JPS61247107A - Synchronous detector - Google Patents

Synchronous detector

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JPS61247107A
JPS61247107A JP8924385A JP8924385A JPS61247107A JP S61247107 A JPS61247107 A JP S61247107A JP 8924385 A JP8924385 A JP 8924385A JP 8924385 A JP8924385 A JP 8924385A JP S61247107 A JPS61247107 A JP S61247107A
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hold
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Makoto Goto
誠 後藤
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To decrease the ripple of a detection signal by sampling a measured frequency signal and applying subtraction and synthesis to the result at the zero cross point of the leading and trailing of a reference frequency signal. CONSTITUTION:A zero detector 13 generates the 1st sampling pulse (c) and the 2nd sampling pulse (d) at the zero cross point of time of the leading and trailing of the reference frequency signal (b). The 1st sample-and-hold device 14 samples the measured frequency signal (a) when the pulse (c) is generated and outputs a sample-and-hold signal (e). The end sample-and-hold device 15 outputs similarly a sample-and-hole signal (f). A synthesizer 16 synthesizes subtractively the signals (e, f) and outputs a detection signal (g).

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、同期検波装置に関するものである。[Detailed description of the invention] Industrial applications The present invention relates to a synchronous detection device.

従来の技術 同期検波装置は、振幅変調された被測定周波数信号の振
幅変調信号を検出するために、広く利用されている。従
来の同期検波装置の構成を第8図に示す。また、その動
作説明用の波形図を第9図に示す。以下、これについて
説明する。
BACKGROUND OF THE INVENTION Conventional synchronous detection devices are widely used to detect amplitude modulated signals of frequency signals under test that are amplitude modulated. The configuration of a conventional synchronous detection device is shown in FIG. Further, a waveform diagram for explaining the operation is shown in FIG. This will be explained below.

被測定周波数信号源2o1は、特定の周波数を有し、そ
の振幅が変調された被測定周波数信号a′を発生する(
第9図(a))。基準周波数信号源202は、被測定周
波数信号a′と同じ周波数で、位相も同じ基準周波数信
号b′を発生している(第9図(ロ))。
The frequency-to-be-measured signal source 2o1 has a specific frequency and generates a frequency-to-be-measured signal a' whose amplitude is modulated (
Figure 9(a)). The reference frequency signal source 202 generates a reference frequency signal b' having the same frequency and phase as the frequency signal a' to be measured (FIG. 9(b)).

整形器203は、基準周波数信号dを波形整形し、整形
信号C′を作っている(第9図(C))。乗算器204
は、被測定周波数信号a′と整形信号♂を乗算し、乗算
信号d′を得ている(@9図(d))。ローパスフィル
タ205は、乗算信号d′のリップル分を低減・除去し
、検波信号♂を得ている。
The shaper 203 shapes the waveform of the reference frequency signal d to produce a shaped signal C' (FIG. 9(C)). Multiplier 204
multiplies the measured frequency signal a' and the shaped signal ♂ to obtain a multiplied signal d' (@9 (d)). The low-pass filter 205 reduces and removes the ripple component of the multiplied signal d' to obtain a detected signal ♂.

発明が解決しようとする問題点 このような従来の同期検波装置では、乗算器204を使
っているために、乗算信号d′に非常に大きなリップル
が生じる。従って、検波信号e′のリップルを小さくす
るためには、ローパスフィルタ゛206にかなり低い折
点周波数で高次のフィルタ特性を持たせる必要がある。
Problems to be Solved by the Invention In such a conventional synchronous detection device, since the multiplier 204 is used, a very large ripple occurs in the multiplied signal d'. Therefore, in order to reduce the ripple of the detected signal e', it is necessary to provide the low-pass filter 206 with a high-order filter characteristic at a considerably low corner frequency.

しかし、ローパスフィルタ206を高次にすると検波信
号e′の周波数特性の悪化するために、フィルタ特性に
よるリップルの低減には限界があった。すなわち、ロー
パスフィルタ205によって十分に低減できず、検波信
号lに残留するリップルが大きかった。
However, if the low-pass filter 206 is set to a high level, the frequency characteristics of the detected signal e' deteriorate, so there is a limit to the reduction of ripples due to the filter characteristics. That is, the ripple could not be sufficiently reduced by the low-pass filter 205, and the ripple remaining in the detected signal l was large.

