JPS61231457A - 分析計 - Google Patents
分析計Info
- Publication number
- JPS61231457A JPS61231457A JP7194385A JP7194385A JPS61231457A JP S61231457 A JPS61231457 A JP S61231457A JP 7194385 A JP7194385 A JP 7194385A JP 7194385 A JP7194385 A JP 7194385A JP S61231457 A JPS61231457 A JP S61231457A
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- JP
- Japan
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- pressure
- upper limit
- limit value
- temperature
- tube
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/88—Integrated analysis systems specially adapted therefor, not covered by a single one of the groups G01N30/04 - G01N30/86
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えばイオンクロマトアナライザの如き、恒
温槽を有し、配管にプラスチック・チューブを用いた分
析計に関し、更に詳しく述べれば、前記恒温槽の濡度股
定或は圧力上限値の設定変更に際し、前記プラスチック
・デユープが破断しないようにした分析計に関する。
温槽を有し、配管にプラスチック・チューブを用いた分
析計に関し、更に詳しく述べれば、前記恒温槽の濡度股
定或は圧力上限値の設定変更に際し、前記プラスチック
・デユープが破断しないようにした分析計に関する。
〈実施例〉
第３図はイオンクロマトアナライザの従来例を示す構成
因である。図中、１は電解質溶離液が入れられたタンク
、２はポンプで、前記溶離液と共にサンプルインジェク
タ３からの試料を配管４を介し後段の分離カラムに供給
する。
因である。図中、１は電解質溶離液が入れられたタンク
、２はポンプで、前記溶離液と共にサンプルインジェク
タ３からの試料を配管４を介し後段の分離カラムに供給
する。
５は、配管４を通じ前記試料が供給される分離カラムで
、この中には前記試料中のイオンを分離するイオン交換
体が充填されている。６は分離カラム５の下流側に配置
されたサプレッサである。
、この中には前記試料中のイオンを分離するイオン交換
体が充填されている。６は分離カラム５の下流側に配置
されたサプレッサである。
前記溶離液は電解質溶液の為、このまま後段の導電率検
出器に与えた場合、溶離液自身の導電率の方が前記試料
イオンの導電率の変化を上回ってしまい、精度の良い測
定は出来ない。そこで、本サプレッサによって、イオン
交換作用を利用し、前記溶離液を測定に無害な水または
低導電率の溶液に変換し、Ｓ／Ｎ比の改善を計っている
。７は、分離カラム５からの電解質溶液がサプレッサ６
を介し与えられている導電率検出器である。８は廃液タ
ンクである。
出器に与えた場合、溶離液自身の導電率の方が前記試料
イオンの導電率の変化を上回ってしまい、精度の良い測
定は出来ない。そこで、本サプレッサによって、イオン
交換作用を利用し、前記溶離液を測定に無害な水または
低導電率の溶液に変換し、Ｓ／Ｎ比の改善を計っている
。７は、分離カラム５からの電解質溶液がサプレッサ６
を介し与えられている導電率検出器である。８は廃液タ
ンクである。
点線で囲んだ部分９は恒温槽を表わし、この中に、分離
カラム５、サプレッサ６、導電率検出器７が配置される
。尚、１０は配管４内の被測定流体の圧力を検出する圧
力計、１１は恒温槽９内の温度調節手段である。
カラム５、サプレッサ６、導電率検出器７が配置される
。尚、１０は配管４内の被測定流体の圧力を検出する圧
力計、１１は恒温槽９内の温度調節手段である。
