JPS61173140A - 光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並びに析出点連続自動検出方法 - Google Patents
光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並びに析出点連続自動検出方法Info
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- JPS61173140A JPS61173140A JP60013837A JP1383785A JPS61173140A JP S61173140 A JPS61173140 A JP S61173140A JP 60013837 A JP60013837 A JP 60013837A JP 1383785 A JP1383785 A JP 1383785A JP S61173140 A JPS61173140 A JP S61173140A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/02—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering
- G01N25/04—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating changes of state or changes of phase; by investigating sintering of melting point; of freezing point; of softening point
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並
びに析出点連続自動検出方式に係り、特に軽油やム重油
等中間留分戒はジェット燃料等の航空燃料油の品質管理
を著しく簡略化するものである。
びに析出点連続自動検出方式に係り、特に軽油やム重油
等中間留分戒はジェット燃料等の航空燃料油の品質管理
を著しく簡略化するものである。
従来の技術
石油精製業界においては原油の重質化処理量の低下の中
で中間留分(灯油、ジェット燃料、軽油。
で中間留分(灯油、ジェット燃料、軽油。
A重油ンの需要が伸び、製品ギャップが生じている。
この几め重質留分の中間留分への改質が各社で行われて
おり、この改質において*に軽油。
この几め重質留分の中間留分への改質が各社で行われて
おり、この改質において*に軽油。
ム重油は低温流動性の問題を生じており、各社衾品生産
忙おいて曇り点(CPつまり軽油等の試料?トってそハ
タ冷媒の中(ておいてどんどん冷して1度下るごとてサ
ンプル?とりだしてみて、その底のところにワックスが
析出して透明な軽油が白ぐにごってくる点の温度)、低
温濾過器目詰り点(CPPPつまり軽油等の試料をとり
、44 ミクロンのフィルタ乞真窒で引いて通る時間音
設定して60秒以上かかる時の低温の温度点)、R,動
点+ppつ1り軽油等の試料χ冷媒の中につけ2.5℃
位毎に倒しても動かなくなる状態が固定し次点でそれよ
りも2.5℃高い温度点3等燃料の製造にあたり、低温
流動性の重要な作動点の管理がさけばれており、夫々の
試験法が下記の第1表の通り行われていて試験頻度は著
しく上昇している。
忙おいて曇り点(CPつまり軽油等の試料?トってそハ
タ冷媒の中(ておいてどんどん冷して1度下るごとてサ
ンプル?とりだしてみて、その底のところにワックスが
析出して透明な軽油が白ぐにごってくる点の温度)、低
温濾過器目詰り点(CPPPつまり軽油等の試料をとり
、44 ミクロンのフィルタ乞真窒で引いて通る時間音
設定して60秒以上かかる時の低温の温度点)、R,動
点+ppつ1り軽油等の試料χ冷媒の中につけ2.5℃
位毎に倒しても動かなくなる状態が固定し次点でそれよ
りも2.5℃高い温度点3等燃料の製造にあたり、低温
流動性の重要な作動点の管理がさけばれており、夫々の
試験法が下記の第1表の通り行われていて試験頻度は著
しく上昇している。
/′−
2、−
表1試験法(定義)
dR再現性許容差
第1表
発明が解決しようとする問題点
しかしてPPについては、本発明式が先忙提案した連結
プロセスPP計が現実に稼動し、工場管理忙利用されて
いるが、(1!P、CF#P並びに析出点については現
在のところ少くとも我が国においては連続プロセス分析
計は存在してない。
