JPS61182178A - パタ−ン検出装置 - Google Patents
パタ−ン検出装置Info
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- JPS61182178A JPS61182178A JP2264285A JP2264285A JPS61182178A JP S61182178 A JPS61182178 A JP S61182178A JP 2264285 A JP2264285 A JP 2264285A JP 2264285 A JP2264285 A JP 2264285A JP S61182178 A JPS61182178 A JP S61182178A
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- Japan
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- quadrilateral
- seal
- noise
- projection histogram
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、例えば印鑑照合装置等において印影等のパタ
ーンを含む画像より自動的にこのパターンを検出するパ
ターン検出装置に関する。
ーンを含む画像より自動的にこのパターンを検出するパ
ターン検出装置に関する。
[発明の技術的背景とその問題点]
ディジタル画像処理の手法を用いてパターン例えば2個
の印影の照合を行なうためには、この両印影をそれぞれ
異なる色で重合して表示すれば照合判断を容易に行なう
ことができる。この際、この両印影を重合して表示する
場合には両印影の表示位置に回転ズレが生ずることがあ
るため、両印影の中心位置を一致させてこの位置を回転
中心として被照合印影を回転させる必要がある。そして
、両印影間の相関が最も高くなる回転角度を検出してこ
の位置で照合判断を行わなければならない。
の印影の照合を行なうためには、この両印影をそれぞれ
異なる色で重合して表示すれば照合判断を容易に行なう
ことができる。この際、この両印影を重合して表示する
場合には両印影の表示位置に回転ズレが生ずることがあ
るため、両印影の中心位置を一致させてこの位置を回転
中心として被照合印影を回転させる必要がある。そして
、両印影間の相関が最も高くなる回転角度を検出してこ
の位置で照合判断を行わなければならない。
両印影の中心位置が一致していなければ、回転によって
最ら相関の高くなる角度を検出しでも、両印影は正確に
重なることはなく、従って適正な照合判断ができないか
らである。
最ら相関の高くなる角度を検出しでも、両印影は正確に
重なることはなく、従って適正な照合判断ができないか
らである。
ところぐ、このような両印影の中心位置を求めるために
は、印影に外接する四辺形を求め、この四辺形の対角線
を印影の中心とする方法が考えられる。
は、印影に外接する四辺形を求め、この四辺形の対角線
を印影の中心とする方法が考えられる。
しかしながら、印影の周辺にノイズ等を含む場合には、
このノイズの影響により印影に外接する四辺形が正確か
つ簡易に求まらないという問題があった。
このノイズの影響により印影に外接する四辺形が正確か
つ簡易に求まらないという問題があった。
[発明の目的1
本発明は上記事情に息みて成されたものであり、パター
ンの周辺にノイズを含む画像に対してもパターンに外接
する四辺形を正確かつ簡易に求めることができるパター
ン検出装置を提供することを[]的とするものである。
ンの周辺にノイズを含む画像に対してもパターンに外接
する四辺形を正確かつ簡易に求めることができるパター
ン検出装置を提供することを[]的とするものである。
1発明の概要]
上記目的を達成するための本発明の概要は、ノイズを含
むパターン画像に対して直交座標軸上に投影ヒストグラ
ムを作成し、各投影軸上に含まれるヒストグラムの組数
を比較し、両者が不一致である場合には、前記座標検出
手段で検出された四辺形の範囲以外の画像を消去した状
態でパターンの両端側の座標より外接する四辺形の座標
を求めるように構成したことを特徴とするものである。
むパターン画像に対して直交座標軸上に投影ヒストグラ
ムを作成し、各投影軸上に含まれるヒストグラムの組数
を比較し、両者が不一致である場合には、前記座標検出
手段で検出された四辺形の範囲以外の画像を消去した状
態でパターンの両端側の座標より外接する四辺形の座標
