JPH03179256A - 低濃度用のイオンクロマトグラフィー法 - Google Patents
低濃度用のイオンクロマトグラフィー法Info
- Publication number
- JPH03179256A JPH03179256A JP2250410A JP25041090A JPH03179256A JP H03179256 A JPH03179256 A JP H03179256A JP 2250410 A JP2250410 A JP 2250410A JP 25041090 A JP25041090 A JP 25041090A JP H03179256 A JPH03179256 A JP H03179256A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- outlet
- concentration
- sample
- inlet
- solution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004255 ion exchange chromatography Methods 0.000 title claims description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 56
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 33
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 25
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 16
- 239000003480 eluent Substances 0.000 claims description 9
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims description 9
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 8
- 239000012086 standard solution Substances 0.000 claims description 6
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 claims description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 5
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 4
- 238000004587 chromatography analysis Methods 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000010248 power generation Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/96—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation using ion-exchange
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21C—NUCLEAR REACTORS
- G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
- G21C17/02—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator
- G21C17/022—Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator for monitoring liquid coolants or moderators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/04—Preparation or injection of sample to be analysed
- G01N30/06—Preparation
- G01N30/08—Preparation using an enricher
- G01N2030/085—Preparation using an enricher using absorbing precolumn
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N2030/626—Detectors specially adapted therefor calibration, baseline
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/64—Electrical detectors
- G01N2030/645—Electrical detectors electrical conductivity detectors
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、イオンクロマトグラフィーの分野に属し、よ
り詳細には、1兆分の1 (10−1l〜IO−’mg
/l )のイオン濃度を測定する技術に関する。
り詳細には、1兆分の1 (10−1l〜IO−’mg
/l )のイオン濃度を測定する技術に関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題重大きな
発電所を修理または維持するために停止する費用は1時
間当たり140000ドル程になろう。明らかに、所有
者にとって、かかる停止から次の停止まで間の時間を増
加するのに役立ち得るように計測を行うことは興味があ
る。
発電所を修理または維持するために停止する費用は1時
間当たり140000ドル程になろう。明らかに、所有
者にとって、かかる停止から次の停止まで間の時間を増
加するのに役立ち得るように計測を行うことは興味があ
る。
蒸気発生装置のバイブの腐食は大いに関係がある。腐食
はバイブを弱くして、もし制御しないならば危険な状況
を導く。現代の蒸気装置で用いられる高圧及び高温は腐
食プロセスを大きく加速して、それによって装置の寿命
を短くする。
はバイブを弱くして、もし制御しないならば危険な状況
を導く。現代の蒸気装置で用いられる高圧及び高温は腐
食プロセスを大きく加速して、それによって装置の寿命
を短くする。
腐食を低減する試みにおいて、発電所の運転者は用いる
水の純度を改良することをずっと試みてきた。水中の所
定イオンの存在は極めて望ましくなく、そしてそれらの
イオン濃度を低減するのに多くの試みが行われてきた。
水の純度を改良することをずっと試みてきた。水中の所
定イオンの存在は極めて望ましくなく、そしてそれらの
イオン濃度を低減するのに多くの試みが行われてきた。
水中の有害イオン濃度を減じるために、それらの濃度を
満足な正確さで測定することができる必要がある。これ
らのイオン濃度は典型的には10−’〜l O−’mg
/ 42の範囲にある。重大な難点はかかる微量濃度の
測定に直面したことにある。
満足な正確さで測定することができる必要がある。これ
らのイオン濃度は典型的には10−’〜l O−’mg
/ 42の範囲にある。重大な難点はかかる微量濃度の
測定に直面したことにある。
最も普通に用いられる装置はイオンクロマトグラフであ
る。通常の使用の際に、正確に知られた濃度及び容積に
調整された試料をクロマトグラフを通じて測定し、そし
て、クロマトグラフは測定された示度を生じる。その後
、未知濃度の試料をまたクロマトグラフを通じて実行し
、そしてその示度の大きさを既知濃度の試料により生じ
た示度の大きさと比較する。器具の直線性は十分に知ら
れており、その濃度は生じた示度に比例する。
る。通常の使用の際に、正確に知られた濃度及び容積に
調整された試料をクロマトグラフを通じて測定し、そし
て、クロマトグラフは測定された示度を生じる。その後
、未知濃度の試料をまたクロマトグラフを通じて実行し
、そしてその示度の大きさを既知濃度の試料により生じ
た示度の大きさと比較する。器具の直線性は十分に知ら
れており、その濃度は生じた示度に比例する。
この操作は、知られた濃度の試料、いわゆる標準試料が
用いられる限りは、十分に受け入れられる。しかしなが
ら、1兆分の1の範囲の試料を得且つ維持することは極
めて困難である。かかる異常に低い濃度にでは、試料は
、試料を含む容器のみならず、試料と接触するようにな
り得る空気からもまた容易に汚染されるようになる。現
実には、10億分の1程度の濃度が現場使用及び自動測
