JPS6125096B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6125096B2 JPS6125096B2 JP53091277A JP9127778A JPS6125096B2 JP S6125096 B2 JPS6125096 B2 JP S6125096B2 JP 53091277 A JP53091277 A JP 53091277A JP 9127778 A JP9127778 A JP 9127778A JP S6125096 B2 JPS6125096 B2 JP S6125096B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- comparison
- holding means
- output
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は金属材料などの非破壊試験機、特に
高速探傷を行う渦流探傷装置の探傷信号をペン書
きオシログラフなどで記録させるために用にる信
号波形整形装置に関するものである。
高速探傷を行う渦流探傷装置の探傷信号をペン書
きオシログラフなどで記録させるために用にる信
号波形整形装置に関するものである。
従来磁性・非磁性を問わず金属材料のキズ・割
れ・介在物などの検出や溶接継ぎ目の欠陥を検出
する渦流探傷式などの非破壊試験機における探傷
信号を記録する場合ペン書き（インクまたはヒー
ト式）オシログラフを用いてアナログ記録するこ
とが一般点に行われている。しかしながらペン書
きオシログラフの応答速度は通常70Hz、最高100
Hz位までの現象の記録には対応できるが、それ以
上高い周波数の現象には追随できない。そのため
従来は検出され処理回路で信号解析された高周波
のキズ信号電圧を時定数（CR）の大きいコンデ
ンサと抵抗との平滑回路に入力し、時定数による
放電にて直流に近い出力電圧としてこれをペン書
きオシログラフで記録させるのが一般的である
が、この方法はキズ信号の波高値を定量的に忠実
に再現できない欠点がある。また上記以外にアナ
ログ信号の波高値を正確に把握し、これを一定時
間保持するアナログ信号波形整形装置も考えられ
ているが、装置複雑で安定定が低くかつ高価とな
る欠点があり、余り用いられていない。
れ・介在物などの検出や溶接継ぎ目の欠陥を検出
する渦流探傷式などの非破壊試験機における探傷
信号を記録する場合ペン書き（インクまたはヒー
ト式）オシログラフを用いてアナログ記録するこ
とが一般点に行われている。しかしながらペン書
きオシログラフの応答速度は通常70Hz、最高100
Hz位までの現象の記録には対応できるが、それ以
上高い周波数の現象には追随できない。そのため
従来は検出され処理回路で信号解析された高周波
のキズ信号電圧を時定数（CR）の大きいコンデ
ンサと抵抗との平滑回路に入力し、時定数による
放電にて直流に近い出力電圧としてこれをペン書
きオシログラフで記録させるのが一般的である
が、この方法はキズ信号の波高値を定量的に忠実
に再現できない欠点がある。また上記以外にアナ
ログ信号の波高値を正確に把握し、これを一定時
間保持するアナログ信号波形整形装置も考えられ
ているが、装置複雑で安定定が低くかつ高価とな
る欠点があり、余り用いられていない。
この発明は上記の現況に鑑み、非破壊試験機の
ペン書きオシログラフのアナログ記録データを被
検材のキズに対し定量的に信頼性の高いものとす
ることを目的とするもので、アナログ信号に比し
て信号処理が容易でかつ精度が高く安定したデイ
ジタル信号を用いて信号波形整形を図つたもので
ある。すなわち検出されたアナログキズ信号をデ
イジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、この
Ａ／Ｄ変換手段から出力たれる一定時間ごとのデ
イジタル信号が順次入力され、その入力値を保持
する保持手段と、この保持手段に保持されている
入力値と引き続いて入力されてくる入力値とを比
較する第１の比較手段と、この第１の比較手段の
比較値が正の極性を示すとき、前記保持手段から
その入力値を順次出力させ、他方、第１の比較手
段の比較値が相等しいかまたは負の極性を示すと
き、前記保持手段を動作させてその時点における
入力値を所定時間保持させるように制御する制御
手段と、前記保持手段から出力されるデイジタル
