JPS61246360A - 真空蒸着装置 - Google Patents
真空蒸着装置Info
- Publication number
- JPS61246360A JPS61246360A JP8571885A JP8571885A JPS61246360A JP S61246360 A JPS61246360 A JP S61246360A JP 8571885 A JP8571885 A JP 8571885A JP 8571885 A JP8571885 A JP 8571885A JP S61246360 A JPS61246360 A JP S61246360A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base bodies
- electron beam
- vapor deposition
- charge
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子ビーム蒸着法により絶縁物基板上に薄膜
を形成する真空蒸着装置に関するものである◎ 従来の技術 従来より、小型球状、棒状、または角状基体の全周に均
一に薄膜を形成する電子ビーム蒸着法においては、第3
図に示すような構造の蒸着装置が一般に用いられている
。第3図は、電子銃4より放出された電子ビームがルツ
ボ6内の蒸着材料6を加熱し回転ドラム7内の基体に蒸
着する構造である。
を形成する真空蒸着装置に関するものである◎ 従来の技術 従来より、小型球状、棒状、または角状基体の全周に均
一に薄膜を形成する電子ビーム蒸着法においては、第3
図に示すような構造の蒸着装置が一般に用いられている
。第3図は、電子銃4より放出された電子ビームがルツ
ボ6内の蒸着材料6を加熱し回転ドラム7内の基体に蒸
着する構造である。
発明が解決しようとする問題点
このような従来の構成では、ある種の金属又は合金を蒸
着材料として選択した場合に、電子ビームによって生じ
る反射電子、放電により基体がチャージアップされ、形
成された薄膜上にキズ状の欠陥が発生するという問題が
あった。
着材料として選択した場合に、電子ビームによって生じ
る反射電子、放電により基体がチャージアップされ、形
成された薄膜上にキズ状の欠陥が発生するという問題が
あった。
本発明はこのような問題点を解決するもので、電子ビー
ム蒸着において、被蒸着基体のチャージアップを防止し
、蒸着膜に生じる欠陥をなくすことを目的としたもので
ある。
ム蒸着において、被蒸着基体のチャージアップを防止し
、蒸着膜に生じる欠陥をなくすことを目的としたもので
ある。
問題点を解決するための手段
この問題点を解決するために本発明は、基体攪拌用の回
転ドラム内側に導体ピンを取付けるか導体球を投入する
ことにより、基体のチャージアップを防止するようにし
たものである。
転ドラム内側に導体ピンを取付けるか導体球を投入する
ことにより、基体のチャージアップを防止するようにし
たものである。
作 用
この構成により、チャージアップにより発生する薄膜上
の欠陥を著しく低下させることができる。
の欠陥を著しく低下させることができる。
実施例
第1図に本発明の一実施例による真空蒸着装置の回転ド
ラム部分を示しておシ、第1図に示すように回転ドラム
1の内部に銅製の導体ピン2が複数取付けられている。
ラム部分を示しておシ、第1図に示すように回転ドラム
1の内部に銅製の導体ピン2が複数取付けられている。
また被蒸着基体3としてアルミナ碍子を投入している。
このようにして、電子ビーム蒸着によりNiCrを蒸着
し、抵抗器を製作した場合の過負荷エージングにおける
不良率の推移は、第2図のようになるO この第2図の不良率推移比較より明らかなように、画構
成を用いることにより、薄膜の欠陥を著しく低減させる
ことができる。
し、抵抗器を製作した場合の過負荷エージングにおける
不良率の推移は、第2図のようになるO この第2図の不良率推移比較より明らかなように、画構
成を用いることにより、薄膜の欠陥を著しく低減させる
ことができる。
なお、上記実施−例においては、回転ドラム1内面に導
体ピン2を取付けた場合を示したが、回転ドラム1内に
複数の導体球を投入した構成としてもよい。
体ピン2を取付けた場合を示したが、回転ドラム1内に
複数の導体球を投入した構成としてもよい。
発明の効果
以上のように本発明によれば、チャージアップによる薄
膜の欠陥を少なくすることができる0
膜の欠陥を少なくすることができる0
第1図は本発明の一実施例による真空蒸着装置の回転ド
ラムを示す斜視図、第2図は蒸着品を用いて抵抗器を製
作した場合の不良率を示す図、第3図は一般的な電子ビ
ーム蒸着方法を示す概略図である。 1・・・・・・回転ドラム、2・・・・・・導体ピン、
3・・・・・・被蒸着基体。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図
ラムを示す斜視図、第2図は蒸着品を用いて抵抗器を製
作した場合の不良率を示す図、第3図は一般的な電子ビ
ーム蒸着方法を示す概略図である。 1・・・・・・回転ドラム、2・・・・・・導体ピン、
3・・・・・・被蒸着基体。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図
Claims (1)
- 電子ビーム蒸着法により薄膜が形成される被蒸着基体
を投入する回転ドラム内に、導体を配設した真空蒸着装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8571885A JPS61246360A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 真空蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8571885A JPS61246360A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 真空蒸着装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61246360A true JPS61246360A (ja) | 1986-11-01 |
Family
ID=13866614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8571885A Pending JPS61246360A (ja) | 1985-04-22 | 1985-04-22 | 真空蒸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61246360A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1103685C (zh) * | 1998-02-27 | 2003-03-26 | 松下电器产业株式会社 | 层压体的制造方法 |
JP2010209443A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | National Institute For Materials Science | 蒸着装置と蒸着方法 |
-
1985
- 1985-04-22 JP JP8571885A patent/JPS61246360A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1103685C (zh) * | 1998-02-27 | 2003-03-26 | 松下电器产业株式会社 | 层压体的制造方法 |
JP2010209443A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | National Institute For Materials Science | 蒸着装置と蒸着方法 |
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