を求めるように構成したことを特徴とするものである。
[発明の実施例]
以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
先ず、本発明に係るパターン検出装置が適用される印鑑
照合装置の概略について第5図を参照して説明する。
照合装置の概略について第5図を参照して説明する。
この印鑑照合装置は例えば銀行等において普通預金、定
1tliffl金又は当座預金の署名印鑑簿とその印影
を登録しでおき、預金等の引き出しの際に用紙上の印影
と既に登録されている印影とを照合するために主として
用いられるものである。
1tliffl金又は当座預金の署名印鑑簿とその印影
を登録しでおき、預金等の引き出しの際に用紙上の印影
と既に登録されている印影とを照合するために主として
用いられるものである。
第5図において、本体制御装置1.記憶装W2及びジャ
ーナルプリンタ3は、例えば銀行のフロント奥部に設置
され、読取装置4.入力装M(キーボード)5.S承部
ユニット6及びイメージブリンク7から成る端末処理装
置8は銀行のフロントに?l数設冒され、この端末処理
装置8と前記本体制御vR置1とはオンラインで接続さ
れている。
ーナルプリンタ3は、例えば銀行のフロント奥部に設置
され、読取装置4.入力装M(キーボード)5.S承部
ユニット6及びイメージブリンク7から成る端末処理装
置8は銀行のフロントに?l数設冒され、この端末処理
装置8と前記本体制御vR置1とはオンラインで接続さ
れている。
前記端末処理装置8における読取装置4は、前記印鑑簿
及び印影を登録する際、又は、預金等の引き出し時に用
紙上の印影を表示する際に、印鑑簿または用紙上を例え
ば光学的に走査し、その情報を2値化して出力するしの
である。前記キーボード5は、検索コードとしての口座
番号等を入力するためのテンキー、印鑑簿、印影の「登
録」。
及び印影を登録する際、又は、預金等の引き出し時に用
紙上の印影を表示する際に、印鑑簿または用紙上を例え
ば光学的に走査し、その情報を2値化して出力するしの
である。前記キーボード5は、検索コードとしての口座
番号等を入力するためのテンキー、印鑑簿、印影の「登
録」。
「照合」、「変更j等の種々の表示モードを選択するた
めの表示モード選択キー9印影照合の際の印影回転キー
等が配置されている。表示部ユニット6は、前記読取装
置4で読み取られた画像、既に前記記憶装置2に登録さ
れている画像又は前記キーボード5よりキーインされた
情報等を表示するものである。さらに、この表示ユニッ
ト6は既0録印彰を例えば赤色表示し、被照合印影を緑
色表示してこれらを重ね合せ、黄色となる重合部分の領
域の大小により照合の容易な目視判断に供する他、重合
率、密度比等を数値等により表示できるようになってい
る。前記イメージプリンタ7は、前記表示部ユニット6
に表示された画像をサーマルプリンタ又はレーザプリン
タ方式等によって印刷するものである。
めの表示モード選択キー9印影照合の際の印影回転キー
等が配置されている。表示部ユニット6は、前記読取装
置4で読み取られた画像、既に前記記憶装置2に登録さ
れている画像又は前記キーボード5よりキーインされた
情報等を表示するものである。さらに、この表示ユニッ
ト6は既0録印彰を例えば赤色表示し、被照合印影を緑
色表示してこれらを重ね合せ、黄色となる重合部分の領
域の大小により照合の容易な目視判断に供する他、重合
率、密度比等を数値等により表示できるようになってい
る。前記イメージプリンタ7は、前記表示部ユニット6
に表示された画像をサーマルプリンタ又はレーザプリン
タ方式等によって印刷するものである。
前記記憶装置2は、前記印鑑簿又は印影を記憶する例え
ば光ディスクと検索コード等を記憶する例えば磁気ディ
スク等から構成されている。前記ジャーナルプリンタ3
は前記印影等の登録、照合。
ば光ディスクと検索コード等を記憶する例えば磁気ディ
スク等から構成されている。前記ジャーナルプリンタ3
は前記印影等の登録、照合。
変更などがあったことを口座番号に対応させて記録発行
するものである。
するものである。
前記本体制御装置1は、前記端末処理装置8における読
取装置4又はキーボード5からの出力をオンラインで入
力し、前記記憶装@2への0録又は読み出しを制御し、
印鑑簿又は用紙上の印影の抽出動作を制御し、又は読み
出しあるいは抽出された情報を前記端末処理装置8に出
力するようになっている。
取装置4又はキーボード5からの出力をオンラインで入
力し、前記記憶装@2への0録又は読み出しを制御し、
