JPS61145421A - 旋光分散・円二色性同時測定装置 - Google Patents

旋光分散・円二色性同時測定装置

Info

Publication number
JPS61145421A
JPS61145421A JP26815784A JP26815784A JPS61145421A JP S61145421 A JPS61145421 A JP S61145421A JP 26815784 A JP26815784 A JP 26815784A JP 26815784 A JP26815784 A JP 26815784A JP S61145421 A JPS61145421 A JP S61145421A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
circular dichroism
component
polarizer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP26815784A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6342212B2 (ja
Inventor
Youji Shindou
神藤 洋爾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jasco Corp
Original Assignee
Japan Spectroscopic Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Spectroscopic Co Ltd filed Critical Japan Spectroscopic Co Ltd
Priority to JP26815784A priority Critical patent/JPS61145421A/ja
Publication of JPS61145421A publication Critical patent/JPS61145421A/ja
Publication of JPS6342212B2 publication Critical patent/JPS6342212B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/19Dichroism

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は各種試料の旋光分散と円二色性を測定・する
装置に関し、特に旋光分散と円二色性を同一のシスムで
同時に測定する装置に関するものである。
従来の技術 媒質中を左円偏光と右円偏光とが異なった速度で伝播す
る結果、その合成された直線偏光は光の進行方向に対し
て垂直な面で回転する。この回転を旋光と称し、その角
度を旋光度として表わす。
この旋光度を波長の関数゛として測定する装置が旋光分
散計(ORD装置)として従来から知られている。
従来の旋光分散計としては、例えば第5図に示すものが
代表的である。この旋光分散計は、特定波長の光の偏光
面をfHzで振動させ、試料透過後の光に対応した検出
器からの出力中の2rH2の周波数成分の信号を一定に
保ちつつ、rl−Hzの周波数成分の信号を同期整流し
、その電圧を測定することによって試料の旋光角を求め
るものであり、この方法については特公昭58−235
77号公報に開示されている。
第5図の旋光分散計についてざらに具体的に説明すると
、光11i1からの光をモノクロメータ2に入射させて
そのモノクロメータ2で特定波長の光。
を選び、さらにその特定波長の光(単色光)から偏光子
(ポーラライザ)3で直流偏光成分を選び出し、ファラ
デーセル4によって直線偏光の偏光面を、角度±δラジ
アンだけ周波数fHzのサイン波形で振動させる。12
はファラデーセル4のコイルに、前記サイン波形の電流
を流すための駆動回路である。ファラデーセル4から出
た、偏光面が振動する直線偏光は、試料5を透過した後
、前記偏光子3に対して直交状態に配置された検光子(
アナライザ)6を経て光電子増倍管(フォトマルチプラ
イヤ)等の光検出器7に入射され、電気信号に変換され