定装置における使用に関する実際の限界を表す。
用いられる限りは、十分に受け入れられる。しかしなが
ら、1兆分の1の範囲の試料を得且つ維持することは極
めて困難である。かかる異常に低い濃度にでは、試料は
、試料を含む容器のみならず、試料と接触するようにな
り得る空気からもまた容易に汚染されるようになる。現
実には、10億分の1程度の濃度が現場使用及び自動測
定装置における使用に関する実際の限界を表す。
汚染の可能性に加えて、単純に、10億分の1部の少量
の標準試料と大量の水とを混合して1兆分の1部の標準
試料を得ることは実用的でない。
の標準試料と大量の水とを混合して1兆分の1部の標準
試料を得ることは実用的でない。
水目体が十分に純粋でないからである。
1兆分の1部の範囲の実用的な濃度の標準試料がないこ
とはイオンクロマトグラフを用いてその範囲の濃度を測
定使用とする試みを妨害する。
とはイオンクロマトグラフを用いてその範囲の濃度を測
定使用とする試みを妨害する。
これらの濃度において、本発明者を案内する従来技術は
なく、本発明者に上記問題に対して独自の解決法を発明
した。
なく、本発明者に上記問題に対して独自の解決法を発明
した。
本発明者が用いたいくつかの装置の要素は当業界におい
て知られているにもかかわらず、本発明者が用いた方法
は新規である。
て知られているにもかかわらず、本発明者が用いた方法
は新規である。
例えば、1971年2月2日に特許された米国特許第3
.559.458号において、ヘルディナ(Hrdin
a)は手動操作バルブを用いて試料をキャピラリーチュ
ーブから緩衝流れ中に挿入することは知られていると述
べている。彼はまたは試料を含む環状管をガス流管と連
結する特別の多重バルブを使用することは気体クロマト
グラフィーにおいて知られていると述べている。
.559.458号において、ヘルディナ(Hrdin
a)は手動操作バルブを用いて試料をキャピラリーチュ
ーブから緩衝流れ中に挿入することは知られていると述
べている。彼はまたは試料を含む環状管をガス流管と連
結する特別の多重バルブを使用することは気体クロマト
グラフィーにおいて知られていると述べている。
1976年8月24日に特許された米国特許第3、97
5.946号において、ボール(Balllらは、正確
に定義した容積の、試料を受入れ且つ保持する少なくと
もひとつの流体が通過するバルブ体を含む試料導入装置
を記載している。この後、バルブ体を回転してキャリア
ー液体を正確に定義した容積の試料流体をクロマトグラ
フに確実に置くことができる。
5.946号において、ボール(Balllらは、正確
に定義した容積の、試料を受入れ且つ保持する少なくと
もひとつの流体が通過するバルブ体を含む試料導入装置
を記載している。この後、バルブ体を回転してキャリア
ー液体を正確に定義した容積の試料流体をクロマトグラ
フに確実に置くことができる。
1978年7月25日に特許された米国特許第4、10
2.782号にて、サイト−(Saito)らは正確に
試料を導入するためパルスモータ−を使用して注射器を
操作することを教示する。
2.782号にて、サイト−(Saito)らは正確に
試料を導入するためパルスモータ−を使用して注射器を
操作することを教示する。
1987年12月29日にミューラ−(Muller)
に特許が付与された米国特許第4.715.216号は
イオンクロマトグラフィーにより10億分の1部のレベ
ルで試料水中の低イオン濃度測定用の装置及び方法を記
載している。この特許は本発明がされた時の従来技術の
状況を象徴している。
に特許が付与された米国特許第4.715.216号は
イオンクロマトグラフィーにより10億分の1部のレベ
ルで試料水中の低イオン濃度測定用の装置及び方法を記
載している。この特許は本発明がされた時の従来技術の
状況を象徴している。
免艶二叉旬
本発明の目的は、典型的には標準溶液中の特定イオンの
1000分の1濃度程の濃度レベルで液体中の特定イオ
ン濃度の測定を可能にする。従って、利用可能な最も希
薄な標準試料の濃度が10億分の10部(10−”mg
/ 12 )ならば、本発明は1兆分の10部の範囲で
(10−’B/l /J1度を測定することを可能にす
る。
1000分の1濃度程の濃度レベルで液体中の特定イオ
ン濃度の測定を可能にする。従って、利用可能な最も希
薄な標準試料の濃度が10億分の10部(10−”mg
/ 12 )ならば、本発明は1兆分の10部の範囲で
(10−’B/l /J1度を測定することを可能にす
る。
本発明の好ましい具体例に従えば、装置は、第1の源あ
るいは第2の源のいずれかから、濃縮塔、分離塔及び伝
導度セルを通じて液体を送ることができるように組み立
てられる。本文中に用いたように「伝導度セル」の用語
は時間積分した伝導度を示す電気的信号を生じる電気回
路を含む。
るいは第2の源のいずれかから、濃縮塔、分離塔及び伝
導度セルを通じて液体を送ることができるように組み立
てられる。本文中に用いたように「伝導度セル」の用語
は時間積分した伝導度を示す電気的信号を生じる電気回
路を含む。
時間積分した伝導度は各源に関して測定される。
等容積VSは常に第1の源から引き出され、そして等容
積VLは常に第2の源から引き出され、ここにVLはV
3より数倍程度中さい。
積VLは常に第2の源から引き出され、ここにVLはV
3より数倍程度中さい。
以下に詳細に記載するこの装置が組み立てられと、以下
の実験操作に従う。第1の源から、容積■3及び正確に
知られた濃度に、の試料が濃縮塔及び分離塔を経由して
伝導度セルに供給され、そして伝導度の示度Aが表示さ
れる。次いで、公称容積VL及び正確に知られた濃度に
、の試料が第2の源から引き出され、それから生じた伝
導度示度Bが表示される。
の実験操作に従う。第1の源から、容積■3及び正確に
知られた濃度に、の試料が濃縮塔及び分離塔を経由して
伝導度セルに供給され、そして伝導度の示度Aが表示さ
れる。次いで、公称容積VL及び正確に知られた濃度に
、の試料が第2の源から引き出され、それから生じた伝
導度示度Bが表示される。
次に、公称容積■、及び正確に知られた濃度KL2の試
料をシステムにて実施して、そして伝導度示度りが表示
される。知られた濃度KLffは最も希釈された利用可
能な標準試料である。この後、容積VS及び未知濃度に
、の試料を実施して、伝導度示度Eが表示される。未知
濃度K。は濃度KL!よりも数桁中さい範囲にある。最
後に、未知濃度に5□が下記式により決定される。
料をシステムにて実施して、そして伝導度示度りが表示
される。知られた濃度KLffは最も希釈された利用可
能な標準試料である。この後、容積VS及び未知濃度に
、の試料を実施して、伝導度示度Eが表示される。未知
濃度K。は濃度KL!よりも数桁中さい範囲にある。最
後に、未知濃度に5□が下記式により決定される。
D B K、、 KL。
装置の二つの独特な配置を記載した。第1の配置は、第
2〜5図に示され、手動の使用に一層便利であり、第7
図に示した第2の配置は自動システムにおいて連続使用
に適している。
2〜5図に示され、手動の使用に一層便利であり、第7
図に示した第2の配置は自動システムにおいて連続使用
に適している。
構成及び操作方法の両方に関して、本発明の特徴と考え
られる新規の態様は、本発明の別の目的及び利点ととも
に、図面との関係で考慮して本発明の好ましい具体例が
例により説明されている以下の記載からよりよく理解さ
れる。しかしながら、図面は例示及び説明の目的であっ
て本発明を制限するものでないことは明らかに理解され
よう。
られる新規の態様は、本発明の別の目的及び利点ととも
に、図面との関係で考慮して本発明の好ましい具体例が
例により説明されている以下の記載からよりよく理解さ
れる。しかしながら、図面は例示及び説明の目的であっ
て本発明を制限するものでないことは明らかに理解され
よう。
ましい の・ な
イオンクロマトグラフを用いるための通常の操作におい
て、標準濃度に、及び容積VSの試料をクロマトグラフ
ィーを通じて実施してそして積分した伝導度示度Aが表
示される。次いで、未知濃度KSa及び容積Vsの試料
を装置を通じて実施して、その積分した伝導度の示度B
がわかる。示度Aは容積VS及び濃度K s、に比例す
る。すなわち、 A=6+ vl Kg+
(1)同様に B==e* V* K*!
(2)Jlel及びe、は比例定数とみなされるか、
あるいは、存在するイオンが装置により積分伝導度示度
に変換される係数と考え得る。
て、標準濃度に、及び容積VSの試料をクロマトグラフ
ィーを通じて実施してそして積分した伝導度示度Aが表
示される。次いで、未知濃度KSa及び容積Vsの試料
を装置を通じて実施して、その積分した伝導度の示度B
がわかる。示度Aは容積VS及び濃度K s、に比例す
る。すなわち、 A=6+ vl Kg+
(1)同様に B==e* V* K*!
