JPS6117124B2 - - Google Patents
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- JPS6117124B2 JPS6117124B2 JP56166548A JP16654881A JPS6117124B2 JP S6117124 B2 JPS6117124 B2 JP S6117124B2 JP 56166548 A JP56166548 A JP 56166548A JP 16654881 A JP16654881 A JP 16654881A JP S6117124 B2 JPS6117124 B2 JP S6117124B2
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- H—ELECTRICITY
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- H01C17/22—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming
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- H01C17/2408—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming by removing or adding resistive material by pulsed voltage erosion, e.g. spark erosion
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は米国特許第4087625号に説明されたグ
ラフイツク・タブレツトの改良製造方法に関す
る。このタブレツトは特に(ガス・パネルもしく
はCRTの如き)デイスプレイの面に取付けるの
に適合されている。なんとなればこれはデイスプ
レイの表面上に保持されたペンの位置のX及びY
座標を感知するために直交電極の2層(及び介在
する絶縁層)が存在する構造に対比して単一層の
薄い透明な金属電極のみを必要とするからであ
る。この単一金属層はタブレツトの有効領域の上
辺及び下辺(もしくは側辺)にまたがつて長方形
の抵抗性分圧器を与える様な形状を有する。相補
的形状の三角形電極が2つの分圧器から唯1つの
方向に沿つて延びている。これ等の三角形電極に
はデイスプレイのユーザによつて選択される点に
保持されたペンに容量的に結合される交流電圧が
与えられる。ペン電圧はタブレツトのX−Y座標
系中のペンの位置に比例する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an improved method of manufacturing graphic tablets as described in U.S. Pat. No. 4,087,625. The tablet is particularly adapted to be mounted on a display surface (such as a gas panel or CRT). After all, this is the X and Y position of the pen held on the surface of the display.
This is because only a single layer of thin transparent metal electrodes is required to sense the coordinates, as opposed to a structure where there are two layers of orthogonal electrodes (and an intervening insulating layer). This single metal layer is shaped to provide a rectangular resistive voltage divider across the top and bottom (or sides) of the active area of the tablet. Complementary shaped triangular electrodes extend along only one direction from the two voltage dividers. These triangular electrodes are supplied with an alternating voltage which is capacitively coupled to a pen held at a point selected by the user on the display. Pen voltage is proportional to the pen's position in the tablet's X-Y coordinate system.
X方向に沿うペンの位置とペン信号の振幅間に
線形関係を確立するためには2つの分圧抵抗器は
限りなく線形である必要がある(Y方向において
は抵抗器の線形性はタブレツトの動作にとつてよ
り重要でない)。この線形性は長方形抵抗器及び
三角形電極を経済的な大規模製造に適した任意の
技法によつてガラス基板上に形成し、抵抗器を
個々にトリミングする事によつて達成される。本
発明の一般的目的はこの様な抵抗器をトリミング
する新規な改良された方法及び装置を与える事に
ある。 To establish a linear relationship between the pen position along the X direction and the amplitude of the pen signal, the two voltage divider resistors need to be infinitely linear (in the Y direction, the linearity of the resistors is less important for operation). This linearity is achieved by forming the rectangular resistors and triangular electrodes on a glass substrate by any technique suitable for economical large-scale manufacturing and individually trimming the resistors. It is a general object of the present invention to provide a new and improved method and apparatus for trimming such resistors.
従来技術の説明
従来技法は薄膜抵抗器をトリミングするための
多くの技法を提案している。これ等の技法の或る
特徴は以下説明される本発明の好ましい方法中に
組込まれる。従来技法の他の特徴は本発明にとつ
て不満足であるが従来技術の簡単な説明が本発明
の目的及び特徴への適切な導入を与えるであろ
う。Description of the Prior Art The prior art has proposed many techniques for trimming thin film resistors. Certain features of these techniques are incorporated into the preferred method of the invention described below. Although other features of the prior art are unsatisfactory to the present invention, a brief description of the prior art will provide a suitable introduction to the objects and features of the present invention.