プロセスPP計が現実に稼動し、工場管理忙利用されて
いるが、(1!P、CF#P並びに析出点については現
在のところ少くとも我が国においては連続プロセス分析
計は存在してない。
−一一一 解決する几め!3
本発明式は今回ap、CFPF並びに析出点について種
々の試作や実験tm返して連続的VCi$を出できる方
式を開発し、これl連続プロセスPP計に設置すること
?可能としたもので、軽油や五重油のような中間留分試
料或はジェット燃料のよりな航空燃料油を試料容器に所
定量注入して発光器より光を与えて前記試料のi度量下
にともなう状態変化を充電検出器に工9光電的く信号と
して取りだし1時間温度との相関でプロセス特性面Mを
描かせるもので、前記特性曲線で最低受光量の点′15
I:曇り点(cp)とし最高受光量の点と最低受光量の
点の間の値を低温濾過器目詰り点とし、又航空燃料油の
場合は最低受光量の温度点グラス1℃の点を析出点とし
、相関せしめ連続して検出すること’に特徴とするもの
である。
々の試作や実験tm返して連続的VCi$を出できる方
式を開発し、これl連続プロセスPP計に設置すること
?可能としたもので、軽油や五重油のような中間留分試
料或はジェット燃料のよりな航空燃料油を試料容器に所
定量注入して発光器より光を与えて前記試料のi度量下
にともなう状態変化を充電検出器に工9光電的く信号と
して取りだし1時間温度との相関でプロセス特性面Mを
描かせるもので、前記特性曲線で最低受光量の点′15
I:曇り点(cp)とし最高受光量の点と最低受光量の
点の間の値を低温濾過器目詰り点とし、又航空燃料油の
場合は最低受光量の温度点グラス1℃の点を析出点とし
、相関せしめ連続して検出すること’に特徴とするもの
である。
作用
これにより、常圧蒸溜装置の抜き出し脱ロウ装置の出口
、ft動性向上剤添加後及びプレンダー等製品生産ライ
ン2ポイン)(CP、C!PPP実際にはこのほかにP
Pの5ポイント)の同時管理ができ、中間留分の裏品収
享アップがなされると同時に製品の品質管理(試験W4
度ンが著しく簡略化されるものである。 又ジェット燃
料の析出点の連続プロセス分析7行ってこれ(エフジェ
ット燃料のワイドレンジ化による収車アップ時のネック
ポイントである7リージングポイント(Front’連
続的にコントロールすることができ、試験994度の低
減tはかれるのである。
、ft動性向上剤添加後及びプレンダー等製品生産ライ
ン2ポイン)(CP、C!PPP実際にはこのほかにP
Pの5ポイント)の同時管理ができ、中間留分の裏品収
享アップがなされると同時に製品の品質管理(試験W4
度ンが著しく簡略化されるものである。 又ジェット燃
料の析出点の連続プロセス分析7行ってこれ(エフジェ
ット燃料のワイドレンジ化による収車アップ時のネック
ポイントである7リージングポイント(Front’連
続的にコントロールすることができ、試験994度の低
減tはかれるのである。
色友九
本発明方式の実施例について図面で説明すると第1図は
本発明方式を実施する場合に用いる装置の煮略Z口報で
ある。 図で1は試験槽で!f1+内に試料5つ入った
試験容器2乞立てて静止状態で温度による試料5の状態
変化乞測定するもので。
本発明方式を実施する場合に用いる装置の煮略Z口報で
ある。 図で1は試験槽で!f1+内に試料5つ入った
試験容器2乞立てて静止状態で温度による試料5の状態
変化乞測定するもので。
図では詳細は省略するが、電子冷棟装置等の冷却装−J
t4乞開始する。 試料5が徐々に温度低下し、試料温
度が下って軽油等の試料3がが九1っていく状況?光の
変化で追うために発光器つ′!T)光源5の光りが試料
3の表面に与えられ反射する光を光電検出器6で光電的
に捕捉して信号形態にして測定ユニット7に送り、プリ
ンタや表示装置8に温度と光の8関関係において特性プ
ロセスを描い九つみつるようにする。 又試料5の流動
点ン検出するtめにモータ9を時々まわして回転中心軸
10χ中心に試料容器2ya′か几むけたり、もとに戻
しtりして油として移動する様子tみて状態の変化がな
くなつ九ら油が固化し几ものとみなして流動点ppy検
出するのである。 又流動点測定が終つ次状態の試料は
かたまっているので、冷却をとくのに電熱ヒータや電子
冷凍″4IニアXJ熱状態にして71+]pIAL試料
を再び流動状態に戻してやるのである。 又1)はプロ
グラマ12はプログラム温度コントローラである。 プ
ログラム温度コントローラ12は試ン槽1の温度制御?
行うもので、一定勾配で冷却7行い一試験憎1の温度?
