JPS6221167A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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Publication number
JPS6221167A
JPS6221167A JP16151585A JP16151585A JPS6221167A JP S6221167 A JPS6221167 A JP S6221167A JP 16151585 A JP16151585 A JP 16151585A JP 16151585 A JP16151585 A JP 16151585A JP S6221167 A JPS6221167 A JP S6221167A
Authority
JP
Japan
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layer
photoconductive
photoconductive layer
region
electrophotographic photoreceptor
Prior art date
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Pending
Application number
JP16151585A
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Japanese (ja)
Inventor
Wataru Mitani
渉 三谷
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Akira Miki
明 三城
Mariko Yamamoto
山本 万里子
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS6221167A publication Critical patent/JPS6221167A/en
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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
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Abstract

PURPOSE:To obtain a photoconductive member having excellent electrostatic charging property by forming a photoconductive layer in such a manner that the region of microcrystalline silicon and the region of amorphous silicon mixedly exist therein and determining the volumetric ratio of the microcrystalline silicon region at 50-90%. CONSTITUTION:A barrier layer 22 is formed on a substrate 21 and the photoconductive layer 23 is formed on the barrier layer. A surface layer 25 is formed on the photoconductive layer. The region of the microcrystalline silicon and the region of the amorphous silicon mixedly exist in the photoconductive layer. The volumetric ratio at which the microcrystalline silicon occupies in the photoconductive layer is determined at 50-90%. The volume ratio of muC-Si is required to be made <=90% in order to thoroughly assure the electrostatic charging property and the volume ratio of muC-Si is required to be >=50% in order to improve photosensitivity in a wide wavelength region by muC-Si.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] この発明は、帯電特性、光感度特性及び耐環境性等が浸
れた電子写真感光体に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, etc.

[発明の技術的背景とその問題点] 従来、電子写真感光体の光導電層を形成する材料として
、CdS、ZnO,Se、5e−Te若し≦はアモルフ
ァスシリコン等の無は材料又はポリ−N−ビニルカルバ
ゾール(PVCz)若しくはトリニトロフルオレン(T
NF)等の有機材料が使用されている。しかしながら、
これらの従来の光導電性材料においては、光導電特性上
、又は製造上、種々の問題点があり、感光体システムの
特性をある程度犠牲にして使用目的に応じてこれらの材
料を使い分けている。
[Technical background of the invention and its problems] Conventionally, materials for forming the photoconductive layer of electrophotographic photoreceptors include CdS, ZnO, Se, 5e-Te or amorphous silicon, or poly- N-vinylcarbazole (PVCz) or trinitrofluorene (T
Organic materials such as NF) are used. however,
These conventional photoconductive materials have various problems in terms of photoconductive properties or manufacturing, and these materials are used depending on the purpose of use, sacrificing the properties of the photoreceptor system to some extent.

例えば、Se及びCdSは、人体に対して有害な材料で
あり、その製造に際しては、安全対策上、特別の配慮が
必要である。従って、製造装置が複雑となるため製造コ
ストが高いと共に、特に、Seは回収する必要があるた
め回収コストが付加されるという問題点がある。また、
Se又は5e−Te系においては、結晶化温度が65℃
と低いため、複写を繰り返している間に、残雪等により
光導電特性との問題が生じ、このため、寿命が短いので
実用性が低い。
For example, Se and CdS are materials that are harmful to the human body, and special consideration must be given to safety measures when manufacturing them. Therefore, there are problems in that the manufacturing equipment becomes complicated and the manufacturing cost is high, and in particular, Se needs to be recovered, which adds to the recovery cost. Also,
In the Se or 5e-Te system, the crystallization temperature is 65°C
Therefore, during repeated copying, problems with the photoconductive properties may occur due to remaining snow, etc., and therefore, the service life is short and practicality is low.

更に、ZnOは、酸化還元が生じやすく、環境雰囲気の
影響を著しく受けるため、使用上、信頼性が低いという
問題点がある。
Furthermore, ZnO is susceptible to oxidation-reduction and is significantly affected by the environmental atmosphere, resulting in a problem of low reliability in use.

更にまた、pvcz及びTNF等の有機光導電性材料は
、発癌性物質である疑いが持たれており、人体の健康上
問題があるのに加え、有機材料は熱安定性及び耐摩耗性
が低く、寿命が短いという欠点がある。
Furthermore, organic photoconductive materials such as pvcz and TNF are suspected carcinogens and present human health concerns, and organic materials have poor thermal stability and abrasion resistance. , has the disadvantage of short lifespan.

一方、アモルファスシリコン(以下、a−3iと略す)
は、近時、光導電変換材料として注目されており、太陽
電池、1lllllトランジスタ及びイメージセンサへ
の応用が活発になされている。このa−8iの応用の一
環として、a−5iを電子写真感光体の光導電性材料と
して使用する試みがなされており、a−8iを使用した
感光体は、無公害の材料であるから回収処理の必要がな
いこと、他の材料に比して可視光領域で高い分光感度を
有すること、表面硬度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優
れていること等の利点を有する。
On the other hand, amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-3i)
has recently attracted attention as a photoconductive conversion material, and is being actively applied to solar cells, 1lllll transistors, and image sensors. As part of this application of a-8i, attempts have been made to use a-5i as a photoconductive material for electrophotographic photoreceptors, and photoreceptors using a-8i are recycled as they are non-polluting materials. It has advantages such as no need for treatment, higher spectral sensitivity in the visible light region than other materials, high surface hardness, and excellent wear resistance and impact resistance.

このa−3iは、カールソン方式に基づく感光体として
検討が進められているが、この場合に、感光体特性とし
て抵抗及び光感度が高いことが要求される、しかしなが
ら、この両特性を単一層の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、光導電層上に表面電荷保持層を設けたf11層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。
This a-3i is being studied as a photoreceptor based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor characteristics are required to be high resistance and photosensitivity. Since it is difficult to satisfy the requirements with a photoreceptor, we created an f11 layer structure in which a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. , satisfies these requirements.

