JPS61285839A - 軟判定誤り訂正復号器用試験装置 - Google Patents
軟判定誤り訂正復号器用試験装置Info
- Publication number
- JPS61285839A JPS61285839A JP12787685A JP12787685A JPS61285839A JP S61285839 A JPS61285839 A JP S61285839A JP 12787685 A JP12787685 A JP 12787685A JP 12787685 A JP12787685 A JP 12787685A JP S61285839 A JPS61285839 A JP S61285839A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
軟判定誤り訂正復号器の動作を試験する試験装置におい
て、正規乱数を発生する正規乱数発生器を用い、軟判定
値の発生確率の大きさに対応づけて当該正規乱数の間隔
を設定することにより、乱数発生器のハードウェア構成
を簡単化したことが開示されている。
て、正規乱数を発生する正規乱数発生器を用い、軟判定
値の発生確率の大きさに対応づけて当該正規乱数の間隔
を設定することにより、乱数発生器のハードウェア構成
を簡単化したことが開示されている。
本発明は、発生確率の小さい軟判定値に対応する値を所
定量分得るに当たって、Ｍの値の小さいＭ系列乱数発生
器を用い得るようにした軟判定誤り訂正復号器用試験装
置に関するものである。
定量分得るに当たって、Ｍの値の小さいＭ系列乱数発生
器を用い得るようにした軟判定誤り訂正復号器用試験装
置に関するものである。
通信回線において、例えば論理「０」である符号は正し
くはレベルｌの値をとり、論理「１」である符号は正し
くはレベルＮ！＋１）の値をとるように約束されていて
、受信側で受信した上記しベルを見て、送られてきた符
号が論理「０」なのか、論理「１」なのかを判定するこ
とが行われる。
くはレベルｌの値をとり、論理「１」である符号は正し
くはレベルＮ！＋１）の値をとるように約束されていて
、受信側で受信した上記しベルを見て、送られてきた符
号が論理「０」なのか、論理「１」なのかを判定するこ
とが行われる。
しかし、受信側で検出したレベルが正しく本来のレベル
ｌまたは（Ｊ＋１）とならないことが多く、例えばレベ
ルが（Ｎ＋０．１）の場合や、（，６＋０．２）の場合
や、・・・・ （ｊ’＋０．９）の場合などが存在する
。このため、受信側においては、例えばレベルが（Ｉｌ
＋０．５）以下である場合には本来のレベルが２であっ
たものとみなし、レベルが（Ｊ＋０．５）を超えている
場合には本来のレベルが＜Ｉ！ ＋１）であったものと
みなすように、中間的なレベルの場合でもこれを訂正す
るようにすることが行われる。このような復号器を軟判
定誤り訂正復号器と呼んでいる。軟判定誤りとは上記の
如き中間的なレベルを生じるような形での、本来のレベ
ルからのずれを意味している。
ｌまたは（Ｊ＋１）とならないことが多く、例えばレベ
ルが（Ｎ＋０．１）の場合や、（，６＋０．２）の場合
や、・・・・ （ｊ’＋０．９）の場合などが存在する
。このため、受信側においては、例えばレベルが（Ｉｌ
＋０．５）以下である場合には本来のレベルが２であっ
たものとみなし、レベルが（Ｊ＋０．５）を超えている
場合には本来のレベルが＜Ｉ！ ＋１）であったものと
みなすように、中間的なレベルの場合でもこれを訂正す
るようにすることが行われる。このような復号器を軟判
定誤り訂正復号器と呼んでいる。軟判定誤りとは上記の
如き中間的なレベルを生じるような形での、本来のレベ
ルからのずれを意味している。
このような復号器を試験するためには、上記中間的なレ
ベルを試験的につくり出して当該復号器に供給し、復号
器が正しく動作するか否かをチェックする。
ベルを試験的につくり出して当該復号器に供給し、復号
器が正しく動作するか否かをチェックする。
従来、このようなチェックを行うべく中間的なレベルを
つくり出すために、本来のレベルβの信号に対して、当
８亥レベルを＋０．１、＋０．２、＋０．３、＋０．４