印鑑簿又は用紙上の印影の抽出動作を制御し、又は読み
出しあるいは抽出された情報を前記端末処理装置8に出
力するようになっている。
次に、上記の印鑑照合装置に適用される本発明に係るパ
ターン検出装置例えば印影検出装置について説明する。
ターン検出装置例えば印影検出装置について説明する。
この印影検出装置は前記印鑑照合装置における表示部ユ
ニット6又は本体制御装置1のいずれかに配置され、基
準印影と被照合印影との照合の際の回転中心を求める前
処理として、あるいは印鑑簿からの印影部分の抽出処理
どして便宜となるものである。
ニット6又は本体制御装置1のいずれかに配置され、基
準印影と被照合印影との照合の際の回転中心を求める前
処理として、あるいは印鑑簿からの印影部分の抽出処理
どして便宜となるものである。
この印影検出装置の構成について第1図、第2図を参照
して説明する。第1図は印影検出装置のブロック図であ
り、第2図は印影とノイズとを含む画像のX、Y両座標
軸についての投影ヒストグラムを示す概略説明図である
。第1図において、この印影検出装置は、投影ヒストグ
ラム作成手段10、比較検出手段14及び座標検出手段
18゜ノイズ消去手段27から構成されている。
して説明する。第1図は印影検出装置のブロック図であ
り、第2図は印影とノイズとを含む画像のX、Y両座標
軸についての投影ヒストグラムを示す概略説明図である
。第1図において、この印影検出装置は、投影ヒストグ
ラム作成手段10、比較検出手段14及び座標検出手段
18゜ノイズ消去手段27から構成されている。
前記投影ヒストグラム作成手段10は、投影ヒストグラ
ム作成回路11と、アドレス加算部12と、アドレス判
定回路13とから構成されている。
ム作成回路11と、アドレス加算部12と、アドレス判
定回路13とから構成されている。
前記投影ヒストグラム作成回路11は、第2図に示すよ
うに例えば略楕円状の印影21とこの周辺にノイズ26
を含む画像に対して、直交座標軸X。
うに例えば略楕円状の印影21とこの周辺にノイズ26
を含む画像に対して、直交座標軸X。
Yのそれぞれについて投影ヒストグラムを求める回路で
ある。例えばX座標についての投影ヒストグラムであれ
ば、X座標軸上の一点を固定してY軸方向に沿った画素
上の情報を加算して求め、これをX座標軸上の各点につ
いて実行する。Y軸についても同様にして行う。アドレ
ス加算部12は、上記のようにして各点の投影ヒストグ
ラムを求める際に、X軸、Y軸上のアドレスを順次加算
して、前記投影ヒストグラム作成回路11でのX軸、Y
軸上各点での全投影ヒストグラムを求めるために供する
ものである。前記アドレス判定回路13は、前記アドレ
ス加算部12で加算された新たなアドレスが第2図に示
すXmax 、 ymaxに達したか否かを判定する。
ある。例えばX座標についての投影ヒストグラムであれ
ば、X座標軸上の一点を固定してY軸方向に沿った画素
上の情報を加算して求め、これをX座標軸上の各点につ
いて実行する。Y軸についても同様にして行う。アドレ
ス加算部12は、上記のようにして各点の投影ヒストグ
ラムを求める際に、X軸、Y軸上のアドレスを順次加算
して、前記投影ヒストグラム作成回路11でのX軸、Y
軸上各点での全投影ヒストグラムを求めるために供する
ものである。前記アドレス判定回路13は、前記アドレ
ス加算部12で加算された新たなアドレスが第2図に示
すXmax 、 ymaxに達したか否かを判定する。
そして、X≦Xmax、Y≦ymaxであれば前記投影
ヒストグラム作成回路11における新たなアドレスにつ
いての投影ヒストグラムの作成を実行させ、X > X
+ax 、 Y > Ymaxであれば上記動作の実行
を終了する。
ヒストグラム作成回路11における新たなアドレスにつ
いての投影ヒストグラムの作成を実行させ、X > X
+ax 、 Y > Ymaxであれば上記動作の実行
を終了する。
前記比較検出手段14は、投影ヒストグラム圃判定回路
15と、印影検知フラグ判定回路16と、始点、終点判
別回路17とから構成されている。
15と、印影検知フラグ判定回路16と、始点、終点判
別回路17とから構成されている。
萌配投影ヒストグラム値判定回路15は、前記投影ヒス
トグラム作成回路11より求められる座標軸上の各点で
の投影ヒストグラム値h(x)及びh(y)に対して、
第2図に示す例えば2つの閾(石工s 、’T2 (
TI <T2 )を設定し、この間1直T’+ 、T2
に対する関係(h(x)≦Tt 、 h(×)≧T2.
