反射光の断面で、低い
周波数成分は反射光の中心部に、徒だ高い周波数成分は
周辺部に多く含まれていることが知られている。従って
光検出器１０ａには高い周波数成分の信号、光検出器１
０ｂには低い周波数成分の信号が得られることとなり両
党検出器の差動をとればディスクの信号トラック、ある
いは記録ピント等より受けだ反射光の変調成分はキャン
セルすることができずフォーカス誤差信号にノイズとし
て表われ、フォーカス誤差信号のＳ／Ｎがそれだけ悪く
なる。フォーカス誤差信号に表われだ前記ノイズは、前
記フォーカス誤差信号により実際に絞りレンズをフォー
カス方向に動かすアクチュエータ（図示せず）に加えら
れアクチュエータの発熱の大きな原因の１つとなる。
しいため、実際には前記結像位置ＰＯと光検出器１ｏの
矢印Ｙ方向の位置関係は組立て上かなりばらついてしま
う。従って例えば光検出器１０が前記結像位置Ｐｏより
凸レンズ側にある時は光検出器１ｏｂには光軸中心に近
い光が、１０ａには光軸中心から離れた光が受光される
。一般にディスクで変調を受けた反射光の断面で、低い
周波数成分は反射光の中心部に、徒だ高い周波数成分は
周辺部に多く含まれていることが知られている。従って
光検出器１０ａには高い周波数成分の信号、光検出器１
０ｂには低い周波数成分の信号が得られることとなり両
党検出器の差動をとればディスクの信号トラック、ある
いは記録ピント等より受けだ反射光の変調成分はキャン
セルすることができずフォーカス誤差信号にノイズとし
て表われ、フォーカス誤差信号のＳ／Ｎがそれだけ悪く
なる。フォーカス誤差信号に表われだ前記ノイズは、前
記フォーカス誤差信号により実際に絞りレンズをフォー
カス方向に動かすアクチュエータ（図示せず）に加えら
れアクチュエータの発熱の大きな原因の１つとなる。
発明の目的
本発明は主に上記欠点に鑑みてなされたものであり、光
学部品点数を減らし光学系を小型化すると同時に、温度
変化等により生ずる光学部品の変位、光軸変動に対して
フォーカス位置ズレが生じにくく、かつＳ／Ｈのよいフ
ォーカス誤差信号を得る新規なフォーカス方法を提供す
ることを目的とする。
学部品点数を減らし光学系を小型化すると同時に、温度
変化等により生ずる光学部品の変位、光軸変動に対して
フォーカス位置ズレが生じにくく、かつＳ／Ｈのよいフ
ォーカス誤差信号を得る新規なフォーカス方法を提供す
ることを目的とする。
また本発明の他の目的は前記フォルカス誤差信号を得る
光検出器と、前記トラッキング信号を得る光検出器を兼
ねることにより１ケの光検出器で両制御信号が得られる
ようにし、かつ前記光学部品の変位、光軸変動に対して
も前記トラッキング信号に影響を与えないような新規な
反射信号検出方法を提供することにある。
光検出器と、前記トラッキング信号を得る光検出器を兼
ねることにより１ケの光検出器で両制御信号が得られる
ようにし、かつ前記光学部品の変位、光軸変動に対して
も前記トラッキング信号に影響を与えないような新規な
反射信号検出方法を提供することにある。
発明の構成
上記目的を達成するために本発明は、ディスクよりの反
射光を結像する光路中に、前記反射光の第１の偏光成分
を略５０％反射、透過させる第２の偏光ビ〜ムスプリゾ
タ（以下ＰＢＳと略す）と、前記第２のＰＢＳより結像
位置側にあり、前記第２のＰＢＳを透過する透過光の第
１の偏光成分を略１００％反射する第１のＰＢＳを設け
、前記側ＰＢＳからの反射光を別々に受光する少なくと
も２つ以上に分割された光検出器の差出力よりフォーカ
ス誤差信号を得るように構成したものである。
射光を結像する光路中に、前記反射光の第１の偏光成分
を略５０％反射、透過させる第２の偏光ビ〜ムスプリゾ
タ（以下ＰＢＳと略す）と、前記第２のＰＢＳより結像
位置側にあり、前記第２のＰＢＳを透過する透過光の第
１の偏光成分を略１００％反射する第１のＰＢＳを設け
、前記側ＰＢＳからの反射光を別々に受光する少なくと
も２つ以上に分割された光検出器の差出力よりフォーカ
ス誤差信号を得るように構成したものである。
また本発明は、前記光検出器に照射される両反射光の各
断面を、少なくとも２つ以上に分離すべく受光するよう
にさらに分割した前記光検出器の差出力よりトラッキン
グ誤差信号を得るように構成したものである。
断面を、少なくとも２つ以上に分離すべく受光するよう
にさらに分割した前記光検出器の差出力よりトラッキン
