JPS6122267A - Mount structure of testing jig and testing method by said testing jig - Google Patents

Mount structure of testing jig and testing method by said testing jig

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JPS6122267A
JPS6122267A JP59135445A JP13544584A JPS6122267A JP S6122267 A JPS6122267 A JP S6122267A JP 59135445 A JP59135445 A JP 59135445A JP 13544584 A JP13544584 A JP 13544584A JP S6122267 A JPS6122267 A JP S6122267A
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JP
Japan
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test
jig
robot
fixture
testing
Prior art date
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Pending
Application number
JP59135445A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Kobayashi
正明 小林
Yukihisa Konno
金野 恭久
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6122267A publication Critical patent/JPS6122267A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To facilitate the replacement of a jig by the hand of a robot and to certainly perform the placement of the jig to a testing device, by providing a grasping plate, which has a projection for facilitating the connection and location with the hand of the robot, to the jig itself. CONSTITUTION:A fixture G10 is mounted to a tester at the predetermined position thereof as a testing jig and a top plate G11 for masking a probe pin by a test pattern is placed on said fixture G10. Thereafter, a printed circuit board Pt is placed on said top plate G11 and sucked by a sucking machine so as to be closely contacted therewith to perform a test. Flange parts 801, 802 are provided to both sides of the fixture G10 and the top plate G11 in a state removing the part to which the holding parts 61 of a robot hand 6 is impinged. By this structure, the inside corner parts of both side flange parts 801, 802 are impinged to the holding parts 61 of both side pair of the robot hand to secure certain holding and the stacking of the fixture, the top plate and the printed ciucuit board becomes easy and the lateral oscillation of the robot during movement can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント板ユニット等の回路試験に用られる
テスト用治具の取付構造及びそれによる試験方法に関す
るもので、特にロボット等を用いて治具を自動交換する
ようなプリント板製造システムにおいて、有効なテスト
フィクスチャ(治具)の取付構造及びその試験制御方法
に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a mounting structure for a test jig used for circuit testing of printed board units, etc., and a test method using the same, and particularly relates to a mounting structure for a test jig used for circuit testing of printed board units, etc. The present invention relates to an effective mounting structure for a test fixture (jig) and its test control method in a printed board manufacturing system that automatically replaces jigs.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

インサキット方式の治具をロボット等によシ自動交換す
る場合、通例の治具構造はロボットのノ1ンドで掴むと
いった運用が考えられていないため、自動化するために
は高度な技術が必要であった。
When automatically replacing an in-sakit type jig with a robot, etc., the usual jig structure does not allow for operations such as grasping with the robot's nose, so advanced technology is required for automation. Ta.

第7図はこの種、従来の試験システムの概要を示すもの
である。
FIG. 7 shows an outline of this kind of conventional test system.

第7図において、製品なるプリント板ユニットptを試
験する際に、インサキットボードテスタ等の試験機IC
Tの試験ボード上にテストフイクスチャと呼ばれている
試験治具Gを人手により搭載し、この試験治具Gの所定
位置に被試験対象のプリント板ユニッ)Ptが載置され
、試験機に設けられている制御装置により試験項目を1
−に行っていくものである。
In Fig. 7, when testing a printed board unit PT, which is a product, a tester IC such as an in-circuit board tester is used.
A test jig G called a test fixture is manually mounted on the test board of T, and the printed board unit (Pt) to be tested is placed at a predetermined position on this test jig G. One test item is controlled by the installed control device.
−.

従って、これら治具及びプリント板ユニットの搭載は人
手により行う上では何んら規格化等必侠なく、また試験
の手順上においても試験機ICTとプリント板ユニット
の接続不良が発生しても、再試行等は人手がある限り一
旦プリン)&ユニットをフイクステヤに吸着させるため
のバキーーム等をマニアルでオフ・オン繰り返し、位N
調腎を行うことで可能であった。
Therefore, there is no need for standardization when mounting these jigs and printed board units manually, and even if a connection failure between the test machine ICT and the printed board unit occurs during the test procedure, If you want to try again, please try again as long as you have the manpower) & manually turn off and on the vacuum etc. to make the unit stick to the fixtear, and then turn it on and off.
This was possible by performing kidney conditioning.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかし、通信機器等の多機能化に伴い、それらに用いら
れるプリント板ユニットも多種少量型生産も多くなり、
従って、各種プリント板の試験内容に応じて治具の種類
も増加する。
However, as communication equipment and other devices become more multi-functional, the printed board units used in them are increasingly produced in small quantities with a wide variety of types.
Therefore, the number of types of jigs increases depending on the test content of various printed boards.