(2)Jlel及びe、は比例定数とみなされるか、
あるいは、存在するイオンが装置により積分伝導度示度
に変換される係数と考え得る。
e+=exの仮定が例外なくされると、未知濃度は以下
の関係によりわかる。
の関係によりわかる。
典型的な使用において、クロマトグラフの呼び出し装置
は操作者によって示度Aがフルスケールまたは100%
または例えば10億分の100部に等しく較正される。
は操作者によって示度Aがフルスケールまたは100%
または例えば10億分の100部に等しく較正される。
次いで示度Bはフルスケールに対して任意%として表さ
れそして10億分の1部のスケールから直接、読まれる
。
れそして10億分の1部のスケールから直接、読まれる
。
式(3)に関して、いくつかの注意点は通常、判断され
ない。すなわち、容積V3は標準試料及試験試料に関し
て同一であるので知る必要はない。また、装置の能力(
能率)は濃度と独立であるという暗黙の仮定がある。こ
の仮定は典型的な装置に関して二つ桁の濃度に渡って当
てはまる。
ない。すなわち、容積V3は標準試料及試験試料に関し
て同一であるので知る必要はない。また、装置の能力(
能率)は濃度と独立であるという暗黙の仮定がある。こ
の仮定は典型的な装置に関して二つ桁の濃度に渡って当
てはまる。
しかしながら、もし、試料の濃度が標準試料の濃度の1
%よりも未満ならば、試料の積分された伝導度を適切な
精度により測定することは困難になる。
%よりも未満ならば、試料の積分された伝導度を適切な
精度により測定することは困難になる。
本発明者が直視した問題は一層困難であった。
利用可能な最も希薄な標準試料濃度は10億分の10部
(10−2mg/ A )であったが、測定されるべき
試料濃度は1兆分の10部(10−’mg/氾)の程度
である。慣用の技術は適用できない。
(10−2mg/ A )であったが、測定されるべき
試料濃度は1兆分の10部(10−’mg/氾)の程度
である。慣用の技術は適用できない。
上記問題に対する解答は、利用可能な最も希薄な、公称
容積VLの少量の標準試料をより大量の公称容積VSの
被測定試料に対して比較する方法を見いだすことであっ
た。本発明の技術を用いる際に、容積は正確に知られな
いかあるいは正確に測定されないので、「公称」の語が
用いられる。
容積VLの少量の標準試料をより大量の公称容積VSの
被測定試料に対して比較する方法を見いだすことであっ
た。本発明の技術を用いる際に、容積は正確に知られな
いかあるいは正確に測定されないので、「公称」の語が
用いられる。
一の測定から次の測定においてVLは同一であるべきで
あり且つV8は同一であるべきであることだけが重要で
ある。
あり且つV8は同一であるべきであることだけが重要で
ある。
本発明の好ましい具体例に従えば、第1図のフローチャ
ートのブロック12及び14に示したように、正確に知
られた濃度に、、及び公称容積■。
ートのブロック12及び14に示したように、正確に知
られた濃度に、、及び公称容積■。
の試料を装置を通じて実施して、積分された伝導度示度
Aを得る。典型的な実施例において、V。
Aを得る。典型的な実施例において、V。
はおよそ20−でありそしてKs+は10億分の100
部である(10−’+d/I2)。
部である(10−’+d/I2)。
示度Aは次式のように表される。
A=evsVs exm+ Ks+ (4)式
中、evsは処理された試料の実際の容積の公称容積V
3からの偏差を反映した因子であり、そしてexs+は
用いた濃度に関する効率因子である。
中、evsは処理された試料の実際の容積の公称容積V
3からの偏差を反映した因子であり、そしてexs+は
用いた濃度に関する効率因子である。
次に好ましい具体例に従えば、第1図のフローチャート
のブロック16及び18に示したように正確に知られた
濃度KLI及び公称容積VSの試料を装置を通じて実行
して、積分濃度の示度Bを得る。実施例では、■、はお
よそ20部℃でありに、は100万分の100部(10
0td/β)である。
のブロック16及び18に示したように正確に知られた
濃度KLI及び公称容積VSの試料を装置を通じて実行
して、積分濃度の示度Bを得る。実施例では、■、はお
よそ20部℃でありに、は100万分の100部(10
0td/β)である。
示度Bは次式のように表される。
B=evtVt e+cL+ KLI
(5)式中、eVLは処理された試料の実際の容積の
、公称容積からの偏差を反映した因子でありそしてe
XLIは用いた濃度に関する能率因子である。
(5)式中、eVLは処理された試料の実際の容積の
、公称容積からの偏差を反映した因子でありそしてe
XLIは用いた濃度に関する能率因子である。
第1図のフローチャートのブロック20及び22により
表される次の工程において、公称容積VLの且つ利用可
能な最も希薄な濃度の標準試料を装置を通じて実施する
。実施例での濃度KwはlO億分の10部(10−”d
/氾)であり、そしてまたVLは約20μ℃である。得
られる示度りは次式で表される。
表される次の工程において、公称容積VLの且つ利用可
能な最も希薄な濃度の標準試料を装置を通じて実施する
。実施例での濃度KwはlO億分の10部(10−”d
/氾)であり、そしてまたVLは約20μ℃である。得
られる示度りは次式で表される。
D ” e vtVLe KLz K L2 (
6)式中、evt、は以前と同様であり、eイL2は用
いた濃度レベルで適用可能な効率因子である。
6)式中、evt、は以前と同様であり、eイL2は用
いた濃度レベルで適用可能な効率因子である。
この時点まで操作は装置を較正してきたと考えられ、こ
れから1兆分の1部の範囲の未知濃度の試料を測定する
準備をする。
れから1兆分の1部の範囲の未知濃度の試料を測定する
準備をする。
第1図のフローチャートのブロック24及び26により
に示される次の工程において、未知濃度Klt及び容積
VS(ブロック12工程の容積と等容)の試料を装置を
通じて実施する。得られる示度Eは次式のように表され
る。
に示される次の工程において、未知濃度Klt及び容積
VS(ブロック12工程の容積と等容)の試料を装置を
通じて実施する。得られる示度Eは次式のように表され
る。
E ” e、vaV s e K112 K sx
(7)式中、eoはブロック12工程におけるの
と同様の因子であり、e、LL2は用いた濃度レベルで
適用可能な効率因子である。実施例において、V8は公
称20t5である。
(7)式中、eoはブロック12工程におけるの
と同様の因子であり、e、LL2は用いた濃度レベルで
適用可能な効率因子である。実施例において、V8は公
称20t5である。
上記(4)式より、
及び式(5)から、
式(8)及び(9)
の表現を式(7)及び
(6)
に代入すると、
それぞれ次の結果が得られ
式
(10)
%式%11)
が存在しなかったなら、所望の比に3□/KL2は残る
量がわかっているので解くことができる。
量がわかっているので解くことができる。
実験によって、本発明者は次の洞察を確証した。
e Ks+ e Ksz−= −
(13) e XLI e KL2これは濃度の
桁の変化当たりの効率の分数的損失は濃度の絶対値にお
よそ依存しないことを意味する。また、それは、異なる
仮説、すなわち、すべての効率が同一であるということ
と一致する。
(13) e XLI e KL2これは濃度の
桁の変化当たりの効率の分数的損失は濃度の絶対値にお
よそ依存しないことを意味する。また、それは、異なる
仮説、すなわち、すべての効率が同一であるということ
と一致する。
正しい理論がどうであれ、本発明者は所望の比Ks!/
KL1は第1図のフローチャートのブロック28に示し
たように次式から見いだすことができる。
KL1は第1図のフローチャートのブロック28に示し
たように次式から見いだすことができる。
この式はまた次のように書くことができる。
式中、!に31、K L2、E及びDは最後の二つの工
程(ブロック20.22.24及び26)において変数
であり、そして、4S中、Cは最初の二つの工程(ブロ
ック12.1.4.16及び18〉から得られる補正係
数であり、ここに、 である。
程(ブロック20.22.24及び26)において変数
であり、そして、4S中、Cは最初の二つの工程(ブロ
ック12.1.4.16及び18〉から得られる補正係
数であり、ここに、 である。
式(4)及び式(5)を再度、参照して次式がわかる。
ここに、式(15)は補正係数Cを除いて式(3)と同
じ形である。これはこの欄の初めに議論した慣用の操作
を用いることができることを示すが、交渉容積VS及び
■、が異なる大きさであるので、V L / v sの
シミュレートした希釈度を本発明の4工程の技術を用い
て得た。
じ形である。これはこの欄の初めに議論した慣用の操作
を用いることができることを示すが、交渉容積VS及び
■、が異なる大きさであるので、V L / v sの
シミュレートした希釈度を本発明の4工程の技術を用い
て得た。
これらの極端に低い濃度で作業する問題に不慣れな者は
クロマトグラフの際に種々の試料をビーカーから漏斗の
ような受器に注入することを想像するであろうが、それ
は、極度に単純化している。そのようなことは必ずしも
この場合に該当しない。
クロマトグラフの際に種々の試料をビーカーから漏斗の