る。光検出器7からの出力は前置増幅器8を経た後、2
f Hz成分だけが2fHz用増幅器9で増幅され、そ
の信号が検出器電源制御回路10に加えられて、21 
Hz成分が一定となるように光検出器7の感度を自動的
に制御する一方、前記増幅器8の出力中のf H,z成
分は、fHz用増幅器11によって増幅され、次いで同
期整流回路13で直流に変換し、この出力によって試料
の旋光角を求め、記録・表示器14によって記録表示さ
れる。
また旋光分散計としては、試料の旋光角に応じて検光子
(アナライザ)を回転させる光学的零位法を適用した機
械的な方法による装置も知られて 。
いる。
一方、右円偏光と左円偏光とが異なった吸収を受ける場
合、合成された偏光は楕円偏光となり、その場合媒質を
円二色性を有するという。この円二色性と旋光性とは一
般には同時に生ずることが多い。
すなわち、右円偏光と左円偏光とが、媒質中を異なった
速度で伝播する上に、それぞれが異なった吸収を受ける
場合、合成された偏光は楕円となり、しかも楕円の偏光
の長軸が回転する。これは、吸収度合の相違(円二色性
)と左右円偏光の透過速度の相違(旋光性)が相重なっ
て起きていることによる。
一方円二色性の測定に関しては従来からいくつかの方法
が知られているが、現在実用化されている装置のほとん
どは、電気光学効果を利用して左右の円偏光を交互に得
る方法を用いている。
従来の円二色性測定装置(CD装置)の−例を第6図に
示す。この装置の基本は特公昭41−2078号公報に
記載されているように、直線偏光された特定波長の光の
偏光状態を、右回りの円偏光から左回りの円偏光にそし
てその逆に周期的に変化させ、試料透過後の光に対応し
た検出器の出力中の直流成分を一定に保ちつつ、fH1
成分の信号を同期整流し、その電圧を測定することによ
り試料の円二色性を求めるものである。
さらに第6図の円二色性測定装置について具体的に説明
すると、この装置においては、光源1からの光をモノク
ロメータ2に入射させて特定波長の光を選び、さらにそ
の特定波長の光(単色光)を偏光子(ポーラライザ)3
で直線偏光とし、フォトエラスティック変調器15によ
って前記直線偏光を所定の変調周波数rで交互に左回り
の円偏光と右回りの円偏光とに周期的に変化させる。1
6は上記フォトエラスティック変調器15を駆動するた
めの駆動回路である。フォトエラスティック変調器15
を通過した光は、試料5を透過し、試料によって左右の
円偏光の異なる吸収を受けてフォトマルチプライヤ等の
光検出器7に入射され、電気信号に変換される。光検出
器7からの出力は、前記増幅器8を経た後、直流成分(
DC成分)だけがDC増幅器17で増幅され、その信号
が検出器電源制御回路10に加えられて、直流成分が一
定となるように光検出器7の感度を自動的に制御する。
一方前記光検出器7の出力中のfHz成分は、前記前置
増幅器8を経た後fHz用増幅器11によって増幅され
、次いで同期整流回路13により直流電圧に変換され、
その出力によって試料の円二色性が求められて記録・表
示器14によって記録・表示される。
ところで種々の波長に対する試料の旋光度、すなわち旋
光分散を求めれば、試料の吸収帯のところで旋光度の変
化すなわち異常分数(コツトン効率= Cotton効
果)゛が起こる。この旋光分散のコツトン効果と円偏光
二色性とは相補的な関係にある。そして円偏光二色性は
狭い波長範囲で有意な値を持つため、コツトン効果がい
くつも重なった場合にこれらを良く分離できる長所があ
る。一方吸収帯付近での測定が不可能な場合、旋光分散
は長波長側の測定からコツトン効果の位置と大きさを推
測できる長所を持っている。
これらの理由から、旋光分散針と円二色性測定装置とは
、それぞれの長所と短所のためにそれぞれ別個独立の装
置として発展して来た。
また円二色性と旋光分散とは、クラマース=クローニツ
ヒの変換式を用いることにより、相互に変換することが
可能であり、コンピュータを用いてこの変換を行なう試
みが行なわれている。しかしながら実際には他の活性遷
移による効果の見積りがむずかしく、未だ実用化できる
段階には至っていない。
発明が解決しようとする問題点 既に述べたように、実用化されている旋光分散針、円二