また、各種試験装置も生産を高めるため無人運転可能と
することも考えられ、それに伴いロボットを用いて全シ
ステムの完全自動化を望まれている。
Additionally, various testing equipment may also be capable of unmanned operation in order to increase production, and there is a desire to fully automate the entire system using robots.

そこで問題となるのが、第1に試験に際し治具等をロボ
ットを用いて自動的に設置する際の位置決めの困難性で
あり、第2にその治具及びプリント板が正しい位置にセ
、)されたか否かの判別処理であり、第3にインサキッ
トテスタ等にロボットにより製品をセットする際のセッ
トミスに対する検知である。特に第3の問題の解決方法
としてセンサ、マイクロスイッチ等を用いて自動検知す
ることも考えられるが、この方法であると各治具毎に検
知装置を設けなければならず、さらにはその治具形状が
異なると検知装置自体の取付が困難となることも生じて
くる。
The problems that arise are, firstly, the difficulty in positioning jigs and the like when automatically installing them using robots during testing, and secondly, the difficulty in ensuring that the jigs and printed boards are in the correct position. Thirdly, it is a detection process for a setting error when setting a product in an in-situ tester or the like by a robot. In particular, as a solution to the third problem, automatic detection using sensors, microswitches, etc. may be considered, but with this method, a detection device must be installed for each jig, and furthermore, If the shapes are different, it may become difficult to install the detection device itself.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は上記問題をことごとく解決するもので、治具自
体にロボットのハンドとの結合位霊山しを容易とする突
出部分をもつ把握板を設け、試験部置への載置を確実と
するとともに、試験機側の制御において、治具、プリン
ト板が所定位置に載置されたか否かをプローグピンとプ
リント板間で導通の有無で判別し、更には、各試験部分
における試験不良を検出すると同じ試験を繰り返し行う
リトライ機能を備えるものである。
The present invention solves all of the above problems, and the jig itself is provided with a grasping plate having a protruding part that facilitates connection with the robot's hand, thereby ensuring reliable placement in the testing area. , In the control on the testing machine side, it is determined whether the jig and printed board are placed in the specified position by checking the presence or absence of continuity between the probe pin and the printed board, and furthermore, it is the same as detecting test defects in each test part. It is equipped with a retry function to repeatedly perform the test.

〔作 用〕[For production]

本発明では治具にロボットハンドの把握板を取付けると
ともに、その把握位置を突出部により規制をかけ、治具
、プリント板の載置を確実にし、試験制御ではその載置
の有無及び接触不良の適/否をプローグピンの接触チェ
ック、及びリトライ機能により正確に知ることができる
様になる。
In the present invention, the gripping plate of the robot hand is attached to the jig, and its gripping position is regulated by a protruding part to ensure the placement of the jig and printed board, and test control is performed to check whether or not the jig is placed and to check for poor contact. It becomes possible to accurately know whether the product is suitable or not by checking the contact of the probe pin and using the retry function.

〔実 施 例〕〔Example〕

本発明に係る自動化システムの一例として、第3図はプ
リント板ユニットの製造システムの一例として総合試験
システムの概要構成図である。各種試験装置(9,10
,11,12)間はロータリーストッカ1で連結され、
このロータリーストッカには製品(プリント板ユニット
)及び治具の入庫部19、田庫部20.各試験装置へ製
品、治具全自動供給/排出する装置(2,3,4等)を
備え、各製品、治具は所定量収納するマガジン(13,
18)単位でロータリーストッカ内にストックされる。
As an example of an automated system according to the present invention, FIG. 3 is a schematic configuration diagram of a comprehensive testing system as an example of a printed board unit manufacturing system. Various test equipment (9, 10
, 11, 12) are connected by a rotary stocker 1,
This rotary stocker includes a storage section 19 for products (printed board units) and jigs, and a storage section 20. Equipped with a device (2, 3, 4, etc.) that fully automatically supplies/discharges products and jigs to each test device, and a magazine (13, 4, etc.) that stores a predetermined amount of each product and jig.
18) Stocked in units in a rotary stocker.