米国特許第4184062号はレーザによつて抵抗器
の一辺に沿つてトリミング・カツトがなされる一
片の薄膜材料より形成される抵抗器を開示してい
る。レーザ・トリム動作が抵抗器の一端から他端
に進む時、トリミング動作点の大地に対する抵抗
値が測定される。正確なマスタ抵抗器のスライダ
がトリミング動作と共に段階的に移動される。ト
リミングされつつある抵抗器が正確ならば、マス
タ抵抗器のスライダの電圧はトリム点の電圧に等
しい。回路は2つの電圧間の任意の差を感知し、
トリムされつつある抵抗器の抵抗値を増加しもし
くは減少するために必要に応じて切削動作を内方
及び外方に移動する。この参考文献と比較する
に、本発明の目的は抵抗器の表面上におけるオー
ミツク・コンタクト・プローブを使用しない抵抗
器トリミング方法及び装置を与える事にある。本
発明の他の関連目的は抵抗値の絶対値に無関係に
抵抗器を線形にする様にトリムする事にある。本
発明の関連する目的は導電性層の最少量を除去し
て、線形性を具備し、最小抵抗値を保持する様に
線形に抵抗器をトリムする事にある。本発明の目
的は少なくとも初期トリムされた抵抗器に対して
線形性を増大するために第2のトリムを行なうの
に使用される簡単な新しい抵抗器トリミング方法
を与える事にある。 U.S. Pat. No. 4,184,062 discloses a resistor formed from a piece of thin film material in which trimming cuts are made along one side of the resistor by a laser. As the laser trim operation progresses from one end of the resistor to the other, the resistance of the trim operation point to ground is measured. The precision master resistor slider is moved in steps with the trimming operation. If the resistor being trimmed is accurate, the voltage on the master resistor slider is equal to the voltage at the trim point. The circuit senses any difference between two voltages,
The cutting motion is moved inward and outward as necessary to increase or decrease the resistance of the resistor being trimmed. In comparison with this reference, it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for trimming a resistor without using ohmic contact probes on the surface of the resistor. Another related object of the invention is to linearly trim a resistor regardless of the absolute value of the resistance. A related object of the present invention is to remove a minimum amount of conductive layer to linearly trim the resistor to provide linearity and maintain a minimum resistance value. It is an object of the present invention to provide a simple new resistor trimming method that can be used to perform a second trim to increase linearity, at least to an initially trimmed resistor.
他の技法では、小さなノツチが抵抗値を増大す
るために抵抗器の辺に沿つて形成される。この技
法は測定とトリムが一緒にされた場合にのみ正確
である。本発明の目的の1つは抵抗器の測定がト
リム動作と独立してなされる抵抗器トリミング改
良方法を与える事にある。デイスプレイ表面とタ
ブレツトの位置合わせを最少限度の位置ずれに抑
えて実現できるのが本発明の利点である。 In other techniques, small notches are formed along the sides of the resistor to increase the resistance. This technique is accurate only if the measurement and trim are taken together. One of the objects of the present invention is to provide an improved method of resistor trimming in which the measurements of the resistor are made independent of the trimming operation. An advantage of the present invention is that alignment of the display surface and the tablet can be achieved with minimal misalignment.
本発明の方法においては、先ず通常のタブレツ
ト動作において使用されるペンと類似の容量性電
圧プローブを使用して離散的点でタブレツト抵抗
器の抵抗値が測定される。抵抗器は、通常の抵抗
材料を用いて薄膜状に形成するとその薄膜中にピ
ンホールが存在し勝ちであるから、若しも存在し
たとしてもピンホールが抵抗値の読みに影響を与
えない程十分広い面積に亘つて測定できるよう
に、容量性プローブを使用する。抵抗測定値はデ
ータ処理システム中に記憶され、抵抗器トリム動
作に抵抗値変化特性(プロフイール)が形成され
る。トリム動作は電気食刻装置の如き通常の装置
によつて遂行される。抵抗が再び測定され、もし
必要ならば、第2もしくはその後のトリムが行な
われる。 In the method of the present invention, the resistance of the tablet resistor is first measured at discrete points using a capacitive voltage probe similar to a pen used in normal tablet operation. When a resistor is formed into a thin film using ordinary resistance materials, pinholes are likely to exist in the thin film, so even if they do exist, the pinholes will not affect the resistance reading. A capacitive probe is used so that measurements can be made over a sufficiently large area. The resistance measurements are stored in a data processing system to create a resistance profile for resistor trim operations. The trimming operation is accomplished by conventional equipment such as an electroetcher. Resistance is measured again and a second or subsequent trim is performed if necessary.
