JPS61243340A - 可変分散フアイバ装置 - Google Patents
可変分散フアイバ装置Info
- Publication number
- JPS61243340A JPS61243340A JP60084343A JP8434385A JPS61243340A JP S61243340 A JPS61243340 A JP S61243340A JP 60084343 A JP60084343 A JP 60084343A JP 8434385 A JP8434385 A JP 8434385A JP S61243340 A JPS61243340 A JP S61243340A
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- JP
- Japan
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- fiber
- dispersion
- length
- fibers
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/338—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring dispersion other than PMD, e.g. chromatic dispersion
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- Dispersion Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Optical Fibers, Optical Fiber Cores, And Optical Fiber Bundles (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は可変分散ファイバ装置に関し、より詳細には光
中継器の性能試験を簡便に行なえるよう中継区間長に相
当する分散特性を有するファイバを１つの筐体に収容し
た可変分散ファイバ装置に関する。
中継器の性能試験を簡便に行なえるよう中継区間長に相
当する分散特性を有するファイバを１つの筐体に収容し
た可変分散ファイバ装置に関する。
（従来技術とその問題点）
従来、製造した光中継器の性能試験を行なうには、実際
に布設した中継区間光ファイバケーブルを用いて送信器
および受信器を作動させて行なっているが、該方法は数
十らも離れた送信部および受信部間でやりとりしながら
試験条件を適切化するなどの手続を必要とするため作業
能率が低くかつコスト高となる欠点がある。このため工
場内等において実際に使用する光フアイバケーブルを用
いて試験することが望まれる。しかしながら、中継区間
は通常２０〜５０ＫＩ１１に達するので、単純に実行し
５ようとすればそれだけの長さの光フアイバケーブルを
用意する必要があり、コストおよびスは−スの面での負
担が大きく実際的でない。
に布設した中継区間光ファイバケーブルを用いて送信器
および受信器を作動させて行なっているが、該方法は数
十らも離れた送信部および受信部間でやりとりしながら
試験条件を適切化するなどの手続を必要とするため作業
能率が低くかつコスト高となる欠点がある。このため工
場内等において実際に使用する光フアイバケーブルを用
いて試験することが望まれる。しかしながら、中継区間
は通常２０〜５０ＫＩ１１に達するので、単純に実行し
５ようとすればそれだけの長さの光フアイバケーブルを
用意する必要があり、コストおよびスは−スの面での負
担が大きく実際的でない。
（問題点を解決するための手段）
本発明は上記従来の欠点を除去すべくなされたものであ
って、このため本発明は単位長当りの分散値が実際に使
用するファイバよりも大きな値を有するファイバを複数
本相互接続ができるように両端にコネクタ取付けて筐体
に収容し、該ファイバの接続組合わせの変更を外部から
行なえるようコネクタを筐体側部に沿って配設し、接続
されるファイバ全長を変えることにより該ファイバ全長
の分散値を実際に使用するファイバ全長の分散値に設定
できるようにし、かつ前記ファイバに可変減衰器を組合
わせたことを特徴とする。
