JPS6126143A - Testing method of device - Google Patents
Testing method of deviceInfo
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- JPS6126143A JPS6126143A JP14812084A JP14812084A JPS6126143A JP S6126143 A JPS6126143 A JP S6126143A JP 14812084 A JP14812084 A JP 14812084A JP 14812084 A JP14812084 A JP 14812084A JP S6126143 A JPS6126143 A JP S6126143A
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- Exchange Systems With Centralized Control (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はシステムに含まれる多量生産装置を試験機で試
験する装置試験方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an equipment testing method for testing mass production equipment included in a system using a testing machine.
(従来の技術)
従来の装置試験方法は被試験装置の仕様品名ごとに装置
試験機全準備し且つ試験用プログラム全機能条件別に作
成して装置試験機に装備すると共にこの装置試験機を接
続して試験用プログラムを入力した被試験装置からの出
力を標準量カバターンと比較して被試験装置の正常・異
常を判定している。この試験のために作成される試験プ
ログラムは被試験装置ごとにその装置σ)設Nj条件に
対して設計するので異常な稼働条件を含むすべての稼働
状態の実体と一致する条件を満足できず一部の機能試験
に限定されると共にプログラムの股引に多大の工数全装
する。(Prior art) In the conventional equipment testing method, a complete equipment testing machine is prepared for each product name of the equipment under test, a test program is prepared for each functional condition, and the equipment testing equipment is equipped with the equipment testing machine and this equipment testing machine is connected. The output from the device under test to which the test program has been input is compared with the standard cover pattern to determine whether the device under test is normal or abnormal. The test program created for this test is designed for each device under test based on the device σ In addition to being limited to the functional test of the section, a large amount of man-hours are required to complete the program.
一方、小規模装置もしくはバ、ケージ単位の装置ではラ
ンダムパターンの入力を正常な被試験装置に印力0して
採取した出力値を正常出力値とし。On the other hand, in a small-scale device or a device in units of bars or cages, the output value obtained by applying a random pattern to a normal device under test with zero output is taken as the normal output value.
装置試験機が前記ランダムパターンを被試験装置に印加
して得られる出力値を前記正常出力値と比較する試験方
法が採用されている。この試験では被試験装置の実稼働
条件が適用されておらず試験条件として100%全満足
できるものではない。A test method is adopted in which a device testing machine applies the random pattern to the device under test and compares the output value obtained with the normal output value. This test does not apply the actual operating conditions of the device under test, so the test conditions cannot be completely satisfied.
(発明が解決しようとする問題点)
このように、従来の装置試験方法は装置試験機に装備す
る試験プログラムが被試験装置の設計条件もしくは設計
条件とは無関係のランダムパターンにより設計・作成さ
れているので、被試験装置の実稼働条件の一部に限定さ
れるか若しくは実稼働条件との無関係さにより試験品質
が低下するという問題点があった。(Problem to be Solved by the Invention) As described above, in the conventional device testing method, the test program installed in the device testing machine is designed and created using the design conditions of the device under test or a random pattern unrelated to the design conditions. Therefore, there was a problem in that the test quality deteriorated because it was limited to a part of the actual operating conditions of the device under test or was unrelated to the actual operating conditions.
(問題点を解決するための手段)
本発明の装置試験方法は、初期設定した一つの被試験装
置の入出力端子に装置試験機を接続して試験準備する一
方、完成したシステムに含まれ且つ前記被試験装置と同
一仕様品名の標本装置の入出力端子Vこモニタ記録装置
を接続すると共に、前記/ステムの構成要素全すべて初
期設定し、次いで所定の外部条件金与えて前記システム
を稼働せしめたとき前記標本装置の各接続端子の状態を
前記モニタ記録装置がモニタ記録し、且つこのモニタ記
録を前記装置試験機に装備して前記被試験装置の入力端
子に入力情報を入力し出力端子からの出力情報を前記モ
ニタ記録の出力端子出力情報と比較照合して一致したと
き正常と判定することにある。(Means for Solving the Problems) The device testing method of the present invention connects a device testing machine to the input/output terminals of one initially set device under test to prepare for testing, while at the same time Connect the input/output terminals of a sample device with the same specifications and name as the device under test, and connect the monitor and recorder, initialize all the components of the stem, and then set the system up by providing predetermined external conditions. At this time, the monitor recording device monitors and records the state of each connection terminal of the sample device, and equips the device tester with this monitor record, inputs input information to the input terminal of the device under test, and outputs the information from the output terminal. The output information is compared and verified with the output terminal output information of the monitor record, and when they match, it is determined to be normal.
