JPS6131809B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6131809B2
JPS6131809B2 JP7756181A JP7756181A JPS6131809B2 JP S6131809 B2 JPS6131809 B2 JP S6131809B2 JP 7756181 A JP7756181 A JP 7756181A JP 7756181 A JP7756181 A JP 7756181A JP S6131809 B2 JPS6131809 B2 JP S6131809B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crack
signal
image
schematic
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP7756181A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57192840A (en
Inventor
Mitsuhisa Myazawa
Hideaki Yanai
Seiichiro Satomura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Akashi Seisakusho KK
Original Assignee
Akashi Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Akashi Seisakusho KK filed Critical Akashi Seisakusho KK
Priority to JP7756181A priority Critical patent/JPS57192840A/ja
Publication of JPS57192840A publication Critical patent/JPS57192840A/ja
Publication of JPS6131809B2 publication Critical patent/JPS6131809B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/02Details
    • G01N3/06Special adaptations of indicating or recording means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Indicating Measured Values (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、試験片に生じる亀裂の像を模式像と
して自動的に表示できるようにした方法およびそ
の装置に関する。
一般に、試験片に繰返し荷重を加えることによ
り、試験片に亀裂を生じさせて材料試験を行なう
に際し、亀裂の長さや亀裂の進展速度を知ること
は試験片の材料としての性質を知るうえで重要な
ことである。
ところで、単に亀裂を含む試験片をテレビカメ
ラによつて映像信号に変換し、ブラウン管上に実
際の亀裂の状態をそのまま像(このような像を以
下「原像」という。)として表示する手段では、
亀裂が細いために、亀裂の原像を明確に表示しえ
ないばかりか、画面の位置による明暗レベルの差
異によつて、亀裂の原像が見づらいという問題点
がある。
本発明は、このような問題点を解決しようとす
るもので、連続して自動的にしかも高い信頼性を
維持しながら亀裂模式像を正確に表示できるよう
にした亀裂模式像表示方法およびその装置を提供
することを目的とする。
このため、本発明の亀裂模式像表示方法は、試
験片に生じる亀裂の模式像を自動的に表示装置上
に表示するに際し、上記亀裂の情報を含む映像信
号に亀裂模式像信号を重畳させることによつて、
上記表示装置上で上記亀裂の原像に上記亀裂模式
像を重畳させて表示し、且つ、亀裂先端探知を自
動的に行なうことによつて、上記亀裂の伸展に追
従して、上記亀裂の原像に対応する上記亀裂の模
式像が伸展するように表示することを特徴として
いる。
また、本発明の亀裂模式像表示装置は、試験片
に生じる亀裂の模式像を自動的に表示すべく、上
記亀裂の情報を含む映像信号を2値化する2値化
