JPS61186834A - 粉粒体の粒度計 - Google Patents

粉粒体の粒度計

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JPS61186834A
JPS61186834A JP2686585A JP2686585A JPS61186834A JP S61186834 A JPS61186834 A JP S61186834A JP 2686585 A JP2686585 A JP 2686585A JP 2686585 A JP2686585 A JP 2686585A JP S61186834 A JPS61186834 A JP S61186834A
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sample
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mesh
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JPH0524451B2 (ja
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Hiroshi Tomiyasu
富安 浩
Akira Hata
秦 顕
Tomohide Tanimoto
谷本 友秀
Hiromi Hiratsuka
平塚 弘巳
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TOKUJIYU KOSAKUSHO KK
Sankyo Dengyo Corp
Tokuju Kosakusho Co Ltd
Original Assignee
TOKUJIYU KOSAKUSHO KK
Sankyo Dengyo Corp
Tokuju Kosakusho Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0272Investigating particle size or size distribution with screening; with classification by filtering

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Combined Means For Separation Of Solids (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、化学、製薬、窯業、製鉄あるいは食品工業
などにおける、粉砕、造粒あるいは分級工程において、
生産の対象となる粉粒体のオンライン粒度分布あるいは
粒度の計測と制御に関するものである。
従来の技術 粒度分布あるいは粒度の計測のために、従来は綱篩式の
ロータツブ式粒度分布測定機、光透過式粒度分布測定器
あるいは沈降天秤式粒度分布測定器など各種の測定機器
が利用されていた。これらに共通する点は、粉砕、造粒
あるいは分級等の各工程から被計測対象となる粉粒体を
サンプリングし、ざらにそれを上記各種の粒度分布測定
機器に投入し、粒度分布あるいは粒度なオフラインで計
測する点である。一方、特願(58−235843)に
記載された流体分級機を使用した粒度計が知られている
。また、特願(58−079956及び58−2050
40)に記載された網筒機を利用した粒度計が知られて
いる。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、このような従来の機器では次のような問
題点がある。
l)上記の測定機器はいずれもオフライン計測であるた
め、計測に時間がかかる欠点がある。従って、この測定
結果を直ちに粒度分布あるいは粒度等のオンラインの自
動制御用、あるいはそれらの異常検出用に利用すること
は出来ない。
2)また上記の計測機器のうちロータツブ式を除いては
、すべてサンプリング量が数百ミリグラム以下であるた
め、多量生産工程の粉粒体の粒度分布あるいは粒度を正
確に代表することが出来ない場合が多い。
3)ロータツブ式は、網目の異なった綱篩数個を重ね合
わせて、モータ等で振動を加えて順次上段より下段に分
級する構造である。
従って、分級後各々の網筒内に残留した粉粒体の重量す
なわち篩上を秤量して、粒度分布あるいは粒度を求める
必要があるため結論を得るのに極めて人手と時間を要す
ることになる欠点がある。
4〉流体分級機を利用した粒度計では、1点分級が主体
であって、分級点を数段に増すことは計測に時間がかか
りすぎると共に、広範囲に渡って分級点を変化せしめる
ことは不可能である。
5)さらに上記の網筒機を利用した粒度計では、多段分
級する場合、構造が複雑になり適さないという欠点があ
る。
問題を解決するための手段 以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明の基本要素の一つである網筒の構造を
示している。網1は篩枠2と網押さえ3によって固定さ