色性測定装置は、それぞれ別個の測定装置として発展を
とげている。そして従来のこれらの装置は、測定方法、
具体的手段も異なるため、両者を一つの装置に組込んだ
としても、光学系や電気系はそれぞれ旋光分散計用と円
二色性測定用の二つのシステムを必要とするため、大が
かりな装置となってしまう。
この発明は以上の事情を背景としてなされたもので、従
来の旋光分散針、円二色性測定装置の設計思想とは異な
る新規な設計思想を適用して、一つの光学系で光測定を
行なって電気的に処理することにより、旋光分散と円二
色性の両者を同時に測定することができ、しかも簡単な
構成でこれらを測定することができるようにした装置を
提供することを目的とするものである。
問題点を解決するための手段 この発明の旋光分散・円二色性同時測定装置は、単色光
束を直線偏光させる偏光子(ポーラライザ)と、その偏
光子を透過した、光の偏光状態を所定の変調周波数で、
右回りの円偏光、左回りの円偏光に交番的に変化させる
光学的偏光変調器と、その光学的偏光変調器から得られ
た光の光路に配置された試料室と、その試料室を透過し
た光が透過する検光子(アナライザ)と、その検光子を
透過した光が入射してその光の強度を検出する光検出器
と、その光検出器の出力を処理する信号処理部とを備え
、前記光検出器の出力信号のうち前記光学的偏光変調器
における変調周波数に相当する周波数成分、および変調
周波数の2倍の周波数成分に基いて試料の円二色性およ
び旋光度を求めることを特徴とするものである。そして
ここで偏光子の光軸に対し、光学的偏光変調器の光軸と
検光子の光軸が45°の差を持つように各素子が配置さ
れる。
上述の装置構成において、例えば光源からの光をモノク
ロメータにより単色光束としてその単色光束を偏光子(
ポーラライザ)により直線偏光の光とし、さらにその直
線偏光の光を光学的偏光変調器により周波数fで左円偏
光、右円偏光に交互に変化させて、その変調された光を
試料、検光子(アナイザ)を透過させ、その透過光に対
応する光検出器の出力中の周波数「の信号成分および周
波数2fの信号成分を取出せば、周波数fの信号成分が
円二色性(CD : C1rcular Q 1chr
oisa+)に対応し、周波数2fの信号成分が旋光分
散(ORD)に対応し、したがって円二色性と旋光分散
を同時に求めることができる。
実施例 第1図にこの発明の一実施例の旋光分散・円二色性測定
装置を示す。
第1図において、光源1からの光をモノクロメータ2に
入射させて特定波長の光を選び、その単色光束を偏光子
(ポーラライザ)3に入射させて直線偏光させる。偏光
子3から出た直線偏光の光は、光学的偏光変調器15、
例えばフォトエラスティック変調器に入射されて、所定
の変調周波数fHzで左回りの円偏光、右回りの円偏光
に交番的に変化せしめられ、その偏光変調された光が試
料室20内の試料に照射される。試料を透過した光は検
光子(アナライザ)6を透過してフォトマルチプライヤ
等の光検出器7に入射され、電気信号に変換される。
ここで、前記光学的偏光変調器15は、その先軸が偏光
子(ポーラライザ)3の光軸(直線偏光面)に対し45
°の差をもって交叉するように配置される。すなわちZ
軸を光の進行方向とし、それに直交する面をX−Y面と
し、偏光子3の直線偏光面の方位角(アズミュス角)を
X軸から906とすれば、光学的偏光変調器15の方位
角は45゜となるように配置する。
また検光子(アナライザ)6の光軸は光学的偏光変調器
15の光軸と同方向となるよう、すなわち偏光子3の光
軸に対し45°の差で交叉するように配置する。すなわ
ち、偏光子3の方位角がX軸から90゛とすれば、検光
子の方位角は45゜となる。
前記光検出器7の出力は、前置増幅器8で増幅された後
、fHz成分はfH2用増幅器11によって増幅され、
2f H2成分は2fl−1z用増幅器9によって増幅
される。光学的偏光変調器1・5をfHzで変調駆動す
る駆動回路16には、変調周波数rt−+zに同期する
fHz同期信号発生器21および変調周波数fHzの2
倍の周波数の信号に同期する2f H7同期信号発生器
22が接続されており、これらの同期信号発生器21.