このような構成で、分離カラム５内において、試料イオ
ンは、イオンの種類によって定まる分配率に従い、イオ
ン交換体に保持されるもの、イオンとして溶離液中に含
まれるものに分配される。
ンは、イオンの種類によって定まる分配率に従い、イオ
ン交換体に保持されるもの、イオンとして溶離液中に含
まれるものに分配される。
溶離液中のイオンは溶離液の移動に伴い減少するから、
前記分配の割合を一定に保つよう、前記イオン交換体に
保持されていたイオンが溶離液中に溶出される。前記イ
オンの前記イオン交換体に保持されている時ｍは前記分
配の割合によって定まり、この割合は前記試料中のイオ
ンの種類に依存している。
前記分配の割合を一定に保つよう、前記イオン交換体に
保持されていたイオンが溶離液中に溶出される。前記イ
オンの前記イオン交換体に保持されている時ｍは前記分
配の割合によって定まり、この割合は前記試料中のイオ
ンの種類に依存している。
従って、サプレッサ６において前記溶離液の影響が除か
れた電解質溶液を導電率検出器７に与えて、分離イオン
の測定を行えば、ピークの溶出時間、並びにピークの高
さ又はピークの面積より試料の定性、定量分析が行える
。
れた電解質溶液を導電率検出器７に与えて、分離イオン
の測定を行えば、ピークの溶出時間、並びにピークの高
さ又はピークの面積より試料の定性、定量分析が行える
。
ところで、このような装置において、配管４に金属配管
を使用した場合、配管に試料イオンが吸着し、或は配管
からの金属イオンの溶出により測定誤差が発生する。こ
の為、配管４には金属配管に代え、例えばＥＴＦＥ （
エチレン・テトラ・フロロエチレン）よりなるプラスチ
ック・チューブが用いられる。このようなプラスチック
・チューブは、恒温槽内において例えば４５℃〜８０℃
の設定温度範囲内で使用されるが、耐圧は温度上昇に伴
ない急激に低下する。、最高級のものでも、金属配管と
比較し１／２程度になってしまう。
を使用した場合、配管に試料イオンが吸着し、或は配管
からの金属イオンの溶出により測定誤差が発生する。こ
の為、配管４には金属配管に代え、例えばＥＴＦＥ （
エチレン・テトラ・フロロエチレン）よりなるプラスチ
ック・チューブが用いられる。このようなプラスチック
・チューブは、恒温槽内において例えば４５℃〜８０℃
の設定温度範囲内で使用されるが、耐圧は温度上昇に伴
ない急激に低下する。、最高級のものでも、金属配管と
比較し１／２程度になってしまう。
この為、従来装置では圧力上限値リミッタを設け、前記
配管内の圧力が前記上限値より大きくなると警報信号を
発するようにしている。
配管内の圧力が前記上限値より大きくなると警報信号を
発するようにしている。
しかしながら、前記圧力上限値リミッタは操作者が自由
に設定出来るものであり、誤って正しい上限値よりも大
きな値を設定してしまった場合、前記配管が破断する危
険がある。更に、最初設定したときは正しい圧力上限値
であっても、前記恒温槽内の温度が上がり、前記配管の
耐圧が低下して破断することもある。この為、低温時に
は過小となる圧力上限値を設定せざるをｍなかった。
に設定出来るものであり、誤って正しい上限値よりも大
きな値を設定してしまった場合、前記配管が破断する危
険がある。更に、最初設定したときは正しい圧力上限値
であっても、前記恒温槽内の温度が上がり、前記配管の
耐圧が低下して破断することもある。この為、低温時に
は過小となる圧力上限値を設定せざるをｍなかった。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明の解決しようとする技術的課題は、恒温槽を有し
、配管にプラスチック・チューブを使用した分析計にお
いて、前記上限値リミッタを誤って設定しても、或は前
記恒温槽の温度を上昇させても、前記配管が破断しない
ようにすることにある。
、配管にプラスチック・チューブを使用した分析計にお
いて、前記上限値リミッタを誤って設定しても、或は前
記恒温槽の温度を上昇させても、前記配管が破断しない
ようにすることにある。
く問題点を解決するための手段〉
本発明の構成は、恒温槽を有し、配管にプラスチック・
チューブを使用した分析計において、前記プラスチック
