JPS61197575U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61197575U JPS61197575U JP8246185U JP8246185U JPS61197575U JP S61197575 U JPS61197575 U JP S61197575U JP 8246185 U JP8246185 U JP 8246185U JP 8246185 U JP8246185 U JP 8246185U JP S61197575 U JPS61197575 U JP S61197575U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wire
- tip
- guide body
- protector
- wire guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000001012 protector Effects 0.000 claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図は本考案の第１実施例を示す長手方向断
面図、第２図は第１図の―線断面図、第３図
は第１図の―線断面図、第４図は第１図の要
部拡大図、第５図は第４図の底面図、第６図は第
５図の―線断面図、第７図はワイヤガイド本
体、給電コネクタおよび給電プラグの接続状態を
示す詳細部分断面図、第８図は第７図の部拡大
図、第９図は第１図の平面図、第１０図は本考案
の第２実施例を示す要部断面図、第１１図は本考
案の第３実施例を示す第１図相当図、第１２図は
第１１図の―線断面図、第１３図は第１
１図の底面図、第１４図は第１３図の―
線断面図、第１５図は第１１図の平面図、第１６
図は第１１図の要部拡大図である。 １…取付ボード、２…孔、３…ワイヤビームユ
ニツト、４，３４…ワイヤガイド本体、５…ワイ
ヤビーム、８，９ａ…ガイド孔、９…ワイヤプロ
テクタ、１０…支持ボルト、１１…廻り止めピン
、１２…スプリング。
面図、第２図は第１図の―線断面図、第３図
は第１図の―線断面図、第４図は第１図の要
部拡大図、第５図は第４図の底面図、第６図は第
５図の―線断面図、第７図はワイヤガイド本
体、給電コネクタおよび給電プラグの接続状態を
示す詳細部分断面図、第８図は第７図の部拡大
図、第９図は第１図の平面図、第１０図は本考案
の第２実施例を示す要部断面図、第１１図は本考
案の第３実施例を示す第１図相当図、第１２図は
第１１図の―線断面図、第１３図は第１
１図の底面図、第１４図は第１３図の―
線断面図、第１５図は第１１図の平面図、第１６
図は第１１図の要部拡大図である。 １…取付ボード、２…孔、３…ワイヤビームユ
ニツト、４，３４…ワイヤガイド本体、５…ワイ
ヤビーム、８，９ａ…ガイド孔、９…ワイヤプロ
テクタ、１０…支持ボルト、１１…廻り止めピン
、１２…スプリング。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 検査すべき回路基板に対向して相対的に移動
する取付ボードと、この取付ボードに貫通固定さ
れ絶縁性を有するワイヤガイド本体と、先端がワ
イヤガイド本体先端のガイド孔に遊動可能に貫通
され基端がワイヤガイド本体基端に固定された多
数本のワイヤビームとを備え、各ワイヤビームの
先端を回路基板の検査点に接触させて電気的な測
定検査を行なうとともに、各ワイヤビームのバツ
クリングにより検査点との接触圧を得るようにし
た回路基板等の検査装置であつて、前記ワイヤガ
イド本体の先端に、ワイヤガイド本体に対し軸心
を同一にして遠近方向に所要のストロークで変位
可能にワイヤプロテクタを支持するとともに、こ
のワイヤプロテクタとワイヤガイド本体との間に
、ワイヤプロテクタをワイヤガイド本体から離れ
る方向に押圧付勢するスプリングを設け、かつワ
イヤプロテクタの周縁に設けられた複数のガイド
孔内に、各ワイヤビームの先端を遊嵌支持したこ
とを特徴とする回路基板等の検査装置。 ２ ワイヤガイド本体の先端に軸方向に支持ボル
トおよび廻り止めピンを植設し、ワイヤプロテク
タを支持ボルトおよび廻り止めピンに摺動自在に
はめたことを特徴とする実用新案登録請求の範囲
第１項記載の回路基板等の検査装置。 ３ ワイヤプロテクタがワイヤガイド本体から最
も離れた状態において、ワイヤプロテクタの先端
面が、ワイヤビームの先端と面一になるかまたは
ワイヤビームの先端より先端側に突出するように
ワイヤプロテクタの先端側への変位限度を定める
ごとく、支持ボルトに停止用頭部を設けたことを
特徴とする実用新案登録請求の範囲第２項記載の
回路基板等の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8246185U JPS61197575U (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8246185U JPS61197575U (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61197575U true JPS61197575U (ja) | 1986-12-10 |
Family
ID=30630198
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8246185U Pending JPS61197575U (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61197575U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6011170A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-21 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 座屈はりテスト・プロ−ブ組立体 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP8246185U patent/JPS61197575U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6011170A (ja) * | 1983-06-30 | 1985-01-21 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 座屈はりテスト・プロ−ブ組立体 |
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