JPS61256749A - Resin case of semiconductor device - Google Patents
Resin case of semiconductor deviceInfo
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- JPS61256749A JPS61256749A JP9804285A JP9804285A JPS61256749A JP S61256749 A JPS61256749 A JP S61256749A JP 9804285 A JP9804285 A JP 9804285A JP 9804285 A JP9804285 A JP 9804285A JP S61256749 A JPS61256749 A JP S61256749A
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/40—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
- H01L23/4006—Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs with bolts or screws
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体装置の樹脂ケースに関するものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a resin case for a semiconductor device.
第3図は従来の半導体装置用の樹脂ケースの斜視図、第
4図はその下面図である。両図において、(1)は樹脂
ケース、(2)は樹脂ケース(1)の底板、(3)。FIG. 3 is a perspective view of a conventional resin case for a semiconductor device, and FIG. 4 is a bottom view thereof. In both figures, (1) is the resin case, (2) is the bottom plate of the resin case (1), and (3) is the resin case.
(3a)は底板(2)の両側に設けられた締付は穴であ
る。(3a) are fastening holes provided on both sides of the bottom plate (2).
従来の半導体装置の樹脂ケース(1)は上記のように構
成され、半導体素子を樹脂ケース(1)に収納して使用
するには、第5図に示すように樹脂ケース(1)の底板
(2)の裏面に底板(2)の締付は穴(3)、(3a)
と同じ位置に締付は穴(4J、(4a)を設は穴数熱板
(5)を接着剤(6)により取付は固着する。次いで配
線により互いに接続し九半導体素子の端子(7)を樹脂
ケース(1)より外部へ突出させるようにして樹脂ケー
ス(1)内に収納し、外界囲気から遮断するためモール
ド樹脂で被覆する。The conventional resin case (1) of a semiconductor device is constructed as described above, and in order to store and use a semiconductor element in the resin case (1), as shown in FIG. 2) On the back side of the bottom plate (2), tighten the holes (3) and (3a).
Tighten the holes (4J, (4a) in the same position as the number of holes) and fix the heat plate (5) with adhesive (6).Next, connect each other with wiring and connect the terminals (7) of the nine semiconductor elements. is housed in the resin case (1) so as to protrude outward from the resin case (1), and is covered with mold resin to isolate it from the outside environment.
このようにして、半導体素子を収納し、放熱板(5)を
取付は固着し次樹脂ケース(1)は、第6図に示すよう
に締付ねじ(8)、(8a)を締付は穴(3)、(4)
。In this way, the semiconductor element is housed, the heat sink (5) is attached and fixed, and the resin case (1) is then tightened with the tightening screws (8) and (8a) as shown in Figure 6. Hole (3), (4)
.
(3a)、 (4a)に挿通して放熱フィン(9)に
20〜30Kf−αの締付はトルクで締着し、半導体装
置となる。これにより半導体装置の発熱は放熱フィンか
ら放散されるので、発熱による動作不良および故障が防
止される。しかし第7図に示すように締付ねじ(8)、
(8a)の締着により、樹脂ケース(1)の底板(2)
の端部にクラックα0が生ずることがある。(3a) and (4a) and tightened to the radiation fin (9) with a torque of 20 to 30 Kf-α to form a semiconductor device. As a result, heat generated by the semiconductor device is dissipated from the heat radiation fins, thereby preventing malfunctions and failures due to heat generation. However, as shown in Figure 7, the tightening screw (8)
By tightening (8a), the bottom plate (2) of the resin case (1)
A crack α0 may occur at the end of the plate.
上記のような半導体装置の樹脂ケース(1)は、耐熱性
および機械的性質が優れ、しかもガス透過性が全んどな
い特性の合成樹脂を成形することが必要であるが、全て
の特性が優れ几合成樹@を得ることは困難であるので、
一般に機械的性質が優れしかもガス透過性が全んどない
ポリプテレンテレタレート(PBT)樹脂等で成形して
いる。ま几半導体装置の発熱量との関係から、耐熱性に
優れたポリフェニレンサルファイド(PPS)411.
j−ボキシ樹脂等で成形することもある。しかしながら
、いずれの場合も成形後ソリが発生し易く、このため放
熱フィンに締着した際、クランクが発生し易い。The resin case (1) for the semiconductor device described above needs to be molded from a synthetic resin that has excellent heat resistance and mechanical properties, and has almost no gas permeability. Since it is difficult to obtain excellent synthetic wood,
Generally, it is molded from polypterene terethalate (PBT) resin, which has excellent mechanical properties and has no gas permeability. Polyphenylene sulfide (PPS) 411., which has excellent heat resistance, is used in relation to the heat generation amount of semiconductor devices.