そしてメインの制御装置15によυ、ロータリーストッ
カ制御装置14.試験装置の制御部(23゜24等)が
制御され、ストッカ全体が回転し、所定箇所でマガジン
を給排し、順次部品試験1機能試験、総合試験等行われ
る。
Then, the main control device 15 controls the rotary stocker control device 14. The control unit (23°, 24, etc.) of the testing device is controlled, the entire stocker rotates, magazines are fed and discharged at predetermined locations, and component tests, 1 functional tests, comprehensive tests, etc. are conducted in sequence.

また、ロータリーストッカには試験不良となった製品を
排出する不良品排出部21を備えている。
Further, the rotary stocker is equipped with a defective product discharge section 21 for discharging products that have failed the test.

第3図CB)は、第3図(4)に示した全体システム構
成図のロータリーストッカを中心にシステムの運用形態
を説明する平面図である。本システムの構成例は、プリ
ント板と試験治具のストック、搬送。
FIG. 3 CB) is a plan view illustrating the operation mode of the system, centering on the rotary stocker in the overall system configuration diagram shown in FIG. 3 (4). An example of this system's configuration is stocking and transporting printed boards and test jigs.

供給等多目的な使用の為に開発した2段式ロータリース
トッカを用い、入出庫口の位置及び数を自由に変えるこ
とができ、設置場所の大きさにより試験装置等の設備の
増設、削減が容易となるものである。プリント板、治具
を収容したマガジン13゜18はシステムの制御部$1
5の指示によりロータリーストッカ1に結合し、た各稲
試験装儀″9,10゜11.12へ自由に搬送U(給さ
れる。Voえは一一フコンベアにより入庫部19から入
力されたマガジ/13.18は、ロータリーストッカ1
内のトレーに収容され、各トレーは連結されてマカジン
を搬送する。試験装置9は例えばインサーキットテスタ
であり、このテスタへ治具製品等は治具用のマガジン1
8を給排する給排装置4.プリント板用のマガジン13
を給排する給排装置2,3によりロータリーストッカ1
から供給あるいは排出される。マガジン内よp1ユニッ
ト毎ロボット51Cよりテスタ9へ移送され、プリント
板上の回路部品の試験がテスタ9で行われる。プリント
板用マガジンの給排装置2,3は、飼えば試験されるも
のが給排装f3より受け、不良品は別の給排装置2に返
却される。その他の装置としては、例えば電話9:、換
機等に使用されるトランクバックージ。
Using a two-stage rotary stocker developed for multi-purpose use such as supply, the position and number of entry/exit ports can be changed freely, making it easy to add or reduce equipment such as testing equipment depending on the size of the installation space. This is the result. Magazine 13゜18 containing printed boards and jigs is the control unit of the system $1
According to the instructions of step 5, the rice test equipment is connected to the rotary stocker 1 and freely transported to the rice test equipment 9, 10° 11.12. /13.18 is rotary stocker 1
The macadine is stored in trays within the container, and each tray is connected to transport the macadine. The test device 9 is, for example, an in-circuit tester, and jig products, etc., are sent to this tester through a jig magazine 1.
Supply and discharge device for supplying and discharging 8 4. Magazine 13 for printed boards
The rotary stocker 1 is
supplied or discharged from Each p1 unit in the magazine is transferred from the robot 51C to the tester 9, and the circuit components on the printed board are tested by the tester 9. As for the supply/discharge devices 2 and 3 of printed board magazines, those to be tested are received by the supply/discharge device f3, and defective products are returned to another supply/discharge device 2. Other devices include, for example, a telephone 9:, a trunk bagge used for switching equipment, etc.

