JPS6118142A - Positioning apparatus - Google Patents

Positioning apparatus

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JPS6118142A
JPS6118142A JP13717984A JP13717984A JPS6118142A JP S6118142 A JPS6118142 A JP S6118142A JP 13717984 A JP13717984 A JP 13717984A JP 13717984 A JP13717984 A JP 13717984A JP S6118142 A JPS6118142 A JP S6118142A
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JP
Japan
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positioning
semiconductor device
frames
frame
size
Prior art date
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Pending
Application number
JP13717984A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masaki Kushida
櫛田 雅紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS6118142A publication Critical patent/JPS6118142A/en
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Abstract

PURPOSE:To quickly execute the positioning work for different kind and size of processing object by modifying a positioning apparatus within a short period different kind and size of processing object in accordance with change of a frame position. CONSTITUTION:For the positioning of a DIL type semiconductor device 5, an interval K is adjusted by adequately moving the chute blocks 2A, 2B in accordance with a size in the width direction of a semiconductor device X. Next, the positioning plates 3A and 3B are moved in such a direction as holding the semiconductor device 5, these are stopped at the position where the interval L becomes equal to the longitudinal length of a semiconductor device 5 indicated by Y, for the positioning in the longitudinal direction. The semiconductor device 5 positioned under such condition is held, for example, by the vacuum absorbing method, by a feed arm and is then supplied to the inspection device after the positioning plates 3A and 3B draw backward.

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は位置決め技術、特に、半導体装置の製造過程に
於いて、半導体装置の姿勢をそろえて供給する工程に用
いて効果のある位置決め技術に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a positioning technique, and particularly to a positioning technique that is effective when used in the process of supplying semiconductor devices with their postures aligned in the manufacturing process of semiconductor devices.

[背景技術] 半導体装置の電気的な試験を行う検査装置は公知である
(工業調査会発行「電子材料Jl1月号別冊、昭和56
年11月10日発行、226頁〜230頁)。この装置
を流用して半導体装置の姿勢をそろえて供給する場合、
たとえばデュアルインライン(D I L)型パッケー
ジの半導体装置を扱う場合においては、2列のリードを
下向きとして所定の幅のシュートに跨がせた状態で移動
させストッパによって所定の位置に停止させて位置決め
を行うことが考えられる。
[Background technology] Inspection equipment for conducting electrical tests on semiconductor devices is publicly known (published by Kogyo Kenkyukai, "Electronic Materials Jl January issue special edition, 1972").
Published November 10, 2015, pp. 226-230). When reusing this equipment and supplying semiconductor devices with their postures aligned,
For example, when handling semiconductor devices in dual-in-line (DIL) type packages, positioning is performed by moving two rows of leads facing downward across a chute of a predetermined width and stopping at a predetermined position with a stopper. It is possible to do this.

しかしながら上記の位置決め装置においては、2列のリ
ードの間隔が異なるDIL型パンケージの半導体装置に
対してはシュートの幅をリードの間隔に合わせるためシ
ュート部分を交換することによって対応しなければなら
ず作業性が劣る。
However, in the above-mentioned positioning device, when dealing with semiconductor devices in a DIL type pancage where the spacing between the two rows of leads is different, it is necessary to replace the chute part in order to adjust the width of the chute to the spacing between the leads. inferior in sex.

さらに、たとえばフラントパソケージ型の半導体装置に
対してはまったく対応出来ず、位置決め装置そのものを
交換することが必要となるなどの不都合があることを本
発明者は見いだした。
Furthermore, the present inventors have found that, for example, the present invention cannot be applied at all to a flat path cage type semiconductor device, and there are disadvantages such as the need to replace the positioning device itself.

[発明の目的コ 本発明の目的は異なった外形の半導体装置の位置決め作
業に迅速に対応可能な位置決め技術を提供することにあ
る。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a positioning technique that can quickly cope with the positioning work of semiconductor devices having different external shapes.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

[発明の概要] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、つぎの通りである。
[Summary of the Invention] A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、相互の距離を変化させることによって被処9
物の幅方向の位置決めを行う一対の平行な枠体と、この
枠体の移動方向に直交する方向に移動自在に位置され被
処理物の長さ方向の位置決めを行う一対の平行な枠体を
、被処理物の形状に応じて適宜移動させることによって
、異なった形状の被処理物の位置決めを可能にすること
により、前記目的を達成するものである。
In other words, by changing the mutual distance, the
A pair of parallel frames that position the object in the width direction, and a pair of parallel frames that are movable in a direction perpendicular to the direction of movement of the frames and position the object in the length direction. The above object is achieved by making it possible to position workpieces of different shapes by moving the workpieces appropriately depending on the shape of the workpiece.

