JPS61295560A - Photoconductive member - Google Patents

Photoconductive member

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JPS61295560A
JPS61295560A JP13820785A JP13820785A JPS61295560A JP S61295560 A JPS61295560 A JP S61295560A JP 13820785 A JP13820785 A JP 13820785A JP 13820785 A JP13820785 A JP 13820785A JP S61295560 A JPS61295560 A JP S61295560A
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JP
Japan
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layer
photoconductive
barrier layer
photoconductive member
gas
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Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Akira Miki
明 三城
Wataru Mitani
渉 三谷
Mariko Yamamoto
山本 万里子
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based

Abstract

PURPOSE:To obtain a photoconductive member having excellent electrostatic chargeability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength region, good adhesiveness to a substrate and excellent environment resistance by using microcrystalline silicon in at least part of the photoconductive member. CONSTITUTION:This photoconductive member has a conductive base 21, a barrier layer 22 formed on the base 21 and a photoconductive layer 23 formed on the barrier layer 22. At least parts of the barrier layer 22 and the photoconductive layer 23 are formed of the microcrystalline silicon contg. the element belonging to the group III or V of the periodic table. The photoconductive member which has high resistance and excellent electrostatic charge characteristic, has the high photosensitive characteristic in visible light and near IR region, permits easy production and has high practicability is thus obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、電子写真感光体等に使用され、帯電特性、
光感度特性及び耐環境性等が優れた光導電性部+4.に
関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention is used for electrophotographic photoreceptors, etc., and has charging characteristics,
Photoconductive part with excellent photosensitivity and environmental resistance, etc. +4. Regarding.

[発明の技術的背景とその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、Cd55 Zn0SSe、5e−Te若しくはアモル
ファスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカル
バゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(
TNF)等の有機材料が使用されている。しかしながら
、これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性
上、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システム
の特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの
材料を使い分けている。
[Technical background of the invention and its problems] Conventionally, as materials for forming the photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor, inorganic materials such as Cd55Zn0SSe, 5e-Te, or amorphous silicon, or poly-N-vinylcarbazole (PVCz) have been used. Or trinitrofluorene (
Organic materials such as TNF) are used. However, these conventional photoconductive materials have various problems in terms of photoconductive properties and manufacturing, and it is necessary to use these materials depending on the purpose of use, sacrificing some of the characteristics of the photoreceptor system. There is.

例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残電等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
For example, Se and CdS are materials that are harmful to the human body, and special consideration must be given to safety measures when manufacturing them. Therefore, there are problems in that the manufacturing equipment becomes complicated and the manufacturing cost is high, and in particular, Se needs to be recovered, which adds to the recovery cost. Also,
In the Se or 5e-Te system, the crystallization temperature is 65°C
Since the photoconductivity is low, problems with photoconductive properties arise due to residual electricity during repeated copying, resulting in a short lifespan and low practicality.

更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
Furthermore, ZnO is susceptible to oxidation-reduction and is significantly affected by the environmental atmosphere, resulting in a problem of low reliability in use.

更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
Furthermore, organic photoconductive materials such as PVCz and TNF are suspected to be carcinogens and present human health concerns, and organic materials have low thermal stability and abrasion resistance. , has the disadvantage of short lifespan.

一方、アモルファスシリコン(以下、a−Siと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応用が
活発になされている。このa−3iの応用の一環として
、a−8Lを電子写真感光体の光導電性材料として使用
する試みがなされており、a−Stを使用した感光体は
、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこと、
他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を有するこ
と、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れている
こと等の利点を有する。
On the other hand, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-Si)
has recently attracted attention as a photoconductive conversion material, and is being actively applied to solar cells, thin film transistors, and image sensors. As part of the application of a-3i, attempts have been made to use a-8L as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors, and photoreceptors using a-St are recycled because they are non-polluting materials. No processing required;
Compared to other materials, it has advantages such as high spectral sensitivity in the visible light region, high surface hardness, and excellent wear resistance and impact resistance.

このa−Siは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかじなが
°ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが
困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁
層を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層型
の構造にすることにより、このような要求を満足させて
いる。
This a-Si is being studied as a photoreceptor based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor characteristics require high resistance and high photosensitivity. Since it is difficult to satisfy the characteristics with a single-layer photoreceptor, a multilayer structure is used in which a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. These requirements are met by doing so.