ところで、a−3iは、通常、シラン系ガスを使用した
グロー放電分解法により形成されるが、この際に、a−
8illi中に水素が取り込まれ、水素量の差により電
気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−8:
膜に侵入する水素のmが多くなると、光学的バンドギャ
ップが大きくなり、a−8iの抵抗が高くなるが、それ
にともない、長波長光に対する光感度が低下してしまう
ので、例えば、半導体レーザを搭載したレーザビームプ
リンタに使用することが困難である。また、a−3i膜
中の水素の含有量が多い場合は、成膜条件によって、(
SiH2)rL及びS i H2等の結合構造を有する
ものが膜中で大部分の領域を占める場合がある。そうす
ると、ボイドが増加し、シリコンダングリングボンドが
増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感光体と
して使用不能になる。逆に、a−8i中に浸入する水素
の量が低下すると、光学的バンドギャップが小さくなり
、その抵抗が小さくなるが、長波長光に対する光感度が
増加する。しかし、水素含有量が少ないと、シリコンダ
ングリングボンドと結合してこれを減少させるべき水素
が少なくなる。このため、発生するキャリアの移動度が
低下し、寿命が炉くなると共に、光導電特性が劣化して
しまい、電子写真感光体として使用し難いものとなる。
By the way, a-3i is usually formed by a glow discharge decomposition method using silane gas, but at this time, a-3i is
Hydrogen is incorporated into the 8illi, and the electrical and optical properties vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, a-8:
As m of hydrogen that enters the film increases, the optical bandgap increases and the resistance of a-8i increases, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light decreases. Difficult to use with mounted laser beam printer. In addition, if the hydrogen content in the a-3i film is high, depending on the film formation conditions, (
Those having bonding structures such as SiH2)rL and S i H2 may occupy most of the area in the film. In this case, voids increase and silicon dangling bonds increase, resulting in deterioration of photoconductive properties and rendering the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, reducing the amount of hydrogen penetrating into a-8i reduces the optical bandgap and reduces its resistance, but increases its photosensitivity to long wavelength light. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce silicon dangling bonds. As a result, the mobility of the generated carriers decreases, the life span becomes short, and the photoconductive properties deteriorate, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

なお、長波長光に対する感度を高める技術として、シラ
ン系ガスとゲルマンGeH4とを混合し、グロー放電分
解することにより、光学的バンドギャップが狭い膜を生
成するものがあるが、一般に、シラン系ガスとGeH+
とでは、最適基板温度が異なるため、生成した膜は構造
欠陥が多く、良好な光導電特性を(qることができない
。また、GeH4の廃ガスは酸化されると有毒ガスとな
るので、廃ガス処理も複雑である。従って、このような
技術は実用性がない。
As a technique to increase the sensitivity to long wavelength light, there is a method of mixing silane-based gas and germane GeH4 and performing glow discharge decomposition to produce a film with a narrow optical bandgap. and GeH+
Since the optimum substrate temperature is different between the two, the resulting film has many structural defects and cannot exhibit good photoconductive properties.In addition, the waste gas of GeH4 becomes a toxic gas when oxidized, so Gas processing is also complex, so such technology is impractical.

[発明の目的] この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れており、残留電位が低く、広波長領域に
亘って感度が高く、基板との密着性が良く、耐環境性が
優れた光導電性部材を提供することを目的とする。
[Objective of the Invention] The present invention has been made in view of the above circumstances, and has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range, and good adhesion to a substrate. An object of the present invention is to provide a photoconductive member with excellent environmental resistance.

[発明の慨要] この発明に係る電子写真感光体は、導電性支持体と、こ
の導電性支持体の上に形成された障壁層と、この障壁層
の上に形成された光導電層と、を有する電子写真感光体
において、前記光導電層は、マイクロクリスタリンシリ
コンの領域とアモルファスシリコンの領域とが混在して
おり、このマイクロクリスタリンシリコンの領域が光導
電層に占める体積比率が50乃至90%であることを特
徴とする。
[Summary of the Invention] An electrophotographic photoreceptor according to the present invention includes an electrically conductive support, a barrier layer formed on the electrically conductive support, and a photoconductive layer formed on the barrier layer. In the electrophotographic photoreceptor, the photoconductive layer has a microcrystalline silicon region and an amorphous silicon region mixed together, and the volume ratio of the microcrystalline silicon region to the photoconductive layer is 50 to 90. %.

この発明は、前述の従来技術の欠点を解消し、優れた光
導電特性(電子写真特性)と耐環境性とを兼備した電子
写真感光体を開発すべく本願発明者等が種々実験研究を
重ねた結果、マイクロクリスタリンシリコン(以下、μ
C−8iと略す)を電子写真感光体の少なくとも一部に
使用することにより、この目的を達成することができる
ことに想到して、この発明を完成させたものである。
The present invention was achieved by the inventors of the present invention, who have conducted various experimental studies in order to overcome the drawbacks of the prior art described above and to develop an electrophotographic photoreceptor that has both excellent photoconductive properties (electrophotographic properties) and environmental resistance. As a result, microcrystalline silicon (hereinafter referred to as μ
The present invention was completed based on the idea that this object could be achieved by using C-8i (abbreviated as C-8i) for at least a portion of an electrophotographic photoreceptor.