ような受器に注入することを想像するであろうが、それ
は、極度に単純化している。そのようなことは必ずしも
この場合に該当しない。
実際には試料が接触するすべてのものは試料を測定価値
がない程度までに汚染する。実際に、入念な予防措置を
採用して汚染を防止する。特に、全工程は時々閉じた系
で実施されて空気からの汚染を防止して、任意の解放容
器はアルゴンのような不活性ガスの層により覆われる。
がない程度までに汚染する。実際に、入念な予防措置を
採用して汚染を防止する。特に、全工程は時々閉じた系
で実施されて空気からの汚染を防止して、任意の解放容
器はアルゴンのような不活性ガスの層により覆われる。
それゆえ、本発明者は、シミュレートした希釈の技法を
思いついた後、異常に低い濃度により強いられるあらゆ
る拘束に6かかわらず、該技法を満たす装置を発明した
。
思いついた後、異常に低い濃度により強いられるあらゆ
る拘束に6かかわらず、該技法を満たす装置を発明した
。
本発明者は電気技術者が用いる抵抗、コンデンサー及び
トランスのような既存の部品を利用して新しい回路を作
製した。この意味において、本発明の技法を満たす流体
回路は新規な組み合わせであり、既存部品の連結と考え
られる。流体回路は第2〜5図の本方法の種々の工程で
示される。
トランスのような既存の部品を利用して新しい回路を作
製した。この意味において、本発明の技法を満たす流体
回路は新規な組み合わせであり、既存部品の連結と考え
られる。流体回路は第2〜5図の本方法の種々の工程で
示される。
第2図に示したように、流体回路は二つの二重組バルブ
30.32及び34.36を含む。バルブ30及び32
はバルブの共通の芯により機械的に連結され、それゆえ
、バルブ30及び32を連結する破線で示したように、
バルブの共通の固定した本体38に対するそれらの位置
を操作者により同時に変えてバルブを通じる液体流れを
差し向けることができる。
30.32及び34.36を含む。バルブ30及び32
はバルブの共通の芯により機械的に連結され、それゆえ
、バルブ30及び32を連結する破線で示したように、
バルブの共通の固定した本体38に対するそれらの位置
を操作者により同時に変えてバルブを通じる液体流れを
差し向けることができる。
同様に、バルブ34及び36は操作者の制御下、調和し
て操作され、それゆえ、共通の固定された本体40に対
するそれらの配置を同時に変更することができる。バル
ブ30.32はバルブ34.36と独立である。
て操作され、それゆえ、共通の固定された本体40に対
するそれらの配置を同時に変更することができる。バル
ブ30.32はバルブ34.36と独立である。
図示した部品及びそれらを連結する配管は同様に第2〜
5図中にある。しかしながら、上記の方法の工程を実施
する際、操作者はバルブ30.32.34及び36を操
作して液体の流路を変更する。以下の記載において、特
定の部品が言及される。
5図中にある。しかしながら、上記の方法の工程を実施
する際、操作者はバルブ30.32.34及び36を操
作して液体の流路を変更する。以下の記載において、特
定の部品が言及される。
第2図は第1図のブロック12において示した方法の工
程の間の流路を示す。示した配置におけるバルブ30.
32及び34.36に関して、試料ポンプ42は既知濃
度KS1を有する標準試料の容積V□を管62及び64
を通じて濃縮塔44に充填する。試料ポンプかもの濃縮
塔44への流路をもたらすために、試料液体をバルブ3
2によって廃棄物容器46に経由させなければならない
。
程の間の流路を示す。示した配置におけるバルブ30.
32及び34.36に関して、試料ポンプ42は既知濃
度KS1を有する標準試料の容積V□を管62及び64
を通じて濃縮塔44に充填する。試料ポンプかもの濃縮
塔44への流路をもたらすために、試料液体をバルブ3
2によって廃棄物容器46に経由させなければならない
。
実施例において、■、は20tgであり、K□は10億
分の100部(10−’rag/ (1)である。
分の100部(10−’rag/ (1)である。
本文中で用いたように、「廃棄物容器」の語は液体が排
出される容器、排出口または流しを含む。
出される容器、排出口または流しを含む。
濃縮塔44が試料で充填された後、操作者はバルブ、3
0.32を第3図に示したような配置に再配置して溶離
ポンプ48で溶離液を濃縮塔44に送ってイオンをバル
ブ32、分離塔5o、次いで伝導度セル52を通じて、
液体が排出される廃棄物容器46に誘導する。伝導度セ
ル52は第1図のブロック14の積分された伝導度示度
Aを生じる。
0.32を第3図に示したような配置に再配置して溶離
ポンプ48で溶離液を濃縮塔44に送ってイオンをバル
ブ32、分離塔5o、次いで伝導度セル52を通じて、
液体が排出される廃棄物容器46に誘導する。伝導度セ
ル52は第1図のブロック14の積分された伝導度示度
Aを生じる。
次いで、操作者はバルブ30.32.34及び36を第
4図に示した配置にセットして、そして注射器54を用
いて既知濃度で比較的少量VSの標準試料をループ56
に注入する。ループ56は短い長さの内径約0.5 m
m管であり、バルブ34の出口58とバルブ36の入口
60を連結する。実施例のループ内部容積VSは20u
lであり、濃度K Llは100万分の100部(10
0mg/j)である。管62は第3図の工程からの溶離
液で満たされている。容積VSはバルブ34及び36の
芯内の管容積を含む。
4図に示した配置にセットして、そして注射器54を用
いて既知濃度で比較的少量VSの標準試料をループ56
に注入する。ループ56は短い長さの内径約0.5 m
m管であり、バルブ34の出口58とバルブ36の入口
60を連結する。実施例のループ内部容積VSは20u
lであり、濃度K Llは100万分の100部(10
0mg/j)である。管62は第3図の工程からの溶離
液で満たされている。容積VSはバルブ34及び36の
芯内の管容積を含む。
次いで、操作者はバルブ30.32.34、及び36を
第5図に示した配置にセットして、溶離ポンプ48を用
いて容積VSの試料をループ56から濃縮塔44、分離
塔50、次いで伝導度セル52を通じて送る。伝導度セ
ル52は第1図のブロック18の積分された伝導度示度
Bを生じる。
第5図に示した配置にセットして、溶離ポンプ48を用
いて容積VSの試料をループ56から濃縮塔44、分離
塔50、次いで伝導度セル52を通じて送る。伝導度セ
ル52は第1図のブロック18の積分された伝導度示度
Bを生じる。
その後、装置を、バルブを循環させながら脱イオン水で
フラッシュして洗浄する。広範囲の濃度を用いたのでこ
の工程は重要である。
フラッシュして洗浄する。広範囲の濃度を用いたのでこ
の工程は重要である。
ついで操作者はバルブ30.32.34、及び36を第
4図に示した配置にセットして、そして注射器54を用
いて量V口をループ56に注入する。できるかぎり、V
L * = V L I = V Lであるが、この
第2の注入は最ち希薄な利用可能な標準試料を用いる。
4図に示した配置にセットして、そして注射器54を用
いて量V口をループ56に注入する。できるかぎり、V
L * = V L I = V Lであるが、この
第2の注入は最ち希薄な利用可能な標準試料を用いる。
その濃度はKLtにより表示される。
その後、バルブ30.32.34、及び36を第5図に
示した配置にセットして、同図に示したように溶離ポン
プ48を用いて注入した液体を濃縮塔44、分離塔50
及び伝導度セル52に送、る。得られる伝導度の示度は
第1図のブロック22に示したようにDで表示される。
示した配置にセットして、同図に示したように溶離ポン
プ48を用いて注入した液体を濃縮塔44、分離塔50
及び伝導度セル52に送、る。得られる伝導度の示度は
第1図のブロック22に示したようにDで表示される。
この時点で装置は較正されそして未知濃度の試料を導入
する準備がされる。操作者はバルブ30.32.34及
び36を第2図に示した配置にセットして、未知濃度で
容積VL2の液体を試料ポンプ42で濃縮塔44に充填
する。できるかぎリ、V ss= V s+= V s
にし、実施例においてはV mxは20−に等しい。未
知濃度はK。で表示される。
する準備がされる。操作者はバルブ30.32.34及
び36を第2図に示した配置にセットして、未知濃度で
容積VL2の液体を試料ポンプ42で濃縮塔44に充填
する。できるかぎリ、V ss= V s+= V s
にし、実施例においてはV mxは20−に等しい。未
知濃度はK。で表示される。
ついで、操作者はバルブ3o、32.34及び36を第
3図に示したような配置にセットして溶#液ポンプ48
を用いて試料を、第3図に示したように分離塔50及び
伝導度セル52に送る。得られる積分伝導度は第1図の
ブロック26に示したようにEにより表示される。
3図に示したような配置にセットして溶#液ポンプ48
を用いて試料を、第3図に示したように分離塔50及び
伝導度セル52に送る。得られる積分伝導度は第1図の
ブロック26に示したようにEにより表示される。
最後に、操作者は既知量A、B、D、E、K□、K、及
びKllを用いて、次式を用いて未知濃度K。を計算す
る。
びKllを用いて、次式を用いて未知濃度K。を計算す
る。
D B Kll Kll