TI <h (x )<T2、h (y )につ
いても同様である)を判定するものである。
トグラム作成回路11より求められる座標軸上の各点で
の投影ヒストグラム値h(x)及びh(y)に対して、
第2図に示す例えば2つの閾(石工s 、’T2 (
TI <T2 )を設定し、この間1直T’+ 、T2
に対する関係(h(x)≦Tt 、 h(×)≧T2.
TI <h (x )<T2、h (y )につ
いても同様である)を判定するものである。
前記投影検知フラグ判定回路16は、前記投影ヒストグ
ラム埴判定回路15での判定結果に基づいてフラグm−
1又はm=oの判定を行なう回路である。フラグm=1
を立てる条件としては、投影ヒストグラムfilh(x
)又はh(y)が最大閾値T2を越えた場合である。そ
れ以外のときは1−〇を維持する。また、m=1をra
−Qに変更する場合としては、投影ヒストグラム値h
(x)又はh(y)が最小閾値T1を下回った場合、又
は、連続する各点の投影ヒストグラムl1h(x)又は
h(V)が最大量ff1T2と最小量1iiTxとの間
に存在する場合であって連続する各点を結ぶ長さ乏が所
定の長さl o(例えば乏0=4とする)を越えた場合
である。前記始点、終点判別回路17は、フラグg+=
1を維持した連続点の始点と終点とを求める回路である
。
ラム埴判定回路15での判定結果に基づいてフラグm−
1又はm=oの判定を行なう回路である。フラグm=1
を立てる条件としては、投影ヒストグラムfilh(x
)又はh(y)が最大閾値T2を越えた場合である。そ
れ以外のときは1−〇を維持する。また、m=1をra
−Qに変更する場合としては、投影ヒストグラム値h
(x)又はh(y)が最小閾値T1を下回った場合、又
は、連続する各点の投影ヒストグラムl1h(x)又は
h(V)が最大量ff1T2と最小量1iiTxとの間
に存在する場合であって連続する各点を結ぶ長さ乏が所
定の長さl o(例えば乏0=4とする)を越えた場合
である。前記始点、終点判別回路17は、フラグg+=
1を維持した連続点の始点と終点とを求める回路である
。
前記座標検出手段18は、座標長さ比較回路19と座標
判別回路20とから構成されている。前記座標長さ比較
回路19は、X、Y座標軸の一方又は双方において館記
始点、終点が複数組検出された場合に、各組の始点、終
点を結ぶ長さWが最大のちのW waxを検知する回路
である。前記座標判別回路20は、前記座標長さ比較回
路19より出力されるX、Y座標軸についてそれぞれ1
組の始点、終点より四辺形25の座標E1.E2.E3
、E4を求める回路である。
判別回路20とから構成されている。前記座標長さ比較
回路19は、X、Y座標軸の一方又は双方において館記
始点、終点が複数組検出された場合に、各組の始点、終
点を結ぶ長さWが最大のちのW waxを検知する回路
である。前記座標判別回路20は、前記座標長さ比較回
路19より出力されるX、Y座標軸についてそれぞれ1
組の始点、終点より四辺形25の座標E1.E2.E3
、E4を求める回路である。
前記ノイズ消去手段27は、画像メモリ21と、前記座
標判別回路20からの出力により画像メモリ21への占
き込み読み出しを制御して前記投影ヒストグラム作成回
路へ画像情報を送る画像メモリ制御回路22と、前記始
点、終点判別回路17からの出力に基づいてX軸方向、
Y軸方向に投影されたヒストグラムの組数(分離数>N
x、Nyを求めて両者を比較判定する分離数判定回路2
3とから構成されている。この分離数判定回路23は、
前記各分離数NX 、NYが不一致のときには画像メモ
リ制御回路22を動作さけて前記座標判別回路20によ
って求めら机た外接四辺形で囲まれた部分の画像のみを
入力側に送出しく四辺形外領域のノイズがこの段階で除
去される)、分離数が一致したとぎにはこのような動作
指令信号は送出しないようになっている。
標判別回路20からの出力により画像メモリ21への占
き込み読み出しを制御して前記投影ヒストグラム作成回
路へ画像情報を送る画像メモリ制御回路22と、前記始
点、終点判別回路17からの出力に基づいてX軸方向、
Y軸方向に投影されたヒストグラムの組数(分離数>N
x、Nyを求めて両者を比較判定する分離数判定回路2
3とから構成されている。この分離数判定回路23は、
前記各分離数NX 、NYが不一致のときには画像メモ
リ制御回路22を動作さけて前記座標判別回路20によ
って求めら机た外接四辺形で囲まれた部分の画像のみを
入力側に送出しく四辺形外領域のノイズがこの段階で除
去される)、分離数が一致したとぎにはこのような動作
指令信号は送出しないようになっている。
以上の装置の作用について第3図及び第4図のフローチ
ャートをも参照して説明する。尚、以下の説明において
記号X、Y、L、W、E等は大文字と小文字の双方を使
