JPS6115353A - チツプ冷却装置 - Google Patents

チツプ冷却装置

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JPS6115353A
JPS6115353A JP6402985A JP6402985A JPS6115353A JP S6115353 A JPS6115353 A JP S6115353A JP 6402985 A JP6402985 A JP 6402985A JP 6402985 A JP6402985 A JP 6402985A JP S6115353 A JPS6115353 A JP S6115353A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、集積回路(IC)チップなどの小型の発熱性
電子装置の伝導冷却、さらに詳しくいえば、ICチップ
と放熱器(ヒートシンク)の間に熱抵抗が極めて小さい
経路を備えた冷却装置に関するものである。
ここでは、熱抵抗R−△T/Q  と定義する。ただし
△Tは温度差、Qは離れた2つのセクション間の熱流量
である。この関係式は、フーリエの伝導方程式Q−KA
(△T/L)から導いた結果である。ただし、Aは熱流
に対して垂直々断面積、Lは熱が流れる距離、Kは媒体
の熱伝導率である。
〔開示の概要〕
熱を放散する集積回路チップを燃伝導モジュール中の放
熱板に熱的に結合して、チップから放熱板への熱抵抗経
路を最小に抑えてチップを効果的に冷却するための装置
が開示されている。この装置は、チップ背面にばねで載
荷された。底面が平坦な円錐台形の熱伝導中実ディスク
と、との円錐台形ディスクと共用的にかみ合う連続する
テーバ形壁面のついた開口を備えた熱伝導性ハント部材
を組み合わせたものである。ディスクとハントの間の隙
間は、熱伝導度の大きいグリースの薄い層がつめてあシ
、ディスクとハントの間の小さな界面熱抵抗と機械的フ
レキシビリティを与える。チイプの冷却をさらに高める
ため、チップ背面とディスク基部の間に熱伝導度が大き
く融点が低い自己回復性合金が設けられ−る。
〔従来技術〕
チップ・レベルでの大規模集積(LSI)と、超大規模
集積(vLSI)、および単一の多層セラミック(ML
C)基板上に複数のチップをパッケージすることによ−
るモジュール・レベルテノ大規模集積の導入により、単
位容積当シの回路数が大幅に増加し、同時にその熱流束
密度も増大した。
伝えIr! 、チップ・レベルおよびモジュール・レベ
ルでの集積の結果、回路密度は1m 当λ5X107回
路にも達し、チップ・レベルで1000 KW/m 2
のオーダーの熱流束密度の熱を除去する必要が生じた。
この高い熱流束密度を除去するため、様々な熱放散手段
が調べられてきている6そのうち、熱伝導モジュール(
TCM)として具体形さ九、米国特許第3993123
号等で開示されているガス封入式伝導冷却法は、これま
で最も有利な方法であるとの定評がある。
この先行技術にもとづくTCM%Il立体の各コンポー
ネントを第2図に概略的に示す。10はMLC基板であ
る。1例では、基板10は面積が90X 90 mmで
55層1での層を含み、典型的な場合、100個]1で
の論理チップ11、寸たは11a個までの論理チップと
アレイチップの組合せに対して、放散と配線をもたらす
ことができる・基板10には、典型的な場合約1800
本の入出力ピン12がその底面にろう付けされていて、
次のレベルのパッケージに接続できるようになっている
基板1G上の各チップについて1つずつの円筒形ピスト
ン1ろが、ばね14で押されて各チップの背面と接触す
るようになっており、カバーないしハツト15と冷却板
16からなる水冷式ノ・ウジノブへの主な熱伝導経路を
もたらす。冷却板16には、水が循環するだめの適当な
チェンバーがついている。ワックスで被覆され、ノ・ッ
ト15と基板フレーム18の間に圧縮された金属製のC
IJソング7が、再力U工可能な気密シールを形成して
いる・圧力約16気圧のヘリウム・ガスが密封されたモ
ジュールの界面’M41間に導入されて、伝熱媒体とし
て働き、チップからノ・ットへの熱伝導を向上させる。
ピストン13のチップ11に直接接触する面は、チップ