ところで、a−3tは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
3i膜中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気的
及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−8ill
*に侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャ
ップが大きくなり、a−3tの抵抗が高くなるが、それ
にともない、長波長光に対する光感度が低下してしまう
ので、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプ
リンタに使用することが困難である。また、a −Sf
模膜中水素の含有量が多い場合は、成膜条件によフて、
(S iH2)。及びS t H2等の結合構造を有す
るものが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そう
すると、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンド
が増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体
として使用不能になる。逆に、a−Si中に侵入する水
素の量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくな
り、その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度
が増加する。しかし、水素含有量が少ないと、シリコン
ダングリングボンドと結合してこれを減少させるべき水
素が少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度
が低下し、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化し
てしまい、電子写真感光体として使用し難いものとなる
By the way, a-3t is usually formed by a glow discharge decomposition method using silane gas, but at this time, a-3t is
Hydrogen is incorporated into the 3i film, and the electrical and optical characteristics vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, a-8ill
*If the amount of hydrogen that enters increases, the optical bandgap will increase and the resistance of a-3t will increase, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light will decrease. Difficult to use with mounted laser beam printer. Also, a −Sf
If the hydrogen content in the simulated film is high, depending on the film forming conditions,
(S iH2). and S t H2, etc., may occupy most of the area in the film. In this case, voids increase and silicon dangling bonds increase, resulting in deterioration of photoconductive properties and rendering the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, when the amount of hydrogen penetrating into a-Si is reduced, the optical bandgap becomes smaller and its resistance decreases, but the photosensitivity to long wavelength light increases. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce silicon dangling bonds. For this reason, the mobility of the generated carriers is reduced, the life span is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとG e 
H4とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は
構造欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができな
い。また、G e H4の廃ガスは酸化されると有毒ガ
スとなるので、廃ガス処理も複雑である。従って、この
ような技術は実用性がない。
As a technique to increase the sensitivity to long wavelength light, there is a method of mixing silane-based gas and germane GeH4 and performing glow discharge decomposition to produce a film with a narrow optical bandgap. and G e
Since the optimum substrate temperature is different from H4, the produced film has many structural defects and cannot obtain good photoconductive properties. Moreover, since the waste gas of G e H4 becomes toxic gas when oxidized, the waste gas treatment is also complicated. Therefore, such technology is not practical.

[発明の目的] この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、広い波長領域
に亘って感度が高く、基板との密着性が良く、耐環境性
が優れた光導電性部材を提供することを目的とする。
[Objective of the Invention] The present invention has been made in view of the above circumstances, and has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range, and good adhesion to a substrate. An object of the present invention is to provide a photoconductive member with excellent environmental resistance.

[発明の概要] この発明に係る光導電性部材は、導電性支持体と、この
導電性支持体の上に形成された障壁層と、この障壁層の
上に形成された光導電層と、を有する光導電性部材にお
いて、前記障壁層及び光導電層はその少なくとも一部が
周期律表の第■族又は第V族に属する元素を含有するマ
イクロクリスタリンシリコンで形成されていることを特
徴とする。
[Summary of the Invention] A photoconductive member according to the present invention includes an electrically conductive support, a barrier layer formed on the electrically conductive support, a photoconductive layer formed on the barrier layer, In the photoconductive member, at least a portion of the barrier layer and the photoconductive layer are formed of microcrystalline silicon containing an element belonging to Group I or V of the Periodic Table. do.

この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した光導
電性部材を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を重
ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μC
−8iと略す)を光導電性部材の少なくとも一部に使用
することにより、この1」的を達成することができるこ
とに想到して、この発明を完成させたものである。
This invention was achieved through various experimental studies by the inventors of the present invention in order to overcome the drawbacks of the prior art described above and to develop a photoconductive member that has both excellent photoconductive properties (electrophotographic properties) and environmental resistance. As a result, microcrystalline silicon (hereinafter referred to as μC)
The present invention was completed based on the idea that objective 1 can be achieved by using a photoconductive material (abbreviated as -8i) for at least a portion of the photoconductive member.

[発明の実施例] 以下、この発明について具体的に説明する。この発明あ
特徴は、従来のa−3tの替りにμC−3tを使用した
ことにある。つまり、光導電層の全ての領域又は一部の
領域がマイクロクリスタリンシリコン(μC−8t)で
形成されているか、マイクロクリスタリンシリコンとア
モルファスシリコン(a−8t)との混合体で形成され
ているか、又はマイクロクリスタリンシリコンとアモル
ファスシリコンとの積層体で形成されている。また、機
能分離型の先導電性部材においては、電荷発生層にμC
−3iを使用している。
[Embodiments of the Invention] The present invention will be specifically described below. A feature of this invention is that μC-3t is used instead of the conventional a-3t. That is, whether all or some regions of the photoconductive layer are formed of microcrystalline silicon (μC-8T) or a mixture of microcrystalline silicon and amorphous silicon (A-8T); Alternatively, it is formed of a laminate of microcrystalline silicon and amorphous silicon. In addition, in a function-separated type leading conductive member, μC is added to the charge generation layer.
-3i is used.

