JPS6127039A - イオンビ−ム発生装置 - Google Patents

イオンビ−ム発生装置

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JPS6127039A
JPS6127039A JP59149931A JP14993184A JPS6127039A JP S6127039 A JPS6127039 A JP S6127039A JP 59149931 A JP59149931 A JP 59149931A JP 14993184 A JP14993184 A JP 14993184A JP S6127039 A JPS6127039 A JP S6127039A
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ion beam
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synchrotron radiation
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beam generator
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JP59149931A
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Yoshihiro Ueda
植田 至宏
Koichi Ono
高一 斧
Tatsuo Omori
達夫 大森
Shigeto Fujita
重人 藤田
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/24Ion sources; Ion guns using photo-ionisation, e.g. using laser beam

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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、半導体加工装置をはじめ材料改質。
材料合成等に使われるイオンビーム発生装置に関するも
のである。
〔従来技術〕
従来、イオンビーム発生装置によるイオン発生方法とし
ては、種々の手法が考えられ実用化されて来た。その大
部分は放電を利用したものであったが、近年レーザ光を
使ったイオン源が考え出されて来ている。このレーザ光
等の光を使った方式には2つあり、1つはレーザ光を金
属等の固体に照射してそのプラズマをイオン源として使
ったり、レーザ光を集光して気体、液体に照射してプラ
ズマを作り、これをイオン源としたりするものであり、
他の1つは波長の可変な光源を使い、レーザ光等の単一
波長を対象とするイオン化されるべき物質のエネルギ準
位に共鳴させて該物質をイオン化させるものである(特
開昭50−22999号公報参照)。本発明は後者に関
するものであり、光源としてレーザ光でなくシンクロト
ロン放射光を使うものである。
〔発明の概要〕
本発明は、上記共鳴光励起、イオン化方式のイオンビー
ム発生装置において、イオン化させる物質の共鳴光励起
にてイオン化させる直前の状態として、該物質の自動電
離状態(Autoionizationstate )
を使うことにより、従来の共鳴光励起。
イオン化方式に比べ入力光エネルギに対するイオン化効
率を数桁以上向上でき、かつ選択イオン化における選択
性に優れたイオンビーム発生装置を提供することを目的
としている。
〔発明の実施例〕
まず本発明装置におけるイオン化方法をホウ素イオンビ
ームを発生する場合を例にとって従来の方法と比較しつ
つ説明する。第1図はホウ素中性原子のエネルギ準位図
である。
従来のイオン化方法は、例えば波長が2497人。
1.17μ及び8668人の3本のレーザビームB1〜
B3をイオン化させたいホウ素蒸気に照射する方法であ
り、即ち基底状態23221)(2po)にあるホウ素
原子をまず2497人のレーザビームB1により励起状
態3S (2S)に共鳴励起し、その後1.17μ、 
8668人のレーザビームB2.B3により3p (2
PO)、5g  (2S)に励起し、さらに上記レーザ
ビームB3によりイオン化させるものである。
本発明装置におけるイオン化方法が上記従来のイオン化
方法と異なるのは、励起用光源としてシンクロトロン放
射光、特に相対論的シンクロトロン放射光を使用する点
にある。シンクロトロン放射光はレーザ光と同様、方向
性を有し、かつレーザ光よりはるかに大強度、高エネル
ギ光子であり、そのため第1図に示すように1本の光子
B4により比較的下位の励起状態から高励起状態に励起
できる。また本発明方法の従来方法と根本的に異なる点
はこの最終励起状態として自動電離状態にすることであ
り、この励起状態において該励起蒸気は所定の遷移確率
でまさしく自動電離される。なお、基底状態から上記下
位の励起状態への励起はグロー放電等による。
この発明装置におけるイオン化方法の場合、従来のイオ
ン化方法がエネルギ準位58(23)の状態から直接イ
オン化させるのに比べ、イオン化させる衝突断面積が数
桁以上高い。従って光の出力エネルギが小さくてすみ、
しかも完全に共鳴のみを使うためシンクロトロン放射光
の波長を不純物原子のエネルギ準位と一致しないように
選択すればイオン化させたい物質のみをイオン化でき、
しかも純度の高いものができる。
また上記分光された単一波長のシンクロトロン放射光の
波長を変えることにより、容易に他種の物質のイオンビ
ームを発生することができ、この場合イオン化される多
種の物質を前もってイオンビーム発生容器内に導入して