グ誤差信号を得るように構成したものである。
実施例の説明
以下本発明を実施例に基づいて詳しく説明する０第２図
は本発明の一実施例を示した図で、第１図と同一構成要
素については同じ番号を付した。第２図において、半導
体レーザから成る光源１より出た元ビームはガラス硝材
からなるプリズム元学系１２を通り、レンズ１５でディ
スク７上に絞り込まれる。ここでプリズム元学系１２は
、第２の偏光であるＰ偏光は略１００係透過、第１の偏
光であるＳ偏光は略１００％反射する第１のＰＢＳ１３
と、Ｐ偏光は略１００％透過、Ｓ偏向は略５０係ずつ反
射および透過する第２のＰＢＳ１４と、λ／４ｉ、５と
から構成されている。光源１よりの元ビームに対し両Ｐ
ＢＳはＰ偏光で入射する様装置するため前記プリズム元
学系１２を前記元ビームはほぼ１００チ透過する。また
ディスク７よりの反射光は再びレンズ１５を経て、λ／
４板５にてその偏光方向を変えられ両ＰＢＳにはＳ偏光
で入射する。
は本発明の一実施例を示した図で、第１図と同一構成要
素については同じ番号を付した。第２図において、半導
体レーザから成る光源１より出た元ビームはガラス硝材
からなるプリズム元学系１２を通り、レンズ１５でディ
スク７上に絞り込まれる。ここでプリズム元学系１２は
、第２の偏光であるＰ偏光は略１００係透過、第１の偏
光であるＳ偏光は略１００％反射する第１のＰＢＳ１３
と、Ｐ偏光は略１００％透過、Ｓ偏向は略５０係ずつ反
射および透過する第２のＰＢＳ１４と、λ／４ｉ、５と
から構成されている。光源１よりの元ビームに対し両Ｐ
ＢＳはＰ偏光で入射する様装置するため前記プリズム元
学系１２を前記元ビームはほぼ１００チ透過する。また
ディスク７よりの反射光は再びレンズ１５を経て、λ／
４板５にてその偏光方向を変えられ両ＰＢＳにはＳ偏光
で入射する。
従って前記側ＰＢＳの特性より第２のＰＢＳでディスク
よりの反射光の略５０係を反射し第２の反射光がつくら
れ、第１のＰＢＳで残り略５０飴の元と反射し第１の反
射光がつくられ、固成射元の光量はほぼ等しくなる０前
記第１．第２の反射光の結像位置は、前記第１と第２の
ＰＢＳ間の距離の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向にズした位
置となる。
よりの反射光の略５０係を反射し第２の反射光がつくら
れ、第１のＰＢＳで残り略５０飴の元と反射し第１の反
射光がつくられ、固成射元の光量はほぼ等しくなる０前
記第１．第２の反射光の結像位置は、前記第１と第２の
ＰＢＳ間の距離の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向にズした位
置となる。
前記両結像位置Ｐ１とＰ２のＸ方向にみてほぼ中間の位
置に光入射方向から見れば１６ａ〜１６ｆと６分割され
た光検出器が置かれており、分割されだ光検出器１６ｂ
、１６ｅの幅より広く、かつおΔ 互いに略等しい直径を持つ元スポノＭ７，１８が照射さ
れている。
置に光入射方向から見れば１６ａ〜１６ｆと６分割され
た光検出器が置かれており、分割されだ光検出器１６ｂ
、１６ｅの幅より広く、かつおΔ 互いに略等しい直径を持つ元スポノＭ７，１８が照射さ
れている。
第２図１６ａ〜１ｅｆと６分割された各光検出器の出力
電流をＩａ〜Ｉｆとするとフォーカス誤差信号ＦＥは第
１式より ＦＥ ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ） −（Ｉ ａ＋Ｉ
ＣＨＩ ｅ、、）・（１）トラッキング誤差信号ＴＥは
第２式より得られる。
電流をＩａ〜Ｉｆとするとフォーカス誤差信号ＦＥは第
１式より ＦＥ ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ） −（Ｉ ａ＋Ｉ
ＣＨＩ ｅ、、）・（１）トラッキング誤差信号ＴＥは
第２式より得られる。
ＴＥ＝（Ｉａ＋Ｉｆ） −（Ｉｄ＋Ｉｃ） 、、、
−（２１前記両誤差信号が得られる原理について以下に
述べる。
−（２１前記両誤差信号が得られる原理について以下に
述べる。
第３図はフォーカス誤差信号を得る方法に？いてのみ説
明するために第２図でディスクよりの反射光路のみ示し
た図であり、第２図と同様の構成要素については同一の
符号を付した。第３図において、ａはレンズ１５とディ