[実施例1] 第1図は本発明の一実施例である位置決め装置の要部外
観斜視図である。
[Embodiment 1] FIG. 1 is an external perspective view of a main part of a positioning device which is an embodiment of the present invention.

ベース1の上には一対のシュートブロック2Aおよび2
B(第1の枠体)が対向して平行に設けられ、対向する
方向に移動されることによってその間隔が調整可能な構
造とされている。
Above the base 1 is a pair of chute blocks 2A and 2.
B (first frame bodies) are provided facing each other in parallel, and the interval between them can be adjusted by moving in the opposite direction.

さらに、シュートブロック2Aおよび2Bにはそれぞれ
傾斜面!、傾斜面Vおよび傾斜面■、傾斜面■が設けら
れている。
Furthermore, the chute blocks 2A and 2B each have sloped surfaces! , an inclined surface V, an inclined surface (2), and an inclined surface (3) are provided.

一対のシュートブロック2Aおよび2Bの移動方向と直
交する方向には、位置決めプレート3Aおよび3B(第
2の枠体)が対向して設けられ、対向する方向にシュー
トブロック2Aおよび2B上を移動される構造となって
いる。
Positioning plates 3A and 3B (second frame bodies) are provided facing each other in a direction perpendicular to the moving direction of the pair of chute blocks 2A and 2B, and are moved on the chute blocks 2A and 2B in opposite directions. It has a structure.

この位置決めプレー)3Aおよび3Bの下部にはスライ
ドブロック4Aおよび4B(第3の枠体)が位置され、
対向する方向に移動自在な構造とされている。
Slide blocks 4A and 4B (third frame body) are positioned below the positioning blocks 3A and 3B,
It has a structure that allows it to move freely in opposing directions.

さらに、スライドブロック4Aおよび4Bの対向する部
分には傾斜面■および傾斜面■が設けられている。
Furthermore, the opposing portions of the slide blocks 4A and 4B are provided with an inclined surface (2) and an inclined surface (2).

シュートブロック2A、2Bおよび位置決めプレート3
A、3Bおよびスライドブロック4A。
Shoot blocks 2A, 2B and positioning plate 3
A, 3B and slide block 4A.

4Bは、たとえばボールネジ機構(図示せず)を介して
接続されたサーボモータ(図示せず)によって駆動され
る。
4B is driven by, for example, a servo motor (not shown) connected via a ball screw mechanism (not shown).

次に、本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

第2図(a)で示されるDIL型の半導体装置5を位置
決めする場合には、まずスライドブロック4Aおよび4
Bはシュートブロック2Aおよび2Bの移動を妨げない
位置に退避される。
When positioning the DIL type semiconductor device 5 shown in FIG. 2(a), first the slide blocks 4A and 4
B is retracted to a position where it does not interfere with the movement of chute blocks 2A and 2B.

次にXで示される半導体装置の幅方向の寸法(この実施
例ではリードの列間の間隔)に合わせて同図(b)にお
いてKで示される間隔をシュートブロック2Aおよび2
Bを適宜移動させることによって調整する。
Next, in accordance with the dimension in the width direction of the semiconductor device indicated by
Adjust by moving B appropriately.

このときシュートブロック2Aおよび2Bの移動方向の
、たとえば間隔Kを2等分する位置はベース1上の所定
の基準位置と一致するようにシュートブロック2Aおよ
び2Bの移動量が決定される。
At this time, the amount of movement of the chute blocks 2A and 2B is determined so that, for example, the position dividing the interval K into two in the moving direction of the chute blocks 2A and 2B coincides with a predetermined reference position on the base 1.

位置決めされる半導体装置5はたとえば真空吸着の方法
゛によって搬送アーム(図示せず)に保持されシュート
ブロック2Aおよび2Bの上に位置され、傾斜面■およ
び傾斜面■によって幅方向の位置決めが行なわれる。
The semiconductor device 5 to be positioned is held on a transfer arm (not shown) by, for example, a vacuum suction method and positioned on the chute blocks 2A and 2B, and positioning in the width direction is performed by the inclined surface (1) and the inclined surface (2). .

次に、同図(C)に示されるように位置決めプレー1−
’3Aおよび3Bが半導体装置5を挟持する方向に移動
され、その間隔りが同図(a)においてYで示される半
導体装置5の長手方向の長さと等しくなる位置で停止さ
れ、長さ方向の位置決めがおこなわれる。
Next, as shown in the same figure (C), positioning play 1-
'3A and 3B are moved in a direction to sandwich the semiconductor device 5, and are stopped at a position where the distance between them is equal to the length in the longitudinal direction of the semiconductor device 5, indicated by Y in FIG. Positioning is performed.

