JPS61268227A - 角膜形状の自動測定装置 - Google Patents

角膜形状の自動測定装置

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JPS61268227A
JPS61268227A JP60112861A JP11286185A JPS61268227A JP S61268227 A JPS61268227 A JP S61268227A JP 60112861 A JP60112861 A JP 60112861A JP 11286185 A JP11286185 A JP 11286185A JP S61268227 A JPS61268227 A JP S61268227A
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JP
Japan
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intersection
image
point
cornea
points
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Application number
JP60112861A
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English (en)
Inventor
一岡 芳樹
嘉志摩 芳夫
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Menicon Co Ltd
Original Assignee
Toyo Contact Lens Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、角膜上に投影された反射パターンの形状を自
動画像解析する角膜形状の自動形状測定装置に関するも
のである。
[従来の技術] 角膜形状を測定する方法として、現在では、パターン投
影を行なうフォトケラメータを用いた角膜形状測定法が
広く普及し、さらにその自動解析システムの制作も試み
られるようになってきた(「日本コンタクトレンズ学会
誌」20巻9号119〜124頁(1987)および2
2巻1号36〜40頁(1980)  )。
しかし、たとえば角膜形状測定パターンとして同心円を
使うばあい、円周方向の傾きが測定できず、角膜全体の
3次元的な形状を定涙的に知ることはできない。
そこで本出願人は、さきに円周方向のスリットと該円周
り向のスリットと交差する半径方向のスリットを有する
フォトケラメータ用投影パターンを出願したく実願昭5
8−105033@’)。
それを用いて全面の傾きを正確に知り、高精度で角膜形
状を数値によって近似させることができる。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、前記考案を含む従来技術では、角膜の形状の測
定結果をもとに、自動的に角膜の3次元形状計測を可能
にする角膜形状自動解析手段は開発されていない。その
理由として、一般に角膜形状は全面にわたって異なる曲
率をもつ非球面であり、その形状が正しく求められる画
像解析用の装置や解析手段が存在しなかったことがあげ
られる。
本発明は、前記の従来技術の問題点を解決し、投影パタ
ーンの入力画像を読取り、角膜形状を数値によって近似
的にあられす自動解析手段を提供するものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明の構成を第1図を用いて説明する。
(1)はフォトケラトメータ、(2)は人の(被写)角
膜、(3)はフォトケラトメータの投影パターンの角膜
による反射像を読みとるためのテレビカメラであるが、
フォトケラトメータの結像をいったん写真(1a)にと
って、それをテレビカメラ(3a)で写しだすようにし
てもよい。(4)は反射像のモニタ、(5)は画像解析
するパーソナルコンピュータ、(51)は画像データを
2値化する閾値操作を含む適応2値化手段、(52)は