・チューブを流れる被測定流体の圧力の上限値並びに前
記恒温槽の温度を設定する操作部と、館記数定温度に前
記恒温槽の温度を制御する温度調節手段と、温度と前記
プラスチックチューブの耐圧との関係が記憶された第１
の記憶手段と、圧力上限設定値を記憶する第２の記憶手
段と、前記操作部において前記圧力上限値が設定された
とき、前記第１の記憶手段からそのときの温度における
プラスチック・チューブの耐圧を読み出し、これと前記
圧力上限値とを比較し、前記操作部において前記恒温槽
の温度が設定されたとき、前記第１の記憶手段からその
温度におけるプラスチック・チューブの耐圧を読み出し
、これと前記第２の記憶手段に記憶された圧力上限設定
値とを比較する演算処理手段とより構成されている。
チューブを使用した分析計において、前記プラスチック
・チューブを流れる被測定流体の圧力の上限値並びに前
記恒温槽の温度を設定する操作部と、館記数定温度に前
記恒温槽の温度を制御する温度調節手段と、温度と前記
プラスチックチューブの耐圧との関係が記憶された第１
の記憶手段と、圧力上限設定値を記憶する第２の記憶手
段と、前記操作部において前記圧力上限値が設定された
とき、前記第１の記憶手段からそのときの温度における
プラスチック・チューブの耐圧を読み出し、これと前記
圧力上限値とを比較し、前記操作部において前記恒温槽
の温度が設定されたとき、前記第１の記憶手段からその
温度におけるプラスチック・チューブの耐圧を読み出し
、これと前記第２の記憶手段に記憶された圧力上限設定
値とを比較する演算処理手段とより構成されている。
く作用〉
前記の技術手段は次のように作用する。即ち、前記演算
処理手段において、前記圧力上限値が前記耐圧を越えて
いると判定されたとき設定エラーを出力し、前記圧力上
限値が前記耐圧以下と判定されたとき前記第２の記憶手
段の圧力上限設定値をこの値で書き換え、前記第２の記
憶手段に記憶された圧力上限設定値が前記設定温度のと
きの耐圧を越えていると判定されたとき、前記圧力上限
設定値を前記耐圧で書き換えるようにしたことにある。
処理手段において、前記圧力上限値が前記耐圧を越えて
いると判定されたとき設定エラーを出力し、前記圧力上
限値が前記耐圧以下と判定されたとき前記第２の記憶手
段の圧力上限設定値をこの値で書き換え、前記第２の記
憶手段に記憶された圧力上限設定値が前記設定温度のと
きの耐圧を越えていると判定されたとき、前記圧力上限
設定値を前記耐圧で書き換えるようにしたことにある。
く実施例〉
以下図面に従い本発明の詳細な説明する。第１図は本発
明の実施例装置を示す構成図である。
明の実施例装置を示す構成図である。
図中、第３図における要素と同じ要素には同一符号を付
し、これらについての説明は省略する。
し、これらについての説明は省略する。
１２は配管４内の被測定流体の圧力の上限値並びに恒温
槽９の温度を設定する操作部、１３は表示部、１４は温
度とプラスチック・チューブ４の耐圧との関係が記憶さ
れたリード・オンリー・メモリ（ＲＯＭ）、１５は中央
演算処理装置、１６は圧力上限設定値を記憶するランダ
ム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ） 、１７は圧力計１０
からのアナログ信号をディジタル信号に変換して中央演
算処理！１１５に与えるＡ／Ｄ変換器、１８は中央演算
処理装置１５からのディジタル信号をアナログ信号に変
換して温度調節手段１１に与えるＤ／Ａ変換器である。
槽９の温度を設定する操作部、１３は表示部、１４は温
度とプラスチック・チューブ４の耐圧との関係が記憶さ
れたリード・オンリー・メモリ（ＲＯＭ）、１５は中央
演算処理装置、１６は圧力上限設定値を記憶するランダ
ム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ） 、１７は圧力計１０
からのアナログ信号をディジタル信号に変換して中央演
算処理！１１５に与えるＡ／Ｄ変換器、１８は中央演算
処理装置１５からのディジタル信号をアナログ信号に変
換して温度調節手段１１に与えるＤ／Ａ変換器である。
このように構成された本発明実施例装置の動作について
、第２図のフローチャートに従い説明を行う。ステップ