回路と、同2値化回路により2値化された上記映
像信号から亀裂信号を検出すべく、水平走査方向
に設定されたウインドウ内で上記2値化映像信号
のうち黒レベル信号の有無を各水平走査毎に検出
する亀裂信号検出器と、同亀裂信号検出器からの
信号に基づき、垂直走査方向へ延びる計測許容帯
域の先端の前後から数本分における走査線につい
て、上記亀裂信号があらかじめ与えられた数値以
上検出された場合、上記計測許容帯域を伸長さ
せ、該数値未満の場合、同計測許容帯域を収縮さ
せることによつて亀裂先端部を探知し、該計測許
容帯域を記憶する追従比較型亀裂先端探知器と、
上記記憶値に基づいて亀裂模式像信号を出力する
亀裂模式像発生器とが設けられるとともに、同亀
裂模式像発生器からの信号を受けて、上記映像信
号または上記2値化映像信号の一方に加算する加
算回路が設けられ、同加算回路からの信号を受け
て上記亀裂の原像に上記亀裂の模式像を重畳して
表示する表示装置が設けられたことを特徴として
いる。
以下、図面により本発明の一実施例としての亀
裂模式像表示装置について説明すると、第1図は
その基本構成を示す全体構成図、第2図はその試
験片を示す模式図、第3図a,bおよび第4図は
いずれもその画面の状態を説明するための模式
図、第5図はそのブロツク図、第6〜11図はそ
の各部の波形図、第12図はそのマーカーを示す
模式図である。
第1,2図に示すごとく、テレビカメラ1
(ITV)から亀裂3の情報を含む原映像信号とし
て、予じめ形成されたノツチ2から延びてゆく亀
裂3を含んでいる試験片4の映像信号が画面5の
範囲で入力され、2値化回路Aに供給されるとと
もに、スイツチS1を介して、加算回路Rの一入
力端に供給されている。
この2値化回路Aは、前述の原映像信号を増幅
して出力するとともに、この増幅された映像信号
を画面5の位置による明暗レベルの差異を補正す
るフイルタ8で補正し、2値化映像信号として出
力する回路である。
すなわち、この2値化回路Aでは、第5図に示
すごとく、原映像信号をバツフア6で増幅して出
力し、バツフア6で増幅された映像信号aA〔第
6図b参照〕をスイツチS1、コンパレータ7の
プラス入力端、フイルタ8の入力端にそれぞれ供
給するようになつている。
また、フイルタ8で補正された信号は、亀裂部
分以外の各点で、雑音成分の重畳された映像信号
レベルより小さくなるように、アツテネータ9で
減衰調節され、このアツテネータ9で調節された
信号aB〔第6図c参照〕はコンパレータ7のマ
イナス入力端に供給されるようになつている。
さらに、コンパレータ7は、バツフア6で増幅
された出力信号aAと、アツテネータ9で減衰調
節された信号とを比較して2値化して、2値化回
路Aの2値化信号a〔第6図d参照〕として、亀
裂信号検出器B〔第1図参照〕の入力端およびス
イツチS1を介して、加算回路Rの一入力端に供
給されるようになつている。
第1図に示すごとく、亀裂信号検出器Bは、2
値化回路Aで2値化された2値化信号aCを入力
し、亀裂がほぼ直線的に延びることを利用して亀
裂信号を検出すべく、水平走査方向に設定された
ウインドウ内でこの2値化信号aCのうち黒レベ
ル信号の有無を各水平走査毎に検出する回路であ
る。
第5図に示すごとく、この亀裂信号検出器B
は、水平ブランキング信号BH〔第6図a参照〕
を基に、ウインドウパルスbA〔第6図e参照〕
を生成するとともに、このウインドウパルスbA
を用い、2値化信号aCから亀裂信号bB〔第6図
f参照〕を取り出し、亀裂信号の検出を行なうよ
うになつている。
この水平ブランキング信号BHが、遅延回路1
0に入力され、ウインドウパルスbAの立ち上が
りを形成すべく、調節され、この遅延回路10の
信号として、出力されるようになつており、単安
定マルチバイブレータ11に入力される。
さらに、この単安定マルチバイブレータ11
は、遅延回路10からの出力信号を基に、ウイン
ドウパルスbA形成すべく、ウインドウパルス幅
を調節され、出力されるようになつており、この
単安定マルチバイブレータ11の出力信号は、2
値化回路Aの出力信号である2値化信号aCとと
もに、アンド回路(AND回路)12へ供給され
るようになつており、さらに亀裂長計測器Dを構
成するアンド回路23へ供給されるようになつて
いる。
このアンド回路12において、2値化信号aC
とウインドウパルスbAとのアンドがとられ、亀
裂信号bB〔第7図c参照〕のみが取り出される
