JPS6124646B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6124646B2 JPS6124646B2 JP14599678A JP14599678A JPS6124646B2 JP S6124646 B2 JPS6124646 B2 JP S6124646B2 JP 14599678 A JP14599678 A JP 14599678A JP 14599678 A JP14599678 A JP 14599678A JP S6124646 B2 JPS6124646 B2 JP S6124646B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- test piece
- control
- heating zone
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 14
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動的に温度制御を行える高温引張試
験装置用電気炉の温度制御方法に関するものであ
る。
験装置用電気炉の温度制御方法に関するものであ
る。
高温引張試験は被加熱物体である試験片の長さ
方向の一定区間を均等な一定温度に加熱制御する
ことが必要である。
方向の一定区間を均等な一定温度に加熱制御する
ことが必要である。
そして加熱においては試験片の不均一で過剰な
酸化を防止するため出来るだけ早く一定速度で試
験温度迄昇降させなければならない。
酸化を防止するため出来るだけ早く一定速度で試
験温度迄昇降させなければならない。
また被加熱物体である試験片が試験度に達した
ならば手動もしくは従来技術で実施可能な自動装
置によりすみやかに高温引張試験機を操作する必
要がある。
ならば手動もしくは従来技術で実施可能な自動装
置によりすみやかに高温引張試験機を操作する必
要がある。
従来前記高温引張試験装置の温度制御は試験片
の標点距離内の２〜３点の温度を熱電対で検出し
均一な加熱、保持を行うように加熱帯を調節して
いる。この方法では前記高温引張試験装置の炉内
雰囲気温度と試験片温度の差がかなり大きいため
前記試験片温度を許容範囲内に常に保持すること
が難しい。
の標点距離内の２〜３点の温度を熱電対で検出し
均一な加熱、保持を行うように加熱帯を調節して
いる。この方法では前記高温引張試験装置の炉内
雰囲気温度と試験片温度の差がかなり大きいため
前記試験片温度を許容範囲内に常に保持すること
が難しい。
本発明は上記の問題点を鑑みて発明したもので
ある。
ある。
すなわち、試験片中央部温度と炉内雰囲気温度
を検出し、カスケード制御を行わしめ、また試験
片の両端部との温度差を０ならしめるためにPID
制御するように構成したことを特徴としている。
を検出し、カスケード制御を行わしめ、また試験
片の両端部との温度差を０ならしめるためにPID
制御するように構成したことを特徴としている。
以下本発明を第１図に基づき説明する。
第１図は本発明の制御機構を示す図であつて、
１は被加熱物体である試験片を示し、HT、
HM、HBは電気抵抗炉の各上部、中央部、下部
のヒーターであり、ＴT、ＴP、ＴBは各上部、中
央部、下部の電力制御回路である。
１は被加熱物体である試験片を示し、HT、
HM、HBは電気抵抗炉の各上部、中央部、下部
のヒーターであり、ＴT、ＴP、ＴBは各上部、中
央部、下部の電力制御回路である。
また試験片１の２，３，４は試験片の温度検出
点で、５は中央部ヒーターＨMと試験片１との間
の任意の位置に設けた炉内雰囲気温度の検出点で
ある。ＣT、ＣOおよびＣM、ＣBは各々上部、中央
部、下部の温度補償器を示している。このように
構成した加熱制御機構において中央部加熱帯用ヒ
ーターＨMで試験片平行部の温度を上昇させ上部
加熱帯用ヒータＨTにより上部のチヤツク６の温
度を、また下部加熱帯用ヒーターＨBで下部のチ
ヤツク７の温度を調節することにより試験片の温
度分布を制御している。したがつて第１図に示す
ような試験片中央部温度検出点３と炉内雰囲温度
検出点５の温度を検出し、中央部加熱帯用温度補
償器ＣO、ＣMにてカスケード制御を行い試検片の
加熱を行つている。また一方試験片の２，３，
４、の各点の温度分布を制御するために３〜２点
間の温度差を上部加熱帯用温度補償器ＣTを通
し、また３〜４点間の温度差を下部加熱帯用温度
補償器ＣBを通し各々０となるようにPID制御し
ている。
点で、５は中央部ヒーターＨMと試験片１との間
の任意の位置に設けた炉内雰囲気温度の検出点で
ある。ＣT、ＣOおよびＣM、ＣBは各々上部、中央
部、下部の温度補償器を示している。このように
構成した加熱制御機構において中央部加熱帯用ヒ
ーターＨMで試験片平行部の温度を上昇させ上部
加熱帯用ヒータＨTにより上部のチヤツク６の温
度を、また下部加熱帯用ヒーターＨBで下部のチ
ヤツク７の温度を調節することにより試験片の温
度分布を制御している。したがつて第１図に示す
ような試験片中央部温度検出点３と炉内雰囲温度
検出点５の温度を検出し、中央部加熱帯用温度補
償器ＣO、ＣMにてカスケード制御を行い試検片の