特に本発明の方法に関連するタブレツトの部分
について以下説明する。このタブレツトは第1図
に示されているが、これはデイスプレイ装置と共
に使用される時は垂直平面中にあるか、もしくは
計算機システムへの手書き入力を与える如き応用
において使用される場合の如く水平平面中に存在
するものと考えられ得る。最上部、最下部、辺、
上方、下方、右方及び左方なる用語が図面の面内
の位置及び方向を指定するのに使用される。図面
の平面に直交する方向の運動は手でにぎつたペン
の位置を説明するために通常行なわれる如く“上
昇”及び“下降”と呼ばれる。 Parts of the tablet that are particularly relevant to the method of the invention will be described below. The tablet is shown in FIG. 1 in a vertical plane when used with a display device, or in a horizontal plane as when used in applications such as providing handwritten input to a computer system. It can be thought that it exists inside. top, bottom, sides,
The terms upper, lower, right, and left are used to designate position and orientation within the plane of the drawing. Movements perpendicular to the plane of the drawing are called "up" and "down", as is commonly done to describe the position of a hand-held pen.
タブレツトはガラスの基板12を有する。イン
ジウム−錫酸化物の如き透明導体の薄膜がガラス
の表面上に蒸着され、次いで14乃至29として
示された電極のパターンを形成する如く食刻され
る。三角形電極18,19はタブレツト領域を形
成し、これ等の電極は通常の容量性ペン(図示さ
れず)によつて容量的に感知され得る電圧を確立
するために付勢される。ペン電圧は電極が付勢さ
れる方法に依存して、XもしくはY方向のいずれ
かにおけるペンの位置に比例する。スクリーン印
刷された幅広い金属タブ26−29は電極をタブ
レツトの1つの方向にまたがつて交流電圧の勾配
を確立するための通常の動作のための回路に接続
する。これ等のタブは同様にテスト電圧を本発明
の製造段階のための電極に印加するために使用さ
れる。三角形電極18,19は対で配列されてい
る。各三角形電極は接続用電極16及び17によ
つて分圧抵抗器を形成する長方形領域14,15
に接続されている。 The tablet has a glass substrate 12. A thin film of a transparent conductor, such as indium-tin oxide, is deposited on the surface of the glass and then etched to form a pattern of electrodes shown as 14-29. Triangular electrodes 18, 19 form the tablet area and these electrodes are energized to establish a voltage that can be sensed capacitively by a conventional capacitive pen (not shown). Pen voltage is proportional to pen position in either the X or Y direction, depending on how the electrodes are energized. Screen printed wide metal tabs 26-29 connect the electrodes to a circuit for normal operation to establish an alternating current voltage gradient across one direction of the tablet. These tabs are also used to apply test voltages to the electrodes for the manufacturing steps of the invention. Triangular electrodes 18, 19 are arranged in pairs. Each triangular electrode has a rectangular area 14, 15 forming a voltage dividing resistor by connecting electrodes 16 and 17.
It is connected to the.
第1図の実施例では、三角形電極18,19は
垂直方向に延び、抵抗器14,15は上辺及び下
辺に沿つ市水平に位置する。なんとなればタブレ
ツトの全領域通常高さよりも幅の方が広い長四角
形に形成され、この電極の配向は抵抗器が占有す
る面積をより狭くしているからである。従つてよ
り一般的見地から、抵抗器はタブレツトの2つの
対向辺に沿つて存在する。 In the embodiment of FIG. 1, the triangular electrodes 18, 19 extend vertically and the resistors 14, 15 are located horizontally along the top and bottom sides. This is because the entire area of the tablet is normally rectangular in shape, wider than it is high, and this electrode orientation makes the area occupied by the resistor smaller. Therefore, from a more general point of view, resistors are present along two opposite sides of the tablet.
製造過程のその後の段において、追加の透明層
が金属電極の層上に形成される。これ等の層は三
角形金属電極からペンをわずかに離し、ペンによ
つて感知される離散的近接電極の電圧に対する効
果を平均化する。結果的に、ペンは接続部16,
17によつて確立される離散的電圧ステツプを感
知する。以下後に説明される関連抵抗測定動作へ
の序論としてタブレツトの通常の動作を復習す
る。 In a subsequent stage of the manufacturing process, an additional transparent layer is formed over the layer of metal electrodes. These layers slightly separate the pen from the triangular metal electrodes and average out the effect of discrete nearby electrodes on the voltage sensed by the pen. As a result, the pen connects 16,
The discrete voltage steps established by 17 are sensed. The normal operation of the tablet will now be reviewed as an introduction to the related resistance measurement operations described below.