本発叩け、このような点を考慮し、乗算器を使用しない
構成のリップルの非常に小さい同期検波装置を提供する
ものである。
Taking these points into consideration, the present invention provides a synchronous detection device that does not use a multiplier and has very small ripples.

問題点を解決するだめの手段 本発明では、検出すべき被測定周波数信号を発生する被
測定周波数信号発生手段と、前記被測定周波数信号と周
波数が等しく、位相が90度もしくは略90度異なる基
準周波数信号を発生する基準周波数信号発生手段と、前
記基準周波数信号の立ち上がりの零クロス時点において
前記被測定周波数信号をサンプリングし、次のサンプリ
ング時点までサンプリング値をホールドする第一のサン
プルホールド手段と、前記基準周波数信号の立ち下がり
の零クロス時点において前記被測定周波数信号(または
前記被測定周波数信号の反転信号)をサンプリングし、
次のサンプリング時点までサンプリング値をホールドす
る第二のサンプルホールド手段と、前記第一のサンプル
ホールド手段の出力信号と前記第二のサンプルホールド
手段の出力信号を減算合成(または加算合成)する合成
手段とを具備することによって、上記の目的を達成した
ものである。
Means for Solving the Problems The present invention provides a frequency-to-be-measured signal generating means for generating a frequency-to-be-measured signal to be detected, and a reference having the same frequency as the frequency-to-be-measured signal and a phase difference of 90 degrees or approximately 90 degrees. a reference frequency signal generating means for generating a frequency signal; a first sample hold means for sampling the frequency signal under test at a zero cross point of a rising edge of the reference frequency signal and holding the sampled value until the next sampling point; sampling the frequency signal to be measured (or the inverted signal of the frequency signal to be measured) at the zero cross point of the falling edge of the reference frequency signal;
a second sample hold means for holding the sampled value until the next sampling point; and a synthesis means for subtractively synthesizing (or additively synthesizing) the output signal of the first sample hold means and the output signal of the second sample hold means. The above objective is achieved by having the following.

作  用 本発明は上記の構成にすることによって、検波信号(合
成手段の出力信号)のリップルを大幅に小さくしたもの
である。また、等測的なサンプリング周波数を高くして
、検波信号の周波数特性も良くしている。
Operation The present invention significantly reduces the ripple of the detected signal (output signal of the combining means) by adopting the above-mentioned configuration. Furthermore, the isometric sampling frequency is increased to improve the frequency characteristics of the detected signal.

実施例 第1図に本発明の実施例を表わす構成を示す。Example FIG. 1 shows a configuration representing an embodiment of the present invention.

また、第7図にその動作説明用の波形図を示す。Further, FIG. 7 shows a waveform diagram for explaining the operation.

第1図において、被測定周波数信号発生器11は振幅変
調された所定周波数の被測定周波数信号aを発生する(
第7図(a))。基準周波数信号発生器12は、被測定
周波数信号aの周波数と同じ周波数で、位相が90度も
しくは略9o度異なる基準周波数信号すを発生する(第
7図(bO)。
In FIG. 1, a frequency-to-be-measured signal generator 11 generates an amplitude-modulated frequency-to-be-measured signal a of a predetermined frequency (
Figure 7(a)). The reference frequency signal generator 12 generates a reference frequency signal S having the same frequency as the frequency of the frequency signal to be measured a, but having a phase different by 90 degrees or approximately 90 degrees (FIG. 7(bO)).

零クロス検出器13は基準周波数信号すを入力され、基
準周波数信号すの立ち上がりの零クロス時点において短
時間゛H”(高電位状態)になる第一のサンプルパルス
Cと、基準周波数信号すの立ち下がり時点において短時
間m H、になる第二のサンプルパルスdを作り出して
いる(第7図(C)。
The zero cross detector 13 receives the reference frequency signal S, and detects the first sample pulse C which becomes "H" (high potential state) for a short time at the zero cross point of the rising edge of the reference frequency signal S, and the reference frequency signal S A second sample pulse d is created which becomes m H for a short time at the falling point (FIG. 7(C)).