れている。一方、篩枠2は、外部動力例えば空気圧で作
動する工アーシリンダ4により上下動することが出来る
仕切り5を設置している。これによって、網1上に投入
された粉粒体は、篩分は作用が終了した後、網1より落
下した篩下と網上に残留した篩上に篩分けられ、更に仕
切り5を取り除く、即ち、ここでは上方に移動せしめる
ことにより篩上な外部へ容易に排出することが出来る。
第2図は、各々メツシュの異なった、すなわち網目の相
違する網6.7.8及び9を平面的に同一篩枠lOに配
置した綱篩の構造を示している。更に、各組との境に仕
切り11.12.13を設けて各組を各々仕切っている
。この場合、サンプリングされた粉粒体が最も細い網目
の網6に最初に投入される。所定時間篩枠10に振動を
加えることによって、篩分は後仕切り11を取り除く。
網6上に残った篩上は、より粗い網目の網7に移動する
。この場合、篩枠lOを稍傾斜せしめて網7が網6より
下方に位置する構造とし篩枠lOを振動せしめれば、か
かる移動は極めて容易である。続いて網7上の篩上は仕
切り12を開くことにより、更に粗い網目の$1138
に移動する。このようにして、最も粗い網目の網9に最
後の篩上が残ることになる。勿論この場合、篩枠lOの
左端に同じようなエアーシリンダ4により開閉する仕切
りを設けておけば!!$9上の篩上も容易に排出するこ
とになる。
かくて、サンプリングされた粉粒体は短時間の間に4段
分級(rs分け)されたことになる。
若し網9が無い場合は、網8上の篩上は網9の位置より
排出されることになる。
第3図は、順次網目の粗い網14.15.16.17.
18.19及び20を平面的に同一篩枠21に配置した
綱篩の第2図の矢視図に相当する平面図を示している。
枠22は網を設けていない。又、各組はエアーシリンダ
で上下する仕切り23.24.25.26.27.28
及び29で仕切られている。
作用は第2図の場合と同様である。
第4図は、本発明の実施例である。本図では、3段分級
による粒度分布測定用の粒度計を示している。3個の網
をもった網筒機は、モータ等を内蔵した振動源30に設
けられたフレーム31に、フレキシブルな棒32を介し
て吊り下げられた第2図に相当する篩枠lOを装着して
いる。但し、網9は取り付けられていない。サンプリン
グされた粉粒体であるサンプルは、カバー33に設けら
れたサンプル投入口34より投入され、第2図の網6上
に落下する。
ここにおいて、振動11i930が振動を開始し、篩枠
10が篩分は作用を開始する。数10秒程度の篩分は操
作がw46上の粉粒体に加えられることにより、網6の
メツシュに相当する粒径より細かい粒子群である篩下は
wJ6を通過し、受ホッパ35を経由して計重機36の
ホッパ37に落下する。制御器38の指令により計1機
36は網6の篩下の重量を計重し記憶する。その後ホッ
パ37の下部ゲート39を問いて同篩下を排出し、続い
て同下部ゲート39を閉じる。続いて、制御器38の指
令によりエアーシリンダ4を介して仕切り11が開とな
り、網6上の篩上はw47上に移動する。続いて仕切り
11は再び閉じる。更に、上記と同様の篩分は操作が繰
り返えされ、Wi7の篩下は計重され篩上は網8上に移
動する。かくて最後は、網8の篩上が仕切り13を通過
し網9に相当する部分よりホッパ37中に落下し、計重
機36で計重され排出される。
以上によって、サンプルの篩分は操作が終了し、各篩下
重量と最終の篩上重量より制御器38は粒度分布あるい
は粒度を算出し目的の計測を完了する。この場合、サン
プル投入口34の上部に別の計重機を設けて、予めサン
プル量を計重することも容易に考えられる。この場合は
、上記各計重値とサンプル量より制御器38は粒度ある
いは粒度分布を算出し、目的の計測を完了する。
作用 次に作用を第4図と共に説明する。以上により、制御器
38には、各組の篩下の重量と網8の篩上の重量が記憶
されている。以上の重責の和、すなわちサンプル量を分
母とし各篩下などの重量を分子とした比を取れば粒度分
布を求めることが出来る。かくて極めて短時間で計測を
終了することになる。又、全く人手をわずられすことな
く自動的に計測を終了することになる。この場合網を1
ケだけ使用すれば1点分級となり篩上と篩下の重量の和
を分母として各々篩上あるいは篩下の重量を分子とした
比を取れば粗粉率あるいは細粉率といった粒度を求める
ことが出来る。
本発明では、網を大きくすればサンプル量はいくらでも
量を増加せしめることが出来る。
又、使用する網のメツシュを選択することにより、非常
に粗大なメツシュから細かいメツシュのものまで自由に
使用出来ることになる。
よって、粒度分布の極めて広い粉粒体にも自在に使用出
来ることになる。但し、綱篩では20μ曙程度が篩分け
の下限といわれており万能ではない。
一方、制御器38の出力(粒度分布又は粒度)を粉砕機
に導入し、粉砕機の自動制御を行うことも可能となる。
即ち、第5図において粉砕I!40から生産される粉粒
体をサンプラ42によりサンプリングして本発明の粒度
計43に供給し、その出力を調節計44を介して粉砕1
140への原料投入用供給機41にフィードバックし、