用しているが、これは説明の便宜上そのようになってい
るだけであり、実質的相違はない。
ャートをも参照して説明する。尚、以下の説明において
記号X、Y、L、W、E等は大文字と小文字の双方を使
用しているが、これは説明の便宜上そのようになってい
るだけであり、実質的相違はない。
また、この実施例では第2図に示すように、印影24と
、その近傍に位置するノイズ26とが含まれるもの、即
ち、ノイズ26がX方向への投影ヒストグラム上では印
影とは分離された状態で表われるが、Y方向へのそれに
は表われず印影に連続する状態で表われる場合を代表例
として示す。
、その近傍に位置するノイズ26とが含まれるもの、即
ち、ノイズ26がX方向への投影ヒストグラム上では印
影とは分離された状態で表われるが、Y方向へのそれに
は表われず印影に連続する状態で表われる場合を代表例
として示す。
即ち、X方向の分離数NXは2となるが、Y方向のそれ
Nyは1となっている場合である。
Nyは1となっている場合である。
先ず、第3図のフローチャートに示すように、前記投影
ヒスドグうム作成手段10、比較検出手段14及び座標
検出手段18の動作によってX方向印影検知及びY方向
印影検知の処理が行われ、印影を含む部分の外接四辺形
の座標が検出される。
ヒスドグうム作成手段10、比較検出手段14及び座標
検出手段18の動作によってX方向印影検知及びY方向
印影検知の処理が行われ、印影を含む部分の外接四辺形
の座標が検出される。
この段階でX方向の投影ヒストグラムの分離数NXとY
方向のそれNyとが比較判定され、両者が一致すると終
了となるが、不一致であると、前記分離数判定回路23
からの信号により画像メモリ制御回路22が動作して、
前記座標検出により求められた四辺形で囲まれた部分の
画像のみ(その他の部分は消去される)を再度上記各ス
テップの処理に供することになる。このようにしてNX
−NYが成立する迄行われる。
方向のそれNyとが比較判定され、両者が一致すると終
了となるが、不一致であると、前記分離数判定回路23
からの信号により画像メモリ制御回路22が動作して、
前記座標検出により求められた四辺形で囲まれた部分の
画像のみ(その他の部分は消去される)を再度上記各ス
テップの処理に供することになる。このようにしてNX
−NYが成立する迄行われる。
次に印影検知のステップの詳細について第4図のフロー
チャートを参照して説明する。尚、ここではX方向の印
影検知のみを説明し、Y方向については原理が同〜なの
で省略する。
チャートを参照して説明する。尚、ここではX方向の印
影検知のみを説明し、Y方向については原理が同〜なの
で省略する。
先ず、第2図のX=0の点よりスタートする。
尚、この初期状態ではフラグn=Qであり、l −1を
維持した座標軸上の長さ!−〇、前記始点。
維持した座標軸上の長さ!−〇、前記始点。
終点判別回路17で求められる始点Xs、終点Xe間の
長さWの最大1111Wmax t;tWmax −0
トナッている。X=OではX軸上に投影された投影ヒス
トグラム値h(X)−0である。従って印影検知フラグ
判定回路16においてh(x)≦Tt 、 1=0と判
別される。この後、アドレス加算部12でX=1とされ
てX−1の投影ヒストグラム値について判定することに
なる。尚、第2図においてノイズ26に対する投影ヒス
トグラムに達するまではh(X)=Oであるため、順次
Xアドレスが加算されることになる。そして、ノイズ2
6に対する投影ヒストグラム値に対応するXアドレスま
で達すると、ノイズ26に対する2番目の投影ヒストグ
ラム値h(x)は、h(X)>72となる。
長さWの最大1111Wmax t;tWmax −0
トナッている。X=OではX軸上に投影された投影ヒス
トグラム値h(X)−0である。従って印影検知フラグ
判定回路16においてh(x)≦Tt 、 1=0と判
別される。この後、アドレス加算部12でX=1とされ
てX−1の投影ヒストグラム値について判定することに
なる。尚、第2図においてノイズ26に対する投影ヒス
トグラムに達するまではh(X)=Oであるため、順次
Xアドレスが加算されることになる。そして、ノイズ2
6に対する投影ヒストグラム値に対応するXアドレスま
で達すると、ノイズ26に対する2番目の投影ヒストグ
ラム値h(x)は、h(X)>72となる。
従って、この位置で始めてフラグm−iとなり、この点
を始点X−X5Iとする。次に、Xアドレスを加算する
とTl <h (x ) <72で゛あるが、フラグ
l=1であるため乏−1とし、この乏はl<乏o (
乏o−4>である。そこで、次のXアドレスにおける投
影ヒストグラム値を判断することになる。以下、第3図
に示すフローチャートに従うと、ノイズ26に対する投
影ヒストグラム値h(×)がh(x)<Ttとなる点で