信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換手段
と、予め設定されたノイズレベルと前記保持手段
の出力値とを比較する第２の比較手段と、この第
２の比較手段によつて前記出力値がノイズレベル
を越えたときにのみ出力端子にアナログ信号が入
力されるようにする手段とを備えてなる非破壊試
験機のペン書きオシログラフ用信号波形整形装置
にかかるものである。
ペン書きオシログラフのアナログ記録データを被
検材のキズに対し定量的に信頼性の高いものとす
ることを目的とするもので、アナログ信号に比し
て信号処理が容易でかつ精度が高く安定したデイ
ジタル信号を用いて信号波形整形を図つたもので
ある。すなわち検出されたアナログキズ信号をデ
イジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、この
Ａ／Ｄ変換手段から出力たれる一定時間ごとのデ
イジタル信号が順次入力され、その入力値を保持
する保持手段と、この保持手段に保持されている
入力値と引き続いて入力されてくる入力値とを比
較する第１の比較手段と、この第１の比較手段の
比較値が正の極性を示すとき、前記保持手段から
その入力値を順次出力させ、他方、第１の比較手
段の比較値が相等しいかまたは負の極性を示すと
き、前記保持手段を動作させてその時点における
入力値を所定時間保持させるように制御する制御
手段と、前記保持手段から出力されるデイジタル
信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換手段
と、予め設定されたノイズレベルと前記保持手段
の出力値とを比較する第２の比較手段と、この第
２の比較手段によつて前記出力値がノイズレベル
を越えたときにのみ出力端子にアナログ信号が入
力されるようにする手段とを備えてなる非破壊試
験機のペン書きオシログラフ用信号波形整形装置
にかかるものである。
以下図面によつてこの発明の一実施例装置を詳
説する。第１図はそのブロツク図で１は入力端子
で非破壊試験機の信号処理部（図示せず）の出力
であるアナログ信号A0が入力される。２はＡ／
Ｄ変換器で信号A0をデイジタル信号Ｄたとえば
BCDコードに変換し、３のラツチ回路に入力す
る。ラツチ回路３はゲートICの組み合わせによ
つて或る時点の入力情報をしばらくそのまま保持
する機能を有するもので、このラツチ回路３の出
力D0ひきつづいて入力される（D0+1）とをデイジ
タル比較器Ａ４にて常に比較し、出力D0により
入力（D0+1）がたとえば39mV大きいとき比較器
Ａ４はパルスＰを信号制御部５に伝送する。この
39mVごとに伝送するパルスは入力Ｄが増加して
いる間すなわちA0のアナログ信号波形の立上り
から波高値に達するまで連続的に発信される。こ
のパルスＰによつて信号制御部５内の単安定マル
チバイブレータのスイツチング機能によつてラツ
チ回路３に制御信号S1を発し、その出力D0，
（D0+1）…（Ｄ0+o）…と順次伝送するよう指令す
る。Ｄ／Ａ変換器６はこのデイジタル信号をアナ
ログ信号Ａに変換し、後述するゲート回路１１お
よび出力端子８を経てペン書きオシログラフ（図
示せず）にて記録させる。上記A0の波形が波高
値に達し、ラツチ回路３の人出力（Ｄ0+o）（Ｄ0+
ｏ−１）の差が零になり４の出力パルスＰが発信を
停止したとき信号制御５はタイマ７を作動させ、
ラツチ回路３に上記最終出力（Ｄ0+o）をそのま
まタイマ７に設定した時間Ｔの間Ｄ／Ａ変換器６
に発信させる。このタイマの設定時間Ｔがペン書
きオシログラフの応答速度たとえば10msec以上
にしてある。ここで第２図のタイムチヤートを参
照しながら説明を進める。第２図は入力端子１
に入力される。前述の信号処理部のキズ信号のア
ナログ波形，，で波形の立上り△Ｖ（た
とえば39mV）の時点t0から△Ｖごとに図のパ
ルスＰが第１図４のブロツクから発信され、その
波高値（Ｄp1）の時点t1にてパルスＰの発信は停
止する。図はラツチ回路３を作動させる信号制
御部５の信号S1の発信を示すタイムチヤートで、
このt1から前述のとおりタイマ７の設定時間Ｔの
間ラツチ回路３はその（Ｄp1）の出力をそのまま
６へ伝送する。つぎにタイマ７の設定時間Ｔの終
了時点t2において第１図５の信号制御部は上記ス
イツチング機能によつて制御信号S2をデイジタル
比較器Ａ４に発信し、ラツチ回路３の入力（Ｄp1
＋１）と出力（Ｄp1）とを比較させる。t2時点では