加入者回路パッケージ用として動作試験等を行う回路機
能試験装置10.電源パッケージの動作を試験する電源
機能試験装置11.その他増設される装置12等が配置
されている。試験終了後の良品マガジンは出庫部20よ
り出力され、不良品はNG排出部21より出力されロー
ラコンベア26で送られて不良箇所の分析、修理エリア
27で修理され、再入力可能となる。またロータリース
トッカ1の空スペース25等には、更に試験設備等増設
可能としている。尚、第1回国で示している6はロボッ
ト5のハンド、16.17はそれぞれプリント板、治具
を1ユニット単位で送り出す移送部、22は試験後のプ
リント板を仮りに置く台を示している(第3図(B)で
は省略されている)。
Circuit function test device 10 for performing operation tests, etc. for subscriber circuit packages. Power supply function test device 11 for testing the operation of a power supply package. Other devices 12 and the like to be added are arranged. After the test, non-defective magazines are outputted from the unloading section 20, and defective articles are outputted from the NG discharging section 21, sent by a roller conveyor 26, analyzed for defective parts, repaired at a repair area 27, and can be re-inputted. Furthermore, the empty space 25 of the rotary stocker 1 can be used to further add testing equipment and the like. In addition, 6 shown in the first country is the hand of the robot 5, 16 and 17 are the transfer parts that send out printed boards and jigs in units of units, respectively, and 22 shows the stand on which the printed boards are temporarily placed after the test. (omitted in FIG. 3(B)).

第3図CB)の制御部15からの制御指令■、■、■は
、それぞれ川床部20.NG排m部21.その他の機能
試験装置の制御部へ出力されていることを示している。
The control commands ■, ■, ■ from the control section 15 in FIG. NG exhaust section 21. This indicates that the output is being output to the control section of another functional test device.

第4図は本発明のシステムの制御系を説明する図である
。各試験装置、例えばインナキットテスタ91機能試験
装置10,11.12の制御部23゜100、110及
びロボット5の制御部500.治具用マガジン給排装置
4の制御部400.プリント板用マガジン給排装置2.
3の制御部200.ロータリーストッカの制御部111
等は、上位の制御装置15の制御指令を受ける。この制
御装置は本システムの運用における全てのスケジューリ
ング機能を有する。
FIG. 4 is a diagram illustrating the control system of the system of the present invention. Each test device, for example, the inner kit tester 91, the control section 23.100, 110 of the functional test device 10, 11.12, and the control section 500.1 of the robot 5. Control unit 400 of jig magazine supply/discharge device 4. Magazine supply/discharge device for printed boards 2.
3 control unit 200. Rotary stocker control unit 111
etc. receive control commands from the higher-level control device 15. This control device has all the scheduling functions in the operation of this system.

第3図、第4図で説明した様な自動化システムでは、プ
リント板、治具等の試験機−ストシカ間の受渡しはロボ
ットによって行わわる。
In an automated system such as that described in FIGS. 3 and 4, a robot transfers printed boards, jigs, etc. between the testing machine and the storage device.