検出して又プログラム温度コン)0−ラ12Y:へてプ
ログラム1)に与えて試験槽1の冷却曲線の制御を行う
。 光源5工9の光を試料5にあてて反射し次光の明暗
を光電検出器6で検出して測定ユニット7で時間にとも
なう@度と光のEAINとの関係で試料5の状態を信号
としてと9だし、−几ん記憶せしめておき、その信号の
データを必要に応じてプリンタ8でプリントし几り、ブ
ラウン管忙表示させ念りする。、 第2図は本発明方式
により見られ几温度と光りの明暗を時間に対して関係づ
けよ特性曲線の説明図であって、ムは試料温度で時間と
ともにある特定の勾配で降下するもので、Bは充電検出
器6で捕捉し几試料5よりの光の明暗を温度との関係で
時間に関してグラフに描い友ものでこのグラフは櫨々試
作や実験を重ね几結果代表的な1例として選ばれ友もの
で、受光される光は低温でのワックス分の挙動?あられ
しており、ワックス分の挙動を光の変化が対応している
ことがわかる。 試料5’e19却装置14に入れて冷
却?続けると、まず一定の明るさt6る時閲保ってから
時間とともに暗くなったし、一番光りの低下し次点がB
、で、この点は軽油等の試料の中のパラフィンその他が
分離又は析出し始め試料Sかにごっ几温度点でこの点を
すぎると、今度はパラフィンの結晶か&!長するととも
忙徐々に明るくなっていき、中央のBz ンへて更に
結晶が大きくなって転移点Bs kこえて固化しはじ
めると再び受光tは低下していき、ついにPP点B4
に達するのである。
t4乞開始する。 試料5が徐々に温度低下し、試料温
度が下って軽油等の試料3がが九1っていく状況?光の
変化で追うために発光器つ′!T)光源5の光りが試料
3の表面に与えられ反射する光を光電検出器6で光電的
に捕捉して信号形態にして測定ユニット7に送り、プリ
ンタや表示装置8に温度と光の8関関係において特性プ
ロセスを描い九つみつるようにする。 又試料5の流動
点ン検出するtめにモータ9を時々まわして回転中心軸
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しtりして油として移動する様子tみて状態の変化がな
くなつ九ら油が固化し几ものとみなして流動点ppy検
出するのである。 又流動点測定が終つ次状態の試料は
かたまっているので、冷却をとくのに電熱ヒータや電子
冷凍″4IニアXJ熱状態にして71+]pIAL試料
を再び流動状態に戻してやるのである。 又1)はプロ
グラマ12はプログラム温度コントローラである。 プ
ログラム温度コントローラ12は試ン槽1の温度制御?
行うもので、一定勾配で冷却7行い一試験憎1の温度?
検出して又プログラム温度コン)0−ラ12Y:へてプ
ログラム1)に与えて試験槽1の冷却曲線の制御を行う
。 光源5工9の光を試料5にあてて反射し次光の明暗
を光電検出器6で検出して測定ユニット7で時間にとも
なう@度と光のEAINとの関係で試料5の状態を信号
としてと9だし、−几ん記憶せしめておき、その信号の
データを必要に応じてプリンタ8でプリントし几り、ブ
ラウン管忙表示させ念りする。、 第2図は本発明方式
により見られ几温度と光りの明暗を時間に対して関係づ
けよ特性曲線の説明図であって、ムは試料温度で時間と
ともにある特定の勾配で降下するもので、Bは充電検出
器6で捕捉し几試料5よりの光の明暗を温度との関係で
時間に関してグラフに描い友ものでこのグラフは櫨々試
作や実験を重ね几結果代表的な1例として選ばれ友もの
で、受光される光は低温でのワックス分の挙動?あられ
しており、ワックス分の挙動を光の変化が対応している
ことがわかる。 試料5’e19却装置14に入れて冷
却?続けると、まず一定の明るさt6る時閲保ってから
時間とともに暗くなったし、一番光りの低下し次点がB
、で、この点は軽油等の試料の中のパラフィンその他が
分離又は析出し始め試料Sかにごっ几温度点でこの点を
すぎると、今度はパラフィンの結晶か&!長するととも
忙徐々に明るくなっていき、中央のBz ンへて更に
結晶が大きくなって転移点Bs kこえて固化しはじ
めると再び受光tは低下していき、ついにPP点B4
に達するのである。
かくてこの受光量の最も暗くなった点を曇り点CPと相
関さぜ、又このcpとPPとの間にあって受光量の経時
変化図から最低受光量と最高受光量の1/2 の点のセ
ル温度Y c p p pに相関させたものである。
つまりはB + dh曇9点OFでろりB、がapp
pとなるのである。 これ忙より下記WC2表のサンプ
ルについてチェックを行つ次ところ充分にょい゛相関が
とれた。
関さぜ、又このcpとPPとの間にあって受光量の経時
変化図から最低受光量と最高受光量の1/2 の点のセ
ル温度Y c p p pに相関させたものである。
つまりはB + dh曇9点OFでろりB、がapp
pとなるのである。 これ忙より下記WC2表のサンプ
ルについてチェックを行つ次ところ充分にょい゛相関が
とれた。
K2表
第5図は1実施デ一タ例で、曲線Cの最暗点がCPであ
り、ppとcpの間にCIPPPがぐる。
り、ppとcpの間にCIPPPがぐる。
次に7リージンダポイントといりものがあり。
これは軽油とは別で、灯油で灯油留分がジェット燃料に
1わっでジェットの製品規格の中江あり、ジェット機が
飛ぶ場合には1万米以上の高度を飛ぶ之め温度が低い中
tA通するので、灯油もか之する場合があり、これ!判
断する九めに7リ一ジンダポイント析出点としてジェッ
ト規格の項目にあり、これも冷却していくとついに固化
するのでワックス分と同じ留分が析出し几温度を析出点
といい、試料を冷媒の中で冷却して、まず析出させ逆に
とけ定温度?析出点という、つまり試料?冷却した際生
成し几炭化水素の結晶が試料の温度を上昇させたとき消
える温度tいう。
1わっでジェットの製品規格の中江あり、ジェット機が
