JPS61165159A - 遷移状態チエツク回路 - Google Patents
遷移状態チエツク回路Info
- Publication number
- JPS61165159A JPS61165159A JP59267920A JP26792084A JPS61165159A JP S61165159 A JPS61165159 A JP S61165159A JP 59267920 A JP59267920 A JP 59267920A JP 26792084 A JP26792084 A JP 26792084A JP S61165159 A JPS61165159 A JP S61165159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- state
- logical
- transition
- circuit
- logical state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は1複数の信号の組合わせで表せる論理状態の遷
移した論理状態の正当性の有無を簡易な回路構成で検出
する遷移状態チェック回路に関する。
移した論理状態の正当性の有無を簡易な回路構成で検出
する遷移状態チェック回路に関する。
例えば、情報処理システムにおいて、データを記憶する
入出力装置(以下I10装置と称する)と。
入出力装置(以下I10装置と称する)と。
上位装置との中間にあってデータの流れを制御する制御
装置との間の制御信号、データ信号等の遺り取りは、一
般に所定の情報形式を持つI10インタフェースを通じ
て行われる。
装置との間の制御信号、データ信号等の遺り取りは、一
般に所定の情報形式を持つI10インタフェースを通じ
て行われる。
このI10インタフェースによる情報伝達は、所定論理
状態から他の論理状態に遷移することにより伝達情報の
変化を伝えるが、かかるI10インタフェースによる情
報伝達を簡易なハードウェア構成で正確に行う回路の実
現が望まれている。
状態から他の論理状態に遷移することにより伝達情報の
変化を伝えるが、かかるI10インタフェースによる情
報伝達を簡易なハードウェア構成で正確に行う回路の実
現が望まれている。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来技
術として磁気ディスク装置のI10インタフェースを例
に取り説明する。
術として磁気ディスク装置のI10インタフェースを例
に取り説明する。
第6図は磁気ディスク装置の制御システム図を示す。
制御装置1は上位装置(図示してない)から与えられる
制御の標準形式をI10装置2(本例では磁気ディスク
装置を指す)に適合するような論理形式に変換して、I
10インタフェース線a (複数の論理信号線からなる
)を通して転送される。
制御の標準形式をI10装置2(本例では磁気ディスク
装置を指す)に適合するような論理形式に変換して、I
10インタフェース線a (複数の論理信号線からなる
)を通して転送される。
I10インタフェース線aにはI10装置2を動かし、
制御するに必要な論理的な信号が転送され。
制御するに必要な論理的な信号が転送され。
I10インタフェース部3内のレジスタ6に格納される
。デバイス制御回路7はレジスタ6に格納さた論理状態
によりI10デバイス部5を制御したり。
。デバイス制御回路7はレジスタ6に格納さた論理状態
によりI10デバイス部5を制御したり。
ディスク8を動かす。尚、転送さる論理信号は。
予めその順序が予測出来る形態で転送されるのが一般的
である。
である。
従来、上述のようにI10インタフェース線aを通って
送られる論理信号は、I10装置2で処理する時に用い
られるクロックCLKとは非同期であり。
送られる論理信号は、I10装置2で処理する時に用い
られるクロックCLKとは非同期であり。
従って、論理信号を取り込むレジスタ6は、取り込むタ
イミングが論理信号の変化と同時、或いは直後だと誤動
作する恐れがあった。
イミングが論理信号の変化と同時、或いは直後だと誤動
作する恐れがあった。
本発明は、上記問題点を解消した新規な遷移状態チェッ
ク回路を実現することを目的とするものであり、該問題
点は、論理状態を順次記憶する第■の記憶手段と、前記
第1の記憶手段に記4(yされた該論理状態を比較して
、該論理状態が遷移したことを検出する比較・検出手段
と、所定の論理状態から遷移可能な論理状態を予測する
予測手段と。
ク回路を実現することを目的とするものであり、該問題
点は、論理状態を順次記憶する第■の記憶手段と、前記
第1の記憶手段に記4(yされた該論理状態を比較して
、該論理状態が遷移したことを検出する比較・検出手段
と、所定の論理状態から遷移可能な論理状態を予測する
予測手段と。
前記予測手段により作成された予測論理状態を記憶する
第2の記憶手段とを設け、所定論理状態から遷移した遷
移論理状態が前記所定論理状態に対応する該予測論理状
態と比較して、その正当性を検出する本発明による遷移
状態チェック回路により解決される。
第2の記憶手段とを設け、所定論理状態から遷移した遷
移論理状態が前記所定論理状態に対応する該予測論理状
態と比較して、その正当性を検出する本発明による遷移
状態チェック回路により解決される。
論理信号を記憶する2つのレジスタの出力を比較するこ
とにより論理信号の変化点(遷移状B)を検出すると共
に、成る論理状態から遷移可能な論理状態を予測し、そ
れを記憶するレジスタの出力と遷移後の論理状態とを比
較し、一致が取れなければ、エラー信号を出力するよう
にする。
とにより論理信号の変化点(遷移状B)を検出すると共
に、成る論理状態から遷移可能な論理状態を予測し、そ
れを記憶するレジスタの出力と遷移後の論理状態とを比
較し、一致が取れなければ、エラー信号を出力するよう
にする。
即ち、論理状態遷移後、最小内部クロックの半周期後に
予測論理状態と実際に遷移した論理状態をデコードした
ものとを比較し、又、予測論理状態をセントするレジス
タも論理状態遷移後、最小内部クロックの半周期後にセ