22からのfHz同期信号、2f Hz同期信号によっ
て、fH2同期信号整流器23.2f Hz同期整流器
24においてrH2成分、2fHz成分がそれぞれ同期
整流され、各成分の大きさに対応する電圧の直流信号に
変換される。
一方前置増幅器8の出力の直流成分は、直流増幅器25
によって増幅される。そして前記各同期整流器23.2
4のfH2成分直流出力、2f Hz成分出力と、直流
増幅器25の直流成分出力が演算・記録器26に入力さ
れ、fHz成分出力から円二色性が、また2rHz成分
出力から旋光分散が求められて記録される。例えばrH
z成分出力電圧が直流成分出力電圧により割算されるこ
とにより規格化されて、円二色性を表わす値として記録
され、2f Hz成分出力電圧が直流成分出力電圧によ
り割算されることにより規格化されて、旋光分数を表わ
す値として記録される。
理論尚解析 この発明は、以下に述べるような回折結果に基づいてな
されたものである。
偏光を4個のパラメータを持つストークスベクトルで表
現し、偏光素子等の光学素子や試料を、入射偏光のスト
ークスベクトルを射出偏光のストークスベクトルに変換
する素子と考えて、4×4の行列すなわちミューラ行列
で表わし、各素子および試料のミューラ行列の積を求め
ることにより、光検出器に入射する光強度を求める( 
r At)l)liedsDectrO8cOpy J
 Vol、 32. Ha 2.1978. P 19
2〜200参照)。すなわち、偏光子(ポーラライザ)
をミューラ行列で表わすとともに、その他の光学素子に
ついても直線位相子(リニヤリターダ−)、内位相子(
サーキュラ−リターダ−)、部分偏光子(パーシャルポ
ーラライザー)としてミューラ行列で表現し、さらに円
二色性(CD ; C1rcular Q ichro
ism)を持つ試料、直線二色性(LD :L 1ne
ar D 1chroisn+)を持つ試料を同じくミ
ュー91行列で表現し、光検出器に入射する偏光のスト
−ゲスベクトル(より正確には、光検出器の部分偏光特
性も考慮して光検出器で検出される偏光のストークスベ
クトル)を求める。そのために、入射偏光のストークス
ベクトルと各光学素子および試料を表わす各ミューラ行
列の積を求めて、これを光検出器で検出される偏光のス
トークスベクトルとする。なおここで光学的偏光変調器
をfH2で変調したとき、偏光変調器はその変調成分を
持つ直線位相子(リニヤリターダ)のミューラ行列と同
じこととなる。
このようにして求められた、検出器で検出される偏光の
強度のうち、光学的偏光変調成分を含まない直流成分、
光学的偏光変調と同じ周波数fHzを持つfH2成分、
その倍の周波数2fHz成分を導いた。このような解析
の結果、fHz成分には円二色性についての信号(CD
信号)が、また2f Hz酸成分は旋光力故についての
信号(ORD信号−CB倍信号が含まれていることが判
明した。  。
以下にさらに詳細な分析結果を説明する。
偏光のスペークスペクトル、各光学素子のミューラ行列
を次の様に表わす。
■0:モノクロメーターを出た所の位置での単色光のス
トークスベクトル。
P(α);偏光子(ポーラライザ)のミューラ行列。
但し、光の進行方向を2軸とし、X軸からの方位角(ア
ズミコス角)をαとする。
M(α、δ):光学的偏光変調器(直線偏光の位相遅れ
変調の場合)のミューラ行列。
但し、X軸からのアズミュス角をα、リターデイション
(位相遅れ)をδとする。
MR−F;光学的偏光変調器(円偏光の位相遅れ変調の
場合)の右円偏光位相遅れについてのミューラ行列。
ML;光学的偏光変調器(円偏光の位相遅れ変調の場合
)の左円偏光位相遅れについてのミューラ行列。
pp:光検出器に偏光特性がある場合の部分偏光のミュ
ーラ行列。
S:試料の円偏光に対する複屈折(CB SC1rcu
lar B irefringence)のミューラ行
列。
すなわち円二色性(CD)を持つ試料は、必ず円偏光に
対する複屈折(CB)を持ち、このCBは旋光分散(O
RD)と同じもので、そのミューラ行列を表わす。また
試料が直線二色性(l D: l 1near D 1
chroiss)を持つ場合、必ず直線偏光に対する複
屈折(LB:L 1near B 1refrinoe
nce)を持ち、そのミューラ行列も表わす。
A;検光子(アナライザ)のミューラ行列。
1 (d ’) ;光検出器における光強度。
光検出器における光強度成分は、上記の各ミューラ行列
を具体的に求め、そのミューラ行列の積を求めることに
よって得られる。
そこで上記の具体的表現を求めると、次のようになる。
・・・(3) 但し、PLxsPyはX軸及びY軸の透過率、aは方位
角(アズミュス角)である。
宙=ir< e−H・・・(7) ここで試料が円二色性(CD)と円偏光に対する複屈折
(CB)すなわち旋光分散(ORD)とを持つ場合、H
は次式で与えられる。
なおここで、γCは試料の平均吸収率、CDは円二色性
、CBは、円偏光に対する複屈折である。
また、試料が直線二色性(LD)と直線偏光に対する複
屈折(LB)を持つ場合、Hは次式となる。
以上のような各ミューラ行列を用いて従来の旋光分散測
定装置、円二色性測定装置、およびこの発明の装置にお
いての光強度を求める計算方法は、次のようなミューラ
行列の積となる。
(イ)従来の旋光分散測定装置(ORD)装置−第5図