@))。@)).

第2図に零クロス検出器13の具体的な構成を示し、第
6図てその動作説明用の波形図を示す。
FIG. 2 shows a specific configuration of the zero cross detector 13, and FIG. 6 shows a waveform diagram for explaining its operation.

コンパレータ31は、基準周波数信号すを零クロス時点
において波形整形し、第一のコン2くレート信号jを作
る(第6図(−) 、 (b) )。また、コン2(レ
ータ33.34と基準電圧源35.36とアンド回路3
7からなるウィンド・コン2(レータ回路32によって
、基準周波数信号すと基準電圧源36゜360電圧値を
比較し、第二のコン2くレート信号kを得ている(第6
図(C))。第二のコン・(レート信号には、基準周波
数信号すが零を含む所定の範囲内にある時に”H″(高
電位状態)となり、基準周波数信号すが所定の範囲外に
なるとL′(低電位状態)になる。第一のコン2くレー
ト信号1はデータ入力型のエツジトリガ・フリ、ノブフ
ロップ38のデータ入力端子pに入力され、第二のコン
パレート信号にはフリップフロップ38のクロックパル
ス入力端子GKに入力されている。フリップフロップ3
8は、第二のコン2(レート信号にの立ち上がりエツジ
における第一のコン2くレート信号iの状態を入力して
出力信号lにし、その状態を第二のコンパレート信号に
の次の立ち上がりエツジの到来時点まで保持する(第6
図(d))。
The comparator 31 shapes the waveform of the reference frequency signal at the zero-cross point, and produces a first comparator rate signal j (FIGS. 6(-) and 6(b)). In addition, the controller 2 (rater 33, 34, reference voltage source 35, 36 and AND circuit 3
7, the reference frequency signal and the reference voltage source 36°360 voltage value are compared by the window controller 2 (rater circuit 32), and the second controller 2 receives the rate signal k (6th
Figure (C)). The second converter (rate signal) becomes "H" (high potential state) when the reference frequency signal is within a predetermined range including zero, and becomes "L" (high potential state) when the reference frequency signal is outside the predetermined range. The first comparator rate signal 1 is input to the data input terminal p of the data input type edge trigger flip-flop 38, and the second comparator signal is input to the clock pulse of the flip-flop 38. Input to input terminal GK.Flip-flop 3
8 inputs the state of the second comparator 2 (the state of the rate signal i at the rising edge of the rate signal to the output signal l, and inputs that state to the second comparator signal at the next rising edge). Hold until the arrival of the edge (6th
Figure (d)).

アンド回路41によって、第一のコンノくレート信号j
とフリップフロップ38の出力信号1の論理積をとるこ
とにより、第一のサンプルパルスCを作り出している(
第6図(、) ) 、第一のサンプルノくルスCは、基
準周波数信号すの立ち上が9の零クロス時点に対応して
いる。また、インノ(−夕回路39.40とアンド回路
42によって、第一のコンパレート信号jと7リツプフ
ロツプ38の出力信号1から第二のサンプルパルスdを
作り出している(第6図(f) )。第二のサンプルパ
ルスdは、基準周波数信号すの立ち下がりの零クロス時
点に対応している。
The AND circuit 41 outputs the first rate signal j
The first sample pulse C is created by ANDing the output signal 1 of the flip-flop 38 and the output signal 1 of the flip-flop 38.
In FIG. 6(, )), the first sample cross C corresponds to the zero cross point of the rising edge 9 of the reference frequency signal S. In addition, a second sample pulse d is generated from the first comparator signal j and the output signal 1 of the 7-lip-flop 38 by the input circuit 39 and 40 and the AND circuit 42 (Fig. 6(f)). The second sample pulse d corresponds to the zero cross point of the falling edge of the reference frequency signal S.