おいても良い。このように発生するイオンビームの種類
を容易に変えることができる本発明の手法は従来の方法
にないものであり、イオンビームで処理するイオン種の
異なるような2つ以上の行程を連続して行なうことがで
きる利点がある。
次にこの発明の実施例を図について説明する。
第2図は本発明の第1の実施例を示す。図において、1
はイオン化されるべき物質が導入される容器、1aは上
記物質を該容器l内に導入するためのガス導入孔、1b
は上記容器1を差動排気して真空にするための真空排気
装置(図示せず)に接続された排気通路、1cはスリッ
ト、3は2067人の波長幅の狭いシンクロトロン放射
光B4を発生するシンクロトロン放射光発生部である。
また、5,6は上記シンクロトロン放射光B4を挾んで
配置された電極、5a、6aは上記電極5.6に電圧を
印加する端子であり、これらは上記容器l内においてR
F放電を発生するガス放電発生部15を構成している。
なお、上記イオン化されるべき物質が化合物又は分子状
態のガスとしガス放電を兼ねるようにしてもよい。
8は試料、8aは該試料8を保持する試料台であり、該
試料台8aと上記電極6との間には直流電圧が印加され
、これによりイオン化された物質をイオンビームとして
引き出すための引き出し電界が発生される。
次に動作について説明する。
本実施例装置により、ホウ素のイオンビームを発生する
場合を考える。まず容器1にガス導入孔1aよりホウ素
蒸気10を導入する。そして上記電極5と電極6の各々
に端子5a、5aから電圧が印加され、これにより、ホ
ウ素蒸気10にグロー放電又はガス放電による電子が衝
突し、その結果ホウ素蒸気10はその基底状態2s22
p(2PO)から準安定状態2s2p2(4P)に共鳴
励起される。また上記電圧印加と時間的に同期して上記
シンクロトロン放射光発生部3から波長2067人のシ
ンクロトロン放射光B4がスリットICを介して上記容
器1に導入され、これにより上記準安定状態2s2p2
  (4P)にあるホウ素蒸気10は、2067人のシ
ンクロトロン放射光B4により自動電離状態2s2p3
s (4PO)に共鳴励起され、該励起蒸気は所定の遷
移確率でもってイオン状態になる。また上記電極6と試
料台8aとの間には直流電圧が印加されており、これに
より上記・イオン化されたホウ素蒸気10はホウ素のイ
オンのみからなるイオンビーム9として引き出され、該
イオンビーム9は上記試料8に照射される。
以上の動作説明における本実施例の特徴を示すと、まず
第1に本実施例は完全に共鳴のみを用いて選択イオン化
を行なうものであるので、上記容器1内にイオン化させ
るべき物質、この場合ホウ素、以外の不純物、酸素、窒
素、炭素、水素等が含まれていて、しかもその量がホウ
素より多くても、シンクロトロン放射光の波長を上記不
純物原子のエネルギ準位と一致させないようにして希望
の元素、この場合はホウ素、のみがイオン化された純粋
なホウ素イオンビームが得られる。 第2に本実施例は
上述のとおり、選択イオン化を行なうものであり、かつ
共鳴光励起によるイオン化を行なうものであるので、電
子や他の元素が励起されたり、エネルギ吸収により温度
上昇したりすることはなく、その結果イオンビームを照
射する対象試料8、例えば半導体の場合は基板、の温度
を上昇させることはなく、低温処理ができる。
第3にイオンビームの種類や特性を変える場合は分光さ
れた単一波長のシンクロトロン放射光の波長及び放電条
件を変えれば良く、従来のような試料を取り出したり、
イオン源部を交換するために容器を開閉したりする必要
はなく、従って、イオン注入とアニーリング等の連続動
作が容易にできる。
第3図は本発明の第2の実施例を示す。図において、第
2図と同一符号は同−又は相当部分を示し、11はイオ
ン化されたベリリウム蒸気10を容器1の軸心に集束せ
しめる磁石コイル、14は上記集束されたホウ素蒸気1
0をイオンビーム9として引き出す引き出し電極である
次に動作について説明する。
まず、ホウ素蒸気10をガス導入孔1aを介して容器1
内に導入する。そして電極5.6に電圧が印加されて上
記蒸気10にガス放電の電子が衝突され、またこれと時
間的に同期して2067人のシンクロトロン放射光B4
がスリットICを介して上記容器1内に導入されて上記
蒸気10に照射される。するとこれにより蒸気10は準
安定状態2s2p2(4P)を経て自動電離状態211
21)3s(4pO)に励起され、さらに該励起蒸気は
所定の遷移確率でイオン状態となり、これによりイオン
生成空間4にホウ素イオンが生成され、該ホウ素イオン
は磁石コイル11により軸心に集束された後、引き出し
電極14によってイオンビーム9として放出される。
第4図は本発明に用いるシンクロトロン放射光発生装置
の構成例である。図おいて、21は線形加速器、22は
電子蓄積リング、24は分光系であり、これらによりシ
ンクロトロン放射光発生装置20が構成されている。3
3は該発生装置20からのシンクロトロン放射光が照射
される容器である。
上記容器33に導入されるシンクロトロン放射光は、ま
ず線形加速器21により電子が加速されて電子蓄積リン
グ22に打ち込まれ、該リング22において相対論的速
度になった電子からシンクロトロン放射光が放出され、
さらに該放射光が分光系24に導入されてここで単一波
長にされた光である。
〔発明の効果〕
このように、本発明に係るイオンビーム発生装置によれ
ば、イオン化されるべき物質をガス放電によりそのエネ
ルギ準位の基底状態から比較的下位の励起状態に共鳴励
起し、さらに上記物質をシンクロトロン放射光の照射に
より該励起状態から自動電離状態にするようにしたので
、イオン化効率及びイオンの選択性を大きく向上できる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はホウ素中性原子会−≠蘂←、十係のエネルギ状