加熱を行つている。また一方試験片の２，３，
４、の各点の温度分布を制御するために３〜２点
間の温度差を上部加熱帯用温度補償器ＣTを通
し、また３〜４点間の温度差を下部加熱帯用温度
補償器ＣBを通し各々０となるようにPID制御し
ている。
前記各部の加熱帯用温度補償器ＣO、ＣT、Ｃ
M、ＣBは通常のPID調節計で実施できる。従つて
本発明の装置によれば限られた炉長の電気抵抗炉
をもつて試験片の温度分布を一定に保ち、試験温
度迄に自動で昇温することが可能となり正確な引
張試験データが得られ、かつ制御の自動化により
工数削減にもなり従来装置の問題点が一気に解消
でき本発明の効果は非常に大きい。
M、ＣBは通常のPID調節計で実施できる。従つて
本発明の装置によれば限られた炉長の電気抵抗炉
をもつて試験片の温度分布を一定に保ち、試験温
度迄に自動で昇温することが可能となり正確な引
張試験データが得られ、かつ制御の自動化により
工数削減にもなり従来装置の問題点が一気に解消
でき本発明の効果は非常に大きい。
第１図は高温引張試験装置の温度制御を示す図
である。 １…試験片、２，３，４，５…検出点、６，７
…チヤツク、ＨT，ＨM，ＨB…ヒータ、ＣO，Ｃ
T，ＣM，ＣB…温度補償器、ＴT，ＴM，ＴB…電力
制御回路、ＴO…制御目標値。
である。 １…試験片、２，３，４，５…検出点、６，７
…チヤツク、ＨT，ＨM，ＨB…ヒータ、ＣO，Ｃ
T，ＣM，ＣB…温度補償器、ＴT，ＴM，ＴB…電力
制御回路、ＴO…制御目標値。
Claims (1)
- １ 少なくとも三層の加熱帯を有する高温引張試
験用電気炉において、中央部の加熱帯温度を被加
熱物体長さ方向の中央部の温度と炉内雰囲気温度
を検出してカスケード制御により調整し、また両
端部の加熱帯温度を前記被加熱物体長さ方向の中
央部と両端部の温度差を検出しPID制御すること
を特徴とする高温引張試験装置用電気炉の温度制
御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14599678A JPS5572847A (en) | 1978-11-28 | 1978-11-28 | Temperature control method for electric furnace for high-temperature tension tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14599678A JPS5572847A (en) | 1978-11-28 | 1978-11-28 | Temperature control method for electric furnace for high-temperature tension tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5572847A JPS5572847A (en) | 1980-06-02 |
| JPS6124646B2 true JPS6124646B2 (ja) | 1986-06-12 |
Family
ID=15397739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14599678A Granted JPS5572847A (en) | 1978-11-28 | 1978-11-28 | Temperature control method for electric furnace for high-temperature tension tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5572847A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6319243U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-08 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4222005B2 (ja) * | 2002-11-18 | 2009-02-12 | 株式会社島津製作所 | 温調システムを備えた分析装置 |
| GB2478134B (en) * | 2010-02-25 | 2012-01-11 | Micro Materials Ltd | Heating in material testing apparatus |
-
1978
- 1978-11-28 JP JP14599678A patent/JPS5572847A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6319243U (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-08 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5572847A (en) | 1980-06-02 |
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