って、このため本発明は単位長当りの分散値が実際に使
用するファイバよりも大きな値を有するファイバを複数
本相互接続ができるように両端にコネクタ取付けて筐体
に収容し、該ファイバの接続組合わせの変更を外部から
行なえるようコネクタを筐体側部に沿って配設し、接続
されるファイバ全長を変えることにより該ファイバ全長
の分散値を実際に使用するファイバ全長の分散値に設定
できるようにし、かつ前記ファイバに可変減衰器を組合
わせたことを特徴とする。
（作 用）
中継区間全長の線路の特性のうち、中継器の動作に重要
な影響を与えるのは全損失と全分散（又は周波数帯域幅
）である。本発明は単位長当りの分散値が実際に使用す
るファイバよりも大きな値のファイバを使用することに
より、実際に使用するファイバよりも短いファイバにて
中継区間全長の全分散に相当する分散を与えることがで
き、該ファイバの接続組合わせを変更することにより中
継区間の変化に対応することができかつ分散値を設定値
付近で調節できるようにした。また該ファイバと組合わ
せた可変減衰器を調節することにより中継区間全長の全
損失に相当する損失を与えることができる。これにより
実際に使用する中継区間線路よりも相当短い線路で中継
器の性能試験を行なうことができる。
な影響を与えるのは全損失と全分散（又は周波数帯域幅
）である。本発明は単位長当りの分散値が実際に使用す
るファイバよりも大きな値のファイバを使用することに
より、実際に使用するファイバよりも短いファイバにて
中継区間全長の全分散に相当する分散を与えることがで
き、該ファイバの接続組合わせを変更することにより中
継区間の変化に対応することができかつ分散値を設定値
付近で調節できるようにした。また該ファイバと組合わ
せた可変減衰器を調節することにより中継区間全長の全
損失に相当する損失を与えることができる。これにより
実際に使用する中継区間線路よりも相当短い線路で中継
器の性能試験を行なうことができる。
（実施例）
以下、本発明の内容を実施例に沿って説明する。
まず、実際の中継区間長（２０〜５０−）のファイバよ
りも短いファイバで実際の中継区間長相当分の分散値を
得るためには、単位長当りの分散値が実際に使用するフ
ァイバよりも大きな値を有するファイバを使用する必要
があるが、か〜るファイバは次のごとくして得ることが
できる。
りも短いファイバで実際の中継区間長相当分の分散値を
得るためには、単位長当りの分散値が実際に使用するフ
ァイバよりも大きな値を有するファイバを使用する必要
があるが、か〜るファイバは次のごとくして得ることが
できる。
ｆｉｌ ＳＭ（シングルモート９）ファイバの場合：
３Ｍファイバで問題になる分散は波長分散であり、該波
長分散はファイバのコア経と比屈折率差を変えることに
より、第４図に示すように、太き（変えることができる
。第４図の曲線■は波長１．３μｍ付近で分散がゼロに
なるものであり、通常１．３μｍ伝送用に使用される。
３Ｍファイバで問題になる分散は波長分散であり、該波
長分散はファイバのコア経と比屈折率差を変えることに
より、第４図に示すように、太き（変えることができる
。第４図の曲線■は波長１．３μｍ付近で分散がゼロに
なるものであり、通常１．３μｍ伝送用に使用される。
具体的にはコア経８〜１０μｍ、比屈折率差０．３％程
度のものが一般的である。一方、曲線■は波長１．５５
μｍ付近で分散がゼロになるもので、通常１．５５μｍ
伝送用に使用される。具体的にはコア経４〜６μｍ１比
屈折率差０．５〜０．８チとすればよい。そこで、曲線
■の特性をもつファイバを１．３μｍで使用するシステ
ムに対し、曲線■のファイバ乃至ゼロ分散波長が１．４
μｍ以上のファイバを用いれば、単位長当りの分散を増
大することができる。曲線■の特性のファイバを１，５
５μ扉で使用するシステムに対しては曲線■のファイバ
乃至ゼロ分散波長が１．４μｍ以下のファイバが同様に
単位長当りの分散を増大する。
度のものが一般的である。一方、曲線■は波長１．５５
μｍ付近で分散がゼロになるもので、通常１．５５μｍ
伝送用に使用される。具体的にはコア経４〜６μｍ１比
屈折率差０．５〜０．８チとすればよい。そこで、曲線
■の特性をもつファイバを１．３μｍで使用するシステ
ムに対し、曲線■のファイバ乃至ゼロ分散波長が１．４
μｍ以上のファイバを用いれば、単位長当りの分散を増