スク７面が所望の距離より近づきすぎだ場合、ｂは丁度
所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光がフォ
ーカスされた場合以下これをフォーカス位置にあると呼
ぶ、Ｃは前記所望の距離より長くなった場合をそれぞれ
示している。
明するために第２図でディスクよりの反射光路のみ示し
た図であり、第２図と同様の構成要素については同一の
符号を付した。第３図において、ａはレンズ１５とディ
スク７面が所望の距離より近づきすぎだ場合、ｂは丁度
所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光がフォ
ーカスされた場合以下これをフォーカス位置にあると呼
ぶ、Ｃは前記所望の距離より長くなった場合をそれぞれ
示している。
まず、第３図ａに示したように、レンズ１５とディスク
７とが前記所望の距離より近づきすぎると、レンズ１５
により絞られる反射光の結像位置Ｐ１．Ｐ２はレンズ１
５より遠くなる♂従っ−てこの場合、光検出器上の前記
第１の反射光の元スポット１７の直径より前記第２の反
射光の光スポット１８の直径が大きくなり光検出器１６
ａ、１６ｃ。
７とが前記所望の距離より近づきすぎると、レンズ１５
により絞られる反射光の結像位置Ｐ１．Ｐ２はレンズ１
５より遠くなる♂従っ−てこの場合、光検出器上の前記
第１の反射光の元スポット１７の直径より前記第２の反
射光の光スポット１８の直径が大きくなり光検出器１６
ａ、１６ｃ。
１６ｅに受光される光量より光検出器１６ｂ。
１６ｄ、１ｅｆに受光される光量の方が多くなる。
逆に第３図Ｃに示すようにレンズ１５とディスク７とが
前記所望の距離より遠ざかると、前記光スポット１７の
直径より前記光スポット１８の直径の方が小さくなり、
光検出器１６ｂ 、 １６ｄ 。
前記所望の距離より遠ざかると、前記光スポット１７の
直径より前記光スポット１８の直径の方が小さくなり、
光検出器１６ｂ 、 １６ｄ 。
１６ｆに受光される光量より光検出器１６ａ。
１６ｃ、１６ｅに受光される光量の方が多くなる。
また第３図すに示すようにフォーカス位置にある場合、
前記両党スポット１７と１８の径がほぼ等しくなり、光
検出器１６ｂ、１６ｄ、１６ｆに受光される光量と、光
検出器１６ａ、１６ｃ。
前記両党スポット１７と１８の径がほぼ等しくなり、光
検出器１６ｂ、１６ｄ、１６ｆに受光される光量と、光
検出器１６ａ、１６ｃ。
１６ｅに受光される光量とは等しくなる。従って第１式
に示す各光検出器の出力電流の差をとればフォーカス誤
差信号ＦＥが得られ、 Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ＝Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ となるように
サーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
に示す各光検出器の出力電流の差をとればフォーカス誤
差信号ＦＥが得られ、 Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ＝Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ となるように
サーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
第３図の構成において、例えば温度変動、ショック等の
環境条件の変化により、（１）光検出器１６がＹ、Ｚ方
向に変位する、（２）光源１（第２図）がＹ、Ｚ方向に
変位する、等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、
前記両光スポ、）１７゜１８はＹ、Ｚ方向に移動するが
、両党スポット間の距離ρが前記変位より十分大きけれ
ば、第１式％式％） お互いキャンセルされて何等の影響はでない。前記キャ
ンセルの１例を両光スボ、）１７．１８がＺ方向にずれ
だ場合で説明する○例えば両党スポットが＋Ｚ方向にず
れると各光検出器１６ａ。
環境条件の変化により、（１）光検出器１６がＹ、Ｚ方
向に変位する、（２）光源１（第２図）がＹ、Ｚ方向に
変位する、等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、
