JPS63241554A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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Publication number
JPS63241554A
JPS63241554A JP62076710A JP7671087A JPS63241554A JP S63241554 A JPS63241554 A JP S63241554A JP 62076710 A JP62076710 A JP 62076710A JP 7671087 A JP7671087 A JP 7671087A JP S63241554 A JPS63241554 A JP S63241554A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrophotographic photoreceptor
thin films
silicon thin
photoconductive layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP62076710A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP62076710A priority Critical patent/JPS63241554A/en
Publication of JPS63241554A publication Critical patent/JPS63241554A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To obtain an electrophotographic sensitive body good in carrier transferability and resistivity, and superior in electric chargeability characteristics by using superlattice structure formed by laminating thin films different in optical band gap from each other for a photoconductive layer. CONSTITUTION:The electrophotographic sensitive body is composed of a conductive supporting body 1 and the photoconductive layer 3 composed of an electric charge generating layer 6 formed by alternately laminating 2 kinds of microcrystalline silicon thin films different in crystallization degree from each other, and a charge retaining layer 5 formed by alternately laminating microcrystalline silicon thin films and amorphous silicon thin films containing at least one of C, O, and N, and each of said microcrystalline thin films being different in crystallization degree from each other in the film thickness direction, thus permitting the photoconductive layer to be enhanced in carrier transferability and extended in carrier life, and sensitivity of the photosensitive body to be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, dark decay characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, etc.

(従来の技術) 水素(H)を含有するアモルファスシリコン(以下、a
−8i  :Hと略す)は、近年、光電変換材料として
注目されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応
用されている。
(Prior art) Amorphous silicon (hereinafter referred to as a) containing hydrogen (H)
-8i:H) has recently attracted attention as a photoelectric conversion material, and has been applied to photoreceptors in electrophotographic processes as well as solar cells, thin film transistors, image sensors, and the like.

従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、Cd S、Zn O,Se 、若しくは5e−Te等
の無機材料又はポリ−N−ビニルカルバゾール(PVC
z )若しくは1〜リニトロフルオレノン<TNF)等
の有機材料が使用されていた。
Conventionally, inorganic materials such as CdS, ZnO, Se, or 5e-Te, or poly-N-vinylcarbazole (PVC) have been used as materials constituting the photoconductive layer of electrophotographic photoreceptors.
Organic materials such as z ) or 1 to linitrofluorenone < TNF) have been used.

しかしながら、a−8i:Hはこれらの無機材料又は有
機材料に比して、無公害物質であるため回収処理の必要
がないこと、可視光領域で高い分光grnを有すること
、並びに表面高度が高く耐摩耗性及び耐衝撃性が優れて
いること等の利点を有している。このため、a−8i:
Hは電子写真プロセスの感光体材料として注目されてい
る。
However, compared to these inorganic or organic materials, a-8i:H is a non-polluting substance and does not require recovery treatment, has a high spectral grn in the visible light region, and has a high surface altitude. It has advantages such as excellent wear resistance and impact resistance. Therefore, a-8i:
H is attracting attention as a photoreceptor material for electrophotographic processes.

このa−8i  :Hは、カールソン方式に基づく感光
体材料として検討が進められているが、この場合、感光
体特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。
This a-8i:H is being studied as a photoreceptor material based on the Carlson method, but in this case, high resistance and photosensitivity are required as photoreceptor characteristics.

しかしながら、この両特性を単一の感光体で満足させる
ことが困難であるため、光導電層と導電性支持体との間
に障壁層を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設
けた積層型の構造にすることにより、このような要求を
満足させている。
However, it is difficult to satisfy both of these characteristics with a single photoreceptor, so a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. These requirements are met by creating a multilayer structure.

(発明が解決しようとする問題点) ところで、a−8i:Hは、通常、シラン系ガスを使用
したグロー放電分解法により形成されるが、この際に、
a−3i  : Hg3中に水素が取り込まれ、水素量
の差により電気的及び光学的特性が大きく変動する。即
ち、a−8t  :H膜に侵入する水素の量が多くなる
と、光学的バンドギャップが大きくなり、a−8i:H
の抵抗が轟くなるが、それにともない、長波長光に対す
る光感度が低下してしまうので、例えば、半導体レーザ
を搭載したレーザど−ムプリンタに使用することが困難
である。また、a−3i  :HIl!中の水素の含有
量が多くなると、成膜条件によって、 (3iH2)n及びSiH2等の結合構造を有するもの
が膜中で大部分の領域を占める場合がある。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, a-8i:H is usually formed by a glow discharge decomposition method using a silane gas, but at this time,
a-3i: Hydrogen is incorporated into Hg3, and the electrical and optical properties vary greatly due to the difference in the amount of hydrogen. That is, as the amount of hydrogen entering the a-8t:H film increases, the optical bandgap increases, and the a-8i:H film increases.
As the resistance increases, the photosensitivity to long wavelength light decreases, making it difficult to use, for example, in a laser beam printer equipped with a semiconductor laser. Also, a-3i:HIl! When the hydrogen content in the film increases, depending on the film forming conditions, those having bonding structures such as (3iH2)n and SiH2 may occupy most of the area in the film.