このとき、たとえば間隔りを2等分する位置がベース1
上の所定の基準位置と一致するように位置決めプレー)
3Aおよび3Bの移動量が決められる。
At this time, for example, the position that divides the interval into two is base 1.
positioning play to match the predetermined reference position on)
The amount of movement of 3A and 3B is determined.

同図(C)の状態で位置決めされた半導体装置5は供給
アーム(図示せず)によってたとえば真空吸着の方法で
保持され、位置決めプレー)3Aおよび3Bが退避され
たのち検査装置(図示せず)に供給される。
The semiconductor device 5 positioned in the state shown in FIG. 2C is held by a supply arm (not shown), for example, by vacuum suction, and after the positioning plates 3A and 3B are evacuated, an inspection device (not shown) is held. supplied to

上記の一連の動作を繰り返すことにより、幅Xおよび長
さYの異なる種々の大きさのDIL型半導体装置5の位
置決め動作が、シュートブロック2A、2Bの間隔にお
よび位置決めブ・レー)3A。
By repeating the above series of operations, the positioning operation of DIL type semiconductor devices 5 of various sizes with different widths X and lengths Y is performed at the interval between the chute blocks 2A, 2B and the positioning block 3A.

3Bの間隔りをそれぞれ調整することによって連続的に
おこなわれる。
This is performed continuously by adjusting the intervals of 3B.

[実施例2] 第3図は本発明をフラットパッケージ型の半導体装置に
適用した実施例を示す。
[Embodiment 2] FIG. 3 shows an embodiment in which the present invention is applied to a flat package type semiconductor device.

第3図(a)、(b)、(C)に示されるような種々の
フラットパッケージ型の半導体装置6の幅Uおよび長さ
■に応じて、同図(d)に示されるシュートブロック2
A、2Bおよびスライドブロック4A、4Bをそれぞれ
適宜移動させ、対向する傾斜面比 ■および傾斜面■、
■のそれぞれの底部における間隔MおよびNが前記半導
体装置6の寸法UおよびVにそれぞれ等しくなるように
調整される。
The chute block 2 shown in FIG. 3(d) can be adjusted according to the width U and length (■) of various flat package type semiconductor devices 6 as shown in FIG. 3(a), (b), and (C).
A, 2B and slide blocks 4A, 4B are moved appropriately, and the ratio of the opposing slopes ■ and slope ■,
The distances M and N at the bottom of each of (2) are adjusted to be equal to the dimensions U and V of the semiconductor device 6, respectively.

このとき、たとえばMおよびNをそれぞれ2等分する位
置はベースエ上の所定の基準位置と一致するように各移
動動作が行われる。
At this time, each moving operation is performed such that, for example, the positions where M and N are each divided into two equal parts coincide with a predetermined reference position on the base surface.

上記のようにして、シュートブロック2Aおよび2Bお
よびスライドブロック4Aおよび4Bで形成された凹部
に上方から搬送アーム(図示せず)によって保持された
半導体装1&6を落とし込むことによって、同[(e)
で示されるに位置決めがおこなわれる。この場合、各ブ
ロック2Aと2B、4Aと4Bの対向面が傾斜面である
ことにより、単に半導体装置6を落し込むだけで、より
容易に位置決めできる。
As described above, by dropping the semiconductor devices 1 & 6 held by the transfer arm (not shown) from above into the recess formed by the chute blocks 2A and 2B and the slide blocks 4A and 4B, the same [(e)
Positioning is performed as shown in . In this case, since the opposing surfaces of the blocks 2A and 2B and 4A and 4B are inclined surfaces, the semiconductor device 6 can be positioned more easily by simply dropping it into the semiconductor device 6.

そのとき位置決めプレート3Aおよび3Bは前記の落と
し込みの動作を妨げないように退避される。
At this time, the positioning plates 3A and 3B are retracted so as not to interfere with the dropping operation.

前記凹部の底部に位置する位置決めを完了した半導体装
置6は供給アーム(図示せず)に保持され、検査装置(
図示せず)に供給される。
The semiconductor device 6, which has been positioned at the bottom of the recess, is held by a supply arm (not shown) and placed in the inspection device (
(not shown).

幅Uおよび長さ■のそれぞれ異なる半導体装置6を位置
決めする場合には、あらかじめ同図(d)における間隔
MおよびNを適宜調整することによって迅速に対応でき
る。
When positioning semiconductor devices 6 having different widths U and lengths {circle around (2)}, it is possible to quickly respond by adjusting the distances M and N in FIG. 2(d) as appropriate in advance.

以上のように本実施例の位置決め装置を用いることによ
り、種類や寸法の異なる半導体装置の位置決めに迅速に
対応できる。
As described above, by using the positioning device of this embodiment, it is possible to quickly respond to the positioning of semiconductor devices of different types and sizes.