常に生産される粉粒体の粒度分布を一定にするよう原料
の供給量を自動制御する粉砕機の自動制御装置を、この
発明の粒度計43を使用して構成することが出来る。一
般に粉砕機40から生産される粉粒体の粒度分布あるい
は粒径を細かくするには、原料の供給量を少なくするこ
とになる。又、原料がより粗くあるいは硬ければ同様に
供給量を少なくする必要がある。又、第6図においては
、造粒機45のバインダ46の自動制御に使用する例を
示している。即ち、造粒機45より生産される粉粒体を
サンプラ42にてサンプリングし、本発明の粒度計43
に供給する。粒度計43の出力は調節計44を介して 
バインダのコントロールバルブ47を制御する。これに
よって、造粒操作を常に最高の効率に維持する作用が達
成される。
勿論、この場合バインダ46の量を一定にし、供給41
!41を制御して、原料の投入量を自動制御することも
出来る。即ち、この発明の粒度計43を使用して造粒機
の自動制御装置を構成することが出来る。一般に、バイ
ンダの量は適正な量があり、これより多くても少なくて
も造粒効率は低下する。一方、造粒される粉粒体の水分
率あるいは粒度などによってその適正な量は変化するこ
とになる。
又、第7図においては、分級機48より排出される粉粒
体をサンプラ42にてサンプリングし、本発明の粒度計
43に投入することにより、分級v148の異常を検出
する作用を示している。
即ち、粒度計43の測定結果が目標値をはずれておれば
、分級機48の異常かあるいはその前段階の工程の異常
によるものと考えられる。
実施例 第4図は、この発明の実施例である。第2図に相当する
篩枠lOは、ステンレス製であり220X220o+W
rノW6.7及び8を設ffi b r I、”る。網
9に相当するところは、網を設けずブランクとなってい
る。又、サンプル投入口34及び受ホッパ35もステン
レス製であり、内面は磨き上げられ粉粒体の付着防止と
している。
振動源30のモータは0.4KWの容量であり、振巾4
0mmで1分間300回の撮動を篩枠10に与える構造
である。サンプル投入口34より投入された最高600
CCのサンプルは網の目間により異なるが約2分間〜0
.5分間位で分級作用を終了する。各wJ6.7及び8
の篩下と、網8の篩上は、エアーシリンダ4の先端に設
けられた仕切り11.12及び13の開閉によって遂次
計重機36のホッパ37に投入され計重される。
この計重機36の精度は0.5%であって、高精度の計
測を可能としている。それらの値は、マイクロコンピュ
ータを内蔵した制御器38によって、各篩下と篩上の総
和を分母とし、各篩下及び篩上な分子として演算し、各
々の網の目間に相当した粒度分布値を表示すると共に、
必要に応じてプリントアウトすることになっている。サ
ンプル投入からプリントアウト塩の所要時間は5〜2分
程度であって、この出力信号を粉砕機、造粒機あるいは
分級機等の制御あるいは異常検出に使用している。
又、工程管理にも利用している。
発明の詳細 な説明したように、この発明は自動開閉する仕切りを設
けた綱篩を使用したw4篩機を使用し、更に、計重機と
制御器を使用しているため次の効果が期待出来る。
(1)粒度分布あるいは粒度のオンライン計測が短時間
で自動的に出来る。従って、この計測値を粉砕機、造粒
機あるいは分級機の制御あるいは異常検出に利用出来る
(2)綱篩による篩分けは極めてシャープなカットをす
るため生産工程の粒度計として精度の高い計測が出来る
(3)数段分級が可能であるため、粒度分布を容易に求
めることが出来る。同時に被計測粉粒体の粒度分布が広
い範囲にあっても容易に粒度分布を計測することが出来
る。
(4)平面的に複数の網を配置することが出来るため、
構造が簡単となり安価化をill特出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図より第3図までは、この発明に使用するw4mの
構造を説明している。第4図は、同網筒を使用したこの
発明の実施例である。 第5図より第7図は、この発明の利用例である。図にお
いて、 1:網       2:篩枠 3:網押さえ    4:エアーシリンダ5:仕切り 
    6:網 7:w4    8:網 9:wJ       10:篩枠 ll:仕切り     12:仕切り 13:仕切り     14:網 15 : !IQ      16 :網17:網  
   18:網 19:網     20:網 21:iiJ枠      22:枠 23:仕切り     24:仕切り 25:仕切り     26:仕切り 27:仕切り     28:仕切り 29:仕切り     30:振動源 31:フレーム    32:棒 33:カバ−34=サンプル投入口 35:受ホッパ    36:計重機 37:ホッパ     38:制御器 39:下部ゲート   40:粉砕機 41:供給機     42:サンブラ43:粒度計 
    44:調節計 45:造粒機     46:バインダ47:コントロ
ールバルブ 48:分級機 オ 1 図 ヤ 2 羽 オ 3 m オー+目

