JPS61158943U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61158943U JPS61158943U JP4233785U JP4233785U JPS61158943U JP S61158943 U JPS61158943 U JP S61158943U JP 4233785 U JP4233785 U JP 4233785U JP 4233785 U JP4233785 U JP 4233785U JP S61158943 U JPS61158943 U JP S61158943U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- wafers
- identification code
- code mark
- semiconductor wafers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims 4
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims 1
Landscapes
- Packaging Frangible Articles (AREA)
Description
図面はいずれも本考案の実施例を示すものであ
り、第１図はキヤリアーの要部斜視図、第２図は
装置全体の使用状態を示す正面図、第３図は識別
コードマークの配列を示す斜視図、第４図は光セ
ンサーの投受光状態を示す部分斜視図である。 〔符号の説明〕、１…半導体ウエハー、２…キ
ヤリアー、３，４…突起群（識別コードマーク）
、５…コンベア、６…センサーヘツド、７，８…
光センサー、７…センサ制御ユニツト。
り、第１図はキヤリアーの要部斜視図、第２図は
装置全体の使用状態を示す正面図、第３図は識別
コードマークの配列を示す斜視図、第４図は光セ
ンサーの投受光状態を示す部分斜視図である。 〔符号の説明〕、１…半導体ウエハー、２…キ
ヤリアー、３，４…突起群（識別コードマーク）
、５…コンベア、６…センサーヘツド、７，８…
光センサー、７…センサ制御ユニツト。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 多数の半導体ウエハーを収納し、該ウエハーに
対して各種の表面処理や洗浄および検査等を行う
ために各工程間をコンベアで搬送させるキヤリア
ーにおいて、 前記キヤリアーは表面を凹凸状に成形加工して
識別コードマークが個別に付与され、該識別コー
ドマークを光センサーで検知して判別せしめたこ
とを特徴とする半導体ウエハー用キヤリアーの判
別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4233785U JPH0754996Y2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 半導体ウエハ−用キャリア−の判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4233785U JPH0754996Y2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 半導体ウエハ−用キャリア−の判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61158943U true JPS61158943U (ja) | 1986-10-02 |
| JPH0754996Y2 JPH0754996Y2 (ja) | 1995-12-18 |
Family
ID=30553001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4233785U Expired - Lifetime JPH0754996Y2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 半導体ウエハ−用キャリア−の判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0754996Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012007942A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 位置測定装置 |
-
1985
- 1985-03-26 JP JP4233785U patent/JPH0754996Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012007942A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Fuji Xerox Co Ltd | 位置測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0754996Y2 (ja) | 1995-12-18 |
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