ようになつており、この亀裂信号は亀裂信号検出
器Bの出力として、追従比較型亀裂先端探知器C
に入力されるようになつている。
なお、このアンド回路12では1本の走査線の
ウインドウ内に、2値化信号aCのパルスが2個
以上あつたときでも、単安定マルチバイブレータ
13によつて、アンド回路12の出力bBのパル
スは1個のみとなるようになつている。
第1図に示すごとく、追従比較型亀裂先端探知
器Cは、亀裂信号検出器Bで検出された亀裂信号
Bを入力し、亀裂の先端を検出すべく、垂直走
査方向へ延びる計測許容帯域の先端の前後から数
本分における走査線について、この亀裂信号bB
があらかじめ与えられた数値以上検出された場
合、この計測許容帯域を伸長させ、該数値未満の
場合、この計測許容帯域を収縮させる回路であ
り、さらに、この伸長ないし収縮させた計測許容
帯域を記憶しておく回路である。
第5図に示すごとく、追従比較型亀裂先端探知
器Cは、亀裂信号bBを入力し、前フレームの亀
裂先端を仮に示す亀裂先端中間記憶値に基づい
て、1フレーム毎に亀裂先端を探知し、出力する
ようになつている。
このカウンタ14は、1フレーム内での亀裂先
端の探知の有無によつて、その値を増減するよう
になつている。
このカウンタ15は、フレームの開始時に、そ
のロード端子(LOAD)に入力された垂直ブラン
キング信号BVをロード信号として、カウンタ1
4の記憶値をロードするもので、そのクロツク端
子(CLOCK)に入力された水平ブランキング信
号BHをクロツク信号とし、カウンタ14の記憶
値を初期値としてタイマーとして動作するように
なつており、タイマー終了信号として、亀裂先端
探知開始信号cA〔第8図b参照〕を出力するよ
うになつており、この信号cAは単安定マルチバ
イブレータ16に供給されるとともに、追従比較
型亀裂先端探知器Cの出力として、スイツチS2
を介して、亀裂長計測器Dに供給されるようにな
つている。
この単安定マルチバイブレータ16は、亀裂先
端探知の許容帯域を定めるもので、ここでは走査
線の本数がN(整数)本分の間だけ亀裂先端探知
許容帯域パルスcB〔第8図c参照〕が出力され
るようになつており、このパルスcBはアンド回
路17の一入力端に供給されるとともに、カウン
タ18のロード端子にこのパルスcBの立ち上が
りがロード信号として供給されるようになつてい
る。
このアンド回路17は、亀裂信号検出器Bから
の出力である亀裂信号bBおよび単安定マルチバ
イブレータ16からのパルスcBを入力し、この
亀裂信号bBとこのパルスcBとのアンドをとり、
そのアンドをとつた信号cC〔第8図d参照〕を
先端部亀裂信号cCとして出力するようになつて
おり、この信号cCをカウンタ18のクロツク端
子にクロツク信号として供給するようになつてい
る。
このカウンタ18は、初期値設定器19からの
初期値〔ここではM(Nより小さい整数)〕を、
単安定マルチバイブレータ16からのパルスcB
の立ち上がり時にロードするとともに、アンド回
路17からの先端部亀裂信号cCをロツク信号と
して入力するようになつており、その初期値と先
端部亀裂信号cCのパルスの数をパルスcBで定め
られた亀裂先端探知の許容時間内で比較し、先端
部亀裂信号cCのパルス数があらかじめ与えられ
た数値である初期値以上検出された場合、その計
測許容帯域を伸長させるべく、カウンタ14の端
子(UP)へカウントの増加信号cD〔第8図e参
照〕を出力し、同じく減少信号cE〔第8図f参
照〕は出力せずにおく、先端部亀裂信号cC〔第
8図g参照〕のパルス数が初期値未満の場合、そ
の計測許容帯域を収縮させるべく、カウンタ14
の端子(DOWN)へカウントの減少信号cE
〔第8図j参照〕を出力し、同じく増加信号cD
〔第8図h参照〕は出力しないようになつてい
る。
また、このカウンタ18から、先端亀裂信号c
Cのパルス数とその初期値とを比較し増加信号を
出す場合を、そのパルス数があらかじめ与えられ
た数値である初期値を超えた場合のみにしてもよ
い。
この追従比較型亀裂先端探知器Cの作用を図面
上で説明すると、第4図に示すごとく、亀裂の先
端部分Pをその計測帯域として、この部分Pに黒
レベルの2値化信号がM本以上あれば、この部分
Pを下方に1つ移動させ、同様の計測を繰り返す
ものであり、その2値化信号がM本未満のとき、
この部分Pを上方に1つ移動させ、同様の計測を