μC−5iは、以下のような物性上の特徴により、a−
3t及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−3tは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μC−5tは
、2θが27乃至28,5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
108Ω・印であるのに対し、μC−8Lは1ollΩ
・cm以」二の暗抵抗を有する。このμC−5iは粒径
が約数十オングストローム以上である微結晶が集合して
形成されている。
μC-5i is a-
3t and polycrystalline silicon (polycrystalline silicon)
clearly distinguished from That is, in X-ray diffraction measurement, a-3t is amorphous, so only a halo appears,
Although no diffraction pattern can be observed, μC-5t shows a crystal diffraction pattern in which the 2θ is around 27 to 28.5°. In addition, while polycrystalline silicon has a dark resistance of 108Ω, μC-8L has a dark resistance of 1ollΩ.
- Has a dark resistance of less than 2 cm. This μC-5i is formed by an aggregation of microcrystals having a grain size of approximately several tens of angstroms or more.

μC−3tとa−3iとの混合体とは、μC−3iの結
晶領域がa−8i中に混在していて、μC−5i及びa
−3tが同程度の体積比で存在するものをいう。また、
μC−5tとa−3tとの積層体とは、大部分がa−3
iからなる層と、μC−3iが充填された層とが積層さ
れているものをいう。
A mixture of μC-3t and a-3i is a mixture in which the crystalline region of μC-3i is mixed in a-8i, and μC-5i and a
-3t is present in the same volume ratio. Also,
The laminate of μC-5t and a-3t is mostly a-3
A layer consisting of i and a layer filled with μC-3i are laminated.

このようなμC−5iを有する光導電層は、a−3iと
同様に、高周波グロー放電分解法により、シランガスを
原料として、導電性支持体上にμC−3iを堆積させる
ことにより製造することができる。この場合に、支持体
の温度をa−8Lを形成する場合よりも高く設定し、高
周波電力もa −Siの場合よりも高く設定すると、μ
C−3Lを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高
周波電力を高くすることにより、シランガスなどの原料
ガスの流量を増大させることができ、その結果、成膜速
度を早くすることができる。また、原料ガスのS iH
4及びSi2H6等の高次のシランガスを水素で希釈し
たガスを使用することにより、μC−3tを一層高効率
で形成することができる。
Similar to a-3i, a photoconductive layer containing μC-5i can be produced by depositing μC-3i on a conductive support using silane gas as a raw material using a high-frequency glow discharge decomposition method. can. In this case, if the temperature of the support is set higher than when forming a-8L and the high frequency power is also set higher than when forming a-Si, μ
It becomes easier to form C-3L. Furthermore, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, SiH of the raw material gas
By using a gas obtained by diluting high-order silane gas such as 4 and Si2H6 with hydrogen, μC-3t can be formed with higher efficiency.

第1図は、この発明に係る光導電性部材を製造する装置
を示す図である。ガスボンベ1,2,3゜4には、例え
ば、夫々SiH、B H、H2゜CH4等の原料ガスが
収容されている。これらのガスボンベ1,2,3.4内
のガスは、流ff1ffJ整用のバルブ6及び配管7を
介して混合器8に供給されるようになっている。各ボン
ベには、圧力計5が設置されており、この圧力計5を監
視しつつ、バルブ6を調整することにより、混合器8に
供給する各原料ガスの流量及び混合比を調節することが
できる。混合器8にて混合されたガスは反、応容器9に
供給される。反応容器9の底部11には、回転軸10が
鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられており、この
回転軸10の上端に、円板状の支持台12がその面を回
転軸10に垂直にして固定されている。反応容器9内に
は、円筒状の電極13がその軸中心を回転軸10の軸中
心と一致させて底部11上に設置されている。感光体の
ドラム基体14が支持台12上にその軸中心を回転軸1
0の軸中心と一致させて載置されており、このドラム基
体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒータ15が配
設されている。電極13とドラム基体14との間には、
高周波電源16が接続されており、電極13及びドラム
基体14間に高周波電流が供給されるようになっている
。回転軸10はモータ18により回転駆動される。反応
容器9内の圧力は、圧力計17により監視され、反応容
器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポンプ等の適宜
の排気手段に連結されている。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing a photoconductive member according to the present invention. The gas cylinders 1, 2, and 3°4 contain source gases such as SiH, BH, H2°CH4, and the like, respectively. The gas in these gas cylinders 1, 2, 3.4 is supplied to a mixer 8 via a valve 6 and piping 7 for adjusting the flow ff1ffJ. Each cylinder is equipped with a pressure gauge 5, and by monitoring the pressure gauge 5 and adjusting the valve 6, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 8 can be adjusted. can. The gases mixed in the mixer 8 are supplied to a reaction vessel 9. A rotating shaft 10 is attached to the bottom 11 of the reaction vessel 9 so as to be rotatable around the vertical direction, and a disk-shaped support 12 is attached to the upper end of the rotating shaft 10 with its surface perpendicular to the rotating shaft 10. It has been fixed. Inside the reaction vessel 9, a cylindrical electrode 13 is installed on the bottom 11 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10. The drum base 14 of the photoreceptor is placed on the support base 12 with its axial center aligned with the rotation axis 1.
A heater 15 for heating the drum base is disposed inside the drum base 14 . Between the electrode 13 and the drum base 14,
A high frequency power source 16 is connected, and a high frequency current is supplied between the electrode 13 and the drum base 14. The rotating shaft 10 is rotationally driven by a motor 18. The pressure inside the reaction vessel 9 is monitored by a pressure gauge 17, and the reaction vessel 9 is connected via a gate valve 18 to an appropriate evacuation means such as a vacuum pump.

このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(To r r)の圧力以下に排気する。次いで、ボン
ベ1,2,3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で
混合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容
器9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0
. 1乃至11・°ルになるように設定する。次いで、
モータ18を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒ
ータ15によりドラム基体14を一定温度に加熱すると
共に、高周波電源16により電極13とドラム基体14
との間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を
形成する。これにより、ドラム基体14上にマイクロク
リスタリンシリコン(μC−3i)が堆積する。なお、
原料ガス中にN  O,NH、NH、NO、N  、C
H4゜CH,Oガス等を使用することにより、これらの
元素をμC−3L中に含有させることができる。
When manufacturing a photoreceptor using an apparatus configured as described above, after installing the drum base 14 in the reaction vessel 9, the gate valve 19 is opened to increase the inside of the reaction vessel 9 to approximately 0.1 Torr. Evacuate to a pressure below r). Next, the required reaction gases from the cylinders 1, 2, 3.4 are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 9. In this case, the gas flow rate introduced into the reaction vessel 9 is such that the pressure inside the reaction vessel 9 is 0.
.. Set it so that it is 1 to 11°. Then,
The motor 18 is operated to rotate the drum base 14, the heater 15 heats the drum base 14 to a constant temperature, and the high frequency power supply 16 rotates the electrode 13 and the drum base 14.
A high frequency current is supplied between the two to form a glow discharge between the two. As a result, microcrystalline silicon (μC-3i) is deposited on the drum base 14. In addition,
N O, NH, NH, NO, N , C in the raw material gas
By using H4°CH, O gas, etc., these elements can be contained in μC-3L.

このように、この発明に係る光導電性部材は従来のa−
5tを使用したものと同様に、クローズドシステムの製
造装置で製造することができるため、人体に対して安全
である。また、この光導電性部材は、耐熱性、耐湿性及
び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰り返し使用
しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある。さ
らに、G e H4等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。
In this way, the photoconductive member according to the present invention is similar to the conventional a-
Similar to those using 5t, it can be manufactured using closed system manufacturing equipment, so it is safe for the human body. Further, since this photoconductive member has excellent heat resistance, moisture resistance, and abrasion resistance, it has the advantage of having a long service life with little deterioration even after repeated use over a long period of time. Furthermore, since a long wavelength sensitizing gas such as G e H4 is not required, there is no need to provide waste gas treatment equipment, and industrial productivity is extremely high.

μC−3tには、水素を0゜1乃至30原子%含有させ
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC−
3t層への水素のドーピングは、例えば、グロー放電分
解法による場合は、SiH及びSi2H6等のシラン系
の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反応容器内に
導入してグロー放電放電させるか、SiF4及びS i
 C14等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの混合ガ
スを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、ハロゲ
ン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更に、グ
ロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物理的な
方法によってもμC−8i層を形成することができる。
It is preferable that μC-3t contains 0°1 to 30 atom % of hydrogen. As a result, the dark resistance and bright resistance become harmonious, and the photoconductive properties are improved. μC-
For example, when doping hydrogen into the 3T layer by a glow discharge decomposition method, a silane-based raw material gas such as SiH and Si2H6 and a carrier gas such as hydrogen are introduced into a reaction vessel and a glow discharge is performed. , SiF4 and Si
A mixed gas of a silicon halide such as C14 and hydrogen gas may be used, or a mixed gas of a silane gas and a silicon halide may be used. Furthermore, the μC-8i layer can be formed not only by the glow discharge decomposition method but also by a physical method such as sputtering.

なお、μC−8iを含む光導電層は、光導電特性上、1
乃至8θμmの膜厚を有することが好ましく、更に膜厚
を5乃至50μmにすることが望ましい。
Note that the photoconductive layer containing μC-8i has a photoconductive property of 1
It is preferable to have a film thickness of 8 θ μm to 8θ μm, and more preferably 5 to 50 μm.