そうすると、ボイドが増加し、シリコンのダングリング
ボンドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真
感光体として使用不能になる。逆に、a−3i:H中に
取込まれる水素の量が低下すると、光学的バンドギャッ
プが小さくなり、その抵抗が小さくなるが、長波長光に
対する光感度が増加する。しかし、水素含有量が少ない
と、シリコンのダングリングボンドと結合してこれを減
少させるべき水素が少なくなる。このため、発生するキ
ャリアの移vJ度が低下し、野命が短くなると共に、光
導電特性が劣化してしまい、電子写真感光体として使用
し難いものとなる。
In this case, voids increase and silicon dangling bonds increase, resulting in deterioration of photoconductive properties and rendering the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, lowering the amount of hydrogen incorporated into a-3i:H reduces the optical band gap and its resistance, but increases the photosensitivity to long wavelength light. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce the dangling bonds of silicon. For this reason, the mobility of the generated carriers is lowered, the lifetime is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

このように、電子写真感光体の光導電層を単一のa−3
i  :HWJのみで構成したのでは、a−8i:8層
の製造条件によって特性が大きく変化し、望ましい特性
が得られないという問題がある。
In this way, the photoconductive layer of the electrophotographic photoreceptor is formed into a single a-3
If it is composed only of i:HWJ, there is a problem that the characteristics change greatly depending on the manufacturing conditions of the a-8i:8 layer, and desired characteristics cannot be obtained.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって、
帯電能が優れており、残留電位が低く、近赤外領域まで
の広い波長領域に日って感光が高く、基板との密着性が
良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and
To provide an electrophotographic photoreceptor that has excellent charging ability, low residual potential, high sensitivity to a wide wavelength range up to the near infrared region, good adhesion to a substrate, and excellent environmental resistance. The purpose is to

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明者は、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体の
光導電層を電荷保持層と電荷発生層とにより構成し、そ
れぞれに所定の複数の半導体膜の積層即ち超格子構造の
領域を形成することにより、上記目的を達成し得ること
を見出し、本発明を完成するに至った。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) As a result of various studies, the present inventor has constructed a photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor by a charge retention layer and a charge generation layer, and has developed a method for each of them. The inventors have discovered that the above object can be achieved by stacking a plurality of predetermined semiconductor films, that is, by forming a superlattice structure region, and have completed the present invention.

即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体と光導
電層とを具備する電子写真感光体であって、前記光導電
層は電荷発生層と電荷保持層とから構成され、前記電荷
発生層は、結晶度が異なる二種類の微結晶シリコンrg
JIIaを交互に積層して構成され、前記電荷保持層は
、炭素、酸素および窒素から選ばれた元素の少なくとも
一種を含む非晶質シリコン薄膜と微結晶シリコン″’;
4 M!とを交互に積層して構成され、かつ前記微結晶
シリコン1ilfi!の結晶化度が、層厚方向にM#々
ごとに変化していることを特徴とする。
That is, the electrophotographic photoreceptor of the present invention is an electrophotographic photoreceptor comprising an electrically conductive support and a photoconductive layer, the photoconductive layer comprising a charge generation layer and a charge retention layer, The generation layer consists of two types of microcrystalline silicon rg with different crystallinity.
The charge retention layer is composed of an amorphous silicon thin film containing at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen and microcrystalline silicon'';
4 M! and the microcrystalline silicon 1ilfi! It is characterized in that the degree of crystallinity changes for each M# in the layer thickness direction.

本発明において用いる微結晶シリコン(μC−8i)は
、粒径が約数十オングストロームの微結晶化したシリコ
ンと非晶質シリコンとの混合相により形成されているも
のと考えられ、以下のような物性上の特徴を有している
。第一に、X線回折測定では2θが28〜28.5°付
近にある結晶回折パターンを示し、ハローのみが現れる
無定形のa−3iから明確に区別される。第二に、μC
−3iの暗抵抗は1010Ω・1以上に調整することが
でき、暗抵抗が105Ω・αのポリクリスタリンシリコ
ンからも明確に区別される。
The microcrystalline silicon (μC-8i) used in the present invention is thought to be formed from a mixed phase of microcrystalline silicon and amorphous silicon with a grain size of about several tens of angstroms, and has the following properties. It has physical characteristics. First, X-ray diffraction measurements show a crystal diffraction pattern with 2θ in the vicinity of 28 to 28.5°, which is clearly distinguishable from amorphous a-3i in which only a halo appears. Second, μC
The dark resistance of −3i can be adjusted to 10 10 Ω·1 or more, and is clearly distinguished from polycrystalline silicon, which has a dark resistance of 10 5 Ω·α.

本発明で用いる上記μc−8iの光学的バンドギャップ
(E9°)は、例えば1.550 Vとするのが望まし
い。しかし、一定の範囲で任意に設定することができる
。望ましいEg’を得るため夫々に所定量の水素を添加
し、μc−8i:Hとして使用するのが好ましい。これ
により、シリコンのダングリングボンドが?li償され
、暗抵抗と明抵抗の調和がとれ、光導電特性が向上する
The optical bandgap (E9°) of the μc-8i used in the present invention is preferably 1.550 V, for example. However, it can be set arbitrarily within a certain range. In order to obtain a desired Eg', it is preferable to add a predetermined amount of hydrogen to each of them and use them as μc-8i:H. This results in silicon dangling bonds? li is compensated, dark resistance and bright resistance are balanced, and photoconductive properties are improved.

N荷発生層およびM荷保持層を構成する微結晶シリコン
薄膜の結晶化度は、好ましくは60〜90%、より好ま
しくは60〜80%である。
The crystallinity of the microcrystalline silicon thin film constituting the N charge generation layer and the M charge retention layer is preferably 60 to 90%, more preferably 60 to 80%.