いずれの測定のときにおいても、少なくとも誤差がラン
ダムになる程度に測定量を繰り返してサンプリングして
測定精度を改善することができる。それは、工夫を加え
ることで、本発明の方法にも当てはまる0式(15)に
関して上で議論したように第1図のブロック12.14
.16及び18に相当する最初の二つの実施は補正係数
Cを決定し、係数Cは第1図のブロック20.22.2
4及び26に相当する続く二つの実施から導かれるE対
り比に乗ぜれる。従って、最初の二つの実施の繰り返し
数は選択された第2の二つの実施の繰り返し数と異なる
ように選択し得る。特に、本発明者は、既知の標準濃度
に°□及びK ’Llの二つのセットを用いて最初の二
つの工程を繰り返して補正係数Cの値を確認するのが望
ましいことを見いだした。
ダムになる程度に測定量を繰り返してサンプリングして
測定精度を改善することができる。それは、工夫を加え
ることで、本発明の方法にも当てはまる0式(15)に
関して上で議論したように第1図のブロック12.14
.16及び18に相当する最初の二つの実施は補正係数
Cを決定し、係数Cは第1図のブロック20.22.2
4及び26に相当する続く二つの実施から導かれるE対
り比に乗ぜれる。従って、最初の二つの実施の繰り返し
数は選択された第2の二つの実施の繰り返し数と異なる
ように選択し得る。特に、本発明者は、既知の標準濃度
に°□及びK ’Llの二つのセットを用いて最初の二
つの工程を繰り返して補正係数Cの値を確認するのが望
ましいことを見いだした。
イオンクロマトグラフィーの分野で作業する者にとって
明らかであるように、方法及び装置に関、するかかるバ
リエーションは本発明の範囲内にあると考えられる。例
えば、上記方法を作り上げる4つの実施は理論的には任
意の順序で行うことができることを理解すべきである。
明らかであるように、方法及び装置に関、するかかるバ
リエーションは本発明の範囲内にあると考えられる。例
えば、上記方法を作り上げる4つの実施は理論的には任
意の順序で行うことができることを理解すべきである。
しかし、記載した順序は装置を較正する実施態様を簡単
化するので好ましい。同様に、バルブ30.32.34
及び36をより簡単な構成の、各々、独立した複数のバ
ルブにより交換することができることを理解すべきであ
る。
化するので好ましい。同様に、バルブ30.32.34
及び36をより簡単な構成の、各々、独立した複数のバ
ルブにより交換することができることを理解すべきであ
る。
上記のシステムは手動操作で足りるが、−層自動化する
ことは、同一の分析を毎日、何回も繰り返す大きな装置
またはプラントにおいて望ましい。典型的には、かかる
プラントにおいて多くの異なる場所からの試料が一日に
何回も分析される。さらに、多くの工場は自動化の傾向
にある。
ことは、同一の分析を毎日、何回も繰り返す大きな装置
またはプラントにおいて望ましい。典型的には、かかる
プラントにおいて多くの異なる場所からの試料が一日に
何回も分析される。さらに、多くの工場は自動化の傾向
にある。
これらのことを考慮して、本発明者は上記のシステムの
改良バージョンを発明した。この新規な具体例は特に自
動化に適する。人間の介在なしで、適当な順序でバルブ
を開閉しそしてシステムに供給された液体の流れを開始
及び停止することが可能である。実際には、システムは
標準溶液の供給を補給して、操作の適切さを確認してそ
して測定した濃度を監視するわずかな注意だけを要する
。
改良バージョンを発明した。この新規な具体例は特に自
動化に適する。人間の介在なしで、適当な順序でバルブ
を開閉しそしてシステムに供給された液体の流れを開始
及び停止することが可能である。実際には、システムは
標準溶液の供給を補給して、操作の適切さを確認してそ
して測定した濃度を監視するわずかな注意だけを要する
。
前記システムでは、標準溶液を注射器を手動使用して導
入し、一方、測定されるべき試料をそれとは異なる入口
から導入する。これに対して、以下に記載する自動化し
た具体例において、注射器はなく、且つ標準及び試料の
両方の溶液をコンピューター制御の下で測定サイクルに
おける異なった時間に同じ入口に導入される。
入し、一方、測定されるべき試料をそれとは異なる入口
から導入する。これに対して、以下に記載する自動化し
た具体例において、注射器はなく、且つ標準及び試料の
両方の溶液をコンピューター制御の下で測定サイクルに
おける異なった時間に同じ入口に導入される。
自動化された具体例は、第1図に示したような基本的な
8工程の測定操作を保持する。操作が実行されると、シ
ステムは第2.3.4.5.4.5.2及び3図に示し
たように連続的に構成を変更する。連続的な工程が連続
列で記載された第6図の最初の3つの欄に反映されるよ
うに、本方法のこの態様は自動化された具体例において
維持される。
8工程の測定操作を保持する。操作が実行されると、シ
ステムは第2.3.4.5.4.5.2及び3図に示し
たように連続的に構成を変更する。連続的な工程が連続
列で記載された第6図の最初の3つの欄に反映されるよ
うに、本方法のこの態様は自動化された具体例において
維持される。
しかしながら、自律的な操作をもたらしながら、この−
次の順序の単純さを保つために、本発明者は第7図に示
したようなシステム態様を発明した。それは第2〜5図
に示した態様と比べて、第2〜5図のバルブが第7図の
バルブ■2及びV3により取り替えられており、バルブ
■lを用いて所定の工程で溶液の流れを変更しており、
そして溶液はコンピュータ72の制御下で溶液サンブラ
ー70により選択される点で異なる。かかるコンピュー
ターはまたライン74.76.78及び80を通じて、
バルブV1、V2及びv3並びに溶液サンプラーの状態
を制御するように信号を与える。好ましい具体例におい
ては、バルブ及び溶液サンプラーは電気的に制御される
が、空気作用により働く。
次の順序の単純さを保つために、本発明者は第7図に示
したようなシステム態様を発明した。それは第2〜5図
に示した態様と比べて、第2〜5図のバルブが第7図の
バルブ■2及びV3により取り替えられており、バルブ
■lを用いて所定の工程で溶液の流れを変更しており、
そして溶液はコンピュータ72の制御下で溶液サンブラ
ー70により選択される点で異なる。かかるコンピュー
ターはまたライン74.76.78及び80を通じて、
バルブV1、V2及びv3並びに溶液サンプラーの状態
を制御するように信号を与える。好ましい具体例におい
ては、バルブ及び溶液サンプラーは電気的に制御される
が、空気作用により働く。
バルブv2及びV3は第2〜5図のバルブ30.32、
及び34.36のように二重組であり、状態α及び状態
βとして称される二つの操作位置を有する。これらの状
態で実行される関係を、バルブに関して第8及び第9図
にそしてバルブ3に関して第10及び第11図に示す。
及び34.36のように二重組であり、状態α及び状態
βとして称される二つの操作位置を有する。これらの状
態で実行される関係を、バルブに関して第8及び第9図
にそしてバルブ3に関して第10及び第11図に示す。
それぞれ、第12及び第13図に示したようにα及びβ
状態にあるときに、バルブVlは、コンピューター72
の制御下、その入力をY及びZで示される二つの可能な
出力出口のいずれかに向け、る。
状態にあるときに、バルブVlは、コンピューター72
の制御下、その入力をY及びZで示される二つの可能な
出力出口のいずれかに向け、る。
溶液サンプラー70はライン74を通じてコンピュータ
ー72から信号を受け、かかる信号は、溶液サンプラー
内の対応するバルブを開けることによって、溶液サンプ
ラーに一の標準溶液または一の被測定溶液を選択させて
、選択した溶液を管82に供給することを可能にする。
ー72から信号を受け、かかる信号は、溶液サンプラー
内の対応するバルブを開けることによって、溶液サンプ
ラーに一の標準溶液または一の被測定溶液を選択させて
、選択した溶液を管82に供給することを可能にする。
従って、システムの配置または状態はライン74.76
.78及び80を通じてコンピューター72によって供
給される一組の信号により決定される。方法の各々の工
程に関して、コンピューター72は第6図の一行に示さ
れた一組の信号を提供する。工程14.18.22及び
26の各々から得られる結果において、コンピューター
72はライン84を介して伝導度セル52から伝導度測
定値を受け、そしてそれらの示度を少なくとも一0時的
に保存する。工程26の後、コンピューターは第1図の
工程28で与えた式より未知濃度Kswを計算する。第
7図に示したように、この量を表す信号はデイスプレィ
86及びプリンター88に提供して結果を永続して記録
する。もし望むならば、コンピューター、デイスプレィ
及びプリンターを実験室から離れた所に配置することが
できる。
.78及び80を通じてコンピューター72によって供
給される一組の信号により決定される。方法の各々の工
程に関して、コンピューター72は第6図の一行に示さ
れた一組の信号を提供する。工程14.18.22及び
26の各々から得られる結果において、コンピューター
72はライン84を介して伝導度セル52から伝導度測
定値を受け、そしてそれらの示度を少なくとも一0時的
に保存する。工程26の後、コンピューターは第1図の