零クロス検出器13の第一のサンプルパルスCは第一の
サンプルホールド器14に入力され、第一のサンプルパ
ルスCが“H#になった時点の被測定周波数信号aをサ
ンプリングし、その値を第一のサンプルホールド信号e
として出力し、次のサンプリング時点までホールドする
(第7図(e))。
The first sample pulse C of the zero cross detector 13 is input to the first sample hold device 14, which samples the frequency signal a to be measured at the time when the first sample pulse C becomes "H#", and calculates its value. The first sample and hold signal e
, and is held until the next sampling point (FIG. 7(e)).

第3図に第一のサンプルホールド器14の具体的な構成
を示す0第一のサンプルホールド器14は演算増幅器5
1.54とアナログスイッチ52とコンデンサ53から
なっている。被測定周波数信号aは演算増幅器51の非
反転入力端子に入力される。アナログスイッチ62は、
第一のサンプルパルスCがL″の時に開放状態にあり、
第一のサンプルパルスCが6H′になると短絡状態にな
る。アナログスイッチ62が短絡状態になると、演電増
幅器61がバッファ回路として動作し、コンデンサ63
は演算増幅器51によって充電もしくは放電され、コン
デンサ53の端子電圧はそのときの被測定周波数信号と
の電圧値に等しくもしくは略等しくなるOまた、アナロ
グスイッチ62が開放状態になると、そのときのコンデ
ンサ63の電荷および電圧が保持される。そして、コン
デンサ63の電圧は、演算増幅器64によるノくツファ
回路を介して第一のサンプルホールド信号eとして出力
される0 零クロス検出器13の第二のサンプルノくルスd、は第
二のサンプルホールド器16に入力され、第二のサンプ
ルパルスdが@H#になった時点の被測定周波数信号a
をサンプリングし、その値を第二のサンプルホールド信
号fとして出力し、次のサンプリング時点までホールド
する(第7図(f))。
FIG. 3 shows a specific configuration of the first sample and hold device 14. The first sample and hold device 14 is an operational amplifier 5.
1.54, an analog switch 52, and a capacitor 53. The measured frequency signal a is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 51. The analog switch 62 is
is in an open state when the first sample pulse C is L'';
When the first sample pulse C reaches 6H', a short circuit occurs. When the analog switch 62 is short-circuited, the power amplifier 61 operates as a buffer circuit, and the capacitor 63
is charged or discharged by the operational amplifier 51, and the terminal voltage of the capacitor 53 becomes equal or approximately equal to the voltage value of the frequency signal to be measured at that time.In addition, when the analog switch 62 becomes open, the terminal voltage of the capacitor 53 at that time The charge and voltage of is maintained. Then, the voltage of the capacitor 63 is outputted as the first sample hold signal e through the output circuit of the operational amplifier 64. The measured frequency signal a is input to the sample hold device 16 and the moment the second sample pulse d becomes @H#
is sampled, and its value is output as the second sample-and-hold signal f, and held until the next sampling point (FIG. 7(f)).

第4図に第二のサンプルホールド器15の具体的な構成
を示す。第二のサンプルホールド器16は演算増幅器6
1.64とアナログスイッチ62とコンデンサ63から
なっている。被測定周波数信号aは演算増幅器61の非
反転入力端子に入力される。アナログスイッチ62は、
第二のサンプルパルスdがL#の時に開放状態にあり、
第二のサンプルパルスdがl HIllになると短絡状
態になる。アナログスイッチ62が短絡状態になると、
演算増幅器61がバッフ1回路として動作し、コンデン
サ63は演算増幅器61によって充電もしくは放電され
、コンデンサ63の端子電圧はそのときの被測定周波数
信号aの電圧値に等しくもしくは略等しくなる。また、
アナログスイッチ62が開放状態になると、そのときの
コンデンサ63□の電荷および電圧が保持される。そし
て、コンデンサ63の電圧は、演算増幅器64によるバ
ック1回路を介して第二のサンプルホールド信号fとし
て出力される。
FIG. 4 shows a specific configuration of the second sample and hold device 15. The second sample and hold device 16 is an operational amplifier 6
1.64, an analog switch 62, and a capacitor 63. The measured frequency signal a is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 61. The analog switch 62 is
is in an open state when the second sample pulse d is L#;
When the second sample pulse d becomes lHIll, a short circuit condition occurs. When the analog switch 62 becomes short-circuited,
The operational amplifier 61 operates as a buffer 1 circuit, the capacitor 63 is charged or discharged by the operational amplifier 61, and the terminal voltage of the capacitor 63 becomes equal to or approximately equal to the voltage value of the frequency signal under measurement a at that time. Also,
When the analog switch 62 is in the open state, the charge and voltage of the capacitor 63□ at that time are held. Then, the voltage of the capacitor 63 is outputted as a second sample-and-hold signal f via a back 1 circuit including an operational amplifier 64.