[発明の実施例] 以下、この発明について具体的に説明する。この発明の
特徴は、従来のa−8iの替りにμC−3iを使用した
ことにある。つまり、光導電層の全ての領域又は一部の
領域がマイクロクリスタリンシリコン(μC−3i )
で形成されているか、マイクロクリスタリンシリコンと
アモルファスシリコン(a−8i ”)との混合体で形
成されているか、又はマイクロクリスタリンシリコンと
アモルファスシリコンとの積層体で形成されている。ま
た、機能分離型の光導電性部材においては、電荷発生層
にμC−8iを使用している。
[Embodiments of the Invention] The present invention will be specifically described below. The feature of this invention is that μC-3i is used instead of the conventional a-8i. In other words, all or part of the photoconductive layer is made of microcrystalline silicon (μC-3i).
It is formed of a mixture of microcrystalline silicon and amorphous silicon (A-8i''), or it is formed of a laminate of microcrystalline silicon and amorphous silicon.Functionally separated type In this photoconductive member, μC-8i is used for the charge generation layer.

μC−8iは、以下のような物性上の特徴により、a−
8i及びポリクリスタリンシリコン(多結晶シリコン)
から明確に区別される。即ち、X線回折測定においては
、a−8iは、無定形であるため、ハローのみが現れ、
回折パターンを認めることができないが、μC−8iは
、2θが27乃至28.5°付近にある結晶回折パター
ンを示す。また、ポリクリスタリンシリコンは暗抵抗が
10”Ω・craであるのに対し、μC−8iは101
1Ω・cIn以上の暗抵抗を有する。このμC−8iは
粒径が約数十オングストローム以上である微結晶が集合
して形成されている。
μC-8i is a-
8i and polycrystalline silicon (polycrystalline silicon)
clearly distinguished from That is, in X-ray diffraction measurement, since a-8i is amorphous, only a halo appears;
Although no diffraction pattern can be observed, μC-8i shows a crystal diffraction pattern with a 2θ of around 27 to 28.5°. In addition, while polycrystalline silicon has a dark resistance of 10"Ω・cra, μC-8i has a dark resistance of 10"
It has a dark resistance of 1Ω·cIn or more. This μC-8i is formed by agglomeration of microcrystals having a grain size of approximately several tens of angstroms or more.

μC−8iとa−3iとの混合体とは、μC−8iの結
晶#4域がa−8i中に混在していて、μC−S +及
びa−3iが同程度の体積比で存在するものをいう。ま
た、μC−8iとa−8iとの積層体とは、大部分がa
−8iからなる層と、μC−8iが充填された層とが積
層されているものをいう。
A mixture of μC-8i and a-3i means that the crystal #4 region of μC-8i is mixed in a-8i, and μC-S + and a-3i exist in a similar volume ratio. say something In addition, the laminate of μC-8i and a-8i is mostly a
-8i and a layer filled with μC-8i are laminated together.

このようなμC−8iを有する光導電層は、a−8iと
同様に、高周波グロー放電分解法により、シランガスを
原料として、導電性支持体上にμC−3iを堆積させる
ことにより製造することができる。この場合に、支持体
の温度をa−3iを形成する場合よりも高く設定し、高
周波電力もa −8iの場合よりも高く設定すると、μ
C−8iを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高
周波電力を高くすることにより、シランガスなどの原料
ガスの流量を増大させることができ、その結果、成膜速
度を早くすることができる。また、原料ガスのSiH4
及び5i2Hs等の高次のシランガスを水素で希釈した
ガスを使用することにより、μC−8iを一層高効率で
形成することができる。
Similar to a-8i, a photoconductive layer having μC-8i can be produced by depositing μC-3i on a conductive support using silane gas as a raw material using a high-frequency glow discharge decomposition method. can. In this case, if the temperature of the support is set higher than when forming a-3i and the high frequency power is also set higher than when forming a-8i, μ
It becomes easier to form C-8i. Furthermore, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, the raw material gas SiH4
By using a gas obtained by diluting a high-order silane gas such as 5i2Hs with hydrogen, μC-8i can be formed with even higher efficiency.

第1図は、この発明に係る光導電性部材を製造する装置
を示す図である。ガスボンベ1.2.3゜4には、例え
ば、夫々SiH+ 、B2 Hs 、H2。
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing a photoconductive member according to the present invention. Gas cylinders 1, 2, and 3°4 contain, for example, SiH+, B2 Hs, and H2, respectively.

CH4等の原料ガスが収容されている。これらのガスボ
ンベ1,2.3.4内のガスは、流量調整用のバルブ6
及び配管7を介して混合器8に供給されるようになって
いる。各ボンベには、圧力計5が設置されており、この
圧力計5を監視しつつ、バルブ6を調整することにより
、混合器8に供給する各原料ガスの流量及び混合比を調
節することができる。混合器8にて混合されたガスは反
応容器9に供給される。反応容器9の底部11には、回
転軸10が鉛直方向の回りに回転可能に取りつけられて
おり、この回転軸10の上端に、円板状の支持台12が
その面を回転軸10に垂直にして固定されている。反応
容器9内には、円筒状の電ti13がその軸中心を回転
軸10の軸中心と一致させて底部11上に設置されてい
る。感光体のドラム基体14が支持台12上にその軸中
心を回転軸10の軸中心と一致させて載置されており、
このドラム基体14の内側には、ドラム基体加熱用のヒ
ータ15が配設されている。電極13とドラム基体14
との間には、高周波電[16が接続されており、電極1
3及びドラム基体14間に高周波電流が供給されるよう
になっている。回転軸10はモータ18により回転駆動
される。反応容器9内の圧力は、圧力計17により監視
され、反応容器9は、ゲートバルブ18を介して真空ポ
ンプ等の適宜の排気手段に連結されている。
A raw material gas such as CH4 is contained. The gas in these gas cylinders 1, 2, 3, 4 is controlled by a valve 6 for adjusting the flow rate.
and is supplied to a mixer 8 via a pipe 7. Each cylinder is equipped with a pressure gauge 5, and by monitoring the pressure gauge 5 and adjusting the valve 6, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 8 can be adjusted. can. The gases mixed in the mixer 8 are supplied to a reaction vessel 9. A rotating shaft 10 is attached to the bottom 11 of the reaction vessel 9 so as to be rotatable around the vertical direction, and a disk-shaped support 12 is attached to the upper end of the rotating shaft 10 with its surface perpendicular to the rotating shaft 10. It has been fixed. Inside the reaction vessel 9, a cylindrical electric Ti 13 is installed on the bottom 11 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10. A drum base 14 of a photoreceptor is placed on a support base 12 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 10,
A heater 15 for heating the drum base is disposed inside the drum base 14. Electrode 13 and drum base 14
A high frequency electric current [16 is connected between the electrode 1
A high frequency current is supplied between the drum base member 14 and the drum base member 14 . The rotating shaft 10 is rotationally driven by a motor 18. The pressure inside the reaction vessel 9 is monitored by a pressure gauge 17, and the reaction vessel 9 is connected via a gate valve 18 to an appropriate evacuation means such as a vacuum pump.