画像データに含まれる周辺雑音を除去する手段、(53
)は画像から投影パターンの交点となりうる点(以下「
交点群」という)を抽出する交点抽出手段、(54)は
投影パターンの反射像の線図形の細線化を行なう手段、
(55)は交点群の番号づけを行ない重心の座標値を決
定する手段、(56)はこのようにしてえられた交点群
の重心と、もとの投影パターンの交点とを対応づけする
手段、(6)は(Sの手段によってえられた結果をもと
にして投影パターンの反射像から角膜の曲面形状を近似
する角膜形状決定手段、(IIは角膜形状の断面を表示
する手段である。
[作 用] 本発明の作用を第1図を用いて説明する。フォトケラト
スコープ(1)から投影パターンをとおして射出した光
は人の角膜(2)で反射しその結像がテレビカメラ(3
)に撮影される。なお、該結像はいったん写真(1a)
に写してからカメラ(3a)で再び撮影してもよい。撮
影された画像はデータとしてパーソナルコンピュータ(
5)で画像処理される。同図において、パーソナルコン
ピュータ(5)とCRTディスプレイ(8)との間にあ
る矢印のやりとりは、本画像処理が随時人間との対話型
で行なわれることを示している。その結果角膜で反射さ
れた、必ずしももとの投影パターンと合致しない画像デ
ータの情報かえられる。この情報を処理することによっ
て反射された像ともとの投影パターンとを比較すること
が可能となり、数値解析により角膜の形状を知ることが
できるようになる。
[実施例コ 1画像のとり込み フォトケラメータは、投影パターンを角膜上に投影し、
その反射像をテレセントリック光学系の結像面に置いた
写真装置またはテレビカメラで撮影または撮像するもの
である。第2図によってその光学系を説明する。
光源Oから発し、投影パターン上の1点(P)をとおる
光は角膜(c)に投影され、種々の方向に反射される。
結像レンズ(シ)に入射する反射光のうち、光軸と平行
な光のみを通過させるために、結像レンズ(L)の後側
焦点位置にピンホール(T)が置いである。従って、投
影パターンから射出した光のうち光軸と2βiの角度で
角膜に達した光が、光軸と平行な方向に反射し、レンズ
([)によってフィルム(F)上に写像される。こうし
て角膜上の反射点の像がえられる。
フィルム(F)上でこの像点の位置Yi゛を測定すると
光学系の倍率Hから角膜上の反射点の実際の高さYi(
=Vi’/H)を知ることができる。
また、入射光と反射光との関係から、角膜上の反射点に
おける接線は、光軸と垂直な面に対してβiの角度をな
していることがわかる。
したがって、投影パターンの反射像位置Yi。
を測定すると、角膜の反射面上の各反射点の位置Yiと
傾きβiがわかる。これによって、数学的手法を用いて
もとの形状に回帰することができる。
本発明では、投影パターンとして第3a図のとおり円周
方向のスリットと該円周方向のスリットと交差する放射
方向のスリットを有する投影パターン(実願昭58−1
050334 )を使用している。
この投影パターンは、投影パターン上の位置と像面の位
置を点対点の対応としてとらえることができるところが
、従来の同心円からなるパターン(第4図)との大きな
違いである。すなわち、同心円状の投影パターンを用い
るときは、各円周方向のパターンが連続しているため投
影点(P)に対応する点が環状の投影パターンの反射像
上のいずれかの点にあることしか判明せず、その点が円
周上のどの反射点に対応するのかを同定することができ
ない。
第3a図の投影パターンではその反射像との点対点の対
応づけが可能なので、角膜上の反射点(0)(第2図)
における半径方向、円周方向の両方からなる接平面の傾
きを同時に知ることができる。
この2種類の傾きを考慮することにより、従来の方法で
は角膜の形状が半径rのみの関数として取り扱ってきた
ものが、(X、Y)  (あるいは(r 、θ))の2
元の関数として取り扱うことができる。そのため、形状
近似法は、はるかに複雑になるが、えられた結果は、形
状を充分正確に再現できるようになる。
投影パターンの反射像は、つぎの2つの方法のどちらか
によって画像情報として記憶される。
第1の方法はオンライン入力方法である。この方法では
