JPS6258268A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents
Electrophotographic sensitive bodyInfo
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- JPS6258268A JPS6258268A JP19894485A JP19894485A JPS6258268A JP S6258268 A JPS6258268 A JP S6258268A JP 19894485 A JP19894485 A JP 19894485A JP 19894485 A JP19894485 A JP 19894485A JP S6258268 A JPS6258268 A JP S6258268A
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- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野] −
この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が優
れた電子写真感光体に関する。Detailed Description of the Invention [Technical Field of the Invention] - The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, etc.
[発明の技術的背景とその問題点]
従来、電4写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO1SeSSe−Te若しくはアモルフ
ァスシリコン等の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール
(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(TNF)
等″の有機材料が使用されている。しかしながら、これ
らの従来の光導電性材料においては、光導電特性上、又
は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの特性
をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材料を
使い分けている。[Technical background of the invention and its problems] Conventionally, as materials for forming the photoconductive layer of electrophotographic photoreceptors, inorganic materials such as CdS, ZnO1SeSSe-Te, or amorphous silicon, or poly-N-vinylcarbazole (PVCz) have been used. or trinitrofluorene (TNF)
However, these conventional photoconductive materials have various problems in their photoconductive properties or in manufacturing, and some of the properties of the photoreceptor system have to be sacrificed. These materials are used differently depending on the purpose of use.
例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性上の問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。For example, Se and CdS are materials that are harmful to the human body, and special consideration must be given to safety measures when manufacturing them. Therefore, there are problems in that the manufacturing equipment becomes complicated and the manufacturing cost is high, and in particular, the se needs to be recovered, which adds to the recovery cost. Also,
In the Se or 5e-Te system, the crystallization temperature is 65°C
Therefore, during repeated copying, problems with the photoconductive properties arise due to residual snow, etc., and therefore, the service life is short and practicality is low.
更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。Furthermore, ZnO is susceptible to oxidation-reduction and is significantly affected by the environmental atmosphere, resulting in a problem of low reliability in use.
更にまた、PVCz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。Furthermore, organic photoconductive materials such as PVCz and TNF are suspected to be carcinogens and present human health concerns, and organic materials have low thermal stability and abrasion resistance. , has the disadvantage of short lifespan.
一方、アモルファスシリコン(以下、a−8iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、薄膜トランジスタ及びイメージセンサへの応用が
活発になされている。このa−81の応用の一環として
、a−S+を電子写真感光体の光導電性材料として使用
する試みがなされており、a−3iを使用した感光体は
、無公害の材料であるから回収処理の必要がないこと、
他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を有するこ
と、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れている
こと等の利点を有する。On the other hand, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-8i)
has recently attracted attention as a photoconductive conversion material, and is being actively applied to solar cells, thin film transistors, and image sensors. As part of this application of a-81, attempts have been made to use a-S+ as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors, and photoreceptors using a-3i are recycled because they are non-polluting materials. No processing required;
Compared to other materials, it has advantages such as high spectral sensitivity in the visible light region, high surface hardness, and excellent wear resistance and impact resistance.
このa−8iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層型の
構造にすることにより、このような要求を満足させてい
る。This a-8i is being studied as a photoreceptor based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor characteristics are required to be high resistance and photosensitivity. Since it is difficult to satisfy the requirements with a photoreceptor, a layered structure is created in which a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. It satisfies these demands.
ところで、a−8iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8i膜中に水素が取り込まれ、水素量の差により電気的
及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−3i膜に
侵入する水素の量が多くなると、光学的バンドギャップ
が大きくなり、a−8iの抵抗が高くなるが、それにと
もない、長波長光に対する光感度が低下してしまうので
、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプリン
タに使用することが困難である。また、a−8+膜中の
水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、(S
i H2)ル及びSiH2等の結合構造を有するものが
膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうすると、
ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが増加す
るため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体として使
用不能になる。逆に、a−8i中に侵入する水素の量が
低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり、その
抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加す
る。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダングリ
ングボンドと結合してこれを減少させるべき水素が少な
くなる。このため、発生するキャリアの移動度が低下し
、寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしまい
、電子写真感光体として使用し難いものとなる。By the way, a-8i is usually formed by a glow discharge decomposition method using silane gas, but at this time, a-8i is
Hydrogen is incorporated into the 8i film, and the electrical and optical characteristics vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, as the amount of hydrogen that enters the a-3i film increases, the optical bandgap increases and the resistance of a-8i increases, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light decreases. For example, it is difficult to use it in a laser beam printer equipped with a semiconductor laser. In addition, if the hydrogen content in the a-8+ film is high, depending on the film formation conditions, (S
iH2) and those having a bonding structure such as SiH2 may occupy most of the area in the film. Then,
Due to the increase in voids and silicon dangling bonds, the photoconductive properties deteriorate, making it unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, reducing the amount of hydrogen penetrating into a-8i reduces the optical band gap and its resistance, but increases photosensitivity to long wavelength light. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce silicon dangling bonds. For this reason, the mobility of the generated carriers is reduced, the life span is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.
なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH+とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH+
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を得ることができない。In addition, as a technique to increase the sensitivity to long wavelength light, there is a method of mixing silane-based gas and germane GeH+ and generating a film with a narrow optical band gap by glow discharge decomposition, but in general, silane-based gas and GeH+
Since the optimum substrate temperature is different between the two methods, the produced film has many structural defects and cannot obtain good photoconductive properties.
また、GeH+の廃ガスは酸化されると有毒ガスとなる
ので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような技
術は実用性がない。Furthermore, waste gas treatment is complicated because GeH+ waste gas becomes toxic gas when oxidized. Therefore, such technology is not practical.
[発明の目的]
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the above circumstances, and has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range up to the near infrared region, and It is an object of the present invention to provide an electrophotographic photoreceptor that has good adhesion to the substrate and excellent environmental resistance.
[発明の概要]
この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された電荷輸送層と、この電
荷輸送層の上に形成された電荷発6一
主層と、を有する電子写真感光体において、前記電荷発
生層は、層厚が0.1乃至5μmのアモルファスシリコ
ンで形成された第1層と、層厚が1乃至10μmのn型
マイクロクリスタリンシリコンで形成された第2層との
積層体であり、前記電荷輸送層は、層厚が3乃至80μ
mのアモルファス炭化シリコン、アモルファス窒化シリ
コン又はアモルファス酸化シリコンで形成されているこ
とを特徴とする。[Summary of the Invention] An electrophotographic photoreceptor according to the present invention includes a conductive support, a charge transport layer formed on the conductive support, and a charge generating layer formed on the charge transport layer. In the electrophotographic photoreceptor, the charge generation layer has a first layer formed of amorphous silicon with a layer thickness of 0.1 to 5 μm, and an n-type microcrystalline layer with a layer thickness of 1 to 10 μm. It is a laminate with a second layer made of silicon, and the charge transport layer has a layer thickness of 3 to 80 μm.
It is characterized by being formed of amorphous silicon carbide, amorphous silicon nitride, or amorphous silicon oxide of m.
この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μ
c−8iと略す)を電子写真感光体の少なくとも一部に
使用することにより、この目的を達成することができる
ことに想到して、この発明を完成させたものである。The present invention was achieved by the inventors of the present invention, who have conducted various experimental studies in order to overcome the drawbacks of the prior art described above and to develop an electrophotographic photoreceptor that has both excellent photoconductive properties (electrophotographic properties) and environmental resistance. As a result, microcrystalline silicon (hereinafter referred to as μ
The present invention was completed based on the idea that this object could be achieved by using a photoreceptor (abbreviated as c-8i) for at least a portion of an electrophotographic photoreceptor.
[発明の実施例]
以下、この発明について具体的に説明する。この発明の
特徴は、従来のa−8iの替りにμc−3iを使用した
ことにある。つまり、光導電層の全ての領域又は一部の
領域がマイクロクリスタリンシリコン(μc−3i)で
形成されているか、マイクロクリスタリンシリコンとア
モルファスシリコン(a−8t)との混合体で形成され
ているか、又はマイクロクリスタリンシリコンとアモル
ファスシリコンとの積層体で形成されている。また、機
能分離型の電子写真感光体においては、電荷発生層にμ
c−8iを使用している。[Embodiments of the Invention] The present invention will be specifically described below. The feature of this invention is that μc-3i is used instead of the conventional a-8i. That is, whether all or some regions of the photoconductive layer are formed of microcrystalline silicon (μc-3i) or a mixture of microcrystalline silicon and amorphous silicon (a-8t); Alternatively, it is formed of a laminate of microcrystalline silicon and amorphous silicon. In addition, in a functionally separated electrophotographic photoreceptor, μ is added to the charge generation layer.
I am using c-8i.
μc−8iは、以下のような物性上の特徴により、a−
8l及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−8lは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μc−3iは
、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
108Ω・1であるのに対し、μc−3iは1011Ω
・1以上の暗抵抗を有する。このμc−8iは粒径が約
数十オングストローム以上である微結晶が集合して形成
されている。μc-8i is a-
8l and polycrystalline silicon (polycrystalline silicon)
clearly distinguished from That is, in X-ray diffraction measurement, since a-8l is amorphous, only a halo appears;
Although no diffraction pattern can be observed, μc-3i shows a crystal diffraction pattern in which 2θ is around 27 to 28.5°. In addition, while polycrystalline silicon has a dark resistance of 108Ω・1, μc-3i has a dark resistance of 1011Ω.
- Has a dark resistance of 1 or more. This μc-8i is formed by aggregation of microcrystals having a grain size of about several tens of angstroms or more.
μC−8iとa−8iとの混合体とは、μc−8Iの結
晶領域がa−8i中に混在していて、μc−3i及びa
−8iが同程度の体積比で存在するものをいう。また、
μc−8iとa−8iとの積層体とは、大部分がa−8
iからなる層と、μc−8tが充填された層とが積層さ
れているものをいう。A mixture of μC-8i and a-8i means that the crystal region of μc-8I is mixed in a-8i, and μc-3i and a
-8i exists in a similar volume ratio. Also,
The laminate of μc-8i and a-8i is mostly a-8
A layer consisting of i and a layer filled with μc-8t are laminated.
このようなμC−5tを有する光導電層は、a−3iと
同様に、高周波グロー放電分解法により、シランガスを
原料として、導電性支持体上にμC−31を堆積させる
ことにより製造することができる。この場合に、支持体
の濃度をa−8iを形成する場合よりも高く設定し、高
周波電力もa−3iの場合よりも高く設定すると、μC
−S+を形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周
波電力を高くすることにより、シランガスなどの原料ガ
スの流量を増大させることができ、その結果、成膜速度
を早くすることができる。Similar to a-3i, a photoconductive layer having μC-5t can be produced by depositing μC-31 on a conductive support using silane gas as a raw material using a high-frequency glow discharge decomposition method. can. In this case, if the concentration of the support is set higher than when forming a-8i and the high frequency power is also set higher than when forming a-3i, μC
-S+ becomes easier to form. Furthermore, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased.
また、原料ガスのSiH+及び3i2Hs等の高次のシ
ランガスを水素で希釈したガスを使用することにより、
μc−8iを一層高効率で形成することができる。In addition, by using gas obtained by diluting the raw material gas SiH+ and high-order silane gas such as 3i2Hs with hydrogen,
μc-8i can be formed with higher efficiency.
第1図は、この発明に係る電子写真感光体を製造する装
置を示す図である。ガスボンベ1.2゜3.4には、例
えば、夫々SiH+、B2Hs。FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention. For example, the gas cylinders 1.2° and 3.4 contain SiH+ and B2Hs, respectively.
H2、CH4等の原料ガスが収容されている。これらの
ガスボンベ1.2.3.4内のガスは、流量調整用のバ
ルブ6及び配管7を介して混合器8に供給されるように
なっている。各ボンベには、圧力計5が設置されており
、この圧力計5を監視しつつ、パルプ6を調整すること
により、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合
比を調節することができる。混合器8にて混合されたガ
スは反応容器9に供給される。反応容器9の底部11に
は、回転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけ
られており、この回転軸10の上端に、円板状の支持台
12がその面を回転軸10に垂直にして固定されている
。反応容器9内には、円筒状の電極13がその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置され
ている。Source gases such as H2 and CH4 are contained. The gas in these gas cylinders 1.2.3.4 is supplied to a mixer 8 via a valve 6 and piping 7 for flow rate adjustment. A pressure gauge 5 is installed in each cylinder, and by adjusting the pulp 6 while monitoring the pressure gauge 5, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 8 can be adjusted. can. The gases mixed in the mixer 8 are supplied to a reaction vessel 9. A rotating shaft 10 is attached to the bottom 11 of the reaction vessel 9 so as to be rotatable around the vertical direction, and a disk-shaped support 12 is attached to the upper end of the rotating shaft 10 with its surface perpendicular to the rotating shaft 10. It has been fixed. Inside the reaction vessel 9, a cylindrical electrode 13 is installed on the bottom 11 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10.
感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中心を
回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒータ
15が配設されている。電極13とドラム基体14との
間には、高周波電源16が接続されており、電極13及
びドラム基体14間に高周波電流が供給されるようにな
っている。回転軸10はモータ18により回転駆動され
る。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視され
、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポンプ
等の適宜の排気手段に連結されている。A drum base 14 of a photoreceptor is placed on a support base 12 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10, and a heater 15 for heating the drum base is arranged inside the drum base 14. It is set up. A high frequency power source 16 is connected between the electrode 13 and the drum base 14, so that a high frequency current is supplied between the electrode 13 and the drum base 14. The rotating shaft 10 is rotationally driven by a motor 18. The pressure inside the reaction vessel 9 is monitored by a pressure gauge 17, and the reaction vessel 9 is connected via a gate valve 18 to an appropriate evacuation means such as a vacuum pump.
このように構成される装置により感光体を製造する場合
には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、ゲ
ートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1トル
(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ1
.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混合
して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器9
内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.1
乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ18
を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15に
よりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高周
波電源16により電極13とドラム基体14との間に高
周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成する。When manufacturing a photoreceptor using the apparatus configured as described above, after installing the drum base 14 in the reaction vessel 9, the gate valve 19 is opened to control the inside of the reaction vessel 9 at approximately 0.1 Torr. Evacuate to below pressure. Next, cylinder 1
.. From 2.3.4, the required reaction gases are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 9. In this case, reaction vessel 9
The gas flow rate introduced into the reaction vessel 9 is such that the pressure inside the reaction vessel 9 is 0.1.
Set it so that it is between 1 Torr and 1 Torr. Next, the motor 18
is activated to rotate the drum base 14, the heater 15 heats the drum base 14 to a constant temperature, and the high frequency power supply 16 supplies a high frequency current between the electrode 13 and the drum base 14 to create a glow between them. form a discharge.
これにより、ドラム基体14上にマイクロクリスタリン
シリコン(μc−3i)が堆積する。なお、原料ガス中
にN20.NH3,NO2、N2 、CH4。As a result, microcrystalline silicon (μc-3i) is deposited on the drum base 14. Note that N20. NH3, NO2, N2, CH4.
C2H4,02ガス等を使用することにより、これらの
元素をμC−8i中に含有させることができる。These elements can be contained in μC-8i by using C2H4,02 gas or the like.
このように、この発明に係る電子写真感光体は従来のa
−3iを使用したものと同様に、クローズドシステムの
製造装置で製造することができるため、人体に対して安
全である。また、この電子写真感光体は、耐熱性、耐湿
性及び耐摩耗性が優れているため、長期に亘り繰り返し
使用しても劣化が少なく、寿命が長いという利点がある
。さらに、GeH+等の長波長増感用ガスが不要である
ので、廃ガス処理設備を設ける必要がなく、工業的生産
性が著しく高い。In this way, the electrophotographic photoreceptor according to the present invention has a conventional a
Similar to those using -3i, it can be manufactured using closed system manufacturing equipment, so it is safe for the human body. Furthermore, this electrophotographic photoreceptor has excellent heat resistance, moisture resistance, and abrasion resistance, so it has the advantage of having a long lifespan with little deterioration even after repeated use over a long period of time. Furthermore, since a long wavelength sensitizing gas such as GeH+ is not required, there is no need to provide waste gas treatment equipment, and industrial productivity is extremely high.
μc−3iには、水素Hを0.1乃至30原子%含有さ
せることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μc
−3iの光学的エネルギギャップEaは、a−8Iの光
学的エネルギギャップEa (1,65乃至1.708
V)に比較して小さい。つまり、μc−3iの光学的エ
ネルギギャップは、μc−8i微結晶の結晶粒径及び結
晶化度により変化し、結晶粒径及び結晶化度の増加によ
り、その光学的エネルギギャップが低下して、結晶シリ
コンの光学的エネルギギャップ1.1evに近づく。と
ころで、μc−8i層及びa−8i層は、この光学的エ
ネルギギャップよりも大きなエネルギの光を吸収し、小
さなエネルギの光は透過する。このため、a−3iは可
視光エネルギしか吸収しないが、a−3iより光学的エ
ネルギギャップが小さなμc−3iは、可視光より長波
長であってエネルギが小さな近赤外光までも吸収するこ
とができる。従って、μc−8iは広い波長領域に亘っ
て高い光感度を有する。It is preferable that μc-3i contain 0.1 to 30 at % of hydrogen H. As a result, the dark resistance and bright resistance become harmonious, and the photoconductive properties are improved. μc
The optical energy gap Ea of -3i is the optical energy gap Ea of a-8I (1,65 to 1.708
V) is small compared to V). In other words, the optical energy gap of μc-3i changes depending on the crystal grain size and crystallinity of the μc-8i microcrystal, and as the crystal grain size and crystallinity increase, the optical energy gap decreases. The optical energy gap approaches the 1.1ev of crystalline silicon. By the way, the μc-8i layer and the a-8i layer absorb light with a larger energy than this optical energy gap, and transmit light with a smaller energy. Therefore, a-3i absorbs only visible light energy, but μc-3i, which has a smaller optical energy gap than a-3i, can also absorb near-infrared light, which has a longer wavelength and lower energy than visible light. I can do it. Therefore, μc-8i has high photosensitivity over a wide wavelength range.
このような特性を有するμc−8tは、半導体レーザを
光源に使用したレーザプリンタ用の感光体材料として好
適である。このa−8iをレーザプリンタ用の感光体に
使用すると、半導体レーザの光波長が790nmとa−
8tが高感度である波長領域より長いため、感光体感度
が不十分になり、このため、半導体レーザの能力以上の
レーザ強度を感光体に印加する必要があって、実用上問
題がある。一方、μc−8iで感光体を形成した場合に
は、その高感度領域が近赤外領域にまでのびているので
、光感度特性が極めて優れた半導体レーザプリンタ用の
感光体を得ることができる。μc-8t having such characteristics is suitable as a photoreceptor material for a laser printer using a semiconductor laser as a light source. When this a-8i is used as a photoreceptor for a laser printer, the light wavelength of the semiconductor laser is 790 nm and a-
Since 8t is longer than the wavelength region in which the sensitivity is high, the sensitivity of the photoreceptor becomes insufficient, and therefore it is necessary to apply a laser intensity to the photoreceptor that exceeds the capability of the semiconductor laser, which poses a practical problem. On the other hand, when the photoreceptor is formed using μc-8i, its high sensitivity region extends to the near-infrared region, so that it is possible to obtain a photoreceptor for semiconductor laser printers with extremely excellent photosensitivity characteristics.
このような優れた光感度特性を有する
μc−8iの光導電特性を一層向上させるために、μc
−3iに水素を含有させることが好ましい。In order to further improve the photoconductive properties of μc-8i, which has such excellent photosensitivity characteristics, μc
-3i preferably contains hydrogen.
μc−8i層への水素のドーピングは、例えば、グロー
放電分解法による場合は、SiH+及び5i2Hs等の
シラン系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反応
容器内に導入してグロー放電させるか、S i F4及
び5ICl+等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの混
合ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、ハ
ロゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更に
、グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物理
的な方法によってもμc−8i層を形成することができ
る。なお、μc−8iを含む光導電層は、光導電特性上
、1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更に
膜厚を5乃至50μmにすることが望ましい。Doping hydrogen into the μc-8i layer is performed, for example, by glow discharge decomposition method, by introducing a silane-based source gas such as SiH+ and 5i2Hs and a carrier gas such as hydrogen into a reaction vessel and causing glow discharge. Alternatively, a mixed gas of a silicon halide such as S i F4 and 5ICl+ and hydrogen gas may be used, or a mixed gas of a silane gas and a silicon halide may be used. Furthermore, the μc-8i layer can be formed not only by glow discharge decomposition but also by physical methods such as sputtering. Note that the photoconductive layer containing μc-8i preferably has a thickness of 1 to 80 μm, and more preferably 5 to 50 μm, in view of photoconductive properties.
光導電層は、実質的に全ての領域をμc−3iで形成し
てもよいし、a−8iとμc−3iとの混合体又は積層
体で形成してもよい。帯電能は、積層体の方が高く、光
感度は、その体積比にもよるが、赤外領域の長波長領域
では混合体の方が高く、可視光領域では両者はほとんど
同一である。Substantially all regions of the photoconductive layer may be formed of μc-3i, or may be formed of a mixture or a laminate of a-8i and μc-3i. The charging ability is higher in the laminate, and the photosensitivity is higher in the long wavelength region of the infrared region, although it depends on the volume ratio, in the mixture, and in the visible light region, the two are almost the same.
このため、感光体の用途により、実質的に全ての領域を
μc−8iにするか、又は混合体若しくは濱層体で構成
すればよい。Therefore, depending on the use of the photoreceptor, substantially the entire area may be made of .mu.c-8i, or may be made of a mixture or a layered material.
μc−3iに、窒素N1炭素C及び酸素Oから選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μc−8tの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。Preferably, μc-3i is doped with at least one element selected from nitrogen, nitrogen, carbon, and oxygen. Thereby, the dark resistance of μc-8t can be increased and the photoconductive properties can be improved.
これらの元素はμc−8iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制布中に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。These elements precipitate at the grain boundaries of μc-8i and act as terminators for silicon dangling bonds,
It is believed that the density of states existing in the forbidden cloth between the bands is reduced, thereby increasing the dark resistance.
導電性支持体と光導電層との間に、障壁層を配設するこ
とが好ましい。この障壁層は、導電性支持体と、光導電
層との間の電荷の流れを抑制することにより、光導電性
部材の表面における電荷の保持機能を高め、光導電性部
材の帯電能を高める。Preferably, a barrier layer is provided between the conductive support and the photoconductive layer. This barrier layer suppresses the flow of charge between the conductive support and the photoconductive layer, thereby increasing the charge retention function on the surface of the photoconductive member and increasing the charging ability of the photoconductive member. .
カールソン方式においては、感光体表面に正帯電させる
場合には、支持体側から光導電層へ電子が注入されるこ
とを防止するために、障壁層をp型にする。一方、感光
体表面に負帯電させる場合には、支持体側から光導電層
へ正孔が注入されることを防止するために、障壁層をn
型にする。また、障壁層として、絶縁性の膜を支持体の
上に形成することも可能である。障壁層はμc−8iを
使用して形成してもよいし、a−3iを使用して障壁層
を構成することも可能である。In the Carlson method, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer is made p-type in order to prevent electrons from being injected from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, when the photoreceptor surface is negatively charged, a barrier layer is formed to prevent holes from being injected from the support side to the photoconductive layer.
Make it into a mold. It is also possible to form an insulating film on the support as a barrier layer. The barrier layer may be formed using μc-8i, or it may be formed using a-3i.
μc−8l及びa−8iをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1アルミニ
ウムA11ガリウムGa、インジウムIn1及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μc−8i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する元
素、例えば、窒素N1リンP1ヒ素As1アンチモンS
b1及び(スマス3i等をドーピングすることが好まし
い。In order to make μc-8l and a-8i p-type, it is preferable to dope them with elements belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B1 aluminum A11 gallium Ga, indium In1, and thallium T1. -8i
To make the layer n-type, an element belonging to group V of the periodic table, such as nitrogen N1 phosphorus P1 arsenic As1 antimony S
It is preferable to dope b1 and (smas3i).
このn型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
。This n-type impurity or doping with n-type impurities prevents charges from moving from the support side to the photoconductive layer.
光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。Preferably, a surface layer is provided on top of the photoconductive layer.
光導電層のμc−3iは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層を
設けることにより、光導電層が損傷から保護される。さ
らに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、
表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する材
料としては、Sis N4.8102 、SiC。Since μc-3i of the photoconductive layer has a relatively large refractive index of 3 to 4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer decreases, increasing optical loss. For this reason, it is preferable to provide a surface layer to prevent reflection. Also, by providing the surface layer, the photoconductive layer is protected from damage. Furthermore, by forming a surface layer, charging ability is improved,
The surface becomes more charged. The material forming the surface layer is Sis N4.8102 and SiC.
A I 20 a 、a S i N ; H−a
S I O: H1及びa−8iC:H等の無機化合
物及びポリ塩化ビニル及びポリアミド等の有機材料があ
る。A I 20 a , a S i N ; H-a
SIO: There are inorganic compounds such as H1 and a-8iC:H and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.
電子写真感光体としては、上述のごとく、支持体上に障
壁層を形成し、この障壁層上に光導電層を形成し、この
光導電層の上に表面層を形成したものに限らず、支持体
の上に電荷移動層(CTL)を形成し、電荷移動層の上
に電荷発生層(CGL)を形成した機能分離型の形態に
構成することもできる。この場合に、電荷移動層と、支
持体との間に、障壁層を設けてもよい。電荷発生層は、
光の照射によりキャリアを発生する。この電荷発生層は
、層の一部又は全部がマイクロクリスタリンシウ′″テ
ンμc−3iでできており、その厚さは1乃至10μm
にすることが好ましい。電荷移動層は電荷発生層で発生
したキャリアを高効率で支持体側に到達させる層であり
、このため、キャリアの寿命が長く、移動度が大きく輸
送性が高いことが必要である。電荷移動層はa−3iで
形成することができる。暗抵抗を高めて帯電能を向上さ
せるために、周期律表の第■族又は第V族のいずれか一
方に属する元素をライトドーピングすることが好ましい
。また、帯電能を一層向上させ、電荷移動層と電荷発生
層との両機能を持たせるために、C,N、Oの元素のう
ち、いずれか1種以上を含有させてもよい。電荷移動層
は、その膜厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる場合はその機
能を充分に発揮しない。このため、電荷移動層の厚さは
3乃至80μmであることが好ましい。As described above, the electrophotographic photoreceptor is not limited to one in which a barrier layer is formed on a support, a photoconductive layer is formed on this barrier layer, and a surface layer is formed on this photoconductive layer. It is also possible to form a functionally separated structure in which a charge transfer layer (CTL) is formed on a support and a charge generation layer (CGL) is formed on the charge transfer layer. In this case, a barrier layer may be provided between the charge transfer layer and the support. The charge generation layer is
Carriers are generated by light irradiation. Part or all of this charge generation layer is made of microcrystalline aluminum μc-3i, and its thickness is 1 to 10 μm.
It is preferable to The charge transfer layer is a layer that allows carriers generated in the charge generation layer to reach the support side with high efficiency, and therefore, the carriers need to have a long life, high mobility, and high transportability. The charge transfer layer can be formed of a-3i. In order to increase dark resistance and improve chargeability, it is preferable to light-dope with an element belonging to either Group Ⅰ or Group V of the periodic table. Furthermore, in order to further improve the charging ability and to have the functions of both a charge transfer layer and a charge generation layer, one or more of the elements C, N, and O may be contained. If the charge transport layer is too thin or too thick, it will not function satisfactorily. Therefore, the thickness of the charge transport layer is preferably 3 to 80 μm.
障壁層を設けることにより、電荷移動層と電荷発生層と
を有する機能分離型の感光体においても、その電荷保持
機能を高め、帯電能を向上させることができる。なお、
障壁層をp型にするか、又はn型にするかは、その帯電
特性に応じて決定される。この障壁層は、a−8+で形
成してもよく、またμc−8iで形成してもよい。By providing a barrier layer, even in a functionally separated type photoreceptor having a charge transfer layer and a charge generation layer, its charge retention function and charging ability can be improved. In addition,
Whether the barrier layer is p-type or n-type is determined depending on its charging characteristics. This barrier layer may be formed of a-8+ or μc-8i.
この出願に係る発明の特徴は、電荷発生層が、層厚が0
.1乃至5μmのa−8iで形成された第1層と、層厚
が1乃至10μmのn型μC−3iで形成された第2層
との積層体であり、電荷輸送層が、層厚が3乃至80μ
mであって、アモルファス炭化シリコン(a Si:
c>、アモルファス窒化シリコン(a−8i:N)又は
アモルファス酸化シリコン(a−8i;O)で形成され
ていることにある。第2図は、この発明を具体化した電
子写真感光体の断面図であり、導電性支持体21の上に
、電荷輸送層22が形成され、電荷輸送層22の上に電
荷発生層31が形成されている。この電荷発生層31は
、電荷輸送層22の上にn型のμc−8iで形成された
第2層23と、この第2層の上にa−3iで形成された
第1層24とを有する。The feature of the invention according to this application is that the charge generation layer has a layer thickness of 0.
.. It is a laminate of a first layer formed of a-8i with a thickness of 1 to 5 μm and a second layer formed of n-type μC-3i with a layer thickness of 1 to 10 μm, and the charge transport layer has a layer thickness of 3 to 80μ
m, amorphous silicon carbide (a Si:
c>, it is formed of amorphous silicon nitride (a-8i:N) or amorphous silicon oxide (a-8i;O). FIG. 2 is a cross-sectional view of an electrophotographic photoreceptor embodying the present invention, in which a charge transport layer 22 is formed on a conductive support 21, and a charge generation layer 31 is formed on the charge transport layer 22. It is formed. This charge generation layer 31 includes a second layer 23 formed of n-type μc-8i on the charge transport layer 22, and a first layer 24 formed of a-3i on this second layer. have
電荷発生層31が、a−3iで形成された第1層24と
μc−8iで形成された第2層23との積層体であるた
め、感光体を可視光領域から近赤外領域(例えば、半導
体レーザの発振波長である790nm付近)まで、高感
度化することができる。つまり、μC−8iは、その光
学的エネルギギャップEaがa−8iの光学的エネルギ
ギャップ1.65乃至1.70eVよりも小さいため、
近赤外光のようにエネルギが小さい長波長、光も吸収し
て電荷を発生する作用を有する。このため、μc−8i
で形成された第2層23は、発振波長が790nmであ
る半導体レーザ光等の長波長光に対して高い分光感度を
有する。一方、a−8iは可視光に対して高い分光感度
を有する。従って、μc−8i及びa−3iを電荷発生
層に使用することにより、PPC(普通紙複写機)及び
半導体レーザを使用したレーザプリンタの双方にこの感
光体を使用することが可能になる。μc−8i自体は、
若干、n型であるが、このμc−8iに、P等の周規律
表の第V族に属する元素を含有させてμc−8iを積極
的にn型にする。これにより、dc−s+第2層の長波
長光に対する感度を一層高めることができる。この第V
族元素のドーピング量は、10−”乃至10°3原子%
、好ましくは、10−11乃至104原子%である。ド
ーピング量が多すぎると、μC−Siが強n型になって
しまい、暗時の比抵抗(暗比抵抗)が低くなり過ぎ、ド
ーピング量が少ないと、長波長光に対する感度が不足す
るからである。Since the charge generation layer 31 is a laminate of the first layer 24 made of A-3i and the second layer 23 made of μC-8i, the photoreceptor can be heated from the visible light region to the near-infrared region (e.g. High sensitivity can be achieved up to 790 nm, which is the oscillation wavelength of a semiconductor laser. In other words, since the optical energy gap Ea of μC-8i is smaller than the optical energy gap of 1.65 to 1.70 eV of a-8i,
It has the ability to absorb long wavelength light with low energy, such as near-infrared light, and generate electric charges. For this reason, μc-8i
The second layer 23 formed of the above has high spectral sensitivity to long wavelength light such as semiconductor laser light having an oscillation wavelength of 790 nm. On the other hand, a-8i has high spectral sensitivity to visible light. Therefore, by using μc-8i and a-3i in the charge generation layer, this photoreceptor can be used in both PPC (plain paper copying machines) and laser printers using semiconductor lasers. μc-8i itself is
Although it is slightly n-type, this μc-8i is made to contain an element belonging to Group V of the periodic table, such as P, to actively make μc-8i n-type. Thereby, the sensitivity of the dc-s+ second layer to long wavelength light can be further increased. This Chapter V
The doping amount of group elements is 10-” to 10°3 atomic%.
, preferably 10-11 to 104 at.%. If the amount of doping is too large, μC-Si will become a strong n-type, and the specific resistance in the dark (dark specific resistance) will become too low, and if the amount of doping is too small, the sensitivity to long wavelength light will be insufficient. be.
μC−8+の比抵抗は比較的低いが、これをa−S t
で形成された第1層24が補う。つまり、a−Siは比
較的比抵抗が高く、a−8lを配設することにより、帯
電能を高めることができる。Although the specific resistance of μC-8+ is relatively low, it is a-S t
The first layer 24 made of That is, a-Si has a relatively high resistivity, and by disposing a-8l, the charging ability can be increased.
このa−3iで形成された第1層24に周期律表の第1
Ia族に属する元素をライトドープ(10−7乃至10
−3原子%)することにより、第1層24は、1型(真
性)半導体になり、暗比抵抗が一層高くなり、−8N比
と帯電能が向上する。The first layer 24 formed of this a-3i has the first layer of the periodic table.
Light doping (10-7 to 10
-3 at.
また、電荷発生層31(第1層24及び第2層23)に
、C,O,Nのうち少なくとも一種の元素を光導電率が
低下しない程度に含有させることにより、暗比抵抗を高
め、帯電能(電荷保持機能)を一層高めることができる
。このC,O,Nの含有量は、0.1乃至10原子%で
あることが好ましい。Further, by incorporating at least one element among C, O, and N into the charge generation layer 31 (the first layer 24 and the second layer 23) to an extent that the photoconductivity does not decrease, the dark specific resistance is increased. Charging ability (charge retention function) can be further enhanced. The content of C, O, and N is preferably 0.1 to 10 atomic percent.
第11124及び第2層23の層厚は、夫々 0.1乃
至5μm及び1乃至10μmである。電荷発生層の層厚
が厚すぎると、成膜に長時間を必要とすると共に層が剥
離しやすくなる一方、電荷発生層の層厚が薄すぎると、
キャリアの発生効率が低くなるからである。なお、第1
層24は第2層23よりも上方(光入射側)にある方(
第2図)がその逆の場合よりも好ましい。これは、μC
−8iが可視光も吸収するので、μc−8i第2層が上
方にあると、可視光は下層のa−8i第1層に到達する
前にμc−8i第2層で吸収されてしまうため、電荷発
生効率が低いからである。The layer thicknesses of the 11124 and second layer 23 are 0.1 to 5 μm and 1 to 10 μm, respectively. If the charge generation layer is too thick, it will take a long time to form the film and the layer will easily peel off. On the other hand, if the charge generation layer is too thin,
This is because the carrier generation efficiency becomes low. In addition, the first
The layer 24 is located above the second layer 23 (on the light incident side) (
FIG. 2) is preferred over the opposite case. This is μC
-8i also absorbs visible light, so if the μc-8i second layer is above, the visible light will be absorbed by the μc-8i second layer before reaching the lower a-8i first layer. This is because the charge generation efficiency is low.
電荷輸送層22は、電荷発生層31で発生したキャリア
を高効率で支持体21に輸送するために設けられた層で
あり、C,O,Nから選択された少なくとも1種の元素
を含有するa−8i(a−8i ;C,a−8i ;Q
、又はa−31;N)で形成されている。このように電
荷輸送層22を構成することにより、電荷輸送層22を
高抵抗にすることができる。また、電荷輸送層は、キャ
リアを捕獲するトラップ(状態密度)が存在しないこと
が理想的である。この場合に、微量のC,O,Nを電荷
輸送層22に含有させることにより、トラップとなるシ
リコンダングリングボンドを除去することができる。こ
のC,O,Nの量は、キャリアの走行性を考慮すると、
20原子%以下であることが好ましい。この電荷輸送層
22に周期律表第■族に属する元素をライトドープする
ことにより、その暗抵抗を高め、電荷保持機能を間接的
に高めることができる。電荷輸送層の層厚は、3乃至8
0μmである。電荷輸送層の帯電能を高く維持するため
には、層厚を厚くすることが必要である一方、電荷輸送
層が厚すぎると、キャリアが走行しにくくなり、キャリ
アが支持体まで到達することが困難になるからである。The charge transport layer 22 is a layer provided to transport carriers generated in the charge generation layer 31 to the support 21 with high efficiency, and contains at least one element selected from C, O, and N. a-8i (a-8i ; C, a-8i ; Q
, or a-31;N). By configuring the charge transport layer 22 in this way, the charge transport layer 22 can be made to have high resistance. Further, it is ideal that the charge transport layer does not have traps (density of states) that trap carriers. In this case, silicon dangling bonds that act as traps can be removed by containing a trace amount of C, O, and N in the charge transport layer 22. Considering the running properties of the carrier, the amounts of C, O, and N are as follows:
It is preferably 20 atomic % or less. By lightly doping this charge transport layer 22 with an element belonging to Group 1 of the periodic table, its dark resistance can be increased and the charge retention function can be indirectly improved. The layer thickness of the charge transport layer is 3 to 8
It is 0 μm. In order to maintain a high chargeability of the charge transport layer, it is necessary to increase the layer thickness, but if the charge transport layer is too thick, it becomes difficult for carriers to travel and it is difficult for the carriers to reach the support. This is because it becomes difficult.
このように構成された電子写真感光体においては、電荷
輸送能が優れていると共に高抵抗の電荷輸送層と、表面
の屈折率が小さく比較的高抵抗の電荷発生層とを有する
から、帯電能及び光感度が極めて優れている。The electrophotographic photoreceptor constructed in this way has a charge transport layer with excellent charge transport ability and high resistance, and a charge generation layer with a relatively high resistance and a small refractive index on the surface, so that the electrophotographic photoreceptor has excellent charge transport ability. and extremely excellent photosensitivity.
[発明の効果]
この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光領域において高光感度特性を有し
、製造が容易であり、実用性が高い電子写真感光体を得
るこ゛とができる。[Effects of the Invention] According to the present invention, electrophotography has high resistance, excellent charging characteristics, high photosensitivity in the visible light and near-infrared light regions, is easy to manufacture, and has high practicality. A photoreceptor can be obtained.
第1因はこの発明に係る電子写真感光体の製造装置を示
す図、第2図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体
を示す断面図である。
1.2.3.4;ボンベ、5:圧力計、6:バルブ、7
;配管、8;混合器、9;反応容器、10;回転軸、1
3:電極、14ニドラム基体、15;ヒータ、16:高
周波電源、19;ゲートバルブ、21:支持体、22;
電荷輸送層、23;第2層、24;第1層、31;電荷
発生層。The first factor is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention, and FIG. 2 is a sectional view showing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the invention. 1.2.3.4; cylinder, 5: pressure gauge, 6: valve, 7
; Piping, 8; Mixer, 9; Reaction container, 10; Rotating shaft, 1
3: Electrode, 14 Nidram base, 15; Heater, 16: High frequency power supply, 19; Gate valve, 21: Support, 22;
Charge transport layer, 23; second layer, 24; first layer, 31; charge generation layer.
Claims (2)
れた電荷輸送層と、この電荷輸送層の上に形成された電
荷発生層と、を有する電子写真感光体において、前記電
荷発生層は、層厚が0.1乃至5μmのアモルファスシ
リコンで形成された第1層と、層厚が1乃至10μmの
n型マイクロクリスタリンシリコンで形成された第2層
との積層体であり、前記電荷輸送層は、層厚が3乃至8
0μmのアモルファス炭化シリコン、アモルファス窒化
シリコン又はアモルファス酸化シリコンで形成されてい
ることを特徴とする電子写真感光体。(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support, a charge transport layer formed on the conductive support, and a charge generation layer formed on the charge transport layer, the charge The generation layer is a laminate of a first layer formed of amorphous silicon with a layer thickness of 0.1 to 5 μm and a second layer formed of n-type microcrystalline silicon with a layer thickness of 1 to 10 μm, The charge transport layer has a layer thickness of 3 to 8
An electrophotographic photoreceptor characterized in that it is formed of 0 μm amorphous silicon carbide, amorphous silicon nitride, or amorphous silicon oxide.
層は第2層の上に形成されており、第2層は周規律表の
第V族に属する元素を含有し、前記第1層は周規律表の
第III族に属する元素を含有することを特徴とする特許
請求の範囲第1項に記載の電子写真感光体。(2) the second layer is formed on the charge transport layer, and the second layer is formed on the charge transport layer;
The layer is formed on a second layer, the second layer contains an element belonging to Group V of the Periodic Table, and the first layer contains an element belonging to Group III of the Periodic Table. An electrophotographic photoreceptor according to claim 1, characterized in that:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19894485A JPS6258268A (en) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | Electrophotographic sensitive body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19894485A JPS6258268A (en) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | Electrophotographic sensitive body |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6258268A true JPS6258268A (en) | 1987-03-13 |
Family
ID=16399558
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19894485A Pending JPS6258268A (en) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | Electrophotographic sensitive body |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6258268A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364054A (en) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Sanyo Electric Co Ltd | Electrostatic latent image carrier |
-
1985
- 1985-09-09 JP JP19894485A patent/JPS6258268A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6364054A (en) * | 1986-09-05 | 1988-03-22 | Sanyo Electric Co Ltd | Electrostatic latent image carrier |
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