大することができる。曲線■の特性のファイバを１，５
５μ扉で使用するシステムに対しては曲線■のファイバ
乃至ゼロ分散波長が１．４μｍ以下のファイバが同様に
単位長当りの分散を増大する。
ｔ２１ＣＩ（グレーデッドインデックス）ファイバの場
合： （、Ｉファイバで問題になるのはモート９分散であり、
モード分散は屈折率分布により決定されるので、屈折率
分布を変えることによりモード分散を増大させることが
できる。例えばα乗屈折率分布を考えると、１．３μｍ
伝送用にはα中１．９５とすると分散が最少となり、こ
のとき得られる帯域幅は５００〜２０００ＭＨ２−ら程
度である。一方、αを１．９５かも微少量増減すると帯
域幅は減少する（あるいは分散が増大する）。例えばα
＝ １．８５又は２．０５とすると帯域幅は半分以下の
値となる。
合： （、Ｉファイバで問題になるのはモート９分散であり、
モード分散は屈折率分布により決定されるので、屈折率
分布を変えることによりモード分散を増大させることが
できる。例えばα乗屈折率分布を考えると、１．３μｍ
伝送用にはα中１．９５とすると分散が最少となり、こ
のとき得られる帯域幅は５００〜２０００ＭＨ２−ら程
度である。一方、αを１．９５かも微少量増減すると帯
域幅は減少する（あるいは分散が増大する）。例えばα
＝ １．８５又は２．０５とすると帯域幅は半分以下の
値となる。
このように屈折率分布を変化させることにより単位長当
りのモービ分散を増大させることができる。
りのモービ分散を増大させることができる。
なお、以上の説明は１．３μ扉を例にとったが伝送波長
を変えても事情は同じである。実際に使用されるファイ
バの帯域は５００〜１５００ＭＨｚ ＝−と広帯域であ
るので、本発明ファイ・ζ装置に使用するファイバはこ
れより狭帯域の、例えば２００ＭＨｚ・ら以下のファイ
バを用いればよい。
を変えても事情は同じである。実際に使用されるファイ
バの帯域は５００〜１５００ＭＨｚ ＝−と広帯域であ
るので、本発明ファイ・ζ装置に使用するファイバはこ
れより狭帯域の、例えば２００ＭＨｚ・ら以下のファイ
バを用いればよい。
次に、このようにして得られる高分散ファイバを使って
中継器性能試験に適したファイバ装置の構成について説
明する。
中継器性能試験に適したファイバ装置の構成について説
明する。
一般に中継器の性能試験を分散について行なうには、単
に中継区間長での分散値に対する特性だけでなく、分散
値がその前後の値に変化した時に伝送特性がどれだけ劣
化成は向上するか、すなわち中継器の余裕度についても
試験を行なうのが普通である。そこでファイバ装置とし
ては分散値を可変とすることが必要である。分散値を可
変とすることはファイバ長を可変とすることにより達成
されるが、各程良さのファイバを準備することばコスト
およびスＲ−ス等の面で負担が太きすぎるので、複数本
のファイバを相互に接続したり、分離することによりフ
ァイバ長を可変とすることが実用的である。更に、か匁
る接続および分離操作を簡便に実行するには、これらの
ファイバにコネクタを取付けてコネクタ接離操作とすれ
ばよい。
に中継区間長での分散値に対する特性だけでなく、分散
値がその前後の値に変化した時に伝送特性がどれだけ劣
化成は向上するか、すなわち中継器の余裕度についても
試験を行なうのが普通である。そこでファイバ装置とし
ては分散値を可変とすることが必要である。分散値を可
変とすることはファイバ長を可変とすることにより達成
されるが、各程良さのファイバを準備することばコスト
およびスＲ−ス等の面で負担が太きすぎるので、複数本
のファイバを相互に接続したり、分離することによりフ
ァイバ長を可変とすることが実用的である。更に、か匁
る接続および分離操作を簡便に実行するには、これらの
ファイバにコネクタを取付けてコネクタ接離操作とすれ
ばよい。
原理的には、第１図に示すように、筐体１中にいくつか
の光フアイバループ３を収容し、各光フアイバループの
両端にコネクタ５を取付け、該コネクタを筐体外部にと
り出し一列に並べる。次に、ファイバ接続用の両端コネ
クタ付ファイバ７を使って筐体ｌ中のファイバループ３
の任意本数を一連に接続すれば容易にファイバ長を変え
ることができる。使用するファイバループ３としては上
述した高分散ファイバを用いるが、このとき該ファイバ