飛ぶ場合には1万米以上の高度を飛ぶ之め温度が低い中
tA通するので、灯油もか之する場合があり、これ!判
断する九めに7リ一ジンダポイント析出点としてジェッ
ト規格の項目にあり、これも冷却していくとついに固化
するのでワックス分と同じ留分が析出し几温度を析出点
といい、試料を冷媒の中で冷却して、まず析出させ逆に
とけ定温度?析出点という、つまり試料?冷却した際生
成し几炭化水素の結晶が試料の温度を上昇させたとき消
える温度tいう。
第4図は7リージングポイントのデータ例で。
軽油の曇り点と同様に受光量(明るさ)が最も低下し定
ときが結晶析出し念状態であり、析出点の定義からこの
結晶が溶解し几温度が析出点である几め最も低下した点
の温度プラス1℃を析出点と相関させている。 図でD
は温度と時間!I図、Eが受光量と時間線図でFrP
が析出点である。
ときが結晶析出し念状態であり、析出点の定義からこの
結晶が溶解し几温度が析出点である几め最も低下した点
の温度プラス1℃を析出点と相関させている。 図でD
は温度と時間!I図、Eが受光量と時間線図でFrP
が析出点である。
第 5 表
第5図、第6図も第5図同様異る実施データ例である。
又第7図は現在稼動中の実施例のプロセス流動点計の
内部構造図を示しており1図で1は試験槽で、櫂1内に
試料5の入つ几試験容器2を立てて温度くよる試料5の
状態変化を測定する。
内部構造図を示しており1図で1は試験槽で、櫂1内に
試料5の入つ几試験容器2を立てて温度くよる試料5の
状態変化を測定する。
尚冷却方式は冷凍機4乞利用し、試験槽1内の、冷媒を
循還し、温度コントローラ14.温度プログラムの助け
Kより電磁弁4aを開閉して試験槽1の温度Yコントロ
ールするもので、又加熱は加熱水蒸気で加熱器15Y通
して行い、試験槽中にある導管内に加熱水蒸気を流して
昇温を行う。試料の排出は試料容器2の側面に排出口2
1があって横領し几とき試料の流動性があれば排出され
る。
循還し、温度コントローラ14.温度プログラムの助け
Kより電磁弁4aを開閉して試験槽1の温度Yコントロ
ールするもので、又加熱は加熱水蒸気で加熱器15Y通
して行い、試験槽中にある導管内に加熱水蒸気を流して
昇温を行う。試料の排出は試料容器2の側面に排出口2
1があって横領し几とき試料の流動性があれば排出され
る。
図でその他5は光源、6は光電検出器、7は測定ユニッ
ト、8は表示装置、10は回転軸、矢印は傾は動作方向
、16は温度計、17は試料注入0.18は水面調整器
、19は保温材、20は試験槽用温度計、21は冷却液
出口である。
ト、8は表示装置、10は回転軸、矢印は傾は動作方向
、16は温度計、17は試料注入0.18は水面調整器
、19は保温材、20は試験槽用温度計、21は冷却液
出口である。
発明の効果
以上のように本発明ではcp、cypp並びに析出点ン
連続的忙検出できる方式がえられて連続プロセスPP計
に設置することt可能とし、これにより常圧蒸溜装置の
抜き出し脱ロク装置の出口。
連続的忙検出できる方式がえられて連続プロセスPP計
に設置することt可能とし、これにより常圧蒸溜装置の
抜き出し脱ロク装置の出口。
流動性向上剤添澗後及びブレンダー等央品生産ラインで
5ポイントの同時管理ができ、中間留分の製品収率アッ
プがなされると同時1c製品の品質管理(試験頻度)が
著しく簡略化される。
5ポイントの同時管理ができ、中間留分の製品収率アッ
プがなされると同時1c製品の品質管理(試験頻度)が
著しく簡略化される。
第1図は本発明の1実施例装置の概略構成図。
第2図は本発明方式によりえられ友温度と光りの明暗を
関係づけ7t%性白線の説明図、第5図〜第6図は各実
施例データの特性線図、第7図は現在稼動中の実施例の
プロセス流動計の内部構造図である。 図で1は試験槽、2は試料容器、3は試料、4は冷却装
置、5は光源(発光器]、6は光電検出器。 7は測定ユニット、8はプリンタ、9はモータ。 1)はプログラマ、12はプログラム温度コントローラ
。
関係づけ7t%性白線の説明図、第5図〜第6図は各実
施例データの特性線図、第7図は現在稼動中の実施例の
プロセス流動計の内部構造図である。 図で1は試験槽、2は試料容器、3は試料、4は冷却装
置、5は光源(発光器]、6は光電検出器。 7は測定ユニット、8はプリンタ、9はモータ。 1)はプログラマ、12はプログラム温度コントローラ
。
Claims (2)
- (1)軽油やA重油のような中間留分試料を試料容器に
所定量注入して発光器より光を与えて前記試料の温度低
下にともなう状態変化を光電検出器により、光電的に信
号としてとりだし時間温度との相関でプロセス特性曲線
を描かせるもので、前記特性曲線で最低受光量の点を曇
り点(CP)とし、最高受光量の点と最低受光量の点の
間の値を低温濾過器目詰り点として相関せしめ連続して
検出することを特徴とする光電式プロセス曇り点並びに
低温濾過器目詰り点連続自動検出方式。 - (2)ジェット燃料のような航空燃料油を試料容器に所
定量注入して発光器より光を与えて前記試料の温度低下
にともなう状態変化を光電検出器により光電的に信号と
してとりだし、時間温度との相関でプロセス特性曲線を
描かせるもので、前記最低受光量の温度点プラス1℃を
析出点と相関させて連続して検出することを特徴とする
光電式析出点連続自動検出方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60013837A JPS61173140A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並びに析出点連続自動検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60013837A JPS61173140A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並びに析出点連続自動検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61173140A true JPS61173140A (ja) | 1986-08-04 |