の傾斜による偏心接触を最小限に抑えるため150mm
の球半径に機械加工さ扛ており、そrによって均一なチ
ップ温度とチップに対する機械的応力の減少をもたらし
ている。
TCMの熱性能を分析するに当って、便宜」二第6図ヲ
参照する。第6図はTCMの単一チップ・ユニントヲチ
ソプ11か−ら冷却板16への種々のセグメントに分割
さ扛た熱径路の熱抵抗を断面図として表したものである
。Rextは、外部熱抵抗を表し、このモジュールに関
しては次のように定義される。
ただし、ΔTh −i wは、ハント15と人ロウエバ
の温度差であり、Pmはモジュール電力である。
Rextば2つの部分、すなわちノS、−ソト15と冷
却板16の対向面との間の界面抵抗、および冷却板表面
と冷却板内部の循ノ賀水との間の抵抗に分けられる’ 
Rintは、TCM7)内部熱抵抗を表し1次のように
定義される・ ΔTc−h Rint=  pc たたし、△Tc−hケL チップ11と71ツト15の
頂部の温度差であり、PCはチップ電力である・Rin
tは、Ro・Rc、−p、Rt、Rp−5、55つの成
分抵抗から構成されている・Rcは、チップの内部抵抗
を表し、Rはチップ11とピ −p ストン1ろの界面の熱抵抗であり、Rtは、ピストン1
ろの熱抵抗であり、R,−hはピストン13とハツト1
50間の熱抵抗であり、Rh・ri/・ツト15の熱抵
抗を表す。
千ツブ11とピストン13の界面の熱抵抗R6−1は、
接触する固体および界面ヘリウム・カス媒体の多数の形
状特性、物理特性および熱特性の複雑な関数である。R
c−2は、多数の小さな金属接触領域の伝導抵抗、隙間
の熱放射抵抗お°よび界面ヘリウム・ガス媒体の熱伝導
抵抗の5種の並列熱抵抗から描成される。この5種の抵
抗のうちで最後のものが最も小さ−く、最も優勢な熱伝
導経路は、界面ヘリウム・ガス中を通る熱伝導である。
ピストン13とハツト15の間の熱抵抗R,−5は、ピ
ストン130半径と長さ、ピストン13とハツト15の
間の環状の隙間、ノ・ット15の断面積、ピストンと・
・ットの温度および熱伝導率を含めて、いくつかのパラ
メータの関数である。
上記の各種熱抵抗の典型的な値は次の通りである。R二
O,43°C/W、R=λ9°C/W、R。
 −p = 1.02°COW、 Rp−h−λ15°C/W、
R−tss’COWで、合計するとモジュールの線内部
抵抗Rintは808°C/wとなる。Rextは、典
型的な場合約0,158C7’Wである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
先行技術にもとづ<TCMは、これらの熱抵抗が極めて
小さいにもかかわらず、熱伝導素子例えばピストンやハ
ツト組立体の特別な形状とサイズのために、ICチップ
から冷却板に熱を伝達して、チップ温度を必要とされる
40°Cから85°Cの範囲に維持する能力の点で固有
の限界がある。特にて、現在考えられている消費電力が
5Dクワット上のVLSIチップの場合・)1そうであ
る。上記の先行技術によるTCMのもう一つの欠点、り
ま、チップとピストンとの間の界面、およびピストンと
・・ットの間の環状部に充分なレベルのヘリウム・カス
を使うことが熱設計上どうしても必要なことである。ヘ
リウムはガスとして秀れた熱′時性をもち不活性で無毒
で不燃性であるが、外へもれないように封入するのが極
めて困1酊である。その土、分子流動状態では、ヘリウ
ムが漏れ出すのと同時に空気が封入部分に入り、そのた
めにTCMの高い製品性能が、時間に依存するその気密
特注に依存するようになる。
特に冷却能力の点で将来の用途に合せてかなり拡張でき
るT CMを提供することが、本発明の目的である・ C問題点を解決するだめの手段〕 上記の目的およびそれに関連するその他の目的と利点は
、本明細書で開示する熱伝導ディスクとハツトの組み合
せを使うことによって達成できる。
本発明り一つの良好な実施例では、熱伝導ディスクは、
平坦な底面を有する円錐台形をしており、ばねでチップ
の方へ押しつけられて、その平坦な1i\4面が冷却す
べきチップの背面と接触するようになっている。・・ソ
トも熱伝導性でありその底部には熱伝導ディスクを共形
的に受けるためのテーパ開口がついている。ノ・ットと
ディスクの対向するテーパ面の間の隙間には、熱伝導性