光導電層は、実質的に全ての領域をμC−5tで形成し
てもよいし、a−8iとμC−3tとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が高く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとんど
同一である。
Substantially the entire region of the photoconductive layer may be formed of μC-5t, or may be formed of a mixture or a laminate of a-8i and μC-3t. The charging ability is higher in the laminate, and the photosensitivity is higher in the long wavelength region of the infrared region, although it depends on the volume ratio, in the mixture, and in the visible light region, the two are almost the same.

このため、感光体の用途により、実質的に全ての領域を
μC−3iにするか、又は混合体若しくは積層体で構成
すればよい。
Therefore, depending on the use of the photoreceptor, substantially all the regions may be made of μC-3i, or may be made of a mixture or a laminate.

μC−3iに、窒素N1炭素C及び酸素0から選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−8tの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
It is preferable to dope μC-3i with at least one element selected from nitrogen, N, carbon, and oxygen. Thereby, the dark resistance of μC-8t can be increased and the photoconductive properties can be improved.

これらの元素はμC−3iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制帯中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
These elements precipitate at the grain boundaries of μC-3i and act as terminators for silicon dangling bonds,
It is thought that the density of states existing in the forbidden band between bands is reduced, thereby increasing the dark resistance.

この発明においては、導電性支持体と光導電層との間に
、障壁層を配設する。この障壁層は、導電性支持体と、
光導電層との間の電荷の流れを抑制することにより、光
導電性部材の表面における電荷の保持機能を高め、光導
電性部材の帯電能を高める。カールソン方式においては
、感光体表面に正帯電させる場合には、支持体側から光
導電層へ電子が注入されることを防止するために、障壁
層をp型にする。一方、感光体表面に負帯電させる場合
には、支持体側から光導電層へ正孔が注入されることを
防止するために、障壁層をn型にする。また、障壁層と
して、絶縁性の膜を支持体の」二に形成することも可能
である。障壁層はμC−3iを使用して形成してもよい
し、a−8tを使用して障壁層を構成することも可能で
ある。
In this invention, a barrier layer is provided between the conductive support and the photoconductive layer. This barrier layer comprises a conductive support and
By suppressing the flow of charge between the photoconductive layer and the photoconductive layer, the charge retention function on the surface of the photoconductive member is enhanced, and the charging ability of the photoconductive member is enhanced. In the Carlson method, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer is made p-type in order to prevent electrons from being injected from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged, the barrier layer is made n-type in order to prevent holes from being injected from the support side to the photoconductive layer. It is also possible to form an insulating film on the second side of the support as a barrier layer. The barrier layer may be formed using μC-3i, or may be formed using a-8t.

μC−8i及びa−8iをp型にするためには、周期律
表の第1族に属する元素、例えば、ホウ素B1アルミニ
ウムAI、ガリウムGa、インジウムIn、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−3L
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する元
素、例えば、窒素N1リンP1ヒ素As、アンチモンS
b1及びビスマスBi等をドーピングすることが好まし
い。   ゛このn型不純物又はn型不純物のドーピン
グにより、支持体側から光導電層へ電荷が移動すること
が防止される。
In order to make μC-8i and a-8i p-type, it is preferable to dope them with elements belonging to Group 1 of the periodic table, such as boron B1 aluminum AI, gallium Ga, indium In, and thallium T1. ,μC-3L
In order to make the layer n-type, an element belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen N1 phosphorus P1 arsenic As, antimony S
It is preferable to dope b1 and bismuth Bi. ``This n-type impurity or doping with n-type impurities prevents charges from moving from the support side to the photoconductive layer.

光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。Preferably, a surface layer is provided on top of the photoconductive layer.

光導電層のμC−3iは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される先口の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層を
設けることにより、光導電層が損傷から保護される。さ
らに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、
表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する材
料としては、St  N  、SiO、SiC。
Since μC-3i of the photoconductive layer has a relatively large refractive index of 3 to 4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of light absorbed by the photoconductive layer decreases, resulting in increased light loss. For this reason, it is preferable to provide a surface layer to prevent reflection. Also, by providing the surface layer, the photoconductive layer is protected from damage. Furthermore, by forming a surface layer, charging ability is improved,
The surface becomes more charged. Materials for forming the surface layer include St N , SiO, and SiC.

Al  O、a−8iN;H,a−5iO;H。Al O, a-8iN; H, a-5iO; H.