このように構成されるVt置により感光体を製造する場
合には、反応容器9内にドラム基体14を設置した後、
ゲートバルブ19を開にして反応容器9内を約0.1ト
ル(Torr)の圧力以下に排気する。次いで、ボンベ
1.2.3.4から所要の反応ガスを所定の混合比で混
合して反応容器9内に導入する。この場合に、反応容器
9内に導入するガス流量は、反応容器9内の圧力が0.
1乃至1トルになるように設定する。次いで、モータ1
8を作動させてドラム基体14を回転させ、ヒータ15
によりドラム基体14を一定温度に加熱すると共に、高
周波電1ti16によりN極13とドラム基体14との
間に高周波電流を供給して、両者間にグロー放電を形成
する。これにより、ドラム基体14上にマイクロクリス
タリンシリコン(μC−8t)が堆積する。なお、原料
ガス中にN20.NH3、NO2、N2 、CH4。
When manufacturing a photoreceptor using the Vt device configured as described above, after installing the drum base 14 in the reaction vessel 9,
The gate valve 19 is opened to evacuate the inside of the reaction vessel 9 to a pressure of about 0.1 Torr or less. Next, the required reaction gases from the cylinders 1.2.3.4 are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 9. In this case, the gas flow rate introduced into the reaction vessel 9 is such that the pressure inside the reaction vessel 9 is 0.
Set it so that it is 1 to 1 Torr. Next, motor 1
8 to rotate the drum base 14, and
The drum base 14 is heated to a constant temperature, and a high frequency current is supplied between the N pole 13 and the drum base 14 by the high frequency electric current 1ti16 to form a glow discharge between them. As a result, microcrystalline silicon (μC-8t) is deposited on the drum base 14. Note that N20. NH3, NO2, N2, CH4.

C2H4,02ガス等を使用することにより、これらの
元素をμC−8i中に含有させることができる。
These elements can be contained in μC-8i by using C2H4,02 gas or the like.

このように、この発明に係る光導電性部材は従来のa−
3iを使用したものと同様に、クローズドシステムの製
造装置で製造することができるため、人体に対して安全
である。また、この光導電性部材は、耐熱性、耐湿性及
び耐摩耗性が優れて。
In this way, the photoconductive member according to the present invention is similar to the conventional a-
Similar to those using 3i, it can be manufactured using closed system manufacturing equipment, so it is safe for the human body. Additionally, this photoconductive member has excellent heat resistance, moisture resistance, and abrasion resistance.

いるため、長期に亘り繰り返し使用しても劣化が少なく
、寿命が長いという利点がある。さらに、GeH+等の
長波長増感用ガスが不要であるので、廃ガス処理設備を
設ける必要がなく、工業的生産性が著しく高い。
Therefore, it has the advantage of having a long life and less deterioration even after repeated use over a long period of time. Furthermore, since a long wavelength sensitizing gas such as GeH+ is not required, there is no need to provide waste gas treatment equipment, and industrial productivity is extremely high.

μC−8iには、水素を0.1乃至30原子%含有させ
ることが好ましい。これにより、暗抵抗と明抵抗とが調
和のとれたものになり、光導電特性が向上する。μC−
8i層への水素のドーピングは、例えば、グロー放電分
解法による場合は、SiH+及び5i2Hs等のシラン
系の原料ガスと、水素等のキャリアガスとを反応容器内
に導入してグロー放電放電させるか、S i F4及び
SiC+4等のハロゲン化ケイ素と、水素ガスとの混合
ガスを使用してもよいし、また、シラン系ガスと、ハロ
ゲン化ケイ素との混合ガスで反応させてもよい。更に、
グロー放電分解法によらず、スパッタリング等の物理的
な方法によってもμC−8i層を形成することができる
。なお、μC−8iを含む光導電層は、光導電特性上、
1乃至80μmの膜厚を有することが好ましく、更にI
ll厚を5乃至50μmにすることが望ましい。
It is preferable that μC-8i contains 0.1 to 30 at % of hydrogen. As a result, the dark resistance and bright resistance become harmonious, and the photoconductive properties are improved. μC-
For example, when doping hydrogen into the 8i layer by a glow discharge decomposition method, a silane-based raw material gas such as SiH+ and 5i2Hs and a carrier gas such as hydrogen are introduced into a reaction vessel and a glow discharge is performed. A mixed gas of a silicon halide such as , S i F4, and SiC+4 and hydrogen gas may be used, or a mixed gas of a silane gas and a silicon halide may be used. Furthermore,
The μC-8i layer can be formed not only by the glow discharge decomposition method but also by a physical method such as sputtering. Note that the photoconductive layer containing μC-8i has photoconductive properties,
It is preferable to have a film thickness of 1 to 80 μm, and furthermore, I
It is desirable that the ll thickness be 5 to 50 μm.

μC−8iに、窒素N、炭素C及び酸素0から選択され
た少なくとも1種の元素をドーピングすることが好まし
い。これにより、μC−8iの暗抵抗を高くして光導電
特性を高めることができる。
Preferably, μC-8i is doped with at least one element selected from nitrogen (N), carbon (C), and oxygen (0). Thereby, the dark resistance of μC-8i can be increased and the photoconductive properties can be improved.