参照): ファラデーセルを用いて偏光変調する場合は周期的な円
偏光変調であるから、ファラデーセルにおいて周波数f
 (角速度ω)で変調する場合のミューラ行列Fは次式
で与えられる。
δ=δoSinωt これを用いて、光検出器の出力は、次式を゛計算するこ
とにより求められる。
1 (d )=pp−A−F−8−P−1o     
−(13)(13)式の計算を行ない、光検出器の出力
の直流成分Vvc、fHz成分vf 、2f Hz成分
V2rを求め、Vf/Vpcより旋光分散(ORD)が
求められる。
また光軸に対して垂直に切り出した結晶石英板を光幅光
変調器として用いた場合のミューラ行列も、ファラデー
セルと同じとなり、(14)式の解析を行えば、出力を
計算できる。
さらにポーラライザを機械的に振動させて変調する場合
のミューラ行列は、(2)式を用いて次式となる。
δ=ろosinωt この場合の光検出器の出力の計算は、次式で求められる
1 (d )−pp−A−3−P−Io      ・
・・(15)(15) 式(7) it 算ヲ行ナイ、
VD(: 、 Vf 、V2f成分を求め、V 2f/
 V fより°ORDを求める。
(0)従来の円二色性測定装置(CD装置=第6図参照
): フォトエラスティック変調器のミューラ行列は、変調に
よって生ずる動的位相遅れについてのミューラ行列Mδ
および静的残留遅れについてのミューラ行列Mαがあり
、これらは変調器の光軸を偏光子(ポーラライザ)の光
軸に対し45°の差を持たせているところから、前記(
3)式におけるアドミュス角−45°として、次のよう
に表わせる。
ここで、δはフォトエラスティック変調器で誘起される
動的位相遅れ、αは静的残留遅れである。
光検出器からの出力は、次式を計算して求める。
△ハ△△ハハ 1(d)=叩・S−Mα・Mδ・P−IO・・・(18
)(18)式を計算し、そのDC成分VDC−’成分V
f、2f成分V2fを求める。そしてV2fの大きさを
一定として、Vf/■pcを記録すれば、円二色性信号
(CD信号)が得られる。
(ハ)本発明装置の場合(第1図): この発明の構成の場合、すなわち偏光子(ポーラライザ
)、光学的偏光変調器、検光子(アナライザ)の各光軸
を既に述べたような一定の関係を保つように配置した場
合、試料を設置した状態での光検出器からの出力は、次
式を計算することによって求まる。
1 (d )−pp−A−8−Mα・Mδ・P−10・
・・(19)次に、上式を具体的に求めてみる。
試料が、円二色性(CD)を持った場合、従って円偏光
に対する複屈折(CB)すなわち旋光分散(ORD)を
同時に持つ場合、試料のミューラ行列Sとして(9)式
を用いることができる。また偏光子(ポーラライザ)の
ミューラ行列Pは、直線偏光によるX軸からのアズミュ
ス角90°として、前記(2)式におけるαを90°と
し、次のく20)式で表わせる。
光学的偏光変調器(フォトエラスティック変調器)の光
軸は、前記(ロ)の場合と同様に偏光子(ポーラライザ
)の光軸と45°で交叉させており、したがってアズミ
ュス角は45°であり、そのミューラ行列としては(ロ
)の場合と同様に変調によって生じる動的位相遅れδに
ついてのミューラ行列Mδおよび静的残留遅れαについ
てのミューラ行列Mαがあり、これらは前記(ロ)の場
合の(16)、(17)式を用いて表わせる。また検光
子(アナライザ)のミューラ行列Aは、検光子が偏光子
(ポーラライザ)の光軸に45°で・交叉させていると
ころから、アズミュス角45°として次の(21)式で
表わせる。
したがってppとして(6)式、Aとして(21)式、
Sとして(9)式、Mαとして(11)式、Mδとして
(1G)式、Pとして(20)式、Ioとして(1)式
を用いて(19)式の計算を行なえば、次の(22)式
が得られる。
ここで、 効δ11!湘(δ0苅ωt) 一2J+(6o) s+nωt +2Js(δo) 5
in3(cJt −1−”      = (23)罵
δ−cos(δo S!nωt) −Jo(δo) +2Ja(δ、)cos2ωj +2
J4(3o) cos4ωt+・・・  ・・・(24
)したがって、 なお(25)、(2G)式においてJ。(δG)の項は
直流成分(CD成分)に相当する。
一方ロツクインアンプ(同期整流器)の利得に関係する
装置定数をkとする。ロックインアンプはESのAC信
号を、ED=jESのDC信号に変換する。又ω成分(
f成分)を検出する場合のロックインアンプの2G成分
(2「成分)に対する応答をR(2ω)とし、その逆の
2G成分(2f成分)を検出する場合のロックインアン
プのω成分(r成分)に対する応答をR(ω)とする。
以上の関係を用いて(22)式の出力を導く。
光強度1 (d )に比例した電気信号をV(d)とす
ると、V(d)はその直流成分Vve 、f l−1Z
成分v(ω)、2fH2成分■(2ω)、および3fH
z以上の高調波成分によって次のように表わせる。
V(d)−V尻+V(ω)+V(2ω)+(高調波頂)
      ・・・(27)そして前述の関係から、V
pa、■(ω)、■(2ω)は次のようにあられせる。
VD(!−((PX’+PV”) + (Px −PV
 )Sln2a)x (cosh (CD) +5in
h (CD) Jo(δo) s+ncr+sm (C
B) J(1(δo)WsU ) −(28)+m (