フラグmがm−〇とされる。そこで、この点より乏だけ
戻った点を終点Xe1とし、乏=0にもどす。そして、
前記始点XS1と前記終点XOtとからX座標軸上の長
さWlを求める。さらに、Wt>Wmax(Wmax−
0)であるためこのWlをWlaxとし、サラニ上記始
点XSt、終点Xe1をXs s −Xs、xee−x
eとして記憶して前記座標長さ比較回路19に登録して
おく。
を始点X−X5Iとする。次に、Xアドレスを加算する
とTl <h (x ) <72で゛あるが、フラグ
l=1であるため乏−1とし、この乏はl<乏o (
乏o−4>である。そこで、次のXアドレスにおける投
影ヒストグラム値を判断することになる。以下、第3図
に示すフローチャートに従うと、ノイズ26に対する投
影ヒストグラム値h(×)がh(x)<Ttとなる点で
フラグmがm−〇とされる。そこで、この点より乏だけ
戻った点を終点Xe1とし、乏=0にもどす。そして、
前記始点XS1と前記終点XOtとからX座標軸上の長
さWlを求める。さらに、Wt>Wmax(Wmax−
0)であるためこのWlをWlaxとし、サラニ上記始
点XSt、終点Xe1をXs s −Xs、xee−x
eとして記憶して前記座標長さ比較回路19に登録して
おく。
次に、印影24に対する投影ヒストグラムfih(X)
について判断する。第3図のフローチャートに従うと、
始点、終点判別回路17において印影24の左端を始点
XS2とし、印影24の右端を終点X02と判定される
。そして、この出力を入力する座標長さ比較回路19は
、上記始点Xs2、終点×02からW2 =Xe 2−
XS 2 ヲ算出する。この長さW2は先に登録したW
max(−Wl)と比較するとW 2 > W laX
となっている。従って、座標長さ比較回路19はW2
=Wmax 、印影24に対する始点XS 2 、終点
XezをX 5S=XS 、 Xee=Xeと1き改め
る。その後、フローチ11−トに従って投影ヒストグラ
ム値の判断が実行され、X > X HXを越えた時点
でX座標軸に投影された投影ヒストグラム値の判断が終
了する。
について判断する。第3図のフローチャートに従うと、
始点、終点判別回路17において印影24の左端を始点
XS2とし、印影24の右端を終点X02と判定される
。そして、この出力を入力する座標長さ比較回路19は
、上記始点Xs2、終点×02からW2 =Xe 2−
XS 2 ヲ算出する。この長さW2は先に登録したW
max(−Wl)と比較するとW 2 > W laX
となっている。従って、座標長さ比較回路19はW2
=Wmax 、印影24に対する始点XS 2 、終点
XezをX 5S=XS 、 Xee=Xeと1き改め
る。その後、フローチ11−トに従って投影ヒストグラ
ム値の判断が実行され、X > X HXを越えた時点
でX座標軸に投影された投影ヒストグラム値の判断が終
了する。
以上の動作の結果、ノイズ26の存在に拘わらず印影2
4に対するX!1!標軸上の両端点XS、XCが定まる
。
4に対するX!1!標軸上の両端点XS、XCが定まる
。
上記の動作をY座標軸に対する投影ヒストグラム1直に
対して同様に行うことにより、印影24に対するY座標
軸上の両端点YS 、 ’y’eが定まる。
対して同様に行うことにより、印影24に対するY座標
軸上の両端点YS 、 ’y’eが定まる。
座標判別回路20は、上記のようにして得た両端点Xs
、 Xe、YS、 Y6より印影24を含む四辺形25
の各座標E1.E2.E3.Eaを求めることができる
。
、 Xe、YS、 Y6より印影24を含む四辺形25
の各座標E1.E2.E3.Eaを求めることができる
。
しかしながら、この処理が終了した段階ではノイズ26
がY軸方向に投影された状態では印影24の投影ヒスト
グラムに連続しており、しかもはみ出している部分が存
在することにより、求められた四辺形25は第2図に示
すように、印影24に接していない不要領域M(ハツチ
ング部分)を含むことになる。従って、このままで四辺
形の対角線の交点を回転中心とする処理に移行すると不
正確な値が生じてしまい、好ましくない。
がY軸方向に投影された状態では印影24の投影ヒスト
グラムに連続しており、しかもはみ出している部分が存
在することにより、求められた四辺形25は第2図に示
すように、印影24に接していない不要領域M(ハツチ
ング部分)を含むことになる。従って、このままで四辺
形の対角線の交点を回転中心とする処理に移行すると不
正確な値が生じてしまい、好ましくない。
そこで本発明では前述の如く、X、Y各軸に投影された
ヒストグラムの分離数を検出して両者を判別するように
している。即ち、第2図の例ではY軸方向の分離数がr
l−1であり、X軸方向のそれNX−2となっているの
で、両者は不一致であると判定し、今度は前述のように