これらの元素はμC−8iの粒界に析出し、またシリコ
ンダングリングボンドのターミネータとして作用して、
バンド間の禁制帯電に存在する状態密度を減少させ、こ
れにより、暗抵抗が高くなると考えられる。
These elements precipitate at the grain boundaries of μC-8i and act as terminators for silicon dangling bonds,
It is thought that the density of states existing in the forbidden charge between bands is reduced, thereby increasing the dark resistance.

この発明においては、導電性支持体と光導電層との間に
、障壁層を配設する。この障壁層は、導電性支持体と、
光導電層との間の電荷の流れを抑制することにより、光
導電性部材の表面における電荷の保持機能を高め、光導
電性部材の帯電能を高める。カールソン方式においては
、感光体表面に正帯電させる場合には、支持体側から光
導電層へ電子が注入されることを防止するために、障壁
層をp型にする。一方、感光体表面に負帯電させる場合
には、支持体側から光導電層へ正孔が注入されることを
防止するために、障壁層をn型にする。また、障壁層と
して、絶縁性の躾を支持体の上に形成することも可能で
ある。障壁層はμC−8iを使用して形成してもよいし
、a−8iを使用して障壁層を構成することも可能であ
る。
In this invention, a barrier layer is provided between the conductive support and the photoconductive layer. This barrier layer comprises a conductive support and
By suppressing the flow of charge between the photoconductive layer and the photoconductive layer, the charge retention function on the surface of the photoconductive member is enhanced, and the charging ability of the photoconductive member is enhanced. In the Carlson method, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer is made p-type in order to prevent electrons from being injected from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged, the barrier layer is made n-type in order to prevent holes from being injected from the support side to the photoconductive layer. It is also possible to form an insulating layer on the support as a barrier layer. The barrier layer may be formed using μC-8i, or may be formed using a-8i.

μC−8i及びa−3iをp型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素B1アルミニ
ウムA1、ガリウムGa、インジウムIn、及びタリウ
ムT1等をドーピングすることが好ましく、μC−8i
層をn型にするためには、周期律表の第V族に属する元
素、例えば、窒素N1リンP1ヒ素As、アンチモンS
b1及びビスマス3i等をドーピングすることが好まし
い。
In order to make μC-8i and a-3i p-type, it is preferable to dope them with elements belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B1 aluminum A1, gallium Ga, indium In, and thallium T1. , μC-8i
In order to make the layer n-type, an element belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen N1 phosphorus P1 arsenic As, antimony S
It is preferable to dope with b1 and bismuth 3i.

このn型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移動することが防止される
This n-type impurity or doping with n-type impurities prevents charges from moving from the support side to the photoconductive layer.

光導電層の上に表面層を設けることが好ましい。Preferably, a surface layer is provided on top of the photoconductive layer.

光導電層のμC−3iは、その屈折率が3乃至4と比較
的大きいため、表面での光反射が起きやすい。このよう
な光反射が生じると、光導電層に吸収される光量の割合
いが低下し、光損失が大きくなる。このため、表面層を
設けて反射を防止することが好ましい。また、表面層を
設けることにより、光導電層が損傷から保護される。さ
らに、表面層を形成することにより、帯電能が向上し、
表面に電荷がよくのるようになる。表面層を形成する材
料としては、5i9N4 、SiO2,5iC1AI2
03 、a−8iN;H,a−8iO:H。
Since μC-3i of the photoconductive layer has a relatively large refractive index of 3 to 4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer decreases, increasing optical loss. For this reason, it is preferable to provide a surface layer to prevent reflection. Also, by providing the surface layer, the photoconductive layer is protected from damage. Furthermore, by forming a surface layer, charging ability is improved,
The surface becomes more charged. Materials forming the surface layer include 5i9N4, SiO2, 5iC1AI2
03, a-8iN;H, a-8iO:H.

及びa−8iC:H等の無機化合物及びポリ塩化ビニル
及びポリアミド等の有機材料がある。
and a-8iC:H, and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

電子写真感光体に適用される光導電性部材としては、上
述のごとく、支持体上に障壁層を形成し、この障壁層上
に光導電層を形成し、この光導電層の上に表面層を形成
したものに限らず、支持体の上に電荷輸送11(CTL
)を形成し、電荷輸送層の上に電荷発生層(CGL)を
形成した機能分離型の形態に構成することもできる。こ
の場合に、電荷輸送層と、支持体との間に、障壁層を設
けてもよい。電荷発生層は、光の照射によりキャリアを
発生する。この電荷発生層は、層の一部又は全部がマイ
クロクリスタリンシリコンμc−s iでできており、
そ゛の厚さは0.1乃至10μmにすることが好ましい
。電荷輸送層は電荷発生層で発生したキャリアを島効率
で支持体側に到達させる層であり、このため、キャリア
の寿命が長く、移動度が大きく輸送性が高いことが必要
である。電荷輸送層はa−8iで形成してもよく、また
μC−8iで形成してもよい。暗抵抗を高めて帯電能を
向上させるために、周期律表の第■族又は第V族のいず
れか一方に属する元素をライトドーピングすることが好
ましい。また、帯電能を一層向上させ、電荷輸送層と電
荷発生層との両機能を持たせるために、C,N、Oの元
素のうち、いずれか1種以上を含有させてもよい。電荷
輸送層は、その膜厚が薄過ぎる場合及び厚過ぎる場合は
その機能を充分に発揮しない。このため、電荷輸送層の
厚さは3乃至80μmであることが好ましい。障壁層を
設けることにより、電荷輸送層と電荷発生層とを有する
機能分離型の光導電性部材においても、その電荷保持機
能を高め、帯電能を向上させることができる。なお、障
壁層をp型にするか、又はn型にするかは、その帯電特
性に応じて決定される。この陣l1層は、a−3iで形
成してもよく、またμC−8iで形成してもよい。
As described above, a photoconductive member applied to an electrophotographic photoreceptor is formed by forming a barrier layer on a support, a photoconductive layer on this barrier layer, and a surface layer on this photoconductive layer. charge transport 11 (CTL) on the support.
), and a charge generation layer (CGL) is formed on the charge transport layer to form a functionally separated structure. In this case, a barrier layer may be provided between the charge transport layer and the support. The charge generation layer generates carriers upon irradiation with light. This charge generation layer is made of microcrystalline silicon μC-SI in part or in whole,
The thickness thereof is preferably 0.1 to 10 μm. The charge transport layer is a layer that allows carriers generated in the charge generation layer to reach the support side with island efficiency, and therefore, the carriers must have a long life, high mobility, and high transportability. The charge transport layer may be formed of a-8i or μC-8i. In order to increase dark resistance and improve chargeability, it is preferable to light-dope with an element belonging to either Group Ⅰ or Group V of the periodic table. Furthermore, in order to further improve the charging ability and to have the functions of both a charge transport layer and a charge generation layer, one or more of the elements C, N, and O may be contained. If the charge transport layer is too thin or too thick, it will not perform its function satisfactorily. Therefore, the thickness of the charge transport layer is preferably 3 to 80 μm. By providing a barrier layer, even in a functionally separated photoconductive member having a charge transport layer and a charge generation layer, its charge retention function can be enhanced and charging ability can be improved. Note that whether the barrier layer is p-type or n-type is determined depending on its charging characteristics. This layer I1 may be formed of a-3i or μC-8i.