、投影パターンの反射像は、直接、計測用テレビカメラ
によってl会される。第2はオフライン入力方法である
。この方法では、投影パターンの反射像の写真画像がポ
ラロイドカメラによって撮影され、カメラ(計測・画像
用スキャナあるいは計測用テレビカメラ)によって読み
とられる。
このように第1または第2の方法で読みとられた画像は
、512X 512画素からなり、256階調でA/D
変換され、マイクロコンピュータのメモリに記憶される
■画像処理 取り込まれた画像は、解析処理される。その目的は、投
影パターンの反射像上の交点、すなわち第3b図におけ
る点(S)を抽出し、交点(S)がちとの投影パターン
上のどの点の像であるか(どの点に対応するか)を決定
し、交点(S)と投影パターン上の対応点(P)との座
標のずれを認識し、のちの数値解析によって被写角膜の
曲面形状を求めることにある。
投影パターンの角膜での反射像には照明むらなどによる
シェーディング・雑音などのほかに角膜の曲面形状のゆ
がみからくる形状のゆがみが存在する。したがって、コ
ンピュータで必要な交点を自動的に抽出するためには、
シェーディング補正、パターンとの対応づけなどを迅速
かつ正確に行なう必要がある。
本システムのソフトウェアでは、以上の要求を満足させ
るために、対話型画像処理法を随所に用いている。以下
、各処理段階について、説明する。
(1)II値操作を含む適応2値化 本画像処理で最終的に必要なデータは、投影パターンの
7オトケラトスコープ上の反射像の位置のみである。し
たがって反射像上の点がデータ点(画像処理に必要な点
をいう。以下同じ)であるか否かを判別すればよいわけ
である。そのため、えられた画像データを、ある閾値を
決めそれより濃い点は1、薄い点は0とする2値化を行
なえばよい。
ところが、照明むら、シェーディングなどにより、画像
の濃度が局所的に変化しているので、2値化に必要な閾
値は全画面で一定とすることができない(第5図)。
そこで投影パターンの反射像上の局所領域に注目し、そ
の部分での濃度平均値を用いてこれを閾値として2値化
を施せば、良好な2値画像かえられる(第6図)。この
操作を適応2値化という。扱う局所領域の画素数は、処
理速度、反射像の画質に応じて決められる。
ところが、局所平均をそのまま闇値として用いると、デ
ジタル処理特有の雑音が強調されることになる。そこで
本発明では、画像のコントラストに応じ、その局所平均
にざらにある値(加算量という)αを加えて閾値とし、
雑音を抑える方式を採用した。
この方式はコントラストの良い画像においては、大きい
値を用いることができるので、後述の細線化処理が不要
となり、処理速度の向上につながる。
一方、コントラストの低い画像では必要なデータまで消
去される慣れがあるため加算量αとして小さい値を用い
ると有効である。また、前記の適応2値化処理では、第
7図のように局所領域を9×9画素として局所平均を求
めたが、ある画素に対する閾値と、それに隣接した画素
に対する同値ではあまり差がないと考えられるので1本
発明においては計算時間を短縮するために9×9画素の
平均値を中心の1画素のみの閾値にするのではなく、そ
れに隣接する3×3の画素(第7図の斜線部分)に対す
る閾値とした。
(!I)周辺雑音除去処理 えられた画像データは、投影パターンの角膜上からの反
射像のほかに白眼の部分、まぶたなどの反射像からなっ
ている。これらすべての部分を処理すると非常に長時間
を費やすことになるので、周辺の雑音を除去する必要が
ある。
そこで本発明では必要な角膜部分のみを人間とコンピュ
ータとの対話型で取り出し、処理速度の向上をはかった
被測定物の曲率の違いにより、必要な画像全体の面積が
異なり、また測定状態によってはディスプレイ上での位
置が異なるため、この対話型除去領域指定方式は、処理
時間の点で有効な方法であるといえる。
投影パターン像の存在しない周辺雑音領域が画面上のど
の位置にくるかは、画像が入力された時点で決定される
。しかし、その位置は画像により異なり、コンピュータ
で画一的に除去すると必要なデータまで除去してしまう
慣れがある。