第２図に示すように、入力（Ｄp1+1）はOVで
あり、出力（Ｄp1）の方が大である。この比較に
よつて図に示すトリガパルスPtがブロツク５か
らラツチ回路３に発信され、ブロツク３はその出
力を停止する。この作動によつて第２図に示す
ようにＤ／Ａ変換器６のアナログ信号Ａはt0〜t1
間は図の立上り波形を再現し、t1〜t2の間（上
記Ｔ時間）波高値（Ｄp1）を忠実に保ちt2にて零
となる。このt0〜t2間の出力信号Ａによつてオ
シログラフは十分追随し（Ｄp1）の波高値を記録
しうるのである。これは波形のような場合の作
動であるが、つぎに第２図にもどつて入力信号
波形が，と連続した場合のこの装置の作動を
説明する。アナログ入力波が入り比較器Ａ４で
△Ｖが検出されたt3からその波高値（Ｄp2）の時
点t4までの作動は前述のとおりであり、またt4で
タイマ７が作動するのも同様であるが、その設定
時間Ｔに満たないT′の時点すなわちの信号波
が引きつづいて入力され３のラツチ回路の入力が
（Ｄp2）より△Ｖだけ高くなつた時点t5から再び
比較器Ａ４はパルスP′を発信し５の信号制御部の
ラツチ回路３へ信号S1を発信し、刻々増加する入
力をそのまま６のブロツクに伝送するように指令
する。t6に達した後は前述のt1時と同様の作動に
てタイマ７の設定時間Ｔの間波高値（Ｄp3）をひ
きつづき伝送させ、t7時点で前述のt2と同様トリ
ガパルスPtによつて３の出力は停止する。このよ
うにして図の波形，は図のような２段の
波高値のアナログ波形Ａ，Ａとしてt3〜t7の
間連続して後述するゲート回路１１および出力端
子８を経てオシログラフにて記録されるのであ
る。波形が波形より小さい場合はt5時点では
図のパルスP′は出力せず、設定のＴ時間経過後
に比較器Ａ４が（ＤP2）とそれより低い入力とを
比較し、その時点からパルスＰを出力するもので
ある。
説する。第１図はそのブロツク図で１は入力端子
で非破壊試験機の信号処理部（図示せず）の出力
であるアナログ信号A0が入力される。２はＡ／
Ｄ変換器で信号A0をデイジタル信号Ｄたとえば
BCDコードに変換し、３のラツチ回路に入力す
る。ラツチ回路３はゲートICの組み合わせによ
つて或る時点の入力情報をしばらくそのまま保持
する機能を有するもので、このラツチ回路３の出
力D0ひきつづいて入力される（D0+1）とをデイジ
タル比較器Ａ４にて常に比較し、出力D0により
入力（D0+1）がたとえば39mV大きいとき比較器
Ａ４はパルスＰを信号制御部５に伝送する。この
39mVごとに伝送するパルスは入力Ｄが増加して
いる間すなわちA0のアナログ信号波形の立上り
から波高値に達するまで連続的に発信される。こ
のパルスＰによつて信号制御部５内の単安定マル
チバイブレータのスイツチング機能によつてラツ
チ回路３に制御信号S1を発し、その出力D0，
（D0+1）…（Ｄ0+o）…と順次伝送するよう指令す
る。Ｄ／Ａ変換器６はこのデイジタル信号をアナ
ログ信号Ａに変換し、後述するゲート回路１１お
よび出力端子８を経てペン書きオシログラフ（図
示せず）にて記録させる。上記A0の波形が波高
値に達し、ラツチ回路３の人出力（Ｄ0+o）（Ｄ0+
ｏ−１）の差が零になり４の出力パルスＰが発信を
停止したとき信号制御５はタイマ７を作動させ、
ラツチ回路３に上記最終出力（Ｄ0+o）をそのま
まタイマ７に設定した時間Ｔの間Ｄ／Ａ変換器６
に発信させる。このタイマの設定時間Ｔがペン書
きオシログラフの応答速度たとえば10msec以上
にしてある。ここで第２図のタイムチヤートを参
照しながら説明を進める。第２図は入力端子１
に入力される。前述の信号処理部のキズ信号のア
ナログ波形，，で波形の立上り△Ｖ（た
とえば39mV）の時点t0から△Ｖごとに図のパ
ルスＰが第１図４のブロツクから発信され、その
波高値（Ｄp1）の時点t1にてパルスＰの発信は停
止する。図はラツチ回路３を作動させる信号制
御部５の信号S1の発信を示すタイムチヤートで、
このt1から前述のとおりタイマ７の設定時間Ｔの
間ラツチ回路３はその（Ｄp1）の出力をそのまま
６へ伝送する。つぎにタイマ７の設定時間Ｔの終
了時点t2において第１図５の信号制御部は上記ス
イツチング機能によつて制御信号S2をデイジタル
比較器Ａ４に発信し、ラツチ回路３の入力（Ｄp1
＋１）と出力（Ｄp1）とを比較させる。t2時点では
第２図に示すように、入力（Ｄp1+1）はOVで
あり、出力（Ｄp1）の方が大である。この比較に
よつて図に示すトリガパルスPtがブロツク５か