この出願に係る発明の特徴は、光導電層において、マイ
クロクリスタリンシリコンの領域と、アモルファスシリ
コンの領域とが混在しており、マイクロクリスタリンシ
リコンの領域が光導電層に占める体積比率が50乃至9
0%であることにある。μC−8iの体積比率は光導電
層の結晶化度に対応する。従って、μC−81の体積比
率が高くなる程、結晶化度が上昇し、μC−8i単体に
近づく。しかし、μC−8を単体は暗抵抗がa−Siよ
り若干低く、このため、帯電能がa−8iより低い。こ
の帯電能を充分に確保するために、μC−8iの体積比
率は90%以下にすることが必要である。一方、可視光
に対する光感度はa−8iが高いが、a−3iは光学的
エネルギギャップが大きいため、可視光より長波長であ
ってエネルギが小さい近赤外光に対する光感度が低い。
A feature of the invention according to this application is that in the photoconductive layer, a region of microcrystalline silicon and a region of amorphous silicon coexist, and the volume ratio of the region of microcrystalline silicon to the photoconductive layer is 50 to 9.
The reason is that it is 0%. The volume fraction of μC-8i corresponds to the crystallinity of the photoconductive layer. Therefore, as the volume ratio of μC-81 increases, the degree of crystallinity increases and approaches μC-8i alone. However, the dark resistance of μC-8 alone is slightly lower than that of a-Si, and therefore the charging ability is lower than that of a-8i. In order to sufficiently ensure this charging ability, the volume ratio of μC-8i needs to be 90% or less. On the other hand, a-8i has high photosensitivity to visible light, but since a-3i has a large optical energy gap, it has low photosensitivity to near-infrared light, which has a longer wavelength and lower energy than visible light.

ところが、μC−S +は光学的エネルギギャップが小
さいので近赤外光の領域までも充分な感度を有する。こ
のため、感光体が広い波長領域に亘って高い光感度を有
するためには、μC−8iの体積比率が高い方がよい。
However, since μC-S + has a small optical energy gap, it has sufficient sensitivity even in the near-infrared region. Therefore, in order for the photoreceptor to have high photosensitivity over a wide wavelength range, it is better for the volume ratio of μC-8i to be high.

このように、μC−8iにより広い波長領域で光感度を
高めるために、μC−8iの体積比率は50%以上であ
ることが必要である。
In this way, in order to increase the photosensitivity in a wider wavelength range by μC-8i, the volume ratio of μC-8i needs to be 50% or more.

次に、この発明の実施例について説明する。Next, embodiments of the invention will be described.

支11上 導電性基板としてのAi製トドラム洗浄し乾燥させた後
、反応容器内を拡散ポンプで約0.1トル以下に排気し
つつ、400℃に加熱した。次いで、200SCCMの
流量のSiH+ガス、このS i H4ガス流量に対す
る流量比がlX10’の82 Hsガス、及び1100
5CCのCH4ガスを混合して反応容器に供給した。モ
ータ18によりAI製トドラム回転させつつ、13.5
6MH2で300ワツトの高周波電力を印加してグロー
放電させた。反応容器内の圧力は、1トルであり、15
分間成膜を続けた結果、第2図に示すように、支持体2
1の上に2.1μmの障壁層21が形成された。その後
、S i H4の流量を50O8CCM、水素ガスの流
山を15008CCMになるように設定し、反応圧力が
0.8トル、高周波電力がIKWで4時間成膜した。こ
れにより、10μmの光導電1124を形成した。次い
で、反応容器内に300SCCMのSiH+ガス及び1
50SCCMのCH4ガスを導入し、その圧力を1トル
に設定した。この状態で200ワツトの高周波電力を印
加し、15分間成膜して、1μmの表面層25を形成し
た。この実施例1に係る感光体の光導電層24の結晶化
度と結晶粒径をXJ1回折法により測定した。その結果
、結晶化度が50%、結晶粒径が約60人であった。
After washing and drying the aluminum drum serving as the conductive substrate on the support 11, the reaction vessel was heated to 400° C. while evacuating the inside of the reaction vessel to about 0.1 torr or less using a diffusion pump. Then, SiH+ gas at a flow rate of 200 SCCM, 82 Hs gas at a flow rate ratio of lX10' to this Si H4 gas flow rate, and 1100 SCCM.
5 CC of CH4 gas was mixed and supplied to the reaction vessel. While rotating the AI todrum by the motor 18, 13.5
A glow discharge was caused by applying a high frequency power of 300 watts at 6MH2. The pressure inside the reaction vessel is 1 torr and 15
As a result of continuing film formation for several minutes, as shown in FIG.
A barrier layer 21 of 2.1 μm was formed on top of 1. Thereafter, the flow rate of S i H4 was set to 5008 CCM, the flow rate of hydrogen gas was set to 15008 CCM, the reaction pressure was 0.8 Torr, and the high frequency power was IKW to form a film for 4 hours. This formed a photoconductor 1124 with a thickness of 10 μm. Then, 300 SCCM of SiH+ gas and 1
50 SCCM of CH4 gas was introduced and the pressure was set at 1 Torr. In this state, a high frequency power of 200 watts was applied to form a film for 15 minutes to form a surface layer 25 of 1 μm. The crystallinity and crystal grain size of the photoconductive layer 24 of the photoreceptor according to Example 1 were measured by XJ1 diffraction method. As a result, the crystallinity was 50% and the crystal grain size was about 60%.