そこで、第8図のように人間が上下左右の除去すべき領
域をカーソルを移動することにより指示を行なう。同図
で斜線部分が除去領域である。また、第8図のように指
示された上下左右の移動位置より数式にあてはめて斜め
方向の切片すを決定し、画像の斜め外側の方向の除去領
域を決定する。その後、これらの除去領域にある2値デ
ータをづ゛べてクリアする。
第9a図にカーソルを移動して除去する領域を指定する
ルーチンを示す。このルーチンでえられるデータは、上
下左右からそれぞれ何画素分のデータ列が不要であるか
ということと、斜めの外側の方向のうちどこまでの部分
を残せばよいかという数値データである。前者では、第
8図に示すように、上方、右方が入力データ(破線位置
)により除去され、後者では゛対角方向のY+X≧bの
領域において除去されることになる。このばあい、同図
で黒の部分は除去されないが、それでもかなりの不要な
部分が除去されると考えられる。第9b図に上下の領域
の除去と、1行ごとに行なう左右および斜め方向の領域
の除去のルーチンを示す。
(至)交点抽出処理 交点抽出処理とは、2値化された投影パターン上の各画
素のうち、投影パターン上の交点を構成するひとかたま
りの画素(交点群)を抽出する処理である。第10図に
おいて注目する画素(A)の近傍8画素(隣接画素とい
う)について考える。
こで採用した交点抽出処理では、第10図の8連結図に
おいて、線は1画素の幅しかもたな(Aとすれば、ある
中心画素Aが線上にあるばあい、周囲の8つの隣接画素
のうち、データ点(2値化された点のうち投影パターン
の反射像を構成する点をいう)は、たとえば1または2
画素である。ところが(A)が交点であるならば、隣接
画素のうちデータ点はたとえば3または4画素であるは
ずである、という原理を用いる。このように交点である
か線であるかの判断の基準となる画素数(このばあい1
もしくは2または3もしくは4)を「スレッショールド
数」という。
第11a図は、このようにして判断された線上の点およ
び交点を示す。第11b図はこのようにして判断された
線上の点や交点と判断されなかった点を示す。
第12a図は交点抽出処理ルーチンである。
同ルーチンではスレッショールド数(同図でTHRES
HOLDと表示されている)をあらかじめ固定したうえ
、注目する“1画素ごとに隣接画素ひとつひとつにつき
データ点である画素数を数えていき、同図でCHECK
と示された変数に加えていく。そうしてCHECK≧T
HRESHOLDとなれば交点、そうでなければ交点で
ないと判断していく。
実際の手順では、第12b図のようにスレッショールド
数をまず8とおき、交点抽出処理を行なう。こうしてえ
られた画像データから人間が細線化の要・不要を判断す
る。要であれば細線化の段階に入るが、不要であればス
レッショールド数をへらして再び交点抽出処理を行なう
最終的に交点がうまく抽出できたと人間が判断すれば、
つぎの番号づけの段階に入るが、そうでないときは初め
の周辺雑音除去の段階での加算量αまたはスレッショー
ルド数を適宜変更するか、細線化を行なうかを人間が判
断して、よい結果がえられるまでこれらの処理をくり返
す。
(へ)細線化 (ト)の交点抽出処理で、実際上線幅が1画素だけの画
像をえるのは困難であるし、前述の方法で処理するとデ
ジタルノイズが強調されるだけのことが多い。実際には
、交点抽出処理で隣接画素のうちデータ点となるべき点
の数がたとえば8であるような交点が非常に多ければ、
人間が細線化処理を必要と判断することになる。
そのときは、細線化法を用いる。細線化処理は、その図
形の性質(隣接点との連結状態)を保ちながら、画素数
を減らしていく方法である。
すなわち、交点抽出を行なう際、あまりに線が太過ぎる
と、線上にある画素と交点上にある画素のそれぞれの周
囲に存在する画素の数に違いが生じなくなる。それでは
、交点か線かの区別をつけることができない。そのばあ
い、画像に何らかの処理を行なって交点と線との区別を
できる段階までもっていかなければならない。そこで、
2値化された画素よりなる図形の境界に面している点を
、近傍の状況を考慮しながら削つていくという方法でこ
れを実現した。