ントするようにすることにより、安定した状態で処理さ
れるので、内部クロックのタイミングにより誤動作とな
ることが防止出来る。
予測論理状態と実際に遷移した論理状態をデコードした
ものとを比較し、又、予測論理状態をセントするレジス
タも論理状態遷移後、最小内部クロックの半周期後にセ
ントするようにすることにより、安定した状態で処理さ
れるので、内部クロックのタイミングにより誤動作とな
ることが防止出来る。
以下本発明の要旨を第1図〜第5図に示す実施例により
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第1図は本発明に係る一実施例を示す遷移状態チェック
回路のブロックダイヤグラム図、第2図は本発明に係る
遷移状態チェック回路のタイミングチャート図、第3図
は本発明に係る遷移状態チェック回路のエラー検出のタ
イミングチャート図。
回路のブロックダイヤグラム図、第2図は本発明に係る
遷移状態チェック回路のタイミングチャート図、第3図
は本発明に係る遷移状態チェック回路のエラー検出のタ
イミングチャート図。
第4図は3つの論理信号から8通りの論理状態を決定す
る図、第5図は論理状態遷移図をそれぞれ示す。
る図、第5図は論理状態遷移図をそれぞれ示す。
尚全図を通じて同一符号は同一対象物又は内容を示す。
次に9本実施例の動作を説明する。尚9本実施例で説明
する遷移状態チェック回路は、第6図に示すI10イン
タフェース部3内に設けられているものとする。
する遷移状態チェック回路は、第6図に示すI10イン
タフェース部3内に設けられているものとする。
本実施例は、3つの論理信号31〜S3 (第6図に示
すI10インタフェース線aから転送される信号)の組
合せにより8通りの論理状態STA〜STHが決定され
るもので、その論理状態STA〜STHは第4図に示す
組合せで決定される。
すI10インタフェース線aから転送される信号)の組
合せにより8通りの論理状態STA〜STHが決定され
るもので、その論理状態STA〜STHは第4図に示す
組合せで決定される。
又、これら論理状GSTA〜5TIIが取りうる遷移状
態は、第5図に示す通りであり7例えば、論理状態ST
Aが取りうる遷移状態は、 STB、STE’、STG
の3通りである。
態は、第5図に示す通りであり7例えば、論理状態ST
Aが取りうる遷移状態は、 STB、STE’、STG
の3通りである。
クロックCLKは、I10装置2の内部クロックであり
、この周期は論理状態が変化する周期より高い周波数を
用いているものとする。又、フリップフロップ回路(以
下F、F回路と称する)9はクロックCLKの分周器で
あり、信号17GsLはクロックCLKの172の周波
数の信号である。
、この周期は論理状態が変化する周期より高い周波数を
用いているものとする。又、フリップフロップ回路(以
下F、F回路と称する)9はクロックCLKの分周器で
あり、信号17GsLはクロックCLKの172の周波
数の信号である。
今、初期の論理状態をSTAとすると、信号RGSI、
が”H(ハイ)”の時は、レジスタ(REG) 12に
言命理信号S1〜S3の組合せにより決まる論理状BS
TAがセットされ、信号RGSLがL(ロウ)”の時は
。
が”H(ハイ)”の時は、レジスタ(REG) 12に
言命理信号S1〜S3の組合せにより決まる論理状BS
TAがセットされ、信号RGSLがL(ロウ)”の時は
。
レジスタ(REG) 13に論理状gsTAがセットさ
れる。
れる。
もし、論理信号31〜S3の組合せ状態が変化した場合
、即ち、論理状態STB、STE又はSTGのいずれか
に変化すると、レジスタ(REG) 12とレジスタ(
REG) 13との出力状態が不一致となる状態が発生
し。
、即ち、論理状態STB、STE又はSTGのいずれか
に変化すると、レジスタ(REG) 12とレジスタ(
REG) 13との出力状態が不一致となる状態が発生
し。
比較器(以下CMPと称する)14の出力が′L゛とな
る。
る。
尚、この“L”はクロックCLKの一周期間のみで1次
のクロックCLKの立上がりでは、再びレジスタ(RE
G) 12とレジスタ(REG)13との出力状態は一
致する。又、これらの動作状態は第2図に示す通りであ
る。
のクロックCLKの立上がりでは、再びレジスタ(RE
G) 12とレジスタ(REG)13との出力状態は一
致する。又、これらの動作状態は第2図に示す通りであ
る。
次に、エラー検出動作につき説明する。
デコーダ(以下DEC’と称する)16は第4図に示す
8通りの論理状態を具現化したものであり、レジスタ(
REG)20は現在の論理状態(例えば、論理状態5T
A)から遷移可能な論理状態(例えば、論理状態STB
、STE、STG )を記憶する。
8通りの論理状態を具現化したものであり、レジスタ(
REG)20は現在の論理状態(例えば、論理状態5T
A)から遷移可能な論理状態(例えば、論理状態STB
、STE、STG )を記憶する。
例えば、現在の論理状態がSTBであれば、遷移可能な
論理状態は第5図に示す通り、 STA、STC,ST
Gの3i11りである。従って、レジスタ(REG)2
0は否定論理積回路17の出力の立上がりで論理和回路
18より入力される遷移可能な論理状l5TA、 ST
C,STGのビットをセットする。
論理状態は第5図に示す通り、 STA、STC,ST
Gの3i11りである。従って、レジスタ(REG)2
0は否定論理積回路17の出力の立上がりで論理和回路
18より入力される遷移可能な論理状l5TA、 ST
C,STGのビットをセットする。
尚、*CLKはクロックCLKの負論理状態信号を。
* CKR3TはF、F23の非リセツト状態信号をそ
れぞれ示す。
れぞれ示す。
レジスタ(REG)20にセットされ、論理積回路19
に出力される予測論理状gPsTA、PSTC,PST
Gのビットと、DEC16から出力される論理状態(S
TA〜5TI(の内の1つが出力される)のビットが1
つも一致しなかった場合、 F、F回路23がセットさ
れ、シーケンスエラー信号5QCKを出力する。