11L 実施例2においては、第3図に示すように、障壁層22
とμC−8iからなる光導電層24との間に第2光導電
層23を形成した点が実施例1と異なる。この第2光導
電否23は、a−8iからなり、その成膜条件は、Si
H+ガスの流量が3008CCMであり、反応圧力が1
.2トル、高周波電力が250ワツトである。他の成膜
条件は実施例1と同様である。また、光導電層の結晶化
度は50%であり、結晶粒径は約60人であった。
11L In Example 2, as shown in FIG.
This example differs from Example 1 in that a second photoconductive layer 23 is formed between the photoconductive layer 24 made of μC-8i and the photoconductive layer 24 made of μC-8i. This second photoconductive film 23 is made of a-8i, and the film forming conditions are as follows:
The flow rate of H+ gas is 3008 CCM, and the reaction pressure is 1
.. 2 Torr, high frequency power is 250 Watts. Other film forming conditions are the same as in Example 1. Further, the crystallinity of the photoconductive layer was 50%, and the crystal grain size was about 60%.

1m 実施例2のμC−3iからなる光導電層24の成膜条件
を変更し、他の層の成膜条件は実施例2と同様にして、
光導電層の結晶化度及び結晶粒径が以下に示すような感
光体を成膜した。なお、下記実施例4及び5もこの実施
例3と同様である。
1m The film-forming conditions for the photoconductive layer 24 made of μC-3i in Example 2 were changed, and the film-forming conditions for the other layers were the same as in Example 2.
A photoreceptor was formed in which the crystallinity and crystal grain size of the photoconductive layer were as shown below. Note that Examples 4 and 5 below are also similar to Example 3.

結晶化度 65% 結晶粒径 約62人 支ii先 結晶化度 85% 結晶粒径 62人 結晶化度 95% 結晶粒径 約65% ル上j− 実施例1乃至5と対比するために、実施例1のμC−8
iからなる光導電層24の替りに、a−8’+で光導電
層を形成した感光体を製造した。このa−3iからなる
光導電層の成膜条件は、S i H4ガス流量が300
8CCM、反応圧力が0.9トル、高周波電力が200
ワツトである。
Crystallinity: 65% Grain size: Approx. 62 Crystallinity: 85% Grain size: 62 Crystallinity: 95% Grain size: Approx. 65% For comparison with Examples 1 to 5, μC-8 of Example 1
A photoreceptor was manufactured in which the photoconductive layer 24 was made of a-8'+ instead of the photoconductive layer 24 made of i. The film forming conditions for the photoconductive layer made of this a-3i are as follows: S i H4 gas flow rate is 300
8CCM, reaction pressure 0.9 Torr, high frequency power 200
That's Watsuto.

第4図は、この実施例1乃至5及び比較例の感光体の分
光感度を示す。この第4図から明らかなように、a−3
iからなる光導電層を有する比較例の場合には、長波長
側の感度が低いが、実施例1乃至5は、μc−8iを含
むから700nmの長波長においても優れた光感度を有
する。従って、この実施例1乃至5は、発振波長が79
0nmの半導体レーザを使用したレーザプリンタ用の感
光体として有効である。第4図から明らかなように、長
波長側の分光感度は結晶化度が高くなるにつれて上昇し
ており、半導体レーザの発振波長で極めて高い分光感度
を有するためには、結晶化度が60%以上であることが
好ましい。
FIG. 4 shows the spectral sensitivities of the photoreceptors of Examples 1 to 5 and Comparative Example. As is clear from this Figure 4, a-3
In the case of the comparative example having a photoconductive layer consisting of i, the sensitivity on the long wavelength side is low, but Examples 1 to 5 have excellent photosensitivity even at a long wavelength of 700 nm because they contain μc-8i. Therefore, in Examples 1 to 5, the oscillation wavelength is 79
It is effective as a photoreceptor for a laser printer using a 0 nm semiconductor laser. As is clear from Figure 4, the spectral sensitivity on the long wavelength side increases as the degree of crystallinity increases, and in order to have extremely high spectral sensitivity at the oscillation wavelength of a semiconductor laser, the degree of crystallinity must be 60%. It is preferable that it is above.

次に、このように製造された実施例1乃至5及び比較例
の感光体の電子写真特性の評価試験を実施した。その結
果を第1表に示す。
Next, an evaluation test was conducted on the electrophotographic characteristics of the photoreceptors of Examples 1 to 5 and Comparative Example manufactured in this manner. The results are shown in Table 1.

第1表 但し、表面電位は+6kVを印加した場合である。Table 1 However, the surface potential is when +6 kV is applied.