実際には細線化を行なうには各種の方法があるが、ここ
では第13a〜13h図に示すような8連結のマスク・
パターンを用いて隣接する画素を削ってゆく方法を採用
した。同図でφ、φ′は1でもOでもよい。
この方法は、同図のように3×3の画像部分の中心の点
(A)がマスクパターンの条件に適合すれば(A)を1
からOに変えるのである。この条件を第13aへ13h
図のように全部で8パターン用意しておく。この8パタ
ーンのどれにも該当しないばあい、中心(A)点を1と
して残し、他のばあいはOとする。たとえば、第13a
図のマスクを第13i図のように画面上で走査して条件
に適合した点を削ってゆくと、マスクの左側の点が削ら
れてゆくことになり、第13t1図のマスクを用いて第
13i図のように走査してゆくとマスクの左斜め下の点
を削ってゆくことになる。
このように第13a〜13h図の8種のマスクを使用し
て、マスクの上下、左右、斜めの8方向からそれぞれ削
ってゆくことができる。この細線化によって、図形が1
画素ずつの連なりをもつ細線となる。
(V)番号づけ、交点座標決定 交点抽出処理が終了した段階では、抽出された交点を構
成する画素は、ただ交点であるという情報しかなく、ど
の点とどの点がまとまって、あるひとつの交点群に属し
ているのかという情報はない。そこで、(至)の交点抽
出処理のばあいと同じく8連結性を考慮して交点のつな
がりを求め、ひとつの交点群に同一の番号づけを行なう
。同じ交点群に属する画素は同じ番号が与えられる。し
たがってその番号がそのひとつの交点群を表わす。なお
、番号の絶対値は意味がない。
このようにして、ある番号のついたひとまとめの交点群
に関して、その中に属する画素の数とそれぞれのX座標
の和とY座標の和を求める。
最終的には、数値解析の段階でその交点群の重心、すな
わち投影パターンの反射像上の交点とみなされる点の座
標を決定する。
第14図に番号づけ、交点座標決定を行なうルーチンを
示す。このルーチンでは、8連結図で、注目する交点の
隣接画素に交点がないとき、当該交点に新しい番号が与
えられる。隣接画素のなかにひとつだけ交点があるとき
はその交点と同じ番号が、2以上の交点があるときは、
それらまわりの交点に与えられているそれぞれの番号の
うち最も若い番号が与えられる。このようにして各交点
に与えられた番号について整理し、同じ交点群に属する
交点で違った番号が与えられているものがあれば、再び
統一するように番号を与えなおす。このようにして番号
づけが完了する。
い交点の対応づけ 交点の対応づけ処理は、もとの投影パターンの交点と、
投影パターンの7オトケラトスコープによる反射像の交
点との間の点対点の位置、対応関係を正しく求める処理
をいう。これが本発明の画像処理の大きな目的となる。
本画像処理で正確な結果かえられるか否かは、交点の対
応づけ処理で館記の位置・対応関係がどの程度もれなく
とれるかに依存する。ひとつの理想的な方法は、人間の
判断によって対応点を指示していくのと同じような方法
をコンピュータがとることである。すなわちデータ点の
ひとつひとつをコンピュータが拾っていければよい。し
かし、このような対応づけはコンピュータが最も不得手
とするパターン認識処理の一種である。小型計算機でで
きることは、ソフトウェアの性質上ある規則的な行動を
とることがせいぜいのところである。本発明ではこの対
応づけをコンピュータで行なわせるために、つぎのよう
な仮定をおくことにした。
仮定:現段階で処理される画像パターンは、理想球面に
投影された画像パターンと 大きくかけ離れることはない。
いいかえると、処理される画像パターン像(たとえば第
3b図の像)は、円と直線との組み合わせからなり、も
との投影パターンと交点が入れ替わることはないという
仮定をする。この仮定のもとで、投影パターンのある代
表点、たとえば9点(中心点を含む)の位置を人間が特
定し、その位置を対話型処理でコンピュータに入力する
。これにより、画像パターンの大きさなど概略の形状が
コンピュータに認識される。
その結果、交点位置の予測が可能となり、その周辺を探
すことで、交点の対応づけを行なうことができる。