第5図、第6図はプリント板と治具との関係を示す説明
図である。インサーキットテスタはプリント基板の裏面
のランド部あるいは回路パターン部へ試験用のプローグ
ビンをあてて、抵抗、コンデンサ等の規定値を有するも
のであるかどうか、全体の電圧が所定値どうり得られる
か等テストデータ等との比較により試験して行くもので
あるが、その試験機に試験治具としてフィクスチャG、
。を所定位置へ搭載し、その上にプローグビンを試験パ
ターンによりマスクするトッププレートGIIを載置し
、しかる後にプリント板Ptヲ載せて図示せざる吸引機
で吸引し、プリント板を密着させて試験を行う◇従って
、各治具及び製品となるプリント板を先に説明した如く
ロボットのハンド6により給排装置よυ移動させる。こ
のフィクスチャ、トッププレート、プリント板の積重ね
を容易とするために、またロボットによる移動中の横振
れを防止するために、フィクスチャG、。、トッププレ
ートanの両サイドにロボットハンドの保持部61が当
る部分を除く様な形でツバサ部801,802が設けら
れている。即ち、両側のツバサ部801,802の内側
角部がロボットハンドの両側対の保持部61が当り保持
を確実とする。
FIGS. 5 and 6 are explanatory diagrams showing the relationship between the printed board and the jig. An in-circuit tester places a test probe bottle on the land or circuit pattern on the back of a printed circuit board, and checks whether the resistors, capacitors, etc. have the specified values, and whether the overall voltage is within the specified value. The test will be carried out by comparing with test data etc., and the test machine will be equipped with fixture G as a test jig.
. is placed in a predetermined position, and a top plate GII is placed on top of the top plate GII that masks the prog bottle with a test pattern.Then, the printed board Pt is placed on top of the top plate GII, and the printed board Pt is suctioned with a suction device (not shown) to bring the printed board into close contact with the test pattern. ◇Therefore, each jig and the printed board to be the product are moved by the robot's hand 6 through the supply/discharge device as described above. Fixture G is used to facilitate the stacking of this fixture, top plate, and printed circuit board, and to prevent lateral vibration during movement by the robot. , brim portions 801 and 802 are provided on both sides of the top plate an, excluding the portion where the holding portion 61 of the robot hand comes into contact. That is, the inner corner portions of the brim portions 801 and 802 on both sides touch the holding portions 61 on both sides of the robot hand to ensure secure holding.

また、ハンド保持部の構造がプリント板、フィクステヤ
のいずれでも保持できるようにした構造については、昭
和59年2月8日に同じ出願人で特許出願されている「
ロボットハンド」に詳しい。
Furthermore, a patent application was filed by the same applicant on February 8, 1981 regarding the structure of the hand holding section that can hold either a printed board or a fixed wheel.
Learn more about "Robot Hand".

第6図において示すトップブレー) G、、のボード8
05はプローグビンを所定パターンで選択的に出すボー
ド板で、804はプリント板を載置する際のガイドビン
である。またフィクスチャGI。
Top Brake shown in Figure 6) Board 8 of G, .
Reference numeral 05 is a board for selectively putting out probe bins in a predetermined pattern, and 804 is a guide bin for placing a printed board. Also fixture GI.

の803は組立てる際のボストビンを示す。803 indicates a boss bin during assembly.

次に本発明に係る試験の制御を説明するためにインサキ
ットテスタの構成を例に、以下説明する。
Next, in order to explain the test control according to the present invention, the configuration of an in-situ tester will be described below as an example.

第1図は本発明に係るシステム構成例を示すもので、フ
ィクスチャGIO上にトッププレートG11及びプリン
ト板ptが載置(ロボットハンドVこより)されると、
フィクスチャら内のプローグピンの選択されたものがプ
リント板ptの裏面より配稼パターンあるいはランド等
に接触する。そしてフィクスチャG、。にコネクタ23
5接続された試験装置(23)は、制御部231とアナ
ログ系スキンドライバセンサ装@232及びディジタル
系ドライバ/センサ装置234によりインタフェースさ
れる。
FIG. 1 shows an example of the system configuration according to the present invention. When the top plate G11 and the printed board pt are placed on the fixture GIO (from the robot hand V),
Selected prog pins in the fixtures come into contact with the distribution pattern, land, etc. from the back side of the printed board pt. And fixture G. Connector 23 to
The five connected testing devices (23) are interfaced by a control unit 231, an analog skin driver sensor device @232, and a digital driver/sensor device 234.

また制御ill 231は駆動弁237によりバキ一ム
ボンプ236を動作させ、フィクスチャG、Oにプリン
ト板ptを密着させる。そしてプログラム制御により、
プリント板ptに搭載された部品a、  bの適性試験
等を行う。この制御部231には、処理システムとして
良く知られるディスプレイ245゜キーボード2461
テイスク240.フロッピーディスク239.プリンタ
238等の各種装置が接続される。
Further, the control ill 231 operates the vacuum pump 236 by the drive valve 237 to bring the printed board pt into close contact with the fixtures G and O. And by program control,
Perform aptitude tests for parts a and b mounted on the printed board pt. This control unit 231 includes a display 245° keyboard 2461, which is well known as a processing system.
Take 240. Floppy disk 239. Various devices such as a printer 238 are connected.