第1表から明らかなように、μC−8iを光導電層とし
て使用した実施例1乃至5の場合は、a −81からな
る光導電層を有する比較例に比して光感度が高い。しか
し、光導電層における結晶化度が高くなるにつれて、帯
電能が低下し、結晶化度が90%を超えると、著しく低
下して実用に供し得なくなる。このため、結晶化度、又
はμC−8iの体積比率は90%以下、好ましくは80
%以下であることが必要である。
As is clear from Table 1, Examples 1 to 5 in which μC-8i was used as the photoconductive layer had higher photosensitivity than the comparative example having the photoconductive layer made of a-81. However, as the degree of crystallinity in the photoconductive layer increases, the charging ability decreases, and when the degree of crystallinity exceeds 90%, the degree of crystallinity decreases significantly and becomes unusable. Therefore, the crystallinity or the volume ratio of μC-8i is 90% or less, preferably 80% or less.
% or less.

各実施例及び比較例の感光体をレーザプリンタに搭載し
て画像の良否の判定試験を実施した。その結果を第2表
に示す。
The photoreceptors of each example and comparative example were mounted on a laser printer, and a test was conducted to determine the quality of the images. The results are shown in Table 2.

なお、複写枚数の単位は、方杖であり、表中、◎は画像
情況が極めて良好である場合、Oは良好である場合、△
はやや不良である場合、×は不良である場合である。こ
の第2表から明らかなように、この発明の実施例に係る
感光体の場合は、複写枚数が12万枚を越えても画像が
良好であり、比較例の感光体よりも寿命が極めて長いこ
とが実証された。
Note that the unit of the number of copies is the square, and in the table, ◎ indicates that the image condition is extremely good, O indicates that the image condition is good, and △.
indicates that the product is slightly defective, and × indicates that it is defective. As is clear from Table 2, in the case of the photoreceptor according to the example of the present invention, the image is good even when the number of copies exceeds 120,000, and the lifespan is extremely longer than that of the photoreceptor of the comparative example. This has been proven.

[発明の効果] この発明によれば、高抵抗で帯電特性が優れており、ま
た可視光及び近赤外光1tUにおいて高光感度特性を有
し、製造が容易であり、実用性が高い光導電性部材を得
ることができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, the photoconductive material has high resistance, excellent charging characteristics, high photosensitivity characteristics in visible light and near-infrared light of 1 tU, is easy to manufacture, and has high practicality. A sexual member can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明に係る光導電性部材の製造装置を示す
図、第2図及び第3図はこ゛の発明の実施例に係る光導
電性部材を示す断面図、第4図はこの発明の効果を示す
グラフ図である。 1.2.3.4:ボンベ、5;圧力計、6;バルブ、7
;配管、8:混合器、9:反応容器、10;回転軸、1
3;電極、14;ドラム基体、15:ヒータ、16;高
周波電源、19;ゲートバルブ、21;支持体、22;
障壁層、23;光導電層、24;表面層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 費舅
FIG. 1 is a diagram showing an apparatus for manufacturing a photoconductive member according to the present invention, FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing a photoconductive member according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a diagram showing a photoconductive member manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. It is a graph diagram showing the effect. 1.2.3.4: Cylinder, 5; Pressure gauge, 6; Valve, 7
; Piping, 8: Mixer, 9: Reaction container, 10; Rotating shaft, 1
3; Electrode, 14; Drum base, 15: Heater, 16; High frequency power supply, 19; Gate valve, 21; Support, 22;
Barrier layer, 23; photoconductive layer, 24; surface layer. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と、この導電性支持体の上に形成さ
れた障壁層と、この障壁層の上に形成された光導電層と
、を有する電子写真感光体において、前記光導電層は、
マイクロクリスタリンシリコンの領域とアモルファスシ
リコンの領域とが混在しており、このマイクロクリスタ
リンシリコンの領域が光導電層に占める体積比率が50
乃至90%であることを特徴とする電子写真感光体。
(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support, a barrier layer formed on the conductive support, and a photoconductive layer formed on the barrier layer, the photoconductive layer teeth,
The microcrystalline silicon region and the amorphous silicon region coexist, and the volume ratio of the microcrystalline silicon region to the photoconductive layer is 50%.
An electrophotographic photoreceptor characterized in that the electrophotographic photoreceptor is 90% to 90%.
(2)前記光導電層は、水素を含有することを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の電子写真感光体。
(2) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the photoconductive layer contains hydrogen.
(3)前記光導電層は、周期律表の第III族又は第V族
に属する元素から選択された少なくとも一種の元素を含
有することを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2
項に記載の電子写真感光体。
(3) The photoconductive layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III or Group V of the periodic table.
The electrophotographic photoreceptor described in .
(4)前記障壁層は、炭素、酸素及び窒素から選択され
た少なくとも一種の元素を含有するマイクロクリスタリ
ンシリコン又はアモルファスシリコンで形成されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項のい
ずれか1項に記載の電子写真感光体。
(4) Claims 1 to 3, characterized in that the barrier layer is formed of microcrystalline silicon or amorphous silicon containing at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen. The electrophotographic photoreceptor according to any one of the above items.
(5)前記障壁層は、周期律表の第III族又は第V族に
属する元素から選択された少なくとも一種の元素を含有
するマイクロクリスタリンシリコン又はアモルファスシ
リコンで形成されていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項乃至第4項のいずれか1項に記載の電子写真感
光体。
(5) A patent characterized in that the barrier layer is formed of microcrystalline silicon or amorphous silicon containing at least one element selected from elements belonging to Group III or Group V of the periodic table. An electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 4.
(6)前記光導電層は、ハロゲン、炭素、酸素及び窒素
から選択された少なくとも一種の元素を含有することを
特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第5項のいずれか
1項に記載の電子写真感光体。
(6) The photoconductive layer contains at least one element selected from halogen, carbon, oxygen, and nitrogen, according to any one of claims 1 to 5. electrophotographic photoreceptor.
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