It may also be molded with J-boxy resin or the like. However, in either case, warping is likely to occur after molding, and therefore, cranking is likely to occur when fastened to the heat radiation fin.
この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、締着に際しクラックの発生しない安価な半
導体装置の樹脂ケースを得ることを目的とする。The present invention was made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to obtain an inexpensive resin case for a semiconductor device that does not cause cracks when fastened.
この発明に係る半導体装置の樹脂ケースは、底板に設け
た締付は穴の一部に底板の端縁に連通ずる溝を設けたも
のである。In the resin case for a semiconductor device according to the present invention, a part of the fastening hole provided in the bottom plate is provided with a groove that communicates with the edge of the bottom plate.
この発明においては、半導体装置を収納した樹脂ケース
をその締付は穴によシ締付けねじで放熱フィンに締着し
ても、樹脂ケースの変形等に伴う応力歪み等がIllに
逃げ樹脂ケースにクラックが発生することはない。In this invention, even if the resin case housing the semiconductor device is tightened to the heat dissipation fin with a tightening screw through a hole, stress and distortion due to deformation of the resin case escapes to the resin case. No cracks will occur.
第1図は、この発明の一実施例の斜視図、第2図はその
下面図である。図において、翰、 (20a)は締付
は穴(3)、(3a)の一部と樹脂ケース(1)の底板
(2)の端縁とを連通ずる溝である。この溝翰。FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of the invention, and FIG. 2 is a bottom view thereof. In the figure, the frame (20a) is a groove that communicates a part of the tightening hole (3), (3a) with the edge of the bottom plate (2) of the resin case (1). This ditch.
(20a)を底板(2)に設けるには、′−%溝(イ)
、 (20a) ’に備えた締付は穴(3)、(3a
)を有する樹脂ケース(1a)を一体的に成形加工する
か、または締付は穴(3)、(3+!L)を有する樹脂
ケース(1a) ft成形した後湾(イ)。To provide (20a) on the bottom plate (2), use the '-% groove (a).
, (20a) 'For tightening, use holes (3), (3a
) is integrally molded, or the resin case (1a) has holes (3), (3+!L) for tightening.
(20a)の部分を切除する。Cut out part (20a).
なお樹脂ケース(1a)は一般的にはポリブチレンチレ
フタレ−)(PBT)等の合成樹脂が使用されるが、耐
熱性を要求される場合は、ポリフェニレンサルファイド
(PPS)樹脂、エポキシ樹脂を用いる。The resin case (1a) is generally made of synthetic resin such as polybutylene terephthalate (PBT), but if heat resistance is required, polyphenylene sulfide (PPS) resin or epoxy resin may be used. use
以上のように構成された樹脂ケース(1)を取付けるに
は、樹脂ケース(1a)の下面と放熱板(5)の表面に
接着剤(6)をあらかじめ塗布しておき、オーブン中で
加熱して両者を固着する。ただし反応型の接着剤の場合
は加熱操作なしで両者を固着することができる。次に樹
脂ケース(1a)内に端子())1に外部へ突出させた
状態で配線により互いに接続した半導体素子を収納し、
エポキシ樹脂等を注入して半導体素子を外気雰囲気から
遮断して保護する。このようにして半導体素子を樹脂ケ
ース(1a)に収納して完成された半導体装置は、さら
に半導体装置からの発熱を放散させるため、第6図に示
すように締付けねじ(8)、(8a)により締付は穴(
3)、(3a)に挿通じて放熱フィン(9)に締着され
る。しかし締付けねじ(8)、(8a)を締付ける際、
樹脂ケース(1a)の底板(2)に発生する応力歪み等
は溝(イ)、 CZoa)に逃げるので、底板(2)
自体にクラックが発生することはない。To attach the resin case (1) configured as described above, apply adhesive (6) to the bottom surface of the resin case (1a) and the surface of the heat sink (5) in advance, and heat it in an oven. to secure both. However, in the case of a reactive adhesive, both can be fixed without heating. Next, the semiconductor elements connected to each other by wiring are housed in the resin case (1a) with the terminals ( ) 1 protruding to the outside.
Epoxy resin or the like is injected to protect the semiconductor element by insulating it from the outside atmosphere. In order to further dissipate heat generated from the semiconductor device, the semiconductor device completed by housing the semiconductor element in the resin case (1a) is fitted with tightening screws (8) and (8a) as shown in FIG. Tighten the hole (
3) and (3a) and is fastened to the heat radiation fin (9). However, when tightening the tightening screws (8) and (8a),
Stress and strain generated in the bottom plate (2) of the resin case (1a) escapes to the grooves (A) and CZoa), so the bottom plate (2)
No cracks will occur in itself.