CB)  (J2(δa)R(2ω)αぺα−J、(ろ
o)sinα)]            −(29)
+5inh (CD> (J+(δo) R(ω)瀉α
+J、(δo)Sinα)] ・(30)ここで、光学
的偏光変調器で動的に誘起される位相遅れろ0の値を、
次式を満足するようにセットする。
J、(δo)R(2ω)α4α=J、(ろo)sinα
                ・  (31)たと
えば、ロックインアンプとしてR(ω)、R(2ω)特
性が10 のものを用い、光学的偏光変調器の残留静的
位相遅れ角α” = 0.01以下とし、従ってSIn
α=10  、魚α=1とすれば、(31)式を満足す
ることは、次式を満足することになる。
J、(δo) =J、(δ0)       ・・・〈
32)この(31)式を満足するためにはろ、= 2.
63ラジアンにセットすれば良い。
以上のようにして装置及び光学素子の配列を選択して(
31)、(32)式を満足するものが得られたとすると
、(28)、(29)、(30)式は次の様になる。
直流成分の大きさが常に一定になるように、光検出器の
印加電圧を制御したときの、ω成分、2ω成分を、(2
8−)、(29−)、(30−)式を用いて求めると次
の(33)式、(34)式となる。このようにすること
によってフォトマルチプライヤ等の光検出器の持つ部分
偏光子としての影響を取除くことができ、性能の向上が
もたらせられる。
V (ω)   yc  ・tanh(CD) ・J+
(δ0)V pl:      cosh (CD)+
stn (CB>  ・Jo(ろo)        
         ・・・ (33)ここでCDが充分
小さい、とすると、次のように展開できる。
したがって(33)、(34)式は次の式となる。
(35)、(36)式より本発明の構成を用いて、ω成
分、2ω成分を検出すると、同時にω成分より円二色性
が、2ω成分よりCB即ち旋光度が求められることがわ
かる。
すなわち、(35)式、(36)式の右辺の分母は直流
成分に相当し、したがって直流成分の大きさが常に一定
になるように制御した場合の(35)式によるω成分■
(ω) / Vl)dは、CDに比例し、したがってω
成分すなわち光検出器の出力の周波数fH2の成分から
直接的にCD(円二色性)が求めれる。同様に直流成分
の大きさが常に一定になるように制御した場合の(36
)式による2ω成分V(2ω) / Vncは、CBに
比例し、したがって2ω成分すなわち光検出器の出力の
2f Hz酸成分ら直接的にCB(円偏光に対する複屈
折率=旋光度)が求められる。
また直流成分を常に一定となるように制御しない場合で
も、第1図の実施例で説明したようにVl)、、V(ω
) =Vf 、  V (2ω)=V2fを別々に求め
て、(35)式、(36)式に表わされているようにそ
れぞれ割算することによってCD、CBを求めることが
できる。
また試料が直線二色性(LD)および直線偏光に対する
複屈折(LB)を持つ場合も、試料のミューラ行列とし
て(7)式、(11)式を用いれば、CD、CBの場合
と同様に求まる。すなわち、から、前記同様にして V(ω) −4’−5tn(LB> ”J+(δ0)V
l)5   cosh (LD) 十5inh (LD
) ・Jo(δo)         ・・・(38)
となる。したがって試料がLD、1Bを持つ場合も、本
発明の構成を用いて、直流成分の大きさが常に一定にな
るように制御すれば、(38)式のω成分V(ω)/V
peよりLBが求マリ、(39)式の2ω成分V(2ω
) / VncよりLDが求められる。ここで直流成分
の大きさを一定に1lJIIILない場合でも、v’o
e、V (ω)−Vf 、 V (2ω) =V2fを
別々に求めて割算することにより、CD10Bの場合と
同様にLDllBを求めることもできる。
測定実験例 第1図の実施例の装置を用いて実際に試料の旋光分散(
ORD)と円二色性(CB)を同時に測定した結果を第
2図〜第4図に示す。第2図(A)(8)は試料Aの旋
光度測定結果を、第3図(A)(B)は試料Bの旋光度
測定結果を示す、また第4図(A>は試料Aの円二色性
測定結果を、第4図(B)は試料Bの円二色性測定結果
を示す。
なお試料Aは、Fac、 −(+)、46−トリス[L
−ロイシナト]クロム■であり、試料BはFac。
−(−)、、、−トリス[L−ロイシナト]りOム■で
ある。またその濃度は4X10’M1温度は25℃であ
り、検光子(アナライザ)としてはグラントブソンプリ
ズムを用いた。
発明の効果 この発明によれば、偏光変調技術の解析手段として有効
なミューラマトリックス手法を取り入れることにより、
従来別々の装置として発展して来た旋光分散針と円二色
性測定装置を一つの装置とすることに成功し、しかも1
個の検出器の出力を電気的に処理することにより旋光分
散と円二色性とを同時に求めることが可能となった。
そしてこの発明の装置によれば旋光分散と円二色性を同
時に測定できるため、従来の如くこれらの装置を個別に
揃えておく必要がなく、しかも装置構成は従来の旋光分
散針や円二色性測定装置と比較してもさほど複雑とはな
っていないためコスト的にも有利となり、したがって旋
光分散および円二色性の測定の一層の普及が図られ、産