第一のサンプルホールド器14の第一のサンプルホール
ド信号eと第二のサンプルホールド器16の第二のサン
プルホールド信号fは、合成器16に入力される。合成
器16は、第一のサンプルホールド信号eと第二のサン
プルホールド信号fを減算合成し、検波信号qを出力し
ている(第7図。
The first sample and hold signal e of the first sample and hold device 14 and the second sample and hold signal f of the second sample and hold device 16 are input to the synthesizer 16. The synthesizer 16 subtracts and combines the first sample-and-hold signal e and the second sample-and-hold signal f, and outputs a detected signal q (FIG. 7).

(q))。第5図に合成器16の具体的表構成を示す。(q)). FIG. 5 shows a specific table structure of the synthesizer 16.

合成器16は、演算増幅器71と抵抗72,73゜74
.75からなる差動増幅回路によって構成され、第一の
サンプルホールド信号eと第二のサンプルホールド信号
fを減算して出力する。
The synthesizer 16 includes an operational amplifier 71 and resistors 72 and 73°74.
.. 75, and outputs the result by subtracting the first sample-and-hold signal e and the second sample-and-hold signal f.

本実施例に示すように、サンプルホール器を用いるなら
ば、検波信号qのリップルは大幅に小さくなる。従って
、本同期検波装置にはローパスフィルタは不要となる。
As shown in this embodiment, if a sample Hall device is used, the ripple of the detected signal q will be significantly reduced. Therefore, the present synchronous detection device does not require a low-pass filter.

また、ローパスフィルタがないので、検波信号qの周波
数特性も良くなる0さらに、第一のサンプルホールド器
の出力信号と第二のサンプルホールド器の出力信号を合
成して検波信号qを得ているので、等制約なサンプリン
グ周波数が高くなる。すなわち、検波信号qの周波数特
性がさらに良くなるという効果もある(高周波まで検出
可能)0 前述の実施例では、第一のサンプルホールド信号と第二
のサンプルホールド信号を減算合成したが、本発明はそ
のような場合に限らない。たとえば、第二のサンプルホ
ールド器において被測定周波数信号の反転信号を第二の
サンプルパルスによってサンプリングし、次のサンプリ
ングまでホールドするようにし、かつ、合成器において
第一のサンプルホールド信号と第二のサンプルホールド
信号を加算合成するようにしてもよく、本発明に含まれ
ることはいうまでもない。
In addition, since there is no low-pass filter, the frequency characteristics of the detected signal q are also improved.Furthermore, the output signal of the first sample and hold device and the output signal of the second sample and hold device are combined to obtain the detected signal q. Therefore, the equal-constraint sampling frequency becomes higher. In other words, there is an effect that the frequency characteristics of the detection signal q are further improved (up to high frequencies can be detected). is not limited to such cases. For example, in a second sample and hold device, the inverted signal of the frequency signal to be measured is sampled using a second sample pulse and held until the next sampling, and in a synthesizer, the first sample and hold signal and the second It goes without saying that the sample-and-hold signals may be added and synthesized, and this is included in the present invention.

その他、本発明の主旨を変えずして種々の変更が可能で
ある。
In addition, various modifications can be made without changing the gist of the present invention.