なお、上記説明では樹脂ケース(1a)K収納する半導
体素子はトランジスタモジュールについて説明し九が、
サイリスタモジエール、ダイオードモジュール、ハイブ
リットIC等を樹脂ケース(1a)に収納して使用する
場合にも適用することができる。In the above explanation, the semiconductor element housed in the resin case (1a) K is a transistor module.
It can also be applied when a thyristor module, diode module, hybrid IC, etc. are housed in a resin case (1a).
以上説明したように、この発明では樹脂ケースの締付は
穴の一部に樹脂ケースの底板の端縁と連通ずる溝を設け
たので、樹脂ケースを締付けねじにより締付は穴を通じ
て放熱フィンに締着しても底板にクラックを生じること
がない。また、耐熱性が優れるが脆い合成樹脂により成
形された樹脂ケースを放熱フィンに締着しても、クラッ
クの発生がないので発熱量の大きい半導体装置に適用す
ることかできる等の徨々の効果がある。As explained above, in this invention, the resin case can be tightened by providing a groove in a part of the hole that communicates with the edge of the bottom plate of the resin case, so the resin case can be tightened with a tightening screw through the hole and onto the radiation fin. No cracks will occur in the bottom plate even when tightened. In addition, even if a resin case made of synthetic resin, which has excellent heat resistance but is brittle, is fastened to a heat dissipation fin, no cracks will occur, so it can be applied to semiconductor devices that generate a large amount of heat. There is.
第1図はこの発明の一実施例の斜視図、第2図はその下
面図、第6図は従来の樹脂ケースの斜視図、第4図はそ
の下面図、第5図は半導体素子を収納し念従来の樹脂ケ
ース側断面図、第6図半導体素子を収納した従来の樹脂
ケースを放熱フィンに固定した状態を示す側断面図、第
7図は第6図で示した状態の部分斜視図である。
図において、(1)、(1a)は樹脂ケース、(2)は
底板、(3)、 (3a) 、 (4)、 (4a
)は締付は穴、(5)は放熱板、(6)は接着剤、(7
) Vi端子、(8)、 (8a)は締付けねじ、(9
)は放熱フィン、(1)、 (20a) Vi溝であ
る。
なお各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。
代理人 弁理士 佐 藤 正 年
第1図
第3図Figure 1 is a perspective view of an embodiment of the present invention, Figure 2 is a bottom view, Figure 6 is a perspective view of a conventional resin case, Figure 4 is a bottom view, and Figure 5 houses a semiconductor element. Figure 6 is a side sectional view showing a conventional resin case housing a semiconductor element fixed to a heat radiation fin; Figure 7 is a partial perspective view of the state shown in Figure 6. It is. In the figure, (1), (1a) are the resin case, (2) is the bottom plate, (3), (3a), (4), (4a
) is the hole for tightening, (5) is the heat sink, (6) is the adhesive, (7
) Vi terminal, (8), (8a) is the tightening screw, (9
) are heat radiation fins, (1), (20a) are Vi grooves. In each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts. Agent: Patent Attorney Tadashi Sato Figure 1 Figure 3
Claims (1)
の半導体素子を収納し、上記樹脂ケース内にモールド樹
脂を充填して外部雰囲気から遮断し、さらに上記樹脂ケ
ースを放熱フィンにねじによって取付けられる構造の半
導体装置の樹脂ケースにおいて、樹脂ケースの底板に設
けた締付け穴の一部に該底板の外縁と連通する溝を設け
たことを特徴とする半導体装置の樹脂ケース。A structure in which a plurality of semiconductor elements connected to each other by wiring are housed in one resin case, the resin case is filled with molded resin to isolate it from the external atmosphere, and the resin case is attached to a heat radiation fin with screws. 1. A resin case for a semiconductor device according to claim 1, wherein a part of a tightening hole provided in a bottom plate of the resin case is provided with a groove communicating with an outer edge of the bottom plate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9804285A JPS61256749A (en) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | Resin case of semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9804285A JPS61256749A (en) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | Resin case of semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61256749A true JPS61256749A (en) | 1986-11-14 |
Family
ID=14209052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9804285A Pending JPS61256749A (en) | 1985-05-10 | 1985-05-10 | Resin case of semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61256749A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112992820A (en) * | 2019-12-16 | 2021-06-18 | 三菱电机株式会社 | Semiconductor device with a plurality of semiconductor chips |
-
1985
- 1985-05-10 JP JP9804285A patent/JPS61256749A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112992820A (en) * | 2019-12-16 | 2021-06-18 | 三菱电机株式会社 | Semiconductor device with a plurality of semiconductor chips |
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