業上極めて有益なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の旋光分散・円二色性測定装置の一実
施例を示すブロック図、第2図(A)、(B)および第
3図(A)、<8>はこの発明の実施例の装置を用いて
旋光分散を測定した例を示すグラフ、第4図(A)、(
B)はこの発明の実施例の装置を用いて円二色性を測定
した例を示すグラフ、第5図は従来用いられている旋光
分散測定装置(ORD装置)の1例を示すブロック図、
第6図は従来の円二色性測定装置(CD装置)の1例を
示すブロック図である。 1・・・光源、 2・・・モノクロメータ、 3・・・
偏光子(ポーラライザ)、 6・・・検光子(アナライ
ザ)、7・・・光検出器、 8・・・前置増幅器、9・
・・2f Hz用増幅器、 11・・・fH1用増用型
幅器5・・・光学的漏光変調器(フォトエラスティック
変調器)、 16・・・偏光変調駆動回路、 20・・
・試料室、 23・・・fHz同期信号発生器、24・
・・2f Hz同期整流器、 26・・・演算・記録器
。 出願人  日本分光工業株式会社 代理人  弁理士 豊 1)武 久 (ほか1名) 腰 捷賂/l(−・)i″ 5  )  を  七  宅 圀 ト− 洗也虐(組°) 陥             翫− な  8 5 5  ) 旋を虐C−・)     斜 丙;tttc一つ 〜 14S(b   \  N ヨ P:にl・tヱ(藺°)    晶 −+    奉

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)単色光束を直線偏光させる偏光子と、その偏光子
    を透過した光の偏光状態を所定の変調周波数で、右回り
    の円偏光、左回りの円偏光に交番的に変化させる光学的
    偏光変調器と、その光学的偏光変調器から得られた光の
    光路に配置された試料室と、その試料室を透過した光が
    透過する検光子と、その検光子を透過した光が入射して
    その光の強度を検出する光検出器と、その光検出器の出
    力を処理する信号処理部とを備え、前記光検出器の出力
    信号のうち前記光学的偏光変調器における変調周波数に
    相当する周波数成分、および変調周波数の2倍の周波数
    成分に基いて試料の円二色性および旋光度を求めること
    を特徴とする旋光分散・円二色性同時測定装置。
  2. (2)前記偏光子による直線偏光面と、光学的偏光変調
    器の光軸とを45°の差を持った配置とし、かつ前記直
    線偏光面と検出子とを45°の差を持った配置とした特
    許請求の範囲第1項記載の旋光分散・円二色性同時測定
    装置。
  3. (3)前記信号処理部が、前記光検出器の出力から、前
    記変調周波数に相当する信号成分を取出すための同期整
    流器と、前記光検出器の出力から前記変調周波数の2倍
    の周波数の信号成分を取出すための同期整流器とを備え
    た構成とし、各同期整流器の出力電圧から円二色性およ
    び旋光度を求めることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の旋光分散・円二色性測定装置。
JP26815784A 1984-12-19 1984-12-19 旋光分散・円二色性同時測定装置 Granted JPS61145421A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26815784A JPS61145421A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 旋光分散・円二色性同時測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26815784A JPS61145421A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 旋光分散・円二色性同時測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61145421A true JPS61145421A (ja) 1986-07-03
JPS6342212B2 JPS6342212B2 (ja) 1988-08-22

Family

ID=17454690

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26815784A Granted JPS61145421A (ja) 1984-12-19 1984-12-19 旋光分散・円二色性同時測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61145421A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5202860A (en) * 1990-03-05 1993-04-13 Sharp Kabushiki Kaisha Magneto-optic reproducing device using right and left circularly polarized light