（１）、＜２＞において、恒温槽９の設定温度の変更か
、前記圧力上限値リミッタによる圧力上限値の設定変更
かが判断される。圧力上限値の設定変更の場合には、ス
テップ（２）〜（７）へ進む。
、第２図のフローチャートに従い説明を行う。ステップ
（１）、＜２＞において、恒温槽９の設定温度の変更か
、前記圧力上限値リミッタによる圧力上限値の設定変更
かが判断される。圧力上限値の設定変更の場合には、ス
テップ（２）〜（７）へ進む。
ステップ（２）で圧力上限値の設定変更と判断された場
合、ステップ（３）において設定された圧力上限設定が
入力される。ステップ（４）において、ＲＯＭ１４より
そのときの温度における配管４の耐圧Ｂが読み出される
。
合、ステップ（３）において設定された圧力上限設定が
入力される。ステップ（４）において、ＲＯＭ１４より
そのときの温度における配管４の耐圧Ｂが読み出される
。
ステップ（５）において、圧力上限値Ａと耐圧Ｂとが比
較され、圧力上限値Ａが耐圧Ｂを越えている判定された
とき、ステップ（７）に進み設定エラーをメツセージし
、圧力上限値Ａが耐圧Ｂ以下と判定されたとき、ステッ
プ（６）に進み圧力上限設定＊ＣをＢで貫き換える。
較され、圧力上限値Ａが耐圧Ｂを越えている判定された
とき、ステップ（７）に進み設定エラーをメツセージし
、圧力上限値Ａが耐圧Ｂ以下と判定されたとき、ステッ
プ（６）に進み圧力上限設定＊ＣをＢで貫き換える。
ステップ（１）において恒温槽の設定温度の変更と判断
された場合、ステップ（８）〜（１３）へ進む。
された場合、ステップ（８）〜（１３）へ進む。
ステップ（８）において、恒温槽の温度設定値が入力さ
れると、ステップ（９）でＲＯＭ１４よりその温度にお
ける配管４の耐圧Ｂが読み出され、ステップ（１０）で
ＲＡＭ１６より圧力上限設定ｌＩｔ［Ｃが読み出される
。
れると、ステップ（９）でＲＯＭ１４よりその温度にお
ける配管４の耐圧Ｂが読み出され、ステップ（１０）で
ＲＡＭ１６より圧力上限設定ｌＩｔ［Ｃが読み出される
。
ステップ（１１）において、読み出された圧力上限設定
値Ｃと耐圧Ｂとが比較され、圧力上限設定値Ｃが耐圧Ｂ
以下と判定されたとき、圧力上限設定＊Ｃはそのままに
され゛（ステップ（１２） ）、圧力上限値Ｃが耐圧Ｂ
を越えていると判定されたとき、圧力上限設定値Ｃを８
で書き換える（ステップ（１３））。
値Ｃと耐圧Ｂとが比較され、圧力上限設定値Ｃが耐圧Ｂ
以下と判定されたとき、圧力上限設定＊Ｃはそのままに
され゛（ステップ（１２） ）、圧力上限値Ｃが耐圧Ｂ
を越えていると判定されたとき、圧力上限設定値Ｃを８
で書き換える（ステップ（１３））。
〈発明の効果〉
本発明によれば、前記圧力上限値リミッタにおいて誤っ
て上限値を設定しても、前記耐圧を越えて設定されるこ
とがなく、また前記恒温槽の温度を変更した場合、これ
に対応して前記圧力上限設定値を書き換えるようにした
為、圧力制限値固定の従来装置のように低温時に過大マ
ージンを持たせることなく、前記配管の破断を正確に予
知することが出来る。
て上限値を設定しても、前記耐圧を越えて設定されるこ
とがなく、また前記恒温槽の温度を変更した場合、これ
に対応して前記圧力上限設定値を書き換えるようにした
為、圧力制限値固定の従来装置のように低温時に過大マ
ージンを持たせることなく、前記配管の破断を正確に予
知することが出来る。
第１図は本発明の実施例装置を示す構成図、第・ ２図
は第１図の本発明実施例装置の動作を説明する為のフロ
ーチャート、第３図は従来装置の＃を成図である。 １・・・溶離液タング、２・・・ポンプ、３・・・サン
プルインジェクタ、４・・・プラスチック・チューブ、
５・・・分離カラム、６・・・サプレッサ、７・・・導
電率検出器、９・・・恒温槽、１０・・・圧力計、１１
・・・温度調節手段、１２・・・操作部、１３・・・表
示部、１４・・・温度とプラスチック・チューブの耐圧
との関係が記憶されたＲＯＭ、１５・・・中央演算処理
装置、１６・・・圧力上限設定値を記憶するＲＡＭ 爪２図
は第１図の本発明実施例装置の動作を説明する為のフロ
ーチャート、第３図は従来装置の＃を成図である。 １・・・溶離液タング、２・・・ポンプ、３・・・サン
プルインジェクタ、４・・・プラスチック・チューブ、