工程28で与えた式より未知濃度Kswを計算する。第
7図に示したように、この量を表す信号はデイスプレィ
86及びプリンター88に提供して結果を永続して記録
する。もし望むならば、コンピューター、デイスプレィ
及びプリンターを実験室から離れた所に配置することが
できる。
明らかに、第6図に示した工程の全順序を最初の未知の
溶液の代わりに第2の未知溶液で繰り返すことができる
。
溶液の代わりに第2の未知溶液で繰り返すことができる
。
第2〜5図の最初の好ましい具体例におけるように、第
1図の工程(12,14)、(16,18)、(20,
22)及び(24,26)により示される4つの測定は
本発明の領域から離れることなくコンピューターにより
任意の順序で実施することができる。同様に、多くの簡
単なバルブでバルブV1及びバルブV2を置き換えるこ
とは自明である。第7図の具体例は自動化されたシステ
ムとして使用することは魅力的であるが、種々のバルブ
はあらかじめ決定した順序で手動で操作できることを認
めるべきである。同様にして、第2〜5図の手動の操作
は第7図の具体例に従って自動操作を採用することがで
きる。
1図の工程(12,14)、(16,18)、(20,
22)及び(24,26)により示される4つの測定は
本発明の領域から離れることなくコンピューターにより
任意の順序で実施することができる。同様に、多くの簡
単なバルブでバルブV1及びバルブV2を置き換えるこ
とは自明である。第7図の具体例は自動化されたシステ
ムとして使用することは魅力的であるが、種々のバルブ
はあらかじめ決定した順序で手動で操作できることを認
めるべきである。同様にして、第2〜5図の手動の操作
は第7図の具体例に従って自動操作を採用することがで
きる。
結論として、1兆分の1部のイオン濃度を測定する方法
及び装置を説明してきた。かかる装置はクロマトグラフ
ィー実験室で通常見いだされる器具から簡単に組み立て
られ、そして上記方法は当業者ならば容易に理解しそし
て実施することができる。
及び装置を説明してきた。かかる装置はクロマトグラフ
ィー実験室で通常見いだされる器具から簡単に組み立て
られ、そして上記方法は当業者ならば容易に理解しそし
て実施することができる。
X週」ど丸見
本文中に記載した方法及び装置は、有害イオンにより攻
撃を受け易いボイラー及びパイプを備える電力発生装置
において産業上の利用性を有する。これらのイオンの存
在は、l O−’mg/ 工程の低濃度でも本発明によ
り測定することができる。
撃を受け易いボイラー及びパイプを備える電力発生装置
において産業上の利用性を有する。これらのイオンの存
在は、l O−’mg/ 工程の低濃度でも本発明によ
り測定することができる。
また、半導体工業における応用が期待される。
第1図は本発明の方法の好ましい具体例における工程を
示すフローチャートである。 第2図は容積V3の試料が濃縮塔に充填されるときの第
1の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第3図は第2図の試料の伝導度が測定されるときの第1
の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第4図は標準試料の少量の固定容積■、が測定されると
きの第1の好ましい具体例の装置の配置を示す図である
。 第5図は第4図の試料の伝導度が測定されるときの第1
の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第6図は本方法に置ける種々の工程での第2の好ましい
具体例における所定のバルブの状態を示す表である。 第7図は第2の好ましい具体例の装置を示す表である。 第8図はα状態にあるバルブV2の配置を示す図である
。 第9図はβ状態にあるバルブV2の配置を示す図である
。 第1O図はα状態にあるバルブ■3の配置を示す図であ
る。 第11図はβ状態にあるバルブv3の配置を示す図であ
る。 第12図はα状態にあるバルブV1の配置を示す図であ
る。 第13図はβ状態にあるバルブv1の配置を示す図であ
る。 [主な参照番号] 30.32.34及び36・・・バルブ、42・・・試
料ポンプ、 44・・・濃縮塔、 50・・・分離塔、 52・・・伝導度セル、 56・・・ループ、 72・・・コンピューター 86・・・デイスプレー 88・・・プリンター / lL
−−−−J 口 Fig、12 状態 α Fig。13 状態
示すフローチャートである。 第2図は容積V3の試料が濃縮塔に充填されるときの第
1の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第3図は第2図の試料の伝導度が測定されるときの第1
の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第4図は標準試料の少量の固定容積■、が測定されると
きの第1の好ましい具体例の装置の配置を示す図である
。 第5図は第4図の試料の伝導度が測定されるときの第1
の好ましい具体例の装置の配置を示す図である。 第6図は本方法に置ける種々の工程での第2の好ましい
具体例における所定のバルブの状態を示す表である。 第7図は第2の好ましい具体例の装置を示す表である。 第8図はα状態にあるバルブV2の配置を示す図である
。 第9図はβ状態にあるバルブV2の配置を示す図である
。 第1O図はα状態にあるバルブ■3の配置を示す図であ
る。 第11図はβ状態にあるバルブv3の配置を示す図であ
る。 第12図はα状態にあるバルブV1の配置を示す図であ
る。 第13図はβ状態にあるバルブv1の配置を示す図であ
る。 [主な参照番号] 30.32.34及び36・・・バルブ、42・・・試
料ポンプ、 44・・・濃縮塔、 50・・・分離塔、 52・・・伝導度セル、 56・・・ループ、 72・・・コンピューター 86・・・デイスプレー 88・・・プリンター / lL
−−−−J 口 Fig、12 状態 α Fig。13 状態
Claims (7)
- (1)、正確に知られた濃度の標準試料から生じそして
未知濃度の試料から生じた時間積分した伝導度の示度を
採取して試料溶液中のイオンの未知濃度を測定するため
のイオンクロマトグラフを用いる方法であって、未知濃
度が利用可能な最も希薄な標準溶液の濃度より数桁小さ
いときに特に有益であり、上記方法が、 a)容積V_S及び正確に知られた濃度K_S_1の試
料を導入することによって生じた示度K_S_1を得、 b)公称容積V_L及び正確に知られた濃度K_L_1
の試料を導入することにより生じた示度を得、ここにV
_L_1はV_Sよりも数桁小さく、 c)公称容積V_L及び正確に知られた濃度K_L_2
の試料を導入することにより生じた示度Dを得、ここに
K_L_2≪K_L_1であり。 d)容積V_S及び未知濃度K_S_2の試料を導入す
ることにより生じた示度Eを得、ここに、K_S_2は
K_L_2より数桁小さく、 e)下記式: ▲数式、化学式、表等があります▼ からK_S_2を決定する工程を含む上記方法。 - (2)容積V_Sが正確に知られている請求項1の方法
。 - (3)容積V_Sが公称としてのみ知られているが、工
程d)と工程a)とにおいて等量である請求項1の方法
。 - (4)容積V_Lが工程b)と工程c)とで等量である
請求項1の方法。 - (5)一兆分の一の範囲のイオン濃度を測定するイオン
クロマトグラフィー法で使用する装置であって、試料ポ
ンプ(42)と、溶離液ポンプ(48)と、入力端と出
力端を有する第1管(62)と、上記第1管の入力端を
上記試料ポンプに選択的に連結しそして第1管の入力端
を上記溶離液ポンプに選択的に連結する第1のバルブ手
段と、注射器(54)と、入力端と出力端を有するルー
プ管(56)と、入力端と出力端を有する第2管と、 上記第1管の出力端と上記第2管の入力端を選択的に連
結し、第1管の出力端と上記ループ管の入力端とを選択
的に連結しそして上記注射器と上記ループ管の入力端と
を選択的に連結する第2のバルブ手段と、 入力孔及び出力孔を有する濃縮塔(44)と、廃棄物容
器(46)と、 上記第2管の出力端と上記濃縮塔の入口とを選択的に連
結し、上記ループ管の出力端と上記濃縮塔の入口とを選
択的に連結して、そして上記ループ管の出力端と上記廃
棄物容器を選択的に連結する第3のバルブ手段と、 入口を有する分離塔(50)と、 上記濃縮塔の出口と上記廃棄物容器を選択的に連結しそ
して上記濃縮塔の出口と上記分離塔の入口とを選択的に
連結する第4のバルブ手段とを、組み合わせて含む上記
装置。 - (6)自動化されたイオンクロマトグラフィー法におい
て使用するための装置であって、コンピューターと、出
口を有し、上記コンピューターにより発生した応用電気
的信号に応答して複数の溶液から選択された溶液を出口
に供給する溶液サンプラーと、入口及び出口を有する濃
縮塔と、廃棄物容器と、上記コンピューターに電気的に
連結された第1の電気的に制御されたバルブV1であっ
て、上記溶液サンプラーの出口に連結する入口Xを有し
且つ別々の出口Y及びZを有し、ここに出口Zが上記廃
棄物容器に連結されており、そして上記入口Xが上記出
口Yと連結している第1の状態αを有し、上記入口Xが
上記出口Zと連結している第2の状態βを有し、上記第