繰り返すものである。
第1図に示すごとく、亀裂模式像発生器Dが設
けられており、スイツチS2を介して、追従比較
型亀裂先端探知器Cからの亀裂先端探知開始信号
Aを入力し、この信号cAを記憶値として用い
て、亀裂模式像発生信号dCを出力できるように
なつている。
第5図に示すごとく、亀裂模式像発生器Dは、
追従比較型亀裂先端探知器Cから亀裂先端探知開
始信号cAを入力し、遅延回路20によつて、こ
の信号cAを亀裂先端信号dB〔第9図c参照〕と
して出力するようになつている。
この遅延回路20は、追従比較型亀裂先端探知
器Cにおいて、先端探知開始点と先端との間のず
れを補正するために、適切な値に定められてお
り、この亀裂先端信号dBは、フリツプフロツプ
21のリセツト端子(RESET)に供給されるよ
うになつている。
また、垂直ブランキング信号BVは、亀裂の開
始点をノツチ2の端点に補正すべく、遅延回路2
2を用いて調節され、亀裂基端信号dA〔第9図
b参照〕として、フリツプフロツプ21のセツト
端子(SET)に供給されるようになつている。
このフリツプフロツプ21は、亀裂基端信号d
Aを負論理のセツト信号とし、亀裂先端信号dB
負論理のリセツト信号としており、このフリツプ
フロツプ21の出力は亀裂模式像発生信号dC
〔第9図d参照〕としてスイツチS2を介しアン
ド回路23の一入力端に供給されるとともに、ア
ンド回路34の一入力端に亀裂模式像発生器Dと
しての出力として供給されるようになつている。
さらに、アンド回路34には、亀裂信号検出器
BからのウインドウパルスbAが他入力端に供給
されるようになつており、このパルスbAと亀裂
模式像発生信号dCとのアンドをとつた信号は、
亀裂模式像信号としてのマーカーパルスr1〔第
11図c参照〕となつて加算回路Rに供給される
ようになつており、スイツチS1で選択された映
像信号aA〔第11図d参照〕ないし2値化像aC
とこのマーカーパルスr1とを加算することによ
つて出力映像信号r2〔第11図e参照〕が作ら
れ、表示装置としてのCRT37(ブラウン管)
へ供給されるようになつている。
このようにしてCRT37上で亀裂の原像に亀
裂長の計測許容帯域を示す亀裂の模式像としての
マーカー35〔第4図参照〕を重畳させて表示す
ることができるのである。
この亀裂の模式像としてのマーカー35によつ
て、亀裂の伸展に追従して、亀裂の原像に対応す
る亀裂の模式像が伸展するよう表示できるのであ
る。
また、計測許容帯域の延長上に設けられる一定
長のキヤリブレートマーカー36〔第12図参
照〕をスイツチS2を選択することによつて、映
像信号aAあるいは2値化像aCに重ねて表示する
ことができるようになつている。
第1図に示されるように、キヤリブレート回路
Gが設けられており、第5図に示されるように、
亀裂基端信号dAを基に、一定長を示すキヤリブ
レートマーカー信号dC′が作られる。
この信号dC′は、可変にそのパルス長が調節さ
れ、亀裂模式像発生信号dCと同一のパルスにも
調節しうるパルス信号となつて、スイツチS2を
介して、アンド回路23およびアンド回路34に
供給されるようになつている。
このアンド回路34に供給されたキヤリブレー
トマーカー信号dC′〔第11図b参照〕は、ウイ
ンドウパルスbAとのアンドをとられ、加算回路
Rで映像信号aAないし2値化像aCとこのマーカ
ーパルスr1とが加算され、この加算された信号
r2はCRT37へ供給される。
この信号r2は、各可変部を基準値に調節設定
するためのもので、あらかじめCRT37上に映
された試験片のある部分の長さを他の手段で測つ
ておいて、キヤリブレートマーカー信号dC′をそ
のCRT37上でその位置に設定して、後述のご
とく換算および変換し、出力した亀裂長と他の手
段での長さとを比較し、クロツクの調節等を行な
うものに用いられる。
この結果、亀裂長を計測する上での誤りが少な
くなるという利点を生じる。
さらに、後述するCRT画面上のマーカーと映
像とを比較することが行なわれ、亀裂長基端部の
調節も行なわれる。
そのように調節されたマーカーは、CRT37
の画面上の縦方向の任意の長さを測定する手段と
して用いることもでき、例えば、キヤリブレート
マーカーGの可変部および亀裂模式像発生器Dの
亀裂長基端部の可変部を、CRT37画面上を目
視しながら手動で調節することによつて、画面上
の縦方向の長さを測定することもできるという利