及びa−3iC;H等の無機化合物及びポリ塩化ビニル
及びポリアミド等の有機材料がある。
and a-3iC;H, and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

電子写真感光体に適用される光導電性部材としでは、上
述のごとく、支持体上に障壁層を形成し、この障壁層上
に光導電層を形成し、この光導電層の上に表面層を形成
したものに限らず、支持体の上に電荷輸送層(CTL)
を形成し、電荷輸送層の」二に電荷発生層 (CGL)を形成した機能分離型の形態に構成すること
もできる。この場合に、電荷輸送層と、支持体との間に
、障壁層を設けてもよい。電荷発生層は、光の照射によ
りキャリアを発生する。この電荷発生層は、層の一部又
は全部がマイクロクリスタリンシリコンμC−8tでで
きており、その厚さは0.1乃至1.0 u mにする
ことが好ましい。
As described above, as a photoconductive member applied to an electrophotographic photoreceptor, a barrier layer is formed on a support, a photoconductive layer is formed on this barrier layer, and a surface layer is formed on this photoconductive layer. A charge transport layer (CTL) is formed on the support.
It is also possible to form a functionally separated structure in which a charge generation layer (CGL) is formed on the second side of the charge transport layer. In this case, a barrier layer may be provided between the charge transport layer and the support. The charge generation layer generates carriers upon irradiation with light. The charge generation layer is preferably made of microcrystalline silicon μC-8T in part or in its entirety, and has a thickness of 0.1 to 1.0 μm.

電f::j輸送層は電荷発生層で発生したキャリアを高
効率で支持体側に到達させる層であり、このため、キャ
リアの寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが
必要である。電荷輸送層はa−3tで形成してもよく、
またμC−5iで形成してもよい。暗抵抗を高めて帯電
能を向上させるために、周期律表の第1族又は第V族の
いずれが一方に属する元素をライトドーピングすること
が好ましい。
The charge transport layer is a layer that allows carriers generated in the charge generation layer to reach the support side with high efficiency. Therefore, it is necessary that the carriers have a long life, have large mobility, and have high transportability. . The charge transport layer may be formed of a-3t,
Alternatively, it may be formed of μC-5i. In order to increase dark resistance and improve chargeability, it is preferable to light-dope an element belonging to either Group 1 or Group V of the periodic table.

また、帯電能を一層向上させ、電荷輸送層と電荷発生層
との両機能を持たせるために、C,N、0の元素のうち
、いずれか1種以上を含有させてもよい。電荷輸送層は
、その膜厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機能
を充分に発揮しない。
Furthermore, in order to further improve the charging ability and to have the functions of both a charge transport layer and a charge generation layer, one or more of the elements C, N, and 0 may be contained. If the charge transport layer is too thin or too thick, it will not perform its function satisfactorily.

このため、電荷輸送層の厚さは3乃至80umであるこ
とが好ましい。障壁層を設けることにより、電荷輸送層
と電荷発生層とを有する機能分離型の光導電性部材にお
いても、その電荷保持機能を高め、帯電能を向上させる
ことができる。なお、障壁層をp型にするか、又はn型
にするかは、その帯電特性に応じて決定される。この障
壁層は、a−5iで形成してもよく、またμC−3tで
形成してもよい。
Therefore, the thickness of the charge transport layer is preferably 3 to 80 um. By providing a barrier layer, even in a functionally separated photoconductive member having a charge transport layer and a charge generation layer, its charge retention function can be enhanced and charging ability can be improved. Note that whether the barrier layer is p-type or n-type is determined depending on its charging characteristics. This barrier layer may be formed of a-5i or μC-3t.

この出願に係る発明の特徴は、光導電層及び障壁層が、
その少なくとも一部がμC−3Lで形成されており、そ
の層に周期律表の第1族又は第V族に属する元素が含有
されていることにある。第2図及び第3図は、この発明
を具体化した光導電性部材の断面図であり、第2図にお
いては、導電性支持体21」二に、障壁層22が形成さ
れ、障壁層22上に光導電層23が形成されている。一
方、第3図においては、光導電層23の上に更に表面層
24が形成されている。光導電層23及び障壁層22は
、少なくともその一部が、μC−3tからなり、周期律
表の第■族又は第V族に属する元素を含有する。
The feature of the invention according to this application is that the photoconductive layer and the barrier layer are
At least a portion thereof is formed of μC-3L, and the layer contains an element belonging to Group 1 or Group V of the periodic table. 2 and 3 are cross-sectional views of a photoconductive member embodying the present invention; in FIG. 2, a barrier layer 22 is formed on a conductive support 21; A photoconductive layer 23 is formed thereon. On the other hand, in FIG. 3, a surface layer 24 is further formed on the photoconductive layer 23. At least a portion of the photoconductive layer 23 and the barrier layer 22 are made of μC-3t and contain an element belonging to Group Ⅰ or Group V of the periodic table.

先導電層が主としてμC−S−iで形成されていること
により、光導電性部材を可視光領域から近赤外領域(例
えば、半導体レーザの発振波長である7 90 nm付
近)まで、高感度化することができ、これにより、PP
C(普通紙複写機)及びレーザプリンタの双方にこの光
導電性部材を使用することが可能になる。μC−5L自
体は、若干、n型であるが、主としてこのμC−5iか
らなる先導電層に周期律表の第■族に属する元素をライ
=7 トドープ(10乃至10−3原子%)することにより、
光導電層23は、i型(真性)半導体になり、暗抵抗が
高くなり、SN比と帯電能が向上する。また、光導電層
は、3乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更
に好ましくは、10乃至40μmである。
Since the leading conductive layer is mainly made of μC-S-i, the photoconductive member can be used with high sensitivity from the visible light region to the near-infrared region (for example, around 790 nm, which is the oscillation wavelength of a semiconductor laser). PP
This makes it possible to use this photoconductive member in both C (plain paper copiers) and laser printers. μC-5L itself is slightly n-type, but the leading conductive layer mainly made of μC-5i is light-doped (10 to 10-3 atomic %) with an element belonging to Group Ⅰ of the periodic table. By this,
The photoconductive layer 23 becomes an i-type (intrinsic) semiconductor, has a high dark resistance, and improves the S/N ratio and charging ability. Further, the photoconductive layer preferably has a thickness of 3 to 80 μm, more preferably 10 to 40 μm.

また、障壁層を構成するμC−8i中にも、周期律表第
■族又は第V族に属する元素がドーピングされている。
Further, the μC-8i constituting the barrier layer is also doped with an element belonging to Group Ⅰ or Group V of the periodic table.

その含有量は、10−3乃至10原子%であることが好
ましい。このように障壁層をμC−8tで構成すること
により、低抵抗になり、ブロッキング能が一層向上する
。更に、障壁層2   ′2に、C,O,Nのうち少な
くとも18i以上の元素を、0.1乃至20原子%の範
囲で含有させると、電荷ブロッキング能が一層向上する
ので、電子写真特性上、好ましい。光導電層23及び障
壁層22の結晶化度は、10乃至30体積%であること
が好ましい。これにより、電子写真特性として調和がと
れた好ましいものになる。
The content is preferably 10-3 to 10 at%. By forming the barrier layer with μC-8t in this way, the resistance becomes low and the blocking ability is further improved. Furthermore, if the barrier layer 2'2 contains at least 18i or more elements among C, O, and N in the range of 0.1 to 20 atomic %, the charge blocking ability is further improved, which improves the electrophotographic properties. ,preferable. The crystallinity of the photoconductive layer 23 and the barrier layer 22 is preferably 10 to 30% by volume. This results in well-balanced and desirable electrophotographic characteristics.

第3図に示すように、光導電層23の上に表面層24を
形成した光導電性部材においては、この表面層24が、
C,0,Nのうち、少なくとも1種以上の元素を含有す
るa−3iで形成されている。これにより、光導電層の
表面が保護され、耐環境性が向上すると共に、帯電能が
向上する。このC,0,Nの含有量は、10乃至50原
子%であることが好ましい。更に、表面層24及び障壁
層22の膜厚は、0.01乃至10μmであることが好
ましく、更に好ましくは、0.1乃至2μmである。
As shown in FIG. 3, in a photoconductive member in which a surface layer 24 is formed on a photoconductive layer 23, this surface layer 24 is
It is formed of a-3i containing at least one element among C, 0, and N. This protects the surface of the photoconductive layer, improves environmental resistance, and improves charging ability. The content of C, 0, and N is preferably 10 to 50 atomic %. Further, the thickness of the surface layer 24 and the barrier layer 22 is preferably 0.01 to 10 μm, more preferably 0.1 to 2 μm.

次に、この発明の実施例について説明する。Next, embodiments of the invention will be described.

実施例I Al製ドラムを300℃に加熱しつつ、SiH4ガスに
、このS t H、aガス流量に対し、0.01乃至3
,0%のB2H6ガス、1乃至300%のN2及びCH
4混合ガス、1乃至1500%のH2及びHe混合ガス
を混合して反応容器に供給した。反応圧力は0,2トル
で、150ワツトの高周波電力を印加してグロー放電さ
せ、30分間成膜することにより障壁層21を形成した
Example I While heating an Al drum to 300°C, SiH4 gas was mixed with S t H,a from 0.01 to 3 with respect to the gas flow rate.
, 0% B2H6 gas, 1-300% N2 and CH
4 mixed gases, 1 to 1500% H2 and He mixed gases were mixed and supplied to the reaction vessel. The barrier layer 21 was formed by applying a high frequency power of 150 watts at a reaction pressure of 0.2 torr to cause glow discharge and forming a film for 30 minutes.