第15a図のように投影パターンの反射像の中心点およ
びその周囲の代表点8点(PI、Ql、R2,Q2など
)をコンピュータが識別して、第15b図のように各象
限ごとに処理を行なう。第15b図は、与えられた点(
Pl) 、(R2) 、(g+ ) 、(g2 )をと
おる、コンピュータの内部で仮想的に描かれた平面を示
す。ここでP+ 、R2は中心から点(P+ ) 、 
(R2)までの画素数、L+ 、L2はそれぞしくPI
 ’)から(01) 、(R2)から(o2)までの画
素数である。(h ) 、’(R2) 、(g+ )、
(02)で囲まれた扇形領域で、理想球面に投影された
パターンの反射像上の交点を、下の数式にもとづいてコ
ンピュータが想定する。この交点が実際の投影パターン
の反射像上の交点と対応づけられるので、以下この交点
を交点予測位置という。いまある方向k(k■O〜N−
1)が与えられる。Nは投影パターンの第1象限内の放
射線数に等しく、仮にN−18とおく。第15b図にお
けるに方向での交点予測位置を(P)から(0)までの
間で探す。ここで、Rは中心から(P)点までの距離、
Lは(P)点から(g)点までの距離であり、つぎの式
で与えられる。
R= (kXRz +(18−k)XR+ )/18し
−(kX 12 +(1g−k) X L+  ) /
18さらにLA=L/mとおく。mは、投影パターンに
おけるP点、Q点間の同心円の間隔数である。ここでは
m−8としておく。したがって、LA−L/8 このようにして、P点からLA、 2LA、 3LA。
・・・・・・、14LAまでステップを区切って、その
区切りに対応する交点予測位置の近傍に、実際の交点が
あるかどうかを探索する。
探索するとき、前記近傍の大きさく探索領域という)を
あらかじめ決定する必要がある。本実施例では、探索領
域を6段階にわけた。最も小さいものは、交点予測位置
にあるひとつの画素だけを、最も大きなものは交点予測
位置の上下左右6画素ずつのひし形の領域をとった。第
15c図は探索領域の一例であり、ひとつのマス目は1
画素をあられす。同図の数字は探索の順を示している。
実際に処理すべき手順はつぎのとおりとなる。
まず、処理すべき象限(第1〜第4)および探索領域の
大きさを決め、前述の行程で放射方向にごとに交点予測
位置を決め、対応する実際の交点を探す。これを全放射
方向、全象限について行ない、その結果を人間が判断評
価し、必要ならば探索領域の大きさを変え再び行なう。
このようにして交点の対応づけが完了し、曲面の形状決
定および形状表示の段階に移る。
■角膜形状決定および角膜形状表示 本実施例では、角膜形状決定も画像処理に使用したのと
同じコンピューターで行なった。
(1)角膜の3次元形状の近似 角膜の中心からの角膜の相対的な高さをlとし、それに
垂直なX−Y平面を考える。Zを次式のようにX、Yの
4次の多項式で近似的にあられし、角膜の点(X、Y)
における、傾きの実測データと多項式の傾きとの差が最
小となるよう多項式の各項の係数a  を最小自乗法に
より求めにす る。
k−Ok=0 ただし、k−j −0のばあいすなわちa o o =
 0 これによって角膜全体の3次元形状を知ることができる
(1)主径線決定 注目する断面方向を決定するために、強弱主径線方向を
用いる方法がある。弱主径線方向とは、角膜上の一定の
半径を持つ円上で曲率半径が最大となる方向で、強主径
線方向は最小となる方向として定義される。
本実施例では、計算上、中心から3.5mmの位置で中
心から高さが最も小さな方向を弱主径線方向とし、弱主
径線方向と垂直な方向を強主径線方向とした。
なお、このときの高さの形状は、24個の係数alLj
)のすべてを用いて行なっている。
(至)主径線断面表示 この方法は、角膜形状のある断面方向のみの微分値に注
目して角膜の断面近似を行なう方法である。この方法で
は、角膜の断面の形状を主径線方向に沿った1変数関数
(8−スプライン関数など)で近似させることができる
ので、(i)のように角膜の3次元形状全体を多項式で
近似させる方法よりも精度がよい。
[株]形状の表示 以上の方法により求められた角膜全体形状および主径線