態図、第2図は本発明の第1の実施例によるシャワー型
イオンビーム発生装置の概略構成図、第3図は本発明の
第2の実施例による集束型イオンビーム発生装置の概略
構成図、第4図は本発明に使用するシンクロトロン放射
光発生装置の概略構成図である。 1.33・・・容器、3.20・・・シンクロトロン放
射光発生部、15・・・ガス放電発生部、B4・・・シ
ンクロトロン放射光。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)イオン化されるべき物質を収容する容器と、該容
    器内の上記物質にシンクロトロン放射光を照射するシン
    クロトロン放射光発生部と、上記容器内の上記物質雰囲
    気中でガス放電を発生するガス放電発生部とを備え、上
    記物質のイオンビームを発生する装置において、上記ガ
    ス放電発生部はガス放電により上記物質をエネルギ準位
    の基底状態から比較的下位の励起状態に励起するもので
    あり、上記シンクロトロン放射光発生部は上記物質を上
    記励起状態から自動電離状態に共鳴光励起するような波
    長を有するシンクロトロン放射光を発生するものである
    ことを特徴とするイオンビーム発生装置。
  2. (2)上記シンクロトロン放射光発生部は、上記物質を
    上記比較的下位の励起状態から中間状態を経て上記自動
    電離状態に階段状に共鳴光励起するような波長の異なる
    複数のシンクロトロン放射光を発生するものであること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のイオンビーム
    発生装置。
  3. (3)上記シンクロトロン放射光発生部は、加速器及び
    分光器又は分光系を有し、加速器からの出力を分光器又
    は分光系を通過させた線幅の狭い線スペクトルにした光
    を発生するものであることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項又は第2項記載のイオンビーム発生装置。
  4. (4)上記加速器として、電子蓄積リング又は電子サイ
    クロトロンのいずれか一方又は両方を用いたことを特徴
    とする特許請求の範囲第3項記載のイオンビーム発生装
    置。
  5. (5)上記比較的下位の励起状態が上記物質のエネルギ
    準位の準安定状態であることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項ないし第4項のいずれかに記載のイオンビーム
    発生装置。
  6. (6)上記ガス放電発生部は、高周波(RF)放電を発
    生せしめるものであることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項ないし第5項のいずれかに記載のイオンビーム発
    生装置。
  7. (7)上記物質は、化合物又は分子状態のガスとして上
    記容器内に導入され、上記ガス放電は、上記容器内に導
    入された物質を中性原子状態にするためのガス放電を兼
    ねていることを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし
    第6項のいずれかに記載のイオンビーム発生装置。
  8. (8)上記シンクロトロン放射光とガス放電とは各々の
    位相が時間的に同期することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項ないし第7項のいずれかに記載のイオンビーム
    発生装置。
  9. (9)上記物質は、固体又は液体の物質を加熱気化して
    生成された蒸気として上記容器内に導入されることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項ないし第8項のいずれか
    に記載のイオンビーム発生装置。
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JPH0441461B2 JPH0441461B2 (ja) 1992-07-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6244936A (ja) * 1985-08-23 1987-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> イオンビ−ム発生方法および装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5022999A (ja) * 1973-06-28 1975-03-12

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5022999A (ja) * 1973-06-28 1975-03-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6244936A (ja) * 1985-08-23 1987-02-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> イオンビ−ム発生方法および装置

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JPH0441461B2 (ja) 1992-07-08

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