の分散値を例えば実際の中継区間に使用するファイバの
分散値の１０倍とすれば該中継区間長の分散を実現する
ためのファイバ長は１／Ｉｏですみ、２〜５ＫＩＯ程度
で十分である。この程度の長さのブアイバであるならば
、小型の巻取りリールを使って容易に筐体に収容するこ
とができる。例えば０、４ ｍｍφ直径の心線であるな
らば、直径３０ｃＩｒＬ、胴幅１０ｃｒＩＬのリールに
５Ｋｍ程度巻取ることができるので小型なファイバ装置
を容易に実現することができる。具体的には、例えば５
ＫｍのファイバをＩＫ！ｎ毎に５本のファイバから構成
する場合には、第２図に示すように、それぞれのファイ
バ３を胴幅な薄（したリール９に巻取ってこれらを順次
積み重ね、各ファイバ両端のコネクタ、５を筐体１−側
の壁面に並べて固定することにより、ファイバ分割数が
増しても装置全体の容積が増加せず、また接続作業も容
易になし得るファイバ装置が得られる。
の光フアイバループ３を収容し、各光フアイバループの
両端にコネクタ５を取付け、該コネクタを筐体外部にと
り出し一列に並べる。次に、ファイバ接続用の両端コネ
クタ付ファイバ７を使って筐体ｌ中のファイバループ３
の任意本数を一連に接続すれば容易にファイバ長を変え
ることができる。使用するファイバループ３としては上
述した高分散ファイバを用いるが、このとき該ファイバ
の分散値を例えば実際の中継区間に使用するファイバの
分散値の１０倍とすれば該中継区間長の分散を実現する
ためのファイバ長は１／Ｉｏですみ、２〜５ＫＩＯ程度
で十分である。この程度の長さのブアイバであるならば
、小型の巻取りリールを使って容易に筐体に収容するこ
とができる。例えば０、４ ｍｍφ直径の心線であるな
らば、直径３０ｃＩｒＬ、胴幅１０ｃｒＩＬのリールに
５Ｋｍ程度巻取ることができるので小型なファイバ装置
を容易に実現することができる。具体的には、例えば５
ＫｍのファイバをＩＫ！ｎ毎に５本のファイバから構成
する場合には、第２図に示すように、それぞれのファイ
バ３を胴幅な薄（したリール９に巻取ってこれらを順次
積み重ね、各ファイバ両端のコネクタ、５を筐体１−側
の壁面に並べて固定することにより、ファイバ分割数が
増しても装置全体の容積が増加せず、また接続作業も容
易になし得るファイバ装置が得られる。
次に、本発明ファイバ装置に収容する高分散ファイバ長
の決め方を具体例に沿って説明する。
の決め方を具体例に沿って説明する。
＋１） ８Ｍファイバの場合：
所要の分散特性をＳ（λ）とする。ここでλは使用波長
であり、中継区間全体でＳ（λ） ＝−１５０〜１５０
ＰＳ／ｒＬｒＩＬ程度である。例えば１．３μｍ伝送シ
ステムの場合、第３図に示すように、実際の使用波長帯
のはｇ中間の波長で分散はゼロとなり、その前後の波長
で正負の値をとる。次に、本発明ファイバ装置で使用す
る高分散ファイバの単位長当りの分散特性をｄ、（刀と
するとＳ（λ）を達成するに必要なファイバ長りは次式
で与えられる。
であり、中継区間全体でＳ（λ） ＝−１５０〜１５０
ＰＳ／ｒＬｒＩＬ程度である。例えば１．３μｍ伝送シ
ステムの場合、第３図に示すように、実際の使用波長帯
のはｇ中間の波長で分散はゼロとなり、その前後の波長
で正負の値をとる。次に、本発明ファイバ装置で使用す
る高分散ファイバの単位長当りの分散特性をｄ、（刀と
するとＳ（λ）を達成するに必要なファイバ長りは次式
で与えられる。
（１）式から判るようにファイバ長りは波長λの関数と
なる。今、高分散ファイバとして第４図の曲線■の特性
のファイバを使うことにしてその１，３μｍ付近の特性
を ｄ（λ）＝−１８＋７０（λ−１，３） （ＰＳ／に＋
ｎ／ｒＬｍ〕・・・（２＋とする（但し、λはμｍ単位
）。Ｓ（λ）として１．３０μｍと１．３３μｍでＩｓ
（λ）１＝１００ＰＳ／ｒＬｍとすルト、１．３０μｍ
での必要長Ｌ は １．３０ １．３３μｍでの必要長Ｌ１．３３ハ を得る。そこでファイバとしては５．５ＫｍのものとＱ
、３Ｋｍのものをファイバ装置に収容すればよい。
なる。今、高分散ファイバとして第４図の曲線■の特性
のファイバを使うことにしてその１，３μｍ付近の特性
を ｄ（λ）＝−１８＋７０（λ−１，３） （ＰＳ／に＋
ｎ／ｒＬｍ〕・・・（２＋とする（但し、λはμｍ単位
）。Ｓ（λ）として１．３０μｍと１．３３μｍでＩｓ