グリースがつまっていて、ディスクとノ・シト間の界面
熱抵抗を小さくするだけで庁<、チップへの衝撃荷重に
対する有効な緩衝媒体としても働くようになっている。
ハツトに熱的に結合された放熱板が、ICチップからデ
ィスクを経てノ・ットに伝えられた熱を取り除く。
チップの冷却をさらに向上させるため、融けると低い界
面熱抵抗をもたらす、自己回復性の熱伝導度が高く融点
の低い合金の薄い共形層が、チップとディスク底面の間
に設けられる。
〔実施例〕
本発明にもとづく熱伝導モジュールに特有の基本要素を
第1図に示す。第1図において、ICチップを数字20
で示すが、これは熱を急速に放散することによって特定
の温度範囲に保つことが望捷れるものである。チップ2
0は、はんたボール接続22を介して多層セラミック基
板21上に表面を下にして取りつけられている。すなわ
ちチップの集積回路を含む表面が、基板21に下向きに
取りつけられている。中実円錐台形で底面が平坦な熱伝
導ディスク23力!、その平坦な底面がチップ20の背
面に接触するように、チップ2Gの上に取りつけられて
いる。IC千ツブ2Dの背面は、典型的な場合、凹凸が
約0.25 ミクロン以内の平坦度である。ディスク2
3の底面も、チップの平坦度に匹敵する極めて高い平坦
度に機械加工されており、そのため組み立そたとき、こ
の2つの接触面の間の隙間が最小限に抑えられる。チッ
プ表面とディスク25の底面の間の隙間が小さいほど、
それらの間の熱抵抗も小さくなる。ディスク23の底面
の表面積は、チップ20の背面の表面積よりも一般に大
きくして、はんだボール接続22が不完全なためにチッ
プ20が傾斜しても、ディスク2ろの基部がチップ20
と連続的接触を維持できるようになっている。
ディスク2′5の底部にはリップ24がついていて、デ
ィスク23の斜壁を越えて伸びている。
ディスク25の頂部には、圧縮ばね26を収容するため
のばね保持用開口25がある。このばね26は、熱伝導
ディスク23に力を加えてチップ20に押しつけ、それ
らの間の熱伝導接触を良くするためのものである。
円錐台形ディスク23の上には、それと共形の熱伝導ハ
ツト部材(以下、単にハツトという)27があり、連続
するテーパ側壁28および基本的に平坦な天井29を備
えた開口がそれに設けられている。側壁28のテーパ角
は、第1図に示しだディスク25のテーパ面50のテー
パ角θ、と厳密に一致している。天井29は、圧縮ばね
26の上部を保持するだめの円形スロット≦1を含んで
いる。ハツト27は、水冷式冷却板の形の放熱板に取り
つけるだめの上面52を備えている。別法としてハツト
27に、そこから伸びる犬き々フィンをつけ、冷たい空
気をその上に吹きつけて・・ットから熱を放散させるこ
ともできる。
ハツト27のテーパ面28とディスク2ろのデーパ面ろ
0の隙0間は一定の寸法tであるが、その中に熱伝導性
の高いグリースろ5を入れる。このグリースは、熱抵抗
が(チップ面積4.5X4.5mmの場合)厚さ25ミ
クロン(1ミル)当り1〜12’C/ワツトと小さく、
狭い隙間に詰捷ってち密なパックを形成し、ディスク2
5とハツト27の間の熱伝導接触をよくすることができ
るような粘性をもつものである。
第1図に示したハツト27とディスク2ろの組立体の共
形テーパ面28と50が有効に働くファクタがいくつか
ある。第1に、ディスク23とハツト270間の接触面
積が最大になる。典型的な場合、テーパ接触表面積は千
ッグ20の面積の約5〜10倍になる。このようにディ
スク23とハツト27の間の接触面積が最大になると、
ディスク2ろからハツト27への熱流束の除去が最大に
なる。とのテーパ形配置のもう一つの利点は、最も有利
なチップ荷重条件と機械的フレキシビリテをもたらすこ
とである。この点を堀り下げるために第1図と第4図を
参照すると、ディスク23に対する・・ット27の垂直
移動距離りは、表面28と50の間の隙間のグリースの
厚さtと、三角方程式h−t−3ecθで関係づけられ
る。テーパ角θが大きく、典型的な場合90°に近いの
で、ディスク2ろはハツト27内でグリースの厚さtの
小さな変化に対して大きな垂直距離りだけ移動すること
ができ、したがって機械的フレキシビリティがもたらさ
れる。有利なチップ荷重については、再度第1図と第4
図を参照すると、ハツト27が垂直方向の荷重下(ばね