５・・・分離カラム、６・・・サプレッサ、７・・・導
電率検出器、９・・・恒温槽、１０・・・圧力計、１１
・・・温度調節手段、１２・・・操作部、１３・・・表
示部、１４・・・温度とプラスチック・チューブの耐圧
との関係が記憶されたＲＯＭ、１５・・・中央演算処理
装置、１６・・・圧力上限設定値を記憶するＲＡＭ 爪２図
Claims (1)
- 恒温槽を有し、配管にプラスチック・チューブを使用し
た分析計において、前記プラスチック・チューブを流れ
る被測定流体の圧力の上限値並びに前記恒温槽の温度を
設定する操作部と、前記設定温度に前記恒温槽の温度を
制御する湿度調節手段と、温度と前記プラスチック・チ
ューブの耐圧との関係が記憶された第１の記憶手段と、
圧力上限設定値を記憶する第２の記憶手段と、前記操作
部において前記圧力上限値が設定されたとき、前記第１
の記憶手段からそのときの温度におけるプラスチック・
チューブの耐圧を読み出し、これと前記圧力上限値とを
比較し、前記操作部において前記恒温槽の温度が設定さ
れたとき、前記第１の記憶手段からその温度におけるプ
ラスチック・チューブの耐圧を読み出し、これと前記第
２の記憶手段に記憶された圧力上限設定値とを比較する
演算処理手段とを具備し、前記演算処理手段において、
前記圧力上限値が前記耐圧を越えていると判定されたと
き設定エラーを出力し、前記圧力上限値が前記耐圧以下
と判定されたとき前記第２の記憶手段の圧力上限設定値
をこの値で書き換え、前記第２の記憶手段に記憶された
圧力上限設定値が前記設定温度のときの耐圧を越えてい
ると判定されたとき、前記圧力上限設定値を前記耐圧で
書き換えるようにしたことを特徴とする分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7194385A JPS61231457A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7194385A JPS61231457A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61231457A true JPS61231457A (ja) | 1986-10-15 |
Family
ID=13475087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7194385A Pending JPS61231457A (ja) | 1985-04-05 | 1985-04-05 | 分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61231457A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201064A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ制御装置 |
| JP2011033419A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Shimadzu Corp | マルチディメンジョナルガスクロマトグラフ装置用制御システム及び該システムを用いたマルチディメンジョナルガスクロマトグラフ装置 |
-
1985
- 1985-04-05 JP JP7194385A patent/JPS61231457A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006201064A (ja) * | 2005-01-21 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ制御装置 |
| JP2011033419A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Shimadzu Corp | マルチディメンジョナルガスクロマトグラフ装置用制御システム及び該システムを用いたマルチディメンジョナルガスクロマトグラフ装置 |
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