そこで、制御部231の試験制御として、第2図に示す
制御手順によりプリント板ユニット妖験を行う。
Therefore, as a test control of the control section 231, a printed board unit trial is performed according to the control procedure shown in FIG.

第2図において先に説明した如く、ロボットハンドがプ
リント板をフィクスチャに載1f児了をもってテスト開
始が始められる。先ず駆動弁237をオンとし、パキー
ームオンとする■。ここで本発明の特徴の1つであるユ
ニットのセットがあるか否か、即ち、プリント板が正し
く載置されているか否かをプローグビン(バスピン)に
瞬間的なパルスを与え、少なくとも1つのビンが接触す
ることによる電位の変化を確認する■。ここで着目すべ
きことは、バキーーム吸引方式のインサキットテスタは
製品のセットミスがあるとエアーが漏れ、製品はフィク
スチャに正しく固定されず、全ピンが接触できないこと
である。ここで全ビン全く接触がないと、製品のセット
ミスであると判断し、製品なしくNG)と同様試験を終
了させる。
As explained earlier in FIG. 2, the test begins when the robot hand places the printed board on the fixture and finishes 1f. First, turn on the drive valve 237 and turn on the pakim (2). Here, one of the features of the present invention is to apply an instantaneous pulse to the probe bin (bus pin) to determine whether there is a set of units, that is, whether or not the printed board is correctly placed. ■ Check the change in potential caused by contact. What should be noted here is that in vacuum suction type in-situ testers, if the product is incorrectly set, air will leak, the product will not be properly fixed to the fixture, and all pins will not be able to contact each other. If there is no contact at all in all the bins, it is determined that the product has been set incorrectly, and the test is terminated in the same way as when there is no product (NG).

1ピンでも電位が確認すると製品は正常にセットされて
いると判断し、次に接触チェックとして電源線の接触チ
ェックを行う■0この段階で不良であれば各種試験は意
味がなくなり、不良として試験を終了する。
If the potential of even one pin is confirmed, it is determined that the product is set correctly, and then a contact check is performed on the power line as a contact check■0 If it is defective at this stage, the various tests are meaningless and the product is tested as defective. end.

次に電源接触チェックが正常である場合には、本発明の
他の特徴である処理に移る。即ち、テストプログラムを
幾つかのブロックに分け、その各ブロック内の処理にお
いて、不良データを検出した場合には吸引処理(パキー
ームのオフ・オン)をリトライし、再度同一ブロック内
の試験を行いエラーデータは各ブロック内の試験部品単
位で出力され、接触不良とエラー箇所の判別を容易とす
るものである。
Next, if the power supply contact check is normal, the process moves to another feature of the present invention. In other words, the test program is divided into several blocks, and if defective data is detected in the processing within each block, the suction processing (turning off and on of Paquim) is retried, and the test within the same block is performed again to detect the error. Data is output for each test component in each block, making it easy to identify poor contact and error locations.

各ブロック単位でIJ )ライ回数値nを設定し■、1
ブロツクの試験を行う■0試験リトライカウンタを減算
し、エラー発生か否かを確認する■。エラー発生でない
ときには次のブロックへ移行する。
For each block, set the IJ) number of times n, 1
Test the block ■Decrement the 0 test retry counter and check whether an error has occurred■. If no error occurs, move to the next block.

又、エラー発生であればリトライカウンタが101であ
るか否か判別し■、′01でなければ再度バキ一−ムオ
フ[株]、パキー−ムオン[F]し、試験を繰り。
If an error occurs, it is determined whether the retry counter is 101 or not. If it is not '01, the test is repeated.