（λ）１＝１００ＰＳ／ｒＬｍとすルト、１．３０μｍ
での必要長Ｌ は １．３０ １．３３μｍでの必要長Ｌ１．３３ハ を得る。そこでファイバとしては５．５ＫｍのものとＱ
、３Ｋｍのものをファイバ装置に収容すればよい。
＋２１ Ｇｌファイバの場合：
所要の帯域幅をＢ（ＭＨｚ）とする。本発明ファイバ装
置で使用する高モード分散ファイバの単位長当りの帯域
幅をＢ。（ＭＨｚ 〕とすると、所要のファイバ長りは ８ −土 Ｌ＝（／Ｂｏ） γ・・・・・・・・・（３）で与え
られる（但し、γは距離換算係数である）。
置で使用する高モード分散ファイバの単位長当りの帯域
幅をＢ。（ＭＨｚ 〕とすると、所要のファイバ長りは ８ −土 Ｌ＝（／Ｂｏ） γ・・・・・・・・・（３）で与え
られる（但し、γは距離換算係数である）。
例えば、Ｂ ＝ １００ ＭＨｚ、 Ｂ ｏ＝ １５０
ＭＨｚ 、γ＝０．７１ｔ６１ −土 となる。そこでファイバとして上記ファイバ長をいくつ
かの長さに区切ったファイバを準備すれば特性のバラつ
きに対応したファイバ装置を得ることができる。
ＭＨｚ 、γ＝０．７１ｔ６１ −土 となる。そこでファイバとして上記ファイバ長をいくつ
かの長さに区切ったファイバを準備すれば特性のバラつ
きに対応したファイバ装置を得ることができる。
なお、上記説明は１，３μｍ伝送システムを例にとって
行なったが、別の波長でのファイバ装置も同様に得るこ
とができる。
行なったが、別の波長でのファイバ装置も同様に得るこ
とができる。
また、中継区間の全損失については、公知の可変減衰器
を本発明可変分散ファイバ装置と組み合わせて使用すれ
ばよい。すなわち、可変分散ファイバ装置のファイバＺ
と組合わせた可変減衰器を調節することにより中継区間
全長の全損失に相当する損失を容易に与えることができ
る。この場合、可変減衰器は可変分散ファイバ装置と同
じ筐体内に装着すれば装置全体をよりコンパクトにする
ことができるが、必ずしも同じ筐体に設ける必要はない
。
を本発明可変分散ファイバ装置と組み合わせて使用すれ
ばよい。すなわち、可変分散ファイバ装置のファイバＺ
と組合わせた可変減衰器を調節することにより中継区間
全長の全損失に相当する損失を容易に与えることができ
る。この場合、可変減衰器は可変分散ファイバ装置と同
じ筐体内に装着すれば装置全体をよりコンパクトにする
ことができるが、必ずしも同じ筐体に設ける必要はない
。
（発明の効果）
以上のように、本発明によれば実際の中継区間長のファ
イバよりも相当短いファイバで実際の中継区間長相当分
の全分散と全損失とを与えるようにしたので、工場等に
おいて余りスペースをとらず作業性よくかつ経済的に中
継器の性能試験を行なうことができる。
イバよりも相当短いファイバで実際の中継区間長相当分
の全分散と全損失とを与えるようにしたので、工場等に
おいて余りスペースをとらず作業性よくかつ経済的に中
継器の性能試験を行なうことができる。
第１図は本発明可変分散ファイバ装置の原理を示す図、
第２図は本発明装置の一実施例を示す断面図、第３図は
中継区間のシングルモー１フアイバの波長分散例を示す
グラフ、第４図はシングルモードファイバの波長分散例
を示すグラフである。 １・・・筐体３・・・ファイバ ５・・・コネクタ ７・・・接続用ファイバ９・
・・リール 特許出願人 住友電気工業株式会社 （外５名）
第２図は本発明装置の一実施例を示す断面図、第３図は
中継区間のシングルモー１フアイバの波長分散例を示す
グラフ、第４図はシングルモードファイバの波長分散例
を示すグラフである。 １・・・筐体３・・・ファイバ ５・・・コネクタ ７・・・接続用ファイバ９・
・・リール 特許出願人 住友電気工業株式会社 （外５名）
Claims (7)
- （１）単位長当りの分散値が実際に使用するファイバよ
りも大きな値を有するファイバを複数本相互接続ができ
るように両端にコネクタ取付けて筐体に収容し、該ファ
イバの接続組合わせの変更を外部から行えるようコネク
タを筐体側部に沿つて配設し、接続されるファイバ全長
を変えることにより該ファイバ全長の分散値を実際に使
用するファイバ全長の分散値に設定できるようにし、か
つ前記ファイバに可変減衰器を組合わせたことを特徴と
する可変分散ファイバ装置。 - （２）前記分散値を実際に使用するファイバ全長の分散