前記両光スポ、）１７゜１８はＹ、Ｚ方向に移動するが
、両党スポット間の距離ρが前記変位より十分大きけれ
ば、第１式％式％） お互いキャンセルされて何等の影響はでない。前記キャ
ンセルの１例を両光スボ、）１７．１８がＺ方向にずれ
だ場合で説明する○例えば両党スポットが＋Ｚ方向にず
れると各光検出器１６ａ。
１６ｄに受光される光量は増え、１ ｅｂ 、 １６ｅ
および１ｅａ、１ｅｆに受光される光量は減る。
および１ｅａ、１ｅｆに受光される光量は減る。
両党スポットの形状は全く同じなので
ＦＥ−ｉ（Ｉｄ−α）＋（Ｉｄ＋β）＋（ｒｆ−γ））
−ｉ （Ｉｅ −ａ ）＋（Ｉａ＋β）＋（Ｉｃ−７Ｎ
＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉｅ＋Ｉａ＋Ｉｃ）となり
ＦＥ変動（フォーカス位置の変化）は生じない。
−ｉ （Ｉｅ −ａ ）＋（Ｉａ＋β）＋（Ｉｃ−７Ｎ
＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉｅ＋Ｉａ＋Ｉｃ）となり
ＦＥ変動（フォーカス位置の変化）は生じない。
また各光検出器の出力信号Ｉａ〜Ｉｆに含まれるノイズ
信号Ｎ ａ −Ｎ ｆにおいて、元軸中心に近い光を受
は出力するＮｂ、Ｎｅと、元軸中心より離れた元を受は
出力するＮａ、ＮｄおよびＮｃ、Ｎｆとは前述の様に周
波数特性は異なる０しかし両光スポノ）１７．１８は強
度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎａ＝Ｎ
ｄ、Ｎｂ＝Ｎｅ、Ｎｃ＝Ｎｆとなり、フォーカス誤差信
号ＦＥにはノイズがお互すにキャンセルされ表われず前
記ＦＥ倍信号Ｓ／Ｎは非常に良くなる。
信号Ｎ ａ −Ｎ ｆにおいて、元軸中心に近い光を受
は出力するＮｂ、Ｎｅと、元軸中心より離れた元を受は
出力するＮａ、ＮｄおよびＮｃ、Ｎｆとは前述の様に周
波数特性は異なる０しかし両光スポノ）１７．１８は強
度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎａ＝Ｎ
ｄ、Ｎｂ＝Ｎｅ、Ｎｃ＝Ｎｆとなり、フォーカス誤差信
号ＦＥにはノイズがお互すにキャンセルされ表われず前
記ＦＥ倍信号Ｓ／Ｎは非常に良くなる。
つぎにトラッキング誤差信号を得る方法について第４図
を用いて説明する。第４図はディスクの径方向の断面を
示し、ａ〜Ｃはディスク上にあらかじめ設けられている
同上・円あるいはスパイラル状の溝トラツク１９への微
小スポツト光の照射位置に応じて反射光の光強度がどの
様に変化するかを示した図である。第４図に示す様に溝
トラツクの深さがλ／８（λ−レーザ波長）付近にある
と、前記照射位置に応じて反射光の光強度は変化する。
を用いて説明する。第４図はディスクの径方向の断面を
示し、ａ〜Ｃはディスク上にあらかじめ設けられている
同上・円あるいはスパイラル状の溝トラツク１９への微
小スポツト光の照射位置に応じて反射光の光強度がどの
様に変化するかを示した図である。第４図に示す様に溝
トラツクの深さがλ／８（λ−レーザ波長）付近にある
と、前記照射位置に応じて反射光の光強度は変化する。
前記光強度の変化は第４図に示す様に反射光の周辺部の
方が大きいため、第２図に示す光検出器１６ａ、１６ｃ
、１６ｄ、１６ｆの出力電流Ｉａ。
方が大きいため、第２図に示す光検出器１６ａ、１６ｃ
、１６ｄ、１６ｆの出力電流Ｉａ。
Ｉｃ 、 Ｉｄ 、 Ｉ’ｆに対して、ＴＥ ＝（Ｉ
ａ＋ Ｉ ｆ ） −（Ｉｄ＋Ｉｃ ）を出力すれば前
記トラッキング信号ＴＥは得られる。なお（Ｉａ＋Ｉｆ
）あるいは（Ｉｄ＋Ｉｃ）と光検出器上で反転して和を
とるのは、前記第１のＰＢＳ１３より反射する第１の反
射光が結像位置Ｐ１ を経て反転して光検出器１６ａ〜
１６ｃに照射されるためである。このように空間的にク
ロスして前記トラッキング誤差信号を得ているため、光
検出器１６かあるいは両党スボｙト１７，１８′が矢印
Ｚ方向に温度変化、ショック等により変位してもトラッ
キング誤差信号のバランスはくずれず、このように本発
明は光軸変動、光学部品の変動がトラッキング誤差信号
にも何等の影響を与えない特徴を有している。また反射
光の断面で溝トランク横断時の強度変化が大きい周辺部
のみ用いトラッキング誤差信号を得るようにしているた
めトラッキング信号のＳ／Ｎも良くなる。