Y方向中のペン位置を感知するために、上方抵
抗器14(もしくは下方抵抗器15)は関連する
三角形電極18の各々が同様に大地電位になる様
にその2つのタブを接地する事によつてその長さ
に沿つてすべて大地電位に保持される。下方抵抗
器15(もしくは上方抵抗器14)は関連する三
角形コンデンサ素子19の各々がこの交流の電圧
を受取る様に両方のタブを交流電圧端子に接続す
る事によつてその長さにまたがつて均一な交流電
圧が考えられる。ペンがタブレツト上に位置付け
られる時、ペンは近い三角形電極18,19に対
する容量性結合によつて交流電圧を受取る。この
容量性結合はペンの視野の面積に正比例する。ペ
ンがタブレツトの下方に位置付けられる時、ペン
は抵抗器15のほとんど完全な交流電圧を受取
る。ペンがタブレツトの上方に向つて移動される
につれ、(大地電位にある)電極19への容量性
結合が大きくなり、ペンの電圧はそのY方向位置
に比例して降下する。 To sense the pen position in the Y direction, the upper resistor 14 (or lower resistor 15) is connected by grounding its two tabs so that each of the associated triangular electrodes 18 is also at ground potential. and is held at ground potential all along its length. The lower resistor 15 (or upper resistor 14) is connected across its length by connecting both tabs to the AC voltage terminals so that each of the associated triangular capacitor elements 19 receives this AC voltage. A uniform alternating voltage is considered. When the pen is positioned on the tablet, it receives an alternating voltage by capacitive coupling to the nearby triangular electrodes 18,19. This capacitive coupling is directly proportional to the area of the pen's field of view. When the pen is positioned below the tablet, it receives almost the full AC voltage of resistor 15. As the pen is moved towards the top of the tablet, the capacitive coupling to electrode 19 (which is at ground potential) increases and the voltage on the pen drops in proportion to its Y position.
タブレツトが上述されたモードで動作する時、
Y方向の位置を変化する事なくタブレツトにまた
がつている水平方向のペンの移動はペンの電圧の
変化を生じてはならない。このタブレツトの線形
性を構成するために、各接続用電極17(もしく
は16)における電圧は三角形電極18及び19
に対する容量性充電電流が抵抗器14及び15中
に流れ、抵抗器の中央に向つてよりも外方端に向
う力が大きいという事実にも拘らず実質的同一に
保持されなくてはならない。従つてY方向動作を
正確に行なうために、抵抗器14及び15は低い
抵抗値を有さなければならない。抵抗器14,1
5の厚さは関連する三角形電極18,19が透明
であるために薄くなくてはならないという要件に
よつて制限されなければならない。抵抗器14,
15の幅はガラス基板12の限られた全体的寸法
内でタブレツトの有効面積を出来るだけ大きく形
成するという要件によて制限される。従つて本発
明の目的は(各タブレツトの抵抗器を特定の抵抗
値にトリミングするのでなく)各個々のタブレツ
トに対して出来るだけ最低の抵抗値に保持する抵
抗器トリム動作を与える事にある。 When the tablet operates in the mode described above,
Horizontal movement of the pen across the tablet without changing its position in the Y direction should not result in a change in the pen voltage. To configure the linearity of this tablet, the voltage at each connecting electrode 17 (or 16) is connected to the triangular electrodes 18 and 19.
The capacitive charging current flows through the resistors 14 and 15 and must remain substantially the same despite the fact that the force is greater towards the outer ends than towards the center of the resistors. Therefore, for accurate Y-direction operation, resistors 14 and 15 must have low resistance values. Resistor 14,1
The thickness of 5 must be limited by the requirement that the associated triangular electrodes 18, 19 must be thin in order to be transparent. resistor 14,
The width of 15 is limited by the requirement to form as large an effective area of the tablet as possible within the limited overall dimensions of glass substrate 12. Therefore, it is an object of the present invention to provide a resistor trim operation that holds each individual tablet at the lowest possible resistance (rather than trimming each tablet's resistor to a specific resistance value).