、＋０．５の如くシフトするノイズを導入するようにす
る試験装置が考慮されており、第４図図示の如き構成を
もっている。
つくり出すために、本来のレベルβの信号に対して、当
８亥レベルを＋０．１、＋０．２、＋０．３、＋０．４
、＋０．５の如くシフトするノイズを導入するようにす
る試験装置が考慮されており、第４図図示の如き構成を
もっている。
第４図において、２１はＭ系列発生器であって、Ｍ個例
えば１００個の数値０，１．２・・・・・９９をランダ
ムに発生する乱数発生器である。２３は軟判定値信号設
定回路であって、例えば上記レベル（ｉ＋０．１＞が生
じる発生確率を５０％、レベル（Ｚ＋０．２）が生じる
発生確率を２５％、レベル（Ｉ！＋０．３）が生じる発
生確率を１３％、レベル（ｊ！＋０．４）が生じる発生
確率を８％、レベル（ｊ２＋０．５）が生じる発生確率
を４％と仮定すると、上記レベル十〇。１のシフトを与
える場合には、軟判定値信号設定回路２３に対して値ｒ
ＯＪないし「４９」を設定しておき、Ｍ系列発生器２１
からの出力値が「０」ないし「４９」の中の１つであれ
ば、比較器２２がこの旨を出力し、エンコーダ２４がレ
ベル０．１を発生するようにする。これによって、加算
器２５は、本来のレベルｌに対してレベル＋０．１を付
加し、軟判定値としてレベル（ｊｌ＋０．１）を発生す
る。これが、上記復号器に供給され、正しくレベルｌに
訂正されるか否かがチェックされる。同様に、レベル＋
０．２のシフトを与える場合には、軟判定値信号設定回
路２３には値「５０」ないし「７４」を設定する。
えば１００個の数値０，１．２・・・・・９９をランダ
ムに発生する乱数発生器である。２３は軟判定値信号設
定回路であって、例えば上記レベル（ｉ＋０．１＞が生
じる発生確率を５０％、レベル（Ｚ＋０．２）が生じる
発生確率を２５％、レベル（Ｉ！＋０．３）が生じる発
生確率を１３％、レベル（ｊ！＋０．４）が生じる発生
確率を８％、レベル（ｊ２＋０．５）が生じる発生確率
を４％と仮定すると、上記レベル十〇。１のシフトを与
える場合には、軟判定値信号設定回路２３に対して値ｒ
ＯＪないし「４９」を設定しておき、Ｍ系列発生器２１
からの出力値が「０」ないし「４９」の中の１つであれ
ば、比較器２２がこの旨を出力し、エンコーダ２４がレ
ベル０．１を発生するようにする。これによって、加算
器２５は、本来のレベルｌに対してレベル＋０．１を付
加し、軟判定値としてレベル（ｊｌ＋０．１）を発生す
る。これが、上記復号器に供給され、正しくレベルｌに
訂正されるか否かがチェックされる。同様に、レベル＋
０．２のシフトを与える場合には、軟判定値信号設定回
路２３には値「５０」ないし「７４」を設定する。
従来の場合、Ｍ系列発生器２１は上述の如（「０」ない
し「９９」を同じ発生確率で出力する。
し「９９」を同じ発生確率で出力する。
このために、上記例えばレベル＋０．５のシフトを与え
るためには、軟判定値信号設定回路２３が値「９６」な
いし「９９」を設定することになるが、Ｍ系列発生器２
１が１００個の数値を出力する間に４回しか上記軟判定
値が得られない。即ち、第５図に示す如く、発生確率Ｐ
０の軟判定値を得るに当たっては、図示値Ａから値Ｂま
での乱数値を利用できるが、発生確率Ｐ７の軟判定値を
得るに当たっては、図示値ＸないしＹまでの乱数値しか
利用できないことになる。従って、発生確率が例えば０
．１％しかないような状況をつくろうとすると、上記Ｍ
系列発生器２１としては、上記の如く値「０」から「９
９」までの１００個の数値を出力するものでは不十分で
、値「０」ないし「９９９」までの１ｏｏｏ個の数値を
出力するものを用いてはじめて、上記０．１％しかない
ような状況をつくり出すことが可能となる。換言すると
、Ｓ／Ｎが良い場合における発生確率の十分小さい状況
をつくり出したりしようとすると、Ｍの（直の大きいＭ
系列発生器２１を用いざるを得す、ハード規模が膨大と
なる。
るためには、軟判定値信号設定回路２３が値「９６」な
いし「９９」を設定することになるが、Ｍ系列発生器２
１が１００個の数値を出力する間に４回しか上記軟判定
値が得られない。即ち、第５図に示す如く、発生確率Ｐ