らラツチ回路３に発信され、ブロツク３はその出
力を停止する。この作動によつて第２図に示す
ようにＤ／Ａ変換器６のアナログ信号Ａはt0〜t1
間は図の立上り波形を再現し、t1〜t2の間（上
記Ｔ時間）波高値（Ｄp1）を忠実に保ちt2にて零
となる。このt0〜t2間の出力信号Ａによつてオ
シログラフは十分追随し（Ｄp1）の波高値を記録
しうるのである。これは波形のような場合の作
動であるが、つぎに第２図にもどつて入力信号
波形が，と連続した場合のこの装置の作動を
説明する。アナログ入力波が入り比較器Ａ４で
△Ｖが検出されたt3からその波高値（Ｄp2）の時
点t4までの作動は前述のとおりであり、またt4で
タイマ７が作動するのも同様であるが、その設定
時間Ｔに満たないT′の時点すなわちの信号波
が引きつづいて入力され３のラツチ回路の入力が
（Ｄp2）より△Ｖだけ高くなつた時点t5から再び
比較器Ａ４はパルスP′を発信し５の信号制御部の
ラツチ回路３へ信号S1を発信し、刻々増加する入
力をそのまま６のブロツクに伝送するように指令
する。t6に達した後は前述のt1時と同様の作動に
てタイマ７の設定時間Ｔの間波高値（Ｄp3）をひ
きつづき伝送させ、t7時点で前述のt2と同様トリ
ガパルスPtによつて３の出力は停止する。このよ
うにして図の波形，は図のような２段の
波高値のアナログ波形Ａ，Ａとしてt3〜t7の
間連続して後述するゲート回路１１および出力端
子８を経てオシログラフにて記録されるのであ
る。波形が波形より小さい場合はt5時点では
図のパルスP′は出力せず、設定のＴ時間経過後
に比較器Ａ４が（ＤP2）とそれより低い入力とを
比較し、その時点からパルスＰを出力するもので
ある。
次に、この信号波形整形装置におけるノイズリ
ジエクター機能について説明する。図中、９はリ
ジエクトするノイズレベルＮの設定端子、１０は
デイジタル比較器Ｂであり、上記ノイズレベル設
定値Ｎとデイジタル比較器Ａ４の検出する電圧Ｖ
とを比較し、比較器Ａ４の検出する電圧Ｖが設定
レベルＮに満たないときはゲート信号Ｇを１１の
ゲート回路に送つてゲートを閉じＤ／Ａ変換器６
の出力Ａを出力させない。第３図に示すレベル
Ｎを超えるキズ信号波形が入力されるとはじめ
て１１のゲート回路を開き第３図のような波形
の波高値（Ｄp4）を忠実に再現し、その値をＴ
時間保持したアナログ波形Ａの出力信号A′を
出力端子８に出力するものである。
ジエクター機能について説明する。図中、９はリ
ジエクトするノイズレベルＮの設定端子、１０は
デイジタル比較器Ｂであり、上記ノイズレベル設
定値Ｎとデイジタル比較器Ａ４の検出する電圧Ｖ
とを比較し、比較器Ａ４の検出する電圧Ｖが設定
レベルＮに満たないときはゲート信号Ｇを１１の
ゲート回路に送つてゲートを閉じＤ／Ａ変換器６
の出力Ａを出力させない。第３図に示すレベル
Ｎを超えるキズ信号波形が入力されるとはじめ
て１１のゲート回路を開き第３図のような波形
の波高値（Ｄp4）を忠実に再現し、その値をＴ
時間保持したアナログ波形Ａの出力信号A′を
出力端子８に出力するものである。
この発明は以上のように構成されているので非
破壊試験機の信号処理部において信号解析された
高周波を含むアナログのキズ信号をペン書きオシ
ログラフにて記録するに当り上記信号の波高値を
忠実に再現しその波高値を上記オシログラフが十
分追随しうる応答時間保持しうる低周波の波形に
整形するについて信号処理が容易にして安定性が
高く、高精度のデイジタル信号処理を用いた装置
であり、これによつてオシログラフデータが直線
性をもつてキズ信号を定量的に高精度で記録する
ことができ、データの信頼性を格段に向上させ、
非破壊試験の結果の活用に効果を奏するものとな
る。
破壊試験機の信号処理部において信号解析された
高周波を含むアナログのキズ信号をペン書きオシ
ログラフにて記録するに当り上記信号の波高値を
忠実に再現しその波高値を上記オシログラフが十
分追随しうる応答時間保持しうる低周波の波形に
整形するについて信号処理が容易にして安定性が
高く、高精度のデイジタル信号処理を用いた装置
であり、これによつてオシログラフデータが直線
性をもつてキズ信号を定量的に高精度で記録する
ことができ、データの信頼性を格段に向上させ、
非破壊試験の結果の活用に効果を奏するものとな
る。
第１図はこの発明の一実施例の信号波形整形装
置の構成ブロツク図、第２図は上記各部の信号波
形のタイムチヤート、第３図は上記実施例装置に