ａ＋ Ｉ ｆ ） −（Ｉｄ＋Ｉｃ ）を出力すれば前
記トラッキング信号ＴＥは得られる。なお（Ｉａ＋Ｉｆ
）あるいは（Ｉｄ＋Ｉｃ）と光検出器上で反転して和を
とるのは、前記第１のＰＢＳ１３より反射する第１の反
射光が結像位置Ｐ１ を経て反転して光検出器１６ａ〜
１６ｃに照射されるためである。このように空間的にク
ロスして前記トラッキング誤差信号を得ているため、光
検出器１６かあるいは両党スボｙト１７，１８′が矢印
Ｚ方向に温度変化、ショック等により変位してもトラッ
キング誤差信号のバランスはくずれず、このように本発
明は光軸変動、光学部品の変動がトラッキング誤差信号
にも何等の影響を与えない特徴を有している。また反射
光の断面で溝トランク横断時の強度変化が大きい周辺部
のみ用いトラッキング誤差信号を得るようにしているた
めトラッキング信号のＳ／Ｎも良くなる。
なお第２図で第２の反射光の光路中に厚みＸ。
なるガラス硝材を余分に付加したのは、プリズム光学系
１２内のディスクへの入射光路長とディスクからの反射
光路長１，２を略等しくするためである。
１２内のディスクへの入射光路長とディスクからの反射
光路長１，２を略等しくするためである。
第２図に示す光検出器１６は前記溝トラツク１９がＹ方
向と平行に置かれている場合の構成である。
向と平行に置かれている場合の構成である。
それに対して前記溝トラツクがＺ方向と平行に置かれて
いる場合は、第６図２０に示す６分割の光検出器の構成
となる。第５図において分割された２０ｉ、２０ｉ 、
２０ｋ 、 ２０１ 、２０ｍ 、２Ｏｎの各光検出
器の出力電流をＩｉ、Ｉｊ、Ｉｋ、ＩＩ、Ｉｍ。
いる場合は、第６図２０に示す６分割の光検出器の構成
となる。第５図において分割された２０ｉ、２０ｉ 、
２０ｋ 、 ２０１ 、２０ｍ 、２Ｏｎの各光検出
器の出力電流をＩｉ、Ｉｊ、Ｉｋ、ＩＩ、Ｉｍ。
Ｉｎとすると、前記フォーカス誤差信号ＦＥは、ＦＥ＝
（Ｉｊ＋Ｉｌ＋Ｉｎ）−（Ｉｍ＋Ｉｉ＋１１ｃ）、前記
トラッキング信号ＴＥはＴＥ＝（Ｉｉ＋Ｉｎ）−（Ｉｋ
＋Ｉｌ）より得られる。
（Ｉｊ＋Ｉｌ＋Ｉｎ）−（Ｉｍ＋Ｉｉ＋１１ｃ）、前記
トラッキング信号ＴＥはＴＥ＝（Ｉｉ＋Ｉｎ）−（Ｉｋ
＋Ｉｌ）より得られる。
発明の詳細
な説明してきた様に本発明の構成によれば光学部品点数
の少ない小さく軽量な光学ヘッドが実現できると同時に
温度変化、ショック等により生ずる光学部品の変位９元
軸変動に対してフォーカス位置がずれにくく安定した記
録、再生が実現できる。また強度的に２分し形状の等し
い２ケの光スポットからフォーカス誤差信号を得るよう
にしているため、反射光に重畳されるノイズもフォーカ
ス誤差信号上ではキャンセルされＳ／Ｎのよいフォーカ
ス誤差信号が得られる。
の少ない小さく軽量な光学ヘッドが実現できると同時に
温度変化、ショック等により生ずる光学部品の変位９元
軸変動に対してフォーカス位置がずれにくく安定した記
録、再生が実現できる。また強度的に２分し形状の等し
い２ケの光スポットからフォーカス誤差信号を得るよう
にしているため、反射光に重畳されるノイズもフォーカ
ス誤差信号上ではキャンセルされＳ／Ｎのよいフォーカ
ス誤差信号が得られる。
また光検出器上で空間的にクロスするようにしてトラン
キング誤差信号を得るようにしているためフォーカスの
場合と同様光学部品の変位、光軸変動に対してトラッキ
ング誤差信号は何等の影響をうけない。また微小スポッ
ト元か溝トラツクを横断する時に受ける光強度変化が大
きい反射光の周辺部でトラッキング誤差信号を得るよう
にしているためトラッキング誤差信号のＳハもよくなる
等の効果がある。
キング誤差信号を得るようにしているためフォーカスの
場合と同様光学部品の変位、光軸変動に対してトラッキ
ング誤差信号は何等の影響をうけない。また微小スポッ
ト元か溝トラツクを横断する時に受ける光強度変化が大
きい反射光の周辺部でトラッキング誤差信号を得るよう
にしているためトラッキング誤差信号のＳハもよくなる
等の効果がある。
第１図は従来の光学的記録再生装置の構成図、第２図は
本発明の一実施例を示す構成図、第３図は本発明のフォ
ーカス誤差信号の検出方法を説明するだめの図、第４図
はトラッキング誤差信号検出方法を説明するための図、
第５図は本発明に用いる光検出器の他の実施例を示した
図である。 １ ・・光源、７・・・・記録媒体（ディスク）、１３