26の圧縮力)を与えるとき、この荷11、F  = 
F−c o sθの形でFに関係つけられた圧縮力F 
とF  =FesinθのCろ 形で与えられるせん断力F の2成分としてディスク2
5Kにかかる。テーパ角θは典型的な場合90°に近い
ので、荷重Fは生々してぜん断力F8としてディスク2
5に伝わるが、限られた圧縮力F がディスク2ろにか
かるのでディスク2ろと・・ツト27の間の良好な熱伝
導接触が確保される。
良好なテーパ角θの範囲は、85°≦θ〈9D0である
。θか85°より小さいと、圧縮力F が大きくなりす
きで、表面28と30の間に厚いグリース層が必要にな
る。そのようにグリース層か厚いと、ハント27とディ
スク2ろの間の熱経路が非効率になる。θ−90°だと
、ハント27からディスク25にかかるすべての力がぜ
ん断力になり、圧縮力はなくなるので、かみ合う2つの
要素25と27の間の熱伝導接触がかなり悪くなる。
熱伝導ディスク23と共形ハツト27の組立体の基本的
特徴が、第5図と第6図に図示しである。
この両図は、それぞれ初期および最終の組立体の特徴を
示したものである。初期状態では、基板21と・・ット
27の間がδ1と大きく離れており、グリース33の厚
さが不均一なだめに、ディスク23はチップ20上で自
由に旋回し、充分に着座することができる。組み立てる
と、基板21とハラ)・27の間がδ2と小さくなるが
、所与の接触荷重Fのとき、表面28と30からその間
のグリースろ5にかかる互いに反対向きのせん断力によ
って、最初の着座位置を保ったま捷でグリース3ろの厚
さが減る。組み立て中に起こるグリースの流動は、ディ
スク25がハツト27に押し入るときハツトのテーパ面
28がもたらすより大きな押出し抵抗を利用して、Fの
チップ領域ではなく、パット領域すなわちハツト27の
天井29とディスク2ろの頂面の間の領域に入るように
制御できる。その上、゛組み立て中にグリースが下へ流
れても、チップ領域に達せずディスク2ろの底部の突き
出したリップ24にう寸〈留まる。典型的な場合、ばね
2乙の圧縮を介して約100〜150gの接触荷重がか
かれば、必要な熱伝導接触をもたらすのに充分である0 ディスク23とその上を覆うノ・ット27の製造に使用
できる典型的な材料は、アルミニウム、銅、銀、炭化ケ
イ素などである。銅は質量密度と熱伝導度が大きいので
、ディスク2ジの製造に特に適している。
熱伝導ディスク250寸法は、冷却すべきチップ20の
サイズと消費電力によって決まる。例えば、チップφサ
イズ4.5X4.5mm  の50ワツトのチップから
効果的に熱を放散するには、高さ約0.75cm、ディ
スクの円錐部分の平均直径が約0.65cmで、円錐部
分の表面積が4.5cm の銅製ディスクが必要である
第1図、第5図および第6図に示した、間に熱グリース
界面を設けた熱伝導ディスク23と・・ット27の組合
せを利用すると、先行技術による底面が曲った円筒形ピ
ストンとピストンを密閉するだめの直壁状開口を備えた
ノ・ットを利用した、ガス封入式構造に比べて、チップ
とノ1ット頂部の間の熱抵抗Rを、約りに減らすことが
できる・+nt 本発明では、第1図、第5図および第6図に示、すよう
な熱伝導度が大きく融点の低い自己回復性合金利料34
の共形界面層をチップ2oの背面とディスク23の底面
の間に設けることによって、チップ20とディスク2ろ
の間の熱抵抗をさらに減らし、チップ20から放熱板へ
の熱伝達をさらに向上させることができる。この合金材
料は、固相温度が85〜90°Cと低く、液相温度がi
i。
〜115°Cと低くて、チップ20とディスク23の間
の界面が破壊されるとき、自:己回復性界面をもたらす
。適切な合金材料34の例は、ロードアイランド州プロ
ピデンスのアクロニウム社から市販されているオスタロ
イ(Ostalloy)である。
これは、ビスマス(467%)、鉛(393%)、スズ
(124%)、インジウム(1,6%)から構成されて
いる。オスタロイは、固相温度88°C1液相温度11
00Cである。銅製ディスクに金属結合した厚さ25ミ
クロン(1ミル)のオスタロイ・コーティングの熱抵抗
は、0.1°C/w未満である。オスタロイは、単なる
はんだ付けまたはア−り成句けによってディスク23の