おけるノイズリジエクター効果を説明する波形の
タイムチヤートである。 １……キズ信号（アナログ）入力端子、A0…
…キズ信号、Ｄ……キズのデイジタル信号、
D0，D0+1……ラツチ回路の出入力信号、Ｐ……
パルス信号、S1……ラツチ指令信号、S2……比較
指令信号、Pt……トリガパルス、Ａ……波形整形
されたキズのアナログ信号、８……出力端子、△
Ｖ……一定の比較電圧差、Ｄp1，Ｄp2，Ｄp3，Ｄ
p4……波形，，，の波高値、t0，t3，t5
……比較器Ａのパルス発信時点、t1，t4，t6……
上記パルス発信停止時点、Ｔ……波高値保持時間
（オシログラフの応答時間以上をタイマで設定）、
T′……Ｔより短かい時間、Ａ，Ａ，Ａ，
Ａ……整形されたアナログのキズ信号波形、９
……リジエクトするノイズレベル設定端子、Ｇ…
…ゲ…ト制御信号、Ｎ………ノイズレベル、
A′……ノイズをリジエクトしたアナログのキズ
信号。
置の構成ブロツク図、第２図は上記各部の信号波
形のタイムチヤート、第３図は上記実施例装置に
おけるノイズリジエクター効果を説明する波形の
タイムチヤートである。 １……キズ信号（アナログ）入力端子、A0…
…キズ信号、Ｄ……キズのデイジタル信号、
D0，D0+1……ラツチ回路の出入力信号、Ｐ……
パルス信号、S1……ラツチ指令信号、S2……比較
指令信号、Pt……トリガパルス、Ａ……波形整形
されたキズのアナログ信号、８……出力端子、△
Ｖ……一定の比較電圧差、Ｄp1，Ｄp2，Ｄp3，Ｄ
p4……波形，，，の波高値、t0，t3，t5
……比較器Ａのパルス発信時点、t1，t4，t6……
上記パルス発信停止時点、Ｔ……波高値保持時間
（オシログラフの応答時間以上をタイマで設定）、
T′……Ｔより短かい時間、Ａ，Ａ，Ａ，
Ａ……整形されたアナログのキズ信号波形、９
……リジエクトするノイズレベル設定端子、Ｇ…
…ゲ…ト制御信号、Ｎ………ノイズレベル、
A′……ノイズをリジエクトしたアナログのキズ
信号。
Claims (1)
- １ 検出されたアナログキズ信号をデイジタル信
号に変換するＡ／Ｄ変換手段と、このＡ／Ｄ変換
手段から出力される一定時間ごとのデイジタル信
号が順次入力され、その入力値を保持する保持手
段と、この保持手段に保持されている入力値と引
き続いて入力されてくる入力値とを比較する第１
の比較手段と、この第１の比較手段の比較値が正
の極性を示すとき、前記保持手段からその入力値
を順次出力させ、他方、第１の比較手段の比較値
が相等しいかまたは負の極性を示すとき、前記保
持手段を動作させてその時点における入力値を所
定時間保持させるように制御する制御手段と、前
記保持手段から出力されるデイジタル信号をアナ
ログ信号に変換するＤ／Ａ変換手段と、予め設定
されたノイズレベルと前記保持手段の出力値とを
比較する第２の比較手段と、この第２の比較手段
によつて前記出力値がノイズレベルを越えたとき
にのみ出力端子にアナログ信号が入力されるよう
にする手段とを備えてなる非破壊試験機のペン書
きオシログラフ用信号波形整形装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9127778A JPS5517483A (en) | 1978-07-25 | 1978-07-25 | Signal wave shaping unit for pen recording oscillograph of non-destructive tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9127778A JPS5517483A (en) | 1978-07-25 | 1978-07-25 | Signal wave shaping unit for pen recording oscillograph of non-destructive tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5517483A JPS5517483A (en) | 1980-02-06 |
| JPS6125096B2 true JPS6125096B2 (ja) | 1986-06-13 |
Family