JPH0375058B2 JPH0375058B2 (ja) | 1991-11-28 |
Family
ID=11844387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60013837A Granted JPS61173140A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 光電式プロセス曇り点、低温濾過器目詰り点並びに析出点連続自動検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61173140A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2681428A1 (fr) * | 1991-09-17 | 1993-03-19 | Total Raffinage Distribution | Dispositif pour la detection de l'apparition ou de la disparition de deux phases dans un produit hydrocarbone liquide. |
EP0723155A2 (en) * | 1995-01-20 | 1996-07-24 | Betz Europe, Inc. | Cloud point and pour point analyser |
FR2801381A1 (fr) * | 1999-11-18 | 2001-05-25 | Instrumentation Scient De Labo | Dispositif de refrigeration de cellules renfermant des echantillons liquides en particulier des echantillons de produits petroliers a analyser |
CN105572160A (zh) * | 2016-01-23 | 2016-05-11 | 东北石油大学 | 一种模块化凝点测量装置及其测量方法 |
-
1985
- 1985-01-28 JP JP60013837A patent/JPS61173140A/ja active Granted
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2681428A1 (fr) * | 1991-09-17 | 1993-03-19 | Total Raffinage Distribution | Dispositif pour la detection de l'apparition ou de la disparition de deux phases dans un produit hydrocarbone liquide. |
EP0533562A2 (fr) * | 1991-09-17 | 1993-03-24 | Total Raffinage Distribution S.A. | Dispositif pour la détection de l'apparition ou de la disparition de deux phases dans un produit hydrocarboné liquide |
EP0723155A2 (en) * | 1995-01-20 | 1996-07-24 | Betz Europe, Inc. | Cloud point and pour point analyser |
EP0723155A3 (en) * | 1995-01-20 | 1996-08-07 | Betz Europe, Inc. | Cloud point and pour point analyser |
FR2801381A1 (fr) * | 1999-11-18 | 2001-05-25 | Instrumentation Scient De Labo | Dispositif de refrigeration de cellules renfermant des echantillons liquides en particulier des echantillons de produits petroliers a analyser |
BE1013463A3 (fr) * | 1999-11-18 | 2002-02-05 | Instrumentation Scient De Labo | Dispositif de refrigeration de cellules renfermant des echantillons liquides en particulier des echantillons de produits petroliers a analyser. |
CN105572160A (zh) * | 2016-01-23 | 2016-05-11 | 东北石油大学 | 一种模块化凝点测量装置及其测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0375058B2 (ja) | 1991-11-28 |
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