底面に塗布することができる。
界面合金層34は、チップ20とディスク25の接触面
の間で破壊を起こして熱抵抗の大きな経路を導入する恐
れのあるボイドをなくすることによって、ここに開示し
た構造の冷却能力を高める。
合金層34があると、界面が破壊された場合、その熱抵
抗が大きくなりチップ温度が上るが、チップ温度の上昇
が充分に大きくて合金層34の温度がその同相温度より
高くなれば、合金は再流動して共形界面を確立し、チッ
プ温度は正常範囲に戻る。
第1図および第4図ないし第6図に示した装置モデルで
、チップ20と熱伝導ディスク230間にオスタロイ界
面を使いディスク2′5とハツト270間に熱グリース
界面を使って熱実験を行った結果、この装置を使うと熱
抵抗Rintを先行技術 ゛にもとづくガス封入式装置
に比べて塊に減らせることが立証された。
本発明をその特定の良好な実施例に則して説明してきた
が、以上の説明に照らせば当業者なら多くの別法、修正
および変更をすぐ思いつくことは明白である。例えば、
熱伝導ディスクを、指ぬき形にして、内部側面領域をノ
・ットからの突起に対向させることができる。こうする
と、ノ・ット・グリース界面の面積がずっと大きくなり
、シたがって熱抵抗は小さく々るはずである。
〔発明の効果〕
以上寸とめると、円錐台形の中実ディスクとこのディス
ク−トに共形的にはめたテーバ開口を有する・・ットを
設け、その間の隙間に熱伝導度の大きいグリースの薄い
層をち密に詰めると、高電力のICチップから放熱板へ
熱を伝えるだめの簡単で効率的な秀れた熱伝導手段がで
きる。その熱伝達が秀れているのは、ディスクとハツト
の接触表面積が、これらの要素の独特の形のために極め
て大きくなるためである。熱伝達が効率的なのは、これ
らの大きな表面の間にグリース界面が設けられているた
めである。ICチップとディスク底面の間に融点が低く
熱伝導度の高い独自の合金界面を設けると、熱伝達がさ
らに改良される・単一チップを冷却するための単一のデ
ィスク・ハツトの組合せに焦点を当てて本発明を考察し
てきたが、本発明を利用してTCMを作成することによ
り、それを多数のチップの冷却に容易に拡張できる。こ
のようなTCMは、大規模システム働プロセッサの使用
によって課される、温度、湿度、パワー・オン/オフ、
マシン寿命、故障率その他各種の機械要件などの適用要
件を容易に充たす。
このように設計したTCMは、効率的な冷却経路をもた
らす上に、ICチップを機械的におよび環境上充分に保
護する。
すなわち、本発明にもとづいて、王妃に設定した目的と
利点を完全に満足する、改良された単一チップまだは複
数チップ用熱冷却装置が実現された0
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明にもとづく新規な特徴を示す熱伝導デ
ィスクを組み込ん、だ、熱伝導モジュールの実施例の部
分断面図である。 第2図は、従来の熱伝導モジュールの分解斜視図である
。 第5図は、ICチップと放熱板の間の熱経路における様
々々熱抵抗を示す、従来の熱伝導モジュールの一部の断
面図である。 第4図は1本発明の熱伝導モジュールの熱伝導ディスク
とその上のハツトのテーパ面の一部において、これらの
テーパ面の間のグリース界面の厚さ、ハツトのディスク
に対する垂直移動距離、およびテーパ面のテーパ度の幾
何的関係を示す図である。 第5図および第6図は、異なるモジュール組立て段階を
示す、第1図と同様の部分断面図である。 本発朗 f 1 図 牟(禾J支本生 才 2 図 16、 才3 圀

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 冷却すべきチップの背面に接触する平坦な底面を持つた
    円錐台形の熱伝導ディスクと、内面が前記ディスクのテ
    ーパ面に対向するテーパ面になつている熱伝導性のハッ
    トと、前記ハツトと前記ディスクの間に設けられ、前記
    ディスクを前記チップに押しつける手段と、前記ディス
    クおよび前記ハットのテーパ面間の隙間につめ込まれた
    熱抵抗低減用のグリースと、を設けたことを特徴とする
    チップ冷却装置。
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