して求められた四辺形(E1〜E4で囲まれた部分)内
の画像のみを再度前述の処理に供する。このようにすれ
ば、画像メモリ21から読み出されて投影ヒストグラム
作成手段10に入力される画像からはノイズ26が消え
ているので、必要とする印影24の画像のみを処理する
ことになる。このようにして前記同様な処理を施された
結果得られる四辺形は第2図の四辺形25から不要領域
Mを除去したもの、即ち、印影24にだけ外接する四辺
形(E1′〜E2−、Ea 、Eaを結ぶ形状)となる
。この段階では分離数NXとNyは共に1となって一致
するから、処理を終了することになる。
ヒストグラムの分離数を検出して両者を判別するように
している。即ち、第2図の例ではY軸方向の分離数がr
l−1であり、X軸方向のそれNX−2となっているの
で、両者は不一致であると判定し、今度は前述のように
して求められた四辺形(E1〜E4で囲まれた部分)内
の画像のみを再度前述の処理に供する。このようにすれ
ば、画像メモリ21から読み出されて投影ヒストグラム
作成手段10に入力される画像からはノイズ26が消え
ているので、必要とする印影24の画像のみを処理する
ことになる。このようにして前記同様な処理を施された
結果得られる四辺形は第2図の四辺形25から不要領域
Mを除去したもの、即ち、印影24にだけ外接する四辺
形(E1′〜E2−、Ea 、Eaを結ぶ形状)となる
。この段階では分離数NXとNyは共に1となって一致
するから、処理を終了することになる。
以上の結果得られた印影のみに外接する四辺形を用いて
その対角線の交点を求めることによって前記印鑑照合装
置における印影照合の際の被照合印影の回転中心を正確
に得ることができる。また、外接四辺形内の画像を抽出
することで、印影のみの画像を表示することが可能とな
るから、手動によるカーソル設定操作を排除することも
可能となる。
その対角線の交点を求めることによって前記印鑑照合装
置における印影照合の際の被照合印影の回転中心を正確
に得ることができる。また、外接四辺形内の画像を抽出
することで、印影のみの画像を表示することが可能とな
るから、手動によるカーソル設定操作を排除することも
可能となる。
本発明は前記実施例に限定されず、種々の変形が可能で
ある。
ある。
例えば前記実施例では検出対象を第2図の如くY方向投
影面において印影投影とノイズ投影とが重なり、かつ連
続する場合について示したが、これとは逆にX方向投影
面に対して同ような現象を示すノイズが有った場合にも
原理的には全く同様にして適用することができ、あるい
は印影の周辺に複数のノイズが存在している場合にも適
用することができる。
影面において印影投影とノイズ投影とが重なり、かつ連
続する場合について示したが、これとは逆にX方向投影
面に対して同ような現象を示すノイズが有った場合にも
原理的には全く同様にして適用することができ、あるい
は印影の周辺に複数のノイズが存在している場合にも適
用することができる。
尚、本発明は印影の検出に限らず種々のパターン検出に
適用可能であることは言うまでもない。
適用可能であることは言うまでもない。
[発明の効果]
以上詳述したように、本発明によればパターンの周辺に
ノイズを含む画像に対しても、特にそのノイズが投影面
に対してパターンと重なり、かつ連続する如き場合であ
ってもパターンに外接する四辺形を正確かつ簡易に求め
ることができるパターン検出装置を提供することができ
る。従って、このパターン検出装置を例えば印鑑照合装
置等に適用すれば、基準印影と被照合印影との重合表示
の際に回転ズレが生じていても容晃に回転中心を検知し
て表示位置補正を行うことができる。さらに、この外接
四辺形内のパターンを抽出することにより、印影部分の
抽出表示を手動操作によるカーソル設定を行わずに自動
的に実行することもできる。
ノイズを含む画像に対しても、特にそのノイズが投影面
に対してパターンと重なり、かつ連続する如き場合であ
ってもパターンに外接する四辺形を正確かつ簡易に求め
ることができるパターン検出装置を提供することができ
る。従って、このパターン検出装置を例えば印鑑照合装
置等に適用すれば、基準印影と被照合印影との重合表示
の際に回転ズレが生じていても容晃に回転中心を検知し
て表示位置補正を行うことができる。さらに、この外接
四辺形内のパターンを抽出することにより、印影部分の
抽出表示を手動操作によるカーソル設定を行わずに自動
的に実行することもできる。
第1図は本発明に係るパターン検出装置のブロック図、
第2図は印影とノイズとを含む画像のX。 Y両座標軸についての投影ヒストグラムを示す概略説明
図、第3図はパターン検出装置の実行手順を示すメイン
フローチャート、第4図は第3図のフローチャート中の
1ステツプ内の詳細フローチャート、第5図はこのパタ