1の電気的に制御されたバルブV1の状態が上記コンピ
ューターにより発生した応用電気的信号により決定され
る上記バルブV1と、 上記コンピューターに電気的に連結された第2の電気的
に制御されたバルブV2であって、溶液を受け入れるた
めに上記第1の電気的に制御されたバルブV1の出口Y
に連結された入口Cを有し、溶離液を受け入れるための
入口Aを有し、溶離液を排出するための出口Eを有し、
溶液を排出するための出口Gを有し、そして溶離液を求
められた容積のループ(56)を通じて流し且つ該溶液
を出口Gを通じて排出することを可能にする第1のα状
態を有し、そして溶離液を出口Eを通じて排出し且つ溶
液を出口Gを通じて排出する前に求められた容積のルー
プ(56)を通じて流すことを可能にする第2の状態β
を有し、上記第2のバルブV2の状態を上記コンピュー
ターにより発生した応用電気信号によって決定する上記
第2のバルブと、 上記コンピューターに電気的に連結した第3の電気的に
制御されたバルブV3であって、溶液を受け入れるため
に上記第2の電気的に制御されたバルブV2の出口に連
結された入口にを有し、溶離液を受け入れるために上記
第2の電気的に制御されたバルブV2の出口Eに連結さ
れた入口Iを有し、上記濃縮塔の入口に連結された出口
Jを有し、上記濃縮塔の出口に連結された入口Nを有し
、上記分離塔の入口に連結された出口Mを有しそして、
溶離液を上記分離塔を通じて流し且つ上記溶液を上記濃
縮塔を通じて流すことを可能にする第1の状態αを有し
、溶離液を上記濃縮塔を通じて流し且つ上記溶液を上記
廃棄物容器に排出す、ることを可能にする第2のβ状態
を有する上記第3のバルブV3とを、 組み合わせて含む上記装置。 - (7)上記コンピュターが信号を発生し且つ該信号を上
記溶液サンプラー及び上記電気的に制御されたバルブV
1、V2及びV3に加えて連続工程で以下の状態を生じ
る請求項6の装置。 ▲数式、化学式、表等があります▼
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US412112 | 1989-09-25 | ||
US07/412,112 US4991428A (en) | 1989-09-25 | 1989-09-25 | Ion chromatography method for low concentrations |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03179256A true JPH03179256A (ja) | 1991-08-05 |
Family
ID=23631634
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2158531A Pending JPH03111176A (ja) | 1989-09-25 | 1990-06-15 | 加工片切削装置及びそのレシーバ |
JP2250410A Pending JPH03179256A (ja) | 1989-09-25 | 1990-09-21 | 低濃度用のイオンクロマトグラフィー法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2158531A Pending JPH03111176A (ja) | 1989-09-25 | 1990-06-15 | 加工片切削装置及びそのレシーバ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4991428A (ja) |
JP (2) | JPH03111176A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019033807A (ja) * | 2017-08-10 | 2019-03-07 | 澁谷工業株式会社 | 透析液調製システムにおける成分監視方法 |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5531106A (en) * | 1995-01-18 | 1996-07-02 | Lyon; Dan | Volume control system for a chromatograph |
US5739422A (en) * | 1995-12-19 | 1998-04-14 | Dionex Corporation | Multicycle loop injection for trace analysis by ion chromatography apparatus and method |
US5730866A (en) * | 1996-07-19 | 1998-03-24 | Delco Electronics Corporation | Automatic ionic cleanliness tester |
JP3504116B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2004-03-08 | 株式会社日立製作所 | 分析装置 |
JP4067685B2 (ja) * | 1999-03-26 | 2008-03-26 | 山善株式会社 | インジェクション装置 |
US6526811B2 (en) * | 2000-02-23 | 2003-03-04 | Jmic, Inc. | Analytical apparatus for measurement of low concentration constituent, method of measurement and calibration using the same |
CA2570806A1 (en) | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Griffin Analytical Technologies, Inc. | Analytical instruments, assemblies, and methods |
US20060025286A1 (en) * | 2004-08-02 | 2006-02-02 | Mr. Brent Bowers | Moving punching bag and method |
US20090324097A1 (en) * | 2005-03-15 | 2009-12-31 | Ramsay Thomas E | System and method for using a template in a predetermined color space that characterizes an image source |
US8680461B2 (en) | 2005-04-25 | 2014-03-25 | Griffin Analytical Technologies, L.L.C. | Analytical instrumentation, apparatuses, and methods |
US7992424B1 (en) * | 2006-09-14 | 2011-08-09 | Griffin Analytical Technologies, L.L.C. | Analytical instrumentation and sample analysis methods |
JP5574920B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2014-08-20 | 富士重工業株式会社 | ウォータジェット切削装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3559458A (en) * | 1964-11-04 | 1971-02-02 | Ceskoslovenska Akademie Ved | Sample-supply device for chromatographic analysis apparatus |
JPS50119304A (ja) * | 1974-02-27 | 1975-09-18 | ||
JPS5330390A (en) * | 1976-09-02 | 1978-03-22 | Nippon Bunko Kogyo Kk | Liquid chromatograph |
JPS5352498A (en) * | 1976-10-25 | 1978-05-12 | Denriyoku Chuo Kenkyusho | Measuring apparatus for boron and lithium ion concentration with automatic compensation circuit of lithium ion |
JPS5590852A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-09 | Framatome Sa | Measuring free base concentration in industrial water |
JPS601545A (ja) * | 1983-06-17 | 1985-01-07 | Joho Shiyori Gijutsu Kenkyusho:Kk | 自動水分析装置 |