・・・・・・第１の偏光ビームスプリッタ、１４・・第
２の偏光ビームスプリッタ、１５・・・・レンズ、１６
、２０・ 光検出器、１７．１８ −・受光する元ス
ポット、Ｐ ・・・Ｐ偏光（第２の偏光）、Ｓ・−・Ｓ
偏向（第１の偏向〕。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 ワ ／ｌｃ 第 ９ 図 ２θ 」―
本発明の一実施例を示す構成図、第３図は本発明のフォ
ーカス誤差信号の検出方法を説明するだめの図、第４図
はトラッキング誤差信号検出方法を説明するための図、
第５図は本発明に用いる光検出器の他の実施例を示した
図である。 １ ・・光源、７・・・・記録媒体（ディスク）、１３
・・・・・・第１の偏光ビームスプリッタ、１４・・第
２の偏光ビームスプリッタ、１５・・・・レンズ、１６
、２０・ 光検出器、１７．１８ −・受光する元ス
ポット、Ｐ ・・・Ｐ偏光（第２の偏光）、Ｓ・−・Ｓ
偏向（第１の偏向〕。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２図 ワ ／ｌｃ 第 ９ 図 ２θ 」―
Claims (3)
- （１）光源から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、
記録再生または再生のみする装置であって、前記記録媒
体よりの反射光を結像する少なくとも１つ以上のレンズ
と、前記結像するまでの光路中に置かれた第１の偏光を
もつ前記反射光の光量のうち略半分は反射、残り略半分
は透過させる第２の偏光ビームスプリッタと、前記第２
の偏光ビームスプリッタを透過した前記第１の偏光をも
つ光を略１００％反射する第１の偏光ビームスプリッタ
と、前記両偏光ビームスプリッタよりの反射光の両光路
に沿った両結像位置のほぼ中間に置かれた光検出器とを
備え、前記光検出器が前記両反射光を別々に受光するよ
う少なくとも２つ以上に分割されており、かつ受光した
各反射光の中央部とその両周辺部が受光できる様に各々
がさらに３分割するように構成したことを特徴とする光
学的記録再生ヘッド。 - （２）光源より出た第２の偏光をもつ光が略１００％透
過するように第１、第２の偏光ビームスプリッタを構成
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学
的記録再生ヘッド。 - （３）記録媒体上に微小に絞り込むレンズと記録媒体よ
りの反射光を結像するレンズとを兼ねたことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項または第２項記載の光学的記録
再生ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12299684A JPS613330A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | 光学的記録再生ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12299684A JPS613330A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | 光学的記録再生ヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS613330A true JPS613330A (ja) | 1986-01-09 |
| JPH0534731B2 JPH0534731B2 (ja) | 1993-05-24 |
Family
ID=14849695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12299684A Granted JPS613330A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | 光学的記録再生ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS613330A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264444A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式記録再生装置 |