EP3907492A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-10 ETH Zurich Optical activity measurements with frequency modulation

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0392709U (ja) * 1989-12-19 1991-09-20

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5202860A (en) * 1990-03-05 1993-04-13 Sharp Kabushiki Kaisha Magneto-optic reproducing device using right and left circularly polarized light
EP3907492A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-10 ETH Zurich Optical activity measurements with frequency modulation
WO2021224243A1 (en) * 2020-05-08 2021-11-11 Eth Zurich Optical activity measurements with frequency modulation

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6342212B2 (ja) 1988-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0468487B1 (en) Method of detecting angle of optical rotation in solution having time-dependent concentration, detection apparatus therefor, and detector cell therefor
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
US3183763A (en) Polarization analyzers for optical systems employing polarized light
WO2014189967A2 (en) Polarization properties imaging systems
US20030081196A1 (en) Method and arrangement for optical stress analysis of solids
US5319194A (en) Apparatus for measuring birefringence without employing rotating mechanism
US3817634A (en) Testing of optically active substances by polarized radiation
KR100195397B1 (ko) 복굴절층의 두께측정방법 및 장치
JPS6183924A (ja) 旋光度測定装置
JPS61145421A (ja) 旋光分散・円二色性同時測定装置
US3390605A (en) Device for measuring simultaneously both rotatory polarization and light absorption
EP0602070A4 (en) Fiber optic probe and method for detecting optically active materials.
US3481671A (en) Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements
EP0080540A1 (en) Method and apparatus for measuring quantities which characterize the optical properties of substances
JP3341928B2 (ja) 二色性分散計
US3602597A (en) Differential circular dichroism measuring apparatus
Oakberg Measurement of waveplate retardation using a photoelastic modulator
JP3340145B2 (ja) スト−クスメ−タ
JPH0612333B2 (ja) 自動複屈折測定装置
JP2780988B2 (ja) スペクトロポーラリメータ
JP2004184225A (ja) 複屈折測定装置および複屈折試料の軸方位検出方法、複屈折測定装置のキャリブレーション方法。
JPH07181211A (ja) 表面電位計測装置
JP3554374B2 (ja) 偏光測定装置
JP2672414B2 (ja) ロックインアンプ用参照信号生成装置
JPS63148108A (ja) エリプソメ−タ

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees