JPS61283855A - 欠点検出装置 - Google Patents
欠点検出装置Info
- Publication number
- JPS61283855A JPS61283855A JP12433385A JP12433385A JPS61283855A JP S61283855 A JPS61283855 A JP S61283855A JP 12433385 A JP12433385 A JP 12433385A JP 12433385 A JP12433385 A JP 12433385A JP S61283855 A JPS61283855 A JP S61283855A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- running speed
- output
- ccd3
- pulse
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、欠点検出装置に圓し、特に平面的な被検査物
の表面の欠点の検出に適した装置に関する。
の表面の欠点の検出に適した装置に関する。
（発明の概要）
本発明は、被検査物の走行速度に比例して検査器の走査
周期を制御することにより、被検査物の走行速度変化に
よる検出感度変化を防止したものである。
周期を制御することにより、被検査物の走行速度変化に
よる検出感度変化を防止したものである。
（従来の技術）
第４図及び第５図は、ＣＯＤイメージセンサ１２ａなど
を有する走査型の検出器１２により紙などのシート状被
検査物１０の欠点を検出する従来の装置を示し、被検査
物１０は第４図において紙面と直交方向に移動し、第５
図においては上下方向に移動するように示されている。
を有する走査型の検出器１２により紙などのシート状被
検査物１０の欠点を検出する従来の装置を示し、被検査
物１０は第４図において紙面と直交方向に移動し、第５
図においては上下方向に移動するように示されている。
この装置は第５図に示すように、移動する被検査物１０
（第５図（ｂ））を透過した光源１１（第４図）の光を
イメージセンサ１２ａの各素子（第５図（ａ））に蓄積
し、この各素子の出力（第５図（Ｃ））が欠点弁別値を
超えるか否かにより被検査物１０の欠点１０ａを検出し
ていた。
（第５図（ｂ））を透過した光源１１（第４図）の光を
イメージセンサ１２ａの各素子（第５図（ａ））に蓄積
し、この各素子の出力（第５図（Ｃ））が欠点弁別値を
超えるか否かにより被検査物１０の欠点１０ａを検出し
ていた。
尚、第５図（ｂ）において、ｊＯはイメージセンサ１２
ａの各素子の蓄積時間に応じて走査可能な最短の長さを
示し、第５図（Ｃ）は、被検査物１０の走行距離しが上
記ｊＯに等しい場合のイメージセンサ１２ａの各素子の
出力ＶｊＯを示している。
ａの各素子の蓄積時間に応じて走査可能な最短の長さを
示し、第５図（Ｃ）は、被検査物１０の走行距離しが上
記ｊＯに等しい場合のイメージセンサ１２ａの各素子の
出力ＶｊＯを示している。
尚、上記例は透過型の装置であるが、反射型の装置や或
いは検出器１２を複数個用いて幅広の被検査物の欠点を
検出する装置も同様な方法で欠点検出を行っている。
いは検出器１２を複数個用いて幅広の被検査物の欠点を
検出する装置も同様な方法で欠点検出を行っている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、このよ−うな検出装置にあっては、イメ
ージセンサ１２ａの１走査時間当りの被検査物１０の走
行方向の長さしは被検査物の走行速度により変化する。
ージセンサ１２ａの１走査時間当りの被検査物１０の走
行方向の長さしは被検査物の走行速度により変化する。
ここで被検査物１０の欠点弁別値をイメージセンサ１２
ａの１素子の出力ＶｊＯＸｏ、６とし、被検査物１０の
走行速度がしのときのイメージセンサ１２ａの１素子の
出力をＶＬＯとし、更に被検査物１０に長さ２ｊＯの欠
点１０ａがある場合のＶＬ／ＶｊＯとＬ／ｉｏの関係を
第６図に示す。
ａの１素子の出力ＶｊＯＸｏ、６とし、被検査物１０の
走行速度がしのときのイメージセンサ１２ａの１素子の
出力をＶＬＯとし、更に被検査物１０に長さ２ｊＯの欠
点１０ａがある場合のＶＬ／ＶｊＯとＬ／ｉｏの関係を
第６図に示す。
この図から明らかなように、ｊＯ≦し≦２１０の範囲で
はイメージセンサ１２ａの出力ＶＬは変化しないが、Ｌ
＜２１０になると該出力は低下し、更にＬ−４ｊ！０の
ときの出力はｊｏ−Ｌのときの出力の１７２になり、欠
点１０ａは検出できないという問題点がある。
はイメージセンサ１２ａの出力ＶＬは変化しないが、Ｌ
＜２１０になると該出力は低下し、更にＬ−４ｊ！０の
ときの出力はｊｏ−Ｌのときの出力の１７２になり、欠
点１０ａは検出できないという問題点がある。
本発明は上記従来例の問題点に鑑み、被検査物の走行速
度にかかわらず欠点を検出することのできる装置を提供
することを目的とする。
度にかかわらず欠点を検出することのできる装置を提供
することを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
本発明は上記問題点を解決するために、被検査物を走査
する検査器と、被検査物の走行速度を検出する手段と、
被検査物の走行速度に比例して前記検査器の走査周期を
制御する手段を有することを特徴とする。
する検査器と、被検査物の走行速度を検出する手段と、
被検査物の走行速度に比例して前記検査器の走査周期を
制御する手段を有することを特徴とする。
（実施例）
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
は本発明に係る欠点検出装置の一実施例を示す構成図で
ある。
は本発明に係る欠点検出装置の一実施例を示す構成図で
ある。
本装置は、紙などのシート状の被検査物の１０の走行速
度を検出するためのロータリパルスゼネレータ（ＲＰＧ
）１と、このＲＰＧｌの出力パルスを所定数カウントし
たときに模膜のＣＣＤイメージセンサ３を駆動するため
のタイミングパルスを発生するための回路２を含む。
度を検出するためのロータリパルスゼネレータ（ＲＰＧ
）１と、このＲＰＧｌの出力パルスを所定数カウントし
たときに模膜のＣＣＤイメージセンサ３を駆動するため
のタイミングパルスを発生するための回路２を含む。
ＲＰＧｌは、被検査物１０を搬送するための駆動軸１２
等に配置されたインクリメント型のロータリエンコーダ
を有し、第２図に示すように被検査物１０の走行速度に
応じたパルスを発生する。
等に配置されたインクリメント型のロータリエンコーダ
を有し、第２図に示すように被検査物１０の走行速度に
応じたパルスを発生する。
すなわち、第２図（ｂ）は第２図（ａ）に比較して走行
速度が遅い場合であって、パルス間隔が粗になり、第２
図（Ｃ）は第２図（ａ）に比較して走行速度が速い場合
であってパルス間隔が密となる。
速度が遅い場合であって、パルス間隔が粗になり、第２
図（Ｃ）は第２図（ａ）に比較して走行速度が速い場合
であってパルス間隔が密となる。
駆動タイミングパルス発生回路２は、ＲＰＧｌのパルス
数をカウントし、所定の値ｍをカウントする毎にＣＣＤ
イメージセンサ３を駆動するためのパルスＴｉｎｔを発
生する。第２図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）に示すように、
それぞれのパルスＴ ｉｎｔの時間間隔ｔｗａ、 ｔｗ
ｂ、 ｔｗｃは、被検査物１ｏの走行速度に比例する。
数をカウントし、所定の値ｍをカウントする毎にＣＣＤ
イメージセンサ３を駆動するためのパルスＴｉｎｔを発
生する。第２図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）に示すように、
それぞれのパルスＴ ｉｎｔの時間間隔ｔｗａ、 ｔｗ
ｂ、 ｔｗｃは、被検査物１ｏの走行速度に比例する。
ＣＣＤイメージセンサ３は、被検査物１ｏを介して光源
１１からの透過光を受光、蓄積し、蓄積時間は被検査物
１０の走行速度に応じてＴｗａ。
１１からの透過光を受光、蓄積し、蓄積時間は被検査物
１０の走行速度に応じてＴｗａ。
ＴＷｂ、 ＴＷＣとなる。したがって、ＣＣＤイメージ
センサ３の出力は第３図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）に示す
ように、被検査物１ｏの走行速度が遅い場合には高レベ
ルとなり（第３図（ｂ））、速い場合には低レベル（第
３図（Ｃ））となる。
センサ３の出力は第３図（ａ）、（ｂ）、（Ｃ）に示す
ように、被検査物１ｏの走行速度が遅い場合には高レベ
ルとなり（第３図（ｂ））、速い場合には低レベル（第
３図（Ｃ））となる。
重装・置は更に、ＣＣＤイメージセンサ３の出力に比例
した電圧に変換する積分回路４と、弁別値を設定するた
めの抵抗Ｒ１及びＲ２と、弁別器５を含み、弁別器５の
出力端子５ａには被検査物１０の走行速度にかかわらず
２値化された欠点信号が得られる。
した電圧に変換する積分回路４と、弁別値を設定するた
めの抵抗Ｒ１及びＲ２と、弁別器５を含み、弁別器５の
出力端子５ａには被検査物１０の走行速度にかかわらず
２値化された欠点信号が得られる。
前記実施例では単一のＣＯＤイメージセンサを用いた透
過式の装置について説明したが、被検査物面からの反射
光を検出する装置や、複数の検査器を用いて幅広の被検
査物の欠点を検出する装置にも適用することができる。
過式の装置について説明したが、被検査物面からの反射
光を検出する装置や、複数の検査器を用いて幅広の被検
査物の欠点を検出する装置にも適用することができる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、被検査物の走行速度に応
じてイメージセンサの走査周期を変化するようにしたの
で、被検査物の走行速度に影響を受けることなく、欠点
検出が可能となる。
じてイメージセンサの走査周期を変化するようにしたの
で、被検査物の走行速度に影響を受けることなく、欠点
検出が可能となる。
第１図は本発明に係る欠点検出装置の一実施例を示す構
成図、第２図は〇−タリパルスゼネレータの出力と駆動
タイミングパルス発生回路の出力の関係を示すタイミン
グチャートであって、第２図（ａ）は被検査物が通常の
走行速度の場合、第２図（ｂ）は被検査物の走行速度が
遅い場合、第２図（Ｃ）は被検査物の走行速度が速い場
合、第３図はイメージセンサの出力波形図であって、第
３図（ａ）は被検査物が通常の走行速度の場合、第３図
（ｂ）は被検査物の走行速度が遅い場合、第３ＷＪ（ｃ
）は被検査物の走行速度が速い場合を示す、第４図は従
来例の構成図、第５図は従来例の説明図であって、第５
図（ａ）はイメージセンサの説明図、第５図（ｂ）は被
検査物の平面図、第５図（Ｃ）はイメージセンサの出力
波形図、第６図は被検査物の走行速度に応じたイメージ
センサの出力の関係を示すグラフである。 １・・・０−タリバルスゼネレータ、２・・・駆動タイ
ミングパルス発生回路、３・・・ＣＣＤイメージセンサ
、１０・・・被検査物。
成図、第２図は〇−タリパルスゼネレータの出力と駆動
タイミングパルス発生回路の出力の関係を示すタイミン
グチャートであって、第２図（ａ）は被検査物が通常の
走行速度の場合、第２図（ｂ）は被検査物の走行速度が
遅い場合、第２図（Ｃ）は被検査物の走行速度が速い場
合、第３図はイメージセンサの出力波形図であって、第
３図（ａ）は被検査物が通常の走行速度の場合、第３図
（ｂ）は被検査物の走行速度が遅い場合、第３ＷＪ（ｃ
）は被検査物の走行速度が速い場合を示す、第４図は従
来例の構成図、第５図は従来例の説明図であって、第５
図（ａ）はイメージセンサの説明図、第５図（ｂ）は被
検査物の平面図、第５図（Ｃ）はイメージセンサの出力
波形図、第６図は被検査物の走行速度に応じたイメージ
センサの出力の関係を示すグラフである。 １・・・０−タリバルスゼネレータ、２・・・駆動タイ
ミングパルス発生回路、３・・・ＣＣＤイメージセンサ
、１０・・・被検査物。
Claims (1)
- 被検査物を走査する検査器と、被検査物の走行速度を検
出する手段と、被検査物の走行速度に比例して前記検査
器の走査周期を制御する手段を有する欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12433385A JPS61283855A (ja) | 1985-06-10 | 1985-06-10 | 欠点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12433385A JPS61283855A (ja) | 1985-06-10 | 1985-06-10 | 欠点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61283855A true JPS61283855A (ja) | 1986-12-13 |
Family
ID=14882742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12433385A Pending JPS61283855A (ja) | 1985-06-10 | 1985-06-10 | 欠点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61283855A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04316478A (ja) * | 1991-04-12 | 1992-11-06 | Nec Corp | 生物試料観察装置、システムおよび方法 |
| JP2014092481A (ja) * | 2012-11-05 | 2014-05-19 | Ricoh Elemex Corp | 画像処理システム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5622908A (en) * | 1979-08-02 | 1981-03-04 | Daihen Corp | Automatic pattern check unit |
| JPS6212997U (ja) * | 1985-07-09 | 1987-01-26 | ||
| JPS6318568U (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-06 |
-
1985
- 1985-06-10 JP JP12433385A patent/JPS61283855A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5622908A (en) * | 1979-08-02 | 1981-03-04 | Daihen Corp | Automatic pattern check unit |
| JPS6212997U (ja) * | 1985-07-09 | 1987-01-26 | ||
| JPS6318568U (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-06 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04316478A (ja) * | 1991-04-12 | 1992-11-06 | Nec Corp | 生物試料観察装置、システムおよび方法 |
| JP2014092481A (ja) * | 2012-11-05 | 2014-05-19 | Ricoh Elemex Corp | 画像処理システム |
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