JPS60224061A (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-08 | Hitachi Ltd | 胆祇酸の分析装置 |
EP0182321A2 (de) * | 1984-11-19 | 1986-05-28 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur chromatographischen Bestimmung von Komponenten flüssiger Proben |
JPS6426157A (en) * | 1986-08-16 | 1989-01-27 | Fresenius Ag | Method and apparatus for measuring hematocrit in whole blood |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3975946A (en) * | 1974-02-27 | 1976-08-24 | Micromeritics Instrument Corporation | Liquid chromatography sample measuring and introducing apparatus |
US4699718A (en) * | 1986-01-21 | 1987-10-13 | Millipore Corporation | Ion chromatography method and apparatus |
-
1989
- 1989-09-25 US US07/412,112 patent/US4991428A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-06-15 JP JP2158531A patent/JPH03111176A/ja active Pending
- 1990-09-21 JP JP2250410A patent/JPH03179256A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3559458A (en) * | 1964-11-04 | 1971-02-02 | Ceskoslovenska Akademie Ved | Sample-supply device for chromatographic analysis apparatus |
JPS50119304A (ja) * | 1974-02-27 | 1975-09-18 | ||
JPS5330390A (en) * | 1976-09-02 | 1978-03-22 | Nippon Bunko Kogyo Kk | Liquid chromatograph |
JPS5352498A (en) * | 1976-10-25 | 1978-05-12 | Denriyoku Chuo Kenkyusho | Measuring apparatus for boron and lithium ion concentration with automatic compensation circuit of lithium ion |
JPS5590852A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-09 | Framatome Sa | Measuring free base concentration in industrial water |
JPS601545A (ja) * | 1983-06-17 | 1985-01-07 | Joho Shiyori Gijutsu Kenkyusho:Kk | 自動水分析装置 |
JPS60224061A (ja) * | 1984-04-23 | 1985-11-08 | Hitachi Ltd | 胆祇酸の分析装置 |
EP0182321A2 (de) * | 1984-11-19 | 1986-05-28 | Forschungszentrum Jülich Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur chromatographischen Bestimmung von Komponenten flüssiger Proben |
JPS6426157A (en) * | 1986-08-16 | 1989-01-27 | Fresenius Ag | Method and apparatus for measuring hematocrit in whole blood |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019033807A (ja) * | 2017-08-10 | 2019-03-07 | 澁谷工業株式会社 | 透析液調製システムにおける成分監視方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4991428A (en) | 1991-02-12 |
JPH03111176A (ja) | 1991-05-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03179256A (ja) | 低濃度用のイオンクロマトグラフィー法 | |
JPS62106367A (ja) | 自動連続オンライン監視装置 | |
US6679093B2 (en) | Method of calibration using analytical apparatus for measurement of low concentration constituent | |
CN101329228A (zh) | 一种过氧酰基硝酸脂类物质进样系统及检测方法 | |
US5042293A (en) | Ion chromatography method for low concentrations | |
CA1077026A (en) | Sample dilution with a plurality of parallel flow restriction means | |
van der LINDEN | Classification and definition of analytical methods based on flowing media (IUPAC Recommendations 1994) | |
Meynadier et al. | Automated separation of Sr from natural water samples or carbonate rocks by high performance ion chromatography | |
US4872992A (en) | Method and apparatus for analyzing diluted and undiluted fluid samples | |
US3271111A (en) | Method and apparatus for boron trihalide analysis | |
US4838098A (en) | Contained radiological analytical chemistry module | |
US4909065A (en) | Contained radiological analytical chemistry module | |
JP2004239921A (ja) | ガス分析方法 | |
Guillemin et al. | The deferred standard method–a technique for quantitative analysis in laboratory and process HPLC | |
EP1070957A2 (en) | Differential refractive index detector and liquid chromatograph equipped with the same | |
CN206074622U (zh) | 葡萄酒中挥发酸类化合物自动分析仪 | |
CN114324555A (zh) | 同位素检测方法 | |
Meadows et al. | Determination of impurities in helium | |
JPH0310057B2 (ja) | ||
JPS62225953A (ja) | 放射性ストロンチウム自動分析装置 | |
CN117288551A (zh) | 水同位素分析仪的气体进样装置、进样方法及测量方法 | |
CN116754700A (zh) | 一种碳同位素连续进样方法 | |
JPH0820431B2 (ja) | 陽イオン分析装置 | |
SU998864A1 (ru) | Устройство дл градуировки и поверки датчиков концентрации гели | |
WO2003060509A1 (en) | Pulse cleaning apparatus and method for analytical systems |