点を有す。
ところで、本実施例の装置には、上述の機能の
他に、亀裂長換算器Eからの換算された亀裂長を
デジタル表示装置とプリンターに入力し、亀裂長
を表示、記録し出力することができるようになつ
ており、これらについて以下に説明する。
まず、アンド回路23で、フリツプフロツプ2
1の出力である亀裂模式像発生信号dCと、亀裂
信号検出器BからのウインドウパルスbAとのア
ンドを行なつた亀裂長パルスdD〔第9図e参
照〕が亀裂長換算器Eに入力されるようになつて
いる。
第1図に示すごとく、亀裂長換算器Eは、アン
ド回路23からの亀裂長パルスdDを基に、亀裂
長の換算を行なうべく、レンジの切換、平均化、
サンプリング化および単位換算を行なうようにな
つており、この換算された亀裂長はデイジタル表
示装置およびプリンタFに供給されるようになつ
ている。
第5図に示すごとく、亀裂長換算器Eは、垂直
ブランキング信号BV〔第10図a参照〕を分周
回路24に入力することによつて、カウンタ25
のクリア端子(CLEAR)にクリア信号eA〔第
10図b参照〕および時間換算器26の予ロード
端子にロード信号eB〔第10図c参照〕を出力
するようになつている。
このカウンタ25は、分周回路24からのクリ
ア信号eAをプリセツト信号として、アンド回路
23からの亀裂長パルスdD〔第10図d参照〕
をカウントして出力する回路であり、亀裂長の平
均化を行なうために、ここでは数100フレーム分
の亀裂長を積算するようにしてあり、この積算さ
れたカウント数は時間換算器26へ出力されるよ
うになつている。
この時間換算器26は、カウンタ25で積算さ
れたカウント数を、分周回路24からのロード信
号eBの入力時に、ロードするようになつてお
り、さらに、入力されたカウント数を対応する時
間に換算すべく、このカウント数をクロツク発生
器27からの一定クロツクパルスを基に変換する
ように構成されており、この変換されたパルス幅
C〔第10図e参照〕は、亀裂長換算器28へ
供給するようになつている。
この亀裂長換算器28は、時間換算器26で変
換されたパルスを入力して、その幅eCをクロツ
ク発生器29からの可変クロツクでカウントする
ことによつて、亀裂長の平均化、サンプリング
化、単位換算ならびにレンジの切換を行なうもの
で、まず、プリセツトを初期値設定器30からの
入力で行ない、このプリセツトの後に時間換算器
26からのパルス幅eCを対応する亀裂長の平均
値もしくはサンプリング値に、単位換算を考慮し
て変換し、この変換された亀裂長をデイジタル表
示装置およびプリンタFに供給するようになつて
いる。もちろん、単位はμm、mm、cm等でもよ
く、レンジも自動的に切換えるようにできる。
これらの結果、プリセツトを第2図に示すごと
く、長さL1に設定することによつて、亀裂長L
を出力亀裂長L2に変換することも容易に行なう
ことができる。
第1図に示されるように、デジタル表示装置お
よびプリンターFは、亀裂長換算器Eからの換算
された亀裂長をデジタル表示装置とプリンターに
入力し、亀裂長を表示、記録し出力する回路であ
る。
第5図に示されるように、本実施例ではデジタ
ル表示装置とプリンタに共通な表示変換器31を
設けて、構成上簡便にしてある。
この表示変換器31は、亀裂長換算器Eからの
換算された亀裂長を入力して、各表示装置の入出
力の規格に合致した入出力形式に亀裂長を変換す
るもので、LED(発光ダイオード)で表示する
デジタル表示器32と、記録用紙にプリント出力
するプリンタ33とに、各入出力形式に合致した
形式で亀裂長を出力するようになつている。
なお、表示装置として液晶式表示装置を用いる
こともできる。
以上詳述したように、本発明の亀裂模式像表示
方法およびその装置によれば、亀裂を含んだ映像
信号を入力し、この映像信号に含まれる雑音に対
して有効である雑音除去のための計測許容帯域を
設けて、その帯域内の亀裂長を計測し、その際、
亀裂先端部を追従比較し検知することによつて、
亀裂を自動的に模式化して、見やすく表示し、且
つ、計測中の亀裂像の状態を原像とともにこれに
重畳した模式像によつても同時に表示できるの
で、正確な測定を連続的に行なえる利点がある。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例としての亀裂模式像表示
装置を示すもので、第1図はその基本構成を示す