電荷保持層を構成する非晶質シリコン薄膜に含まれる炭
素、酸素、窒素の濃度は、好ましくは0.1〜40原子
%、より好ましくは0.5〜b子%である。
The concentration of carbon, oxygen, and nitrogen contained in the amorphous silicon thin film constituting the charge retention layer is preferably 0.1 to 40 atomic %, more preferably 0.5 to atomic %.

(作 用) 本発明の電子写真感光体では、光導電層に前記超格子構
造が設けられているため、この領域では発生したキャリ
アの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につい
ては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子構
造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる吊子効果
であることは疑いがなく、これは特に超格子効果といわ
れる。
(Function) In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, since the photoconductive layer is provided with the superlattice structure, the lifetime of carriers generated in this region is long and the mobility is also high. Although the theory has not yet been fully established, there is no doubt that the effect is due to the periodic well potential characteristic of the superlattice structure, and this is particularly referred to as the superlattice effect.

こうして光導電層でのキャリアの移動度が大きくなり、
またキャリアの寿命が良くなることによって電子写真感
光体の感度は著しく向上することになる。
In this way, carrier mobility in the photoconductive layer increases,
Furthermore, the sensitivity of the electrophotographic photoreceptor is significantly improved by improving the life of the carrier.

(実施例) 第1図は、本発明の一実施例に係る電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体1
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。
(Example) FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional structure of an electrophotographic photoreceptor according to an example of the present invention. In the figure, conductive support 1
A barrier layer 2 is formed thereon, and a photoconductive layer 3 consisting of a charge retention layer 5 and a charge generation layer 6 is formed thereon.

また、電荷発生層6の上に表面層4が形成されている。Further, a surface layer 4 is formed on the charge generation layer 6.

なお、電荷保持層5および電荷発生層6はいずれも超格
子IM造を有している。
Note that both the charge retention layer 5 and the charge generation layer 6 have a superlattice IM structure.

以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
り詳細に説明する。
Hereinafter, the structure of the electrophotographic photoreceptor shown in FIG. 1 will be explained in more detail.

S電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
The S-conductive support 1 usually consists of a drum made of aluminum.

障壁12はμc−3iやa−8i:Hを用いて形成して
もよく、またa−BN:H(窒素および水素を添加した
アモルファス硼素)を使用してもよい。更に、絶縁性の
膜を用いてもよい。例えば、μc−3i:H及びa−3
i  :l−1に炭素C1窒素N及び酸素Oから選択さ
れた元素の一種以上を含有させることにより、^抵抗の
絶縁性障壁層を形成することができる。障壁層2の膜厚
は100人〜10μmが好ましい。
The barrier 12 may be formed using μc-3i or a-8i:H, or a-BN:H (amorphous boron to which nitrogen and hydrogen are added). Furthermore, an insulating film may be used. For example, μc-3i:H and a-3
By containing one or more elements selected from carbon C1 nitrogen N and oxygen O in i:1-1, a resistive insulating barrier layer can be formed. The thickness of the barrier layer 2 is preferably 100 to 10 μm.

上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯雷能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せた電荷の保持能力を低下させないために、障壁Fm2
をP型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電さ
せる場合には障壁層2をP型とし、表面電荷を中和する
電子が電荷発生層に注入されるのを防止する。
The barrier layer 2 is formed to suppress the flow of charges between the conductive support 1 and the charge generation layer 5, thereby increasing the charge retention function of the photoreceptor surface and increasing the lightning charging ability of the photoreceptor. It is something that Therefore, when forming a Carlson type photoreceptor using a semiconductor layer as a barrier layer, the barrier Fm2
is P type or N type. That is, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer 2 is made of P type to prevent electrons that neutralize the surface charge from being injected into the charge generation layer.

逆に表面に負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁層2から注入されるキャリアは光の入
射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイズ
となるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止す
ることは感度の向上をもたらす。なお、μc−8i:H
やa−8i  :HをP型部するためには、周期律表の
第■族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウムA℃
、ガリウムGa、インジウムIn1及びタリウムTQ等
をドーピングすることが好ましい。また、μC−3i 
 : )−19a−8i  : HをN型にするために
は周期律表の第V族に属する元素、例えば窒素、燐P1
砒素AS、アンチモンSb、及びビスマス13i等をド
ーピングすることを好ましい。
Conversely, when the surface is negatively charged, the barrier layer 2 is made of N type,
This prevents holes that neutralize surface charges from being injected into the charge generation layer. Since carriers injected from the barrier layer 2 become noise with respect to carriers generated in the charge generation layer 6 upon incidence of light, preventing carrier injection as described above improves sensitivity. In addition, μc-8i:H
or a-8i: In order to make H into a P-type part, an element belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B, aluminum A℃
, gallium Ga, indium In1, thallium TQ, etc. are preferably doped. Also, μC-3i
: )-19a-8i: In order to make H type N-type, an element belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen, phosphorus P1
It is preferable to dope with arsenic AS, antimony Sb, bismuth 13i, or the like.

電荷発生層6は、光の入射によりキャリアを発生し、こ
のキャリアは、一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷保持H5内を走行して導
電性支持体1に到達する。
The charge generation layer 6 generates carriers upon incidence of light, and one polarity of these carriers neutralizes the charges on the surface of the photoreceptor, and the other carriers travel within the charge retention H5 and become conductive. The support 1 is reached.