０の軟判定値を得るに当たっては、図示値Ａから値Ｂま
での乱数値を利用できるが、発生確率Ｐ７の軟判定値を
得るに当たっては、図示値ＸないしＹまでの乱数値しか
利用できないことになる。従って、発生確率が例えば０
．１％しかないような状況をつくろうとすると、上記Ｍ
系列発生器２１としては、上記の如く値「０」から「９
９」までの１００個の数値を出力するものでは不十分で
、値「０」ないし「９９９」までの１ｏｏｏ個の数値を
出力するものを用いてはじめて、上記０．１％しかない
ような状況をつくり出すことが可能となる。換言すると
、Ｓ／Ｎが良い場合における発生確率の十分小さい状況
をつくり出したりしようとすると、Ｍの（直の大きいＭ
系列発生器２１を用いざるを得す、ハード規模が膨大と
なる。
本発明は、前記問題点を解決するために、正規乱数を発
生させ、発生確率の大きい軟判定値を識別する乱数値識
別間隔は発生頻度の大きい中央部を選び、発生確率の小
さい軟判定値を識別する乱数値識別間隔は発生頻度の小
さい端部を選び、乱数値識別間隔を可及的に等間隔に近
づけるようにすることにより、ハードウェア構成を簡単
化している。
生させ、発生確率の大きい軟判定値を識別する乱数値識
別間隔は発生頻度の大きい中央部を選び、発生確率の小
さい軟判定値を識別する乱数値識別間隔は発生頻度の小
さい端部を選び、乱数値識別間隔を可及的に等間隔に近
づけるようにすることにより、ハードウェア構成を簡単
化している。
第１図は本発明の原理的構成図を示す。図中、１は正規
乱数発生器、２は比較器、３は軟判定値信号設定回路、
４はエンコーダ、５は加算器を表す。
乱数発生器、２は比較器、３は軟判定値信号設定回路、
４はエンコーダ、５は加算器を表す。
第１図において、正規乱数発生器１は第３図に示すよう
な正規分布の形をしたいわゆる正規乱数を発生させるた
めのものである。この正規乱数発生器１を用いて発生さ
せた正規乱数の信号が比較器２に供給される。比較器２
は供給された正規乱数の値に基づいて、軟判定値信号設
定回路３から供給された軟判定値信号に対応した信号を
発生させ、エンコーダ４に供給している。エンコーダ４
はエンコードして加算器５に供給し、被変調波信号に付
加して図に示す軟判定値信号として出力している。
な正規分布の形をしたいわゆる正規乱数を発生させるた
めのものである。この正規乱数発生器１を用いて発生さ
せた正規乱数の信号が比較器２に供給される。比較器２
は供給された正規乱数の値に基づいて、軟判定値信号設
定回路３から供給された軟判定値信号に対応した信号を
発生させ、エンコーダ４に供給している。エンコーダ４
はエンコードして加算器５に供給し、被変調波信号に付
加して図に示す軟判定値信号として出力している。
発生させた正規乱数の発生確率の大きい中央部の乱数値
識別間隔を発生確率の小さい軟判定値に割り当てるよう
にすると共に、発生確率の小さい端部の乱数値識別間隔
を発生確率の小さい軟判定値に割り当てるようにして、
比較器２を用いて所定レベルの信号を発生させている０
発生させた信号をエンコーダ４に供給し、エンコードし
て加算器５に供給している。これにより、加算器５は入
力信号に所定のノイズを付加して軟判定値信号として送
出している。
識別間隔を発生確率の小さい軟判定値に割り当てるよう
にすると共に、発生確率の小さい端部の乱数値識別間隔
を発生確率の小さい軟判定値に割り当てるようにして、
比較器２を用いて所定レベルの信号を発生させている０
発生させた信号をエンコーダ４に供給し、エンコードし
て加算器５に供給している。これにより、加算器５は入
力信号に所定のノイズを付加して軟判定値信号として送
出している。
第２図は本発明の１実施例構成図を示す。図中、１−１
ないしｌ−３はＭ系列発生器であって一様乱数を夫々発
生させるものである。１−４は加算器であって、一様乱
数を加算して正規乱数またはそれに近いもの（本明細書
においてはそれらを総称して正規乱数という）を発生さ
せる。尚、図中１．２．３．４および５は第１図に示す
ものに夫々対応するものである。
ないしｌ−３はＭ系列発生器であって一様乱数を夫々発
生させるものである。１−４は加算器であって、一様乱
数を加算して正規乱数またはそれに近いもの（本明細書
においてはそれらを総称して正規乱数という）を発生さ
せる。尚、図中１．２．３．４および５は第１図に示す
ものに夫々対応するものである。
第２図において、正規乱数発生器１はＭ系列発生器１−
１ないし１−３と、これらによって夫々発生させた一様
乱数を加算して正規乱数を発生させるための加算器１−
４とから構成されている。
１ないし１−３と、これらによって夫々発生させた一様
乱数を加算して正規乱数を発生させるための加算器１−
４とから構成されている。
この正規乱数発生器１によって発生された正規乱数曲線
を第３図に示す。そして、正規乱数発生器１によって発
生された正規乱数の信号が比較器２に供給される。比較
器２は、軟判定値信号設定回路３から通知された軟判定
値信号に対応する信号を生成し、エンコーダ４に供給す
る。エンコーダ４はエンコードした信号を加算器５に供
給する。
を第３図に示す。そして、正規乱数発生器１によって発
生された正規乱数の信号が比較器２に供給される。比較
器２は、軟判定値信号設定回路３から通知された軟判定
値信号に対応する信号を生成し、エンコーダ４に供給す
る。エンコーダ４はエンコードした信号を加算器５に供
給する。
供給を受けた加算器５は、この信号を入力信号に所定の
ノイズを付加して軟判定値信号として出力している。
第３図は本発明に係わる軟判定の識別間隔を説明する説
明図を示す。
ノイズを付加して軟判定値信号として出力している。
第３図は本発明に係わる軟判定の識別間隔を説明する説
明図を示す。
第３図に示す正規乱数曲線は、第２図図中Ｍ系列発生器
１−１ないし１−３を用いて発生させた一様乱数を加算
器１−４で加算することによって発生されるものと概念
的に対応している。この正規乱数曲線の発生確率は、中
央部分が大きく、端部分が小さい。従って、発生確率の
大きい軟判定値信号を得るには、正規乱数曲線の中央部
分に対応する乱数を当該軟判定値信号に割り当て発生確
率Ｐ０をもつようにする。一方、発生確率の小さい軟判
定値信号を得るには、正規乱数曲線の端部分に対応する
乱数を当該軟判定値信号に割り当て発生確率Ｐ７をもつ
ようにする。これにより、乱数値識別間隔を可及的に等
間隔にし、発生させなければならない乱数の範囲を狭く
することができる。即ち、例えばＭの値がｒｌ ＯＯＪ
であるＭ系列乱数発生器を複数個用意して、上記従来の
場合に関連して説明した所のＭの値がｒｌ ０００Ｊで
ある乱数発生器に代えることができる。
１−１ないし１−３を用いて発生させた一様乱数を加算
器１−４で加算することによって発生されるものと概念
的に対応している。この正規乱数曲線の発生確率は、中
央部分が大きく、端部分が小さい。従って、発生確率の
大きい軟判定値信号を得るには、正規乱数曲線の中央部
分に対応する乱数を当該軟判定値信号に割り当て発生確
率Ｐ０をもつようにする。一方、発生確率の小さい軟判
定値信号を得るには、正規乱数曲線の端部分に対応する
乱数を当該軟判定値信号に割り当て発生確率Ｐ７をもつ
ようにする。これにより、乱数値識別間隔を可及的に等
間隔にし、発生させなければならない乱数の範囲を狭く
することができる。即ち、例えばＭの値がｒｌ ＯＯＪ
であるＭ系列乱数発生器を複数個用意して、上記従来の
場合に関連して説明した所のＭの値がｒｌ ０００Ｊで
ある乱数発生器に代えることができる。
そして、第３図に示す乱数値識別間隔の設定は第１図あ
るいは第２図に示す軟判定値信号設定回路３に関連して
説明したと同様に行われ、夫々所望の発生確率をもつ軟
判定値信号をつくり出すこととなる。
るいは第２図に示す軟判定値信号設定回路３に関連して
説明したと同様に行われ、夫々所望の発生確率をもつ軟
判定値信号をつくり出すこととなる。
以上説明したように、本発明によれば、正規乱数を発生
させ、発生確率の大きい軟判定値に対しては発生確率の
大きい中央部分の乱数値識別間隔を割り当て、発生確率
の小さい軟判定値に対しては発生確率の小さい端部分の
乱数値識別間隔を割り当て、乱数値識別間隔を可及的に
等間隔に近づけるようにしているため、乱数を発生させ
る範囲を小さくしてハード規模を小さくすることができ
る。
させ、発生確率の大きい軟判定値に対しては発生確率の
大きい中央部分の乱数値識別間隔を割り当て、発生確率
の小さい軟判定値に対しては発生確率の小さい端部分の
乱数値識別間隔を割り当て、乱数値識別間隔を可及的に
等間隔に近づけるようにしているため、乱数を発生させ
る範囲を小さくしてハード規模を小さくすることができ
る。
第１図は本発明の原理的構成図、第２図は本発明の１実
施例構成図、第３図は本発明に係わる軟判定の識別間隔
を説明する説明図、第４図は従来の軟判定誤り訂正復号
器用試験装置の構成図、第５図は従来の軟判定の識別間
隔を説明する説明図を示す。 図中、１は正規乱数発生器、２は比較器、３は軟判定値
信号設定回路、４はエンコーダ、５は加算器を表す。
施例構成図、第３図は本発明に係わる軟判定の識別間隔
を説明する説明図、第４図は従来の軟判定誤り訂正復号
器用試験装置の構成図、第５図は従来の軟判定の識別間
隔を説明する説明図を示す。 図中、１は正規乱数発生器、２は比較器、３は軟判定値
信号設定回路、４はエンコーダ、５は加算器を表す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 通信回線に送出される信号に被試験信号を疑似的に付加
することによって、軟判定誤り訂正復号器が正しく誤り
を訂正するか否かをチェックする試験装置において、 正規乱数の信号を発生させる正規乱数発生器（１）と、 正規乱数発生器（１）によって発生させた正規乱数の値
を軟判定識別値に対応づける比較器（２）と、比較器（
２）によって対応づけられた信号をエンコードして通信
回線に疑似的に付加する加算器（５）とを備え、 加算器（５）によって付加した軟判定値信号を用いて軟
判定誤り訂正復号器の試験を行うことを特徴とする軟判
定誤り訂正復号器用試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787685A JPS61285839A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 軟判定誤り訂正復号器用試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12787685A JPS61285839A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 軟判定誤り訂正復号器用試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61285839A true JPS61285839A (ja) | 1986-12-16 |
Family
ID=14970825
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12787685A Pending JPS61285839A (ja) | 1985-06-12 | 1985-06-12 | 軟判定誤り訂正復号器用試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61285839A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06132825A (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-13 | Nippon Precision Circuits Kk | 信号生成回路 |
-
1985
- 1985-06-12 JP JP12787685A patent/JPS61285839A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06132825A (ja) * | 1992-10-16 | 1994-05-13 | Nippon Precision Circuits Kk | 信号生成回路 |
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