(実施例)
次に1本発明の装置試験方法の一実施例全図面により詳
細に説明する。(Example) Next, one embodiment of the device testing method of the present invention will be described in detail with reference to all the drawings.
第1図は本発明の装置試験方法における試験プログラム
作成の一実施例を示す機能ブロック図。FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of test program creation in the device testing method of the present invention.
第2図は第1図におけるモニタ記録の部分詳細の一例?
ボすタイムチャート、第3図は本発明の装置試験方法に
おいて第1図の記録素子を試験プログラムとして試験す
る一実施例を示す機能プロ。Is Figure 2 an example of partial details of the monitor recording in Figure 1?
FIG. 3 is a functional program showing an example of testing the recording element shown in FIG. 1 as a test program in the apparatus testing method of the present invention.
り図、また第4図および第5図はそれぞれ第1図および
第3図における主要方法手順の一実施例を示すフローチ
ャートである。4 and 5 are flowcharts illustrating one embodiment of the principal method steps in FIGS. 1 and 3, respectively.
まず第1図において、完成したシステムとして父換シス
テム10がA装置101.B装置102゜C装置103
および標本装置として正常なS装置(N)100を備え
、S装置(N)100がA装置101〜C装置103の
それぞれと情報線で接続され入出力情報の授受を行う。First, in FIG. 1, the paternity exchange system 10 is a completed system with A device 101. B device 102°C device 103
A normal S device (N) 100 is also provided as a sample device, and the S device (N) 100 is connected to each of the A devices 101 to C devices 103 by an information line to exchange input/output information.
交換システム1゜はA装置101に接続された電話機1
11,112からの発看信接続動作金する。システム試
験として過負荷試験が交換システム10に課せられると
きは、電話機111,112を含む擬似呼発生機11が
完成した交換システム10に多数の擬似呼全印加しシス
テムの正常動作を確認する。この正常状態にあるシステ
ムの中でモニタ記録装置12はS装置(へ)100の入
出力端子を接続して入出力情報値をモニタする。モニタ
記録装置にはモニタ記録のための記録素子13を装備し
たモニタ記録部121.S装置(N)100の入出力端
子からの情報を記録素子13に記録する書込制御部12
2、モニタ記録装置12の動作を制御する制御部123
を少くとも備え、前記擬似呼発生機11と連動すること
もできる。記録素子13は書込制御部122によりS装
置(N)100の入力端子への情報値を入力端子記録部
に、また出力端子からの情報値を出力端子記録部に記録
する。Exchange system 1゜ is telephone set 1 connected to A device 101.
11, 112 calls will be charged. When an overload test is imposed on the switching system 10 as a system test, a large number of pseudo calls are fully applied to the switching system 10 in which the pseudo call generator 11 including the telephones 111 and 112 has been completed to confirm normal operation of the system. In the system in this normal state, the monitor recording device 12 connects the input/output terminals of the S device (to) 100 and monitors the input/output information values. The monitor recording device includes a monitor recording section 121 equipped with a recording element 13 for monitor recording. A write control unit 12 that records information from the input/output terminal of the S device (N) 100 onto the recording element 13
2. Control unit 123 that controls the operation of the monitor recording device 12
It is also possible to include at least one of the following, and to operate in conjunction with the pseudo call generator 11. The recording element 13 uses the write control section 122 to record the information value to the input terminal of the S device (N) 100 in the input terminal recording section, and the information value from the output terminal to the output terminal recording section.
第2図において、第1図の記録素子13の入力端子記録
部および出力端子記録部のそれぞれにA装置101.B
装置102.C装置103のそれぞれの入出力端子から
得られたディジタル情報値の部分詳細記録例を示す。In FIG. 2, A device 101. B
Device 102. An example of partial detailed recording of digital information values obtained from each input/output terminal of the C device 103 is shown.