[効果〕 (1)、枠体の位置を変化させることにより、短時間で
種類や寸法の異なる各々の被処理物に適した位置決め機
構に変更できるため、種類や寸法の異なる被処理物の位
置決め作業を迅速におこなうことができる。
[Effects] (1) By changing the position of the frame, the positioning mechanism can be changed in a short time to be suitable for each workpiece of different types and sizes, making it possible to position workpieces of different types and sizes. Work can be done quickly.

(2)、前記(1)の結果、種類や寸法の異なる被処理
物の位置決めを行うとき枠体を構成する部品の交換が不
要となり、人手による作業が減少する。
(2) As a result of (1) above, when positioning workpieces of different types and sizes, there is no need to replace parts constituting the frame, and manual work is reduced.

(3)、前記(1)、(2)の結果、生産性が向上する
(3) As a result of (1) and (2) above, productivity is improved.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.

たとえば、光学的な方法で半導体装置の品種を認識する
機構と組み合わせることによって、各枠体の位置を制御
することも可能である。
For example, it is also possible to control the position of each frame by combining it with a mechanism that recognizes the type of semiconductor device using an optical method.

[利用分野] 以上め説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である半導体装置の位置決
め装置に適用した場合について説明したが、それに限定
されるものではなく、たとえば、プリント配線板等の位
置決めに用いることも可能である。
[Field of Application] In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to a positioning device for a semiconductor device, which is the field of application that formed the background of the invention, but the invention is not limited to this, for example, It can also be used for positioning printed wiring boards, etc.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例である位置決め装置の要部外
観斜視図、 第2図(a)は本発明を適用できるDIL型の半導体装
置の外観斜視図、 第2図(b)、(C)は本発明の実施例1によるDIL
型の半導体装置の位置決め動作を説明する外観斜視図、 第3図(a)、(b)、(C)は本発明を適用できる各
種のフラットパッケージ型の半導体装置の外観斜視図、 第3図(d)、(e)は本発明の実施例2によるフラッ
トパッケージ型の半導体装置の位置決め動作を説明する
斜視図である。 110.ベース、2A、2B、、、  シュートブロッ
ク(第1の枠体)、3A、3B8.、位置決めプレート
(第2の枠体)、4A、4B、、、スライドブロック(
第3の枠体)、5,6.、、半導体装置。 第  2  図 (α) 第3図
FIG. 1 is an external perspective view of a main part of a positioning device which is an embodiment of the present invention, FIG. 2(a) is an external perspective view of a DIL type semiconductor device to which the present invention can be applied, FIG. 2(b), (C) DIL according to Example 1 of the present invention
Figures 3(a), (b), and (C) are perspective views of various flat package type semiconductor devices to which the present invention can be applied; (d) and (e) are perspective views illustrating a positioning operation of a flat package type semiconductor device according to a second embodiment of the present invention. 110. Base, 2A, 2B, ... Shoot block (first frame), 3A, 3B8. , positioning plate (second frame), 4A, 4B, , slide block (
third frame), 5, 6. ,, semiconductor devices. Figure 2 (α) Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被処理物の幅に応じて相互の距離を自在に変えうる
一対の平行な第一の枠体と、前記第一の枠体に直交する
方向に移動自在に位置され前記被処理物の長さに応じて
相互の距離を変えることにより位置決めを行う一対の平
行な第2の枠体と、この第2の枠体の下部に移動自在に
位置され前記第1の枠体とともに枠組を形成することに
よって位置決めを行う第3の枠体とを有することを特徴
とする位置決め装置。 2、被処理物が半導体装置であることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の位置決め装置。 3、第1の枠体の対向面及び第3の枠体の対向面が傾斜
面であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
位置決め装置。 4、第1の枠体の各々の外側面が傾斜面であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の位置決め装置。
[Claims] 1. A pair of parallel first frames whose mutual distance can be freely changed according to the width of the object to be processed, and a pair of parallel first frames that are movably positioned in a direction perpendicular to the first frames. a pair of parallel second frames which are positioned by changing the mutual distance according to the length of the object to be processed; and a pair of parallel second frames which are movably positioned under the second frames A positioning device comprising: a third frame body that performs positioning by forming a framework together with the frame body. 2. The positioning device according to claim 1, wherein the object to be processed is a semiconductor device. 3. The positioning device according to claim 1, wherein the opposing surface of the first frame and the opposing surface of the third frame are inclined surfaces. 4. The positioning device according to claim 1, wherein each outer surface of the first frame is an inclined surface.
JP13717984A 1984-07-04 1984-07-04 Positioning apparatus Pending JPS6118142A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010287863A (en) * 2009-06-15 2010-12-24 Mitsubishi Electric Corp Component positioning apparatus

Cited By (1)

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JP2010287863A (en) * 2009-06-15 2010-12-24 Mitsubishi Electric Corp Component positioning apparatus

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