発明の効果 本発明の同期検波装置は、簡単な構成ながらも検波信号
のリップルが小さく、かつ、周波数特性も良い。従って
、本発明に基き、各種信号の同期検波装置を構成するな
らば、非常に良好な同期検波が可能となる。
Effects of the Invention Although the synchronous detection device of the present invention has a simple configuration, the ripple of the detected signal is small and the frequency characteristics are good. Therefore, if a synchronous detection device for various signals is constructed based on the present invention, very good synchronous detection will be possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例による同期検波装置のブロッ
ク図、第2図は第1図の零クロス検出器の具体的な構成
を表わすブロック図、第3図は第1図の第一のサンプル
ホールド器の具体的な構成を表わすブロック図、第4図
は第1図の第二のサンプルホールド器の具体的な構成を
表わすブロック図、第6図は第1図の合成器の具体的な
構成を表わすブロック図、第6図は第2図の零クロス検
出器の動作説明用の波形図、第7図は本発明の同期検波
装置の動作説明用の波形図、第8図は従来の同期検波装
置を表わす構成図、第9図は第8図の従来の同期検波装
置の動作説明用の波形図である0 11・・・・・・被測定周波数信号発生器、12・・・
・・・基準周波数信号発生器、13・・・・・・零クロ
ス検出器1.14・・・・・・第一のサンプルホールド
器、15・・・・・・第二のサンプルホールド器、16
・・・・・・合成器。 第7図 O −c810      ℃
FIG. 1 is a block diagram of a synchronous detection device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a specific configuration of the zero-cross detector shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a block diagram showing a specific configuration of the second sample and hold device in FIG. 1, and FIG. 6 is a block diagram showing a specific configuration of the second sample and hold device in FIG. 1. FIG. 6 is a waveform diagram for explaining the operation of the zero cross detector of FIG. 2, FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the operation of the synchronous detection device of the present invention, and FIG. A configuration diagram showing a conventional synchronous detection device, and FIG. 9 is a waveform diagram for explaining the operation of the conventional synchronous detection device shown in FIG.・
...Reference frequency signal generator, 13...Zero cross detector 1.14...First sample and hold device, 15...Second sample and hold device, 16
...Synthesizer. Figure 7 O -c810℃

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 検出すべき被測定周波数信号を発生する被測定周波数信
号発生手段と、前記被測定周波数信号と周波数が等しく
、位相が90度もしくは略90度異なる基準周波数信号
を発生する基準周波数信号発生手段と、前記基準周波数
信号の立ち上がりの零クロス時点において前記被測定周
波数信号をサンプリングし、次のサンプリング時点まで
サンプリング値をホールドする第一のサンプルホールド
手段と、前記基準周波数信号の立ち下がりの零クロス時
点において前記被測定周波数信号(または前記被測定周
波数信号の反転信号)をサンプリングし、次のサンプリ
ング時点までサンプリング値をホールドする第二のサン
プルホールド手段と、前記第一のサンプルホールド手段
の出力信号と前記第二のサンプルホールド手段の出力信
号を減算合成(または加算合成)する合成手段とを具備
する同期検波装置。
Measured frequency signal generating means for generating a measured frequency signal to be detected; reference frequency signal generating means for generating a reference frequency signal having the same frequency as the measured frequency signal and a phase difference of 90 degrees or approximately 90 degrees; a first sample and hold means for sampling the frequency signal under test at the zero cross point of the rising edge of the reference frequency signal and holding the sampled value until the next sampling point; and at the zero crossing point of the falling edge of the reference frequency signal; a second sample-hold means for sampling the frequency signal under test (or an inverted signal of the frequency signal under test) and holding the sampled value until the next sampling point; and an output signal of the first sample-hold means; A synchronous detection device comprising: a synthesizing means for subtractively synthesizing (or additively synthesizing) the output signals of the second sample and hold means.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5244145A (en) * 1975-10-03 1977-04-06 Sharp Corp Amplifier circuit
JPS54156461A (en) * 1978-05-30 1979-12-10 Mitsubishi Electric Corp Demodulator for amplitude modulation wave
JPS6068703A (en) * 1983-07-25 1985-04-19 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Fm demodulating method and circuit by digital delay and self correlation

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5244145A (en) * 1975-10-03 1977-04-06 Sharp Corp Amplifier circuit
JPS54156461A (en) * 1978-05-30 1979-12-10 Mitsubishi Electric Corp Demodulator for amplitude modulation wave
JPS6068703A (en) * 1983-07-25 1985-04-19 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Fm demodulating method and circuit by digital delay and self correlation

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