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、サンプルを1個の網を持った網篩機に投入して篩分
    け、該篩下を計重機に送入して計重し、更に網篩機の篩
    枠に設けられた仕切りを取り除いて篩上を排出し、該篩
    上を計重機に送入して計重し、両計重値を制御器により
    演算することにより、該サンプルの粒度を求めることを
    特長とする粉粒体の粒度計。 2、サンプル投入口の上部に設けた計重機により計重し
    たサンプルを、サンプル投入口より投入し、該計重値と
    特許請求の範囲第1項記載の、篩下及び篩上又はそのい
    づれかの計重値とにより該サンプルの粒度を求めること
    を特長とする特許請求の範囲第1項記載の粉粒体の粒度
    計。 3、サンプルを篩枠内に平面的に配置された複数個の網
    目を異にする網を持った網篩機の最も細い網目の網に最
    初に投入し、該篩下を計重機に送入して計重し、更に該
    網の周辺に設けられた次の網との境にある仕切りを取り
    除いて、より粗い網目の網に該篩上を移動せしめ、該網
    の篩下を同様計重し、更に該網の周辺に設けられた次の
    網との境にある仕切りを取り除いてより粗い網目の網に
    該篩上を移動せしめ、該網の篩下を同様計重するなどし
    て順次より粗い網目の網の篩下を計重し、最後に最も粗
    い網目の網の周辺に設けられた仕切りを取り除いて該篩
    上を排出し、計重機に送入して計重し、これらの計重値
    を制御器により演算することにより、該サンプルの粒度
    分布又は粒度を求めることを特長とする粉粒体の粒度計
    。 4、サンプル投入口の上部に設けられた計重機により計
    重したサンプルをサンプル投入口より投入し、該計重値
    と特許請求の範囲第3項記載の、各網の篩下の計重値又
    は各網の篩下の計重値と最後の網の篩上の計重値より該
    サンプルの粒度分布又は粒度を求めることを特長とする
    特許請求の範囲第3項記載の粉粒体の粒度計。 5、粉砕機より生産される粉粒体の粒度分布又は粒度を
    、特許請求の範囲1〜4項のいずれか1項に記載の粉粒
    体の粒度計を使用して検出し、粉砕機へ投入する原料の
    供給量を自動制御することを特長とする粉砕機の自動制
    御装置。 6、造粒機より生産される粉粒体の粒度分布又は粒度を
    、特許請求の範囲1〜4項のいずれか1項に記載の粉粒
    体の粒度計を使用して検出し、造粒機へ投入される原料
    又はバインダあるいは両者の各々供給量を自動制御する
    ことを特長とする造粒機の自動制御装置。 7、分級機より生産される粉粒体の粒度分布又は粒度を
    、特許請求の範囲1〜4項のいずれか1項に記載の粉粒
    体の粒度計を使用して検出し、分級機を含めた前工程の
    異常を検出する異常警報装置。
JP2686585A 1985-02-14 1985-02-14 粉粒体の粒度計 Granted JPS61186834A (ja)

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JPS61186834A true JPS61186834A (ja) 1986-08-20
JPH0524451B2 JPH0524451B2 (ja) 1993-04-07

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101832988A (zh) * 2010-05-21 2010-09-15 南京工业大学 一种分析掺杂介孔分子筛骨架内外金属含量及价态的方法
RU2495402C1 (ru) * 2012-04-20 2013-10-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Красноярский государственный аграрный университет" Ситовый анализатор

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN101832988A (zh) * 2010-05-21 2010-09-15 南京工业大学 一种分析掺杂介孔分子筛骨架内外金属含量及价态的方法
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