に出力される予測論理状gPsTA、PSTC,PST
Gのビットと、DEC16から出力される論理状態(S
TA〜5TI(の内の1つが出力される)のビットが1
つも一致しなかった場合、 F、F回路23がセットさ
れ、シーケンスエラー信号5QCKを出力する。
第3図はエラー検出の一例を示すもので、論理状態が遷
移すると、クロックCLKの一周期間はCMP14の出
力信号CPが“L”レベル(*CPで表示)となる。こ
の時、現在の論理状態(即ち、 DEC16の出力)と
、予測論理状態(即ち、レジスタ(REG)20の出力
)とが比較され、もし不一致となればクロックCLKの
立下がりでF、F回路23がセットされる。尚、レジス
タ(REG)20は信号CPの立上がりで更新される。
移すると、クロックCLKの一周期間はCMP14の出
力信号CPが“L”レベル(*CPで表示)となる。こ
の時、現在の論理状態(即ち、 DEC16の出力)と
、予測論理状態(即ち、レジスタ(REG)20の出力
)とが比較され、もし不一致となればクロックCLKの
立下がりでF、F回路23がセットされる。尚、レジス
タ(REG)20は信号CPの立上がりで更新される。
以上のような本発明によれば、I10インタフェースの
論理状態の遷移状態をチェックし、エラーを上げること
により、不当な論理状態遷移によるI10インタフェー
スの混乱を未然に防止することが可能となる。
論理状態の遷移状態をチェックし、エラーを上げること
により、不当な論理状態遷移によるI10インタフェー
スの混乱を未然に防止することが可能となる。
第1図は本発明に係る一実施例を示す遷移状態チェック
回路のブロックダイヤグラム図。 第2図は本発明に係る遷移状態チェック回路のタイミン
グチャート図。 第3図は本発明に係る遷移状態チェック回路のエラー検
出のタイミングチャート図。 第4図は3つの論理信号から8通りの論理状態を 、決
定する図。 第5図は論理状態遷移図。 第6図は磁気ディスク装置の制御システム図。 をそれぞれ示す。 図において。 1は制御装置、 2はI10装置。 3はI10インタフェース部。 4は制御部、 5はI10デノ\イス部。 6、12,13.20はレジスタ(REG) 。 7はデバイス制御回路、 8はディスク。 9.23はF、F回路。 10.11,19.22は論理積回路。 14は(:MP、 ’ 15a、
15bはインノ\−タ。 161デコーダ、17は否定論理積回路。 18は論理和回路、21は否定論理和回路。 をそれぞれ示す。
回路のブロックダイヤグラム図。 第2図は本発明に係る遷移状態チェック回路のタイミン
グチャート図。 第3図は本発明に係る遷移状態チェック回路のエラー検
出のタイミングチャート図。 第4図は3つの論理信号から8通りの論理状態を 、決
定する図。 第5図は論理状態遷移図。 第6図は磁気ディスク装置の制御システム図。 をそれぞれ示す。 図において。 1は制御装置、 2はI10装置。 3はI10インタフェース部。 4は制御部、 5はI10デノ\イス部。 6、12,13.20はレジスタ(REG) 。 7はデバイス制御回路、 8はディスク。 9.23はF、F回路。 10.11,19.22は論理積回路。 14は(:MP、 ’ 15a、
15bはインノ\−タ。 161デコーダ、17は否定論理積回路。 18は論理和回路、21は否定論理和回路。 をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 複数の信号の組合わせで論理状態を表す回路において、
前記論理状態を順次記憶する第1の記憶手段と、前記第
1の記憶手段に記憶された該論理状態を比較して、該論
理状態が遷移したことを検出する比較・検出手段と、所
定の論理状態から遷移可能な論理状態を予測する予測手
段と、前記予測手段により作成された予測論理状態を記
憶する第2の記憶手段とを設け、所定論理状態から遷移
した遷移論理状態が前記所定論理状態に対応する該予測
論理状態と比較して、その正当性を検出することを特徴
とする遷移状態チェック回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59267920A JPS61165159A (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 遷移状態チエツク回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59267920A JPS61165159A (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 遷移状態チエツク回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61165159A true JPS61165159A (ja) | 1986-07-25 |
JPH0135375B2 JPH0135375B2 (ja) | 1989-07-25 |
Family
ID=17451451
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59267920A Granted JPS61165159A (ja) | 1984-12-19 | 1984-12-19 | 遷移状態チエツク回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61165159A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01280843A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-11-13 | Tandem Comput Inc | 状態マシンチェッカー |
JPH0292535U (ja) * | 1989-01-06 | 1990-07-23 | ||