ーン検出装置が適用される印鑑照合装置の概略斜視図で
ある。 10・・・・・・投影ヒストグラム作成手段、14・・
・・・・比較検出手段、 18・・・・・・座標検出手段、
第2図は印影とノイズとを含む画像のX。 Y両座標軸についての投影ヒストグラムを示す概略説明
図、第3図はパターン検出装置の実行手順を示すメイン
フローチャート、第4図は第3図のフローチャート中の
1ステツプ内の詳細フローチャート、第5図はこのパタ
ーン検出装置が適用される印鑑照合装置の概略斜視図で
ある。 10・・・・・・投影ヒストグラム作成手段、14・・
・・・・比較検出手段、 18・・・・・・座標検出手段、
Claims (2)
- (1)ノイズを含む所定のパターン画像のうち、所定パ
ターンに外接する四辺形を求めてパターンを検出する装
置であって、前記パターンの直交座標軸についてそれぞ
れ投影ヒストグラムを作成する投影ヒストグラム作成手
段と、前記各座標軸毎に投影ヒストグラム値が連続する
始点と終点とを検出する比較検出手段と、前記比較検出
手段で求められた各座標軸上の始点、終点に基づいて前
記外接四辺形の座標を検出する座標検出手段と同一座標
軸上で複数組の始点、終点が検出された際には、その組
数と他の座標軸上で得られる複数組の始点、終点の組数
と比較し、これらが一致しないときには、前記座標検出
手段で検出された四辺形の範囲以外の画像パターンを消
去するノイズ消去手段とからなるパターン検出装置。 - (2)前記ノイズ消去手段は、消去後の画像を前記投影
ヒストグラム作成手段へ入力することを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のパターン検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2264285A JPS61182178A (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | パタ−ン検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2264285A JPS61182178A (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | パタ−ン検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61182178A true JPS61182178A (ja) | 1986-08-14 |
Family
ID=12088498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2264285A Pending JPS61182178A (ja) | 1985-02-06 | 1985-02-06 | パタ−ン検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61182178A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0347671A2 (en) * | 1988-06-22 | 1989-12-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Finger collation and pattern image processing apparatus |
EP0376663A2 (en) * | 1988-12-29 | 1990-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Individual identification apparatus |
-
1985
- 1985-02-06 JP JP2264285A patent/JPS61182178A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0347671A2 (en) * | 1988-06-22 | 1989-12-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Finger collation and pattern image processing apparatus |
EP0376663A2 (en) * | 1988-12-29 | 1990-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Individual identification apparatus |
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