X方向中のペンの位置を感知するためには、各
抵抗器14,15の左(もしくは右)端が大地電
位に保持され、右端には上述のものと同一交流電
圧が与えられる。2つの抵抗器14,15は三角
形電極18の接続用電極の電位が対応する電極1
9の接続用電極17において電位と同一である様
に線形に形成される。三角形電極18,19の対
は従つて関連する接続素子16,17の電位にあ
る単一の長方形電極の効果を有する。線形タブレ
ツトがX方向のペンの位置を感知するために動作
する時は、ペンはペンによつて感合される電圧を
変化する事なく一定のX方向位置においてタブレ
ツト上を上方及び下方に移動し得る。ペンがタブ
レツトを横切つて左方及び右方に移動される時、
ペンの電圧は均一に増大(もし接続が逆ならば減
少)する。この動作の場合各抵抗器14,15は
交流電圧がこの2つの抵抗器上の対応する点にお
いて同一である様に線形でなければならない。し
かしながら、2つの抵抗器の全抵抗値は同一であ
る必要はない。 To sense the position of the pen in the X direction, the left (or right) end of each resistor 14, 15 is held at ground potential and the right end is provided with the same AC voltage as described above. The two resistors 14 and 15 are connected to the electrode 1 to which the potential of the connection electrode of the triangular electrode 18 corresponds.
The connection electrodes 17 of No. 9 are formed linearly so as to have the same potential. The pair of triangular electrodes 18, 19 thus has the effect of a single rectangular electrode on the potential of the associated connection element 16, 17. When a linear tablet operates to sense the position of the pen in the X direction, the pen moves up and down the tablet at a constant X position without changing the voltage sensed by the pen. obtain. When the pen is moved left and right across the tablet,
The pen voltage increases uniformly (or decreases if the connections are reversed). For this operation each resistor 14, 15 must be linear so that the alternating voltage is the same at corresponding points on the two resistors. However, the total resistance values of the two resistors need not be the same.
抵抗器の線形性の測定−第2図
第2図はガラス基板12及び抵抗器15(もし
くは14)の辺の側面図である。抵抗測定プロー
ブ34は金属電極35及び適切な絶縁性の本体3
6を有する。本体36は容量性の結合を増大する
ため高い誘電性定数を有する任意のプラスチツク
である事が好ましい。電極35はタブレツト電極
15から適切な間隔を有する。タブレツト電極1
5(もしくは14)及びプローブ電極35並びに
介在絶縁体36は容量回路を形成し、プローブ電
圧がペンを使用する通常のタブレツト動作におけ
るが如くタブレツト電極の電圧に関連づけられる
様になつている。Measurement of linearity of a resistor - FIG. 2 FIG. 2 is a side view of the glass substrate 12 and the sides of the resistor 15 (or 14). The resistance measuring probe 34 has a metal electrode 35 and a suitably insulating body 3.
It has 6. Body 36 is preferably any plastic having a high dielectric constant to increase capacitive coupling. Electrode 35 has an appropriate spacing from tablet electrode 15. Tablet electrode 1
5 (or 14) and probe electrode 35 and intervening insulator 36 form a capacitive circuit such that the probe voltage is related to the voltage at the tablet electrode as in normal tablet operation using a pen.
基板12及び電極より成るタブレツト構造体が
真空検査取付具もしくは他の適切な取付具(図示
されていない)中に位置付けられ、プローブ34
は線38によつて表わされた如く通常の手段によ
つてX−Y位置付け機構によつて接続されてい
る。プローブは先ず抵抗器14もしくは15の略
中心線(端効果を避ける)に沿つて一端に位置付
けられ、次いで抵抗器に沿つ約1.27cmの増分でス
テツプされる。この抵抗値テスト中、発振器40
が右方(もしくは左方)端に存在するタブに対し
て交流電圧を供給する。抵抗器の他端は大地に接
続されている。従つて発振器40の電圧はタブ2
9及び27間に現われ、抵抗器15はこの電圧の
抵抗によつて分圧し、交流電圧勾配が抵抗器の長
さに沿つて現われる。この交流電圧は抵抗値の均
一性に従つて抵抗器の長さに関して線形である。
プローブ電極35の下の抵抗器15の領域の電圧
は電極に容量性供給され、この電圧がシステムの
他の素子に伝送される。通常のアナログ−デイジ
タル変換器44及び通常のデータ・プロセツサ4
5がプローブ電圧及び増分値を記憶する。 A tablet structure consisting of substrate 12 and electrodes is positioned in a vacuum test fixture or other suitable fixture (not shown) and probe 34
are connected by an X-Y positioning mechanism by conventional means as represented by line 38. The probe is first positioned at one end along the approximate centerline of resistor 14 or 15 (avoiding edge effects) and then stepped in approximately 1.27 cm increments along the resistor. During this resistance test, the oscillator 40
supplies AC voltage to the tab located at the right (or left) end. The other end of the resistor is connected to ground. Therefore, the voltage of oscillator 40 is tab 2
9 and 27, resistor 15 divides this voltage by its resistance, and an alternating voltage gradient appears along the length of the resistor. This alternating voltage is linear with respect to the length of the resistor according to the uniformity of the resistance value.