第3図において、装置試験機20はS装置(T)200
の入出力端子と接続する。S装置(T )200は第1
図に示すS装置(N)100を標本装置とした被試験装
置である。装置試験機20の試験プログラム部201に
は第1図のブp2り図に示した構成でモニタ記録装置1
2によシ第2図のような情報値を記録した記録素子13
を装備する。また、装置試験機20は記録素子13から
情報値を読出す読出制御部200.試験プログラム20
1の記録素子13の出力端子記録部にある情報値と被試
験装置であるS装置(T)200の出力端子からの圧力
情報値と全照合する照合部2031この照合部203か
ら照合結果を受けると共に装置試験機20の動作全制御
する制御部204を少くとも備え、前記読出制御部20
2は読出した入力端子記録情報値全S装置(T)200
の入力端子に入力すっと共に出力端子記録情報値全照合
部203へ入力し、照合部203は前記S装置(T ’
) 200が入力情報値を得た結果の圧力情報値を入力
して前4己記録累子13の出力端子記録情報値と照合し
一致したことにより制御部204が正常と判断する。In FIG. 3, the device testing machine 20 is an S device (T) 200.
Connect to the input/output terminals of S device (T) 200 is the first
This is a device under test using the S device (N) 100 shown in the figure as a sample device. The test program section 201 of the device testing machine 20 includes the monitor recording device 1 with the configuration shown in the diagram in FIG.
2, a recording element 13 recorded with information values as shown in FIG.
be equipped with. The device tester 20 also includes a read control section 200 that reads information values from the recording element 13. Test program 20
A collation unit 2031 receives the collation result from this collation unit 203, which collates the information value in the output terminal recording unit of the recording element 13 of No. 1 with the pressure information value from the output terminal of the S device (T) 200, which is the device under test. The readout control unit 20 also includes at least a control unit 204 that controls all operations of the device testing machine 20.
2 is the read input terminal recorded information value all S device (T) 200
At the same time as input to the input terminal of
) 200 inputs the pressure information value obtained as a result of obtaining the input information value, and compares it with the output terminal recorded information value of the previous 4 self-recording element 13. When they match, the control unit 204 determines that the pressure information value is normal.
次に、第4図のフローチャートに第1図を併せ参照して
装置試験イ朶、に装備する試験プログラムの作成までの
主層方法手順の一実施例を説明する。Next, referring to the flowchart of FIG. 4 and FIG. 1, an embodiment of the main layer method procedure up to the creation of a test program to be installed in the equipment testing facility will be described.
まず完成したシステムとして交換システム10を用意し
被試験装置に対する標本装置にS装置(N)10(l設
定し、この装置の入出力端子にモニタ記録装置12を接
続(動作ステップ■)シ。First, prepare the exchange system 10 as a completed system, set the S device (N) 10 (l) as a sample device for the device under test, and connect the monitor recording device 12 to the input/output terminal of this device (operation step ①).
交換システム10円の各装置を初期設定(m作ステップ
■)し、次いで擬似呼発生機11を接続して交換システ
ム10の各種動作条件を設定(動作ステップ■)する。Each device of the exchange system 10 yen is initialized (m operation step ■), and then the pseudo call generator 11 is connected and various operating conditions of the exchange system 10 are set (operation step ■).
これら動作ステップ■から■は通常この順序であるが、
この順序は不同でよく。These operation steps ■ to ■ are usually in this order, but
This order can be different.
動作ステップ■から■の最後のステ、プに次いで擬似呼
発生機11から交換システム1(l起動すると共にモニ
タ記録装置12をも起動(動作ステップ■)する。この
起動により交換システム10は稼働し、システム内の各
装置は標本装置のS装置(N)100に含め稼働(動作
ステップ■)すると共にモニタ記録装置12も稼働(動
作ステ。Following the last step from operation step (2) to (2), the pseudo call generator 11 activates the switching system 1 (l) and also activates the monitor recording device 12 (operation step (2). With this activation, the exchange system 10 starts operating. , each device in the system is included in the S device (N) 100 of the specimen device and operates (operation step ①), and the monitor recording device 12 also operates (operation step).
プ■)して、S装置(N)1000入出力端子での情報
値全モニタ記録(wJ作ステップ■)する。Step ■) and monitor and record all information values at the input/output terminal of the S device (N) 1000 (wJ production step ■).