ID=14021954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9127778A Granted JPS5517483A (en) | 1978-07-25 | 1978-07-25 | Signal wave shaping unit for pen recording oscillograph of non-destructive tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5517483A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01206707A (ja) * | 1988-02-12 | 1989-08-18 | Maspro Denkoh Corp | 周波数弁別器 |
-
1978
- 1978-07-25 JP JP9127778A patent/JPS5517483A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5517483A (en) | 1980-02-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR880000877A (ko) | 초음파 신호 프로세싱 시스템과 플로우 표시를 결정하는 방법 | |
| US3846623A (en) | Scanning means | |
| US4830020A (en) | Measurement signal interference elimination | |
| JPS6125096B2 (ja) | ||
| US4737723A (en) | Drop-out detection circuit | |
| GB2148638A (en) | A/D converters | |
| US4375093A (en) | Intermusic detecting circuit for automatic music selecting device | |
| US6914471B2 (en) | Method and apparatus for controlling a dual-slope integrator circuit to eliminate settling time effect | |
| JP2533852B2 (ja) | ジツタ−量測定装置 | |
| JP2696629B2 (ja) | フレキシブルディスクのモジュレーション波形検査方法 | |
| JPS5814062A (ja) | 波高分析装置 | |
| SU1140164A1 (ru) | Устройство дл контрол параметров сигналов записи-воспроизведени в магнитофоне | |
| JPH0526856A (ja) | 超音波信号検出装置 | |
| JPS6243135B2 (ja) | ||
| SU968744A1 (ru) | Устройство дл контрол материалов по сигналам акустической эмиссии | |
| JPS593624Y2 (ja) | サンプル・ホ−ルド回路 | |
| SU1515102A2 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| JP2813913B2 (ja) | 磁気ディスクサーティファイヤのエラー検出回路 | |
| SU1589204A1 (ru) | Многоканальное акустико-эмиссионное устройство дл контрол изделий | |
| SU1429138A1 (ru) | Регистратор параметров импульсных сигналов | |
| JPS599854B2 (ja) | タンシヨウキニオケル ケンシユツキ ノ カンドセツテイソウチ | |
| SU1243028A1 (ru) | Способ контрол качества магнитной записи импульсных сигналов | |
| US3532834A (en) | Speech gate | |
| SU1354222A1 (ru) | Устройство дл классификации сигналов | |
| SU1049797A1 (ru) | Устройство дл ультразвукового контрол изделий |