全体構成図、第2図はその試験片を示す模式図、
第3図a,bおよび第4図はいずれもその画面の
状態を説明するための模式図、第5図はそのブロ
ツク図、第6〜11図はその各部の波形図、第1
2図はそのマーカーを示す模式図である。 1……テレビカメラ、2……ノツチ、3……亀
裂、4……試験片、5……画面、6……バツフ
ア、7……コンパレータ、8……フイルタ、9…
…アツテネータ、10……遅延回路、11……単
安定マルチバイブレータ、12……アンド回路、
13……単安定マルチバイブレータ、14,15
……カウンタ、16……単安定マルチバイブレー
タ、17……アンド回路、18……カウンタ、1
9……初期値設定器、20……遅延回路、21…
…フリツプフロツプ、22……遅延回路、23…
…アンド回路、24……分周回路、25……カウ
ンタ、26……時間換算器、27……クロツク発
生器、28……亀裂長換算器、29……クロツク
発生器、30……初期値設定器、31……表示変
換器、32……デジタル表示器、33……プリン
タ、34……アンド回路、35……亀裂の模式像
としてのマーカ、36……キヤリブレート回路、
37……表示装置としてのCRT、A……2値化
回路、B……亀裂信号検出器、C……追従比較型
亀裂先端探知器、D……亀裂模式像発生器、E…
…亀裂長換算器、F……デジタル表示装置および
プリンタ、G……キヤリブレートマーカー、L…
…亀裂長、L1……長さ、L2……出力亀裂長、P
……亀裂の先端部分、R……加算回路、S1,S
2……スイツチ、BH……水平ブランキング信
号、BV……垂直ブランキング信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試験片に生じる亀裂の模式像を自動的に表示
    装置上に表示するに際し、上記亀裂の情報を含む
    映像信号に亀裂模式像信号を重畳させることによ
    つて、上記表示装置上で上記亀裂の原像に上記亀
    裂模式像を重畳させて表示し、且つ、亀裂先端探
    知を自動的に行なうことによつて、上記亀裂の伸
    展に追従して、上記亀裂の原像に対応する上記亀
    裂の模式像が伸展するように表示することを特徴
    とする、亀裂模式像表示方法。 2 試験片に生じる亀裂の模式像を自動的に表示
    すべく、上記亀裂の情報を含む映像信号を2値化
    する2値化回路と、同2値化回路により2値化さ
    れた上記映像信号から亀裂信号を検出すべく、水
    平走査方向に設定されたウインドウ内で上記2値
    化映像信号のうち黒レベル信号の有無を各水平走
    査毎に検出する亀裂信号検出器と、同亀裂信号検
    出器からの信号に基づき、垂直走査方向へ延びる
    計測許容帯域の先端の前後から数本分における走
    査線について、上記亀裂信号があらかじめ与えら
    れた数値以上検出された場合、上記計測許容帯域
    を伸長させ、該数値未満の場合、同計測許容帯域
    を収縮させることによつて亀裂先端部を探知し、
    該計測許容帯域を記憶する追従比較型亀裂先端探
    知器と、上記記憶値に基づいて亀裂模式像信号を
    出力する亀裂模式像発生器とが設けられるととも
    に、同亀裂模式像発生器からの信号を受けて、上
    記映像信号または上記2値化映像信号の一方に加
    算する加算回路が設けられ、同加算回路からの信
    号を受けて上記亀裂の原像に上記亀裂の模式像を
    重畳して表示する表示装置が設けられたことを特
    徴とする、亀裂模式像表示装置。
JP7756181A 1981-05-22 1981-05-22 Display method for crack type image Granted JPS57192840A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7756181A JPS57192840A (en) 1981-05-22 1981-05-22 Display method for crack type image

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7756181A JPS57192840A (en) 1981-05-22 1981-05-22 Display method for crack type image