返す。リトライ回数が終了(n=0 )してもエラーで
ある場合には、不良検出としてデータを出力し■、次の
試験に移る。
return. If an error occurs even after the number of retries has been completed (n=0), data is output as a failure detection and the process moves to the next test.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、ロボットのハンド
によシ治具交換が容易にできるとともに、治具、プリン
ト板の設定が正確に行えること、テスト開始時にプリン
ト板、治具等のセットミスをプログラム制御により検知
でき、センサ等外部付属部品を不要とすること、更には
インサキットテスタの接触不良による製品の不良の発生
を防ぎ、試験の信頼性を高めることなど改善ができ、試
験の自動化を容易とし、無人化も可能となる。
As explained above, according to the present invention, the jig can be easily replaced by the robot's hand, the jig and printed board can be set accurately, and the printed board, jig, etc. can be set at the start of the test. Errors can be detected through program control, eliminating the need for external accessories such as sensors, and further improving test reliability by preventing product defects due to poor contact with the in-situ tester. It facilitates automation and enables unmanned operation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係るプリント板試験制御のシステム構
成何回、第2図は本発明の試験制御の流れ図、第3図(
4)はプリント板ユニットの製造システムの一例として
の試験システムの概要構成図、第3図(B)は第3回国
の全体システムの運用形態を説明する図、第4回目第3
図のシステムの制御系を説明する図、第5図、第6図は
プリント板と治具どの関係を示す図、第7図は従来のシ
ステム構成側図である。 GIo  :  フィクスチャ(治X−)GI、ニドツ
ブプレート(治具) Pt:  プリント板 231: 制御部 236: バキュームボング 第5図A 第6図
Figure 1 shows the system configuration of the printed board test control according to the present invention, Figure 2 is the flowchart of the test control of the present invention, and Figure 3 (
4) is a schematic configuration diagram of a test system as an example of a manufacturing system for printed board units, Figure 3 (B) is a diagram explaining the operational form of the entire national system in the 3rd trial,
5 and 6 are diagrams showing the relationship between the printed board and the jig, and FIG. 7 is a side view of the conventional system configuration. GIo: Fixture (jig

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プリント基板等の試験用治具において、基板類の
ストッカーと試験装置間の基板移送を行うロボットハン
ドが把握する把握位置を規制する突出部を設けた把握板
を備えてなることを特徴とする試験用治具の取付構造。
(1) A test jig for printed circuit boards, etc., characterized by being equipped with a grasping plate provided with a protrusion that regulates the grasping position of a robot hand that transfers boards between a board stocker and a testing device. Mounting structure of test jig.
(2)プリント基板等の試験用治具の制御方法において
、治具及びプリント基板等が所定位置に載置された試験
装置の制御装置は、前記治具と前記プリント基板等との
間で、少なくとも一部に導通あるか或いは導通がないか
を判別して、前記プリント基板類が正しく治具に設置さ
れているか否かを判別することを特徴とする試験用治具
による試験方法。
(2) In a method of controlling a test jig for a printed circuit board, etc., a control device of a test device in which a jig, a printed circuit board, etc. are placed in a predetermined position controls the control device between the jig and the printed circuit board, etc. A test method using a test jig, characterized in that it is determined whether or not the printed circuit board is correctly installed on the jig by determining whether there is conduction or no conduction in at least part of it.
(3)プリント基板等の試験用治具の試験制御方法にお
いて、所定位置に載置された試験装置の制御装置は、前
記治具と前記プリント基板間の接続試験制御中に試験不
良を検出すると、同一試験を予め設定された回数再試行
することを特徴とする試験用治具による試験方法。
(3) In a test control method for a test jig for a printed circuit board, etc., when a control device of a test device placed at a predetermined position detects a test defect during connection test control between the jig and the printed circuit board, , a test method using a test jig, characterized in that the same test is retried a preset number of times.
JP59135445A 1984-06-29 1984-06-29 Mount structure of testing jig and testing method by said testing jig Pending JPS6122267A (en)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58127178A (en) * 1982-01-25 1983-07-28 Ando Electric Co Ltd Parts tester
JPS592355A (en) * 1982-06-28 1984-01-07 Fujitsu Ltd Lead frame for semiconductor package and semiconductor device using said lead frame

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58127178A (en) * 1982-01-25 1983-07-28 Ando Electric Co Ltd Parts tester
JPS592355A (en) * 1982-06-28 1984-01-07 Fujitsu Ltd Lead frame for semiconductor package and semiconductor device using said lead frame

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