The voltage in the area of the resistor 15 below the probe electrode 35 is capacitively supplied to the electrode and this voltage is transmitted to the other elements of the system. A conventional analog-to-digital converter 44 and a conventional data processor 4
5 stores the probe voltage and incremental value.
この容量性測定技法はオーミツク・コンタク
ト・プローブの場合において生じ得るいくつかの
問題を避ける。例えば、電極15及び35間の間
隔はタブレツトの動作に対して説明された如く平
均化効果を生ずる。この間隔は抵抗器14,15
中で生じ得るピン・ホールの効果を平均化するに
十分大きく形成される(プローブ電極が寸法の適
切な電極の領域と接する)。もしくは電極35及
び14もしくは15間の間隔は強い信号に対して
良好な容量性結合を生じ及び抵抗器の任意の近接
辺からの効果を避ける様に小さく形成され得る。 This capacitive measurement technique avoids some of the problems that can occur with ohmic contact probes. For example, the spacing between electrodes 15 and 35 produces an averaging effect as described for tablet operation. This spacing is the resistor 14, 15
(the probe electrode contacts an appropriately sized area of the electrode) to average out the effects of pin holes that may occur therein. Alternatively, the spacing between electrodes 35 and 14 or 15 can be made small to provide good capacitive coupling for strong signals and to avoid effects from any nearby sides of the resistor.
抵抗値データー第3図、第4図及び第5図
第3図は上述の抵抗値測定装置の使用法を説明
したグラフである。水平軸に沿う番号0乃至10は
離散的サンプル点を表わす。垂直軸は電圧の測定
値、等価的には接地タブ迄の抵抗値を表わす。グ
ラフ上の点を接続する線はわずかに非線形であ
る。この非線形性は線形回帰分析による最小二乗
平均誤差線形関数(通常の統計関数)を計算し、
実際の電圧もしくは抵抗値とこの線形関数を比較
する事によつて測定される。もし適切な百分率内
にこれ等の点があれば(好ましくは0.25%)、抵
抗器はトリム処理なしで製品として許容される。Resistance Value Data FIGS. 3, 4, and 5 FIG. 3 is a graph illustrating how to use the above-mentioned resistance value measuring device. Numbers 0 through 10 along the horizontal axis represent discrete sample points. The vertical axis represents the measured voltage, or equivalently the resistance up to the ground tab. The lines connecting points on the graph are slightly nonlinear. This nonlinearity can be solved by calculating the least mean square error linear function (normal statistical function) by linear regression analysis,
It is measured by comparing the actual voltage or resistance value to this linear function. If these points are within a suitable percentage (preferably 0.25%), the resistor is acceptable for production without trimming.
第4図は左方の垂直軸が水平軸上で同定される
サンプル点と先行(もしくは次の)サンプル点間
の増分的な抵抗値即ち差を表わす点を除き第3図
と類似している。換言すれば、第4図中の点の高
さは第3図中の線の勾配に対応する。第4図は同
様に右方垂直軸を有し、この軸では抵抗値は各値
を点5及び6に生じた最高値によつて除算する事
によつて規格化されている。従つて点5及び6は
1なる正規化された値を有し、他の点はより小さ
な正規化された値を有する。この正規化値は以下
説明される如くトリムされる絶対的幅を示す。 Figure 4 is similar to Figure 3 except that the left vertical axis represents the incremental resistance or difference between the sample point identified on the horizontal axis and the previous (or next) sample point. . In other words, the height of the point in FIG. 4 corresponds to the slope of the line in FIG. FIG. 4 likewise has a right vertical axis on which the resistance values are normalized by dividing each value by the highest value occurring at points 5 and 6. Points 5 and 6 thus have a normalized value of 1, and the other points have smaller normalized values. This normalized value indicates the absolute width that will be trimmed as explained below.
第5図は第4図の鏡像であり第4図中の正規化
値を1から減算する事によつて形成される。従つ
て1なる抵抗の最大の増分値を有する点5及び6
は第5図の関数では0値を有する。 FIG. 5 is a mirror image of FIG. 4 and is formed by subtracting the normalized value in FIG. 4 from 1. Points 5 and 6 therefore have the largest incremental value of resistance of 1.
has a zero value in the function of FIG.
