JPS61276046A - Data processor with memory diagnostic function - Google Patents

Data processor with memory diagnostic function

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Publication number
JPS61276046A
JPS61276046A JP11787685A JP11787685A JPS61276046A JP S61276046 A JPS61276046 A JP S61276046A JP 11787685 A JP11787685 A JP 11787685A JP 11787685 A JP11787685 A JP 11787685A JP S61276046 A JPS61276046 A JP S61276046A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
data
address
bank
mode
Prior art date
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Pending
Application number
JP11787685A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shu Itaya
板谷 周
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11787685A priority Critical patent/JPS61276046A/en
Publication of JPS61276046A publication Critical patent/JPS61276046A/en
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Abstract

PURPOSE:To shorten the memory diagnostic time by writing the same data in all banks simultaneously in the diagnostic mode and writing and reading data on and from the memory bank designated by an address in the normal mode. CONSTITUTION:When a memory diagnostic program is executed, a FF 5 is set; and in case that data is written on an address of a bank 4A, a write-enable signal WR, a select signal SA, an AND circuit 6, and OR circuits 7-9 are set to '1' together. Consequently, write data on a data bus 3 is written on individual banks simultaneously. In case of data read of the bank 4A, the signal WR is set to '0', and the AND circuit 6, select signals SB-SD, and OR circuits 7-9 are set to '0' also, and only the select signal SA is '1'. Consequently, only data of the bank 4A is read out and is diagnosed. Following banks are diagnosed similarly. When the FF 5 is reset to set the normal mode, the AND circuit 6 outputs always '0', and select signals SA-SD are inputted to banks 4A-4D to read and write memory contents in 1:1.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はメモリ診断機能付データ処理装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a data processing device with a memory diagnostic function.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、データ処理装置のメモリ診断は、lアドレス毎に
メモリへデータを書込み、そして読出し、これら2つの
データを比較することにより行なわれていた。
Conventionally, memory diagnosis of a data processing device has been performed by writing and reading data into a memory for every l address, and comparing these two pieces of data.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した従来のメモリ診断方式はlアドレス毎に診断を
行なうものであるために、大容量のメモリの診断を行う
場合に時間がかかるという欠点があった。
Since the above-described conventional memory diagnosis method diagnoses every l address, it has the disadvantage that it takes time to diagnose a large capacity memory.

本発明の目的は、メモリの診断時間の短縮を図ったメモ
リ診断機能付データ処理装置を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a data processing device with a memory diagnostic function that reduces memory diagnostic time.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は記憶部を複数のメモリバンクからなる構成にし
、メモリの診断モード時にデータをメモリに書込む場合
に同じデータを全てのメモリバンりに同時に書込み、そ
れ以外の通常モード時のデータの書込みおよびデータの
読出しの場合にはアドレスバスで指定されたメモリパン
クにのみデータの書込み、読出しを行なうことにより、
メモリ診断時間の短縮を図ったものである。
The present invention configures the storage unit to consist of a plurality of memory banks, and when writing data to the memory during the memory diagnostic mode, the same data is simultaneously written to all memory banks, and when writing data during other normal modes. When reading data, by writing and reading data only to the memory puncture specified by the address bus,
This is intended to shorten memory diagnosis time.

すなわち、本発明のメモリ診断機能付データ処理装置は
、複数のメモリバンクからなる記憶部と、診断モードま
たは通常モードを示すモード信号を出力するモード設定
回路と、モード信号が診断モードのときに、記憶部に対
してデータの書込みを行う場合に全てのメモリバンクに
データを同時に書込む手段と、モード信号が通常モード
のときに、記憶部に対してデータの書込みを行なう場合
に、複数のメモリバンクのいずれか1つのみにデータを
書込む手段と、この記憶部からデータを読出す場合に、
モード信号のいかんに拘わらず。
That is, the data processing device with a memory diagnostic function of the present invention includes a storage unit including a plurality of memory banks, a mode setting circuit that outputs a mode signal indicating a diagnostic mode or a normal mode, and a mode setting circuit that outputs a mode signal indicating a diagnostic mode or a normal mode. A method for simultaneously writing data to all memory banks when writing data to the storage unit, and a means for writing data to multiple memory banks when writing data to the storage unit when the mode signal is the normal mode. A means for writing data into only one of the banks, and a means for reading data from this storage section,
Regardless of the mode signal.

複数のメモリバンクのいずれか1つからのみデータを読
出す手段を有する。
It has means for reading data only from any one of the plurality of memory banks.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明のデータ処理装置の一実施例の要部ブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram of essential parts of an embodiment of a data processing apparatus according to the present invention.

記憶部は、いずれも8個のメモリチップ(16にビット
/チップ)からなる4個の読み/書き可能なメモリバン
ク4A、 48.4G、 4Dで構成されている。各メ
モリバンク4A、 4B、 4C,4Dのアドレスの割
当ては、それぞれ00001〜3FFFN 、 400
0H〜7FFFH、80008NBFFF)l 、 C
00On ”FFFFHとなっている。デコーダ2はア
ドレスバスlからアドレスを入力して、各メモリバンク
4A、 4B、 4C,4Dにメモリバンク内アドレス
に変換したアドレスを出力する(不図示)とともに、ア
ドレス上位4ビツトをデコードして各メモリバンク4A
、 48.40.40を選択するか否かのパン夛セレク
ト信号Sa 、 Ss 。
The storage section is composed of four readable/writable memory banks 4A, 48.4G, and 4D each consisting of eight memory chips (16 bits/chip). Address assignments for each memory bank 4A, 4B, 4C, and 4D are 00001 to 3FFFN, 400, respectively.
0H~7FFFH, 80008NBFFF)l, C
00On "FFFFH.The decoder 2 inputs the address from the address bus 1, and outputs the address converted into an address in the memory bank to each memory bank 4A, 4B, 4C, and 4D (not shown), and also outputs the address (not shown). Decode the upper 4 bits and write each memory bank 4A.
, 48.40.40 are selected or not.

Sc 、 S口を出力する。フリップフロップ5はCP
U(診断プログラム)から診断モード時にはセット信号
、通常モード時はリセット信号を入力し、Q端子からそ
れぞれ“1”、“O”の信号を出力する。アンド回路6
はパンクセレクト信号S^とライトイネーブル信号WR
とフリップフロップ5の出力の論理積をとる。オア回路
7はアンド回路6の出力とバンクセレクト信号SRの論
理和をとり、メモリバンク4Bを選択する信号を出力す
る。オア回路8はアンド回路6の出力とバンクセレクト
信号Scの論理和をとり、メモリバンク4Cを選択する
信号を出力する。オア回路9はアンド回路6の出力とパ
ンクセレクト信号S口の論理和をとり、メモリバンク4
Dを選択する信号を出力する。
Outputs Sc and S ports. Flip-flop 5 is CP
A set signal is input from U (diagnostic program) in the diagnostic mode, and a reset signal is input in the normal mode, and signals of "1" and "O" are output from the Q terminal, respectively. AND circuit 6
are the puncture select signal S^ and the write enable signal WR.
and the output of the flip-flop 5. The OR circuit 7 takes the logical sum of the output of the AND circuit 6 and the bank select signal SR, and outputs a signal for selecting the memory bank 4B. The OR circuit 8 takes the logical sum of the output of the AND circuit 6 and the bank select signal Sc, and outputs a signal for selecting the memory bank 4C. The OR circuit 9 takes the logical sum of the output of the AND circuit 6 and the puncture select signal S, and outputs the output of the memory bank 4.
A signal for selecting D is output.

次に本実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

(1)メモリ診断プログラムが実行されると、まずフリ
ップ20ツブ5がセットされてQ端子から1°゛が出力
される。そしてメモリ診断プログラムがメモリバンク4
Aのアドレス0000Mへデータ00)1を書込む場合
、まずライトイネーブル信号WRがl″となり、メモリ
バンク4Aへのバンクセレクト信号S^も“l”となり
、このときフリップフロップ5の出力が“1 ”である
ためアンド回路6の出力は“1”となる、アンド回路6
の出力はオア回路7,8.9の入力となっているため、
これらオア回路7,8.9の出力も“1″となり、メモ
リバンク4Aとともにメモリバンク48.40.41セ
レクトされる。したがって、データバス3に書込みデー
タ0ONが出力されると、メモリバンク4Aのアドレス
0OOOH、各メモリバンク48.4C,40の先頭ア
ドレスであるメモリバンク4Bのアドレス4000M 
、  メモリバンク4Cのアドレス8000M 、 メ
モリバンク4DのアドレスCOOOHへデータOOoが
同時に書込まれる。
(1) When the memory diagnostic program is executed, the flip 20 knob 5 is first set and 1° is output from the Q terminal. And the memory diagnostic program is memory bank 4
When writing data 00)1 to address 0000M of A, first the write enable signal WR becomes "l", the bank select signal S^ to the memory bank 4A also becomes "l", and at this time the output of the flip-flop 5 becomes "1". ”, the output of the AND circuit 6 is “1”.
Since the output of is the input of OR circuit 7, 8.9,
The outputs of these OR circuits 7, 8.9 also become "1", and memory banks 48, 40, 41 are selected together with memory bank 4A. Therefore, when write data 0ON is output to the data bus 3, the address 0OOOH of the memory bank 4A and the address 4000M of the memory bank 4B, which is the start address of each memory bank 48.4C, 40, are output.
, data OOo are simultaneously written to address 8000M of memory bank 4C and address COOOH of memory bank 4D.

次に、メモリバンク4Aのアドレス0000Hのデータ
を読出す場合、まずライトイネーブル信号WRが“O”
となるためアンド回路6の出力は“O″となる。また、
デコーダ2から出力されるバンクセレクト信号S^、 
Svs 、 Sc 、 Soのうち信号S^が“1パ、
信号S!1 、 Sc 、 Soは“0″であるためオ
ア回路7,8.9の出力は“O″となる。したがって、
記憶部からはメモリバンク4Aのアドレス0000Hの
データ00Mのみが読出されてメモリバンク4Aのアド
レス0000Hに対する診断が終了する。
Next, when reading the data at address 0000H of memory bank 4A, first the write enable signal WR is set to “O”.
Therefore, the output of the AND circuit 6 becomes "O". Also,
Bank select signal S^ output from decoder 2,
Among Svs, Sc, and So, the signal S^ is “1pa,
Signal S! Since 1, Sc, and So are "0", the output of the OR circuits 7, 8.9 becomes "O". therefore,
Only data 00M at address 0000H of memory bank 4A is read out from the storage section, and the diagnosis for address 0000H of memory bank 4A is completed.

さらに、メモリバンク4Bのアドレス400fin 、
  メモリパンク4Cのアドレス8000M 、  メ
モリパンク4DのアドレスCQOOHのデータに対して
も同様にデータの読出しが行なわれて診断が行なわれる
Furthermore, address 400fin of memory bank 4B,
Data at address 8000M of memory puncture 4C and data at address CQOOH of memory puncture 4D are similarly read and diagnosed.

そして、書込みデータをOOH=FFnと変化させて診
断を行うことにより、アドレス0000840008 
、8000M 、 GOOOnのメモリに対する診断が
終了し、さらに、メモリバンクへの書込ミアドレスを0
0001〜3FFFMまで変化させ、データを書込みア
ドレス0000M =FFFFuまでの比較を行うこと
によって全てのメモリ診断が終了する。
Then, by changing the write data to OOH=FFn and performing diagnosis, address 0000840008
, 8000M, the diagnosis of the GOOOn memory is completed, and the write address to the memory bank is set to 0.
All memory diagnosis is completed by changing the data from 0001 to 3FFFM and comparing the data up to the write address 0000M=FFFFu.

(2)最後に、フリップフロップ5をリセット状態(通
常モード)にすると、アンド回路6の出力は常に“θ″
となるため、デコーダ2から出力されるパンクセレクト
信号S^はそのまま、Ss 、 Sc 、 5口はオア
回路7,8.9を通してメモリバンク4A。
(2) Finally, when flip-flop 5 is reset (normal mode), the output of AND circuit 6 is always “θ”
Therefore, the puncture select signal S^ outputted from the decoder 2 is sent as is, and the outputs Ss, Sc, and 5 are sent to the memory bank 4A through the OR circuits 7, 8, and 9.

48、4G、 4Dへ入力される。したがって、この場
合アドレスと1対lに対応したメモリの内容が読み書き
できる。
48, 4G, and 4D. Therefore, in this case, the contents of the memory corresponding to the address on a one-to-one basis can be read and written.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、メモリをメモリパンク構
成とし、メモリ診断時にメモリバンクへ同時にデータを
書き込むことにより、メモリ診断時間を短縮できる効果
がある。
As described above, the present invention has the effect of shortening the memory diagnosis time by providing the memory with a memory puncture configuration and simultaneously writing data to the memory bank during memory diagnosis.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のメモリ診断機能付データ処理装置の一
実施例の要部ブロック図である。 WR・・・ライトイネーブル信号 4A、 4B、 4G、 40・・・メモリバンク5・
・・フリップフロップ 6・・・アンド回路 7.8.9・・・オア回路 S^、 SB 、 Sc 、 So・・・パンクセレク
ト信号特許出願人 日本電気株式会社べ +rV、 ”  ”
FIG. 1 is a block diagram of essential parts of an embodiment of a data processing device with a memory diagnostic function according to the present invention. WR...Write enable signal 4A, 4B, 4G, 40...Memory bank 5.
...Flip-flop 6...AND circuit 7.8.9...OR circuit S^, SB, Sc, So...Punk select signal Patent applicant NEC Corporation B+rV, ""

Claims (1)

【特許請求の範囲】 複数のメモリバンクからなる記憶部と、 診断モードまたは通常モードを示すモード信号を出力す
るモード設定回路と、 モード信号が診断モードのときに、前記記憶部に対して
データの書込みを行なう場合に、全てのメモリバンクに
データを同時に書込む手段と、モード信号が通常モード
のときに、前記記憶部に対してデータの書込みを行なう
場合に、複数のメモリバンクのいずれか1つにのみデー
タを書込む手段と、 前記記憶部からデータを読出す場合に、モード信号のい
かんに拘わらず、複数のメモリバンクのいずれか1つか
らのみデータを読出す手段とを有することを特徴とする
メモリ診断機能付データ処理装置。
[Scope of Claims] A storage section including a plurality of memory banks; a mode setting circuit that outputs a mode signal indicating a diagnostic mode or a normal mode; and a mode setting circuit that outputs data to the storage section when the mode signal is a diagnostic mode. means for writing data into all memory banks at the same time when writing data; and means for writing data into all memory banks at the same time when writing data into the storage section when the mode signal is the normal mode; and means for reading data from only one of the plurality of memory banks, regardless of the mode signal, when reading data from the storage section. A data processing device with a memory diagnostic function.
JP11787685A 1985-05-31 1985-05-31 Data processor with memory diagnostic function Pending JPS61276046A (en)

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JPS61276046A true JPS61276046A (en) 1986-12-06

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ID=14722441

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JP (1) JPS61276046A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01156853A (en) * 1987-12-14 1989-06-20 Pfu Ltd Memory card testing device

Cited By (1)

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