JP2008152544A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Hitachi Ltd | 制御用マイクロコンピュータの検証装置および車載用制御装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519543A (ja) * | 1974-07-13 | 1976-01-26 | Fujitsu Ltd |
-
1984
- 1984-12-19 JP JP59267920A patent/JPS61165159A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS519543A (ja) * | 1974-07-13 | 1976-01-26 | Fujitsu Ltd |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01280843A (ja) * | 1987-11-30 | 1989-11-13 | Tandem Comput Inc | 状態マシンチェッカー |
JPH0292535U (ja) * | 1989-01-06 | 1990-07-23 | ||
JP2008152544A (ja) * | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Hitachi Ltd | 制御用マイクロコンピュータの検証装置および車載用制御装置 |
JP4496205B2 (ja) * | 2006-12-18 | 2010-07-07 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 制御用マイクロコンピュータの検証装置および車載用制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0135375B2 (ja) | 1989-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6327207B1 (en) | Synchronizing data operations across a synchronization boundary between different clock domains using two-hot encoding | |
US6553448B1 (en) | Method for unit distance encoding of asynchronous pointers for non-power-of-two sized buffers | |
US8510503B2 (en) | Ring buffer circuit and control circuit for ring buffer circuit | |
US8675425B2 (en) | Single-strobe operation of memory devices | |
US20070230266A1 (en) | Methods of DDR receiver read re-synchronization | |
JP2000083015A (ja) | クロック信号に対してデ―タ信号の遷移を判断することによりデ―タ分析を改善する信号比較システム及び方法 | |
US20070047687A1 (en) | Phase detector and related phase detecting method thereof | |
TWI460728B (zh) | 記憶體控制器、記憶裝置以及判斷記憶裝置之型式的方法 | |
US20020087930A1 (en) | Scan flip-flop circuit capable of guaranteeing normal operation | |
US11762017B2 (en) | Performing scan data transfer inside multi-die package with SERDES functionality | |
JPS61165159A (ja) | 遷移状態チエツク回路 | |
JP2004045090A (ja) | 半導体集積回路 | |
KR100826496B1 (ko) | 반도체 집적 회로 장치 및 그 동작 방법 | |
TW419897B (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US7822905B2 (en) | Bridges capable of controlling data flushing and methods for flushing data | |
US20130054937A1 (en) | Apparatuses and methods for providing data from multiple memories | |
US6216189B1 (en) | Error master detector | |
US20120075262A1 (en) | Under-run compensation circuit, method thereof, and apparatuses having the same | |
TW201447332A (zh) | 半導體裝置 | |
US20040123004A1 (en) | An improved fifo based controller circuit for slave devices attached to a cpu bus | |
CN110781118B (zh) | 实现并行总线从模式的方法及装置、计算机设备、介质 | |
US10684797B2 (en) | Command-in-pipeline counter for a memory device | |
US7058752B2 (en) | Hardware detected command-per-clock | |
JP2005101771A5 (ja) | ||
KR100207481B1 (ko) | 데이터 검출을 위한 검출 시간 조정 장치 |