第5図の関数は抵抗器トリム動作に対する適切
な抵抗値変化特性である事が知られている。この
事は最高の増分抵抗値の点5及び6においてはト
リムが必要とされないという事実から直観的に明
らかであろう。同様に、最大のトリムは最小の増
分抵抗が測定される点2でなされなくてはならな
い。 It is known that the function shown in FIG. 5 is an appropriate resistance value change characteristic for the resistor trim operation. This may be intuitively obvious from the fact that no trim is required at points 5 and 6 of the highest incremental resistance values. Similarly, the maximum trim must be made at point 2 where the minimum incremental resistance is measured.
トリム動作−第6図及び第7図
トリミング切削は第6図に示された如きスパー
ク食刻装置によつて行なわれる事が好ましいが、
類似の金属切削動作はレーザによつてもなされ
る。しかしながら、本発明は種々の金属切削技術
に適用可能である。データ処理装置45はX−Y
ステツプ機構39に適切な指令を供給し通常のス
パーク食刻装置の電極50を要求された経路に沿
つて位置付ける。金属箔15はスパーク食刻装置
のための電流源51と回路接続されている。第6
図の装置は通常はトリム・カツトを形成する技法
の1つを示す。Trim Operation - Figures 6 and 7 Trimming cuts are preferably performed by a spark etch machine as shown in Figure 6;
Similar metal cutting operations are also performed with lasers. However, the present invention is applicable to a variety of metal cutting techniques. The data processing device 45 is
Appropriate commands are provided to the step mechanism 39 to position the electrode 50 of a conventional spark engraver along the desired path. The metal foil 15 is connected in circuit with a current source 51 for the spark etching device. 6th
The illustrated apparatus typically illustrates one technique for forming trim cuts.
第6図は切欠き(selvage)15′を生ずる切断
部53を有する抵抗器15を示す。第5図のトリ
ミング抵抗値変化特性がX−Y機構39によつて
ステツプ状に追跡される。従つて、実際のトリム
は抵抗器上の位置に関連して抵抗値の連続関数を
近似する。切削装置は抵抗器(X方向)の長さに
沿つて好ましくは0.254cmもしくはサンプル点間
の距離の1/5移動する。1増分移動の後に、装置
39はY方向にサンプル点2のまわりの如く上方
もしくは下方にステツプ・アツプもしくはダウン
し、もしくは点7及び8間の如く連続される。 FIG. 6 shows a resistor 15 with a cut 53 creating a selvage 15'. The trimming resistance value change characteristic shown in FIG. 5 is tracked stepwise by the X-Y mechanism 39. Therefore, the actual trim approximates a continuous function of resistance value in relation to position on the resistor. The cutting device preferably moves along the length of the resistor (X direction) by 0.254 cm or 1/5 of the distance between the sample points. After one increment of movement, device 39 steps up or down in the Y direction, such as around sample point 2, or continues, such as between points 7 and 8.
Y方向のステツプの幅は第4図中に示された如
く正規化動作から発見される。説明のために誇張
された例においては、点8における増分抵抗値は
点5,6及び10において生ずる最大値のわずか
2/3である。増分抵抗値は抵抗器の幅に(略)比
例するので、点8における幅を総幅の2/3に減少
する事は増分抵抗値を最大点の値に増加する。 The width of the step in the Y direction is found from the normalization operation as shown in FIG. In the exaggerated example for illustration purposes, the incremental resistance value at point 8 is a fraction of the maximum value occurring at points 5, 6, and 10.
It is 2/3. Since the incremental resistance value is (approximately) proportional to the width of the resistor, reducing the width at point 8 to 2/3 of the total width increases the incremental resistance value to the value at the maximum point.
抵抗器がトリムされた後に、第2図及び第3図
の抵抗値測定が繰返される。多くの場合におい
て、単一のトリム動作で抵抗値を所望の線形性に
もたらす。もしそうでなければ、第2のトリム動
作が行なわれる。この動作は第2のトリムの幅が
最初のトリムの線53から計算される点を除きす
でに説明されたステツプと似ている。 After the resistor is trimmed, the resistance measurements of FIGS. 2 and 3 are repeated. In many cases, a single trim operation brings the resistance value to the desired linearity. If not, a second trim operation is performed. This operation is similar to the steps previously described except that the width of the second trim is calculated from the line 53 of the first trim.