次に、光導電層を、S i H4ガスに、S t H4
ガス流量に対し、B 2 Heを0.01乃至1%、H
2とHeとの混合ガスを0.5乃至2000%混合して
反応圧力が0.3トル、高周波電力が300ワツトとい
う条件で5時間成膜した。更に、表面層として、SLH
ガスと、SiH4ガス流量に対し総量で等量乃至数十倍
の流量のCH4及びN2ガスとを流し、反応圧力0.3
トル及び高周波電力150ワツトという条件で5分間成
膜した。前膜厚は18μmであった。このようにして成
膜した感光体に対し、+5kVの電圧を印加したところ
、250Vの電位が得られた。また、この感光体を複写
機に装着して画像を出したところ、極めて良好な画像を
得ることができた。
Next, the photoconductive layer is soaked in S i H4 gas, S t H4
0.01 to 1% of B 2 He and H
A mixed gas of 0.5 to 2000% of 2 and He was mixed and a film was formed for 5 hours under the conditions of a reaction pressure of 0.3 torr and a high frequency power of 300 watts. Furthermore, as a surface layer, SLH
The reaction pressure was 0.3 by flowing CH4 and N2 gas at a total flow rate from the same amount to several tens of times as much as the SiH4 gas flow rate.
The film was formed for 5 minutes under the conditions of torque and high frequency power of 150 watts. The pre-film thickness was 18 μm. When a voltage of +5 kV was applied to the photoreceptor thus formed, a potential of 250 V was obtained. Furthermore, when this photoreceptor was attached to a copying machine and an image was produced, an extremely good image could be obtained.

実施例2 BH0代りに、PHを、S I H4流量に対して0.
01乃至2.0%混合して障壁層を形成し、1%以以下
台して光導電層を形成した意思外は実施例1と同様の条
件で成膜した。この実施例2においてもこの感光体ドラ
ムを慢写機゛に装着したところ、良好な画像を得ること
ができた。
Example 2 Instead of BH0, PH was set to 0.0 for S I H4 flow rate.
The film was formed under the same conditions as in Example 1, except that the barrier layer was formed by mixing 0.01 to 2.0%, and the photoconductive layer was formed by mixing 1% or less. In this Example 2 as well, when this photosensitive drum was installed in a copying machine, good images could be obtained.

[発明の効果] この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い光導電性部材を得る
ことができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, a photoconductive material which has high resistance, excellent charging characteristics, high photosensitivity in the visible light and near-infrared light regions, is easy to manufacture, and has high practicality. A sexual member can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明に係る光導電性部材の製造装置を示す
図、第2図及び第3図はこの発明の実施例に係る光導電
性部材を示す断面図である。 1.2,3,4;ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10−回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15;ヒータ、工6;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;支持体、22;
障壁層、23;光導電層、24;表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 1(j 第1 図
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing a photoconductive member according to the present invention, and FIGS. 2 and 3 are sectional views showing a photoconductive member according to an embodiment of the present invention. 1.2, 3, 4; Cylinder, 5; Pressure gauge, 6; Valve, 7
;Piping, 8;Mixer, 9;Reaction container, 10-Rotating shaft, 1
3; Electrode, 14; Drum base, 15; Heater, 6; High frequency power source, 19; Gate valve, 21; Support, 22;
Barrier layer, 23; photoconductive layer, 24; surface layer. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue 1 (j Figure 1

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
れた障壁層と、この障壁層の上に形成された光導電層と
、を有する光導電性部材において、前記障壁層及び光導
電層はその少なくとも一部が周期律表の第III族又は第
V族に属する元素を含有するマイクロクリスタリンシリ
コンで形成されていることを特徴とする光導電性部材。
(1) A photoconductive member comprising a conductive support, a barrier layer formed on the conductive support, and a photoconductive layer formed on the barrier layer, wherein the barrier layer and A photoconductive member, wherein at least a portion of the photoconductive layer is formed of microcrystalline silicon containing an element belonging to Group III or V of the periodic table.
(2)光導電層の上には、炭素、酸素及び窒素から選択
された少なくとも一種の元素を含有するアモルファスシ
リコンからなる表面層が形成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の光導電性部材。
(2) A surface layer made of amorphous silicon containing at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen is formed on the photoconductive layer. The photoconductive member described in .
(3)前記光導電層は、水素を含有することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の光導電性部材。
(3) The photoconductive member according to claim 1, wherein the photoconductive layer contains hydrogen.
(4)前記光導電層は、マイクロクリスタリンシリコン
の領域とアモルファスシリコンの領域とが混在している
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項のい
ずれか1項に記載の光導電性部材。
(4) The photoconductive layer according to any one of claims 1 to 3, wherein the photoconductive layer includes a region of microcrystalline silicon and a region of amorphous silicon. Conductive member.
(5)前記光導電層は、マイクロクリスタリンシリコン
層とアモルファスシリコン層とが積層されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
1項に記載の光導電性部材。
(5) The photoconductive layer according to any one of claims 1 to 3, wherein the photoconductive layer is a laminated layer of a microcrystalline silicon layer and an amorphous silicon layer. Element.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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