方向に沿った断面形状、ならびにそれらに伴う各種の数
値をCRTディスプレイ(第1図の(8))上に表示し
た。またコンタクトレンズの8看状況を同じ画面上に表
示するようにして、コンタクトレンズの形状の設計に資
するようにした。
[発明の効果] 本発明では、投影パターンの角膜からの反射像を画像解
析しうる手段を提供した結果、角膜全体の形状を高l1
1度かつ自動的に測定することができるようになり、え
られた角膜の形状を数噴で近似することかによって、正
常な形状の角膜はもとより異常な形状の角膜に対しても
充分フィツトするコンタクトレンズを製作できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の構成を示す図である。第2図はフォ
トケラトスコープの原理を示す図である。第3a図は本
発明に用いた投影パターン、第3b図は角膜による反射
像、第4図は同心円からなる投影パターンを示す図であ
る。第5図は適応2値化で閾値を一定とした例を示す図
、第6図は局所領域ごとに閾値を変えている例を示す図
、第7図は局所領域を示す図である。第8図は周辺雑音
除去の方法を示す図である。第9a図および第9b図は
周辺雑音を除去するルーチンを示すフローチャートであ
る。第10図は交点抽出処理を行なう領域を示す図、第
11a図および第11b図は抽出されたおよび抽出され
なかった交点の例を示す図である。第12a図および第
12b図はそれぞれ交点抽出処理のルーチンを示すフロ
ーチャートである。第13a〜13h図は細線化を行な
うときのマスクパターンの条件、第13i図は走査方法
を示す図である。第14図は番号づけのルーチンを示す
フローチャートである。 第15a図および第15t1図は交点の対応づけを行な
う方法を説明する図、第15c図は対応すべき交点を検
索する領域の一例を示す図である。 (図面の主要符号) (1):フォトケラトメータ (1a) :写 真 (23二角 膜 (3):テレごカメラ (3a):カメラ (5):パーソナルコンピュータ (3] : CRTディスプレイ 特許出願人 東洋コンタクトレンズ株式会社代理人弁理
士 朝 日 奈 宗 太 ばか1名特許出願人  東洋
コンタクトレンズ株式会社715a叉 715b図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1(a)角膜上に投影された投影パターンの角膜による
    反射像を読み取る手段、 (b)読み取った画像信号を判別して2値化する手段、 (c)2値化された画像において幅のある線図形を細線
    化する手段、 (d)画像から投影パターンの交点となりうる点の群を
    抽出する手段、 (e)抽出された投影パターンの交点となりうる点の群
    に属する画素をひとまとめにして同一の番号づけを行な
    い、該画素の数と座標値の和とを記録する手段、 (f)投影パターンの交点となりうる点の群の重心を求
    め、もとの投影パターンの交点との対応づけを行なう手
    段、 (g)このようにして対応づけられた投影パターンの反
    射像の交点の座標から角膜の曲面形状を決定する手段、
    および (h)角膜の形状を表示する手段 からなる角膜形状の自動測定装置。
JP60112861A 1985-05-24 1985-05-24 角膜形状の自動測定装置 Pending JPS61268227A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6315938A (ja) * 1986-07-04 1988-01-23 株式会社トプコン 角膜形状測定装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6315938A (ja) * 1986-07-04 1988-01-23 株式会社トプコン 角膜形状測定装置
JPH0624513B2 (ja) * 1986-07-04 1994-04-06 株式会社トプコン 角膜形状測定装置

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