| JPH01220223A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式情報読み取り装置 |
| US5144606A (en) * | 1990-09-26 | 1992-09-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Focusing-error detecting apparatus with a simple photodetector unit for use in an optical recording/reproducing device |
| US5315574A (en) * | 1988-10-28 | 1994-05-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head with polarized beam hologram |
| JPH06259790A (ja) * | 1993-11-15 | 1994-09-16 | Canon Inc | 光ピックアップ装置 |
| US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
| JP2008020290A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | ビーム径測定装置および焦点調整装置 |
-
1984
- 1984-06-15 JP JP12299684A patent/JPS613330A/ja active Granted
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62264444A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式記録再生装置 |
| JPH0743833B2 (ja) * | 1986-05-12 | 1995-05-15 | 松下電器産業株式会社 | 光学式記録再生装置 |
| JPH01220223A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Olympus Optical Co Ltd | 光学式情報読み取り装置 |
| US5315574A (en) * | 1988-10-28 | 1994-05-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head with polarized beam hologram |
| US5144606A (en) * | 1990-09-26 | 1992-09-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Focusing-error detecting apparatus with a simple photodetector unit for use in an optical recording/reproducing device |
| JPH06259790A (ja) * | 1993-11-15 | 1994-09-16 | Canon Inc | 光ピックアップ装置 |
| US6278681B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-08-21 | Nec Corporation | Optical head, method of fabricating optical head, and apparatus for fabricating optical head |
| JP2008020290A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Fuji Xerox Co Ltd | ビーム径測定装置および焦点調整装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0534731B2 (ja) | 1993-05-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |