JPS61274282A - スキツド磁力計 - Google Patents
スキツド磁力計Info
- Publication number
- JPS61274282A JPS61274282A JP11737985A JP11737985A JPS61274282A JP S61274282 A JPS61274282 A JP S61274282A JP 11737985 A JP11737985 A JP 11737985A JP 11737985 A JP11737985 A JP 11737985A JP S61274282 A JPS61274282 A JP S61274282A
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- JP
- Japan
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- skid
- frequency
- low frequency
- low
- measurement system
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、スキッド（ＳＱＵＩＤ）磁力計、特に複数
の測定系のスキッド素子が同一の極低温容器に収納され
るスキッド磁力計に関する。
の測定系のスキッド素子が同一の極低温容器に収納され
るスキッド磁力計に関する。
（ロ）従来の技術
一般にスキッド磁力計は、極低温容器内に収納されるス
キッド素子と、極低温容器外に設けられるコントローラ
部とから構成されており、スキッド素子はＪＪ素子、イ
ンプットコイル、伝達トランス、ＲＦコイルや同調コン
デンサ等を含み、コントローラ部には、ＲＦ（高周波）
発振器、ＡＦ（低周波）発振器、増幅器及び同期整流回
路等の各回路が含まれている。
キッド素子と、極低温容器外に設けられるコントローラ
部とから構成されており、スキッド素子はＪＪ素子、イ
ンプットコイル、伝達トランス、ＲＦコイルや同調コン
デンサ等を含み、コントローラ部には、ＲＦ（高周波）
発振器、ＡＦ（低周波）発振器、増幅器及び同期整流回
路等の各回路が含まれている。
そして、ＲＦ倍信号例えば１９ＭＨｚ）がＡＦ倍信号例
えば５ＱＫＩＩｚ）で変調された信号でもってスキッド
素子を駆動する。
えば５ＱＫＩＩｚ）で変調された信号でもってスキッド
素子を駆動する。
また、この種のスキッド磁力計で、複数の測定系、例え
ばＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の３軸用のものを構成するのには、
各測定系用に３個のスキッド素子が使用される。
ばＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の３軸用のものを構成するのには、
各測定系用に３個のスキッド素子が使用される。
（ハ）発明が解決しようとする問題点
上記複数の測定系を有するスキッド磁力計では、３軸用
のスキッド素子は各々に超伝導シールド筒が設けられて
おり、これらスキッド素子を束ねて１つの極低温容器に
収納するとなると、極低温容器が大型化するという問題
がある。そこで、複数のスキッド素子を１つの超伝導シ
ールド筒内に収納したり、１個の伝達トランスに複数の
スキッド素子を装着すれば、コンパクトに収納できる。
のスキッド素子は各々に超伝導シールド筒が設けられて
おり、これらスキッド素子を束ねて１つの極低温容器に
収納するとなると、極低温容器が大型化するという問題
がある。そこで、複数のスキッド素子を１つの超伝導シ
ールド筒内に収納したり、１個の伝達トランスに複数の
スキッド素子を装着すれば、コンパクトに収納できる。
しかし、この場合、複数の測定系のスキッドが同時に駆
動されるため、ＡＦ倍信号の干渉が生じ、測定誤差が生
じたり、測定が出来ないという問題がなる。
動されるため、ＡＦ倍信号の干渉が生じ、測定誤差が生
じたり、測定が出来ないという問題がなる。
この発明は、上記に鑑み、複数の測定系を含むものでも
、小型で、しかも複数のスキッド素子を同時に駆動して
もＡＦ倍信号よる干渉を生じないスキッド磁力針を提供
することを目的としている。
、小型で、しかも複数のスキッド素子を同時に駆動して
もＡＦ倍信号よる干渉を生じないスキッド磁力針を提供
することを目的としている。
（ニ）問題点を解決するための手段及び作用この発明の
スキッド磁力計は、高周波信号が低周波信号で変調され
た信号で駆動されるスキッド素子の複数個を同一の極低
温容器に収納し、スキッド素子の個数に対応した複数の
磁力測定系を形成するものにおいて、 各測定系は、それぞれ低周波基本発振器、この自己の低
周波基本発振器からの低周波信号と他の測定系からの低
周波信号を切替選択する切替回路と、この切替回路から
の低周波信号を増幅する低周波増幅器とから構成される
低周波回路を含み、任意の選択された測定系の低周波基
本発振器で、全ての測定系の低周波回路を同一周波数で
駆動するようにしている。
スキッド磁力計は、高周波信号が低周波信号で変調され
た信号で駆動されるスキッド素子の複数個を同一の極低
温容器に収納し、スキッド素子の個数に対応した複数の
磁力測定系を形成するものにおいて、 各測定系は、それぞれ低周波基本発振器、この自己の低
周波基本発振器からの低周波信号と他の測定系からの低
周波信号を切替選択する切替回路と、この切替回路から
の低周波信号を増幅する低周波増幅器とから構成される
低周波回路を含み、任意の選択された測定系の低周波基
本発振器で、全ての測定系の低周波回路を同一周波数で
駆動するようにしている。
このスキッド磁力計では、１つの測定系の切替回路が低
周波基本発振器に投入されると、それ以外の他の測定系
の切替回路は、自己以外の他の測定系から上記低周波基
本発振器に係る低周波信号を受ける側に投入され、各測
定系の低周波回路の増幅器から出力される低周波信号の
周波数と同一となり、測定系間の干渉は生じなくなる。
周波基本発振器に投入されると、それ以外の他の測定系
の切替回路は、自己以外の他の測定系から上記低周波基
本発振器に係る低周波信号を受ける側に投入され、各測
定系の低周波回路の増幅器から出力される低周波信号の
周波数と同一となり、測定系間の干渉は生じなくなる。
（ホ）実施例
以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。以下で説明する実施例スキッド磁力針はＸ軸、Ｙ軸及
びＺ軸周の３軸磁力計であり、Ｘ軸周の測定系、Ｙ軸用
の測定系及びＺ軸周の測定系から構成されている。
。以下で説明する実施例スキッド磁力針はＸ軸、Ｙ軸及
びＺ軸周の３軸磁力計であり、Ｘ軸周の測定系、Ｙ軸用
の測定系及びＺ軸周の測定系から構成されている。
各測定系の基本構成は、第２図に示す一般的なスキッド
磁力針の回路構成と同様なので、先ず、第２図のスキッ
ド磁力計について説明する。
磁力針の回路構成と同様なので、先ず、第２図のスキッ
ド磁力計について説明する。
同図において、極低温容器中に収納されるスキッド素子
１１は、ビックアンプコイル１２、このピンクアンプコ
イル１２に接続される入力コイル１３、ＪＪ素子１４、
同調コイル１５と同調コンデンサ１６よりなるタンク回
路１７、このタンク回路１７に接続されるケーブル１８
等から構成されている。また、このスキッド素子１１の
ケーブル１８には、抵抗Ｒ９を介して、数十ＭＨｚの高
周波信号を発生するＲＦ発振器１９が接続され、この抵
抗Ｒ１はＲＦ増幅器２０の入力端に接続されている。ま
た、ＲＦ増幅器２０の入力端には、抵抗Ｒ２を介して、
ＡＦ発振器２１より数ＫＨｚ〜数十Ｋ Ｈｚの低周波信
号が入力されるようになってＣ）る。ＲＦ増幅器２０の
出力は、検波器２２、ＡＦ増幅器２３を経て、同期整流
器２４に加えられる。
１１は、ビックアンプコイル１２、このピンクアンプコ
イル１２に接続される入力コイル１３、ＪＪ素子１４、
同調コイル１５と同調コンデンサ１６よりなるタンク回
路１７、このタンク回路１７に接続されるケーブル１８
等から構成されている。また、このスキッド素子１１の
ケーブル１８には、抵抗Ｒ９を介して、数十ＭＨｚの高
周波信号を発生するＲＦ発振器１９が接続され、この抵
抗Ｒ１はＲＦ増幅器２０の入力端に接続されている。ま
た、ＲＦ増幅器２０の入力端には、抵抗Ｒ２を介して、
ＡＦ発振器２１より数ＫＨｚ〜数十Ｋ Ｈｚの低周波信
号が入力されるようになってＣ）る。ＲＦ増幅器２０の
出力は、検波器２２、ＡＦ増幅器２３を経て、同期整流
器２４に加えられる。
一方、ＡＦ発振器２１の低周波信号は、同期整流器２４
にも加えられるようになっている。さらに、同期整流器
２４の出力は、直流増幅用の積分器２５を介して導出さ
れ、積分器２５の出力は帰還抵抗Ｒｆを介して、ＲＦ増
幅器２０の入力側に帰還されるようになっている。
にも加えられるようになっている。さらに、同期整流器
２４の出力は、直流増幅用の積分器２５を介して導出さ
れ、積分器２５の出力は帰還抵抗Ｒｆを介して、ＲＦ増
幅器２０の入力側に帰還されるようになっている。
このスキッド磁力計において、ピックアップコイル１２
のインダクタンスをＬｐ、入力コイル１３のインダクタ
ンスをＬｉとし、ピンクアップコイル１２に微小磁束δ
φが侵入すると、ピックアップコイル１２と入力コイル
１３で形成される閉ループに■＝δφ／（Ｌｐ＋Ｌｉ）
なる電流が流れ、この電流Ｉによる磁束がＪＪ素子１４
のリングに侵入する。そして、この磁束による変調作用
により、ＲＦ発振器１９よりの高周波信号とＡＦ発振器
２１よりの低周波信号の和の信号の位相に変化を与え、
検波器２２により、低周波信号がＡＦ増幅器２３を経て
同期整流器２４に加えられる。
のインダクタンスをＬｐ、入力コイル１３のインダクタ
ンスをＬｉとし、ピンクアップコイル１２に微小磁束δ
φが侵入すると、ピックアップコイル１２と入力コイル
１３で形成される閉ループに■＝δφ／（Ｌｐ＋Ｌｉ）
なる電流が流れ、この電流Ｉによる磁束がＪＪ素子１４
のリングに侵入する。そして、この磁束による変調作用
により、ＲＦ発振器１９よりの高周波信号とＡＦ発振器
２１よりの低周波信号の和の信号の位相に変化を与え、
検波器２２により、低周波信号がＡＦ増幅器２３を経て
同期整流器２４に加えられる。
ここで同期整流されて、その出力に微小磁束δφに比例
した電圧が得られる。この電圧が積分器２５を経て出力
されるとともに、その出力が帰還抵抗Ｒｆを介して負帰
還され、系全体が安定動作する。
した電圧が得られる。この電圧が積分器２５を経て出力
されるとともに、その出力が帰還抵抗Ｒｆを介して負帰
還され、系全体が安定動作する。
さて、この発明の実施例スキッド磁力計は、Ｘ軸、Ｙ軸
及びＺ軸の測定系からなり、各測定系の基本構成は、上
述した第２図のものと同様であるが、各測定系のスキッ
ド素子は、１個の極低温容器内に収納されるとともに、
低周波回路部に特徴を有している。
及びＺ軸の測定系からなり、各測定系の基本構成は、上
述した第２図のものと同様であるが、各測定系のスキッ
ド素子は、１個の極低温容器内に収納されるとともに、
低周波回路部に特徴を有している。
第１図に、実施例スキッド磁力計の要部である低周波回
路部を示している。同図において、ＩＸ、ＩＹ、ＩＺは
、それぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の各測定系の低周波回路部
であり、第２図のＡＦ発振器２１を含む周辺回路に相当
する 低周波回路部ｌＸは、ＡＦ基準発振器２ｘと低周波増幅
器３Ｘと、スイッチ４Ｘ、マスク（ＭＡＳＴＥＲ）端子
５Ｘ及びスレ一ブ（ＳＬＡＶＥ）端子６Ｘを備え、スイ
ッチ４Ｘの切替動作により、Ａ、 Ｆ基準発振器２Ｘと
スレーブ端子６Ｘのいずれかが選択されて、低周波増幅
器３Ｘの入力端に接続されるようになっている。また、
低周波増幅器３Ｘの出力がマスク端子５Ｘより導出され
るようになっている。また、低周波回路部ＩＹ、ＩＺも
、低周波回路部ＩＸと同様に構成されている。そして、
各低周波増幅器３Ｘ、３Ｙ、３Ｚは、それぞれの測定系
の抵抗Ｒ２と同期整流器２４に接続されている。
路部を示している。同図において、ＩＸ、ＩＹ、ＩＺは
、それぞれＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の各測定系の低周波回路部
であり、第２図のＡＦ発振器２１を含む周辺回路に相当
する 低周波回路部ｌＸは、ＡＦ基準発振器２ｘと低周波増幅
器３Ｘと、スイッチ４Ｘ、マスク（ＭＡＳＴＥＲ）端子
５Ｘ及びスレ一ブ（ＳＬＡＶＥ）端子６Ｘを備え、スイ
ッチ４Ｘの切替動作により、Ａ、 Ｆ基準発振器２Ｘと
スレーブ端子６Ｘのいずれかが選択されて、低周波増幅
器３Ｘの入力端に接続されるようになっている。また、
低周波増幅器３Ｘの出力がマスク端子５Ｘより導出され
るようになっている。また、低周波回路部ＩＹ、ＩＺも
、低周波回路部ＩＸと同様に構成されている。そして、
各低周波増幅器３Ｘ、３Ｙ、３Ｚは、それぞれの測定系
の抵抗Ｒ２と同期整流器２４に接続されている。
もっとも、各測定系のスイッチ４Ｘ、４Ｙ１４２の切替
、各マスク端子５Ｘ、５Ｙ、５Ｚ及びスレーブ端子６Ｘ
、６Ｙ、６Ｚの接続は任意であり、この図では、スイッ
チ４Ｘをａ側に、スイッチ４Ｙ、４Ｚをｂ側に投入する
とともに、測定系Ｘ軸のマスク端子５Ｘと測定系Ｙ軸の
スレーブ端子６Ｙを接続し、測定系Ｙ軸のマスク端子５
Ｙと測定系Ｚ軸のスレーブ端子６Ｚとを接続し、測定系
Ｘ軸のスレーブ端子６Ｘと測定系Ｚ軸のマスク端子５Ｚ
をオープンにしている。
、各マスク端子５Ｘ、５Ｙ、５Ｚ及びスレーブ端子６Ｘ
、６Ｙ、６Ｚの接続は任意であり、この図では、スイッ
チ４Ｘをａ側に、スイッチ４Ｙ、４Ｚをｂ側に投入する
とともに、測定系Ｘ軸のマスク端子５Ｘと測定系Ｙ軸の
スレーブ端子６Ｙを接続し、測定系Ｙ軸のマスク端子５
Ｙと測定系Ｚ軸のスレーブ端子６Ｚとを接続し、測定系
Ｘ軸のスレーブ端子６Ｘと測定系Ｚ軸のマスク端子５Ｚ
をオープンにしている。
このように接続することにより、ＡＦ、ｌ準発振器２Ｘ
の低周波信号が、スイッチ４Ｘを経て低周波増幅器３Ｘ
で増幅され、測定系Ｘ軸のＲ２を介してスキッド素子や
ＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも入力
される。
の低周波信号が、スイッチ４Ｘを経て低周波増幅器３Ｘ
で増幅され、測定系Ｘ軸のＲ２を介してスキッド素子や
ＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも入力
される。
また、測定系Ｙ軸の低周波回路ＩＹでは、低周波増幅器
３Ｘの出力がマスク端子５Ｘ、スレーブ端子６Ｙ、スイ
ッチ４Ｙを経て低周波増幅器３Ｙに入力され、増幅され
、その出力が測定系Ｙ軸の抵抗Ｒ２を介してスキッド素
子やＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも
入力される。
３Ｘの出力がマスク端子５Ｘ、スレーブ端子６Ｙ、スイ
ッチ４Ｙを経て低周波増幅器３Ｙに入力され、増幅され
、その出力が測定系Ｙ軸の抵抗Ｒ２を介してスキッド素
子やＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも
入力される。
さらにまた、測定系Ｚ軸の低周波回路部ｌＺでは、低周
波増幅器３Ｙの出力がマスク端子５Ｙ、スレーブ端子６
ｚ、スイッチ４Ｚを経て低周波増幅器３Ｚに入力され、
その出力が測定系Ｚ軸の抵抗Ｒ２を介してスキッド素子
やＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも入
力される。従って、各測定系のスキッド素子、ＲＦ増幅
器及び同期整流器等に加えられる低周波信号の周波数は
、いずれもＡＦ基準発振器２Ｘより発生される低周波信
号の周波数となり、スキッド素子等が同じ周波数で駆動
されるので、干渉が生じることはない。
波増幅器３Ｙの出力がマスク端子５Ｙ、スレーブ端子６
ｚ、スイッチ４Ｚを経て低周波増幅器３Ｚに入力され、
その出力が測定系Ｚ軸の抵抗Ｒ２を介してスキッド素子
やＲＦ増幅器に入力されるとともに、同期整流器にも入
力される。従って、各測定系のスキッド素子、ＲＦ増幅
器及び同期整流器等に加えられる低周波信号の周波数は
、いずれもＡＦ基準発振器２Ｘより発生される低周波信
号の周波数となり、スキッド素子等が同じ周波数で駆動
されるので、干渉が生じることはない。
なお、上記の説明では、測定系Ｘ軸のスイッチ４Ｘをａ
側に投入（Ｘ軸をマスク）したが、スイッチ４Ｘ、４Ｙ
、４Ｚ及びマスク端子５Ｘ、５Ｙ。
側に投入（Ｘ軸をマスク）したが、スイッチ４Ｘ、４Ｙ
、４Ｚ及びマスク端子５Ｘ、５Ｙ。
５Ｚ及びスレーブ端子６Ｘ、６Ｙ、６Ｚの接続を適宜選
択することにより、測定系Ｙ軸あるいはＺ軸をマスクと
することはもちろん可能である。
択することにより、測定系Ｙ軸あるいはＺ軸をマスクと
することはもちろん可能である。
またこの発明は、１基板に複数のＪＪ素子リングを形成
したマルチアレー型スキッド素子の駆動や、ＤＣ−スキ
ッド素子の駆動にも適用することができる。
したマルチアレー型スキッド素子の駆動や、ＤＣ−スキ
ッド素子の駆動にも適用することができる。
（へ）発明の効果
この発明によれば、複数の測定系のスキッド素子を１個
の極低温容器内に収納するスキッド磁力計において、各
測定系の低周波回路の信号周波数を同一にしているので
、各測定系間の干渉が生じることなく、精度の高い測定
をなすことができる。
の極低温容器内に収納するスキッド磁力計において、各
測定系の低周波回路の信号周波数を同一にしているので
、各測定系間の干渉が生じることなく、精度の高い測定
をなすことができる。
第１図は、この発明の一実施例スキッド磁力計の要部回
路を示すブロック図、第２図は、スキッド磁力計の基本
回路構成を示すブロック図である。 ２Ｘ・２Ｙ・２Ｚ：ＡＦ基準発振器、 ３Ｘ・３Ｙ・３Ｚ：低周波増幅器、 ４Ｘ・４Ｙ・４Ｚ：スイノチ、 ５Ｘ・５Ｙ・５Ｙ：マスタ端子、 ６Ｘ・６Ｙ・６Ｙニスレープ端子。 特許出願人 株式会社島津製作所代理人
弁理士 中 村 茂 信第１０ Ｘ ６Ｚ ５ｊ
路を示すブロック図、第２図は、スキッド磁力計の基本
回路構成を示すブロック図である。 ２Ｘ・２Ｙ・２Ｚ：ＡＦ基準発振器、 ３Ｘ・３Ｙ・３Ｚ：低周波増幅器、 ４Ｘ・４Ｙ・４Ｚ：スイノチ、 ５Ｘ・５Ｙ・５Ｙ：マスタ端子、 ６Ｘ・６Ｙ・６Ｙニスレープ端子。 特許出願人 株式会社島津製作所代理人
弁理士 中 村 茂 信第１０ Ｘ ６Ｚ ５ｊ
Claims (1)
- （１）高周波信号が低周波信号で変調された信号で駆動
されるスキッド素子の複数個を同一の極低温容器に収納
し、スキッド素子の個数に対応した複数の磁力測定系を
形成するスキッド磁力計において、 各測定系は、それぞれ低周波基本発振器、この自己の低
周波基本発振器からの低周波信号と他の測定系からの低
周波信号を切替選択する低周波切替回路と、この切替回
路からの低周波信号を増幅する低周波増幅器とからなる
低周波回路を含み、任意の選択された測定系の低周波基
本発振器で、全ての測定系の低周波回路を同一周波数で
駆動するようにしたことを特徴とするスキッド磁力計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60117379A JP2503390B2 (ja) | 1985-05-29 | 1985-05-29 | スキッド磁力計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60117379A JP2503390B2 (ja) | 1985-05-29 | 1985-05-29 | スキッド磁力計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61274282A true JPS61274282A (ja) | 1986-12-04 |
| JP2503390B2 JP2503390B2 (ja) | 1996-06-05 |
Family
ID=14710189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60117379A Expired - Lifetime JP2503390B2 (ja) | 1985-05-29 | 1985-05-29 | スキッド磁力計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2503390B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0377082A (ja) * | 1989-08-19 | 1991-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 多チャンネル超電導磁力計 |
-
1985
- 1985-05-29 JP JP60117379A patent/JP2503390B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| CRYOGENICS=1981 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0377082A (ja) * | 1989-08-19 | 1991-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 多チャンネル超電導磁力計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2503390B2 (ja) | 1996-06-05 |
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