擬似呼発生機11の動作が停止し、従って交換システム
10およびモニタ記録装置12の動作も停止(動作ステ
ップ■)したとき、モニタ記録装置12に装備された記
録素子13を取出し、記録情報を関連の専門技術者が調
べ整理して試験プログラムに作成(動作ステップ■)す
る。When the operation of the pseudo call generator 11 stops, and therefore the operation of the switching system 10 and the monitor recording device 12 also stops (operation step ■), the recording element 13 installed in the monitor recording device 12 is taken out and the recorded information is related. Expert engineers will investigate and organize the results and create a test program (operation step ■).
次1c、第5図のフローチャートに第3図ヲ併せ参照し
て、装置試験機20に前記試験プログラム全装備して被
試験装置を試験する方法手順の一実施例について説明す
る。Next, an embodiment of a method procedure for testing a device under test by equipping the device testing machine 20 with all the test programs will be described with reference to FIG. 3 as well as the flowchart of FIG.
被試験装置としてのS装置(T)200の入出力端子全
装置試験機20に接続(動作ステップ0)し、前記手順
により作成した試験プログラム全装置試験機20の試験
プログラム部201に装備(動作ステップQ)し、次い
で被試験装置の8装置(T)200(i−初期設定(動
作ステップ0)する。The input/output terminals of the S device (T) 200 as the device under test are connected to the full device testing machine 20 (operation step 0), and the test program created by the above procedure is installed in the test program section 201 of the full device testing machine 20 (operation step 0). Step Q), and then the device under test (T) 200 (i-initialization (operation step 0)).
この動作ステップ■から0までの順序は不同でよく、ま
た試験プログラムはモニタ記録装置12で記録した記録
素子13をそのまま使用してもよい。The order of the operation steps ① to 0 may be different, and the test program may use the recording element 13 recorded by the monitor recording device 12 as it is.
動作ステップ0から0までのうち最後のステップに次い
で装置試験機20を起動(動作ステ、グ(ロ))し、装
置試験後20からの情報が被試験装置のS装置(T)2
00の入力端子に人力(動作ステップ[株])する。こ
の入力に従って被試験装置のS装置(’I’ ) 20
0は稼働し出力端子から周辺の装置に与える情報全出力
し動作ステップl1i9)する。この被試験装置からの
出力情報を装置試験機20が入力し、試験プログラムの
出力端子情報と照合(動作ステップO)し、情報の照合
一致のときは被試験装置の8装置(T)200が正常で
あると判定(動作ステップ@)シて試験を終る。図示し
ないが、照合不一致のときは相違内容全出力して娯力訂
正作業に移る。After the last step of operation steps 0 to 0, the device testing machine 20 is started (operation step, G(B)), and after the device test, the information from 20 is transferred to the S device (T) 2 of the device under test.
00 input terminal (operation step Co., Ltd.). According to this input, the S device ('I') of the device under test 20
0 is activated and outputs all information to be given to peripheral devices from the output terminal and performs operation step l1i9). This output information from the device under test is input to the device testing machine 20, which compares it with the output terminal information of the test program (operation step O). If the information matches, the eight devices (T) 200 of the device under test It is determined that it is normal (operation step @) and the test ends. Although not shown, if the comparison does not match, the entire discrepancy is output and the process moves on to the entertainment correction work.
上記実施例では交換システムに於て電話機からの発呼を
外部条件として説明したが一般システムでその稼動条件
ごとに、また構成装置ごとにモニタ記録して試験プログ
ラムを作成することができるので、モニタ記録装置およ
び装置試験機は汎用化できる。従って、試験設備の設計
工数削減および設備投資低減という経済性が得られる。In the above embodiment, a call from a telephone was explained as an external condition in a switching system, but in a general system, it is possible to monitor and record each operating condition and each component device and create a test program. Recording devices and device testing machines can be generalized. Therefore, it is possible to achieve economic efficiency by reducing design man-hours for test equipment and equipment investment.