他の実施例
本発明は金属薄膜抵抗器が線形である様にトリ
ムされるが実際の抵抗器値は特定化された範囲内
にある様にされる他の応用にも有用である。容量
性プローブ及び関連する交流電圧回路は金属薄膜
抵抗器に特に有用である事が知られているが、プ
ローブはコンタクト・プローブのみが使用される
時のピン・ホールによつて生ずる問題を避け得る
ので、本発明は同様に薄膜が電気的に絶縁されて
いるか、オーミツク・プローブによつては接続不
能な対称物への応用に適している。本発明は種々
の機械的ステツプ装置及び種々の金属切削技術に
よつて具体化され得る。抵抗値サンプルからのト
リミング抵抗値変化特性を計算する統計的及び代
数的技法は周知であり多くのプログラム言語にお
いて容易に具体化されれ得る。抵抗値の測定技法
の分析は抵抗の値によつて説明されたが、これは
同様に導電率(抵抗値の逆数)もしくは他の見地
から等価的に表わされる。Other Embodiments The present invention is also useful in other applications where metal thin film resistors are trimmed to be linear, but the actual resistor value is within a specified range. Capacitive probes and associated alternating voltage circuits are known to be particularly useful with metal thin film resistors, but the probes avoid problems caused by pin holes when only contact probes are used. Therefore, the invention is also suitable for applications where the thin film is electrically insulating or cannot be connected by ohmic probes. The invention may be implemented with a variety of mechanical step devices and a variety of metal cutting techniques. Statistical and algebraic techniques for calculating trimmed resistance change characteristics from resistance samples are well known and can be easily implemented in many programming languages. Although the analysis of resistance measurement techniques has been described in terms of resistance values, this can also be equivalently expressed in terms of conductivity (reciprocal of resistance) or other terms.
第1図は本発明の方法に従うタブレツトの概略
図である。第2図は本発明に従う方法の1段階に
おけるタブレツト及び抵抗値変化特性を測定する
装置の側面図である。第3図は抵抗測定段階のグ
ラフである。第4図は抵抗器トリミング抵抗値変
化特性の計算を示したグラフである。第5図はト
リム動作を示した、第1図のタブレツトの抵抗器
の平面図である。第6図は抵抗器トリム動作及び
装置を示した第2図と類似の図である。第7図は
第3図乃至第5図と類似の形の抵抗器及びトリム
動作を示した図である。
12……ガラス基板、14,15……分圧抵抗
器を形成する長方形領域、16,17……接続用
電極、18,19……三角形電極(タブレツトの
活性領域)、26,27,28,29……回路接
続用タブ。
FIG. 1 is a schematic diagram of a tablet according to the method of the invention. FIG. 2 is a side view of a tablet and an apparatus for measuring resistance change characteristics in one step of the method according to the invention. FIG. 3 is a graph of the resistance measurement stage. FIG. 4 is a graph showing the calculation of resistance value change characteristics for resistor trimming. FIG. 5 is a top view of the resistor of the tablet of FIG. 1 showing a trim operation. FIG. 6 is a diagram similar to FIG. 2 showing the resistor trim operation and apparatus. FIG. 7 is a diagram illustrating a resistor and trim operation similar to FIGS. 3-5. 12... Glass substrate, 14, 15... Rectangular area forming a voltage dividing resistor, 16, 17... Connection electrode, 18, 19... Triangular electrode (active area of tablet), 26, 27, 28, 29...Tab for circuit connection.
Claims (1)
抗器の電圧を測定し、該測定電圧に従つて抵抗測
定値を記憶し、上記測定値から計算される抵抗値
に従つて上記抵抗器をトリミングする、抵抗器の
トリミング方法に於て、 上記抵抗器が金属薄膜抵抗器であるとき、上記
電圧測定は該金属薄膜抵抗器の長さ方向に沿う電
圧変化を測定するため該抵抗器の長さ方向に沿つ
て相対的に移動して容量的結合する電圧プローブ
を使用することを特徴とする、金属薄膜抵抗器の
トリミング方法。[Claims] 1. Apply an alternating voltage across a resistor, measure the voltage across the resistor, store a resistance measurement value according to the measured voltage, and calculate a resistance value from the measurement value. In the resistor trimming method of trimming the resistor according to the method, when the resistor is a metal thin film resistor, the voltage measurement measures a voltage change along the length direction of the metal thin film resistor. 1. A method for trimming a metal thin film resistor, comprising using a voltage probe that moves relatively along the length of the resistor to capacitively couple the resistor.
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