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57192840A JPS57192840A (en) 1982-11-27
JPS6131809B2 true JPS6131809B2 (ja) 1986-07-23

Family

ID=13637421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7756181A Granted JPS57192840A (en) 1981-05-22 1981-05-22 Display method for crack type image

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS57192840A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4716459A (en) * 1985-01-25 1987-12-29 Nippon Kokan Kabushiki Kaisha Fatigue crack position detection apparatus
JPH0695065B2 (ja) * 1987-03-02 1994-11-24 志朗 萩下 亀裂試験装置の亀裂進展追跡装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57192840A (en) 1982-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3220023B2 (ja) 液晶表示装置
US3814845A (en) Object positioning
EP0352958A2 (en) Article inspection system
US3792195A (en) Signal monitor for recurrent electrical signals
JPS6131809B2 (ja)
JPS63244273A (ja) 映像信号処理装置における補償装置及び方法
EP0250682A2 (en) Pulse measurement circuit
US5166779A (en) Subcarrier to horizontal phase measurement and display for multiple video signals
JPH0224321B2 (ja)
US4518991A (en) Apparatus for storing and processing analogue signals to be displayed as an oscilloscopic image and oscilloscope comprising such apparatus
US3967054A (en) Television measuring system and method
US7139669B2 (en) Software clamping of video signals
JPS6255864B2 (ja)
US4571617A (en) Apparatus and method for measuring and displaying the pulse width of a video signal
JPH0626947A (ja) 応力画像システム
JP3083010B2 (ja) 画像による寸法測定方法及び装置
EP0660585B1 (en) Adaptive method for high speed detection of position and intensity
US4820960A (en) Fast retrace circuit for a deflection amplifier in a cathode ray tube
KR970008101B1 (ko) 텔레비젼 수상기의 중간주파수 이득레벨 설정회로
JPS6124644B2 (ja)
JPH08304465A (ja) 時間軸トリガ付きオシロスコープ
JPH0552647A (ja) 赤外線撮像装置の試験装置
JPH07107540B2 (ja) 高精度オシロスコ−プ
JPH0350217B2 (ja)
JPH06265412A (ja) 赤外線温度計測装置