電荷保持M5および電荷発生層6は、2種類の薄膜を互
に積層して構成されている。これらamは光学的バンド
ギャップが相違し、それぞれ厚みが30〜500人の範
囲にある。このように、光学的バンドギャップが相互に
異なる薄膜を積層することによって、光学的バンドギャ
ップの大きさ自体に拘りなく、光学的バンドギャップが
小さい膜を基準にして光学的バンドギャップが大きな膜
がバリアとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超
格子構造が形成される。この超格子構造においては、バ
リア)W躾が橋めて薄いので、薄膜におけるキャリアの
トンネル効果により、キャリアはバリアを通過して超格
子構造中を走行する。また、このような超格子m造にお
いては、光の入射により発生するキャリアの数が多い。
The charge retention layer M5 and the charge generation layer 6 are constructed by laminating two types of thin films. These ams have different optical bandgaps, and their thicknesses range from 30 to 500 nm. In this way, by stacking thin films with different optical bandgaps, it is possible to create a film with a large optical bandgap compared to a film with a small optical bandgap, regardless of the size of the optical bandgap itself. A superlattice structure having a periodic potential barrier acting as a barrier is formed. In this superlattice structure, the barrier (W) is so thin that the carriers pass through the barrier and travel in the superlattice structure due to the carrier tunneling effect in the thin film. Furthermore, in such a superlattice structure, a large number of carriers are generated by the incidence of light.

従って、光11度が^い。なお、超格子構造の、tI腸
のバンドギャップと層厚を変更することにより、ヘテロ
接合超格子H4造を有する層のみかけのバンドギャップ
を自由に調整することができる。
Therefore, the light is 11 degrees. Note that by changing the bandgap and layer thickness of the tI intestine of the superlattice structure, the apparent bandgap of the layer having the heterojunction superlattice H4 structure can be freely adjusted.

電荷保持層5および電荷発生層6を構成するa−8i 
 :Hおよびμc−8i:Hにおける水素の含有量は、
0.01〜30原子%が好ましく、1〜25原子%がよ
り好ましい。このような水素の含有量により、シリコン
のダングリングボンドが補償され、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものとなり、光導″層特性が向上する。
a-8i constituting the charge retention layer 5 and charge generation layer 6
The hydrogen content in :H and μc-8i:H is
0.01 to 30 atom% is preferable, and 1 to 25 atom% is more preferable. Such hydrogen content compensates for the dangling bonds of silicon, brings the dark resistance and bright resistance into balance, and improves the properties of the light guide layer.

a−8i:H層をグロー放電分解法により成膜するには
、原料としてSiH4及び5i2f−1s等のシラン類
ガスを反応室に導入し、高周波によりグロー放電するこ
とにより薄層中にHを添加することができる。必要に応
じて、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリウム
ガスを使用することができる。
a-8i: To form the H layer by the glow discharge decomposition method, silane gases such as SiH4 and 5i2f-1s are introduced into the reaction chamber as raw materials, and H is formed in the thin layer by glow discharge using high frequency. Can be added. If necessary, hydrogen or helium gas can be used as a carrier gas for silanes.

一方、Si F4ガス及び3i(1!4ガス等のハロゲ
ン化ケイ素を原料ガスとして使用することができる。ま
た、シラン類ガスとハロゲン化ケイ素ガスとの混合ガス
で反応させても、同様にHを含有するa−8i  :)
(を成膜することができる。なお、グロー放電分解法に
よらず、例えば、スパッタリング等の物理的な方法によ
ってもこれ等の薄膜を形成することができる。
On the other hand, silicon halides such as SiF4 gas and 3i (1!4 gas) can be used as the raw material gas.Also, even if the reaction is performed with a mixed gas of silane gas and silicon halide gas, H a-8i containing :)
Note that these thin films can be formed not only by the glow discharge decomposition method but also by physical methods such as sputtering.

(、tc  5iillfWも、a−3i  :Ham
と同様に、高周波グロー放電分解法により、シランガス
を原料として、成膜することができる。この場合に、支
持体の温度をa−8i:Hを形成する場合よりも高く設
定し、高周波電力もa−8iニド(の場合よりも高く設
定すると、μc−8i:Hを形成しやすくなる。また、
支持体温度及び高周波電力を高くづることより、シラン
ガスなどの原料ガスの流量を増大させることができ、そ
の結果、成膜速麿を早くすることができる。また、原料
ガスのS i H4及び5i2H’s等の高次のシラン
ガスを水素で希釈したガスを使用することにより、μC
−8i:Hを一層高効率で形成することができる。
(, tc 5iillfW also, a-3i: Ham
Similarly, a film can be formed using silane gas as a raw material by a high frequency glow discharge decomposition method. In this case, if the temperature of the support is set higher than in the case of forming a-8i:H and the high frequency power is also set higher than in the case of a-8i nide, it becomes easier to form μc-8i:H. .Also,
By increasing the support temperature and high-frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, by using gas obtained by diluting high-order silane gas such as S i H4 and 5i2H's as raw material gas, μC
-8i:H can be formed with higher efficiency.

μC−5i:H及びa−3i  :HをP型にするため
には、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホウ素
B1アルミニウム八2、ガリウムQa。
To make μC-5i:H and a-3i:H P-type, elements belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B1 aluminum 82, gallium Qa.

インジウムIn、及びタリウムM2等をドーピングする
ことが好ましく、μc−8i:H及びa−8i:Hをn
型にするためには、周期律表の第V族に属する元素、例
えば、窒素N、リンP、ヒ素AS、アンチモン3b、及
びビスマスBiWをド−ピングすることが好ましい。こ
のp型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支持
体側から光sN層へ電荷が移動することが防止される。
It is preferable to dope with indium In, thallium M2, etc., and μc-8i:H and a-8i:H are doped with n
In order to form a mold, it is preferable to dope with elements belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen N, phosphorus P, arsenic AS, antimony 3b, and bismuth BiW. Doping with this p-type impurity or n-type impurity prevents charges from moving from the support side to the optical SN layer.

一方1.czc−8i:l−1及びa−8i:Hに、炭
素C1窒素N及び酸素Oから選択された少なくとも1種
の元素を含有させることにより、為抵抗とし、表面電荷
保持能力を増大させることができる。これら元素の含右
茄は0.1〜40原子%、好ましくは0.5〜30原子
%である。
On the other hand 1. By incorporating at least one element selected from carbon C nitrogen N and oxygen O into czc-8i:l-1 and a-8i:H, it is possible to increase the resistance and surface charge retention ability. can. The content of these elements is 0.1 to 40 atomic %, preferably 0.5 to 30 atomic %.

電荷発生層6の上に表面層4が設けられている。A surface layer 4 is provided on the charge generation layer 6.

電荷発生層6のa−3i:@等は、その屈折率が3乃至
3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起きやす
い。このような光反射が生じると、光導電層又は電荷発
生層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大き
くなる。このため、表面H4を設けて反射を防止するこ
とが好ましい。また、表面層4を設けることにより、電
荷発生層6が損傷から保護される。さらに、表面層を形
成することにより、帯電能が向上し、表面に電荷がよく
のるようになる。表面層を形成する材料とじては、a−
8i N :H,a−8i O:)−1,及びa−8i
C:)4等の無機化合物並びにポリ塩化ビニル及びポリ
アミド等の有機材料がある。
Since the a-3i:@ etc. of the charge generation layer 6 have a relatively large refractive index of 3 to 3.4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer or the charge generation layer decreases, resulting in increased light loss. For this reason, it is preferable to provide the surface H4 to prevent reflection. Further, by providing the surface layer 4, the charge generation layer 6 is protected from damage. Furthermore, by forming the surface layer, the charging ability is improved, and the charge can be easily deposited on the surface. The material forming the surface layer is a-
8i N :H, a-8i O:)-1, and a-8i
There are inorganic compounds such as C:)4 and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電により約500Vの正電圧で帯電させると、ポテン
シャルバリアが形成される。この感光体に光(hν)が
入射すると、電荷発生層6の超格子構造で電子と正孔の
キャリアが発生する。
When the surface of the electrophotographic photoreceptor constructed in this manner is charged with a positive voltage of about 500 V by corona discharge, a potential barrier is formed. When light (hv) is incident on this photoreceptor, carriers of electrons and holes are generated in the superlattice structure of the charge generation layer 6.

この伝導帯の電子は、感光体中の電界により、表面層4
側に向けて加速され、正孔は導電性支持体IBIに向け
て加速される。この場合に、光学的バンドギャップが相
違する薄膜の境界で発生するキャリアの数は、バルクで
発生するキャリアの数よりも極めて多い。このため、こ
の超格子構造においては、光感度が高い。また、ポテン
シャルの井戸層においては、母子効果のために、超格子
構造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5
乃至10倍と長い。更に、超格子構造においては、バン
ドギャップの不連続性により、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアは]・ンネル効果で容易にバイアス
層を通り抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクに
おける移動度と同様であり、キャリアの走行性が優れて
いる。
Electrons in the conduction band are transferred to the surface layer 4 due to the electric field in the photoreceptor.
The holes are accelerated towards the conductive support IBI. In this case, the number of carriers generated at the boundary between thin films with different optical bandgaps is significantly greater than the number of carriers generated in the bulk. Therefore, this superlattice structure has high photosensitivity. In addition, in the potential well layer, due to the mother-child effect, the lifetime of carriers is 55% lower than in the case of a single layer without a superlattice structure.
It is 10 to 10 times longer. Furthermore, in a superlattice structure, a periodic barrier layer is formed due to bandgap discontinuity, but carriers easily pass through the bias layer due to the channel effect, so the effective carrier mobility in the bulk is The carrier has excellent mobility.

電荷保持層5の場合も同様に、ポテンシャル井戸層にお
いては、m子効果のために、超格子構造でない単一層の
場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。
Similarly, in the case of the charge retention layer 5, the lifetime of carriers in the potential well layer is 5 to 10 times longer than in the case of a single layer without a superlattice structure due to the m-son effect.

また、超過格子構造においては、バンドギャップの不連
続性により、周期的なバリア層が形成されるが、キャリ
アはトンネル効果で容易にバイアス層を通り抜けるので
、キャリアの実効移動度はバルクにおける移t11度と
同等であり、キャリアの走行性が優れている。以上のご
とく、光学的バンドギャップが相違する薄層をla層し
た超格子構造によれば、高光導電特性を得ることができ
、従来の感光体よりも鮮明な画像を得ることができる。
In addition, in the superlattice structure, a periodic barrier layer is formed due to bandgap discontinuity, but carriers easily pass through the bias layer due to the tunnel effect, so the effective mobility of carriers is reduced by the shift in the bulk. The carrier has excellent runnability. As described above, according to the superlattice structure in which la layers are formed of thin layers having different optical band gaps, it is possible to obtain high photoconductivity and to obtain images that are clearer than conventional photoreceptors.

以下に第2図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガスボンベ21.22,23.
24には、例えば、夫々Si H4,82H6、H2、
CH4等の原料ガスが収容されている。これらガスボン
ベ内のガスは、流出調整用のバルブ26及び配管27を
介して混合器28に供給されるようになっている。各ボ
ンベには圧力計25が設置されており、該圧力計25を
監視しつつパルプ26を調整することにより混合器28
に供給する各原料ガスの流出及び混合比を調節できる。
Referring to FIG. 2, an apparatus and a manufacturing method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the above embodiment by a glow discharge method will be described below. In the figure, gas cylinders 21, 22, 23.
24, for example, Si H4, 82H6, H2,
A raw material gas such as CH4 is contained. The gas in these gas cylinders is supplied to a mixer 28 via an outflow regulating valve 26 and piping 27. A pressure gauge 25 is installed in each cylinder, and by adjusting the pulp 26 while monitoring the pressure gauge 25, the mixer 28
It is possible to adjust the outflow and mixing ratio of each raw material gas to be supplied.

混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器2つの底部31には、回転軸30が鉛直
方向の回りに回転可能に取付【づられている。該回転軸
30の上端に、円板状の支持台32がその面を回転軸3
0に垂直にして固定されている。反応容器29内には、
円筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の軸中心と
一致させて底部31上に設置されている。
The gases mixed in the mixer 28 are supplied to a reaction vessel 29. A rotating shaft 30 is attached to the bottom 31 of the two reaction vessels so as to be rotatable in the vertical direction. At the upper end of the rotating shaft 30, a disk-shaped support base 32 has its surface aligned with the rotating shaft 3.
It is fixed perpendicular to 0. Inside the reaction vessel 29,
A cylindrical electrode 33 is installed on the bottom 31 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 30.

感光体のドラム基体34が支持台32上にその軸中心を
回転軸30の軸中心と一致させて載置されており、この
ドラム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ3
5が配設されている。電極33とドラム基体34との間
には高周波電源36が接続されており、N極33および
ドラム基体34間に高周波電流が供給されるようになっ
ている。回転軸30はモータ38により回転駆動される
。反応容器29内の圧力は圧力計37により監視され、
反応容器29はゲートバルブ38を介して真空ポンプ等
の適宜の排気手段に連結されている。
A drum base 34 of a photoreceptor is placed on a support base 32 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 30, and a heater 3 for heating the drum base is installed inside the drum base 34.
5 are arranged. A high frequency power source 36 is connected between the electrode 33 and the drum base 34, so that a high frequency current is supplied between the N pole 33 and the drum base 34. The rotating shaft 30 is rotationally driven by a motor 38. The pressure inside the reaction vessel 29 is monitored by a pressure gauge 37,
The reaction vessel 29 is connected via a gate valve 38 to a suitable exhaust means such as a vacuum pump.

上記製造装置により感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ゲートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0.1 Torrの
圧力以下に排気する。次いで、ボンベ21,22.23
.24から所要の反応ガスを所定の混合比で温合して反
応容器29内に導入する。この場合に、反応容器29内
に導入するガス流暢は反応容器29内の圧力が0.1乃
至1.0T orrになるように設定する。次いで、モ
ータ38を作動させてドラム基体34を回転させ、ヒー
タ35によりドラム基体34を一定温度に加熱すると共
に、高周波電源36によりff1ff133とドラム基
体34との間に高周波電流を供給して、両省間にグロー
放電を形成する。これにより、ドラム基体34上にa−
8i:Hが堆積する。なお、原料ガス中にN20.NH
3,NO2、N2 。
When manufacturing a photoreceptor using the above manufacturing apparatus, the drum base 34 is placed in the reaction vessel 29, and then the gate valve 39 is opened to evacuate the inside of the reaction vessel 29 to a pressure of about 0.1 Torr or less. Next, cylinders 21, 22, 23
.. A required reaction gas is heated at a predetermined mixing ratio from 24 and introduced into a reaction vessel 29 . In this case, the gas flow introduced into the reaction vessel 29 is set so that the pressure within the reaction vessel 29 is 0.1 to 1.0 Torr. Next, the motor 38 is operated to rotate the drum base 34, the heater 35 heats the drum base 34 to a constant temperature, and the high frequency power supply 36 supplies high frequency current between the ff1ff133 and the drum base 34, thereby saving both. A glow discharge is formed in between. As a result, a-
8i: H is deposited. Note that N20. N.H.
3, NO2, N2.

CH4、C2H4,02ガス等を使用することにより、
炭素、酸素、窒素をa−3i:H中に含有させることが
できる。
By using CH4, C2H4,02 gas, etc.
Carbon, oxygen and nitrogen can be included in a-3i:H.

このように、本発明に係る電子写真感光体は、クローズ
ドシステムの製造装置で製造することができるため、人
体に対して安全である。
As described above, the electrophotographic photoreceptor according to the present invention can be manufactured using a closed system manufacturing apparatus, and therefore is safe for the human body.

次に、本発明に係る電子写真感光体を成膜し。Next, an electrophotographic photoreceptor according to the present invention was formed into a film.

1子写真特性を試験した結果についてシ1明する。The results of testing the photographic characteristics of one child will be explained below.

試験例1 必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施した直径が80 m 、
幅が350m+のアルミニウム製ドラム基体を反応容器
内に装着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気
した。ドラム基体を250℃に加熱し、10rll1m
で自転させつつ、SiH+ガスを5008CCM、82
 H5ガスを3iH+ガスに対するIJI比で10−3
という流量で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力を
ITorrに調節した。そして、13.56 M HZ
の高周波電力を印加してプラズマを生起させ、ドラム基
体上にp型のa−8i C:H障壁層を形成した。
Test Example 1 A diameter of 80 m was subjected to acid treatment, alkali treatment, and sandblasting treatment to prevent interference as necessary.
A 350 m+ wide aluminum drum substrate was mounted within the reaction vessel and the reaction vessel was evacuated to a vacuum of approximately 10-5 Torr. Heating the drum base to 250℃, 10rll1m
5008 CCM of SiH+ gas, 82
IJI ratio of H5 gas to 3iH+ gas is 10-3
It was introduced into the reaction vessel at a flow rate of 100%, and the pressure inside the reaction vessel was adjusted to ITorr. and 13.56 MHZ
Plasma was generated by applying high-frequency power of 200 mL to form a p-type a-8i C:H barrier layer on the drum substrate.

次に、3iH4を500SCCM、CH4ガスを30S
CCMという流量で導入し、400Wの高周波電力を印
加し、120スのa−8t C:H薄膜を形成した。次
いで、SiH+ガスを35SCCM、H2ガスを500
3CCMという流用で導入し、1.2KWの高周波電力
を印加して、240人のμc−3i  :)l薄膜を形
成した。このような操作を繰返して、15μmの超格子
構造の電荷保持層を形成した。なお、μc−3i:@薄
膜の形成に際しては、各WeMAの形成ごとに3i H
4ガスの流量を増加して最終的に2O3(、CMとし、
結晶化度を70%から85%へと変化させた。
Next, 3iH4 at 500SCCM, CH4 gas at 30S
It was introduced at a flow rate of CCM, and a high frequency power of 400 W was applied to form an a-8t C:H thin film of 120 s. Next, 35 SCCM of SiH+ gas and 500 SCCM of H2 gas
3CCM was introduced and a high frequency power of 1.2KW was applied to form a 240 μc-3i:)l thin film. Such operations were repeated to form a charge retention layer having a superlattice structure of 15 μm. In addition, when forming the μc-3i:@thin film, 3i H was used for each WeMA formation.
4 Increase the gas flow rate and finally 2O3 (, CM,
The crystallinity was changed from 70% to 85%.

次いで、SiH+ガスを508CCM、1−12ガスを
500SCCMという流量で導入し、1.2KWの高周
波電力を印加して、100人のμC−3i:H薄膜を形
成した。次に、5it−14ガスを308CCMとし、
結晶度の異なる100人のμc−8i:H薄膜を形成し
た。このような操作を繰返して5μmの電荷発生層を形
成した。
Next, SiH+ gas was introduced at a flow rate of 508 CCM and 1-12 gas was introduced at a flow rate of 500 SCCM, and a high frequency power of 1.2 KW was applied to form a 100 μC-3i:H thin film. Next, 5it-14 gas is set to 308CCM,
100 μc-8i:H thin films with different crystallinity were formed. These operations were repeated to form a charge generation layer of 5 μm.

最後ニ、0.1μmのa  S + C: HR膜から
なる表面層を形成した。
Finally, a surface layer consisting of a 0.1 μm a S + C:HR film was formed.

このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この光は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これにより、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及
び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性、耐湿
性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実証さ
れた。
When the surface of the photoreceptor thus formed is positively charged at about 500 V and exposed to white light, this light is absorbed by the charge generation layer and carriers of electron-hole pairs are generated. In this test example, a large number of carriers were generated, the carriers had a long life, and high running performance was obtained. This resulted in clear, high-quality images. In addition, when the photoreceptor manufactured in this test example was repeatedly charged, the reproducibility and stability of the transferred image were extremely good, and the durability such as corona resistance, moisture resistance, and abrasion resistance was also improved. It has been proven that the properties are excellent.

このようにして製造された感光体は、半導体レーザの発
振波長である780乃至790n+11の長波長光に対
しても高い感度を有する。この感光体を半導体レーザプ
リンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を形成
したところ、感光体表面の露光量が25ergciであ
る場合でも、鮮明で高解像度の画像をt9ることができ
た。
The photoreceptor manufactured in this manner has high sensitivity even to long wavelength light of 780 to 790n+11, which is the oscillation wavelength of a semiconductor laser. When this photoreceptor was installed in a semiconductor laser printer and an image was formed by the Carlson process, a clear, high-resolution image could be produced at t9 even when the exposure amount on the photoreceptor surface was 25 ergci.

試験例2 電荷保持層を構成するμc−3i:H薄膜の結晶化度を
第3図に示すように変化させたことを除き、試験例1と
同様の方法で電子写真感光体を製造した。
Test Example 2 An electrophotographic photoreceptor was manufactured in the same manner as Test Example 1, except that the crystallinity of the μc-3i:H thin film constituting the charge retention layer was changed as shown in FIG.

これら感光体を用いて、試験例1と同様にして画像を形
成したところ、紅明で高品質の画像が得られた。
When images were formed using these photoreceptors in the same manner as in Test Example 1, high-quality images with bright red colors were obtained.

なお、電荷保持層および電荷発生層を構成する薄膜の種
類は、上記試験例のように2種類に限らず、3種類以上
の薄膜を積層しても良く、要するに、光学的バンドギャ
ップが相違するsunの境界を形成すれば良い。
Note that the types of thin films constituting the charge retention layer and the charge generation layer are not limited to two types as in the above test example, but three or more types of thin films may be laminated, and in short, they have different optical band gaps. It is sufficient to form the boundary of sun.

[発明の効果コ この発明によれば、光導N層に、光学的バンドギャップ
が相互に異なる薄膜を積層して構成される超格子崩造を
使用するから、キャリアの走行性が高いと共に、高抵抗
で帯電特性が優れた電子写真感光体を得ることができる
。特に、この発明においては、薄膜を形成する材料を適
宜組み合わせることにより、任意の波長帯の光に対して
最適の光導電特性を有する感光体を得ることができると
いう利点がある。
[Effects of the Invention] According to this invention, since a superlattice structure formed by laminating thin films with mutually different optical band gaps is used in the light guiding N layer, carrier mobility is high and high efficiency is achieved. An electrophotographic photoreceptor with excellent resistance and charging characteristics can be obtained. In particular, the present invention has the advantage that by appropriately combining materials forming the thin film, it is possible to obtain a photoreceptor having optimal photoconductive properties for light in any wavelength band.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の実施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第2図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製a装置を示す図、第3図は、微結晶シリコン薄膜の結
晶化度の変化を示す図である。 1:導電性支持体、2:障壁層、3:光導電層。 4:表面層、5:電荷保持層、6:電荷発生層。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 層厚 (a) 、J#4 (C) X# 厚 (e) 纂 (b) 層4 (d) 層厚 (f) 3 凶
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing a microcrystalline photoreceptor. FIG. 3 is a diagram showing changes in the crystallinity of a silicon thin film. 1: conductive support, 2: barrier layer, 3: photoconductive layer. 4: Surface layer, 5: Charge retention layer, 6: Charge generation layer. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue Layer thickness (a), J#4 (C)

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と光導電層とを有する電子写真感光
体において、前記光導電層は電荷発生層と電荷保持層と
から構成され、前記電荷発生層は、結晶度が異なる二種
類の微結晶シリコン薄膜を交互に積層して構成され、前
記電荷保持層は、炭素、酸素および窒素から選ばれた元
素の少なくとも一種を含む非晶質シリコン薄膜と微結晶
シリコン薄膜とを交互に積層して構成され、かつ前記微
結晶シリコン薄膜の結晶化度が、層厚方向に薄膜ごとに
変化していることを特徴とする電子写真感光体。
(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support and a photoconductive layer, the photoconductive layer is composed of a charge generation layer and a charge retention layer, and the charge generation layer has two types of crystallinity different from each other. The charge retention layer is composed of alternating layers of microcrystalline silicon thin films, and the charge retention layer is made of alternating layers of amorphous silicon thin films and microcrystalline silicon thin films containing at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen. 1. An electrophotographic photoreceptor comprising a microcrystalline silicon thin film, wherein the degree of crystallinity of the microcrystalline silicon thin film varies from film to film in the layer thickness direction.
(2)前記薄膜の膜厚は、30〜500Åであることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体
(2) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the thin film has a thickness of 30 to 500 Å.
(3)前記光導電層は、周期律表第III族および第V族
に属する元素から選ばれた少なくとも一種を含むことを
特徴とする特許請求の範囲第1又は2項記載の電子写真
感光体。
(3) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1 or 2, wherein the photoconductive layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III and Group V of the periodic table. .
(4)前記微結晶シリコン薄膜は、炭素、酸素、および
窒素から選ばれた元素の少なくとも一種を含むことを特
徴とする特許請求の範囲第1〜3項のうちのいずれか1
項記載の電子写真感光体。
(4) Any one of claims 1 to 3, wherein the microcrystalline silicon thin film contains at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen.
The electrophotographic photoreceptor described in .
(5)前記導電性支持体と前記光導電層との間に、非晶
質材料又はその少なくとも一部が微結晶化した半導体材
料からなる障壁層が形成されていることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
(5) A patent claim characterized in that a barrier layer made of an amorphous material or a semiconductor material in which at least a portion thereof is microcrystallized is formed between the conductive support and the photoconductive layer. The electrophotographic photoreceptor according to item 1.
(6)前記障壁層は、周期律表第III族および第V族に
属する元素から選ばれた少なくとも一種を含むことを特
徴とする特許請求の範囲第5項記載の電子写真感光体。
(6) The electrophotographic photoreceptor according to claim 5, wherein the barrier layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III and Group V of the periodic table.
(7)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素から選ばれ
た元素の少なくとも一種を含むことを特徴とする特許請
求の範囲第5又は6項記載の電子写真感光体。
(7) The electrophotographic photoreceptor according to claim 5 or 6, wherein the barrier layer contains at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen.
(8)前記光導電層の上に表面層が形成されていること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光
体。
(8) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein a surface layer is formed on the photoconductive layer.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0418765A (en) * 1990-05-14 1992-01-22 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Semiconductor photodetective element
JPH0418766A (en) * 1990-05-14 1992-01-22 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Semiconductor photodetective element
JPH04125976A (en) * 1990-09-18 1992-04-27 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Semiconductor photodetector

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