値とその付近の値とに設定できるようにした特許請求の
範囲第１項の装置。 - （３）前記ファイバがシングルモードファイバであり、
かつ前記分散が波長分散よりなる 特許請求の範囲第１項又は第２項の装置。 - （４）前記ファイバのゼロ分散波長が１．４μｍ以上で
あり、かつ使用する波長として１．３μｍ付近の波長を
用いる特許請求の範囲第３項の装置。 - （５）前記ファイバがマルチモードファイバであり、か
つ前記分散がモード分散よりなる特許請求の範囲第１項
又は第２項の装置。 - （６）前記ファイバの帯域幅が２００ＭＨｚ・Ｋｍ以下
である特許請求の範囲第５項の装置。 - （７）前記可変減衰器が筐体内に収容されてなる特許請
求の範囲第１項の装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084343A JPS61243340A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 可変分散フアイバ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60084343A JPS61243340A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 可変分散フアイバ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61243340A true JPS61243340A (ja) | 1986-10-29 |
Family
ID=13827861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60084343A Pending JPS61243340A (ja) | 1985-04-19 | 1985-04-19 | 可変分散フアイバ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61243340A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002325064A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 分散補償モジュール及び光スイッチ |
| US7376300B2 (en) | 2001-05-16 | 2008-05-20 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Variable optical dispersion compensating module |
| JP2010219333A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Sumitomo Electric Device Innovations Inc | 半導体レーザの試験方法およびレーザ試験装置 |
-
1985
- 1985-04-19 JP JP60084343A patent/JPS61243340A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002325064A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-08 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 分散補償モジュール及び光スイッチ |
| US7376300B2 (en) | 2001-05-16 | 2008-05-20 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Variable optical dispersion compensating module |
| JP2010219333A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Sumitomo Electric Device Innovations Inc | 半導体レーザの試験方法およびレーザ試験装置 |
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