(発明の効果)
以上説明したように、本発明の装置試験方法に・よれば
、被試験装置の正常な標本装置をシステム構成の中で実
稼働させその入出力端子での情報値をモニタ記録装置で
記録し、−刃装置試験機では前記記録による情報のうち
入力端子分を被試験装置へ入力しこの入力に従って動作
した結果の出力を前記出力端子分の記録情報と比較して
、一致全正常、不一致全異常と判定することにより、モ
ニタ記録装置および装置試験機の汎用化が実現して試@
設備の設計工数削減および設備投資低減という経済性効
果並びに実稼働条件による試験条件が課せられて意味を
有する内容の動作試験が可能となり試験品質の向上と匹
う効果が得られる。(Effects of the Invention) As explained above, according to the device testing method of the present invention, a normal sample device of the device under test is actually operated in the system configuration, and information values at its input and output terminals are monitored and recorded. - The blade device testing machine inputs the recorded information for the input terminals into the device under test, operates according to this input, compares the output with the recorded information for the output terminals, and checks whether there is a complete match. By determining normality, mismatch, and all abnormalities, the monitor recording device and device testing machine can be made more versatile and tested.
In addition to the economical effects of reducing equipment design man-hours and equipment investment, test conditions based on actual operating conditions are imposed, making it possible to conduct meaningful operational tests, which has the same effect as improving test quality.
第1図は本発明の装置試験方法における試験プログラム
作成の一実施例を示すブロック図、第2図i”l:第1
図のモニタ記録部分詳細の一例kys<ずタイムチャー
ト、第3図は本発明の装置試験方法において第1図によ
る記録素子を試験ブロク゛ラムとして試験する一実施例
を示すブロック図、第4図および第5図はそれぞれ第1
図および第3図における主要方法手順の一実施例を示す
フローチャートである。
10・・・・・・交換システム、11・・・・・・擬似
呼発生機。
12・・・・・モニタ記録装置、13・・・・・記録素
子(モニタ記録)、20・・・・・装置試験機、100
・・・・・・S装置(N)(標本装置)、200・・・
・・S装置(T)(被試験装置)。
化1人 弁ヨ± 、原 會
゛ 。
芽2 図
茶3 図
フh
茅 4 図
半 sTgJFIG. 1 is a block diagram showing an example of test program creation in the device testing method of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing an example of testing the recording element shown in FIG. 1 as a test block in the apparatus testing method of the present invention; FIG. Figure 5 is the first
4 is a flowchart illustrating one embodiment of the principal method steps in FIGS. and 3; FIG. 10... Switching system, 11... Pseudo call generator. 12...Monitor recording device, 13...Recording element (monitor recording), 20...Device testing machine, 100
...S device (N) (specimen device), 200...
...S device (T) (device under test). 1 person Benyo±, Hara ゛. Bud 2 Diagram 3 Diagram h Kaya 4 Diagram half sTgJ
Claims (1)
機を接続して試験準備する一方、完成したシステムに含
まれ且つ前記被試験装置と同一仕様品名の標本装置の入
出力端子にモニタ記録装置を接続すると共に、前記シス
テムの構成要素をすべて初期設定し、次いで所定の外部
条件を与えて前記システムを稼働せしめたとき前記標本
装置の各接続端子の状態を前記モニタ記録装置がモニタ
記録し、且つこのモニタ記録を前記装置機に装備して前
記被試験装置の入力端子に入力情報を入力し出力端子か
らの出力情報を前記モニタ記録の出力端子出力情報と比
較照合して一致したとき正常と判定することを特徴とす
る装置試験方法。While preparing for the test by connecting the device tester to the input/output terminal of one device under test that has been initially set, monitor and record data to the input/output terminal of a sample device that is included in the completed system and has the same specification product name as the device under test. When the device is connected and all the components of the system are initialized, and the system is operated by applying predetermined external conditions, the monitor and recorder monitors and records the state of each connection terminal of the sample device. , and when this monitor record is installed in the device, the input information is input to the input terminal of the device under test, and the output information from the output terminal is compared and matched with the output terminal output information of the monitor record, it is normal. A device testing method characterized by determining that.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14812084A JPS6126143A (en) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Testing method of device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14812084A JPS6126143A (en) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Testing method of device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6126143A true JPS6126143A (en) | 1986-02-05 |
Family
ID=15445703
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14812084A Pending JPS6126143A (en) | 1984-07-17 | 1984-07-17 | Testing method of device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6126143A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01501103A (en) * | 1986-09-11 | 1989-04-13 | グラマン・エアロスペース・コーポレイシヨン | Device and method for guiding response signals from equipment |
-
1984
- 1984-07-17 JP JP14812084A patent/JPS6126143A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01501103A (en) * | 1986-09-11 | 1989-04-13 | グラマン・エアロスペース・コーポレイシヨン | Device and method for guiding response signals from equipment |
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